JPH0797008B2 - 非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の測定方法と装置 - Google Patents

非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の測定方法と装置

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JPH0797008B2
JPH0797008B2 JP61233393A JP23339386A JPH0797008B2 JP H0797008 B2 JPH0797008 B2 JP H0797008B2 JP 61233393 A JP61233393 A JP 61233393A JP 23339386 A JP23339386 A JP 23339386A JP H0797008 B2 JPH0797008 B2 JP H0797008B2
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フラウンホーファー―ゲゼルシャフト ツール フェルデング デア アンゲヴァンテン フォルシュング エー． ファウ
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の測
定、特に鉄筋の直径とコンクリート被覆の厚さを、磁場
に対する強磁性物体の影響を検出し処理する測定方法と
該方法を実施するための装置とに関する。
（従来の技術及び解決すべき問題点） EP−A1−０ 080 676はコンクリート被覆の厚さの決定
のための検査装置を記載しているが、該装置によれば鉄
筋コンクリート構造物またはコンクリート部分の検査時
に指定のコンクリート被覆の厚さが遵守されているかを
決定できる。公知の検査装置ではコンクリート被覆厚さ
の決定のために、強磁性物体部分への距離に依存して変
化する永久磁石または永久磁石システムの吸引力が使用
される。しかしこのためには該検査装置は予め指定のコ
ンクリート被覆厚さに対して校正されねばならない。こ
のため、該検査装置の操作は不安定となり大きな誤差が
伴なう。
更に、並列共振回路のインピーダンスの原理に基づいて
作動するコクリート被覆の厚さ測定装置および鉄筋の直
径の測定装置が知られている。これらの装置においては
ある周波数の交流がピックアップコイルに流され、該コ
イルによって交番磁場が生成される。この交番磁場の有
効領域にある金属物体は、被覆の厚さと鉄筋直径に依存
してコイル電圧に変化を生じる。未知の鉄筋直径の場
合、例えば、プロセックS.A.社（チューリッヒ）の説明
書にあるような鉄筋測定装置においては、大きな測定誤
差が発生する。鉄筋直径が既知であれば磁気抵抗測定に
よって被覆の厚さを測定することも可能である。経験的
校正による渦電流抵抗測定では鋼中の透磁率が大きく変
化するために問題がある。
以上の技術的状況から、本発明の目的は校正部材または
比較部材を必要とせずに被覆の厚さと鉄筋直径とを、或
いは鉄筋の中心位置を決定可能とする方法および装置を
提供することである。
（発明の構成） 上記目的は本発明に従って下記の特徴を有する冒頭に記
載のタイプの方法によって達成される。即ち、本発明の
基本的測定方法によれば、 非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の寸法および位
置の測定方法であって、磁場に対する強磁性物体の影響
を検出し処理する測定方法において、 非磁性体材料の表面において前記強磁性物体の上方にＵ
字形載置用磁石を移動可能に載置して、前記磁石の磁極
間の磁場の該表面に直角な直交成分の強さが該表面にお
いて走査検出されその走査曲線が記憶されることと、 該強磁性物体の不在時に、前記磁石の不載置状態での両
磁極間の該表面における磁場の直交成分の走査曲線が検
出され記憶され、かつ前記磁石の励磁電流に依存する磁
極間の励起磁場強さを示す校正曲線が予め記憶されるこ
とと、 前記両走査曲線から差曲線が形成され、該差曲線に現わ
れる２つの極値の差から該非磁性体材料の該表面と該強
磁性物体の中心との距離が決定されることと、および 前記２つの極値の前記差と、該磁場の前記２つの極値の
一方に関連する値と、および前記校正曲線から得られる
前記強磁性物体の位置における励起磁場強さとから、前
記強磁性物体の直径並びにこれにより前記強磁性物体の
