JPH0810799B2 - Electronic component alignment method - Google Patents

Electronic component alignment method

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JPH0810799B2
JPH0810799B2 JP4271494A JP27149492A JPH0810799B2 JP H0810799 B2 JPH0810799 B2 JP H0810799B2 JP 4271494 A JP4271494 A JP 4271494A JP 27149492 A JP27149492 A JP 27149492A JP H0810799 B2 JPH0810799 B2 JP H0810799B2
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brightness
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健司 鈴木
清治 秦
良枝 西田
恭一 川崎
健二郎 藤井
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日立テクノエンジニアリング株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品のプリント基
板への自動搭載技術に係り、特にその自動搭載を視覚に
よって行うようにした電子部品の位置合せ方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for automatically mounting electronic parts on a printed circuit board, and more particularly to a method for aligning electronic parts by visualizing the automatic mounting.

【0002】[0002]

【従来の技術】これまで電子部品のプリント基板への実
装に関しては、例えば特開昭60−1900号公報に記載され
たものが知られている。
2. Description of the Related Art Up to now, the mounting of electronic components on a printed circuit board is known, for example, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 60-1900.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これに
よる場合は基板上のパターン位置を認識するのに位置決
めマークを必要とすることから、基板の設計変更が必要
となっている。また、ICのピン(端子、またはリード
ともいう)の位置を認識するのに特定のピン位置のみ認
識していることから、精度は望めないものとなってい
る。更にICの位置認識は複数の視野によっており、認
識速度が遅いという不具合がある。
However, in this case, since the positioning mark is required for recognizing the pattern position on the substrate, it is necessary to change the design of the substrate. Also, IC pins (terminals or leads)
(Also referred to as)) , the accuracy cannot be expected because it recognizes only a specific pin position. Further, since the position recognition of the IC depends on a plurality of visual fields, there is a problem that the recognition speed is slow.

【0004】本発明の目的は、面付け電子部品を精度良
好にして、しかも速やかに自動的にプリント基板に搭載
し得る電子部品の位置合せ方法を供するにある。
It is an object of the present invention to provide a method of aligning electronic components, which enables the imposition electronic components to have good precision and can be quickly and automatically mounted on a printed circuit board.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的は、電子部品の
少なくとも対向する2側方に並行に配列した複数の端子
を有する電子部品の位置合せ方法において、該複数の端
子のうち、同方向に並んだ複数の端子の平均位置から
子部品の位置と姿勢の情報を求め、該位置と姿勢の情報
にもとづいて上記電子部品の位置と姿勢を所望の位置と
姿勢に合せることで達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION The above object is to provide a method of aligning an electronic component having a plurality of terminals arranged in parallel on at least two opposite sides of the electronic component. Power is calculated from the average position of multiple terminals
Information on the position and orientation of child parts is obtained, and information on the position and orientation is obtained.
Based on the
It is achieved by adjusting to the posture .

【0006】[0006]

【作用】画像上に設定した測定線(サンプル線ともい
う)が電子部品のリードと交差し、かつ画像内に電子部
品を捕える条件を満たすように、画像と電子部品の相対
位置を設定した上で、測定線上の画素の明るさの分布に
もとづき、上記各リードと測定線との交点位置を平均す
ることで、測定線の方向におけるリードの列ごとの平均
位置が求まることから、電子部品の位置と姿勢が判り、
この情報にもとづいて上記電子部品の位置と姿勢を所望
の位置と姿勢に合せることを可能とした。
[Function] The measurement line (also called the sample line) set on the image
Based on the distribution of the brightness of the pixels on the measurement line, after setting the relative position of the image and the electronic component so that ( u) intersects the lead of the electronic component and satisfies the condition for capturing the electronic component in the image, Average the intersections of the above leads and the measurement line.
The average per lead row in the direction of the measurement line
Since the position is obtained, the position and orientation of the electronic component can be known,
Based on this information, the position and orientation of the electronic component is desired
It is possible to match the position and posture of.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明を図1から図8により説明する
が、その前にその理論的背景について簡単ながら説明し
ておく。ある物体の位置や姿勢を求める場合に同一物体
上の複数の標本点の位置の平均を求めることによって、
高精度に位置や姿勢の検出を行うことが可能である。独
立な標本点の数が多い程に精度は高くなるものである
が、その反面、処理速度の低下は免れ得ないものとなっ
ている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 8, but before that, its theoretical background will be briefly described. When obtaining the position and orientation of an object, by averaging the positions of multiple sample points on the same object,
It is possible to detect the position and orientation with high accuracy. The accuracy increases as the number of independent sample points increases, but on the other hand, the reduction in processing speed is inevitable.

