JPH08152407A - Ｉｃｐ発光分光分析装置 - Google Patents
Ｉｃｐ発光分光分析装置Info
- Publication number
- JPH08152407A JPH08152407A JP29633694A JP29633694A JPH08152407A JP H08152407 A JPH08152407 A JP H08152407A JP 29633694 A JP29633694 A JP 29633694A JP 29633694 A JP29633694 A JP 29633694A JP H08152407 A JPH08152407 A JP H08152407A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- screw
- adjustment
- plane mirror
- icp emission
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣＰ発光分光分析装置において、光軸を直
角に変更する光サンプリング部のミラーの角度調整を容
易にする。 【構成】 光サンプリング部を、裏面が凸半球形の平面
ミラー５０と、その平面ミラーを全方向に揺動自在に保
持する凹半球形のミラー保持部６０とで構成した。その
平面ミラーとミラー保持部は一つのネジ８１で締結され
ているだけなので、ネジ８１を僅かにゆるめると平面ミ
ラーの方向を自由に変えることができ、その調整後にネ
ジ８１を締めれば上下左右方向の調整は終わる。その後
ミラー保持部６０を回転方向に調整し、ネジ８３で外筒
部７０に固定すれば調整は完了する。
角に変更する光サンプリング部のミラーの角度調整を容
易にする。 【構成】 光サンプリング部を、裏面が凸半球形の平面
ミラー５０と、その平面ミラーを全方向に揺動自在に保
持する凹半球形のミラー保持部６０とで構成した。その
平面ミラーとミラー保持部は一つのネジ８１で締結され
ているだけなので、ネジ８１を僅かにゆるめると平面ミ
ラーの方向を自由に変えることができ、その調整後にネ
ジ８１を締めれば上下左右方向の調整は終わる。その後
ミラー保持部６０を回転方向に調整し、ネジ８３で外筒
部７０に固定すれば調整は完了する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は水溶液の元素分析に利用
されるＩＣＰ発光分光分析装置に関し、特に測定光の光
軸を変更するためのミラーの保持装置に関係している。
されるＩＣＰ発光分光分析装置に関し、特に測定光の光
軸を変更するためのミラーの保持装置に関係している。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣＰ発光分光分析装置は高周波誘導プ
ラズマにより試料を発光させ、その光を分光器に導入し
て分光・検出し、水溶液試料中の元素の定性および定量
分析を行う。通常プラズマトーチは直立させて使うの
で、プラズマの中心軸は鉛直方向である。測定光はプラ
ズマの側面から水平方向に取り出し、その延長方向に分
光器を配置しているが、測定感度の向上のためにプラズ
マの中心軸方向に測定光を取り出す場合がある。そのと
きには、プラズマトーチの上方向に取り出した測定光を
平面ミラーで反射させ、光軸をほぼ直角に水平方向に変
更し、分光器に導入する必要がある。
ラズマにより試料を発光させ、その光を分光器に導入し
て分光・検出し、水溶液試料中の元素の定性および定量
分析を行う。通常プラズマトーチは直立させて使うの
で、プラズマの中心軸は鉛直方向である。測定光はプラ
ズマの側面から水平方向に取り出し、その延長方向に分
光器を配置しているが、測定感度の向上のためにプラズ
マの中心軸方向に測定光を取り出す場合がある。そのと
きには、プラズマトーチの上方向に取り出した測定光を
平面ミラーで反射させ、光軸をほぼ直角に水平方向に変
更し、分光器に導入する必要がある。
【０００３】図２はプラズマトーチの中心軸方向から測
定光を取り出すＩＣＰ発光分光分析装置の従来例であ
る。プラズマトーチ４は直立しており、プラズマトーチ
の上に配置された光サンプリング部２０は内部にミラー
２２を有し、光軸をプラズマトーチの中心軸方向から分
光器１０の方向にほぼ直角に変更している。