表面と前記非磁性体材料の該表面との距離とが決定され
ることとを特徴とする。
さらに、本発明の測定装置は、上記測定方法を実施する
ために用いることができる装置であり、 非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の寸法および位
置の測定装置であって、磁場に対する強磁性物体の影響
を検出し処理する測定装置において、該装置は、 Ｕ字形ヨーク（２）上に直流電流を供給される励磁コイ
ル（３）を備えた磁石装置（１）を有し、 該磁石の磁極片（４、５）間には該載置の平面（８）に
直角な該磁場（６、15）の直交成分の走査装置（20）が
設けられ、 走査検出信号の処理装置（40〜60）を有することを特徴
とする非磁性体材料内に配置されたことを特徴とする。
さらに本発明の補助的測定方法によれば 非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の埋設位置の測
定方法であって、磁場に対する強磁性物体の影響を検出
し処理する測定方法において、 非磁性体材料の表面において前記強磁性物体の上方にＵ
字形載置用磁石を移動可能に載置して、前記磁石の磁極
間の磁場の該表面に直角な直交成分の強さが該表面にお
いて走査検出されその走査曲線が記憶されることと、 該強磁性物体の不在時に、前記磁石の不載置状態での両
磁極間の該表面における磁場の直交成分の走査曲線が検
出され記憶されることと、 前記両走査曲線から差曲線が形成され、該差曲線に現わ
れる２つの極値の差から該非磁性体材料の該表面と該強
磁性物体の中心との距離が決定されることと、を特徴と
する。
この強磁性物体の埋設位置の測定方法は、前記基本的測
定方法の前段部をなすものであるが、予備的に基本測定
の目安をたてるために用いることができ、或いは独立し
て用いることができる。なおこの目的のためには校正曲
線による校正は必ずしも必要でない。
本発明の目的に適当な更に詳細な実施例と形態は従属特
許請求範囲において特徴づけられる。なお請求の範囲に
付記した図面参照符号は、理解を助けるためであり図示
の態様に必ずしも制限することを意図しない。
（好適な実施の態様） 次に本発明を実施例に従って詳述する。
第１図はＵ字形ヨーク２を備えた載置用磁石１の概略断
面図であって、該磁石１上には直流電流に接続可能な励
磁コイル３が巻かれている。励磁コイル３が図示されな
い直流電源に接続されると、載置用磁石１の磁極片4,5
間に磁気的に定常な場の形で磁場６が形成される。図中
にＳで示す南極とＮで示す北極との位置は励磁コイル３
に接続された直流電源の極性に依存する。磁極片4,5間
のある固定位置における磁場６の強さは励磁コイル３の
電流強度に応じて線型に増加する。磁場６は空間的には
一様でないが、ヨーク２の参照符号７で示す対称軸に関
しては対称的である。
載置用磁石１が強磁性物体特に補強材または鉄筋を含ま
ないコンクリート９の表面８上に載置された場合には、
第１図に示す磁場６の状態は変化しない。従って第１図
に示す磁場６の状態はコンクリート中でも空気中でも同
一である。
第２図は磁極片4,5の平面図を磁極片4,5間に直線的に延
びる走査経路10と共に示す。表面８上の走査経路10に位
置座標ｘを関連づければ、表面８に直角方向の磁場６の
直交成分（以下垂直成分とも称する）は、第２図に示さ
れた磁場強さの走査曲線11となる。垂直成分の大きさは
ｘの関数として表わされHNI（ｘ）で示される。第１図
の矢印12の方向は第２図で明らかなように対称軸７の左
側では垂直成分の正の値に、対称軸の右側では垂直成分
の負の値に対応する。
第３図は第１図に関連して説明された部分を同一の参照
番号で示す。第３図においては、表面８の下方に鉄筋14
が対称軸７上に示されている。鉄筋14は図に示された直
径ｄを持つ。
第３図に示すように磁場６の領域内において、補強用鉄
筋14がコンクリート９内に存在すると、鉄筋14はその長
軸に直角に磁場６（磁束線12）を生ずる。この場合磁化
された鉄筋14は誘導磁場として作用する、磁場６に線型
的に重なる磁場強さHsの漏洩磁束15を生じて反応を示
す。漏洩磁束15は第３図から直ちに分るように双極子磁
場の特性を有する。
磁場６と漏洩磁束15の重なりによって生成される総磁場
を走査するために、第７図に概略図を示す磁場検出部16
が第４図に示される磁極片4,5間の走査経路10にそって
コンクリート９の表面８上を案内されると、垂直成分に
関して、第２図に検査手順Ｉに対して示される走査曲線
