JPH0817195B2 - Method for manufacturing hoop-shaped electronic component assembly - Google Patents

Method for manufacturing hoop-shaped electronic component assembly

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JPH0817195B2
JPH0817195B2 JP1218269A JP21826989A JPH0817195B2 JP H0817195 B2 JPH0817195 B2 JP H0817195B2 JP 1218269 A JP1218269 A JP 1218269A JP 21826989 A JP21826989 A JP 21826989A JP H0817195 B2 JPH0817195 B2 JP H0817195B2
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JP
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electronic component
hoop
side frame
shaped
lead
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JP1218269A
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昌和 森本
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Rohm Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention 【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本願発明はフープ状電子部品集合体の製造方法に関す
る。
The present invention relates to a method for manufacturing a hoop-shaped electronic component assembly.

【従来の技術】[Prior art]

たとえば、トランジスタ等の小型電子部品は、一般
に、リードフレームに対して、チップボンディング、ワ
イヤボンディング、樹脂マウント、リードへのハンダ付
け等の工程が一連に行われる。また、最近では、生産効
率の向上を図るため、上記のリードフレームに代えてこ
のリードフレームを長尺化したような形態をもつフープ
状フレームを採用し、このフープ状フレームを一連に配
置された各工程装置を連続的に通過させて、上記フープ
状フレームに対して上記の各製造工程を順次行うことに
より電子部品を製造する方法が広く普及している。上記
リードフレームあるいはフープ状フレームによって製造
された電子部品は、多数の電子部品がフレームの一部を
構成する一以上のリード部を介して上記リードフレーム
等のサイドフレーム部に列状に連結された形態を有して
いる。 従来、上記製造工程が終了すると、各電子部品はリー
ドフレームあるいはフープ状フレームから切り離され、
製品検査工程に回される。この製品検査工程は、各電子
部品をソケットに挿入して、オープンショート検査、特
性検査、ランク分け検査等が行われ、不良品は上記製品
検査工程において排除される。そして、上記製品検査工
程を終えた各電子部品は、ユーザの自動挿入機に装填で
きるように、紙等で形成された帯状のフープ部材に所定
間隔で配列添着されるテーピング工程を経てロール状に
巻取られて出荷される。
For example, in a small electronic component such as a transistor, generally, a lead frame is subjected to a series of steps such as chip bonding, wire bonding, resin mounting, and soldering to leads. Further, recently, in order to improve production efficiency, a hoop-shaped frame having a form in which this lead frame is elongated is adopted instead of the above-mentioned lead frame, and the hoop-shaped frames are arranged in series. 2. Description of the Related Art A method for manufacturing an electronic component by continuously passing each process device and sequentially performing the above-described manufacturing processes on the hoop-shaped frame is widely used. In the electronic component manufactured by the lead frame or the hoop-shaped frame, a large number of electronic components are connected to the side frame portion such as the lead frame in a row through one or more lead portions forming a part of the frame. It has a morphology. Conventionally, when the above manufacturing process is completed, each electronic component is separated from the lead frame or the hoop-shaped frame,
It is sent to the product inspection process. In this product inspection process, each electronic component is inserted into a socket, and open / short inspection, characteristic inspection, rank inspection, etc. are performed, and defective products are excluded in the product inspection process. Then, each electronic component that has undergone the product inspection process is rolled into a roll through a taping process in which a band-shaped hoop member formed of paper or the like is arranged and attached at predetermined intervals so that the electronic component can be loaded into a user's automatic insertion machine. It is wound and shipped.

