JPH08148451A - Semiconductor wafer automatic exfoliation device - Google Patents

Semiconductor wafer automatic exfoliation device

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Publication number
JPH08148451A
JPH08148451A JP32405694A JP32405694A JPH08148451A JP H08148451 A JPH08148451 A JP H08148451A JP 32405694 A JP32405694 A JP 32405694A JP 32405694 A JP32405694 A JP 32405694A JP H08148451 A JPH08148451 A JP H08148451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
plate
stage
peeling
sticking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32405694A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuyuki Yokoyama
和之 横山
Jiyunichirou Azuma
純一朗 東
Kouji Mizowaki
浩二 溝脇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumco Techxiv Corp
Original Assignee
Sumco Techxiv Corp
Komatsu Electronic Metals Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumco Techxiv Corp, Komatsu Electronic Metals Co Ltd filed Critical Sumco Techxiv Corp
Priority to JP32405694A priority Critical patent/JPH08148451A/en
Priority to TW085100486A priority patent/TW344844B/en
Publication of JPH08148451A publication Critical patent/JPH08148451A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To make it possible to automate the exfoliation operation in which the wafer, for which a polishing process is finished, is exfoliated from a wafer holder plate by a method wherein the wafer position on the wafer holder plate is detected, a vertically movable pawl is inserted into the gap between the wafer and the wafer holder plate, and a wafer exfoliation mechanism is moved forward and backward. CONSTITUTION: The pitch between wafer holder plates and the distance from the center point of the holder plate to the inside end and the outside end of a wafer 10 is measured by a centering laser displacement gauge 7 located above the positioning stage 3b of a plate transferring device 3, and the wafer 10 position on a holder plate 1 is detected. At this point, the affixing plate 1 is rotated, the wafer is positioned in such a manner that it is put in the wafer mating hole of the template 8 of a wafer exfoliation stage 3c. The wafer exfoliation robot 4 located in the vicinity of the wafer exfoliation stage 3c is provided with a thin pawl 4c, which can be inserted into the gap between the wafer 10 and the plate 1, at the tip of a band 4b, which can be moved vertically, on a substrate 4a which can be moved forward and backward.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウェーハの製造
工程のうち、研磨終了後のウェーハを貼付プレートから
剥がし、洗浄用キャリアに装填するまでの一連の作業を
自動で行う装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for automatically performing a series of operations in a semiconductor wafer manufacturing process, from a wafer after polishing is peeled from a sticking plate to a cleaning carrier. .