11の代りに、検査手順IIに対して第４図に示される垂直
成分（HNII（ｘ）を持つ走査曲線17が得られる。走査曲
線11と17はその変化の推移が明らかに相異している。励
起磁場６と漏洩磁束15の重ね合せによる磁場の検出に使
用される磁場検出部16は、合成磁場の垂直成分にのみ応
答するように方向づけられたホール効果検出器でもよ
い。
第５図は漏洩磁束15の走査曲線18（差曲線として得られ
る）HNS（ｘ）を示す。HNS（ｘ）は第３図に示されたコ
ンクリート被覆の厚さYuと、鉄筋直径ｄと、鉄筋の位置
つまり表面８から（Yu＋d/2）の距離における励起磁場
強さＨとだけから決定される。走査曲線HNS（ｘ）また
は漏洩磁束曲線は走査曲線17と11の差を得ることによっ
て導けるので以降走査差曲線または差曲線と呼ぶ。
コンクリート８内に埋設された鉄筋14に対する差曲線18
の関係を第５図と第６図に示す。
垂直成分の大きさを示す差曲線18と鉄筋の直径ｄとの関
係は第５図に示す垂直成分の差曲線18の最大値Maxと最
小値Minとの差から得られる。差曲線18の最大値と最小
値の位置は励起磁場６の強さＨには依存しない。両極値
間のｘ軸に沿っての距離をデルタ（Δ）ｘとして表わせ
ば、鉄筋14の中心とコンクリート９の表面８との距離は
以下のように示される。（これは補助測定としても、独
立した測定としても行いうる。） 鉄筋14の直径ｄに関しては次式が成立する。
上式においてＨは鉄筋の位置（Yu＋d/2）での励起磁場
強さである。磁場強さＨはヨーク寸法（形状）に依存
し、使用される各ヨークに対して空気中で更に励磁コイ
ル３内の各電流強度Ｉに対して対称軸上でかつ距離とし
て検査されるべき（Yu＋d/2）に関して決定され、校正
曲線に基づいて校正して導き出されねばならない。電流
強度Ｉは励起磁場強さＨに対して線型係数の関係にあ
る。
第１図の装置において対称軸にそって鉄筋中心までの全
ての距離に関して励起磁場強さＨが校正曲線に与えられ
れば、式（１）を用いて鉄筋中心までの距離がΔｘから
決定され、この距離に対応する励起磁場強さの値Ｈは最
大値MaxとΔｘに対する値と共に式（２）に代入されてd
2を決定する。これによって式（１）と（２）から被覆
の厚さYuが直接得られる。
以上の説明から、強磁性体鉄筋材料の磁気的に均一な場
に対する影響を検出し処理することによって、コンクリ
ート内の鉄筋の未知の直径とコンクリート被覆の未知の
厚さとを短い処理ステップで測定できることが示され
た。このためには検査対象のコンクリート９を上記載置
用磁石１で走査する必要がある。続いて磁極片4,5間の
磁場6,5の表面８に直角方向の垂直成分の走査曲線17が
該表面８にそって検出され記憶される。載置用磁石１を
該表面８から十分離れた位置（例えば高い位置）に配設
した後、強磁性物体の不在時における磁極片4,5間の磁
場６の垂直成分の走査曲線11が検出され記憶される。こ
の場合上記磁場検出部16またはホール効果検出装置を使
用し得る。更に、励磁電流と各ヨーク寸法に依存する磁
極片4,5間の励起磁場強さＨを含む校正曲線を検出し記
憶する必要がある。検出された測定値の処理のため走査
曲線17と11から差曲線18が形成され、Δｘとして示した
両極値の差から、式（１）を用いて鉄筋中心とコンクリ
ート９の表面８との距離を決定する。最後に両極値の差
から、すなわち、例えば値Maxと、鉄筋中心位置での励
起磁場強さに対して校正曲線から得られた値Ｈとから、
式（２）を用いて鉄筋の直径ｄが決定される。鉄筋の半
径分だけ短い被覆の厚さYuは最終的には単純に差を求め
ることで得られる。
第７図はコンクリート９の表面８上の走査経路10にそっ
て重なりによって形成される磁場の検出のための走査装
置20の概略図である。
走査装置20は磁極片4,5間に案内棒21を持ち、案内棒21
上には検出部保持装置22が案内棒21上の摺動軸受によっ
て磁極片4,5間で縦方向に移送可能に案内される。検出
部保持装置22上には上記磁場検出部16が設けられ図示さ
れない電気導体を介して以下に説明する処理装置に接続
される。
検出部保持装置22はステッピングモータ23によって磁極
片4,5間で移送されるので、走査経路10にそって任意の
ｘ座標が制御され得る。このために、ステッピングモー
タ23の軸は、検出部保持装置22に対するウォーム歯車駆
動部を形成するためにウォーム歯車シャフト24に連結さ
れる。磁極片4,5の間の磁場検出部16の位置は、走査装
