JPH08153774A - Electronic parts stocker and storing method of electronic parts - Google Patents

Electronic parts stocker and storing method of electronic parts

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JPH08153774A
JPH08153774A JP29630094A JP29630094A JPH08153774A JP H08153774 A JPH08153774 A JP H08153774A JP 29630094 A JP29630094 A JP 29630094A JP 29630094 A JP29630094 A JP 29630094A JP H08153774 A JPH08153774 A JP H08153774A
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JP
Japan
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stocker
ionizer
parts
electronic parts
carrier
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Application number
JP29630094A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Takao
浩昭 高尾
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE: To improve productivity of electronic parts by suppressing the adhesion of foreign matters to the parts due to the static electricity generated when the parts are stored in, taken out from, or put in an electronic stocker and simultaneously cleaning the parts and removing the electrostatic electricity. CONSTITUTION: An electronic parts stocker which keeps electronic parts 11 which are apt to be easily damaged by foreign matters adhering to the parts in a clean atmosphere is provided with ionizers 2-1 to 2-6 as non-contacting static electricity removing means for electronic parts at a plurality of locations near and around the parts 11.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は例えば半導体ウェーハの
如く塵埃やパーティクルの付着を嫌う電子部品用のスト
ッカの構成に係り、特に保管時や出し入れ時における静
電気に起因する塵埃やパーティクルの付着を抑制し、清
浄化と静電気除去とを同時に実現して生産性向上を図っ
た電子部品ストッカと電子部品の保管方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a construction of a stocker for electronic parts such as semiconductor wafers, which is insensitive to the adhesion of dust and particles, and particularly suppresses the adhesion of dust and particles due to static electricity during storage and storage. In addition, the present invention relates to an electronic component stocker and an electronic component storage method that achieve cleaning and static electricity removal at the same time to improve productivity.

【0002】近年における電子部品の分野ではその高性
能化や小型化に伴って製造工程中や保管時における塵埃
の付着を特に嫌うようになってきていることから、スト
ッカに保管されている電子部品に対する塵埃やパーティ
クル(以下文中ではパーティクルとする)の付着も如何
にして抑制するかが大きな課題になっている。
In the field of electronic parts in recent years, as the performance and size of the electronic parts have become smaller, the adherence of dust during the manufacturing process and during storage has become particularly disliked. Therefore, the electronic parts stored in the stocker A major issue is how to suppress adhesion of dust and particles (hereinafter referred to as particles in the text) to the.

【0003】[0003]

【従来の技術】電子部品が半導体ウェーハ(以下文中で
はウェーハとする)である場合を例とする図3は従来の
ウェーハのストック状態をストッカと共に説明する図で
あり、(3-1) は保管時のウェーハ保持状態をキャリアと
共に説明する図であり (3-2)はストッカを説明する図、
(3-3) はストック時の状態を示す図である。
2. Description of the Related Art FIG. 3, which illustrates a case where an electronic component is a semiconductor wafer (hereinafter referred to as a wafer), is a diagram for explaining a conventional wafer stock state together with a stocker, and (3-1) is storage. It is a diagram for explaining the wafer holding state at the time with the carrier (3-2) is a diagram for explaining the stocker,
(3-3) is a diagram showing a state at the time of stock.

【0004】また図4は本発明に使用するイオナイザを
概略的に説明する図である。図3の(3-1) で例えば石英
の如く耐磨耗性ある材料からなるウェーハキャリア(以
下キャリアとする)11は、平面視が細長い“ロ”字でそ
の幅方向両側壁面の内側に複数のウェーハ1を該治具11
の長手方向と直交する方向に上方開口から一定した間隔
で挿入し得るような波形状の挿入溝11a が形成され、ま
たその下側開口部の近傍が該ウェーハ1をその中心より
下側周辺の一部で保持できるように狭められて形成され
ているものである。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the ionizer used in the present invention. In FIG. 3 (3-1), a wafer carrier (hereinafter referred to as a carrier) 11 made of a wear-resistant material such as quartz has a slender "B" in plan view, and a plurality of wafer carriers 11 are formed on the inner sides of both side walls in the width direction. The wafer 1 of the jig 11
Is formed with a corrugated insertion groove 11a that can be inserted from the upper opening at a constant interval in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the wafer. It is formed so as to be held in part.

