JPH08178729A - 粒子沈殿体積計測装置 - Google Patents
粒子沈殿体積計測装置Info
- Publication number
- JPH08178729A JPH08178729A JP6336204A JP33620494A JPH08178729A JP H08178729 A JPH08178729 A JP H08178729A JP 6336204 A JP6336204 A JP 6336204A JP 33620494 A JP33620494 A JP 33620494A JP H08178729 A JPH08178729 A JP H08178729A
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- JP
- Japan
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- height
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】粒子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易に計
測できる粒子沈殿体積計測装置を提供する。 【構成】データ処理手段２２が、高さ検知手段１８によ
り検知された沈殿物表面の高さＨ、および時間検知手段
２０により検知されたその表面高さを検知した時間Ｔか
ら、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを作成する。従
って、粒子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易に計測
できる。
測できる粒子沈殿体積計測装置を提供する。 【構成】データ処理手段２２が、高さ検知手段１８によ
り検知された沈殿物表面の高さＨ、および時間検知手段
２０により検知されたその表面高さを検知した時間Ｔか
ら、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを作成する。従
って、粒子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易に計測
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、粒子が時間経過によ
り沈降する状態を粒子の沈殿体積の時間変化として測定
する装置に関する。
り沈降する状態を粒子の沈殿体積の時間変化として測定
する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、粒子が集合したカルシウム粉末
のような粉体の品質管理は次のように行われる。まず、
気体や液体などの流体が入ったメスシリンダ中に被試験
物である粉体が投入され、そのメスシリンダが振られる
かまたはメスシリンダ中の流体が攪拌された後、ストッ
プウオッチにより、粒子が流体中に沈降する粒子の表面
高さが決められた時間ごとに目視で読み取られる。例え
ば、初期状態の粒子の表面高さが１０００とすると、３
０秒後に９００，１分後に８００，…と変化する高さが
計測される。
のような粉体の品質管理は次のように行われる。まず、
気体や液体などの流体が入ったメスシリンダ中に被試験
物である粉体が投入され、そのメスシリンダが振られる
かまたはメスシリンダ中の流体が攪拌された後、ストッ
プウオッチにより、粒子が流体中に沈降する粒子の表面
高さが決められた時間ごとに目視で読み取られる。例え
ば、初期状態の粒子の表面高さが１０００とすると、３
０秒後に９００，１分後に８００，…と変化する高さが
計測される。
【０００３】ここで、一旦拡散した粒子は時間経過とと
もに流体中に沈降していき沈殿状態になる。この沈殿状
態は時間ごとの粒子の沈殿体積の変化で表され、粒子の
表面高さが小さくなるにつれて粒子の沈殿体積も小さく
なる。粒子の沈殿体積が小さく、つまり、「カサ密度」
が大きくなると、粉体を構成する各粒子の大きさ、表面
形状、重さなどの特性に応じて粒子同士の相互干渉が多
くなる。すなわち、粒子の沈殿体積の時間変化は粒子が
有する特性と密接な関係をもつ。この粒子の沈殿体積の
時間変化のデータは、粒子の表面高さとその時間とに基
づいて作成される。従って、粉体の品質管理において
は、こうした粒子の沈殿体積の時間変化のデータに基づ
いて品質の判断が行われる。