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be Solved by the Invention]

上記テーピング工程は、フープ状フレーム等から分離
された各電子部品を再び整列し直し、所定間隔で上記帯
状フープ部材に添着保持させる工程である。通常、上記
テーピング工程は、パーツフィーダ、電子部品の添着装
置等によって自動化されているが、多種類の電子部品に
対応した自動テーピング装置を準備しなければならない
ため設備費が高くつくという問題がある。 また、トランジスタ、発光ダイオード等リード部が比
較的長く、またその極性があるものについては、パーツ
フィーダ等によって上記テーピング工程を自動化するこ
とが困難であり、手作業によって上記テーピング工程が
行われたり、あるいは上記電子部品をバラの状態で出荷
したりする場合もある。しかも、上記トランジスタ等の
リード部に極性のあるものについては、テーピングの方
向性があるため、逆方向にテーピングしてしまう場合も
あり、このため、テーピング工程のミスを検査するため
の検査工程がさらに必要となる等の不都合が生じる。 さらに、上記テーピングをするために用いられる帯状
フープ部材は、各ユーザで廃棄されるにもかかわらずそ
のコストが高くつき、そのため電子部品の製造原価を押
し上げるという問題もある。 本願発明は、フープ状フレームを用いて製造されるフ
ープ状電子部品集合体を製造する場合において、テーピ
ング工程を省略することにより、上記テーピング工程に
おいて発生する種々の不都合を解消して生産効率を向上
させることができるとともに、製品の製造コストを大幅
に削減することのできるフープ状電子部品集合体の製造
方法を提供することをその課題とする。
The taping step is a step of re-aligning the electronic components separated from the hoop-shaped frame or the like and attaching and holding the electronic components to the band-shaped hoop member at predetermined intervals. Usually, the taping process is automated by a parts feeder, an electronic component attachment device, etc., but there is a problem that the equipment cost is high because an automatic taping device corresponding to many kinds of electronic components must be prepared. . In addition, it is difficult to automate the taping process with a parts feeder or the like for a transistor, a light emitting diode or the like that has a relatively long lead portion and has a polarity, and the taping process is manually performed, Alternatively, the above electronic parts may be shipped in loose states. Moreover, since the lead portion of the transistor or the like having polarity has taping directionality, taping may occur in the opposite direction. Therefore, an inspection process for inspecting a mistake in the taping process is required. Further, inconvenience such as need arises. Further, the band-shaped hoop member used for taping is expensive even though it is discarded by each user, which causes a problem of increasing the manufacturing cost of electronic parts. The present invention eliminates the taping step in the case of manufacturing a hoop-shaped electronic component assembly manufactured using a hoop-shaped frame, thereby eliminating various inconveniences occurring in the taping step and improving production efficiency. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a hoop-shaped electronic component assembly that can reduce the manufacturing cost of the product while significantly reducing the cost.

【課題を解決するための手段】 上記課題を解決するため、本願発明では次の技術的手
段を講じている。 すなわち、本願発明は、電子部品製造の各工程間を上
記電子部品またはその半製品を所定間隔で保持搬送する
フープ状フレームのサイドフレーム部を帯状フープ部材
として利用し、多数個の電子部品がそのリード部を介し
て上記帯状フープ部材に列状に保持されたフープ状電子
部品集合体を製造する方法であって、 各電子部品の上記サイドフレーム部とつながるリード
部のうち、少なくとも一のリード部を残し、他のリード
部と上記サイドフレーム部との間を切断するリード部切
断工程と、 上記各電子部品につき、サイドフレーム部を共通電極
としてそのサイドフレーム部より切断された電子部品の
リード部に測定探針を接触させることにより特性検査を
行う検査工程と、 上記製品検査工程において発見された不良電子部品を
上記リード部で切除する不良品切除工程と、 を含み、良品のみの電子部品が上記帯状フープ部材に保
持された状態でこれを出荷形態化することを特徴とす
る。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention takes the following technical means. That is, the present invention uses the side frame portion of the hoop-shaped frame that holds and conveys the electronic component or the semi-finished product thereof at a predetermined interval between the respective steps of manufacturing the electronic component as a band-shaped hoop member, and a large number of electronic components A method for manufacturing a hoop-shaped electronic component assembly held in a row by the band-shaped hoop member via a lead part, wherein at least one lead part among the lead parts connected to the side frame parts of each electronic component. And a lead part cutting step of cutting between the other lead part and the side frame part, and a lead part of the electronic part cut from the side frame part using the side frame part as a common electrode for each electronic part. The inspection process of performing the characteristic inspection by bringing the measuring probe into contact with the Includes a defective excision step of ablating, the electronic component non-defective only characterized by Shipment of this while being held in the belt-shaped hoop member.