【0005】また扉12a を矢印Aのように閉めることで
複数段の保管槽になり得る(3-2) で示すストッカ12は、
その上部と背部とに清浄なエアーを吹き出させるための
高性能フィルタ“HEPA:High Efficiency Particul
arity Air ”12b が装着されているものであり、該各フ
ィルタ12b から吹き出された清浄なエアーは例えば網状
の棚板12c を通過して上記扉12a の下辺域に設けられて
いるエア排出孔12d から排出されるようになっている。
Further, by closing the door 12a as shown by arrow A, the stocker 12 shown in (3-2) can be a storage tank having a plurality of stages.
High efficiency filter "HEPA: High Efficiency Particul" for blowing clean air to the upper part and the back
arity Air "12b is installed, and the clean air blown out from each of the filters 12b passes through, for example, a net-like shelf plate 12c, and an air discharge hole 12d provided in the lower side area of the door 12a. Is to be discharged from.

【0006】このことは、上記扉12a を閉めた状態にす
ると該ストッカ12の内部を各フィルタ12b からの清浄な
エアーが矢印B1, B2のように流れて該ストッカ内部が清
浄エアーで満たされことを示している。
This means that when the door 12a is closed, clean air from the filters 12b flows inside the stocker 12 as shown by arrows B 1 and B 2 and the inside of the stocker is filled with clean air. It has been shown that.

【0007】そこで、ウェーハ1が挿入された上記キャ
リア11を矢印Cのように該ストッカ12にセッティングし
た後上記扉12a を閉めることで、該キャリア11ひいては
ウェーハ1を(3-3) に示すように清浄な雰囲気中に保管
することができる。
Therefore, the carrier 11 in which the wafer 1 is inserted is set on the stocker 12 as shown by an arrow C, and then the door 12a is closed so that the carrier 11 and thus the wafer 1 are indicated by (3-3). It can be stored in a clean atmosphere.

【0008】従って、キャリア11すなわちウェーハ1へ
のパーティクルの付着を抑制することができる。
Therefore, it is possible to suppress the adhesion of particles to the carrier 11, that is, the wafer 1.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしストッカ中に位
置するキャリア11やウェーハ1が静電気を帯びている
と、作業者がウェーハ1すなわちキャリア11を該ストッ
カから取り出すときに該作業者の衣服等に付着している
塵埃やパーティクル等(以下文中では単に異物とする)
が該キャリア11やウェーハ1に付着することがあると言
う問題があった。
However, if the carrier 11 or the wafer 1 located in the stocker is charged with static electricity, when the worker takes out the wafer 1, that is, the carrier 11, from the stocker, the worker's clothes or the like may be worn. Dust and particles that have adhered (hereinafter simply referred to as foreign matter)
However, there is a problem that they may adhere to the carrier 11 or the wafer 1.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題は、異物付着を
嫌う電子部品を清浄な雰囲気中で保管する電子部品スト
ッカであって、収容されている電子部品それぞれの周辺
近傍複数箇所に、該電子部品と非接触の静電気除去手段
が設けられている電子部品ストッカによって解決され
る。
An object of the present invention is to provide an electronic component stocker for storing electronic components in which a foreign substance is disliked in a clean atmosphere, and to store the electronic components at a plurality of locations in the vicinity of each of the accommodated electronic components. This is solved by an electronic component stocker provided with static electricity removing means that is not in contact with the components.

【0011】[0011]

【作用】ストッカ内に位置するキャリアやウェーハ等電
子部品に帯電している静電気を該電子部品に触れること
なく該ストッカ内で除電できれば、作業者による取り出
し作業時の上述した如き異物の付着を抑制することがで
きる。
[Operation] If static electricity charged on electronic parts such as carriers and wafers located in the stocker can be removed in the stocker without touching the electronic parts, the above-mentioned foreign substances can be prevented from adhering when the operator takes out the work. can do.

【0012】一方かかる静電気を除電するのにイオナイ
ザが実用化されている。図4はかかるイオナイザの一例
を概略的に示したものであり、(4-1) は外観を例示し
(4-2)はその構成と作用を示している。
On the other hand, an ionizer has been put into practical use for removing such static electricity. Fig. 4 shows an example of such an ionizer, and (4-1) shows the appearance.
(4-2) shows its structure and action.