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウェーハは、ワックス等の接着剤
を用いて貼付プレートに貼り付けられた状態でその表面
を研磨加工して鏡面仕上げされる。そして、研磨が完了
すると、貼付プレートから剥がされ洗浄工程へ送られ
る。従来、この貼付プレートからウェーハを剥がす作業
は、一般的には図5に示すような薄いカミソリ刃13a
を先端に装着した専用の剥離用治具13を用いて人手に
よって行われていた。
2. Description of the Related Art A semiconductor wafer is mirror-finished by polishing the surface of the semiconductor wafer in a state of being stuck to a sticking plate using an adhesive such as wax. Then, when the polishing is completed, it is peeled from the sticking plate and sent to the cleaning step. Conventionally, the work of peeling a wafer from this pasting plate is generally performed with a thin razor blade 13a as shown in FIG.
It was carried out manually by using a dedicated peeling jig 13 attached to the tip.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この人
手による作業は、ウェーハを傷つけないように細心の注
意を払う必要があり、非常に作業性の悪いものであっ
た。そこで、本出願人は、特願平3−353865号
(特開平5−162915号)を以て、研磨後のウェー
ハを貼付した貼付プレートからウェーハを剥離し、キャ
リアに装填するまでの一連の作業を自動的に行うウェー
ハ剥し装置の出願を行った。この装置は、貼付プレート
をウェーハ剥し機構に送る貼付プレート搬送機構と、貼
付プレートを載置して回転するプレート回転台と、貼付
プレートに設けた基準点を検出するセンサと、上下動及
び回転するアーム先端に設けた開閉自在のハンドとを備
えたウェーハ剥し機構と、ウェーハ搬送ベルトと、キャ
リア昇降手段とを備えたウェーハ装填機構と、前記貼付
プレート搬送機構、ウェーハ剥し機構、ウェーハ装填機
構に対する制御装置とから構成されている。そして、こ
のように構成することにより、以下のような作用効果を
もたらすものである。 (a)研磨終了後のウェーハを貼付した貼付プレートを
プレート回転台上で回転させ、貼付プレートに設けた基
準点をセンサが検出するとプレート回転台の回転を停止
させることによって、ウェーハ剥し機構に対する位置決
めをすることができる。 (b)ウェーハ剥し機構によって貼付プレートから剥離
されたウェーハは、ウェーハ搬送ベルト上に載置され、
そのままキャリア内に送られ、ウェーハの剥離からキャ
リアへの装填に至る一連の作業を無人化することができ
る。 本発明もまた、前記問題点に鑑み、研磨工程を経たウェ
ーハのウェーハ貼付ブレートからの剥離作業を自動化
し、作業の省力化を図ることができる半導体ウェーハ自
動剥がし装置を提供することを目的とする。
However, this manual work requires very careful attention so as not to damage the wafer, and is extremely inferior in workability. Therefore, the applicant of the present invention automatically removes a wafer from a sticking plate on which a wafer after polishing is stuck and mounts the carrier in a carrier according to Japanese Patent Application No. 3-353865 (JP-A-5-162915). We applied for a wafer stripping device. This device moves a sticking plate to a wafer stripping mechanism, a sticking plate transport mechanism, a plate rotating table on which the sticking plate is placed and rotates, a sensor which detects a reference point provided on the sticking plate, and vertically moves and rotates. Wafer stripping mechanism provided with an openable / closable hand provided at the arm tip, a wafer loading mechanism having a wafer transport belt, and carrier lifting means, and control for the pasting plate transport mechanism, wafer stripping mechanism, and wafer loading mechanism And a device. Further, with such a configuration, the following operational effects are brought about. (A) Positioning with respect to the wafer stripping mechanism by rotating the attachment plate on which the wafer after polishing is attached on the plate rotating table and stopping the rotation of the plate rotation table when the sensor detects the reference point provided on the attachment plate. You can (B) The wafer peeled from the attaching plate by the wafer peeling mechanism is placed on the wafer transfer belt,
The wafer is sent into the carrier as it is, and a series of operations from the separation of the wafer to the loading of the carrier can be unmanned. In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a semiconductor wafer automatic peeling apparatus that automates the peeling work from the wafer sticking plate of the wafer that has undergone the polishing step and can save the labor of the work. .

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】このため本発明では、半
導体ウェーハ自動剥し装置を、基本的には、半導体ウェ
ーハを貼付した貼付プレートをプレート移載装置に搬入
するプレート搬入機構と、プレート受入れステージ、ウ
ェーハ位置決めステージ、ウェーハ剥離ステージ及びプ
レート排出ステージとに区分され、貼付プレートを載置
して移動するプレート移載装置と、前記位置決めステー
ジに設けられ貼付プレート上のウェーハの貼付位置を検
出するセンサーと、ウェーハと貼付プレートの隙間に挿
入可能に形成された上下動可能な爪を備え、且つ前後に
移動可能に設けられたウェーハ剥離機構と、前記ウェー
ハ剥離ステージで貼付プレートから剥離されたウェーハ
をウェーハ収納用キャリアローダーまで搬送するウェー
ハ搬送機構と、ウェーハ剥離後の貼付プレートを前記プ
レート排出ステージから搬出するプレート排出機構とか
ら構成した。
Therefore, according to the present invention, there is provided a semiconductor wafer automatic peeling device, basically a plate carrying-in mechanism for carrying a sticking plate having a semiconductor wafer stuck thereon to a plate transfer device, and a plate receiving stage. , A wafer positioning stage, a wafer peeling stage, and a plate discharging stage, and a plate transfer device for mounting and moving a sticking plate, and a sensor provided on the positioning stage for detecting a sticking position of a wafer on the sticking plate. And a wafer stripping mechanism provided with a vertically movable claw that can be inserted into the gap between the wafer and the pasting plate, and provided so as to be movable back and forth, and a wafer stripped from the pasting plate at the wafer stripping stage. A wafer transfer mechanism that transfers the wafer to the carrier loader for wafer storage, and A patch plate after Doha peeling was composed of a plate discharge mechanism for unloading from said plate discharge stage.