もに流体中に沈降していき沈殿状態になる。この沈殿状
態は時間ごとの粒子の沈殿体積の変化で表され、粒子の
表面高さが小さくなるにつれて粒子の沈殿体積も小さく
なる。粒子の沈殿体積が小さく、つまり、「カサ密度」
が大きくなると、粉体を構成する各粒子の大きさ、表面
形状、重さなどの特性に応じて粒子同士の相互干渉が多
くなる。すなわち、粒子の沈殿体積の時間変化は粒子が
有する特性と密接な関係をもつ。この粒子の沈殿体積の
時間変化のデータは、粒子の表面高さとその時間とに基
づいて作成される。従って、粉体の品質管理において
は、こうした粒子の沈殿体積の時間変化のデータに基づ
いて品質の判断が行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来方
法では、人間の目視により粒子の表面高さを読み取るの
で、読み取り誤差が生じて計測値の信頼性が低くなり品
質管理上好ましくないという問題があった。また、検査
者が粒子の表面高さとその時間を計測し、粒子の沈殿体
積の時間変化のデータを作成するので、検査作業が煩雑
であるという問題もあった。
法では、人間の目視により粒子の表面高さを読み取るの
で、読み取り誤差が生じて計測値の信頼性が低くなり品
質管理上好ましくないという問題があった。また、検査
者が粒子の表面高さとその時間を計測し、粒子の沈殿体
積の時間変化のデータを作成するので、検査作業が煩雑
であるという問題もあった。
【０００５】この発明は、上記の問題点を解決して、粒
子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易に計測できる粒
子沈殿体積計測装置を提供することを目的としている。
子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易に計測できる粒
子沈殿体積計測装置を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、試験容器中に投入され沈降した
粒子の沈殿物の表面レベルを検知する表面レベル検知手
段と、上記表面レベル検知手段のセンサを上下に駆動さ
せ、上記センサの位置情報を出力する駆動手段と、駆動
手段からの位置情報に基づいて、検知された表面レベル
から上記沈殿物表面の高さを検出する高さ検知手段と、
上記沈殿物表面の高さを検知した時間を検知する時間検
知手段と、検知された上記沈殿物表面の高さおよびその
高さを検知した時間から、粒子の沈殿体積の時間変化の
データを作成するデータ処理手段とを備えている。
に、請求項１の発明は、試験容器中に投入され沈降した
粒子の沈殿物の表面レベルを検知する表面レベル検知手
段と、上記表面レベル検知手段のセンサを上下に駆動さ
せ、上記センサの位置情報を出力する駆動手段と、駆動
手段からの位置情報に基づいて、検知された表面レベル
から上記沈殿物表面の高さを検出する高さ検知手段と、
上記沈殿物表面の高さを検知した時間を検知する時間検
知手段と、検知された上記沈殿物表面の高さおよびその
高さを検知した時間から、粒子の沈殿体積の時間変化の
データを作成するデータ処理手段とを備えている。
【０００７】
【作用および効果】この発明によれば、データ処理手段
が、高さ検知手段により検知された沈殿物表面の高さ、
および時間検知手段により検知されたその表面高さを検
知した時間から、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを
作成する。従って、粒子の沈殿体積の時間ごとの変化の
傾きを正確かつ容易に計測できる。
が、高さ検知手段により検知された沈殿物表面の高さ、
および時間検知手段により検知されたその表面高さを検
知した時間から、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを
作成する。従って、粒子の沈殿体積の時間ごとの変化の
傾きを正確かつ容易に計測できる。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。図１に、この発明の一実施例に係る粒子沈殿体
積計測装置の概略外観図を示す。この装置の計測部３
は、試験容器１が載置される台部Ｋ1 とその上部に形成
された立上げ部Ｋ2 とからなるケースＫを有し、このケ
ースＫ内に、駆動手段であるリニアモータ４（図２）が
収納されている。立上げ部Ｋ2 には上下に延びる１対の