置20の寸法とステッピングモータ23に供給されステッピ
ングモータ23を一定のステッピング角だけ回転させるク
ロックパルスとから決定される。磁場検出部16の位置は
ステッピング回数とウォーム歯車24の駆動に依存する１
ステップ当りの検出部推進量とから、ヨーク２の基体部
分に対する相対的な値として得られる。ステッピング回
数は処理装置のメモリ内に位置座標として記憶されても
よいしまたは個々のステッピング用クロックをメモリ番
地を進めるために使用してもよい。
第７図では機械的に作動可能な走査装置を示したが、第
８図に示す走査装置は各々垂直成分に応答する複数個の
磁場検出部31を含む検出部支持装置30を有する。
走査曲線17を得るため、個々の磁場検出部31から送出さ
れた値は電気的クロック処理と多重化処理を介して処理
装置の入力に供給される。個々の磁場検出部31の順次的
クロック処理に加えて、全ての強さ値を並列的に検出し
記憶することも可能である。順次走査の場合、例えば各
クロックによって、走査曲線17に対するメモリの新番地
への切替を行なうため、個々の磁場検出部31間の切替時
に使用されるクロックを位置情報に関係づけるように装
置を構成してもよい。クロック数をディジタルの第１信
号としてメモリに供給し、これに強さ値を第２ディジタ
ル信号として関係づけることも可能である。
垂直成分の検出のために個々の磁場検出部31を密に列べ
た第８図の構成は第７図の機械的構成に普通みられる機
械部材の待ちと機械構成の低速度に関する欠点を除去す
る。
既述の方法を実施するためおよび第７図に示す走査装置
20から供給される信号を処理するための処理装置を第９
図に示す。走査装置20の磁場検出部16は走査曲線11,17
のアナログ値を対応するディジタル値に変換するアナロ
グ／ディジタル変換器40に結合される。アナログ／ディ
ジタル変換器40の出力は電子切替器41に接続される。検
査ステップＩにおいてヨーク２を表面８から離して高位
置にした場合磁場検出部16のディジタル信号は第１メモ
リ42へ達する。検査ステップIIにおいてヨークを載置し
た場合磁場検出部16のディジタル信号は切替器41を介し
て第２メモリ43に達する。従って第１メモリ42は走査曲
線11の複数個の走査点のためのメモリとなる、第２メモ
リ43は走査曲線17の複数個の走査点のためのメモリとな
る。この場合記憶された値は各々垂直成分を示し、ｘ座
標に対応した値は他のメモリ44に保持されるか、または
メモリ42,43の番地指定することによって決定される。
後者の場合、走査された縦座標値は連続的にメモリ42,4
3に記憶されるが、ここで位置情報は各番地に従って決
定される。
メモリ42,43の出力は減算回路（手段）45の両入力に結
合される。減算回路45は上記走査曲線17と当初説明した
走査曲線11との差を形成する。減算回路45の出力には差
曲線18の各々の値が現われるので、シーケンシャルにメ
モリ42,43を制御することで差曲線18の全体を減算回路4
5の出力に得ることができる。
減算回路45の出力は差曲線18の記憶域のための差メモリ
46に供給される。
処理計算装置47は差メモリ46にアクセスし、これによっ
て上記の式（１）と（２）を用いて、差メモリ（46）に
記憶された差曲線18のデータから鉄筋14の直径ｄと被覆
の厚さYuを決定できる。更に処理計算装置47によって差
曲線18の最大値と最小値が先ず決定され続いて別に記憶
されたまたは番地情報から決定された位置座標を考慮し
て最大値と最小値間の間隔Δｘが得られる。
式（１）と（２）から計算された値は次に被覆の厚さの
ための表示装置48と直径用表示装置49とに表示される。
第９図から分るように処理計算装置47には校正メモリ50
が備えられ、該校正メモリ50はコンクリート表面からの
鉄筋の中心への各種距離（ｙ軸上の位置）に対して電流
強度Ｉとヨーク２の各々固定のヨーク寸法とを考慮した
磁場強さＨを参照データ（校正曲線）として予め記憶す
る。この校正曲線を用いて、校正が行われ、所定距離ｙ
での正確な磁場強さＨが得られ、式（２）に従い鉄筋の
直径ｄが得られる。
第７図の走査装置20のための処理装置を以上の通り、第
９図に示したが、第８図の検出部支持装置30を持つ走査
装置20のための処理装置を第10図に示す。該支持装置30
上には複数個の磁場検出部31が例えば等間隔で配列され
る。
個々の磁場検出部31はマルチプレクサ60の入力に結合さ
れ、マルチプレクサ60はこれらの磁場検出部31をアナロ