【0008】ところで、電子部品のリードやこれが搭載
される接点のパターンは幅は狭いがその本数は多く、し
かも一定幅で直線上に並んだものとなっている。また、
機械的な位置決めによりそれらの大まかな位置・姿勢は
予め知れたのものとなっている。よって、画面の中に
部品のピン列や接点列とほぼ直交するようなサン
プル直線を引くことが可能となっている。この直線上で
の画像の明るさはピンや接点の配列と対応して波状とな
るが、一般にピン列や接点列は通常2列以上あるた
め、2以上の列を組合せることによって、それらの全体
的な位置・姿勢が正しく求められるわけである。
By the way, the patterns of the leads of the electronic parts and the contacts on which they are mounted are narrow in width but many in number, and are arranged in a straight line with a constant width. Also,
Due to the mechanical positioning, their rough position and orientation are known in advance. Thus, the power in the screen
It is possible to draw a sample straight line as is substantially perpendicular to the pin of the column and contacts column of the child component. Although the brightness of the images in this straight line becomes wavy in correspondence with the array of pins or contacts, one for rows of pins of the column and contacts the general there usually two or more rows, the combination of two or more columns Therefore, the overall position / orientation of them is correctly obtained.

【0009】さて、本発明を具体的に説明する。先ず本
発明に係るサーフェイスマウンタについて説明すれば、
図2はその一例での外観を示したものである。本例での
ものは、図示のように、直交形ロボット1、基板供給装
置2、IC供給装置3および視覚処理装置4から基本的
になり、これらは共通のベース上に固定されたものとな
っている。ロボットとしてはこの場合十分な位置決め精
度があれば関節形やスカラー形等でもよく、そのハンド
には電子部品としてのICを把持するためのチャック
や、基板を撮像するためのTVカメラが取り付けられる
ようになっている。TVカメラとしては、他にIC位置
検出用のTVカメラがベース上に上向きに固定された状
態で取り付けられるようになっている。
Now, the present invention will be specifically described. First, the surface mounter according to the present invention will be described.
FIG. 2 shows the appearance of the example. As shown in the figure, the present embodiment basically comprises an orthogonal robot 1, a substrate supply device 2, an IC supply device 3 and a visual processing device 4, which are fixed on a common base. ing. In this case, the robot may be a joint type, a scalar type, or the like as long as it has sufficient positioning accuracy, and a chuck for gripping an IC as an electronic component or a TV camera for picking up an image of a board is attached to the hand. It has become. As a TV camera, another TV camera for detecting the IC position is attached to the base in a state of being fixed upward.

【0010】サーフェイスマウンタの概要は以上のよう
であるが、次にこれの基本的な動作を図3に示すフロー
により説明すれば、先ず基板供給装置2の上で基板が機
械的に固定された状態でロボットハンドに固定されてい
るTVカメラがその基板上に移動することによって、基
板上におけるIC搭載用の接点パターンの正確な位置
が求められるようになっている。この後はハンドがIC
供給装置3に移動しこれからICを把持するが、ICは
IC位置検出用のTVカメラ上に移動されることによっ
て、ICとハンドとの位置ずれが検出されるようになっ
ている。視覚処理装置にて求められた接点パターンお
よびICの位置はロボットにフィードバックされること
によって、基板上の接点パターンにはICが位置合せ状
態良好にして搭載されるところとなるものである。搭載
すべきICがまだ存在する場合には以下、このような処
理動作を繰り返すわけである。
The outline of the surface mounter is as described above. Next, the basic operation of the surface mounter will be described with reference to the flow chart shown in FIG. 3. First, the substrate is mechanically fixed on the substrate supply device 2. By moving the TV camera fixed to the robot hand onto the board in this state, the accurate position of the pattern of the contact for mounting the IC on the board is required. After this, the hand is IC
Although the IC is moved to the supply device 3 and grips the IC from now on, the IC is moved onto the TV camera for detecting the IC position, so that the positional deviation between the IC and the hand is detected. Position of the contact patterns and IC of which is determined in the visual processing device by being fed back to the robot, the contact pattern on the substrate in which IC is about to be mounted in the aligned state is good. When the IC to be mounted still exists, the processing operation described above is repeated .