【0005】[0005]

【作用】上記構成によれば、研磨完了後のウェーハを、
ウェーハ貼付プレートから剥離し、ウェーハ収納用キャ
リアへの装填及び、ウェーハ剥離後の貼付プレートの搬
出に至る一連の作業を無人化することができる。
According to the above structure, the wafer after polishing is
It is possible to unmanned a series of operations from peeling from the wafer sticking plate, loading into the wafer storage carrier, and carrying out the sticking plate after peeling the wafer.

【0006】[0006]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明に係る半導体ウェーハ自動剥し装置
の平面図、図2はウェーハ剥離ロボットの(A)は要部
平面図、(B)は要部側面図、図3は貼付プレートをテ
ンプレートに吸着させた状態を示す斜視図、図4はベル
ヌイチャックの(A)は平面図、(B)は一部断面側面
図、図5は従来技術で使用される剥離用治具を示す
(A)は平面図、(B)は側面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of an automatic semiconductor wafer peeling apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of a main part of a wafer peeling robot, (B) is a side view of the main part, and FIG. 4A is a plan view, FIG. 4B is a partial sectional side view, and FIG. 5A is a peeling jig used in the prior art. A plan view and (B) are side views.

【0007】図1に示すように、本実施例における半導
体ウェーハ自動剥し装置は、複数枚の半導体ウェーハ1
0を貼付した貼付プレート1をプレート移載装置3に搬
送するプレート搬入ローラー2と、プレート移載装置3
と、ウェーハ剥離ロボット4と、剥離されたウェーハ1
0をウェーハ収納用キャリアローダー6まで搬送するウ
ェーハ搬送機構5と、ウェーハ10剥離後の貼付プレー
ト1を装置外へ搬出するプレート搬出ローラー11とか
ら構成されている。
As shown in FIG. 1, the semiconductor wafer automatic peeling apparatus in this embodiment is composed of a plurality of semiconductor wafers 1
A plate carry-in roller 2 that conveys the stuck plate 1 to which 0 is stuck to the plate transfer device 3, and a plate transfer device 3
, The wafer peeling robot 4, and the peeled wafer 1
The wafer transport mechanism 5 transports 0 to the wafer storage carrier loader 6, and the plate transport roller 11 transports the sticking plate 1 after peeling the wafer 10 out of the apparatus.

【0008】貼付プレート1の外周には基準点(図示せ
ず)が設けられており、これに貼付されるウェーハ10
は、貼付プレート1の直径上、且つ前記基準点から36
0°/n(nは貼付されたウェーハの枚数)ずつ間隔を
おいた位置に、各々のウェーハ10の中心が来るように
配列されている。
A reference point (not shown) is provided on the outer periphery of the sticking plate 1, and the wafer 10 to be stuck to this is shown.
Is on the diameter of the attachment plate 1 and 36 from the reference point.
The wafers 10 are arranged so that the centers of the respective wafers 10 are located at positions spaced by 0 ° / n (n is the number of wafers attached).

【0009】プレート移載装置3は、略十字状に形成さ
れており、プレート受入れステージ3a、ウエーハ位置
決めステージ3b、ウェーハ剥離ステージ3c及びプレ
ート排出ステージ3dの4つのステージに区分され、プ
レート搬入ローラー2より送られてきた貼付プレート1
を載置した状態で水平方向に回動し、貼付プレート1を
順に次ステージへ移動できるようにされている。また、
プレート受入れステージ3a、ウェーハ位置決めステー
ジ3b、ウェーハ剥離ステージ3c及びプレート排出ス
テージ3dの各ステージは上下動可能に設けられてお
り、各ステージ固有の作動状態においては貼付プレート
1を上昇させ、次のステージに移動させる際には下降す
るようにされている。
The plate transfer device 3 is formed in a substantially cross shape and is divided into four stages of a plate receiving stage 3a, a wafer positioning stage 3b, a wafer peeling stage 3c and a plate discharging stage 3d, and the plate carry-in roller 2 Sticking plate 1 sent from
It is configured such that the sticking plate 1 can be sequentially moved to the next stage by rotating the sticking plate 1 in a horizontal direction in a state of being mounted. Also,
Each of the plate receiving stage 3a, the wafer positioning stage 3b, the wafer peeling stage 3c, and the plate discharging stage 3d is provided so as to be movable up and down. In the operating state peculiar to each stage, the sticking plate 1 is raised to move to the next stage. It is designed to descend when moved to.