【発明の作用および効果】[Operation and effect of the invention]

本願発明は、フープ状電子部品集合体の製造工程で用
いられているフープ状フレームのサイドフレーム部を、
製品出荷段階における帯状フープ部材として利用するこ
とにより、フープ状電子部品集合体を構成するための、
帯状フープ部材およびテーピング工程を省略しようとす
るものである。 サイドフレーム部を帯状フープ部材として利用するた
めには、各電子部品がリード部を介して上記サイドフレ
ームにつながった状態で、各電子部品の検査を行わなけ
ればならない。 本願発明においては、各電子部品の上記サイドフレー
ム部につながるリード部のうち、少なくとも一のリード
部を残して、他のリード部と上記サイドフレームとの間
を切断するリード部切断工程を設ける。 上記リード部切断工程においては、各電子部品の検査
をするに必要な共通電極部、たとえば、トランジスタに
おいてはコレクタリード部を切断しないで上記サイドフ
レームにつながった状態で残す一方、エミッタリード部
およびベースリード部と上記サイドフレーム部との間を
切断する。したがって、上記各電子部品は上記切断され
ていない少なくとも一のリード部で上記サイドフレーム
に列状に保持される。 つぎに、上記各電子部品について、切断されないで残
されたリード部を共通電極として、他のリード部に測定
探針を接触させ、各電子部品の特性を検査する検査工程
を設ける。上記各電子部品は上記サイドフレーム部によ
って所定間隔で配列されているため、製造工程と同様
に、測定探針を装着した測定装置上を上記サイドフレー
ム部を利用して各電子部品を順次送りながら自動的に製
品検査を行うことができる。このため、検査工程を製造
工程に連続的につなげることができるとともに、従来の
ようにフープ状フレームから切り離された各電子部品を
各々測定用ソケット等に挿入する手間を省くことがで
き、検査の作業性が飛躍的に向上する。 さらに、上記検査工程の後には、上記検査工程におい
て発見された不良電子部品を上記リード部において切除
する不良品切除工程が設けられており、上記検査工程か
らサイドフレーム部を利用して送られる上記一連の電子
部品から、上記不良電子部品のみを容易にしかも連続的
に排除することができる。 上記各工程を終えた後、上記良品の電子部品のみがサ
イドフレーム部に列状に保持される上記フープ状電子部
品集合体はロール状に巻取られ、包装されてユーザに出
荷される。 以上のように、本願発明においては、各電子部品は製
造段階から包装段階まで一貫して、上記サイドフレーム
部によって保持搬送されるため、従来のテーピング工程
を省略することができ、製造時間が大幅に短縮される。
また、テーピングを行うための帯状フープ部材を別途必
要とすることがなく、しかもテーピング装置等が不要と
なるため、製造コストを大幅に削減することができる。 また、上記サイドフレーム部は、本来、電子部品の各
製造工程において各電子部品を保持搬送するために設け
られるものであるため、各電子部品間の配列間隔が極め
て正確に設定されており精度の高い送りピッチを得るこ
とができ、ユーザの自動装填機等に装填された場合にお
いても上記各電子部品間のピッチ誤差に基づく不良が発
生する恐れもほとんどない。 さらに、上記各電子部品は、製造工程において保持搬
送される整列状態のまま出荷されることから、リード部
の極性がある電子部品においても、従来のようにテーピ
ング時に配列方向に間違いが生じることもなくなる。こ
の結果、配列ミスをチェックするための検査が不要とな
るとともに、品質の安定したフープ状電子部品集合体を
供給することができる。 なお、本願発明に係る製造方法によって製造されたフ
ープ状電子部品集合体においては、不良の電子部品が切
除された部分は、サイドフレーム部のみが残された状態
となるが、各ユーザにおける自動装填機において容易に
検出することができ、空送り等することにより容易に対
応することができることから問題が生じることはない。 上述のように、本願発明においては、電子部品の製造
工程からユーザに出荷する包装工程までの全工程を、上
記サイドフレーム部を利用して連続的に行うことがで
き、生産性を格段に向上させることができるとともに、
製造コストを大幅に削減することが可能となる。
The present invention, the side frame portion of the hoop-shaped frame used in the manufacturing process of the hoop-shaped electronic component assembly,
By using as a band-shaped hoop member in the product shipping stage, to configure a hoop-shaped electronic component assembly,
It is intended to omit the strip-shaped hoop member and the taping process. In order to use the side frame portion as a strip-shaped hoop member, it is necessary to inspect each electronic component in a state where each electronic component is connected to the side frame through the lead portion. In the present invention, a lead portion cutting step of cutting at least one lead portion among the lead portions connected to the side frame portion of each electronic component, and cutting the other lead portion and the side frame is provided. In the lead section cutting step, the common electrode section necessary for inspecting each electronic component, for example, in the transistor, the collector lead section is not cut and left in a state of being connected to the side frame, while the emitter lead section and the base section are connected. The lead portion and the side frame portion are cut off. Therefore, each of the electronic components is held in a row on the side frame by the at least one uncut lead portion. Next, for each of the electronic components, an inspection step is provided in which the lead portion left uncut is used as a common electrode and another measuring probe is brought into contact with the other lead portions to inspect the characteristics of each electronic