JPH0791942A - 外観検査装置及び電子回路用外観検査装置 - Google Patents

外観検査装置及び電子回路用外観検査装置

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JPH0791942A
JPH0791942A JP23819793A JP23819793A JPH0791942A JP H0791942 A JPH0791942 A JP H0791942A JP 23819793 A JP23819793 A JP 23819793A JP 23819793 A JP23819793 A JP 23819793A JP H0791942 A JPH0791942 A JP H0791942A
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郁夫 吉村
Noriyuki Kojima
範幸 小島
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学系の移動等に一切の影響を及ぼすことは
なく、被検査物体に光を照射することのできる外観検査
装置を得ること。 【構成】 顕微鏡12の各々の対物レンズ18の外周に
リング状のライトガイド28を取り付ける。ライトガイ
ド28には複数本の光ファイバ42の一端部を被検査物
体側の端部に環状に設ける。光ファイバ42の他端部は
丸パイプ44の先端と面一とし、対物レンズ18を被検
査物体に対応させた際に、丸パイプ44の先端が全て同
一位置となるように対物レンズ18へ取り付ける。光源
に繋がれた光ファイバ束48の先端側を丸パイプ44の
先端と離して対向させる。光ファイバ42の他端に入射
した光は、環状に配置された光ファイバ42の一端から
被検査物体へ照射される。ライトガイド28と光源とが
機械的には分離されているので、レボルバ20の移動が
阻害されない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、磁気ヘッド等
の部品の外観を検査するに好適な外観検査装置及び基板
上、チップ上或いはウエハー上に形成された電子回路
(集積回路等)、即ちIC、LSI等の外観を検査する
に好適な電子回路用外観検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、磁気ヘッド等の部品、電子回路等
の被検査物体の外観検査用として顕微鏡やテレビカメラ
等が用いられている。被検査物体の外観検査をするには
被検査物体を照明する必要があるため、例えば、顕微鏡
には、被検査物体用の照明器具が不可欠である。
【0003】この種の照明器具として、光ファイバを用
いた照明器具がある。この照明器具は、リング状の光照
射部を備えており、この光照射部には光ファイバの一方
の端部がリング状に並べられており、光ファイバの他方
の端部が光源に接続されている。そして、顕微鏡の対物
レンズが照明器具の中央の孔に挿入されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ファイバ
を用いた従来の照明器具では、光照射部から光源までの
光ファイバが連続した一体物であり、なおかつ照明器具
が顕微鏡の対物レンズに半固定的に取り付けられてい
る。
【0005】したがって、光学系を移動しようとする場
合に光照射部の移動範囲が限定され、顕微鏡のレボルバ
のような回転移動するものには対応できないという不具
合がある。
【0006】本発明は上記事実を考慮し、光学系の移動
等に一切の影響を及ぼすことなく被検査物体に光を照射
して、被検査物体の外観を検査できる外観検査装置及び
光学系の移動等に一切の影響を及ぼすことなく電子回路
に光を照射して、電子回路の外観を検査できる電子回路
用外観検査装置を提供することが目的である。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の外観検
査装置は、被検査物体の外観を検査するために用いら
れ、前記被検査物体と対向する検査位置から前記検査位
置とは異なる位置へ移動可能とされる光学系と、前記光
学系の前記被検査物体側に設けられ、光入射部及び前記
光入射部から入射した光を前記被検査物体へ照射する光
照射部を有する光伝達手段を備え、前記光学系を前記検
査位置に配置した状態では光入射部が所定位置に配置さ
れる照明手段と、前記照明手段とは機械的に分離され、
前記所定位置に配置された前記光入射部へ向けて光を照
射する光源と、を備えたことを特徴としている。
【0008】請求項2に記載の外観検査装置は、請求項
1に記載の外観検査装置において、前記光学系は顕微鏡
の対物レンズであり、前記照明手段は、前記被検査物体
の斜め方向から暗視野照明することを特徴としている。