【0011】この場合搭載すべきICとしてはサーフェ
イス・マウンティング・パッケージ(フラット・パッケ
ージ)ICを対象とするが、その一例での平面と正面を
図4(a),(b)に、また、このIC5が搭載される
基板上での接点パターンを図5に示す。図示の如くIC
5は4つのピンの列5−1〜5−4を有するが、基板上
にはこれらピン列5−1〜5−4各々に対応する4つの
接点パターン列6−1〜6−4よりなる接点パターン
(6)が形成されるようになっている。基板上の接点パ
ターン上にICのピン列を対応させた状態で正しく載
せるためには、高い精度で位置合せを行う必要がある
が、基板供給装置による機械的な位置決めとロボットハ
ンドによるICチャック精度は十分とはいえなく、よっ
て、視覚的により高い精度で位置検出を行い位置検出情
報をロボットにフィードバックするようになっているも
のである。
In this case, as the IC to be mounted, a surface mounting package (flat package) IC is targeted. The plane and the front surface of an example thereof are shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b), and FIG. FIG. 5 shows a contact pattern on the board on which the IC 5 is mounted. IC as shown
5 has four rows of pins 5-1 to 5-4, from the pattern sequence 6-1 to 6-4 of the four contacts on the substrate corresponding to each of these pins columns 5-1 to 5-4 The contact pattern (6) is formed. To put correctly in a state of being associated with the pin array of the IC on the contact pattern on the substrate, it is necessary to perform alignment with high accuracy, IC chuck by mechanical positioning and a robot hand by the substrate feeder The accuracy is not sufficient, and therefore, the position is detected visually with higher accuracy and the position detection information is fed back to the robot.

【0012】既に述べたように、位置検出はTVカメラ
と視覚処理装置によって行われ、TVカメラはその一台
がロボットハンドに下向きに取り付けされ、基板上の接
点パターンを撮像する一方、他の一台はベース上に上向
きに固定され、その真上に位置決めされたハンドにチャ
ックされたICを撮像するようになっているが、TVカ
メラからの画像から位置検出を行う方法を図1,図6〜
図8により説明すれば以下のようである。
As described above, the position detection is performed by the TV camera and the visual processing device, and one of the TV cameras is attached downward to the robot hand to image the contact pattern on the substrate while the other one is imaged. The base is fixed upward on the base, and the IC chucked by the hand positioned directly above the base is imaged. A method for detecting the position from the image from the TV camera is shown in FIGS. ~
The explanation will be given below with reference to FIG.