component. Since each of the electronic parts is arranged at a predetermined interval by the side frame part, similar to the manufacturing process, while sequentially sending each electronic part using the side frame part on the measuring device equipped with the measuring probe. Product inspection can be performed automatically. Therefore, the inspection process can be continuously connected to the manufacturing process, and it is possible to save the labor of inserting each electronic component separated from the hoop-shaped frame into a measurement socket or the like as in the conventional case. Workability is dramatically improved. Further, after the inspection step, there is provided a defective product excision step of excising the defective electronic component found in the inspection step at the lead portion, which is sent from the inspection step using the side frame portion. Only a defective electronic component can be easily and continuously excluded from a series of electronic components. After completing the above steps, the hoop-shaped electronic component assembly in which only the non-defective electronic components are held in a row on the side frame portion is wound into a roll, packaged, and shipped to the user. As described above, in the present invention, since each electronic component is held and conveyed by the side frame portion consistently from the manufacturing stage to the packaging stage, the conventional taping process can be omitted and the manufacturing time can be greatly reduced. Is shortened to.
In addition, since it is not necessary to separately provide a strip-shaped hoop member for taping and a taping device or the like is not necessary, the manufacturing cost can be significantly reduced. Further, since the side frame portion is originally provided to hold and convey each electronic component in each manufacturing process of the electronic component, the arrangement interval between the electronic components is set extremely accurately and the It is possible to obtain a high feed pitch, and even when loaded in an automatic loading machine or the like of a user, there is almost no possibility of causing a defect due to the pitch error between the electronic components. Further, since each electronic component is shipped in the aligned state in which it is held and conveyed in the manufacturing process, even in the electronic component having the polarities of the lead portions, an error may occur in the arrangement direction during taping as in the conventional case. Disappear. As a result, it is possible to supply a hoop-shaped electronic component assembly with stable quality, without the need for an inspection for checking misalignment. In addition, in the hoop-shaped electronic component assembly manufactured by the manufacturing method according to the present invention, only the side frame part remains in the part where the defective electronic component is cut off, but it is automatically loaded by each user. Since it can be easily detected by the machine and can be easily dealt with by idling or the like, no problem occurs. As described above, in the present invention, all the processes from the manufacturing process of electronic parts to the packaging process for shipping to users can be continuously performed by using the side frame part, and the productivity is remarkably improved. Can be done,
It is possible to significantly reduce the manufacturing cost.

