JPH08136657A - シンチレーションカメラ - Google Patents
シンチレーションカメラInfo
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- JPH08136657A JPH08136657A JP29808594A JP29808594A JPH08136657A JP H08136657 A JPH08136657 A JP H08136657A JP 29808594 A JP29808594 A JP 29808594A JP 29808594 A JP29808594 A JP 29808594A JP H08136657 A JPH08136657 A JP H08136657A
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- detector
- data
- center
- rays
- correcting
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Abstract
(57)【要約】
【目的】点線源を検出器視野中心の垂直線上に置いて検
出器の均一性歪を補正するためのデータの収集と均一性
歪補正データの作成を行うシンチレーションカメラに於
いて、点線源と検出器との距離にかかわらず、適正な均
一性歪補正データの作成を可能とする。 【構成】均一性歪補正データの作成に於いて、検出器視
野の各位置の点線源に対する立体角の大きさの差によっ
て生じる入射γ線の不均一性を補正する手段と検出器が
持つ均一性歪に対する補正データを作成する手段とを設
ける。 【効果】均一性歪補正データの収集のために設置した点
線源と検出器との距離にかかわらず、適正な均一性歪補
正データを作成できる。
出器の均一性歪を補正するためのデータの収集と均一性
歪補正データの作成を行うシンチレーションカメラに於
いて、点線源と検出器との距離にかかわらず、適正な均
一性歪補正データの作成を可能とする。 【構成】均一性歪補正データの作成に於いて、検出器視
野の各位置の点線源に対する立体角の大きさの差によっ
て生じる入射γ線の不均一性を補正する手段と検出器が
持つ均一性歪に対する補正データを作成する手段とを設
ける。 【効果】均一性歪補正データの収集のために設置した点
線源と検出器との距離にかかわらず、適正な均一性歪補
正データを作成できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体に投与された放
射性医薬品から放射される放射線を検出して被検体体内
の放射性医薬品の分布像を得るシンチレーションカメラ
に係り、特に検出器の均一性歪を除去する補正機能を備
えたものに関する。
射性医薬品から放射される放射線を検出して被検体体内
の放射性医薬品の分布像を得るシンチレーションカメラ
に係り、特に検出器の均一性歪を除去する補正機能を備
えたものに関する。
【０００２】
【従来の技術】被検体に放射性医薬品（以下、ＲＩと記
す。）が投与されると、通常、そのＲＩは、病巣，骨，
臓器に取り込まれる性質を有し、その取り込みの割合に
より病巣の場況などの臨床診断に利用できる。したがっ
て、このようなＲＩの分布をイメージ化できるシンチレ
ーションカメラは、その有用性から多くの診断機関で使
用されている。
す。）が投与されると、通常、そのＲＩは、病巣，骨，
臓器に取り込まれる性質を有し、その取り込みの割合に
より病巣の場況などの臨床診断に利用できる。したがっ
て、このようなＲＩの分布をイメージ化できるシンチレ
ーションカメラは、その有用性から多くの診断機関で使
用されている。
【０００３】従来のこの種のシンチレーションカメラ、
特に、画像をデジタルデータとして保存可能なシンチレ
ーションカメラの構成を図５に示す。図５中、１は被検
体（図示せず。）に投与したＲＩから放射されるγ線を
検出する検出器、２は検体器１に取り付けられ、被検体
に投与したＲＩから放射されるγ線の内、垂直に入射し