【0013】即ち、基板上の接点のパターンやICのピ
ン列は画像上では何れも細長い長方形のパターンがその
長手方向と直角方向に一直線上に並んだものとなってい
る。但し、実際の画像では、この他に、配線パターンや
背景が併せて撮像される。さて、長方形パターンの各列
毎に図1(a),(b)に示すように、長方形と直交す
る方向にサンプル直線7を設定する。以下、1つの長方
形を単にパターンと記して説明する。サンプル直線7の
位置を画面内で固定したとすれば、パターンの位置は基
板個々やIC毎に少しずつずれるが、サンプル直線7と
必ず交わる程度には機械的に位置決めし得るものとなっ
ている。この場合でのサンプル直線7上での画像の明る
さは、図6に示すように、複数のパターンからなる配列
に対応して波状になるが、この波形から各パターンのサ
ンプル直線7方向での位置が求められるものである。例
えば図6に示す例では、パターンと背景との境界xi
求められている。図7に示すように、理想的な条件下で
は、パターンからの反射光波形は、明るさ(I)として
示すように、矩形となるのでパターンの境界を最も検出
しやすいが、明るさ(II)のように、波形がくずれて
いる場合には、山の頂上(極大点) i をとってパター
ンの中央を求める等の方法も採られるようになってい
る。
That is, on the image, the contact patterns on the substrate and the pin rows of the IC are all elongated rectangular patterns aligned in a direction perpendicular to the longitudinal direction. However, in the actual image, in addition to this, the wiring pattern and the background are also captured. Now, as shown in FIGS. 1A and 1B, a sample straight line 7 is set in a direction orthogonal to the rectangle for each column of the rectangular pattern . Below, one rectangle
The shape will be described simply as a pattern. If the position of the sample straight line 7 is fixed within the screen, the position of the pattern may be slightly shifted for each substrate or each IC, but the position can be mechanically positioned so as to always intersect with the sample straight line 7. . The brightness of the image on the sample straight line 7 in this case has a wavy shape as shown in FIG. 6 corresponding to an array of a plurality of patterns . The position is required. For example, in the example shown in FIG. 6, the boundary x i between the pattern and the background is obtained. As shown in FIG. 7, under ideal conditions, the reflected light waveform from the pattern has a rectangular shape as shown as the brightness (I), so that the boundary of the pattern is most easily detected. ), When the waveform is distorted, the peak of the mountain (maximum point) a i A method such as taking the center of the pattern by taking is also adopted.

【0014】ここで図8を用いパターンの境界を求める
方法について具体的に説明すれば、照明の状態が良好で
あって、画面の明るさが一様な場合(明るさ(II
I))は、明るさの閾値を適当に定めこれより明るい範
囲、または暗い範囲の両端画素位置をパターンの境界と
して求めればよい。また、明るさが明るさ(III)に
ほぼ同様な場合(明るさ(IV))に、閾値をはさむ両
側の画素の間の明るさの勾配を考慮に入れて、閾値と同
じ明るさになる位置を小数点を含む実数値で求めるよう
にすれば、精度は更に向上されることになる。更に照明
条件が良好でなく画面の明るさが一様でない場合(明る
さ(V))には、一つの閾値によってはすべてのパター
ンを明るい範囲と暗い範囲に分離し得ないが、このよう
な場合には隣接する画素間での明るさ勾配が最大となる
画素の位置を境界として求めたり、あるいは山から谷ま
での範囲毎に荷重平均A/Bを求めるなどの方法が採ら
れるようになっている。但し、A,Bはそれぞれ数式
1,2として以下のように求まる。
The method for obtaining the boundary of the pattern will be described in detail with reference to FIG. 8. When the illumination condition is good and the screen brightness is uniform (brightness (II
In I)), the brightness threshold value is appropriately set, and the pixel positions at both ends of a brighter range or a darker range than this may be determined as the boundary of the pattern. Further, when the brightness is almost the same as the brightness (III) (brightness (IV)), the brightness becomes the same as the threshold by taking into consideration the brightness gradient between the pixels on both sides of the threshold. If the position is obtained as a real value including a decimal point, the accuracy will be further improved. Further, when the illumination condition is not good and the brightness of the screen is not uniform (brightness (V)), it is not possible to separate all patterns into a bright range and a dark range depending on one threshold value. In this case, methods such as obtaining the position of a pixel having the maximum brightness gradient between adjacent pixels as a boundary, or obtaining the weighted average A / B for each range from a mountain to a valley have been adopted. ing. However, A and B are obtained as the following formulas 1 and 2, respectively.