【実施例の説明】[Explanation of the embodiment]

以下本願発明の実施例を第1図に基づいて具体的に説
明する。 第1図は、本願発明をシングルインライン型トランジ
スタの製造方法に適用した場合の製造工程の概略を模式
的に表した図面である。 トランジスタのように、比較的小型のシングルインラ
イン型の電子部品1は、製造効率を上げるため、従来の
リードフレームを長尺化したようなフープ状フレーム2
に多数個の電子部品あるいは半製品を所定間隔で保持さ
せ、このフープ状フレーム2を一連に配置された各製造
工程を通過させることにより、フープ状電子部品集合体
3の製造が行われる。 本実施例に係るトランジスタ1aの場合、第1図に示す
本体製造工程4において、ダンボンディング、ワイヤボ
ンディング、樹脂マウント、レジスタコート、標印等の
工程が行われ、この図に示すように、その本体1bが完成
された多数個のトランジスタ1aが、フープ状フレーム2
のサイドフレーム部2aに所定間隔で配列された状態で繰
り出される。上記本体製造工程4が完了したフープ状電
子部品集合体3は、第1図に示すように、フープ状フレ
ーム2のサイドフレーム部2aに、コレクタリード部5、
エミッタリード部6およびベースリード部7の三本のリ
ード部を介して、各トランジスタ本体1bが一定の間隔を
もって列状に配列保持された状態を呈している。 本実施例においては、上記サイドフレーム部2aに各ト
ランジスタ1aを保持させたまま、以下に説明する工程を
連続的に通過させることにより、フープ状トランジスタ
集合体3aを製造する。 まず、上記本体製造工程4から繰り出される各トラン
ジスタ1aに対して、リード部切断工程8において、上記
エミッタリード部6およびベースリード部7と上記サイ
ドフレーム部2aとの間を切断する。このリード部切断工
程8によって、各トランジスタ本体1bは上記サイドフレ
ーム2aに対してコレクタリード部5を介して保持配列さ
れることとなる。上記コレクタリード部5は上記サイド
フレーム部2aと電気的にも導通しており、次に説明する
検査工程9において共通電極10として用いられる。 上記リード部切断工程8において、コレクタリード部
5を残して他のリード部6,7をサイドフレーム部2aから
切断した後、検査工程9において各トランジスタ1aの特
性が検査される。本実施例においては、第1図に示すよ
うに、位置決めローラ11によってサイドフレーム部2aに
電位を印加しうるように構成して、コレクタリード部5
を共通電極10として利用するすることによりコレクタリ
ード部5からトランジスタ本体1bに電圧を印加する一
方、エミッタリード部6およびベースリード部7に測定
探針12,13をそれぞれ接触させ、各リード間に電圧を印
加してトランジスタ1aの特性検査を行う。 上記検査工程9において、各トランジスタ1aをサイド
フレーム2aから切り離すことなく、また、本体製造工程
4から連続する一連の工程として、その特性を連続して
測定することができるため、作業能率が格段に向上す
る。なお、上記特性検査の結果は、図示しない制御回路
を介して次の不良品切除工程14を作動させる。 上記検査工程9の次の工程として設けられる不良品切
除工程14は、上記検査工程9において発見された不良品
を排除するための工程であり、上記検査工程9から出力
された検査結果をもとにして、基準から外れた特性をも
つトランジスタが上記サイドフレーム部2aから切除され
る。上記不良品が切除された部分は、第1図に示すよう
に帯状にサイドフレーム部2aのみがつながった状態を呈
しており、その部分にはトランジスタ1aは配列保持され
ていない。 上記不良品切除工程14において不良品が排除されたフ
ープ状トランジスタ集合体3aは、巻取り包装工程15にお
いて、そのままロール状に巻取られ、包装されてユーザ
に出荷される。 以上のように、本実施例においては、各トランジスタ
1aは本体製造工程4から巻取り包装工程15まで、一貫し
て上記フープ状フレーム2のサイドフレーム部2aによっ
て保持搬送されるため、従来必要であったテーピング工
程を省略することができる。この結果、工程が削減され
製造時間が大幅に短縮されるとともに、帯状のフープ部
材を別途準備する必要もなく、またテーピング装置等が
不要となるため、製造コストを大幅に削減することがで
きる。 また、上記サイドフレーム部2aは、本来、トランジス
タ1aの各本体製造工程4において各トランジスタ1aを保
持搬送するために設けらるものであるため、各トランジ
スタ1a間の間隔が極めて均一に設定されており精度の高
い送りピッチを得ることができ、ユーザの自動装填機等
に装填された場合においても上記各トランジスタ1a間の
ピッチ誤差に基づく不都合が発生する恐れもない。 さらに、本実施例におけるトランジスタ1aのリード部
5,6,7には極性があり、従来のテーピング工程において
は極性を間違えて配列する恐れがあった。しかし、本実
施例においては、本体製造工程4において保持搬送され
る整列状態のまま出荷されることから、リード部5,6,7