【0010】プレート移載装置3の位置決めステージ3
bの上方には芯出し用のレーザー変位計(センサー)7
が設けられ、このレーザー変位計7により、順次搬入さ
れてくる貼付プレート間のピッチ、貼付プレートの中心
点から貼付されたウェーハ10の内側端及び外側端の距
離を測定し、貼付プレート1上のウエーハ10の貼付位
置を検出する。ここで、貼付プレート1を回転させ、後
述する次のウェーハ剥離ステージ3cに設けられたテン
プレート8のウェーハ嵌合孔8a内に納まるように位置
を決定する。その際、ウェーハ10の貼付位置にズレが
あれば、これを検出して装置の運転を停止し、ブザーに
てオペレーターに知らせることができるようにされてい
る。
Positioning stage 3 of plate transfer device 3
A laser displacement sensor (sensor) 7 for centering is provided above b.
The laser displacement meter 7 is used to measure the pitch between the sticking plates that are sequentially carried in, the distance between the inner end and the outer end of the stuck wafer 10 from the center point of the sticking plates, and measure on the sticking plate 1. The attachment position of the wafer 10 is detected. Here, the sticking plate 1 is rotated, and the position is determined so that the sticking plate 1 can be housed in the wafer fitting hole 8a of the template 8 provided on the next wafer peeling stage 3c described later. At that time, if there is a deviation in the sticking position of the wafer 10, the deviation can be detected, the operation of the apparatus can be stopped, and a buzzer can notify the operator.

【0011】ウェーハ剥離ロボット4は、プレート移載
装置3のウェーハ剥離ステージ3cの近傍に設けられて
おり、図2に示すように、前後に移動可能な基台4a上
に設けられた上下動可能なハンド4bの先端にウェーハ
10と貼付プレート1の隙間に挿入可能に形成された薄
い爪4cを備えており、ウェーハ剥離ステージ3c上に
固定された貼付プレート1を回転させながら貼付された
ウェーハ10を順次剥離することができるようにされて
いる。
The wafer stripping robot 4 is provided in the vicinity of the wafer stripping stage 3c of the plate transfer device 3, and as shown in FIG. 2, it is vertically movable on a base 4a which can be moved back and forth. The thin hand 4b is provided with a thin claw 4c that can be inserted into the gap between the wafer 10 and the sticking plate 1, and the wafer 10 stuck while rotating the sticking plate 1 fixed on the wafer peeling stage 3c. Can be sequentially peeled off.

【0012】また、ウェーハ剥離ステージ3cの上方に
は、図3に示すようなテンプレート8が設けられてお
り、直前の位置決めステージ3bで位置決めを行った貼
付プレート1を上昇させてテンプレート8に吸着させ、
貼付されたウェーハ10をテンプレート8の周縁から切
り欠いて設けられたウェーハ嵌合孔8a内に収納できる
ようにされている。これにより、剥離されたウェーハ1
0はウェーハ嵌合孔8aの内周縁部にて係止され、剥離
後も貼付位置に留まらせることができ、剥離後のウェー
ハ10が貼付プレート1上を滑り、位置が乱れるのを防
止できるようにされている。
Further, a template 8 as shown in FIG. 3 is provided above the wafer peeling stage 3c, and the pasting plate 1 positioned by the positioning stage 3b immediately before is lifted and sucked by the template 8. ,
The attached wafer 10 can be housed in a wafer fitting hole 8a provided by cutting out from the peripheral edge of the template 8. As a result, the separated wafer 1
0 is locked at the inner peripheral edge of the wafer fitting hole 8a and can be retained at the bonding position even after peeling, so that the wafer 10 after peeling can be prevented from sliding on the bonding plate 1 and disturbing the position. Has been

【0013】ウェーハ剥離ステージ3cで貼付プレート
1から剥離されたウェーハ10は、ウェーハ搬送機構5
により、ウェーハ収納用キャリアローダー6まで搬送さ
れる。ウェーハ搬送機構5はベルヌイチャック9を備え
ており、これにより、剥離されたウェーハ10を上方か
ら吸着して搬送するようにされている。ベルヌイチャッ
ク9は、図4に示すような構造にされており、ノズル9
aから空気を供給して噴出し、ノズル9b及び9cから
排気することによりフランジ9dと内部の真空室9eに
係る作用によりウェーハ10を無接触にて吸引懸垂し、
ウェーハ10を傷つけたり汚染することなく保持するこ
とができるようにされている。
The wafer 10 peeled from the attachment plate 1 at the wafer peeling stage 3c is transferred to the wafer transfer mechanism 5
Thus, the wafer is transferred to the wafer-loading carrier loader 6. The wafer transfer mechanism 5 is provided with a Bernoulli chuck 9 so that the peeled wafer 10 is sucked and transferred from above. The Bernoulli chuck 9 has a structure as shown in FIG.
By supplying air from a and jetting it out and exhausting it from the nozzles 9b and 9c, the wafer 10 is sucked and suspended without contact by the action related to the flange 9d and the internal vacuum chamber 9e,
The wafer 10 is designed to be held without being damaged or contaminated.