【0009】請求項3に記載の外観検査装置は、請求項
1に記載の外観検査装置において、前記光学系は顕微鏡
の対物レンズであり、前記照明手段は、前記被検査物体
の実質的に正面方向から明視野照明することを特徴とし
ている。
【0010】請求項4に記載の外観検査装置は、請求項
1に記載の外観検査装置において、前記光学系は顕微鏡
の対物レンズであり、前記照明手段は、前記被検査物体
の斜め方向から暗視野照明する第1の光伝達手段と、前
記被検査物体の実質的に正面方向から明視野照明する第
2の光伝達手段と、を有することを特徴としている。
【0011】また、請求項5の外観検査装置は、電子回
路の外観検査用であることを特徴としている。
【0012】
【作用】請求項1に記載の外観検査装置によれば、被検
査物体に対向した検査位置に光学系を配置すると、その
光学系の被検査物体側に取り付けられた照明手段の光入
射部が所定位置に配置され、その光入射部へ向けて光源
の光が照射される。光入射部に照射された光は、光照射
部から被検査物体へ照射される。
【0013】被検査物体に光が照射されると、被検査物
体に反射した光が被検査物体に対向した光学系に入射
し、被検査物体の外観が検査できる。
【0014】なお、光学系は複数個設けてあってもよ
く、各々の光学系は、例えば倍率が異なるようにしてあ
っても良い。光学系には各々照明手段が設けられている
ので、何れの光学系を用いても同様にして被検査物体に
光を照射することができる。なお、照明手段と光源とは
機械的に分離されているので、光学系の移動等には一切
の影響がなく、光学系は自由に移動することが可能であ
る。
【0015】ここで、光学系の具体例としては、顕微
鏡、テレビカメラ、スチールカメラ等を上げることがで
きる。また、被検査物体の具体例としては、基板上、チ
ップ上或いはウエハー上に形成された電子回路(集積回
路等)、即ちIC、LSI等や、磁気ヘッド等を上げる
ことができるが、これら以外のものであってもよい。
【0016】請求項2に記載の外観検査装置によれば、
被検査物体は、前記照明手段によって斜め方向から暗視
野照明され、暗視野照明された被検査物体が顕微鏡によ
って外観が検査される。
【0017】請求項3に記載の外観検査装置によれば、
被検査物体は、被検査物体の実質的に正面方向から明視
野照明され、明視野照明された被検査物体が顕微鏡によ
って外観が検査される。
【0018】請求項4に記載の外観検査装置によれば、
照明手段は、前記被検査物体の斜め方向から暗視野照明
する第1の光伝達手段と、前記被検査物体の実質的に正
面方向から明視野照明する第2の光伝達手段と、を有し
ているので、一つの照明手段によって暗視野照明と明視
野照明とを切り替えて使用することができる。
【0019】暗視野照明と明視野照明とを切り替えるに
は、例えば、光源を第1の光伝達手段用と第2の光伝達
手段用とに2組設け、所望の光源を点灯させれば良い。
【0020】また、請求項5に記載の外観検査装置によ
れば、電子回路に対向した検査位置に光学系を配置する
と、その光学系の電子回路側に取り付けられた照明手段
の光入射部が所定位置に配置され、その光入射部へ向け
て光源の光が照射される。光入射部に照射された光は、
光照射部から電子回路へ照射される。
【0021】電子回路に光が照射されると、電子回路に
反射した光が電子回路に対向した光学系に入射し、電子
回路の外観が検査できる。
【0022】なお、光学系は複数個設けてあってもよ
く、各々の光学系は、例えば倍率が異なるようにしてあ
っても良い。光学系には各々照明手段が設けられている
ので、何れの光学系を用いても同様にして電子回路に光
を照射することができる。なお、照明手段と光源とは機
械的に分離されているので、光学系の移動等には一切の
影響がなく、光学系は自由に移動することが可能であ
る。
【0023】ここで、光学系の具体例としては、顕微
鏡、テレビカメラ、スチールカメラ等を上げることがで
きる。
【0024】
【実施例】
〔第1実施例〕本発明の第1実施例を図1乃至図4にし
たがって説明する。
【0025】図3には、外観検査装置10の要部が示さ
れている。外観検査装置10は、顕微鏡12を備えてい
る。顕微鏡12は通常の一般的な構造であり、一対の接
眼レンズ14、鏡筒16、各々倍率の異なる複数個(本
実施例では5個)の対物レンズ18、対物レンズ18を
切り替えるためのレボルバ20、被検査物体22を載置
するための載物台24を備えている。また、この顕微鏡
12には、VTR、モニター、画像処理用コンピュータ
ー等に接続されたテレビカメラ26が接続されている。
【0026】図3及び図4に示すように、円筒状とされ
た各々の対物レンズ18の外周にはリング状のライトガ
イド28が取り付けられている(なお、図3では、ライ
トガイド28が一つしか取り付けられていないが、実際