てきたγ線のみを通過させるコリメータである。３は検
出器１で検出されたγ線の入射位置を計算する位置計算
回路である。４は検出器１で検出されたγ線の量の歪
（均一性歪）を補正する補正回路である。５は位置計算
回路３で計算された入射位置に対応した位置に補正回路
４で補正されたγ線の数を蓄積記録するメモリ、６はメ
モリ５に記憶したＲＩ分布像をＣＲＴ７に表示させる表
示制御回路、８はこれら一連の処理を制御する中央演算
処理装置（以下、ＣＰＵと記す。）、９はＣＰＵ８を動
作させるプログラムおよび前記補正回路４の補正データ
等を格納する磁気ディスクである。
特に、画像をデジタルデータとして保存可能なシンチレ
ーションカメラの構成を図５に示す。図５中、１は被検
体（図示せず。）に投与したＲＩから放射されるγ線を
検出する検出器、２は検体器１に取り付けられ、被検体
に投与したＲＩから放射されるγ線の内、垂直に入射し
てきたγ線のみを通過させるコリメータである。３は検
出器１で検出されたγ線の入射位置を計算する位置計算
回路である。４は検出器１で検出されたγ線の量の歪
（均一性歪）を補正する補正回路である。５は位置計算
回路３で計算された入射位置に対応した位置に補正回路
４で補正されたγ線の数を蓄積記録するメモリ、６はメ
モリ５に記憶したＲＩ分布像をＣＲＴ７に表示させる表
示制御回路、８はこれら一連の処理を制御する中央演算
処理装置（以下、ＣＰＵと記す。）、９はＣＰＵ８を動
作させるプログラムおよび前記補正回路４の補正データ
等を格納する磁気ディスクである。
【０００４】以下に、前記補正回路４の働きについて図
６〜図８を用いて説明する。図６は、一様な濃度のＲＩ
を挿入した容器（ＲＩ注入容器）１０をコリメータ２の
前面に置いた場合を示す。このＲＩ注入容器１０からの
γ線をコリメータ２を介して検出器１で検出して得たＲ
Ｉの分布像は本来一様になるはずであるが、実際には一
様にならない。これは、検出器１が持つ均一性歪、すな
わち検出器１内のシンチレータや光電子増倍管の特性の
ばらつきのためである。そこで、あらかじめ検出器１の
均一性歪を検出し、この均一性歪を除去する各位置毎の
補正量（均一性歪補正データ）をテーブルＴ１として作
成し、磁気デイスク９に格納しておく。そして、実際の
被検体のデータ収集時には、検出器１で検出されたγ線
に対し、位置計算回路３で求めたγ線入射位置に対応し
た位置についての補正量（均一性歪補正データ）を前記
補正量テーブルＴ１から読みだして補正回路４により補
正を行い、歪のない分布像を得るようにしている。
６〜図８を用いて説明する。図６は、一様な濃度のＲＩ
を挿入した容器（ＲＩ注入容器）１０をコリメータ２の
前面に置いた場合を示す。このＲＩ注入容器１０からの
γ線をコリメータ２を介して検出器１で検出して得たＲ
Ｉの分布像は本来一様になるはずであるが、実際には一
様にならない。これは、検出器１が持つ均一性歪、すな
わち検出器１内のシンチレータや光電子増倍管の特性の
ばらつきのためである。そこで、あらかじめ検出器１の
均一性歪を検出し、この均一性歪を除去する各位置毎の
補正量（均一性歪補正データ）をテーブルＴ１として作
成し、磁気デイスク９に格納しておく。そして、実際の
被検体のデータ収集時には、検出器１で検出されたγ線
に対し、位置計算回路３で求めたγ線入射位置に対応し
た位置についての補正量（均一性歪補正データ）を前記
補正量テーブルＴ１から読みだして補正回路４により補
正を行い、歪のない分布像を得るようにしている。
【０００５】ここで、検出器１の均一性歪を検出するた
めには、検出器１にγ線を一様に照射する必要がある。
その手段として、前記図６のごとく一様な濃度のＲＩを
注入した容器（ＲＩ注入容器）１０を用い、このＲＩ注
入容器からのγ線をコリメータ２を介して検出器１に入
射させる方法があるが、ＲＩが多量に必要で、また、充
分に一様な濃度に撹拌するために長時間を要することか
ら作業者のγ線の被曝が大きいという問題がある。そこ
で、図７に示すごとく、コリメータ２を検出器１から取
り外し、ＲＩを入れた小容器（点線源容器）１１を検出