スリットＳが形成されており、上記リニアモータ４によ
って駆動される光学センサのような検知センサ２が、上
記スリットＳを通って、上下に移動し、試験容器１中に
投入され沈降した粒子の沈殿物Ｍの存在を検知するよう
になっている。上記計測部３に、装置全体を制御するパ
ーソナルコンピュータ７が接続されている。なお、この
例では１つの試験容器を計測しているが、複数の異なる
試験容器を計測するようにしてもよい。この場合、試験
容器ごとに検出センサ２を設ける必要がある。
明する。図１に、この発明の一実施例に係る粒子沈殿体
積計測装置の概略外観図を示す。この装置の計測部３
は、試験容器１が載置される台部Ｋ1 とその上部に形成
された立上げ部Ｋ2 とからなるケースＫを有し、このケ
ースＫ内に、駆動手段であるリニアモータ４（図２）が
収納されている。立上げ部Ｋ2 には上下に延びる１対の
スリットＳが形成されており、上記リニアモータ４によ
って駆動される光学センサのような検知センサ２が、上
記スリットＳを通って、上下に移動し、試験容器１中に
投入され沈降した粒子の沈殿物Ｍの存在を検知するよう
になっている。上記計測部３に、装置全体を制御するパ
ーソナルコンピュータ７が接続されている。なお、この
例では１つの試験容器を計測しているが、複数の異なる
試験容器を計測するようにしてもよい。この場合、試験
容器ごとに検出センサ２を設ける必要がある。
【０００９】この装置のブロック図を示す図２におい
て、検知センサ２を移動させるリニアモータ４は、リニ
アモータ本体がケースＫに支持され、ロッドＲが上下に
駆動する。このリニアモータ４は、手動スイッチ１０が
ＯＮしてスタート信号ＳＴが入力されると、ロッドＲの
駆動を開始して、例えば、１往復時間３０秒で動作す
る。なお、この往復時間は３６秒，４２秒など自由に設
定できる。リニアモータ４に取り付けられた検知センサ
６は駆動するロッドＲの位置を検知して、位置情報Ｐ1
を出力する。
て、検知センサ２を移動させるリニアモータ４は、リニ
アモータ本体がケースＫに支持され、ロッドＲが上下に
駆動する。このリニアモータ４は、手動スイッチ１０が
ＯＮしてスタート信号ＳＴが入力されると、ロッドＲの
駆動を開始して、例えば、１往復時間３０秒で動作す
る。なお、この往復時間は３６秒，４２秒など自由に設
定できる。リニアモータ４に取り付けられた検知センサ
６は駆動するロッドＲの位置を検知して、位置情報Ｐ1
を出力する。
【００１０】図１において、検知センサ２は投光素子２
ａと受光素子２ｂとからなり、ロッドＲの先端部（図
２）に取り付けられた左右の腕５の先端部にそれぞれ設
けられている。各素子２ａ，２ｂは試験容器１を挟んだ
位置に設けられ、その状態でロッドＲの駆動に伴って、
試験容器１の上下方向に沿って上下動する。投光素子２
ａから送られた光を受光する受光素子２ｂが、粒子の沈
殿物Ｍによって遮光されることにより、試験容器１中の
粒子の沈殿物Ｍの存在が検出され、受光素子２ｂから検
知信号Ｓ1 が出力される。
ａと受光素子２ｂとからなり、ロッドＲの先端部（図
２）に取り付けられた左右の腕５の先端部にそれぞれ設
けられている。各素子２ａ，２ｂは試験容器１を挟んだ
位置に設けられ、その状態でロッドＲの駆動に伴って、
試験容器１の上下方向に沿って上下動する。投光素子２
ａから送られた光を受光する受光素子２ｂが、粒子の沈
殿物Ｍによって遮光されることにより、試験容器１中の
粒子の沈殿物Ｍの存在が検出され、受光素子２ｂから検
知信号Ｓ1 が出力される。
【００１１】また、この装置は、図２のブロック図に示
すように、信号変化検知手段１６と、パーソナルコンピ
ュータ７に内蔵されている高さ検知手段１８、時間検知
手段２０、データ処理手段２２、メモリ２４、表示手段
２６、およびプリンタ２８を備えている。
すように、信号変化検知手段１６と、パーソナルコンピ
ュータ７に内蔵されている高さ検知手段１８、時間検知
手段２０、データ処理手段２２、メモリ２４、表示手段
２６、およびプリンタ２８を備えている。
【００１２】信号変化検知手段１６は、検知センサ２か
ら送られた検知信号Ｓ1 の信号レベルの変化が所定値以
上であるとその境界面を粒子の沈殿物の表面レベルとし
て検知する。この例では、検知センサ２と信号変化検知
手段１６とを表面レベル検知手段と呼ぶ。高さ検知手段
１８は、リニアモータ４に取り付けられた検知センサ６
から出力される検知センサ６の位置情報Ｐ1 に基づい