の方向を間違って配列することもなく、配列ミスをチェ
ックするための検査が不要となり生産効率が向上すると
ともに、品質の安定したフープ状トランジスタ集合体3a
を供給することができる。 なお、本願発明に係る製造方法によって製造されたフ
ープ状電子部品集合体3おいては、不良の電子部品が切
除された部分は、サイドフレーム部2aのみが残され、電
子部品1が欠落した状態となるが、各ユーザにおける自
動装填機において容易に判別することができ、空送り等
によって対応することができることから問題が生じるこ
とはない。 上述のように、本願発明においては、電子部品1の本
体製造工程4からユーザに出荷する巻送り包装工程15ま
での全工程を、上記サイドフレーム部2aを利用して連続
的に行うことができ、生産性を格段に向上させることが
可能となる。 本願発明の範囲は上述の実施例に限定されることはな
い。実施例においては、シングルインライン型のトラン
ジスタ1aの製造方法に本願発明を適用したが、フープ状
フレーム2を用いて製造される他の電子部品の製造方法
に本願発明を適用することもできる。 また、実施例においては、サイドフレーム部2aにつな
がる各リード部5,6,7の太さは同一としているが、各電
子部品を上記サイドフレーム部2aに保持させるために必
要な場合は、上記リード部切断工程8で残されるリード
部を太くすることもできる。また、各電子部品1をサイ
ドフレーム部2a保持させるために、電気的に各電子部品
の内部に導通しない補助リード部、あるいはサイドフレ
ーム部2aにつながる連結部等を設けることもできる。
An embodiment of the present invention will be specifically described below with reference to FIG. FIG. 1 is a drawing schematically showing an outline of a manufacturing process when the present invention is applied to a method for manufacturing a single in-line type transistor. A relatively small single-in-line type electronic component 1 such as a transistor has a hoop-shaped frame 2 that is an elongated version of a conventional lead frame in order to improve manufacturing efficiency.
The hoop-shaped electronic component assembly 3 is manufactured by holding a large number of electronic components or semi-finished products at predetermined intervals and passing the hoop-shaped frame 2 through each manufacturing process arranged in series. In the case of the transistor 1a according to the present embodiment, in the main body manufacturing process 4 shown in FIG. 1, the processes such as dun bonding, wire bonding, resin mounting, register coating, and marking are performed, and as shown in this figure, A large number of transistors 1a, whose main body 1b is completed, are formed into a hoop-shaped frame 2
It is fed out in a state of being arranged at a predetermined interval on the side frame portion 2a. As shown in FIG. 1, the hoop-shaped electronic component assembly 3 for which the main body manufacturing process 4 has been completed has a collector lead portion 5, a collector lead portion 5, and a side frame portion 2a of the hoop-shaped frame 2, as shown in FIG.