器１の視野中心の垂直線上に設置する方法が一般に採用
されている。
めには、検出器１にγ線を一様に照射する必要がある。
その手段として、前記図６のごとく一様な濃度のＲＩを
注入した容器（ＲＩ注入容器）１０を用い、このＲＩ注
入容器からのγ線をコリメータ２を介して検出器１に入
射させる方法があるが、ＲＩが多量に必要で、また、充
分に一様な濃度に撹拌するために長時間を要することか
ら作業者のγ線の被曝が大きいという問題がある。そこ
で、図７に示すごとく、コリメータ２を検出器１から取
り外し、ＲＩを入れた小容器（点線源容器）１１を検出
器１の視野中心の垂直線上に設置する方法が一般に採用
されている。
【０００６】この図７の方法において、通常、点線源容
器１１と検出器１との距離Ｄは視野直径の５倍以上にと
られる。その理由は、この距離をとることで、点線源容
器１１から放射されて検出器１に入射するγ線がほぼ一
様になるからである。このγ線を検出器１で検出して未
補正で収集することで、図８に示すごとく検出器１の均
一性歪を示す分布像が得られる。ＣＰＵ８は、この分布
像から、平均値Naveに対する視野内各位置のデータの偏
差を求め、この偏差を除去するような各位置毎の補正量
（均一性歪補正データ）をテーブルＴ１として作成し、
磁気ディスク９に格納する（図９中、ステップ９０１〜
９０４参照）。
器１１と検出器１との距離Ｄは視野直径の５倍以上にと
られる。その理由は、この距離をとることで、点線源容
器１１から放射されて検出器１に入射するγ線がほぼ一
様になるからである。このγ線を検出器１で検出して未
補正で収集することで、図８に示すごとく検出器１の均
一性歪を示す分布像が得られる。ＣＰＵ８は、この分布
像から、平均値Naveに対する視野内各位置のデータの偏
差を求め、この偏差を除去するような各位置毎の補正量
（均一性歪補正データ）をテーブルＴ１として作成し、
磁気ディスク９に格納する（図９中、ステップ９０１〜
９０４参照）。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来技術
では、検出器１にγ線を一様に照射する手段として、図
７に示すごとく、ＲＩを入れた点線源容器１１を、検出
器１の視野中心の垂直線上に設置する方法を一般に採用
している。この方法において、検出器１の視野内各位置
へのγ線入射量は、点線源容器１１からの距離とγ線入
射角度により差を生じ、視野中心で多く、視野周辺で少
なくなる。このγ線入射量の差は点線源容器１１と検出
器１との距離が大きいほど小さくなるので、従来は、点
線源容器１１と検出器１との距離を視野直径の５倍以上
にすることで、γ線入射量の差を無視し得る程度に小さ
くしていた。
では、検出器１にγ線を一様に照射する手段として、図
７に示すごとく、ＲＩを入れた点線源容器１１を、検出
器１の視野中心の垂直線上に設置する方法を一般に採用
している。この方法において、検出器１の視野内各位置
へのγ線入射量は、点線源容器１１からの距離とγ線入
射角度により差を生じ、視野中心で多く、視野周辺で少
なくなる。このγ線入射量の差は点線源容器１１と検出
器１との距離が大きいほど小さくなるので、従来は、点
線源容器１１と検出器１との距離を視野直径の５倍以上
にすることで、γ線入射量の差を無視し得る程度に小さ
くしていた。
【０００８】しかし、最近のシンチレーションカメラの
視野は、検査効率の向上のために大型化する方向にあ
り、５０cm以上が一般的になりつつある。このため、前
記点線源容器１１と検出器１との距離に２.５ｍ 以上が
必要となり、シンチレーションカメラを設置する部屋が
小さい場合には、この距離を確保できないこともある。
このような場合、検出器視野中心と視野周辺のγ線入射
量の差が無視できない大きさとなり、正確な均一性歪補
正データを作成できなくなる問題があった。
視野は、検査効率の向上のために大型化する方向にあ
り、５０cm以上が一般的になりつつある。このため、前
記点線源容器１１と検出器１との距離に２.５ｍ 以上が
必要となり、シンチレーションカメラを設置する部屋が