【0014】次に、本装置の動作を説明する。 (S1).プレート搬入ローラー2により、貼付プレー
ト1がプレート受入ステージ3aに搬入される。搬入完
了後、搬送ローラー2は下降する。他のステーションが
正常に作動していれば、プレート移載装置3が回動し、
ウェーハ位置決めステージ3bにシフトする。 (S2).貼付プレート1がウェーハ位置決めステージ
3bにシフトしてプレート移載装置3が停止すると、ウ
ェーハ位置決めステージ3bが上昇し、貼付プレート1
を水平に回転させながらレーザー変位計7により、ウェ
ーハ10の貼付位置を検出すると共に、次のウェーハ剥
離ステージ3cに設けられたテンプレート8のウェーハ
嵌合孔8a内に納まるように位置を決定し停止する。そ
の際、貼付プレート1上に貼付されたウェーハ10の貼
付位置にズレ等の異常があれば、これを検出して装置の
運転を停止すると共に、ブザーにて警報する。貼付位置
が正常であれば、ウェーハ位置決めステージ3bは下降
する。そして、他のステーションが正常に作動していれ
ば、プレート移載装置3が回動し、ウェーハ剥離ステー
ジ3cにシフトする。 (S3).貼付プレート1がウェーハ剥離ステージ3c
にシフトしてプレート移載装置3が停止すると、ウェー
ハ剥離ステージ3cが上昇し、貼付プレート1をテンプ
レート8に吸着させる。次いで、ウェーハ剥離ロボット
4が前進し、ハンド4bの先端の爪4cがウェーハ10
と貼付プレート1の隙間に挿入されてハンド4bの上下
の駆動により、貼付されたウェーハ10を剥離する。剥
離されたウェーハ10はウェーハ剥離ステージ3cの回
転によりウェーハ10の回収位置まで移動し、ベルヌイ
チャック9に吸着されウェーハ搬送機構5により、ウェ
ーハ収納用キャリアローダー6まで搬送される。同時
に、ウェーハ剥し機構4は剥離位置に来た次のウェーハ
10を上述の如く剥離し、貼付プレート1に貼付された
ウェーハ10がなくなるまで繰り返す。貼付プレート1
に貼付された全てのウェーハ10の剥離が終了すると、
ウェーハ剥離ステージ3cが下降する。そして、他のス
テーションが正常に作動していれば、プレート移載装置
3が回動し、ウェーハ搬出ステージ3dにシフトする。 (S4).貼付プレート1がウェーハ搬出ステージ3d
にシフトしてプレート移載装置3が停止すると、プレー
ト搬出ローラー11が上昇し、貼付プレート1を搬出す
る。 (S5).上記(S1)〜(S4)を1ロット分の貼付
プレート1がすべて処理されるまで繰り返す。尚、図1
中12は制御装置であり、本装置における上記一連の作
動を自動制御する。
Next, the operation of this apparatus will be described. (S1). The sticking plate 1 is carried into the plate receiving stage 3 a by the plate carrying-in roller 2. After the loading is completed, the transport roller 2 moves down. If the other stations are operating normally, the plate transfer device 3 rotates,
Shift to the wafer positioning stage 3b. (S2). When the sticking plate 1 shifts to the wafer positioning stage 3b and the plate transfer device 3 stops, the wafer positioning stage 3b rises and the sticking plate 1
While horizontally rotating, the laser displacement meter 7 detects the bonding position of the wafer 10, and also determines the position so that the wafer 10 can be accommodated in the wafer fitting hole 8a of the template 8 provided on the next wafer peeling stage 3c and then stops. To do. At that time, if there is an abnormality such as a deviation in the sticking position of the wafer 10 stuck on the sticking plate 1, this is detected, the operation of the apparatus is stopped, and a buzzer alarms. If the attachment position is normal, the wafer positioning stage 3b moves down. If the other stations are operating normally, the plate transfer device 3 rotates and shifts to the wafer peeling stage 3c. (S3). The sticking plate 1 is the wafer peeling stage 3c
When the plate transfer device 3 stops after shifting to, the wafer peeling stage 3c rises and the sticking plate 1 is sucked onto the template 8. Then, the wafer peeling robot 4 moves forward, and the claw 4c at the tip of the hand 4b moves to the wafer 10
