JPH08125089A - Lead frame and semiconductor device and manufacture thereof - Google Patents

Lead frame and semiconductor device and manufacture thereof

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JPH08125089A
JPH08125089A JP25862894A JP25862894A JPH08125089A JP H08125089 A JPH08125089 A JP H08125089A JP 25862894 A JP25862894 A JP 25862894A JP 25862894 A JP25862894 A JP 25862894A JP H08125089 A JPH08125089 A JP H08125089A
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JP
Japan
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lead
dam bar
lead frame
solder
chip
Prior art date
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Application number
JP25862894A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fujiaki Nose
藤明 野瀬
Atsushi Honda
厚 本多
Hiroyuki Hozoji
裕之 宝蔵寺
Taku Kikuchi
卓 菊池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE: To eliminate the step of cutting a dam bar by providing the bar of solder material in the shape of filling the gap between a plurality of leads at a boundary between the outer lead and the inner lead of the leads. CONSTITUTION: A tab 2 for mounting a chip with a semiconductor element is provided at the center. The tab 1 is connected to a frame 4 by tab hanging leads 3 of four directions at the corners of a rectangle. A plurality of leads 5 are arranged toward the interior of the frame 4. A dam bar 6 as a solder material is provided in the shape of filling the gap between the leads 5 at the boundary between the outer lead 5a and the inner lead 5b of the leads 5. Thus, the flow-out of the resin at the step of resin sealing can be stopped by the bar 6. Since the bar 6 can be melt and removed, the step of cutting the bar 6 can be eliminated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームならび
にそれを用いた半導体装置およびその製造技術に関し、
特に、リードフレームにおけるダムバーの切断金型を不
要として製造工程を簡単化したリードフレームおよびそ
れを用いた半導体装置に適用して有効な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame, a semiconductor device using the same, and a manufacturing technique thereof.
In particular, the present invention relates to a lead frame in which the manufacturing process is simplified by omitting a die for cutting a dam bar in the lead frame and a technique effectively applied to a semiconductor device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば半導体集積回路装置などの半導体
装置は、小型化、高集積化および多機能化に伴い、多ピ
ン化および微細ピッチ化の傾向にある。これらに対応す
るパッケージ技術としは、例えばQFP(Quad Flat Pa
ckage)と呼ばれる樹脂封止型のパッケージが用いられて
いる。
2. Description of the Related Art A semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit device, for example, tends to have a large number of pins and a fine pitch as it is miniaturized, highly integrated, and multifunctional. Examples of package technologies that support these are QFP (Quad Flat Pa
A resin-sealed package called ckage) is used.

【0003】この種の半導体装置のリードフレームの中
央部のダムには例えば半導体集積回路などの半導体素子
が形成されているチップが搭載されている。そして、チ
ップの表面の接続電極とリードフレームのインナリード
がボンディングワイヤによりワイヤボンディングされ、
樹脂封止体により封止されている。また、リードフレー
ムのアウタリードがガルウイング形状に加工されてい
る。
A chip in which a semiconductor element such as a semiconductor integrated circuit is formed is mounted on a dam at the center of a lead frame of a semiconductor device of this type. Then, the connection electrode on the surface of the chip and the inner lead of the lead frame are wire-bonded by a bonding wire,
It is sealed with a resin sealing body. The outer lead of the lead frame is processed into a gull wing shape.

【0004】なお、樹脂封止用のリードフレームについ
て記載されている文献としては、例えば特開昭55−2
1128号公報に記載されているものがある。
As a document describing a lead frame for resin encapsulation, for example, JP-A-55-2 is used.
There is one described in Japanese Patent No. 1128.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが、半導体装置
の多ピン化および微細ピッチ化に伴い、例えばアウタリ
ードが300本以上、0.3mmピッチ以下のパッケージが
開発されて来ており、これに用いるリードフレームのダ
ムバーの切断工程が非常に困難になるという問題点があ
る。
However, with the increase in the number of pins and the fine pitch of semiconductor devices, for example, a package having 300 or more outer leads and a pitch of 0.3 mm or less has been developed. There is a problem that the cutting process of the dam bar of the frame becomes very difficult.

【0006】そこで、ダムバーレス構造のリードフレー
ムが検討されている。しかしながら、ダムバーレス構造
のリードフレームについては、樹脂封止工程で封止用の
樹脂の流出を止めることができないという問題が発生
し、実用上は依然としてダムバー付のリードフレームが
採用されている。
Therefore, a lead frame having a dambarless structure has been studied. However, with respect to the lead frame having the dambar-less structure, there arises a problem that the resin for sealing cannot be prevented from flowing out in the resin sealing step, and the leadframe with the dambar is still used in practice.

【0007】本発明の一つの目的は、ダムバーの切断工
程が不要なリードフレームを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a lead frame which does not require a dam bar cutting process.

【0008】本発明の他の目的は、ダムバーの切断工程
が不要なリードフレームを用いた半導体装置を提供する
ことにある。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor device using a lead frame which does not require a dam bar cutting step.

【0009】本発明のさらに他の目的は、半導体装置の
製造工程を簡単化できるリードフレームを用いた半導体
装置の製造方法を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device using a lead frame which can simplify the manufacturing process of the semiconductor device.

【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明において開示され
る発明のうち、代表的なものの概要を説明すれば、以下
の通りである。
The typical ones of the inventions disclosed in the present invention will be outlined below.

【0012】(1)本発明のリードフレームは、リード
におけるアウタリードとインナリードの境界部における
複数のリードの間にはんだを材料としているダムバーが
埋め込まれた形状として設けられているものとする。
(1) It is assumed that the lead frame of the present invention has a shape in which a dam bar made of solder is embedded between a plurality of leads at the boundary between the outer lead and the inner lead in the lead.