小さい場合には、この距離を確保できないこともある。
このような場合、検出器視野中心と視野周辺のγ線入射
量の差が無視できない大きさとなり、正確な均一性歪補
正データを作成できなくなる問題があった。
【０００９】また、最近は、イメージの均一性歪が従来
よりさらに小さいシンチレーションカメラが要求されて
きており、点線源容器１１と検出器１との距離を視野直
径の５倍以上にした場合のγ線入射量の差も無視できな
くなってきている。この問題を回避する手段として、前
記図６のごとく一様な濃度のＲＩを注入した容器（ＲＩ
注入容器）１０をコリメータ２の前面に設置する方法が
あるが、前述のごとく、ＲＩが多量に必要で、また、充
分に一様な濃度に撹拌するために長時間を要することか
ら作業者のγ線の被曝が大きいという欠点がある。本発
明の目的は点線源容器１１と検出器１との距離にかかわ
らず、適正な均一性歪補正データを作成できるシンチレ
ーションカメラを提供することにある。
よりさらに小さいシンチレーションカメラが要求されて
きており、点線源容器１１と検出器１との距離を視野直
径の５倍以上にした場合のγ線入射量の差も無視できな
くなってきている。この問題を回避する手段として、前
記図６のごとく一様な濃度のＲＩを注入した容器（ＲＩ
注入容器）１０をコリメータ２の前面に設置する方法が
あるが、前述のごとく、ＲＩが多量に必要で、また、充
分に一様な濃度に撹拌するために長時間を要することか
ら作業者のγ線の被曝が大きいという欠点がある。本発
明の目的は点線源容器１１と検出器１との距離にかかわ
らず、適正な均一性歪補正データを作成できるシンチレ
ーションカメラを提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的は、点線源容器
１１と検出器１との距離から検出器１の視野内各位置の
γ線入射量の差を求め、収集した未補正データに対し、
γ線が一様に入射した様に補正する補正手段を設けるこ
とにより達成される。図２，図３により、この補正手段
を説明する。図２において、検出器１の視野中心点Ｃに
おける単位面積ｄＳの点線源容器１１に対する立体角ｄ
ΩC は、点線源容器１１と視野中心点Ｃとの距離Ｄとす
ると式（１）で表される。
１１と検出器１との距離から検出器１の視野内各位置の
γ線入射量の差を求め、収集した未補正データに対し、
γ線が一様に入射した様に補正する補正手段を設けるこ
とにより達成される。図２，図３により、この補正手段
を説明する。図２において、検出器１の視野中心点Ｃに
おける単位面積ｄＳの点線源容器１１に対する立体角ｄ
ΩC は、点線源容器１１と視野中心点Ｃとの距離Ｄとす
ると式（１）で表される。
【００１１】
【数１】 図３は図２の点Ａ部分を拡大した図である。視野中心点
Ｃから距離Ｒだけ離れた視野上の点Ａにおいて、γ線は
角度θで入射する。従って、点Ａにおける単位面積ｄＳ
は点線源容器１１に対して傾いており、実効面積ｄΩA
は ｄＳA＝ｄＳ×cosθ＝ｄＳ×Ｄ／(Ｄ2＋Ｒ2)1/2 で表される。また、点線源容器１１と点Ａとの距離は
（Ｄ2＋Ｒ2)1/2である。従って、点Ａにおける単位面積
ｄＳの点線源容器１１に対する立体角ｄΩA は式（２）
で表される。
Ｃから距離Ｒだけ離れた視野上の点Ａにおいて、γ線は
角度θで入射する。従って、点Ａにおける単位面積ｄＳ
は点線源容器１１に対して傾いており、実効面積ｄΩA
は ｄＳA＝ｄＳ×cosθ＝ｄＳ×Ｄ／(Ｄ2＋Ｒ2)1/2 で表される。また、点線源容器１１と点Ａとの距離は
（Ｄ2＋Ｒ2)1/2である。従って、点Ａにおける単位面積
ｄＳの点線源容器１１に対する立体角ｄΩA は式（２）
で表される。
【００１２】
【数２】 検出器１の視野内各位置に入射するγ線の量は、点線源
容器１１に対する立体角に比例する。従って、視野中心
点Ｃに対する視野内各位置の入射γ線量の比Ｋは、 Ｋ＝ｄΩA／ｄΩC＝Ｄ3／(Ｄ2＋Ｒ2)3/2 で表される。ここで、視野中心点Ｃを原点とする視野内
各位置座標を（ｘ，ｙ）とすると、視野中心点Ｃからの