定光を取り出すＩＣＰ発光分光分析装置の従来例であ
る。プラズマトーチ４は直立しており、プラズマトーチ
の上に配置された光サンプリング部２０は内部にミラー
２２を有し、光軸をプラズマトーチの中心軸方向から分
光器１０の方向にほぼ直角に変更している。
【０００４】光軸を変更するためのミラー２２の調整機
構としては、反射の方向と反射する位置を決めるために
一般的に３軸の調整軸が必要である。従来の調整機構で
は３軸を別々に調整し、しかもそれぞれの軸が互いに影
響するような関係になっているので、光軸の調整は大変
めんどうなものであった。本発明はそのミラーの調整を
簡単にする構成に関するものである。
構としては、反射の方向と反射する位置を決めるために
一般的に３軸の調整軸が必要である。従来の調整機構で
は３軸を別々に調整し、しかもそれぞれの軸が互いに影
響するような関係になっているので、光軸の調整は大変
めんどうなものであった。本発明はそのミラーの調整を
簡単にする構成に関するものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】光軸調整するための３
軸の調整が互いに影響すると、一つの軸の調整を終えた
としても他の軸の調整を行う課程で再び先に調整した軸
がずれてしまい、最終的な調整完了までには何回かの繰
り返し調整が必要であった。光軸の調整を簡単に一度の
調整で終わるようにすることが本発明の課題である。
軸の調整が互いに影響すると、一つの軸の調整を終えた
としても他の軸の調整を行う課程で再び先に調整した軸
がずれてしまい、最終的な調整完了までには何回かの繰
り返し調整が必要であった。光軸の調整を簡単に一度の
調整で終わるようにすることが本発明の課題である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記課題を
解決するために、ＩＣＰ発光分光分析装置の光サンプリ
ング部に、裏面が凸半球形の平面ミラーと、その平面ミ
ラーを全方向に揺動自在に保持する凹半球形のミラー受
け面を持つミラー保持部からなり、前記平面ミラーと前
記ミラー保持部を一つのネジで締結してなる光軸変更機
構を設けた。
解決するために、ＩＣＰ発光分光分析装置の光サンプリ
ング部に、裏面が凸半球形の平面ミラーと、その平面ミ
ラーを全方向に揺動自在に保持する凹半球形のミラー受
け面を持つミラー保持部からなり、前記平面ミラーと前
記ミラー保持部を一つのネジで締結してなる光軸変更機
構を設けた。
【０００７】
【作用】裏面が凸半球形の平面ミラーが揺動が可能な隙
間を持ちながら凹半球形のミラー受け面にはまり合うこ
とによって、平面ミラーはあらゆる方向に向くことがで
きる。したがってミラーの方向を決める調整を一度に行
うことができる。平面ミラーの向きが決められた後、そ
の平面ミラーとミラー保持部は一本のネジのみによって
固定できるので固定も簡単である。
間を持ちながら凹半球形のミラー受け面にはまり合うこ
とによって、平面ミラーはあらゆる方向に向くことがで
きる。したがってミラーの方向を決める調整を一度に行
うことができる。平面ミラーの向きが決められた後、そ
の平面ミラーとミラー保持部は一本のネジのみによって
固定できるので固定も簡単である。
【０００８】
【実施例】図１に本発明のＩＣＰ発光分光分析装置の要
部である光サンプリング部の一実施例を示す。図１
（ａ）は平面のミラー面５３を有し、裏面が凸半球形の
平面ミラー５０であり、図１（ｂ）は凹半球形のミラー
受け面６３をもつミラー保持部６０であり、図１（ｃ）
はミラー保持部を中心軸回りに回転自在に保持する外筒
部７０である。図１（ｄ）は平面ミラー５０、ミラー保
持部６０、外筒部７０を組み立てて光サンプリング部と
したときの断面図である。平面ミラー６０の裏側の凸半
球形部分には一つの止めネジ用のネジ穴５１が設けられ
ている。また突起５２はミラー保持部６０の溝６２には
まりこんでミラーの動きを規制し調整をやりやすくする
ためのものである。ミラー保持部６０の凹半球形の中心
付近には止めネジの太さよりも十分に大きいネジの貫通
孔６１があけられている。外筒部７０にはミラー保持部
６０の中心軸回りの回転を固定するための止めネジをつ
けるためのネジ穴７１があけられている。また７２は平
面プラズマの中心軸方向に取り出した測定光をミラー５
０に導入し分光器の方向に反射するための測定光通過孔