Then, the wafer 10 is peeled off by being inserted into the gap between the sticking plate 1 and driving the hand 4b up and down. The peeled wafer 10 is moved to the recovery position of the wafer 10 by the rotation of the wafer peeling stage 3c, is adsorbed by the Bernoulli chuck 9, and is conveyed to the wafer storage carrier loader 6 by the wafer conveyance mechanism 5. At the same time, the wafer peeling mechanism 4 peels the next wafer 10 that has come to the peeling position as described above, and repeats until there is no wafer 10 stuck to the sticking plate 1. Sticking plate 1
When the peeling of all the wafers 10 attached to
The wafer peeling stage 3c moves down. If the other stations are operating normally, the plate transfer device 3 rotates and shifts to the wafer unloading stage 3d. (S4). The sticking plate 1 is the wafer unloading stage 3d
When the plate transfer device 3 is stopped by shifting to, the plate unloading roller 11 rises and the sticking plate 1 is unloaded. (S5). The above (S1) to (S4) are repeated until all the lots of sticking plate 1 are processed. FIG.
The middle 12 is a control device, which automatically controls the series of operations in the present device.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明は以上のように構成したことによ
り、下記の優れた効果が得られる。 (1).研磨完了後のウェーハを、ウェーハ貼付プレー
トから剥離し、ウェーハ収納用キャリアへの装填に至る
一連の作業を無人化することができる。 (2).プレート移載装置を、略十字状に形成し、プレ
ート受入れステージ、ウェーハ位置決めステージ、ウェ
ーハ剥離ステージ及びプレート排出ステージの4つに区
分したので、各ステージでの機能を独立且つ同時に進行
することができ、一連の作業を連続且つ迅速に行うこと
ができる。 (3).ウェーハ剥離ステージにテンプレートを設け、
貼付されたウェーハを、テンプレートの周縁から切り欠
いて設けられたウェーハ嵌合孔内に収納するようにした
ので、剥離後のウェーハの動きが規制されるため、剥離
されたウェーハが貼付プレート上を滑り、位置が乱れる
のを防止できる。 (4).ウェーハ搬送機構にベルヌイチャックを備えた
ので、ウェーハを傷つけたり汚染することなく搬送する
ことができる。
The present invention having the above-mentioned constitution can obtain the following excellent effects. (1). It is possible to unmanned a series of operations from peeling the wafer after polishing is completed from the wafer sticking plate and loading it into the wafer storage carrier. (2). Since the plate transfer device is formed in a substantially cross shape and divided into four parts, a plate receiving stage, a wafer positioning stage, a wafer peeling stage and a plate discharging stage, the functions of each stage can be independently and simultaneously advanced. Therefore, a series of operations can be performed continuously and quickly. (3). Provide a template on the wafer peeling stage,
Since the stuck wafer is stored in the wafer fitting hole provided by cutting out from the peripheral edge of the template, the movement of the wafer after peeling is regulated, so that the peeled wafer is placed on the sticking plate. It can prevent slipping and disturbing the position. (4). Since the wafer transfer mechanism is equipped with the Bernoulli chuck, the wafer can be transferred without being damaged or contaminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る半導体ウェーハ自動剥し装置の平
面図である。
FIG. 1 is a plan view of a semiconductor wafer automatic peeling apparatus according to the present invention.