には全ての対物レンズ18にライトガイド28を取り付
けることも可能であり、その場合も実際には多い。)。
【0027】図1及び図2に示すように、ライトガイド
28は、例えば、アルミ合金等で形成された厚肉リング
状の本体30を備えている。本体30の孔32の内径d
1は、対物レンズ18の外径D1よりも大径とされてお
り、この孔32に対物レンズ18が挿入されている。本
実施例では、孔32の内径d1が32mmである。
【0028】図2に示すように、この本体30には3個
の固定ネジ34が等間隔(120°間隔)で設けられて
おり、これらの固定ネジ34によってライトガイド28
が対物レンズ18に固定されている。
【0029】図1に示すように、本体30には、載物台
側(図1の下側)に環状の凹部36が形成されており、
この凹部36には、黄銅製の照射リング38が嵌合して
固定されている。なお、照射リング38の載物台側の端
部は、外周側が斜めに面取りされており、端面カバー4
0で角部が保護されている。
【0030】照射リング38には複数本の光ファイバ4
2が埋設されている。図1及び図2に示すように、照射
リング38の載物台側の端部には複数個の細孔が所定ピ
ッチで環状に配置されている。これらの細孔には各々光
ファイバ42が1本づつ挿入されて接着剤等で固定され
ており、各々の一端部が照射リング38の端部と面一と
なっている。
【0031】図1に示すように、本実施例では、光ファ
イバ42の一端部の光軸42Aは、照射リングの軸芯と
平行、即ち、対物レンズ18の光軸18Aと平行となっ
ている。
【0032】一方、これら光ファイバ42の他端部は、
一つに束ねられて本体30の外周面に取り付けられた丸
パイプ44に挿入され、接着剤等で固定されている。な
お、これら光ファイバ42の他端部は丸パイプ44の先
端と面一となっている。
【0033】図4に示すように、各ライトガイド28
は、丸パイプ44がレボルバ20の半径方向外側を向
き、且つ、レボルバ20を回転させて対物レンズ18を
被検査物体22に対応させた際に、丸パイプ44の先端
が全て同一位置となるように対物レンズ18へ取り付け
られている。
【0034】一方、被検査物体22に対向させた対物レ
ンズ18(図4では図面右側の対物レンズ18)の側方
には、光源46に接続された光ファイバ束48の先端部
が配設されている。この光ファイバ束48は、全体がス
テンレス等のフレキシブルチューブ50に入れられて保
護されており、先端部の断面形状が円形となっている。
【0035】光ファイバ束48の先端側は、顕微鏡12
の非可動部分(本体、鏡筒等)に固定金具52を介して
取り付けられている。なお、固定金具52は、光ファイ
バ束48の位置を調整できるようにねじ等で長さを調整
できるようにしてもよい。
【0036】ここで、光ファイバ束48の先端部と、被
検査物体22に対向させた対物レンズ18に取り付けら
れたライトガイド28の丸パイプ44の先端とは互いの
中心が合わせられている。
【0037】また、光ファイバ束48の先端の直径D2
は、丸パイプ44の先端側の光ファイバ42の束の直径
D3よりも大径とすることが好ましく、光ファイバ束4
8の先端部と、丸パイプ44の先端との間隔Tは、出来
る限り小さいこと(5mm以下)が好ましい。
【0038】これは、光ファイバ束48の先端の直径D
2を大径とするのは、焦点調節のために対物レンズ18
を微小移動させても丸パイプ44の先端側の光ファイバ
42へ光ファイバ束48から照射された光が確実に照射
されるようにするためである。また、間隔Tを大きくす
ると、丸パイプ44の先端側の光ファイバ42へ入射す
る光の量が少なくなるため好ましくない。なお、光ファ
イバ束48の先端へレンズを取り付けで、光の発散を抑
えるようにしてもよい。
【0039】なお、本実施例では、耐衝撃性、コスト等
の点から光ファイバ42をプラスチック製としたが、石
英製、ガラス製等であっても良いのは勿論である。
【0040】ここで、本実施例の顕微鏡12は、拡大率
が1.5倍〜60倍であり、対物レンズ18の外径D1
が25〜32mmである。また、対物レンズ18の先端か
ら被検査物体22までの距離は、0.3mm〜20mmであ
る。
【0041】一方、ライトガイド28の光ファイバ42
の直径は、本実施例では0.25mmである。
【0042】図2に示すように、照射リング38に環状
に配列した光ファイバ42の配置径D4は、上記顕微鏡
の場合では、20mm〜40mmとすることが好ましい。本
実施例では、配置径D4を32mmとした。
【0043】また、光ファイバ42と光ファイバ42と
の間隔は、明るさの点では零(密着状態)とすることが
好ましいが、10mm程度の隙間を設けてもよい。なお、
配列ピッチPは照射ムラを無くすために全て同じにする
ことが好ましい。本実施例では、配列ピッチPを2mmと
した。