距離Ｒに対して、Ｒ2＝ｘ2＋ｙ2であるから、
容器１１に対する立体角に比例する。従って、視野中心
点Ｃに対する視野内各位置の入射γ線量の比Ｋは、 Ｋ＝ｄΩA／ｄΩC＝Ｄ3／(Ｄ2＋Ｒ2)3/2 で表される。ここで、視野中心点Ｃを原点とする視野内
各位置座標を（ｘ，ｙ）とすると、視野中心点Ｃからの
距離Ｒに対して、Ｒ2＝ｘ2＋ｙ2であるから、
【００１３】
【数３】 となる。未補正データをこの立体角比Ｋ（ｘ，ｙ）で除
算すれば、視野内各位置の点線源容器１１に対する立体
角の差の影響が除去され、γ線が一様に入射した場合に
相当するデータに補正される。
算すれば、視野内各位置の点線源容器１１に対する立体
角の差の影響が除去され、γ線が一様に入射した場合に
相当するデータに補正される。
【００１４】
【作用】上記の補正手段により、収集した未補正データ
は視野中心に入射するγ線量と同量のγ線が視野全体に
一様に入射した場合に相当するデータに補正される。こ
れにより、点線源容器１１と検出器１との距離にかかわ
らず、γ線が完全に一様に入射した場合に等しい均一性
歪補正データを作成でき、コリメータ２を検出器１に取
り付けて行う実際の被検体のデータ収集時において、適
正な均一性歪補正により歪のない分布像を得られる。
は視野中心に入射するγ線量と同量のγ線が視野全体に
一様に入射した場合に相当するデータに補正される。こ
れにより、点線源容器１１と検出器１との距離にかかわ
らず、γ線が完全に一様に入射した場合に等しい均一性
歪補正データを作成でき、コリメータ２を検出器１に取
り付けて行う実際の被検体のデータ収集時において、適
正な均一性歪補正により歪のない分布像を得られる。
【００１５】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明によるシンチレーションカメラの
一実施例を示すブロック図である。図１中、１は被検体
（図示せず。）に投与したＲＩから放射されるγ線を検
出する検出器、２は検出器１に取り付けられ、被検体に
投与したＲＩから放射されるγ線の内、垂直に入射して
きたγ線のみを通過させるコリメータである。３は検出
器１で検出されたγ線の入射位置を計算する位置計算回
路である。４は検出器１で検出されたγ線の量の歪（均
一性歪）を補正する補正回路である。５は位置計算回路
３で計算された入射位置に対応した位置に補正回路４で
補正されたγ線の数を蓄積記録するメモリ、６はメモリ
５に記憶したＲＩ分布像をＣＲＴ７に表示させる表示制
御回路、８はこれら一連の処理を制御するＣＰＵ、９は
ＣＰＵ８を動作させるプログラムおよび前記補正回路４
の補正データ等を格納する磁気ディスクである。
する。図１は、本発明によるシンチレーションカメラの
一実施例を示すブロック図である。図１中、１は被検体
（図示せず。）に投与したＲＩから放射されるγ線を検
出する検出器、２は検出器１に取り付けられ、被検体に
投与したＲＩから放射されるγ線の内、垂直に入射して
きたγ線のみを通過させるコリメータである。３は検出
器１で検出されたγ線の入射位置を計算する位置計算回
路である。４は検出器１で検出されたγ線の量の歪（均
一性歪）を補正する補正回路である。５は位置計算回路
３で計算された入射位置に対応した位置に補正回路４で
補正されたγ線の数を蓄積記録するメモリ、６はメモリ
５に記憶したＲＩ分布像をＣＲＴ７に表示させる表示制
御回路、８はこれら一連の処理を制御するＣＰＵ、９は
ＣＰＵ８を動作させるプログラムおよび前記補正回路４
の補正データ等を格納する磁気ディスクである。
【００１６】以下に、前記補正回路４の働きについて図
２，図４を用いて説明する。図２は、検出器１の均一性
歪を検出するために、ＲＩを入れた点線源容器１１を、
検出器１の視野中心の垂直線上に設置した状態を示す。
このとき、検出器１には、コリメータ２を取り付けな
い。この点線源容器１１は、周囲全方向にγ線を放射し
ており、このγ線を、距離Ｄだけ離れた検出器１で検出
すると、検出器視野の各位置に入射するγ線量は一様で
なく、点線源容器１１に対する立体角に比例する。ま