である。その通過孔７２はプラズマの中心軸付近の光を
取り出すために直径２ｍｍ程度としてある。
部である光サンプリング部の一実施例を示す。図１
（ａ）は平面のミラー面５３を有し、裏面が凸半球形の
平面ミラー５０であり、図１（ｂ）は凹半球形のミラー
受け面６３をもつミラー保持部６０であり、図１（ｃ）
はミラー保持部を中心軸回りに回転自在に保持する外筒
部７０である。図１（ｄ）は平面ミラー５０、ミラー保
持部６０、外筒部７０を組み立てて光サンプリング部と
したときの断面図である。平面ミラー６０の裏側の凸半
球形部分には一つの止めネジ用のネジ穴５１が設けられ
ている。また突起５２はミラー保持部６０の溝６２には
まりこんでミラーの動きを規制し調整をやりやすくする
ためのものである。ミラー保持部６０の凹半球形の中心
付近には止めネジの太さよりも十分に大きいネジの貫通
孔６１があけられている。外筒部７０にはミラー保持部
６０の中心軸回りの回転を固定するための止めネジをつ
けるためのネジ穴７１があけられている。また７２は平
面プラズマの中心軸方向に取り出した測定光をミラー５
０に導入し分光器の方向に反射するための測定光通過孔
である。その通過孔７２はプラズマの中心軸付近の光を
取り出すために直径２ｍｍ程度としてある。
【０００９】図１（ｄ）を使ってミラーの角度を調整す
る方法を説明する。外筒部７０の中にミラー保持部６０
は入れられ、中心軸の回りで自由に回転できるようにな
っている。その回転は止めネジ８３によって、測定光を
分光器の方向に向ける適当な位置で固定しておく。平面
ミラー５０はミラー保持部６０の中に入れられて六角穴
つきネジ８１で止められている。ネジ８１とネジ貫通孔
６１の間には貫通孔６１よりも十分に大きなワッシャ８
２が入れられていてネジによる締結を確実なものにして
いる。ネジ８１は六角レンチ８４によってゆるめたり締
めたりすることができる。平面ミラー５０の向きを調整
するときには、ネジ８１を六角レンチで僅かにゆるめ、
ネジの頭にさしたままその六角レンチを上下左右に動か
すことによって平面ミラーを動かして目的の方向に測定
光が入射するようにし、そのままの姿勢でネジを締めて
平面ミラーを固定する。最後にミラー保持部６０を外筒
部７０に対して回転して調整し、ネジ８３で外筒部７０
に固定する。
る方法を説明する。外筒部７０の中にミラー保持部６０
は入れられ、中心軸の回りで自由に回転できるようにな
っている。その回転は止めネジ８３によって、測定光を
分光器の方向に向ける適当な位置で固定しておく。平面
ミラー５０はミラー保持部６０の中に入れられて六角穴
つきネジ８１で止められている。ネジ８１とネジ貫通孔
６１の間には貫通孔６１よりも十分に大きなワッシャ８
２が入れられていてネジによる締結を確実なものにして
いる。ネジ８１は六角レンチ８４によってゆるめたり締
めたりすることができる。平面ミラー５０の向きを調整
するときには、ネジ８１を六角レンチで僅かにゆるめ、
ネジの頭にさしたままその六角レンチを上下左右に動か
すことによって平面ミラーを動かして目的の方向に測定
光が入射するようにし、そのままの姿勢でネジを締めて
平面ミラーを固定する。最後にミラー保持部６０を外筒
部７０に対して回転して調整し、ネジ８３で外筒部７０
に固定する。
【００１０】本発明は次のような構成を含むものであ
る。プラズマトーチの中心軸方向から測定光を取り出す
ＩＣＰ発光分光分析装置において、裏面が凸半球形の平
面ミラーと、その平面ミラーを全方向に揺動自在に保持
する凹半球形のミラー保持部と、このミラー保持部をそ
の中心軸を中心として回転自在に保持する外筒部からな
り、前記平面ミラーと前記ミラー保持部を一つのネジで
締結した光サンプリング部を備え、その光サンプリング
部でプラズマトーチの中心軸方向から取り出した測定光
を分光器方向に光軸変更することを特徴とするＩＣＰ発
光分光分析装置。
る。プラズマトーチの中心軸方向から測定光を取り出す
ＩＣＰ発光分光分析装置において、裏面が凸半球形の平
面ミラーと、その平面ミラーを全方向に揺動自在に保持
する凹半球形のミラー保持部と、このミラー保持部をそ
の中心軸を中心として回転自在に保持する外筒部からな
り、前記平面ミラーと前記ミラー保持部を一つのネジで
締結した光サンプリング部を備え、その光サンプリング