【0013】すなわち図でイオナイザ2は、高圧線21a
に繋がるイオンガン22の先端側にフィルタ23を介する放
電部24が先端ノズル25を備えて構成されているものであ
り、該先端ノズル25を開口を持って囲むアース電極26の
該開口域が上記放電部24として作用するようになってい
る。
That is, in the figure, the ionizer 2 is a high voltage line 21a.
The discharge section 24 via the filter 23 is provided with a tip nozzle 25 on the tip side of the ion gun 22 connected to the above, and the opening area of the earth electrode 26 surrounding the tip nozzle 25 with an opening is the above discharge. It is designed to act as part 24.

【0014】かかるイオナイザ2では、該イオナイザ2
の外部に位置する高圧トランス27で高圧線21を介して交
流の高圧電界をイオンガン22にかけると上記放電部24に
“+”と“−”の両イオンが発生し、タングステン(W)
からなる先端ノズル25から射出するので、電子部品等帯
電物28に触れることなくその静電気を中和させることが
できる。
In such an ionizer 2, the ionizer 2
When a high voltage electric field of alternating current is applied to the ion gun 22 through the high voltage line 21 by the high voltage transformer 27 located outside of, the positive and negative ions "+" and "-" are generated in the discharge part 24, and tungsten (W)
The static electricity can be neutralized without touching the charged object 28 such as an electronic component, because it is ejected from the tip nozzle 25.

【0015】なおこの場合の該イオナイザ2は、信号線
21b に繋がる例えば継電器29等を利用することでイオナ
イザとしての動作や停止が実現し得るようになっている
ものである。
In this case, the ionizer 2 is a signal line.
By using, for example, a relay 29 connected to 21b, the operation and stop as an ionizer can be realized.

【0016】そこで本発明では、ストッカ内キャリア配
置位置それぞれの周囲に先端ノズル25が該キャリアの方
向を向くように上記イオナイザ2を配置してストッカを
構成するようにしている。
Therefore, in the present invention, the ionizer 2 is arranged around each of the carrier arrangement positions in the stocker so that the tip nozzle 25 faces the carrier to form a stocker.

【0017】このことは少なくとも先端ノズル25が向い
た方向に位置するキャリアやウェーハ等電子部品の静電
気が該先端ノズル25から出る上記イオンによって中和さ
れて消滅することを意味する。
This means that at least the static electricity of the electronic components such as carriers and wafers located in the direction in which the tip nozzle 25 faces is neutralized by the ions emitted from the tip nozzle 25 and disappears.

【0018】従って、作業者による取り出し作業時の上
述した異物付着をなくすことができて生産性向上を期待
することができる。
Therefore, it is possible to eliminate the above-mentioned adherence of foreign matter at the time of taking out work by the worker, and it is possible to expect an improvement in productivity.

【0019】[0019]

【実施例】図1は本発明になる電子部品ストッカの構成
を説明する図であり、(1-1) は開扉時の該ストッカを正
面視した図、 (1-2)はウェーハが挿入されたキャリアに
対するイオナイザの配置位置を示した図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of an electronic component stocker according to the present invention, (1-1) is a front view of the stocker when the door is opened, and (1-2) is a wafer insertion state. It is the figure which showed the arrangement position of the ionizer with respect to the carried carrier.

【0020】また図2は図1のストッカに適用させる回
路構成を例示説明する図である。なお図ではいずれも、
電子部品を図3と同じウェーハとし、また図3で説明し
たストッカに図4のイオナイザを装着させる場合を例と
しているので、図3および図4と同じ対象部材・部位に
は同一の記号を付して表わしていると共に重複する説明
についてはそれを省略する。
FIG. 2 is a diagram illustrating a circuit configuration applied to the stocker shown in FIG. In the figure,
Since the electronic parts are the same wafer as in FIG. 3 and the ionizer of FIG. 4 is attached to the stocker described in FIG. 3, the same reference numerals are attached to the same target members and parts as in FIGS. 3 and 4. Descriptions that are the same as those described above and will not be repeated will be omitted.