た、この点線源容器１１からのγ線を検出器１で検出し
て得たＲＩの分布像は、上記立体角の影響を除けば本来
一様になるはずであるが、実際には一様にならない。こ
れは、検出器１が持つ均一性歪、すなわち検出器１内の
シンチレータや光電子増倍管の特性のばらつきのためで
ある。
２，図４を用いて説明する。図２は、検出器１の均一性
歪を検出するために、ＲＩを入れた点線源容器１１を、
検出器１の視野中心の垂直線上に設置した状態を示す。
このとき、検出器１には、コリメータ２を取り付けな
い。この点線源容器１１は、周囲全方向にγ線を放射し
ており、このγ線を、距離Ｄだけ離れた検出器１で検出
すると、検出器視野の各位置に入射するγ線量は一様で
なく、点線源容器１１に対する立体角に比例する。ま
た、この点線源容器１１からのγ線を検出器１で検出し
て得たＲＩの分布像は、上記立体角の影響を除けば本来
一様になるはずであるが、実際には一様にならない。こ
れは、検出器１が持つ均一性歪、すなわち検出器１内の
シンチレータや光電子増倍管の特性のばらつきのためで
ある。
【００１７】そこで、本発明では、次のような手順で均
一性補正データを作成して磁気ディスク９に格納する。
すなわち、図２に示すようにＲＩを入れた点線源容器１
１を検出器１の視野中心の垂直線上で距離Ｄの位置に設
置し、未補正データ収集を行う（図中４中、ステップ４
０１参照）。未補正で収集するので、収集データは前記
点線源容器１１に対する立体角の差によって生じる入射
γ線の不均一性と検出器１が持つ均一性歪の両方を含む
不均一なデータとなる。そこで、まず、この収集データ
を前記立体角比Ｋ（ｘ，ｙ）で除算することにより前記
立体角の差によって生じる入射γ線の不均一性を除去
し、γ線が一様に入射した場合に相当するデータに補正
する（同、ステップ４０２参照）。次に、前記立体角に
よって生じる入射γ線の不均一性の補正をした収集デー
タの視野全体での平均値Ｎave を求める（同、ステップ
４０３参照）。さらに、各位置のデータが、前記Ｎave
に合うようにした各位置毎の補正量（均一性歪補正デー
タ）をテーブルＴ２として作成し（同、ステップ４０４
参照）、磁気ディスク９に格納しておく（同、ステップ
４０５参照）。そして、実際の被検体のデータ収集時に
は、検出器１にはコリメータ２が取り付けられ、コリメ
ータ２を介して入射し、検出器１で検出されたγ線に対
し、位置計算回路３で求めたγ線入射位置に対応した位
置についての補正量（均一性歪補正データ）を前記補正
量テーブルＴ２から読みだして補正回路４により補正を
行う。
一性補正データを作成して磁気ディスク９に格納する。
すなわち、図２に示すようにＲＩを入れた点線源容器１
１を検出器１の視野中心の垂直線上で距離Ｄの位置に設
置し、未補正データ収集を行う（図中４中、ステップ４
０１参照）。未補正で収集するので、収集データは前記
点線源容器１１に対する立体角の差によって生じる入射
γ線の不均一性と検出器１が持つ均一性歪の両方を含む
不均一なデータとなる。そこで、まず、この収集データ
を前記立体角比Ｋ（ｘ，ｙ）で除算することにより前記
立体角の差によって生じる入射γ線の不均一性を除去
し、γ線が一様に入射した場合に相当するデータに補正
する（同、ステップ４０２参照）。次に、前記立体角に
よって生じる入射γ線の不均一性の補正をした収集デー
タの視野全体での平均値Ｎave を求める（同、ステップ
４０３参照）。さらに、各位置のデータが、前記Ｎave
に合うようにした各位置毎の補正量（均一性歪補正デー
タ）をテーブルＴ２として作成し（同、ステップ４０４
参照）、磁気ディスク９に格納しておく（同、ステップ
４０５参照）。そして、実際の被検体のデータ収集時に
は、検出器１にはコリメータ２が取り付けられ、コリメ
ータ２を介して入射し、検出器１で検出されたγ線に対
し、位置計算回路３で求めたγ線入射位置に対応した位
置についての補正量（均一性歪補正データ）を前記補正
量テーブルＴ２から読みだして補正回路４により補正を
行う。
【００１８】以上の手順により、検出器１の均一性歪を