グ／ディジタル変換器40の入力に順次接続する。第９図
の実施例に対応して、アナログ／ディジタル変換器40は
電子切替器41に結合される。個々の磁場検出部31で検出
された垂直成分は切替器41を介して、検査ステップＩで
は第１メモリ42に、検査ステップIIでは第２メモリ43に
達する。走査経路に関する位置情報は個々の磁場検出部
31をクロック処理するマルチプレクサ60のクロック数に
よって得られる。
第９図の実施例に対応して第10図の実施例でもメモリ4
2、43の出力は減算回路45に結合され、その出力は差曲
線18を記憶する差メモリ46に結合される。鉄筋中心から
表面８への各距離に対して校正メモリ50に記憶された磁
場強さＨの校正曲線を考慮して、処理計算装置47は差メ
モリ46に含まれる測定値を式（１）、（２）に従い処理
して、正確な値を求め、被覆の厚さのための表示装置48
と鉄筋14の直径のための表示装置49とに計算結果を表示
する。
（発明の効果） 本発明によれば、校正部材または比較部材を必要とせず
に被覆の厚さとコンクリートに埋設された鉄筋直径を同
時に測定することが可能であり、高い測定精度により迅
速測定可能であり装置的にも簡単である。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の方法を実施するための載置用磁石の横
方向断面図を強磁性体の不在時の磁場と共に示す。 第２図は第１図の載置用磁石の磁極片の平面図を磁場変
化に対する走査曲線と共に示す。 第３図は第１図に対応する図でここでは鉄筋が載置用磁
石の対称軸上を磁場を横切って延長している。 第４図は該磁場内の強磁性物体の走査時における走査曲
線の変化を評価するための図で第２図に対応している。 第５図は鉄筋によって形成された差曲線を示す。 第６図は載置用磁石の磁極片間に設けられた走査経路を
示す。 第７図は機械的作動可能な磁場検出部を持つ走査装置を
示す。 第８図は検出部アレー支持部に設けられた複数個の別個
の磁場検出部を持つ走査装置を示す。 第９図は第７図の走査装置に接続するための処理装置を
示す。 第10図は第８図の走査装置に接続するための処理装置を
示す。 第11図は校正曲線の一例を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 オットー・クロッゲル 西ドイツ 6100 ダルムシュタット、ミュ ールタールシュトラーセ 68 (72)発明者 クリストフ・フリッツ 西ドイツ 6100 ダルムシュタット、アハ シュトラーセ 10 (72)発明者 ヨッヘン・ファイ 西ドイツ 6100 ダルムシュタット、マウ エルシュトラーセ １ (56)参考文献 米国特許4531091（ＵＳ，Ａ)

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の
    寸法および位置の測定方法であって、磁場に対する強磁
    性物体の影響を検出し処理する測定方法において、 非磁性体材料の表面において前記強磁性物体の上方にＵ
    字形載置用磁石を移動可能に載置して、前記磁石の磁極
    間の磁場の該表面に直角な直交成分の強さが該表面にお
    いて走査検出されその走査曲線が記憶されることと、 該強磁性物体の不在時に、前記磁石の不載置状態での両
    磁極間の該表面における磁場の直交成分の走査曲線が検
    出され記憶され、かつ前記磁石の励磁電流に依存する磁
    極間の励起磁場強さを示す校正曲線が予め記憶されるこ
    とと、 前記両走査曲線から差曲線が形成され、該差曲線に現わ
    れる２つの極値の差から該非磁性体材料の該表面と該強
    磁性物体の中心との距離が決定されることと、および 前記２つの極値の前記差と、該磁場の前記２つの極値の
    一方に関連する値と、および前期校正曲線から得られる
    前記強磁性物体の位置における励起磁場強さとから、前
    記強磁性物体の直径並びにこれにより前記強磁性物体の
    表面と前記非磁性体材料の該表面との距離とが決定され
    ることとを特徴とする測定方法。
  2. 【請求項２】非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の
    寸法および位置の測定装置であって、磁場に対する強磁
    性物体の影響を検出し処理する測定装置において、該装
    置は、 Ｕ字形ヨーク（２）上に直流電流を供給される励磁コイ