【0021】ストッカとしての構成を説明する図1の(1
-1) で本発明になる電子部品ストッカ4は、図3で説明
したストッカ12における各キャリア配置位置の横方向て
隣接するキャリア間を例えば樹脂板の如き隔壁411 で仕
切って個室化すると共に、個室化された各領域の周囲五
面の上記キャリア11と対応する各位置に図4で説明した
イオナイザ2を2-1〜2-5として装着し更に奥壁のイオ
ナイザ2-5の近傍に例えば発光素子412 を装着したスト
ッカ筐体41a と、図3における扉12a と同じ構成で上記
奥壁のイオナイザ2-5とほぼ対応する位置に図4で説明
したイオナイザ2を2-6として装着すると共に上記発光
素子412 と対応する位置に受光素子413を装着した扉41b
とからなるものである。
FIG. 1 (1) for explaining the configuration as a stocker
-1) In the electronic component stocker 4 according to the present invention, the adjacent carrier in the lateral direction at each carrier arrangement position in the stocker 12 described in FIG. 3 is partitioned by a partition wall 411 such as a resin plate to form a private room. The ionizer 2 described in FIG. 4 is attached as 2 -1 to 2 -5 at each position corresponding to the carrier 11 on the five sides around each of the individual compartments, and further in the vicinity of the ionizer 2 -5 on the back wall, for example. a stocker housing 41a fitted with the light emitting element 412, with mounting the ionizer 2 described in FIG. 4 in a position substantially corresponding to the ionizer 2 -5 above the back wall in the same configuration as the door 12a in FIG. 3 as 2 -6 Door 41b with light receiving element 413 attached at a position corresponding to the light emitting element 412
It consists of and.

【0022】そして上記発光素子412 と該受光素子413
とは、該扉41b を閉じたときに相互が光信号で繋がるよ
うに構成されている。このことは、扉41b を開いた図の
状態で図3で説明したキャリア11を破線Cのようにセッ
ティングすると該キャリア11は5個のイオナイザ2-1
-5で囲まれることとなり、更に該扉41b を閉じるとキ
ャリア11が該扉41b のイオナイザ2-6を含めた6個のイ
オナイザ2-1〜2-6で囲まれると同時に上述した発光素
子412と受光素子413 とが対面して光センサとしての回
路が構成されることを示している。
The light emitting element 412 and the light receiving element 413
Are configured so that they are connected to each other by an optical signal when the door 41b is closed. This means that when the carrier 11 explained in FIG. 3 is set as shown by the broken line C in the state where the door 41b is opened, the carrier 11 has five ionizers 2 −1 〜.
2 -5 thing now surrounded by light-emitting element described above further simultaneously close the said door 41b carrier 11 is surrounded by six ionizer 2 -1 to 2 -6, including ionizer 2-6 of said door 41b 412 and the light receiving element 413 face each other to form a circuit as an optical sensor.

【0023】しかし上述したようにキャリア11がセッテ
ィングされていると、発光素子412と受光素子413 との
間が該キャリア11ひいてはウェーハ1で遮光されるので
光センサとしての回路が構成されず、結果的にウェーハ
1の有無を光センサとしての回路構成有無で検知するこ
とができる。
However, if the carrier 11 is set as described above, the light-emitting element 412 and the light-receiving element 413 are shielded by the carrier 11 and by extension the wafer 1, so that a circuit as an optical sensor is not formed, resulting in Therefore, the presence / absence of the wafer 1 can be detected by the presence / absence of a circuit configuration as an optical sensor.

【0024】(1-2) はこのときの状態をキャリア11を中
心として表わしたものであり、6個のイオナイザ2-1
-6が該キャリア11の周囲に位置していると共に発光素
子412 と受光素子413 とからなる光センサの回路が該キ
ャリア11ひいてはウェーハ1によって遮断されているこ
とを示している。
(1-2) shows the state at this time centering on the carrier 11, and the six ionizers 2 -1 to 2 -1 to
It is shown that 2 -6 is located around the carrier 11 and the circuit of the optical sensor consisting of the light emitting element 412 and the light receiving element 413 is blocked by the carrier 11 and by extension the wafer 1.