検出するためにＲＩを入れた点線源容器１１を検出器１
の視野中心の垂直線上に設置して点線源容器１１からの
γ線を未補正で収集した場合でも、検出器視野内各位置
の点線源容器１１に対する立体角による入射γ線量の差
の影響を除去して、適正な均一性歪補正データを作成で
きる。なお、上記実施例では、点線源容器１１を検出器
１の視野中心垂直線上に設置することを補正データ収集
条件としているが、必ずしも、点線源容器１１を検出器
１の視野中心垂直線上に正確に設置しなくとも良い。点
線源容器１１の検出器１の視野中心垂直線からのずれを
前記（３）式の座標（ｘ，ｙ）から差し引くことで、前
記ずれの影響を除去した立体角比Ｋを得ることができ
る。
検出するためにＲＩを入れた点線源容器１１を検出器１
の視野中心の垂直線上に設置して点線源容器１１からの
γ線を未補正で収集した場合でも、検出器視野内各位置
の点線源容器１１に対する立体角による入射γ線量の差
の影響を除去して、適正な均一性歪補正データを作成で
きる。なお、上記実施例では、点線源容器１１を検出器
１の視野中心垂直線上に設置することを補正データ収集
条件としているが、必ずしも、点線源容器１１を検出器
１の視野中心垂直線上に正確に設置しなくとも良い。点
線源容器１１の検出器１の視野中心垂直線からのずれを
前記（３）式の座標（ｘ，ｙ）から差し引くことで、前
記ずれの影響を除去した立体角比Ｋを得ることができ
る。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、検
出器の均一性歪を検出するために、コリメータを取り付
けていない検出器の視野中心垂直線上にＲＩを入れた点
線源容器を設置し、点線源容器からのγ線を未補正で収
集した場合でも、検出器視野内各位置の点線源容器１１
に対する立体角により入射γ線量の差の影響を除去し
て、適正な均一性歪補正データを作成できるという効果
がある。
出器の均一性歪を検出するために、コリメータを取り付
けていない検出器の視野中心垂直線上にＲＩを入れた点
線源容器を設置し、点線源容器からのγ線を未補正で収
集した場合でも、検出器視野内各位置の点線源容器１１
に対する立体角により入射γ線量の差の影響を除去し
て、適正な均一性歪補正データを作成できるという効果
がある。
【図１】本発明によるシンチレーションカメラの一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図２】同上シンチレーションカメラにおける補正に用
いるためのデータの収集方法の説明図である。
いるためのデータの収集方法の説明図である。
【図３】同上シンチレーションカメラにおける補正に用
いるためのデータの収集方法の説明の図２の一部を拡大
した図である。
いるためのデータの収集方法の説明の図２の一部を拡大
した図である。
【図４】同上シンチレーションカメラにおける補正デー
タの作成から補正量テーブルとして磁気ディスクに格納
されるまでの処理の一例を示すフローチャートである。
タの作成から補正量テーブルとして磁気ディスクに格納
されるまでの処理の一例を示すフローチャートである。
【図５】従来のシンチレーションカメラのブロック図で
ある。
ある。
【図６】同上シンチレーションカメラにおける検出器の
均一性歪を評価するためのデータの収集方法の説明図で
ある。
均一性歪を評価するためのデータの収集方法の説明図で
ある。
【図７】同上シンチレーションカメラにおける補正に用
いるためのデータの収集方法の説明図である。
いるためのデータの収集方法の説明図である。
【図８】図７の方法で収集した検出器の均一性歪を示す
分布像の例である。
分布像の例である。
【図９】同上シンチレーションカメラにおける補正デー
タの作成から補正量テーブルとして磁気ディスクに格納
されるまでの処理の一例を示すフローチャートである。
タの作成から補正量テーブルとして磁気ディスクに格納
されるまでの処理の一例を示すフローチャートである。