【0044】また、本実施例では、光源46に50ワッ
トのハロゲンランプを用い、ハロゲンランプの光を反射
鏡及びレンズで集光して光ファイバ束48の端部へ照射
している。
【0045】さらに、本実施例では、光ファイバ束48
の先端の直径D2を10mmとし、丸パイプ44の先端側
の光ファイバ42の束の直径D3を8mmとした。また、
光ファイバ束48の先端部と丸パイプ44の先端との間
隔Tは、5mmとした。
【0046】次に本実施例の作用を説明する。本実施例
の外観観察装置10で、被検査物体22(例えば、基板
上、チップ上或いはウエハー上に形成された電子回路
(集積回路等)、即ちIC、LSI等や、磁気ヘッド
等)の外観を検査する場合には、載物台24の所定位置
に被検査物体22を載置する。次に、レボルバ20を回
転させて所望の対物レンズ18を被検査物体22に対向
させ、光源46を点灯させる。
【0047】光源46の光は、光ファイバ束48の一端
から被検査物体22に対向した対物レンズ18に取り付
けられたライトガイド28の丸パイプ44に向けて照射
される。丸パイプ44に挿入された光ファイバ42に入
射した光は、照射リング38の端部に環状に配置された
光ファイバ42の一端から被検査物体22側へ照射され
る。
【0048】本実施例では、各対物レンズ18にライト
ガイド28が取り付けられており、しかもこのライトガ
イド28とと光源46とが光学的には結合されてはいる
が、機械的には分離されているので、顕微鏡12の操作
を阻害することなく、被検査物体22に確実に照明用の
光を照射させることが出来る。
【0049】また、光ファイバ束48が固定されている
ので光ファイバ束48の寿命を低下させることも無い。
【0050】本実施例では、被検査物体22へ光を照射
する光ファイバ42の一端部の光軸42Aが対物レンズ
18の光軸に対して平行であるため、被検査物体22に
対しては明視野照明となる。なお、明視野照明とするに
は、光ファイバ42の一端部の光軸42Aの方向と対物
レンズ18の光軸18Aと直交する方向とのなす角度θ
を85°〜90°に設定することが好ましい。
【0051】また、本実施例では、光ファイバ42を1
本づつ並べて環状に配置したが、同軸的に2重以上に配
置してもよい。
【0052】〔第2実施例〕本発明の第2実施例を図5
にしたがって説明する。なお、第1実施例と同一構成に
関しては同一符号を付しその説明は省略する。
【0053】図5に示すように、本実施例では、光ファ
イバ42の一端がライトガイド28の内周面に開口する
孔に挿入されている。本実施例では、光ファイバ42の
一端の光軸42Aの方向が対物レンズ18の光軸18A
に直角な方向に対して所定角度傾斜させて、暗視野照明
となるようにした例である。
【0054】なお、暗視野照明とするには、光ファイバ
42の光軸42Aが対物レンズ18の光軸18Aと直交
する方向となす角度θを5°〜60°とすることが好ま
しい。
【0055】〔第3実施例〕本発明の第3実施例を図6
及び図7にしたがって説明する。
【0056】図7に示すように、本実施例のライトガイ
ド28には、本体30に2個の丸パイプ44が設けられ
ており、一方の丸パイプ44には暗視野照明用の光ファ
イバ42の他端が、他方の丸パイプ44には明視野用の
光ファイバ42の他端がそれぞれ挿入されている。
【0057】また、本実施例では光ファイバ束48が2
本の設けられており、各々の端部はそれぞれ、一方の丸
パイプ44及び他方の丸パイプ44に対向している。
【0058】図6及び図7に示すように、明視野用の各
々の光ファイバ42の一端は、照射リング38の端部に
第1実施例と同様に環状に配置され、暗視野用の各々の
光ファイバ42の一端は、照射リング38の内周面側に
第2実施例と同様に環状に配置されている。
【0059】なお、本実施例では、2本の光ファイバ束
48は、それぞれ異なる光源(図示せず)に接続されて
いる。
【0060】このため、本実施例では光源を切り替える
ことによって明視野照明と暗視野照明とを簡単に切り替
えて使い分けることができる。
【0061】なお、前記実施例では、顕微鏡にライトガ
イドを取り付けた例を示したが、本発明はこれに限ら
ず、ライトガイドはルーペ、テレビカメラ等の他の種類
の光学系に取り付けてもよいのは勿論である。なお、テ
レビ用レンズとCCDとを組み合わせたテレビカメラに
ライトガイドを取り付ける場合は、光ファイバ42の配
置径D4は、10mm〜80mm程度である。
【0062】また、前述した寸法等はライトガイドを取
り付ける光学系の種類によって適宜変更されるものであ
る。
【0063】また、実施例では、光伝達手段として光フ
ァイバを用いたが、本発明はこれに限らず、光伝達手段
は透明の樹脂やガラスで成型したプリズムであっても良
く、複数個のミラーを組み合わせたものであっても良