【0013】(2)本発明の半導体装置の製造方法は、
はんだを材料としているダムバーを有するリードフレー
ムにおけるタブに半導体素子が形成されているチップを
搭載し、タブにチップを固着する工程と、ワイヤボンデ
ィング装置を使用して、チップの表面の接続電極とリー
ドフレームのインナリードとをボンディングワイヤによ
り接続する工程と、樹脂封止装置を使用して、成形金型
にリードフレームをセットして、封止用の樹脂を成形金
型におけるキャビティ部に圧入して樹脂封止体を形成
し、少なくともチップおよびインナリードをパッケージ
ングする工程と、ダムバーを加熱してダムバーの材料で
あるはんだを溶融し、リードフレームにおけるリードか
らダムバーを取り除く工程とを有するものとする。
(2) The method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention
A step of mounting a chip with a semiconductor element formed on a tab in a lead frame having a dam bar made of solder, and fixing the chip to the tab, and using a wire bonding device, connecting electrodes and leads on the surface of the chip The step of connecting the inner leads of the frame with the bonding wires, and using the resin sealing device, set the lead frame in the molding die and press the sealing resin into the cavity of the molding die. A resin encapsulant is formed and at least the chip and the inner lead are packaged, and the dam bar is heated to melt the solder that is the material of the dam bar and remove the dam bar from the lead in the lead frame. .

【0014】[0014]

【作用】[Action]

(1)前記した本発明のリードフレームによれば、リー
ドにおけるアウタリードとインナリードの境界部におけ
る複数のリードの間にはんだを材料としているダムバー
が埋め込まれた形状として設けられていることにより、
ダムバーにより樹脂封止工程での樹脂の流出を止めるこ
とができる。
(1) According to the lead frame of the present invention described above, since the dam bar made of solder is embedded between the plurality of leads at the boundary between the outer lead and the inner lead in the lead,
The dam bar can prevent the resin from flowing out in the resin sealing process.

【0015】また、前記した本発明のリードフレームに
よれば、ダムバーとしてはんだを材料としていることに
より、ダムバーの除去も樹脂封止工程の後の工程、例え
ばリードフレームにおけるリードのメッキ処理工程など
の加熱処理によりはんだを材料としているダムバーを溶
融して取り除くことができるために、ダムバーの切断工
程を不要とすることができると共にダムバーを切断金型
を使用することなく簡単な工程により取り除くことがで
きる。
Further, according to the lead frame of the present invention described above, since the dam bar is made of solder, the dam bar can be removed after the resin sealing process, for example, in the lead frame plating process. Since the dam bar made of solder can be melted and removed by the heat treatment, the dam bar cutting process can be eliminated and the dam bar can be removed by a simple process without using a cutting die. .

【0016】(2)前記した本発明の半導体装置の製造
方法によれば、はんだを材料としているダムバーを有す
るリードフレームを用いて樹脂封止工程を行うことによ
り、ダムバーにより樹脂封止工程での樹脂の流出を止め
ることができる。
(2) According to the method for manufacturing a semiconductor device of the present invention described above, the resin sealing step is performed by using the lead frame having the dam bar made of solder, so that the dam bar can be used in the resin sealing step. The outflow of resin can be stopped.

【0017】また、ダムバーとしてはんだを材料として
いることにより、ダムバーの除去も樹脂封止工程の後の
工程、例えばリードフレームにおけるリードのメッキ処
理工程などの加熱処理によりはんだを材料としているダ
ムバーを溶融して取り除くことができるために、ダムバ
ーを切断金型を使用することなく簡単な工程により取り
除くことができる。
Further, since the dam bar is made of solder, the dam bar can be removed by heating after the resin sealing step, for example, heat treatment such as lead plating in the lead frame. The dam bar can be removed by a simple process without using a cutting die.

【0018】その結果、ダムバーを取り除く工程として
は簡単な工程であると共に、例えばリードフレームにお
けるリードのメッキ処理工程などの半導体装置の製造工
程を流用して行うこともできることにより、半導体装置
の製造にあたって製造時間を短縮できると共にダムバー
の切断金型などの製造機器を不要とすることができるの
で、スループットの向上およびコストを低減することが
できる。
As a result, the step of removing the dam bar is a simple step, and the manufacturing step of the semiconductor device such as the lead plating process in the lead frame can be diverted. Since manufacturing time can be shortened and manufacturing equipment such as a cutting die for the dam bar can be eliminated, throughput can be improved and cost can be reduced.

【0019】[0019]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。なお、実施例を説明するための全図におい
て同一機能を有するものは同一の符号を付し、重複説明
は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In all the drawings for explaining the embodiments, those having the same function are designated by the same reference numerals, and a duplicate description will be omitted.

【0020】(実施例1)図1は、本発明の一実施例で
あるリードフレームを示す平面図である。図2は、図1
におけるA−A矢視断面を示す断面図である。同図を用
いて、本発明のリードフレームについて説明する。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a plan view showing a lead frame which is an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows FIG.
It is sectional drawing which shows the AA arrow cross section in. The lead frame of the present invention will be described with reference to FIG.

【0021】本実施例のリードフレーム1は、例えば半
導体集積回路などの半導体素子が形成されているチップ
が搭載されるタブ2を中央部に有する。タブ2は、その
四辺のコーナー部で四方向のタブ吊りリード3によりフ
レーム4に接続されて保持されている。なお、図1に示
す4aおよび4bはリードフレーム1の位置合わせなど
に使用される孔を示している。
The lead frame 1 of this embodiment has a tab 2 in the center thereof, on which a chip on which a semiconductor element such as a semiconductor integrated circuit is formed is mounted. The tab 2 is connected and held to the frame 4 by tab suspension leads 3 in four directions at the corners of the four sides. In addition, 4a and 4b shown in FIG. 1 indicate holes used for alignment of the lead frame 1 and the like.

【0022】また、複数のリード5がフレーム4の内部
に向かって配設されている。リード5は、アウタリード
5aとインナリード5bとからなっている。
A plurality of leads 5 are arranged toward the inside of the frame 4. The lead 5 includes an outer lead 5a and an inner lead 5b.

【0023】また、リード5におけるアウタリード5a
とインナリード5bの境界部には、はんだを材料として
いるダムバー6が接着されている。はんだを材料として
いるダムバー6は、複数のリード5の間に埋め込まれた
形状になって周設されている。また、ダムバー6の厚さ
は、リード5の厚さ以上となっている。
The outer lead 5a of the lead 5 is also used.
A dam bar 6 made of solder is adhered to the boundary between the inner lead 5b and the inner lead 5b. The dam bar 6 made of solder is provided so as to be embedded between the plurality of leads 5 and is provided around the dam bar 6. Further, the thickness of the dam bar 6 is equal to or larger than the thickness of the lead 5.