【0015】[0015]

【数1】 [Equation 1]

【0016】[0016]

【数2】 [Equation 2]

【0017】以上のようにして、サンプル直線方向での
長方形パターン位置座標列{xi|i=1,・・,
n|}が求まったならば、その平均値Uは数式3として
以下のように求められるものとなっている。
[0017] As described above, the position coordinate sequence of rectangular patterns in the sample linear direction {xi | i = 1, ·· ,
When n |} is obtained, the average value U is obtained as Equation 3 as follows.

【0018】[0018]

【数3】 (Equation 3)

【0019】この平均値Uよりパターン各列のサンプル
直線方向での位置が求められるものである。このように
して各列毎のサンプル直線方向での位置が求められたな
らば、次にはその組合せによりICや接点パターン全
体の位置が求められるようになっている。ところで、フ
ラット・パッケージICにはピンが4方向に出ているも
のと、2方向に出ているものの2通りがあり、それに対
応して画像のパターンも図1(a),(b)に示すよう
に2種類となる。この場合対向する2つの列は互いに平
行である。
From the average value U, the position of each pattern row in the sample straight line direction can be obtained . If as this is the position of the sample linear direction for each column was determined, the position of the entire pattern of the IC and the contact is adapted to be determined by the following combination thereof. By the way, there are two types of flat package ICs, one having pins in four directions and the other having pins in two directions. Correspondingly, the image patterns are also shown in FIGS. 1A and 1B. There are two types. In this case, the two opposing rows are parallel to each other.

【0020】先ず図1(a)に示す4方向パターンの場
合は、4つのパターン列からそれぞれ平均値としての
座標U1,U2,V1,V2が求められるが、ここでU
1とU2,V1とV2をそれぞれ直線で結びその交点
(U,V)を全体の位置として定義し、また、2直線の
2等分線方向はベクトルDとして、全体の方向を示すも
のとして定義されるようになっている。このベクトルD
が回転ずれ情報を与えるようになっているわけである。
[0020] First the case of the four directions pattern shown in FIG. 1 (a), but the coordinates U1, U2, V1, V2 as each average value is obtained from the columns of four patterns, where U
1 and U2, V1 and V2 are respectively connected by a straight line, and the intersection point (U, V) is defined as the overall position, and the bisector direction of the two straight lines is defined as a vector D, which indicates the overall direction. It is supposed to be done. This vector D
Is to give rotation deviation information.

【0021】次に図1(b)に示す2方向パターンの場
合には、サンプル直線方向での精度のみが問題となり、
これと直交する方向の精度は機械的位置決めで十分であ
る。よって、全体の位置(U,V)はVは固定、Uは
(U1+U2)/2として求められ、また全体の方向は
U1とU2とを結ぶベクトルDとして定義されるように
なっている。
Next, in the case of the bidirectional pattern shown in FIG. 1 (b), only the accuracy in the sample straight line direction becomes a problem,
Mechanical positioning is sufficient for accuracy in the direction orthogonal to this. Therefore, the overall position (U, V) is determined as V is fixed and U is determined as (U1 + U2) / 2, and the overall direction is defined as a vector D connecting U1 and U2.

【0022】このようにして、フラットパッケージIC
や基板上の接点パターンの位置が正しく求められるも
のであり、これら位置情報にもとづきロボットは面付け
部品としてのICを接点パターン上に正しく搭載すると
ころとなるものである。
In this way, the flat package IC
And the position of contact of the pattern on the substrate are those for which it is determined correctly, the robot based on these position information and serves as a place for properly mounting the IC as imposition components on contact pattern.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、電子部品の位置
とその姿勢が求められるから、面付け電子部品を精度良
好にして、しかも速やかに自動的にプリント基板に搭載
し得るものとなっている。
As described above , the position of the electronic component
Therefore, it is possible to mount the imposition electronic component on the printed circuit board with high accuracy and promptly and automatically.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1(a),(b)は、画像パターンより面付
け部品や接点パターンの位置と回転方向を求める方法を
説明するための図
1A and 1B are views for explaining a method for obtaining a position and a rotation direction of an imposition component or a contact pattern from an image pattern.

【図2】図2は、本発明に係るサーフェイスマウンタの
外観構成を示す図
FIG. 2 is a diagram showing an external configuration of a surface mounter according to the present invention.