【0025】従って、例えば扉41b にその開閉によって
上記イオナイザ2としての回路が切替え得るスイッチン
グ素子を設けると共に、発光素子412 と受光素子413 と
で得られる光センサとしての回路断続信号で上記各領域
ごとのイオナイザ2の回路断続を行わしめることで、キ
ャリア11やウェーハ1の清浄化と静電気除去とが同時に
実現できる所要の電子部品ストッカを容易に得ることが
できる。
Therefore, for example, the door 41b is provided with a switching element capable of switching the circuit as the ionizer 2 by opening and closing the door 41b, and each of the above-mentioned regions is provided with a circuit intermittent signal as an optical sensor obtained by the light emitting element 412 and the light receiving element 413. By performing the circuit connection and disconnection of the ionizer 2 in (1), it is possible to easily obtain a required electronic component stocker capable of simultaneously cleaning the carrier 11 and the wafer 1 and removing static electricity.

【0026】この場合の回路構成を概略的に示した図2
で、破線D1で示したスイッチング素子31は図1における
ストッカ4の扉開閉部に設けられるものであり、破線D2
で示した高圧トランス27は図4で説明したものである。
FIG. 2 schematically showing the circuit configuration in this case.
In the switching element 31 shown by a broken line D 1 are those provided in a door opening and shutting part of a stocker 4 in FIG. 1, dashed line D 2
The high voltage transformer 27 indicated by is the one described in FIG.

【0027】また、該高圧トランス27に繋がる高圧線21
a にシリーズに繋がる破線D3で示した領域は図1で説明
した個室化された領域をそれぞれ示したもので、該各領
域には上記発光素子412 と受光素子413 とからなり該各
素子間が光信号で繋がれたときに上記高圧トランス27に
繋がる高圧線21a が“断”となりまた該各素子間の光信
号が絶たれたときに該高圧線21a が“続”になり得るよ
うなスイッチング回路32と、上述した6個のイオナイザ
-1〜2-6とが含まれている。
The high-voltage line 21 connected to the high-voltage transformer 27
Areas indicated by broken lines D 3 connected to the series in a indicate the individualized areas described in FIG. 1, and each area is composed of the light emitting element 412 and the light receiving element 413, When the optical signal is connected by an optical signal, the high voltage line 21a connected to the high voltage transformer 27 becomes "disconnected", and when the optical signal between the respective elements is disconnected, the high voltage line 21a becomes "continuous". The switching circuit 32 and the above-mentioned six ionizers 2 -1 to 2 -6 are included.

【0028】なお上記スイッチング回路32は、図4で説
明したイオナイザ2に個別に装着されている継電器29等
に対応するものである。そこで上記扉41b を閉じてスイ
ッチング素子31を閉回路にすると、上述の個室化された
領域にキャリア11が位置しているときには上記発光素子
412 からの光信号が受光素子413 に到達しないので上記
スイッチング回路32によって高圧線21aが“続”となっ
てイオナイザ2-1〜2-6が作動するが、該領域にキャリ
ア11が位置していないときには上記発光素子412 からの
光信号が受光素子413 に到達するのでスイッチング回路
32によって高圧線21a が“断”となり各イオナイザ2-1
〜2-6は作動しない。
The switching circuit 32 corresponds to the relay 29 or the like individually mounted on the ionizer 2 described with reference to FIG. Therefore, by closing the door 41b and closing the switching element 31 into a closed circuit, when the carrier 11 is located in the above-described compartmented area, the light emitting element is
Since the optical signal from 412 does not reach the light receiving element 413, the switching circuit 32 causes the high voltage line 21a to be "continuous" and the ionizers 2 -1 to 2 -6 operate, but the carrier 11 is located in that region. If not, the optical signal from the light emitting element 412 reaches the light receiving element 413.
The high voltage line 21a becomes "disconnected" by 32, and each ionizer 2 -1
~ 2-6 does not work.

【0029】このことは、複数の個室化された領域の内
キャリア11ひいてはウェーハ1が収容されている領域の
イオナイザのみが作動すると共に、上記扉42を開扉する
まで該イオナイザの作動が継続することを示している。
This means that only the ionizer in the carrier 11 of the plurality of individual chambers and thus the region in which the wafer 1 is accommodated operates, and the operation of the ionizer continues until the door 42 is opened. It is shown that.