【0024】このような形状のはんだを材料としている
ダムバー6は、樹脂封止時に樹脂封止ラインから封止用
の樹脂が漏れ出ないように周設されていることにより、
ダムバー6により樹脂封止工程での封止用の樹脂の流出
を止めることができる。
The dam bar 6 made of solder having such a shape is circumferentially provided so that the sealing resin does not leak from the resin sealing line during resin sealing.
The dam bar 6 can prevent the sealing resin from flowing out in the resin sealing process.

【0025】ダムバー6は、ペレットボンディング工
程、ワイヤボンディング工程および樹脂封止工程におい
て、溶融しないはんだから形成されている。本実施例の
リードフレーム1におけるダムバー6の一態様として
は、融点(溶融温度)が270℃以上のはんだを材料に
している。その結果、ペレットボンディング工程での温
度は180℃程度であり、ワイヤボンディング工程での
温度は250℃程度であり、樹脂封止工程の温度は18
0℃程度である半導体装置の一態様の製造工程において
は、これらの工程によりダムバー6は溶融することがな
く、樹脂封止工程においてダムバー6としての機能を十
分に果たすものである。
The dam bar 6 is made of solder that does not melt in the pellet bonding process, wire bonding process and resin sealing process. As one mode of the dam bar 6 in the lead frame 1 of the present embodiment, solder having a melting point (melting temperature) of 270 ° C. or higher is used. As a result, the temperature in the pellet bonding process is about 180 ° C., the temperature in the wire bonding process is about 250 ° C., and the temperature in the resin sealing process is 18 ° C.
In the manufacturing process of one aspect of the semiconductor device having a temperature of about 0 ° C., the dam bar 6 is not melted by these processes, and sufficiently functions as the dam bar 6 in the resin sealing process.

【0026】ダムバー6の材料としてのはんだは、例え
ば鉛(Pb)とスズ(Sn)との合金であり、その組成
比率つまり鉛とスズとの成分比率を変えることにより所
望の融点のはんだを作成することができる。鉛は融点を
下げ、強度を上げるために用いられ、スズは例えば鉄や
銅などと合金をつくりやすいので主として接着の役目を
果たすものである。
The solder as the material of the dam bar 6 is, for example, an alloy of lead (Pb) and tin (Sn), and the solder having a desired melting point is prepared by changing the composition ratio, that is, the component ratio of lead and tin. can do. Lead is used to lower the melting point and increase the strength, and tin mainly plays a role of adhesion because it is easy to form an alloy with iron or copper.

【0027】ダムバー6の材料としてのはんだは、例え
ば鉛とスズとの重量%での成分比率を4対6にすると融
点は240℃となり、1対9にすると融点は300℃と
なる。
The solder as the material of the dam bar 6 has a melting point of 240 ° C. when the component ratio of lead and tin in weight% of 4: 6, and a melting point of 300 ° C. when it is 1: 9.

【0028】したがって、ダムバー6の材料としてのは
んだは、例えば鉛とスズとの重量%での成分比率を4対
6から1対9の間の成分比率にすることにより、融点を
240℃から300℃までの所望の融点のはんだを得る
ことができる。
Therefore, the solder as the material of the dam bar 6 has a melting point of 240 ° C. to 300 ° C., for example, by adjusting the component ratio of lead and tin in the weight% of 4 to 6 to 1: 9. It is possible to obtain a solder having a desired melting point up to ° C.

【0029】また、ダムバー6の材料としてのはんだの
他の態様としては、鉛とスズと銀との合金を適用するこ
とができ、それらの重量%での成分比率を93.5対5対
1.5にすると融点は300℃程度となる。さらに、ダム
バー6の材料としてのはんだは、例えば鉛と銀との合金
またはビスマスとスズとの合金などのはんだを使用する
ことができる。
As another embodiment of the solder as the material of the dam bar 6, an alloy of lead, tin, and silver can be applied, and the weight ratio of these components is 93.5: 5: 5.
When it is set to 1.5, the melting point becomes about 300 ° C. Further, as the solder for the material of the dam bar 6, for example, solder such as an alloy of lead and silver or an alloy of bismuth and tin can be used.

【0030】本実施例のリードフレーム1の製造は、例
えば鉄とニッケルとの合金である42アロイまたは銅な
どの金属からなる金属板にリードフレーム1のパターン
を例えばプレス加工などにより形成する。なお、図1に
示すリードフレーム1は、一つのパターンを示している
ものであるが、2個以上の複数のパターンが連結された
リードフレームの態様とすることもできる。
The lead frame 1 of this embodiment is manufactured by forming the pattern of the lead frame 1 on a metal plate made of a metal such as 42 alloy which is an alloy of iron and nickel or copper, for example, by pressing. Although the lead frame 1 shown in FIG. 1 shows one pattern, it may be in the form of a lead frame in which two or more patterns are connected.

【0031】次に、リード5におけるアウタリード5a
とインナリード5bの境界部にダムバー6の形状に対応
する帯状でしかも正方形状のはんだを載せた後、そのは
んだを例えばプレスなどにより複数のリード5の間に埋
め込む作業を行う。
Next, the outer lead 5a in the lead 5
After a band-shaped and square-shaped solder corresponding to the shape of the dam bar 6 is placed on the boundary between the inner lead 5b and the inner lead 5b, the solder is embedded between the plurality of leads 5 by, for example, pressing.

【0032】次に、リード5の表面に残存しているはん
だを削り取ることにより、図1に示すようなダムバー6
を有するリードフレーム1を形成する。
Next, the solder remaining on the surface of the lead 5 is scraped off to remove the dam bar 6 as shown in FIG.
To form a lead frame 1.

【0033】なお、リードフレーム1におけるはんだを
材料としているダムバー6を複数のリード5の間に埋め
込む作業は、樹脂封止工程において樹脂封止装置におけ
る成形金型のプレスを適用することができる。この場
合、ダムバー6としての帯状でしかも正方形状のはんだ
は、樹脂封止工程の直前にリードフレーム1に載せる作
業を行えばよい。
The operation of embedding the dam bar 6 made of solder in the lead frame 1 between the plurality of leads 5 can be performed by pressing the molding die in the resin sealing device in the resin sealing step. In this case, the strip-shaped and square-shaped solder as the dam bar 6 may be placed on the lead frame 1 immediately before the resin sealing step.