１ 検出器 ２ コリメータ ３ 位置計算回路 ４ 補正回路 ５ メモリ ６ 表示制御回路 ７ ＣＲＴ ８ 中央演算処理装置（ＣＰＵ） ９ 磁気ディスク １０ ＲＩ注入容器 １１ 点線源容器 Ｔ１ 補正量テーブル Ｔ２ 補正量テーブル
Claims (2)
- 【請求項１】検出器の均一性歪を補正するデータを得る
ために、点線源を解出器視野中心の垂直線上に置いてγ
線入射分布像を収集し、この分布像より均一性歪補正デ
ータの作成を行うシンチレーションカメラに於いて、前
記均一性歪補正データの作成の前に、前記分布像を検出
器視野の各位置の点線源に対する立体角の大きさの差に
応じて補正する手段を有することを特徴とするシンチレ
ーションカメラ。 - 【請求項２】前記補正手段は、検出器から点線源までの
距離Ｄと検出器視野中心を原点とする視野内各位置座標
（ｘ，ｙ）から求められる係数 Ｋ(ｘ，ｙ)＝Ｄ3／(Ｄ2＋ｘ2＋ｙ2)3/2 で前記分布像を除算することを特徴とする請求項１記載
のシンチレーションカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29808594A JPH08136657A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | シンチレーションカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29808594A JPH08136657A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | シンチレーションカメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136657A true JPH08136657A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17854968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29808594A Pending JPH08136657A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | シンチレーションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136657A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012233881A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | 核医学イメージング方法、核医学イメージング装置及び記憶媒体 |
| US10033098B2 (en) | 2013-04-03 | 2018-07-24 | Robert Bosch Gmbh | Radar device and method having an antenna array with two switching states of different modulation |
-
1994
- 1994-11-08 JP JP29808594A patent/JPH08136657A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012233881A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | 核医学イメージング方法、核医学イメージング装置及び記憶媒体 |
| US10033098B2 (en) | 2013-04-03 | 2018-07-24 | Robert Bosch Gmbh | Radar device and method having an antenna array with two switching states of different modulation |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040512 |