【図2】ウェーハ剥離ロボットの(A)は要部平面図、
(B)は要部側面図である。
FIG. 2A is a plan view of a main part of the wafer peeling robot,
(B) is a side view of a main part.

【図3】貼付プレートをテンプレートに吸着させた状態
を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a state where a sticking plate is sucked onto a template.

【図4】ベルヌイチャックの(A)は平面図、(B)は
一部断面側面図である。
FIG. 4A is a plan view and FIG. 4B is a partial cross-sectional side view of a Bernoulli chuck.

【図5】従来技術で使用される剥離用治具を示す(A)
は平面図、(B)は側面図である。
FIG. 5 shows a peeling jig used in the prior art (A).
Is a plan view and (B) is a side view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 貼付プレート 2 プレート搬入ローラー 3 プレート移載装置 3a プレート受入ステージ 3b ウェーハ位置決めステージ 3c ウェーハ剥離ステージ 3d プレート搬出ステージ 4 ウェーハ剥離ロボット 5 ウェーハ搬送機構 6 ウェーハ収納用キャリアローダー 7 レーザー変位計(センサー) 8 テンプレート 9 ベルヌイチャック 10 ウェーハ 11 プレート搬送ローラー 12 制御装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Adhesion plate 2 Plate loading roller 3 Plate transfer device 3a Plate receiving stage 3b Wafer positioning stage 3c Wafer stripping stage 3d Plate unloading stage 4 Wafer stripping robot 5 Wafer transfer mechanism 6 Wafer storage carrier loader 7 Laser displacement meter (sensor) 8 Template 9 Bernoulli chuck 10 Wafer 11 Plate transport roller 12 Controller

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体ウェーハを貼付した貼付プレートを
プレート移載装置に搬入するプレート搬入機構と、プレ
ート受入れステージ、ウェーハ位置決めステージ、ウェ
ーハ剥離ステージ及びプレート排出ステージとに区分さ
れ、貼付プレートを載置して移動するプレート移載装置
と、前記ウェーハ位置決めステージに設けられ貼付プレ
ート上のウェーハの貼付位置を検出するセンサーと、ウ
ェーハと貼付プレートの隙間に挿入可能に形成された上
下動可能な爪を備え、且つ前後に移動可能に設けられた
ウェーハ剥離機構と、前記ウェーハ剥離ステージで貼付
プレートから剥離されたウェーハをウェーハ収納用キャ
リアローダーまで搬送するウェーハ搬送機構と、ウェー
ハ剥離後の貼付プレートを前記プレート搬出ステージか
ら搬出するプレート搬出機構とからなることを特徴とす
る半導体ウェーハ自動剥し装置。
1. A plate loading mechanism for loading a bonding plate on which a semiconductor wafer is bonded to a plate transfer device, and a plate receiving stage, a wafer positioning stage, a wafer peeling stage, and a plate discharging stage for mounting the bonding plate. A plate transfer device that moves by moving the sensor, a sensor that is provided on the wafer positioning stage to detect the bonding position of the wafer on the bonding plate, and a vertically movable claw that can be inserted into the gap between the wafer and the bonding plate. Provided, and a wafer peeling mechanism provided to be movable back and forth, a wafer transfer mechanism for transferring the wafer peeled from the sticking plate at the wafer peeling stage to a wafer storage carrier loader, and the sticking plate after wafer peeling Play carried out from the plate carry-out stage Semiconductor wafer automatic peeling apparatus characterized by comprising a discharge mechanism.
【請求項2】プレート受入れステージ、ウェーハ位置決
めステージ、ウェーハ剥離ステージ及びプレート排出ス
テージの各ステージが上下動可能に設けられていること
を特徴とする請求項1記載の半導体ウェーハ自動剥し装
置。
2. A semiconductor wafer automatic stripping apparatus according to claim 1, wherein each of a plate receiving stage, a wafer positioning stage, a wafer stripping stage and a plate discharging stage is provided so as to be vertically movable.
【請求項3】位置決めステージに設けられたセンサーが
レーザー変位計であることを特徴とする請求項1記載の
半導体ウェーハ自動剥し装置。
3. The automatic semiconductor wafer peeling apparatus according to claim 1, wherein the sensor provided on the positioning stage is a laser displacement meter.
【請求項4】ウェーハ剥離ステージにテンプレートが設
けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体ウ
ェーハ自動剥し装置。
4. The automatic semiconductor wafer peeling apparatus according to claim 1, wherein the wafer peeling stage is provided with a template.
【請求項5】ウェーハ搬送機構がウェーハを吸着するベ
ルヌイチャックを備えていることを特徴とする請求項1
記載の半導体ウェーハ自動剥し装置。
5. The wafer transfer mechanism comprises a Bernoulli chuck for sucking a wafer.
The semiconductor wafer automatic peeling device described.
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