【0034】本実施例のリードフレーム1は、リード5
におけるアウタリード5aとインナリード5bの境界部
における複数のリード5の間にはんだを材料としている
ダムバー6が埋め込まれた形状として設けられているこ
とにより、ダムバー6により樹脂封止工程での封止用の
樹脂の流出を止めることができる。
The lead frame 1 of this embodiment is composed of the leads 5
Since the dam bar 6 made of solder is embedded between the plurality of leads 5 at the boundary between the outer lead 5a and the inner lead 5b in FIG. The outflow of resin can be stopped.

【0035】また、本実施例のリードフレーム1は、ダ
ムバー6としてはんだを材料としていることにより、ダ
ムバー6の除去も樹脂封止工程の後の工程、例えばリー
ドフレーム1におけるリード5のメッキ処理工程などの
加熱処理によりはんだを材料としているダムバー6を溶
融して取り除くことができるために、ダムバー6の切断
工程を不要とすることができると共にダムバー6を切断
金型を使用することなく簡単な工程により取り除くこと
ができる。
Since the lead frame 1 of this embodiment is made of solder as the dam bar 6, the dam bar 6 is also removed after the resin sealing step, for example, the lead 5 plating step in the lead frame 1. Since the dam bar 6 made of solder can be melted and removed by a heat treatment such as the above, the step of cutting the dam bar 6 can be eliminated and the dam bar 6 can be easily cut without using a cutting die. Can be removed by.

【0036】その結果、ダムバー6を取り除く工程とし
ては簡単な工程であると共に、例えばリードフレーム1
におけるリード5のメッキ処理工程などの半導体装置の
製造工程を流用して行うこともできることにより、半導
体装置の製造にあたって製造時間を短縮できると共にダ
ムバー6の切断金型などの製造機器を不要とすることが
できるので、スループットの向上およびコストを低減す
ることができる。
As a result, the step of removing the dam bar 6 is a simple step and, for example, the lead frame 1 is removed.
Since it is possible to divert the semiconductor device manufacturing process such as the lead 5 plating process in FIG. 1 to shorten the manufacturing time in manufacturing the semiconductor device and to eliminate the need for manufacturing equipment such as a cutting die for the dam bar 6. Therefore, the throughput can be improved and the cost can be reduced.

【0037】また、本実施例のリードフレーム1は、ダ
ムバー6を溶融して取り除くことができるために、ダム
バー6の切断工程を不要とすることができると共にダム
バー6を切断金型を使用することなく簡単な工程により
取り除くことができることにより、微細加工をもってリ
ード5の本数を増加できると共にリード5のピッチを小
さくできるので、例えばリード5が300本以上および
リード5の間のピッチが0.3mm以下などという多数本の
微細なリード5を微細なピッチをもって配置したリード
フレームとすることができる。
Further, in the lead frame 1 of this embodiment, since the dam bar 6 can be melted and removed, the step of cutting the dam bar 6 can be eliminated and the dam bar 6 can be cut by using a die. Since the number of leads 5 can be increased and the pitch of the leads 5 can be reduced by microfabrication, it can be removed by a simple process. For example, the number of leads 5 is 300 or more and the pitch between the leads 5 is 0.3 mm or less. It is possible to form a lead frame in which a large number of fine leads 5 are arranged with a fine pitch.

【0038】さらに、本実施例のリードフレーム1を用
いた半導体装置は、多数本の微細なリード5を微細なピ
ッチをもって配置したリードフレーム1を用いたもので
あり、ダムバー6の除去には加熱処理を行えばよく、ダ
ムバー6の切断工程を不要とすることができると共にダ
ムバー6を切断金型を使用することなく簡単な工程によ
り取り除くことができることにより、その製造工程を簡
単にすることができる。
Further, the semiconductor device using the lead frame 1 of the present embodiment uses the lead frame 1 in which a large number of fine leads 5 are arranged at a fine pitch, and the dam bar 6 is removed by heating. It suffices to perform the treatment, and the step of cutting the dam bar 6 can be eliminated, and the dam bar 6 can be removed by a simple step without using a cutting die, so that the manufacturing step can be simplified. .

【0039】また、本実施例のリードフレーム1を用い
た半導体装置は、小型化、高集積化および多機能化がで
き、多ピン化および微細ピッチ化した半導体装置とする
ことができる。
Further, the semiconductor device using the lead frame 1 of this embodiment can be miniaturized, highly integrated and multifunctional, and can be a semiconductor device having a large number of pins and a fine pitch.

【0040】(実施例2)図3〜図6は、本発明の他の
実施例であるリードフレームを用いた半導体装置の製造
工程を示す平面図である。同図を用いて、本発明のリー
ドフレームを用いた半導体装置の製造方法について説明
する。
(Embodiment 2) FIGS. 3 to 6 are plan views showing a manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame which is another embodiment of the present invention. A method of manufacturing a semiconductor device using the lead frame of the present invention will be described with reference to FIG.

【0041】まず、図3に示すように、前述した実施例
1のリードフレーム1を用意し、そのタブ2に例えば半
導体集積回路などの半導体素子が形成されているチップ
7を搭載して、ペレットボンディングを行いタブ2にチ
ップ7を固着する。
First, as shown in FIG. 3, the lead frame 1 of the first embodiment described above is prepared, and the tab 7 is mounted with the chip 7 on which a semiconductor element such as a semiconductor integrated circuit is formed, and pellets are formed. Bonding is performed to fix the chip 7 to the tab 2.

【0042】次に、図4に示すように、ワイヤボンディ
ング装置を使用して、チップ7の表面の接続電極(図示
を省略している)とリードフレーム1のインナリード5
bとを例えば金線などのボンディングワイヤ8により接
続する。
Next, as shown in FIG. 4, a connection electrode (not shown) on the surface of the chip 7 and the inner lead 5 of the lead frame 1 are used by using a wire bonding device.
b is connected by a bonding wire 8 such as a gold wire.