    ル（３）を備えた磁石装置（１）を有し、 該磁石の磁極片（４、５）間には該載置の平面（８）に
    直角な該磁場（６、15）の直交成分の走査装置（20）が
    設けられ、 走査検出信号の処理装置（40〜60）を有することを特徴
    とする非磁性体材料内に配置されたことを特徴とする強
    磁性物体の測定装置。
  3. 【請求項３】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て前記処理装置は、アナログ／ディジタル交換器と、走
    査によって得られた走査曲線（11、17、18）を記憶可能
    なメモリ（42、43、46）とを含むことを特徴とする測定
    装置。
  4. 【請求項４】特許請求の範囲第２項又は第３項に記載の
    装置において、該処理装置は、検査対象の該強磁性物体
    の不在時に得られる第１の走査曲線（11）と該強磁性物
    体の存在時に得られる第２の走査曲線（17）の差曲線
    （18）を得るための減算回路（45）を有することを特徴
    とする測定装置。
  5. 【請求項５】特許請求の範囲第４項に記載の装置におい
    て、該処理装置は、 前記減算回路（45）の出力が差曲線メモリ（46）に供給
    され、該差曲線メモリの出力は校正メモリ（50）を備え
    た計算手段（47）に供給され、該計算手段は前記校正メ
    モリ（50）から得られた値を考慮して該差曲線（18）を
    処理することによって、該非磁性体材料（９）の被覆の
    厚さ（Yu）と該強磁性物体（14）の直径（ｄ）とを決定
    することを特徴とする測定装置。
  6. 【請求項６】特許請求の範囲第５項に記載の装置におい
    て、該処理装置は、 前記計算手段（47）が該非磁性体材料の被覆の厚さ（Y
    u）の表示装置（48）と該強磁性物体の直径（ｄ）の表
    示装置（49）とを備えたことを特徴とする測定装置。
  7. 【請求項７】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て、該走査装置は、 磁場検出部（16）を備えた検出部保持装置（22）が前記
    磁極片（４、５）間に設けられ、該保持装置（22）は前
    記磁極片（４、５）間の案内棒（21）上に案内され、ス
    テッピングモータ（23）によって駆動されるウォーム歯
    車駆動部（24）によって移送されることを特徴とする測
    定装置。
  8. 【請求項８】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て、該走査装置は、 検出部アレー支持部（30）を前記磁極片（４、５）間に
    備え、該支持部（30）は個々の磁場配列の出力信号が走
    査可能にされることを特徴とする測定装置。
  9. 【請求項９】特許請求の範囲第７項または第８項に記載
    の装置において、該処理装置は、 該磁場検出部（16、31）によって走査された磁場の強さ
    の変化が、磁場の強さ（６、11、17、18）の数値化され
    た個々の値を複数個含むシーケンシャルな記憶によって
    得られることを特徴とする測定装置。
  10. 【請求項１０】前記磁石装置において、前記磁極片
    （４、５）間の距離が調節可能であることを特徴とする
    特許請求の範囲第２項に記載の測定装置。
  11. 【請求項１１】非磁性体材料内に埋設された強磁性物体
    の埋設位置の測定方法であって、磁場に対する強磁性物
    体の影響を検出し処理する測定方法において、 非磁性体材料の表面において前記強磁性物体の上方にＵ
    字形載置用磁石を移動可能に載置して、前記磁石の磁極
    間の磁場の該表面に直角な直交成分の強さが該表面にお
    いて走査検出されその走査曲線が記憶されることと、 該強磁性物体の不在時に、前記磁石の不載置状態での両
    磁極間の該表面における磁場の直交成分の走査曲線が検
    出され記憶されることと、 前記両走査曲線から差曲線が形成され、該差曲線に現わ
    れる２つの極値の差から該非磁性体材料の該表面と該強
    磁性物体の中心との距離が決定されることと、を特徴と
    する強磁性物体の埋設位置の測定方法。
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