【図3】図3は、その動作のフローを示す図FIG. 3 is a diagram showing a flow of the operation.

【図4】図4(a),(b)は、一例でのフラット・パ
ッケージICの平面と正面を示す図
4A and 4B are views showing a plane and a front of a flat package IC in an example.

【図5】図5は、そのICが搭載される接点パターンを
示す図
FIG. 5 is a diagram showing a contact pattern on which the IC is mounted.

【図6】図6は、パターン対応のサンプル点を求める方
法を説明するための図
FIG. 6 is a diagram for explaining a method of obtaining a sample point corresponding to a pattern.

【図7】図7は、同じくパターン対応のサンプル点を求
める方法を説明するための図
FIG. 7 is a diagram for explaining a method of similarly obtaining sample points corresponding to patterns.

【図8】図8は、同じくパターン対応のサンプル点を求
める方法を説明するための図
FIG. 8 is a diagram for explaining a method of similarly obtaining sample points corresponding to patterns.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…直交形ロボット、2…基板供給装置、3…IC供給
装置、4…視覚処理装置、5…フラット・パッケージI
C、5−1〜5−4…ピン列、6−1〜6−4…接点パ
ターン列、7…サンプル直線
1 ... Orthogonal robot, 2 ... Substrate supply device, 3 ... IC supply device, 4 ... Visual processing device, 5 ... Flat package I
C, 5-1 to 5-4 ... Pin row, 6-1 to 6-4 ... Contact pattern row, 7 ... Sample straight line

フロントページの続き (72)発明者 川崎 恭一 千葉県習志野市東習志野七丁目1番1号 株式会社 日立製作所 習志野工場内 (72)発明者 藤井 健二郎 千葉県習志野市東習志野七丁目1番1号 株式会社 日立製作所 習志野工場内 (56)参考文献 特開 昭54−89760(JP,A) 特開 昭59−180307(JP,A) 特開 昭60−62200(JP,A)Front page continued (72) Inventor Kyoichi Kawasaki 7-1-1 Higashi Narashino Higashi Narashino, Narashino City, Chiba Prefecture Hitachi Narashino Factory (72) Inventor Kenjiro Fujii 7-1 Higashi Narashino City, Narashino, Chiba Hitachi, Ltd. Narashino Factory (56) Reference JP 54-89760 (JP, A) JP 59-180307 (JP, A) JP 60-62200 (JP, A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の並行に配置された端子からなる列
を複数備えた電子部品を視覚処理装置の画像内に捕え、
かつ、前記列をなす複数の端子の各々と交差する条件を
満たす測定線を前記画像上に設定し、前記各測定線上の
画素の明るさ分布から前記各端子の境界と前記測定線と
の交点の位置を求め、前記端子の列ごとに複数の前記交
点の位置を平均して前記各測定線の方向における前記列
の複数の端子の平均位置を求め、前記電子部品の対向す
る位置に配置されている前記端子の列の前記平均位置を
相互に結ぶ直線から、画像上に設定されている座標を基
準にした前記電子部品の位置と姿勢の情報を求め、該位
置と姿勢の情報にもとづいて前記電子部品の位置と姿勢
を所望の位置と姿勢に合せることを特徴とする電子部品
の位置合せ方法。
1. A row of terminals arranged in parallel.
Capture the electronic parts equipped with multiple in the image of the visual processing device,
In addition, the condition of intersecting each of the plurality of terminals forming the row is
Set the measurement line to meet on the image, on each of the measurement line
From the brightness distribution of the pixel, the boundary of each terminal and the measurement line
The position of the intersection of the
The rows in the direction of each of the measurement lines by averaging the positions of the points
The average position of multiple terminals of
The average position of the row of terminals arranged at
From the straight lines connecting each other, the coordinates set on the image
Obtain the information of the position and orientation of the electronic component that is standardized,
Position and orientation of the electronic component based on the position and orientation information
Alignment method of the electronic component, wherein Rukoto combined in a desired position and orientation.
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