【0043】次に、図5に示すように、樹脂封止装置を
使用して、成形金型にワイヤボンディング工程が終了し
たリードフレーム1をセットし、例えば熱硬化性樹脂な
どの封止用の樹脂を加熱した成形金型におけるキャビテ
ィ部に圧入して樹脂封止体9を形成し、図4に示したリ
ードフレーム1におけるインナリード5b、チップ7お
よびボンディングワイヤ8などをパッケージングする。
Next, as shown in FIG. 5, using a resin sealing device, the lead frame 1 after the wire bonding process is set in a molding die and, for example, a thermosetting resin or the like is used for sealing. The resin is pressed into a cavity of a heated molding die to form a resin sealing body 9, and the inner lead 5b, the chip 7, the bonding wire 8 and the like in the lead frame 1 shown in FIG. 4 are packaged.

【0044】この場合、ダムバー6は、樹脂封止型半導
体装置のモールド樹脂止め用ダム部として機能し、樹脂
封止工程での封止用の樹脂の流出を防止するために、リ
ード5に周設されているものである。また、ダムバー6
は、リード5の間を力学的に補強していることにより、
リード5の変形および位置ずれを防止する機能を有する
ものである。
In this case, the dam bar 6 functions as a mold resin stopping dam portion of the resin-sealed semiconductor device, and surrounds the lead 5 in order to prevent the sealing resin from flowing out in the resin sealing process. It has been set up. Also, dam bar 6
Is mechanically reinforced between the leads 5,
It has a function of preventing the lead 5 from being deformed and displaced.

【0045】したがって、例えばリード5が力学的に安
定しており力学的な補強が不要な場合などには樹脂封止
工程においてのみダムバー6が設けられておればよく、
半導体装置の製造工程の別の仕様に対応して前述したペ
レットボンディング工程以前からリードフレーム1にあ
らかじめダムバー6を設けておく必要がない態様を採用
することができる。
Therefore, for example, when the lead 5 is mechanically stable and mechanical reinforcement is unnecessary, the dam bar 6 may be provided only in the resin sealing step,
It is possible to adopt a mode in which it is not necessary to previously provide the dam bar 6 on the lead frame 1 before the pellet bonding step described above corresponding to another specification of the manufacturing process of the semiconductor device.

【0046】この種の半導体装置の製造工程は、はんだ
を材料としているダムバー6をセットしただけでリード
5の間に埋め込みをしていないリードフレームまたはダ
ムバー6を備えていないリードフレームを用いてペレッ
トボンディング工程およびワイヤボンディング工程を行
った後、そのリードフレームにおけるアウタリード5a
とインナリード5bの境界部における複数のリード5の
間にダムバー6の材料としてのはんだを設ける作業を行
えばよい。また、ダムバー6は、ペレットボンディング
工程、ワイヤボンディング工程および樹脂封止工程にお
いて溶融しない前述したはんだを材料としているもので
もよいが、少なくとも樹脂封止工程において溶融しない
はんだを材料としているものを採用することもできる。
In the manufacturing process of this type of semiconductor device, a pellet is formed by using a lead frame in which the dam bar 6 made of solder is set but not embedded between the leads 5 or a lead frame not provided with the dam bar 6. After performing the bonding process and the wire bonding process, the outer lead 5a in the lead frame
The solder as the material of the dam bar 6 may be provided between the plurality of leads 5 at the boundary between the inner lead 5b and the inner lead 5b. Further, the dam bar 6 may be made of the above-mentioned solder that does not melt in the pellet bonding process, the wire bonding process and the resin sealing process, but at least the solder that does not melt in the resin sealing process is used. You can also

【0047】その後、樹脂封止装置を使用して、成形金
型にリードフレームをセットして、成形金型によりダム
バー6の材料としてのはんだをプレスして複数のリード
5の間に埋め込まれた形状とした後、封止用の樹脂を成
形金型におけるキャビティ部に圧入して樹脂封止体9を
形成し、リードフレームにおけるインナリード5b、チ
ップ7およびボンディングワイヤ8などをパッケージン
グすればよい。
After that, a lead frame was set in a molding die using a resin sealing device, and solder as a material of the dam bar 6 was pressed by the molding die to be embedded between a plurality of leads 5. After shaping, the resin for sealing is press-fitted into the cavity of the molding die to form the resin sealing body 9, and the inner lead 5b, the chip 7, the bonding wire 8 and the like in the lead frame may be packaged. .

【0048】前述したように本実施例においては、リー
ド5におけるアウタリード5aとインナリード5bの境
界部における複数のリード5の間にはんだを材料として
いるダムバー6が埋め込まれた形状として設けられてい
ることにより、ダムバー6により樹脂封止工程での樹脂
の流出を止めることができる。すなわち、ダムバー6
は、リード5に周設されているために、樹脂封止型半導
体装置のモールド樹脂止め用ダム部として機能し、樹脂
封止工程での封止用の樹脂の流出を防止できると共に樹
脂封止ラインから封止用の樹脂が漏れ出ない。
As described above, in the present embodiment, the dam bar 6 made of solder is embedded between the plurality of leads 5 at the boundary between the outer lead 5a and the inner lead 5b in the lead 5. Thus, the dam bar 6 can prevent the resin from flowing out in the resin sealing step. That is, dam bar 6
Since it is provided around the lead 5, it functions as a mold resin stopping dam portion of the resin-encapsulated semiconductor device, can prevent the resin for encapsulation from flowing out in the resin encapsulation step, and can encapsulate the resin. The resin for sealing does not leak from the line.

【0049】次に、図6に示すように、はんだを材料と
するダムバー6をはんだの融点以上の温度により加熱し
てダムバー6を溶融し、ダムバー6をリードフレーム1
から取り除く作業を行う。この場合、ダムバー6の材料
であるはんだをリードフレーム1から完全に取り除いて
もよく、また微量のはんだがリードフレーム1における
リード5に残存している状態としてもよい。その理由
は、後工程におけるリードフレーム1におけるリード5
またはフレーム4を取り除いた後のリード4にメッキ処
理を行う工程において、微量のはんだが残存しているこ
とは、メッキ処理をより好調に行うことができるためで
ある。
Next, as shown in FIG. 6, the dam bar 6 made of solder is heated at a temperature higher than the melting point of the solder to melt the dam bar 6, and the dam bar 6 is fixed to the lead frame 1.
Work to remove from. In this case, the solder that is the material of the dam bar 6 may be completely removed from the lead frame 1, or a slight amount of solder may remain in the leads 5 of the lead frame 1. The reason is that the lead 5 in the lead frame 1 in the subsequent process is
Alternatively, a small amount of solder remains in the step of plating the lead 4 after removing the frame 4 because the plating can be performed more favorably.