【0030】従って、図3で説明したように清浄エアを
吹き出させた状態で上記扉41b を閉じることで、キャリ
ア11やウェーハ1の異物除去による清浄化と静電気除去
とが該扉42の開扉時まで継続して同時に実現できるスト
ッカを容易に構成することができる。
Therefore, as described with reference to FIG. 3, by closing the door 41b in a state where the clean air is blown, the cleaning of the carrier 11 and the wafer 1 by removing foreign matters and the removal of static electricity are performed by opening the door 42. It is possible to easily configure a stocker that can be continuously realized at the same time.

【0031】[0031]

【発明の効果】上述の如く本発明により、保管時や出し
入れ時における静電気に起因する異物の付着を抑制し、
清浄化と静電気除去とを同時に実現して生産性向上を図
った電子部品ストッカと電子部品の保管方法を提供する
ことができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to suppress the adhesion of foreign matter due to static electricity during storage or withdrawal,
It is possible to provide an electronic component stocker and an electronic component storage method that achieve both cleaning and static electricity removal at the same time to improve productivity.

【0032】なお本発明の説明ではイオナイザをキャリ
アの周辺6か所に装着した場合を例としているが、該6
か所に限定されるものでなく被保管電子部品の外形を考
慮して増減させても同等の効果が得られることは明らか
である。
In the description of the present invention, the case where the ionizer is attached to the carrier at six locations is described as an example.
It is obvious that the same effect can be obtained even if the outer shape of the stored electronic component is taken into consideration and the number is increased or decreased without being limited to the location.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明になる電子部品ストッカの構成を説明
する図。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an electronic component stocker according to the present invention.

【図2】 図1のストッカに適用させる回路構成を例示
説明する図。
FIG. 2 is a diagram illustrating a circuit configuration applied to the stocker of FIG.

【図3】 従来のウェーハのストック状態をストッカと
共に説明する図。
FIG. 3 is a diagram illustrating a conventional wafer stock state together with a stocker.

【図4】 本発明に使用するイオナイザを概略的に説明
する図。
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating an ionizer used in the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体ウェーハ 2,2-1〜2-6
イオナイザ 4 電子部品ストッカ 11 キャリ
ア 27 高圧トランス 31 スイッ
チング素子 32 スイッチング回路 41a ストッカ筐体 41b 扉 411 隔壁 412 発光素子 413 受光素
1 Semiconductor wafer 2,2 -1 to 2 -6
Ionizer 4 Electronic component stocker 11 Carrier 27 High voltage transformer 31 Switching element 32 Switching circuit 41a Stocker housing 41b Door 411 Partition wall 412 Light emitting element 413 Light receiving element

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 異物付着を嫌う電子部品を清浄な雰囲気
中で保管する電子部品ストッカであって、 収容されている電子部品それぞれの周辺近傍複数箇所
に、該電子部品と非接触静電気除去手段としてのイオナ
イザが設けられていることを特徴とする電子部品ストッ
カ。
1. An electronic component stocker for storing electronic components in which a foreign substance does not adhere in a clean atmosphere, wherein the electronic components are provided at a plurality of locations in the vicinity of the respective electronic components as a non-contact static electricity removing means. An electronic component stocker characterized by being provided with an ionizer of.
【請求項2】 請求項1記載のイオナイザが、閉扉時に
作動開始し開扉時に作動停止するように装着されている
ことを特徴とする電子部品ストッカ。
2. An electronic component stocker, wherein the ionizer according to claim 1 is mounted so as to start operation when the door is closed and stop operation when the door is opened.
【請求項3】 請求項1記載の電子部品ストッカの所定
位置で電子部品を保管することを特徴とする電子部品の
保管方法。
3. A method of storing an electronic component, wherein the electronic component is stored at a predetermined position of the electronic component stocker according to claim 1.
JP29630094A 1994-11-30 1994-11-30 Electronic parts stocker and storing method of electronic parts Withdrawn JPH08153774A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004028933A1 (en) * 2002-09-25 2004-04-08 Tsubaki Seiko Inc. Stocker apparatus

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