て、検知された表面レベルから上記沈殿物表面の高さＨ
を検出する。時間検知手段２０は、上記沈殿物表面の高
さを検知した時間Ｔを検知する。
ら送られた検知信号Ｓ1 の信号レベルの変化が所定値以
上であるとその境界面を粒子の沈殿物の表面レベルとし
て検知する。この例では、検知センサ２と信号変化検知
手段１６とを表面レベル検知手段と呼ぶ。高さ検知手段
１８は、リニアモータ４に取り付けられた検知センサ６
から出力される検知センサ６の位置情報Ｐ1 に基づい
て、検知された表面レベルから上記沈殿物表面の高さＨ
を検出する。時間検知手段２０は、上記沈殿物表面の高
さを検知した時間Ｔを検知する。
【００１３】データ処理手段２２は、検知された沈殿物
表面の高さＨおよびその表面高さを検知した時間Ｔに基
づいて、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを作成す
る。この処理されたデータは、メモリ２４に記憶され
る。また、データ処理手段２２は、メモリ２４に記憶さ
れた沈殿物表面の高さＨおよびその表面高さを検知した
時間Ｔから、粒子の沈殿体積の時間的な変化率Ｇを演算
することもできる。ＣＲＴ２６は、作成された高さデー
タＨ、時間データＴおよび沈殿体積の変化率Ｇを表示す
る。また、プリンタ２８により各データがプリントアウ
トされる。以下、この装置の動作を説明する。
表面の高さＨおよびその表面高さを検知した時間Ｔに基
づいて、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを作成す
る。この処理されたデータは、メモリ２４に記憶され
る。また、データ処理手段２２は、メモリ２４に記憶さ
れた沈殿物表面の高さＨおよびその表面高さを検知した
時間Ｔから、粒子の沈殿体積の時間的な変化率Ｇを演算
することもできる。ＣＲＴ２６は、作成された高さデー
タＨ、時間データＴおよび沈殿体積の変化率Ｇを表示す
る。また、プリンタ２８により各データがプリントアウ
トされる。以下、この装置の動作を説明する。
【００１４】まず、被試験物である粒子のサンプル名、
測定間隔（例えば、３０秒）、測定回数（例えば、６０
回）が図１のキーボード２７から入力される。
測定間隔（例えば、３０秒）、測定回数（例えば、６０
回）が図１のキーボード２７から入力される。
【００１５】次に、粒子Ｍが試験容器１に投入され、粒
子Ｍが入った試験容器１が振られるか、または液体Ｒが
攪拌された後に、その試験容器１が台Ｋ1 に置かれる。
これと同時に手動スイッチ１０を押されると、スタート
信号ＳＴがカウンタ１４とリニアモータ４に出力され
る。このスタート信号Ｓにより、カウンタ１４はクロッ
ク１２のクロック信号に基づいて時間をカウントし、リ
ニアモータ４は、検知センサ２が最大高さ（原点）位置
になるように、ロッドＲを駆動させる。
子Ｍが入った試験容器１が振られるか、または液体Ｒが
攪拌された後に、その試験容器１が台Ｋ1 に置かれる。
これと同時に手動スイッチ１０を押されると、スタート
信号ＳＴがカウンタ１４とリニアモータ４に出力され
る。このスタート信号Ｓにより、カウンタ１４はクロッ
ク１２のクロック信号に基づいて時間をカウントし、リ
ニアモータ４は、検知センサ２が最大高さ（原点）位置
になるように、ロッドＲを駆動させる。
【００１６】このとき、粒子の表面高さは試験容器１中
の液体の表面高さと同じである。次に、粒子が時間経過
とともに沈降して、粒子の沈殿体積を示す粒子の沈殿物
Ｍの表面高さが変化する。リニアモータ４は、例えば１
往復３０秒で動作して、検知センサ２を試験容器１の上
下方向に沿って移動させる。移動する検知センサ２によ
り、粒子の沈殿物Ｍの存在が検知され、信号変化検知手
段１６により、その沈殿物Ｍの表面レベルが検知される
と、高さ検知手段１８により、リニアモータ４の検知セ
ンサ６からの位置情報Ｐ1 に基づいて、その沈殿物Ｍの
表面高さＨが検知される。この沈殿物Ｍの表面高さが検
知された時間Ｔは、時間検知手段２０により、カウンタ
１４の時間カウントに基づいて検知される。これら検知
された沈殿物表面の高さＨおよびその表面高さを検知し
た時間Ｔから、データ処理手段２２により粒子の沈殿体
積の時間変化のデータ、例えば、時間と沈殿体積の対応
関係を示すデータが作成され、メモリ２４に記憶される
とともに、ＣＲＴ２６に表示される。図３に、ＣＲＴ２
６に表示された粒子の沈殿体積の時間変化を表す曲線を
示す。例えば、ｔ1 時間に沈殿物Ｍの表面高さＡ、およ