Through the three lead parts of the emitter lead part 6 and the base lead part 7, the respective transistor bodies 1b are arranged and held in a row at regular intervals. In this embodiment, the hoop-shaped transistor assembly 3a is manufactured by continuously passing through the steps described below while holding the respective transistors 1a in the side frame portion 2a. First, for each transistor 1a fed from the main body manufacturing process 4, in the lead part cutting process 8, the emitter lead part 6, the base lead part 7, and the side frame part 2a are cut. By this lead section cutting step 8, each transistor body 1b is held and arranged on the side frame 2a via the collector lead section 5. The collector lead portion 5 is also electrically connected to the side frame portion 2a and is used as the common electrode 10 in the inspection step 9 described below. In the lead portion cutting step 8, the other lead portions 6 and 7 are cut from the side frame portion 2a while leaving the collector lead portion 5, and then in the inspection step 9, the characteristics of each transistor 1a are inspected. In this embodiment, as shown in FIG. 1, the positioning roller 11 is configured to apply a potential to the side frame portion 2a, and the collector lead portion 5 is formed.
Is used as the common electrode 10, a voltage is applied from the collector lead portion 5 to the transistor body 1b, while the measuring probes 12 and 13 are brought into contact with the emitter lead portion 6 and the base lead portion 7, respectively, and between the leads. A voltage is applied to inspect the characteristics of the transistor 1a. In the inspection step 9, the characteristics can be continuously measured without disconnecting each transistor 1a from the side frame 2a and as a series of continuous steps from the main body manufacturing step 4, so that the work efficiency is remarkably high. improves. As a result of the above characteristic inspection, the next defective product cutting step 14 is operated via a control circuit (not shown). The defective product excision process 14 provided as a process subsequent to the inspection process 9 is a process for eliminating defective products found in the inspection process 9, and based on the inspection result output from the inspection process 9. Then, a transistor having a characteristic deviating from the reference is cut off from the side frame portion 2a. The portion where the defective product is cut off is in a state in which only the side frame portion 2a is connected in a strip shape as shown in FIG. 1, and the transistor 1a is not arrayed and held in that portion. The hoop-shaped transistor assembly 3a from which defective products have been removed in the defective product removing step 14 is wound into a roll shape in the winding and packaging step 15 as it is, packaged, and shipped to the user. As described above, in this embodiment, each transistor is
Since 1a is consistently held and conveyed by the side frame portion 2a of the hoop-shaped frame 2 from the main body manufacturing process 4 to the winding and packaging process 15, the taping process which is conventionally required can be omitted. As a result, the number of steps is reduced, the manufacturing time is significantly shortened, it is not necessary to separately prepare a band-shaped hoop member, and a taping device or the like is not required, so that the manufacturing cost can be significantly reduced. Further, since the side frame portion 2a is originally provided for holding and carrying each transistor 1a in each main body manufacturing process 4 of the transistor 1a, the intervals between the transistors 1a are set to be extremely uniform. It is possible to obtain a highly accurate feed pitch, and there is no fear of causing inconvenience due to the pitch error between the transistors 1a even when the feed pitch is loaded in a user's automatic loading machine or the like. Furthermore, the lead portion of the transistor 1a in this embodiment
There are polarities in 5, 6 and 7, and there was a risk of arranging the polarities by mistake in the conventional taping process. However, in the present embodiment, the lead parts 5, 6, 7 are shipped in the aligned state in which they are held and conveyed in the main body manufacturing process 4.