【0050】この工程における加熱処理は、例えば高周
波加熱などの局部的で短時間の熱処理装置を用いて行う
ことができ、短時間でしかも簡単な作業をもって行うこ
とができる。また、この工程は、リードフレーム1のリ
ード5のメッキ処理工程においてダムバー6としてのは
んだを溶融することにより行うことができる。
The heat treatment in this step can be carried out using a local and short-time heat treatment apparatus such as high-frequency heating, and can be carried out in a short time and with a simple operation. Further, this step can be performed by melting the solder as the dam bar 6 in the plating process of the lead 5 of the lead frame 1.

【0051】その結果、ダムバー6を切断金型を使用す
ることなく簡単な工程により取り除くことができる。ま
た、ダムバー6を取り除く工程としては簡単な工程であ
ると共に、例えばリードフレーム1におけるリード5の
メッキ処理工程などの半導体装置の製造工程を流用して
行うこともできることにより、半導体装置の製造にあた
って製造時間を短縮できると共にダムバー6の切断金型
などの製造機器を不要とすることができるので、スルー
プットの向上およびコストを低減することができる。
As a result, the dam bar 6 can be removed by a simple process without using a cutting die. Further, the step of removing the dam bar 6 is a simple step, and the manufacturing step of the semiconductor device such as the plating processing step of the lead 5 in the lead frame 1 can be diverted to perform the manufacturing step of the semiconductor device. Since the time can be shortened and manufacturing equipment such as a cutting die for the dam bar 6 can be dispensed with, throughput can be improved and cost can be reduced.

【0052】(実施例3)図7は、本発明の他の実施例
であるリードフレームを示す平面図である。図8は、図
7におけるB−B矢視断面を示す拡大断面図である。
(Embodiment 3) FIG. 7 is a plan view showing a lead frame which is another embodiment of the present invention. FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view showing a cross section taken along the line BB in FIG. 7.

【0053】本実施例のリードフレーム10は、半導体
装置の多ピン化および微細ピッチ化に伴い、リード5の
本数を多くしている態様のものである。
The lead frame 10 of the present embodiment is of a mode in which the number of leads 5 is increased in accordance with the increase in the number of pins and the fine pitch of the semiconductor device.

【0054】本実施例のリードフレーム10は、ダムバ
ー6を溶融して取り除くことができるために、ダムバー
6の切断工程を不要とすることができると共にダムバー
6を切断金型を使用することなく簡単な工程により取り
除くことができることにより、微細加工をもってリード
5の本数を増加できると共にリード5のピッチを小さく
できるので、多数本の微細なリード5を微細なピッチを
もって配置したリードフレームとすることができる。
In the lead frame 10 of this embodiment, the dam bar 6 can be melted and removed, so that the step of cutting the dam bar 6 can be eliminated and the dam bar 6 can be simply cut without using a die. Since it is possible to increase the number of leads 5 and to reduce the pitch of the leads 5 by fine processing, it is possible to obtain a lead frame in which a large number of fine leads 5 are arranged with a fine pitch. .

【0055】さらに、本実施例のリードフレーム10を
用いた半導体装置は、多数本の微細なリード5を微細な
ピッチをもって配置したリードフレーム1を用いたもの
であり、ダムバー6の除去には加熱処理を行えばよく、
ダムバー6の切断工程を不要とすることができると共に
ダムバー6を切断金型を使用することなく簡単な工程に
より取り除くことができることにより、その製造工程を
簡単にすることができる。
Further, the semiconductor device using the lead frame 10 of this embodiment uses the lead frame 1 in which a large number of fine leads 5 are arranged at a fine pitch, and heating for removing the dam bar 6 is performed. Just do the processing,
Since the step of cutting the dam bar 6 can be eliminated and the dam bar 6 can be removed by a simple process without using a cutting die, the manufacturing process thereof can be simplified.

【0056】また、本実施例のリードフレーム10を用
いた半導体装置は、小型化、高集積化および多機能化が
でき、多ピン化および微細ピッチ化した半導体装置とす
ることができる。
Further, the semiconductor device using the lead frame 10 of this embodiment can be miniaturized, highly integrated and multifunctional, and can be a semiconductor device having a large number of pins and a fine pitch.

【0057】本実施例のリードフレーム10は、前述し
た実施例1におけるリードフレーム1とパターンが異な
っているが、機能的には類似のリードフレームであるこ
とにより、詳細な説明は省略する。
The lead frame 10 of this embodiment has a different pattern from the lead frame 1 of the first embodiment described above, but since it is a functionally similar lead frame, a detailed description thereof will be omitted.

【0058】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
1,2,3に限定されるものではなく、その要旨を逸脱
しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
The invention made by the present inventor has been specifically described above based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above embodiments 1, 2, and 3 and is within a range not departing from the gist thereof. It goes without saying that various changes can be made.

【0059】例えばリードフレームのパターン、リード
の本数、はんだを材料としているダムバーの形状および
はんだの組成などを必要に応じて種々の態様とすること
ができる。
For example, the pattern of the lead frame, the number of leads, the shape of the dam bar made of solder, the composition of the solder, and the like can be set in various modes as necessary.

【0060】また、リードフレームを用いた種々の半導
体集積回路装置およびその製造方法に適用できるように
リードフレームのパターンおよびはんだを材料としてい
るダムバーの形状などを種々の態様とすることができ
る。
Further, the pattern of the lead frame and the shape of the dam bar made of solder can be made into various modes so that it can be applied to various semiconductor integrated circuit devices using the lead frame and the manufacturing method thereof.

【0061】[0061]

【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in this application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0062】(1)本発明のリードフレームによれば、
リードにおけるアウタリードとインナリードの境界部に
おける複数のリードの間にはんだを材料としているダム
バーが埋め込まれた形状として設けられていることによ
り、ダムバーにより樹脂封止工程での樹脂の流出を止め
ることができる。
(1) According to the lead frame of the present invention,
Since the dam bar made of solder is embedded between the plurality of leads at the boundary between the outer lead and the inner lead in the lead, the dam bar can prevent the resin from flowing out in the resin sealing step. it can.