部でプラズマトーチの中心軸方向から取り出した測定光
を分光器方向に光軸変更することを特徴とするＩＣＰ発
光分光分析装置。
【００１１】
【発明の効果】裏面が凸半球形の平面ミラーが、揺動が
可能な隙間を持ちながら、凹半球形のミラー受け面を持
つミラー保持部にはまり合うことによって、平面ミラー
はあらゆる方向に向くことが可能である。またその平面
ミラーとミラー保持部の固定は一本のネジのみで行うこ
とができる。したがってミラーの方向を決める調整はネ
ジを僅かにゆるめた状態で平面ミラーの方向を上下左右
の方向に自由に動かし一度に行うことができる。平面ミ
ラーの向きが決められた後、その平面ミラーとミラー保
持部は前記固定ネジを締めることによって固定できるの
で固定も簡単である。
可能な隙間を持ちながら、凹半球形のミラー受け面を持
つミラー保持部にはまり合うことによって、平面ミラー
はあらゆる方向に向くことが可能である。またその平面
ミラーとミラー保持部の固定は一本のネジのみで行うこ
とができる。したがってミラーの方向を決める調整はネ
ジを僅かにゆるめた状態で平面ミラーの方向を上下左右
の方向に自由に動かし一度に行うことができる。平面ミ
ラーの向きが決められた後、その平面ミラーとミラー保
持部は前記固定ネジを締めることによって固定できるの
で固定も簡単である。
【００１２】したがって、ＩＣＰ発光分光分析装置にお
ける光サンプリング部の調整、メンテナンスが非常に容
易であり、コストの低減に効果がある。
ける光サンプリング部の調整、メンテナンスが非常に容
易であり、コストの低減に効果がある。
【図１】本発明の要部である光サンプリング部の一例を
示す。
示す。
【図２】従来のＩＣＰ発光分光分析装置の全体構成図で
ある。
ある。
１…ＩＣＰ発光分光分析装置 ２…プラズマ炎
４…プラズマトーチ １０…分光器 ２０…光サンプリング装置
２２…ミラー ５０…平面ミラー ６０…ミラー保持部
７０…外筒部 ８１…止めネジ
４…プラズマトーチ １０…分光器 ２０…光サンプリング装置
２２…ミラー ５０…平面ミラー ６０…ミラー保持部
７０…外筒部 ８１…止めネジ
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣＰ発光分光分析装置の光サンプリン
グ部に、裏面が凸半球形の平面ミラーと、その平面ミラ
ーを全方向に揺動自在に保持する凹半球形のミラー受け
面を持つミラー保持部からなり、前記平面ミラーと前記
ミラー保持部を一つのネジで締結してなる光軸変更機構
を設けたことを特徴とするＩＣＰ発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29633694A JPH08152407A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29633694A JPH08152407A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08152407A true JPH08152407A (ja) | 1996-06-11 |
Family
ID=17832229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29633694A Pending JPH08152407A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08152407A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103411940A (zh) * | 2013-08-08 | 2013-11-27 | 哈尔滨工业大学 | 基于发射光谱的防热材料催化特性检测方法与测试装置 |
-
1994
- 1994-11-30 JP JP29633694A patent/JPH08152407A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103411940A (zh) * | 2013-08-08 | 2013-11-27 | 哈尔滨工业大学 | 基于发射光谱的防热材料催化特性检测方法与测试装置 |
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