びｔ2 時間に表面高さＢが計測されている。
の液体の表面高さと同じである。次に、粒子が時間経過
とともに沈降して、粒子の沈殿体積を示す粒子の沈殿物
Ｍの表面高さが変化する。リニアモータ４は、例えば１
往復３０秒で動作して、検知センサ２を試験容器１の上
下方向に沿って移動させる。移動する検知センサ２によ
り、粒子の沈殿物Ｍの存在が検知され、信号変化検知手
段１６により、その沈殿物Ｍの表面レベルが検知される
と、高さ検知手段１８により、リニアモータ４の検知セ
ンサ６からの位置情報Ｐ1 に基づいて、その沈殿物Ｍの
表面高さＨが検知される。この沈殿物Ｍの表面高さが検
知された時間Ｔは、時間検知手段２０により、カウンタ
１４の時間カウントに基づいて検知される。これら検知
された沈殿物表面の高さＨおよびその表面高さを検知し
た時間Ｔから、データ処理手段２２により粒子の沈殿体
積の時間変化のデータ、例えば、時間と沈殿体積の対応
関係を示すデータが作成され、メモリ２４に記憶される
とともに、ＣＲＴ２６に表示される。図３に、ＣＲＴ２
６に表示された粒子の沈殿体積の時間変化を表す曲線を
示す。例えば、ｔ1 時間に沈殿物Ｍの表面高さＡ、およ
びｔ2 時間に表面高さＢが計測されている。
【００１７】また、メモリ２４に記憶された沈殿物表面
の高さデータＨおよびその表面高さを検知した時間デー
タＴから、データ処理手段２２によって、粒子の沈殿体
積の時間的な変化率Ｇが演算される。例えば、図３に示
すｔ1 時間に表面高さＡであってｔ2 時間に表面高さＢ
である場合には、沈殿体積の時間的な変化率Ｇは、Ｇ＝
（Ｂ−Ａ）／（ｔ2 −ｔ1 ）である。この沈殿体積の時
間的な変化率Ｇも１つ以上の計測タイミングごとに算出
されて、ＣＲＴ２６に表示される。
の高さデータＨおよびその表面高さを検知した時間デー
タＴから、データ処理手段２２によって、粒子の沈殿体
積の時間的な変化率Ｇが演算される。例えば、図３に示
すｔ1 時間に表面高さＡであってｔ2 時間に表面高さＢ
である場合には、沈殿体積の時間的な変化率Ｇは、Ｇ＝
（Ｂ−Ａ）／（ｔ2 −ｔ1 ）である。この沈殿体積の時
間的な変化率Ｇも１つ以上の計測タイミングごとに算出
されて、ＣＲＴ２６に表示される。
【００１８】こうして、本装置は、高さ検知手段１８に
より検知された沈殿物表面の高さ、および時間検知手段
２０により検知されたその表面高さを検知した時間か
ら、データ処理手段２２が粒子の沈殿体積の時間変化の
データを作成する。これにより、従来のように、検査者
の読み取り誤差が生じたり、煩雑な検査作業を行うこと
がなくなり、粒子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易
に計測できる。
より検知された沈殿物表面の高さ、および時間検知手段
２０により検知されたその表面高さを検知した時間か
ら、データ処理手段２２が粒子の沈殿体積の時間変化の
データを作成する。これにより、従来のように、検査者
の読み取り誤差が生じたり、煩雑な検査作業を行うこと
がなくなり、粒子の沈殿体積の時間変化を正確かつ容易
に計測できる。
【００１９】なお、この実施例では、試験容器中に入れ
る流体に液体を用いているが、気体を用いてもよい。
る流体に液体を用いているが、気体を用いてもよい。
【００２０】また、この実施例では、検知センサに光学
センサを用いているが、磁気センサや近接センサなどを
用いてもよい。
センサを用いているが、磁気センサや近接センサなどを
用いてもよい。
【００２１】なお、この実施例では、駆動手段にリニア
モータを用いているが、流体シリンダやラックピニオン
機構を有するモータなどを用いてもよい。
モータを用いているが、流体シリンダやラックピニオン
機構を有するモータなどを用いてもよい。
【００２２】
【図１】この発明の一実施例に係る粒子沈殿体積計測装
置を示す概略外観図である。
置を示す概略外観図である。
【図２】上記の粒子沈殿体積計測装置を示すブロック図
である。
である。
【図３】粒子の沈殿体積の時間変化を示す図である。
１…試験容器、４…駆動手段、２，１６…表面レベル検
知手段、１８…高さ検知手段、２０…時間検知手段、２
２…データ処理手段、Ｍ…粒子。
知手段、１８…高さ検知手段、２０…時間検知手段、２
２…データ処理手段、Ｍ…粒子。
Claims (1)
- 【請求項１】 試験容器中に投入され沈降した粒子の