Also, the hoop-shaped transistor assembly 3a with stable quality can be manufactured without misaligning the direction of the
Can be supplied. In the hoop-shaped electronic component assembly 3 manufactured by the manufacturing method according to the present invention, only the side frame portion 2a remains in the part where the defective electronic component is cut off, and the electronic component 1 is missing. However, there is no problem because it can be easily discriminated by the automatic loading machine of each user and can be dealt with by idling or the like. As described above, in the present invention, all steps from the main body manufacturing step 4 of the electronic component 1 to the winding and packaging step 15 for shipping to the user can be continuously performed by using the side frame portion 2a. Therefore, it is possible to significantly improve productivity. The scope of the present invention is not limited to the above embodiments. Although the present invention is applied to the method for manufacturing the single-in-line type transistor 1a in the embodiments, the present invention can also be applied to the method for manufacturing other electronic components manufactured by using the hoop-shaped frame 2. Further, in the embodiment, the thickness of each lead portion 5, 6, 7 connected to the side frame portion 2a is the same, but if necessary to hold each electronic component in the side frame portion 2a, the above The lead portion left in the lead portion cutting step 8 can be thickened. Further, in order to hold each electronic component 1 in the side frame portion 2a, an auxiliary lead portion which is not electrically connected to the inside of each electronic component, or a connecting portion connected to the side frame portion 2a may be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本願発明の製造方法の概略を模式的に表した図
である。 1……電子部品、2……フープ状フレーム、2a……サイ
ドフレーム部、3……フープ状電子部品集合体、5,6,7
……リード部、8……リード部切断工程、9……検査工
程、10……共通電極、12,13……測定探針、14……不良
品切除工程。
FIG. 1 is a diagram schematically showing the outline of the manufacturing method of the present invention. 1 ... Electronic component, 2 ... Hoop-shaped frame, 2a ... Side frame part, 3 ... Hoop-shaped electronic component assembly, 5,6,7
...... Lead part, 8 ...... Lead part cutting process, 9 …… Inspection process, 10 …… Common electrode, 12,13 …… Measuring probe, 14 …… Defective product cutting process.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品製造の各工程間を上記電子部品ま
たはその半製品を所定間隔で保持搬送するフープ状フレ
ームのサイドフレーム部を帯状フープ部材として利用
し、多数個の電子部品がそのリード部を介して上記帯状
フープ部材に列状に保持されたフープ状電子部品集合体
を製造する方法であって、 各電子部品の上記サイドフレーム部とつながるリード部
のうち、少なくとも一のリード部を残し、他のリード部
と上記サイドフレーム部との間を切断するリード部切断
工程と、 上記各電子部品につき、サイドフレーム部を共通電極と
してそのサイドフレーム部より切断された電子部品のリ
ード部に測定探針を接触させることにより、特性検査を
行う検査工程と、 上記製品検査工程において発見された不良電子部品を上
記リード部で切除する不良品切除工程と、 を含み、良品のみの電子部品が上記帯状フープ部材に保
持された状態でこれを出荷形態化することを特徴とす
る、フープ状電子部品集合体の製造方法。
1. A side frame portion of a hoop-shaped frame for holding and transporting the electronic component or a semi-finished product thereof at predetermined intervals between respective steps of manufacturing an electronic component is utilized as a band-shaped hoop member, and a large number of electronic components are leads thereof. A method for manufacturing a hoop-shaped electronic component assembly held in a row by the band-shaped hoop member via a portion, wherein at least one lead portion among lead portions connected to the side frame portions of each electronic component is Leaving, the lead portion cutting step of cutting between the other lead portion and the side frame portion, and for each electronic component, the side frame portion is used as a common electrode for the lead portion of the electronic component cut from the side frame portion. By touching the measuring probe, the inspection process to perform the characteristic inspection and the defective electronic parts found in the product inspection process are cut off with the lead part. Includes a defective excision step, the electronic component of non-defective only characterized by Shipment of this while being held in the belt-shaped hoop member, the manufacturing method of the hoop-like electronic component assembly.
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