い。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
外観検査装置は上記の構成としたので、光学系の移動等
に一切の影響を及ぼすことはなく、被検査物体に光を照
射して、外観を検査できるという優れた効果を有する。
【0065】請求項2に記載の外観検査装置は上記の構
成としたので、暗視野照明した被検査物体を拡大して外
観検査できるという優れた効果を有する。
【0066】請求項3に記載の外観検査装置は上記の構
成としたので、明視野照明した被検査物体を拡大して外
観検査できるという優れた効果を有する。
【0067】請求項4に記載の外観検査装置は上記の構
成としたので、一つの照明手段によって所望によって暗
視野照明と明視野照明とを切り替えて使用できるという
優れた効果を有する。
【0068】また、請求項5に記載の電子回路用外観検
査装置は上記の構成としたので、光学系の移動等に一切
の影響を及ぼすことはなく、電子回路に光を照射して外
観を検査できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る外観検査装置のライ
トガイド周辺の断面図である。
【図2】図1に示すライトガイドを対物レンズ正面がら
見た底面図である。
【図3】本発明の第1実施例に係る外観検査装置の要部
全体図である。
【図4】対物レンズに取り付けられたライトガイドを示
す、レボルバ周辺の斜視図である。
【図5】本発明の第2実施例に係る外観検査装置のライ
トガイド周辺の断面図である。
【図6】本発明の第3実施例に係る外観検査装置のライ
トガイド周辺の断面図である。
【図7】本発明の第3実施例に係る外観検査装置のライ
トガイドを対物レンズ正面から見た底面図である。
【符号の説明】
10 被検査物体 12 顕微鏡 28 ライトガイド(照明手段) 42 光ファイバ(光伝達手段) 46 光源

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査物体の外観を検査するために用い
    られ、前記被検査物体と対向する検査位置から前記検査
    位置とは異なる位置へ移動可能とされる光学系と、 前記光学系の前記被検査物体側に設けられ、光入射部及
    び前記光入射部から入射した光を前記被検査物体へ照射
    する光照射部を有する光伝達手段を備え、前記光学系を
    前記検査位置に配置した状態では光入射部が所定位置に
    配置される照明手段と、 前記照明手段とは機械的に分離され、前記所定位置に配
    置された前記光入射部へ向けて光を照射する光源と、 を備えたことを特徴とする外観検査装置。
  2. 【請求項2】 前記光学系は顕微鏡の対物レンズであ
    り、 前記照明手段は、前記被検査物体の斜め方向から暗視野
    照明することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装
    置。
  3. 【請求項3】 前記光学系は顕微鏡の対物レンズであ
    り、 前記照明手段は、前記被検査物体の実質的に正面方向か
    ら明視野照明することを特徴とする請求項1に記載の外
    観検査装置。
  4. 【請求項4】 前記光学系は顕微鏡の対物レンズであ
    り、 前記照明手段は、前記被検査物体の斜め方向から暗視野
    照明する第1の光伝達手段と、前記被検査物体の実質的
    に正面方向から明視野照明する第2の光伝達手段と、を
    有することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装
    置。
  5. 【請求項5】 電子回路の外観を検査するために用いら
    れ、前記電子回路と対向する検査位置から前記検査位置
    とは異なる位置へ移動可能とされる光学系と、 前記光学系の前記電子回路側に設けられ、光入射部及び
    前記光入射部から入射した光を前記電子回路へ照射する
    光照射部を有する光伝達手段を備え、前記光学系を前記
    検査位置に配置した状態では光入射部が所定位置に配置
    される照明手段と、 前記照明手段とは機械的に分離され、前記所定位置に配
    置された前記光入射部へ向けて光を照射する光源と、 を備えたことを特徴とする電子回路用外観検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20150010495A (ko) * 2013-07-19 2015-01-28 삼성디스플레이 주식회사 실링 검사 장치 및 방법
JP2019074692A (ja) * 2017-10-18 2019-05-16 株式会社キーエンス 拡大観察装置

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