沈殿物の表面レベルを検知する表面レベル検知手段と、 上記表面レベル検知手段のセンサを上下に駆動させ、上
記センサの位置情報を出力する駆動手段と、 駆動手段からの位置情報に基づいて、検知された表面レ
ベルから上記沈殿物表面の高さを検知する高さ検知手段
と、 上記沈殿物表面の高さを検知した時間を検知する時間検
知手段と、 検知された上記沈殿物表面の高さおよびその高さを検知
した時間から、粒子の沈殿体積の時間変化のデータを作
成するデータ処理手段とを備えた粒子沈殿体積計測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6336204A JPH08178729A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 粒子沈殿体積計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6336204A JPH08178729A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 粒子沈殿体積計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08178729A true JPH08178729A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18296717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6336204A Pending JPH08178729A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | 粒子沈殿体積計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08178729A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003060433A3 (de) * | 2002-01-16 | 2003-12-24 | Peter Holubar | Verfahren zur erfassung der lage grenzfläche zwischen zwei medien |
| JP2008510979A (ja) * | 2004-08-26 | 2008-04-10 | インペリアル・ケミカル・インダストリーズ・ピーエルシー | 沈殿物の評価 |
| JP2013088231A (ja) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Hosokawa Micron Corp | 粉体層体積測定装置 |
-
1994
- 1994-12-22 JP JP6336204A patent/JPH08178729A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003060433A3 (de) * | 2002-01-16 | 2003-12-24 | Peter Holubar | Verfahren zur erfassung der lage grenzfläche zwischen zwei medien |
| JP2008510979A (ja) * | 2004-08-26 | 2008-04-10 | インペリアル・ケミカル・インダストリーズ・ピーエルシー | 沈殿物の評価 |
| JP2011257430A (ja) * | 2004-08-26 | 2011-12-22 | Brunob Ii Bv | 沈殿物の評価 |
| US8189876B2 (en) | 2004-08-26 | 2012-05-29 | Brunob Ii Bv | Sediment assessment |
| JP2014134552A (ja) * | 2004-08-26 | 2014-07-24 | Corn Products Development Inc | 沈殿物の評価 |
| JP2013088231A (ja) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Hosokawa Micron Corp | 粉体層体積測定装置 |
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