【0063】また、本発明のリードフレームによれば、
ダムバーとしてはんだを材料としていることにより、ダ
ムバーの除去も樹脂封止工程の後の工程、例えばリード
フレームにおけるリードのメッキ処理工程などの加熱処
理によりはんだを材料としているダムバーを溶融して取
り除くことができるために、ダムバーの切断工程を不要
とすることができると共にダムバーを切断金型を使用す
ることなく簡単な工程により取り除くことができる。
According to the lead frame of the present invention,
Since the dam bar is made of solder, the dam bar can be removed by melting the dam bar made of solder by a heat treatment such as a step after the resin sealing step, for example, a lead plating step in the lead frame. Therefore, the step of cutting the dam bar can be eliminated, and the dam bar can be removed by a simple step without using a cutting die.

【0064】さらに、本発明のリードフレームによれ
ば、ダムバーを溶融して取り除くことができるために、
ダムバーの切断工程を不要とすることができると共にダ
ムバーを切断金型を使用することなく簡単な工程により
取り除くことができることにより、微細加工をもってリ
ードの本数を増加できると共にリードのピッチを小さく
できるので、多数本の微細なリードを微細なピッチをも
って配置したリードフレームとすることができる。
Further, according to the lead frame of the present invention, since the dam bar can be melted and removed,
Since the dam bar cutting process can be eliminated and the dam bar can be removed by a simple process without using a cutting die, the number of leads can be increased by fine processing and the lead pitch can be reduced, It is possible to obtain a lead frame in which a large number of fine leads are arranged with a fine pitch.

【0065】(2)本発明のリードフレームを用いた半
導体装置によれば、多数本の微細なリードを微細なピッ
チをもって配置したリードフレームを用いたものであ
り、ダムバーの除去には加熱処理を行えばよく、ダムバ
ーの切断工程を不要とすることができると共にダムバー
を切断金型を使用することなく簡単な工程により取り除
くことができることにより、その製造工程を簡単にする
ことができる。
(2) According to the semiconductor device using the lead frame of the present invention, a lead frame in which a large number of fine leads are arranged at a fine pitch is used, and a heat treatment is performed to remove the dam bar. The dam bar cutting process can be omitted, and the dam bar can be removed by a simple process without using a cutting die, so that the manufacturing process can be simplified.

【0066】また、本発明のリードフレームを用いた半
導体装置によれば、小型化、高集積化および多機能化が
でき、多ピン化および微細ピッチ化した半導体装置とす
ることができる。
Further, according to the semiconductor device using the lead frame of the present invention, the semiconductor device can be miniaturized, highly integrated, and have multiple functions, and can have a multi-pin structure and a fine pitch.

【0067】(3)本発明の半導体装置の製造方法によ
れば、はんだを材料としているダムバーを有するリード
フレームを用いて樹脂封止工程を行うことにより、ダム
バーにより樹脂封止工程での樹脂の流出を止めることが
できる。
(3) According to the method of manufacturing a semiconductor device of the present invention, the resin sealing step is performed by using the lead frame having the dam bar made of solder, so that the resin in the resin sealing step is damped by the dam bar. The outflow can be stopped.

【0068】また、ダムバーとしてはんだを材料として
いることにより、ダムバーの除去も樹脂封止工程の後の
工程、例えばリードフレームにおけるリードのメッキ処
理工程などの加熱処理によりはんだを材料としているダ
ムバーを溶融して取り除くことができるために、ダムバ
ーを切断金型を使用することなく簡単な工程により取り
除くことができる。
Further, since the dam bar is made of solder, the dam bar is also removed by a heat treatment such as a step after the resin sealing step, for example, a lead plating step in the lead frame and the like. The dam bar can be removed by a simple process without using a cutting die.

【0069】その結果、ダムバーを取り除く工程として
は簡単な工程であると共に、例えばリードフレームにお
けるリードのメッキ処理工程などの半導体装置の製造工
程を流用して行うこともできることにより、半導体装置
の製造にあたって製造時間を短縮できると共にダムバー
の切断金型などの製造機器を不要とすることができるの
で、スループットの向上およびコストを低減することが
できる。
As a result, the step of removing the dam bar is a simple step, and the manufacturing step of the semiconductor device such as the lead plating process in the lead frame can be diverted. Since manufacturing time can be shortened and manufacturing equipment such as a cutting die for the dam bar can be eliminated, throughput can be improved and cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるリードフレームを示す
平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a lead frame which is an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例であるリードフレームのA−
A矢視断面を示す断面図である。
FIG. 2 A- of a lead frame which is an embodiment of the present invention
It is sectional drawing which shows the A arrow cross section.

【図3】本発明の他の実施例であるリードフレームを用
いた半導体装置の製造工程を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame which is another embodiment of the present invention.

【図4】本発明の他の実施例であるリードフレームを用
いた半導体装置の製造工程を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame which is another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施例であるリードフレームを用
いた半導体装置の製造工程を示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing a manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame which is another embodiment of the present invention.

【図6】本発明の他の実施例であるリードフレームを用
いた半導体装置の製造工程を示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing a manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame which is another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の他の実施例であるリードフレームを示
す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a lead frame which is another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の他の実施例であるリードフレームのB
−B矢視断面を示す拡大断面図である。
FIG. 8 is a lead frame B of another embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view showing a cross section taken along arrow B.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム 2 タブ 3 タブ吊りリード 4 フレーム 4a 孔 4b 孔 5 リード 5a アウタリード 5b インナリード 6 ダムバー 7 チップ 8 ボンディングワイヤ 9 樹脂封止体 10 リードフレーム 1 lead frame 2 tab 3 tab suspension lead 4 frame 4a hole 4b hole 5 lead 5a outer lead 5b inner lead 6 dam bar 7 chip 8 bonding wire 9 resin encapsulant 10 lead frame

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 卓 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Taku Kikuchi 2326 Imai, Ome-shi, Tokyo Hitachi, Ltd. Device Development Center

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体素子が形成されているチップが搭
載されるタブを有し、アウタリードとインナリードとか
らなっている複数のリードがフレームの内部に向かって
配設されているリードフレームであって、前記リードに
おける前記アウタリードと前記インナリードの境界部に
おける前記リードの間にはんだを材料としているダムバ
ーが埋め込まれた形状として設けられていることを特徴
とするリードフレーム。
1. A lead frame having a tab on which a chip on which a semiconductor element is formed is mounted, and a plurality of leads including an outer lead and an inner lead being arranged toward the inside of the frame. The lead frame is provided with a dam bar made of a solder material embedded between the leads at the boundary between the outer lead and the inner lead in the lead.
【請求項2】 請求項1記載のリードフレームにおい
て、前記ダムバーの厚さは、前記リードの厚さ以上であ
ることを特徴とするリードフレーム。
2. The lead frame according to claim 1, wherein the dam bar has a thickness equal to or larger than a thickness of the lead.
【請求項3】 請求項1または2記載のリードフレーム
において、前記ダムバーは、少なくとも樹脂封止工程に
おいて溶融しないはんだを材料としていることを特徴と
するリードフレーム。
3. The lead frame according to claim 1 or 2, wherein the dam bar is made of a solder that does not melt at least in a resin sealing step.
【請求項4】 請求項1または2記載のリードフレーム
において、前記ダムバーは、ペレットボンディング工
程、ワイヤボンディング工程および樹脂封止工程におい
て溶融しないはんだを材料としていることを特徴とする
リードフレーム。
4. The lead frame according to claim 1, wherein the dam bar is made of a solder that does not melt in a pellet bonding process, a wire bonding process and a resin sealing process.
【請求項5】 請求項1、2、3または4記載のリード
フレームにおけるタブに半導体素子が形成されているチ
ップが固着されており、前記チップの表面の接続電極と
前記リードフレームのインナリードとがボンディングワ
イヤにより接続されていると共に少なくとも前記チップ
および前記インナリードが樹脂封止体によりパッケージ
ングされていることを特徴とする半導体装置。
5. A chip on which a semiconductor element is formed is fixedly attached to a tab of the lead frame according to claim 1, 2, 3 or 4, and a connection electrode on the surface of the chip and an inner lead of the lead frame are provided. Is connected by a bonding wire, and at least the chip and the inner lead are packaged by a resin sealing body.
【請求項6】 はんだを材料としているダムバーを有す
るリードフレームにおけるタブに半導体素子が形成され
ているチップを搭載し、前記タブに前記チップを固着す
る工程と、ワイヤボンディング装置を使用して、前記チ
ップの表面の接続電極と前記リードフレームのインナリ
ードとをボンディングワイヤにより接続する工程と、 樹脂封止装置を使用して、成形金型に前記リードフレー
ムをセットして、封止用の樹脂を前記成形金型における
キャビティ部に圧入して樹脂封止体を形成し、少なくと
も前記チップおよび前記インナリードをパッケージング
する工程と、 前記ダムバーを加熱して前記ダムバーの材料であるはん
だを溶融し、前記リードフレームにおけるリードからダ
ムバーを取り除く工程とを有することを特徴とする半導
体装置の製造方法。
6. A step of mounting a chip having a semiconductor element formed on a tab of a lead frame having a dam bar made of solder, and fixing the chip to the tab, and using a wire bonding device A step of connecting the connection electrodes on the surface of the chip and the inner leads of the lead frame with a bonding wire, and using a resin sealing device, set the lead frame in a molding die and apply a resin for sealing. Forming a resin encapsulant by press-fitting into the cavity of the molding die, packaging at least the chip and the inner leads, and heating the dam bar to melt the solder, which is the material of the dam bar, And a step of removing the dam bar from the lead in the lead frame. Manufacturing method.
【請求項7】 リードフレームにおけるタブに半導体素
子が形成されているチップを搭載し、前記タブに前記チ
ップを固着する工程と、 ワイヤボンディング装置を使用して、前記チップの表面
の接続電極と前記リードフレームのインナリードとをボ
ンディングワイヤにより接続する工程と、 前記チップ固着工程または前記接続工程のいずれかの後
に、前記リードフレームにおけるアウタリードと前記イ
ンナリードの境界部における複数のリードの間にダムバ
ーの材料としてのはんだを設ける工程と、 樹脂封止装置を使用して、成形金型に前記リードフレー
ムをセットして、前記成形金型により前記ダムバーの材
料としてのはんだをプレスして前記複数のリードの間に
埋め込まれた形状とした後、封止用の樹脂を前記成形金
型におけるキャビティ部に圧入して樹脂封止体を形成
し、少なくとも前記チップおよび前記インナリードをパ
ッケージングする工程と、 前記ダムバーを加熱して前記ダムバーの材料であるはん
だを溶融し、前記リードフレームにおけるリードからダ
ムバーを取り除く工程とを有することを特徴とする半導
体装置の製造方法。
7. A step of mounting a chip having a semiconductor element formed on a tab of a lead frame and fixing the chip to the tab, and a connection electrode on the surface of the chip and the connection electrode using a wire bonding device. A step of connecting the inner lead of the lead frame with a bonding wire, and, after either of the chip fixing step or the connecting step, between the outer lead of the lead frame and the plurality of leads in the boundary portion of the inner lead of the dam bar. A step of providing solder as a material, and using a resin sealing device, set the lead frame in a molding die, press the solder as a material of the dam bar by the molding die, and press the plurality of leads. After being formed into a shape embedded between Forming a resin encapsulant by press-fitting into the lead portion, packaging at least the chip and the inner lead, and heating the dam bar to melt the solder, which is the material of the dam bar, and lead in the lead frame. And a step of removing the dam bar from the semiconductor device.
【請求項8】 請求項6または7記載の半導体装置の製
造方法において、前記ダムバーを加熱して前記ダムバー
の材料であるはんだを溶融し、前記リードフレームにお
けるリードからダムバーを取り除く工程は、前記リード
フレームの前記リードのメッキ処理工程においてダムバ
ーの材料であるはんだを溶融することにより行うことを
特徴とする半導体装置の製造方法。
8. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 6, wherein the step of heating the dam bar to melt the solder, which is a material of the dam bar, and removing the dam bar from the lead in the lead frame is the lead. A method of manufacturing a semiconductor device, which is performed by melting solder that is a material of a dam bar in the plating process of the lead of the frame.
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