JPH0789123A - 画像形成装置の濃度むら補正方法 - Google Patents
画像形成装置の濃度むら補正方法Info
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- JPH0789123A JPH0789123A JP5239281A JP23928193A JPH0789123A JP H0789123 A JPH0789123 A JP H0789123A JP 5239281 A JP5239281 A JP 5239281A JP 23928193 A JP23928193 A JP 23928193A JP H0789123 A JPH0789123 A JP H0789123A
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- dielectric drum
- ion
- electrostatic charge
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、べた画像などにおいても濃度むらの
ない均一な画像を得られる画像形成装置の濃度むら補正
方法を提供する。 【構成】誘電体ドラム21に対して印字ヘッド221を
微少量(1ドットピッチ)ずつ移動しながら、誘電体ド
ラム21上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン流
のみからなる矩形状の静電荷像を、テストパターンとし
て形成し、この誘電体ドラム21上の静電荷像の表面電
位を表面電位センサ26により測定し、この結果から流
通過孔を駆動する適性パルス電圧Vfを求めるととも
に、制御系にフィードバックして各イオン流通過孔を通
過させるイオン流の制御量を補正する。
ない均一な画像を得られる画像形成装置の濃度むら補正
方法を提供する。 【構成】誘電体ドラム21に対して印字ヘッド221を
微少量(1ドットピッチ)ずつ移動しながら、誘電体ド
ラム21上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン流
のみからなる矩形状の静電荷像を、テストパターンとし
て形成し、この誘電体ドラム21上の静電荷像の表面電
位を表面電位センサ26により測定し、この結果から流
通過孔を駆動する適性パルス電圧Vfを求めるととも
に、制御系にフィードバックして各イオン流通過孔を通
過させるイオン流の制御量を補正する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、荷電粒子(イオンまた
は電子)流の制御により記録体上に電荷潜像を形成する
イオノグラフィー技術に基づく画像形成装置の濃度むら
補正方法に関するものである。
は電子)流の制御により記録体上に電荷潜像を形成する
イオノグラフィー技術に基づく画像形成装置の濃度むら
補正方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、画像形成装置のうち階調のある画
像の印刷を行うものとして、複数のイオンヘッドを用い
て、ドット毎に印刷を行うようなイオンプリンタが広く
用いられている。
像の印刷を行うものとして、複数のイオンヘッドを用い
て、ドット毎に印刷を行うようなイオンプリンタが広く
用いられている。
【0003】図18は、このようなイオンプリンタに適
用される印字ヘッドの一部を切り欠いた概略構成を示し
ている。この場合、誘電体1上に互いに電気的に絶縁さ
れて平行に配置された複数のライン電極2と、絶縁体3
上に互いに絶縁して形成された複数のフィンガー電極4
をマトリックス状に交叉して配置し、これらフィンガー
電極4のライン電極2との交叉部分に多数の開口5を形
成している。絶縁体3にはフィンガー電極4に沿ってス
リット状の開口6を形成している。そして、絶縁体3の
下面には、スクリーン電極8を配置し、このスクリーン
電極8に、フィンガー電極4の開口5と対応する位置に
多数の開口7を形成している。また、ライン電極2上に
は基体9を配置し、スクリーン電極8を枠状基板10に
嵌合している。
用される印字ヘッドの一部を切り欠いた概略構成を示し
ている。この場合、誘電体1上に互いに電気的に絶縁さ
れて平行に配置された複数のライン電極2と、絶縁体3
上に互いに絶縁して形成された複数のフィンガー電極4
をマトリックス状に交叉して配置し、これらフィンガー
電極4のライン電極2との交叉部分に多数の開口5を形
成している。絶縁体3にはフィンガー電極4に沿ってス
リット状の開口6を形成している。そして、絶縁体3の
下面には、スクリーン電極8を配置し、このスクリーン
電極8に、フィンガー電極4の開口5と対応する位置に
多数の開口7を形成している。また、ライン電極2上に
は基体9を配置し、スクリーン電極8を枠状基板10に
嵌合している。
【0004】図19は、このような印字ヘッドの断面概
略構成を示すもので、スクリーン電極8に対して所定の
ギャップGを介在して記録体11を配置している。記録
体11は、背面電極12を通じて接地している。
略構成を示すもので、スクリーン電極8に対して所定の
ギャップGを介在して記録体11を配置している。記録
体11は、背面電極12を通じて接地している。
【0005】そして、ライン電極2とフィンガー電極4
との間にコロナイオン発生のための高周波高電圧Vrf
を順次印加するとともに、フィンガー電極4とスクリー
ン電極8との間に、記録信号に応じてイオン流通過孔で
のイオンの通過又は阻止するための電界を形成するパル
ス電圧Vfを選択的に印加することにより、イオン流の
発生および通過により、記録体11上に静電像を形成す
るようにしている。
との間にコロナイオン発生のための高周波高電圧Vrf
を順次印加するとともに、フィンガー電極4とスクリー
ン電極8との間に、記録信号に応じてイオン流通過孔で
のイオンの通過又は阻止するための電界を形成するパル
ス電圧Vfを選択的に印加することにより、イオン流の
発生および通過により、記録体11上に静電像を形成す
るようにしている。
【0006】そして、図20に示すように、印字ヘッド
16により記録体11上に形成された静電像は、現像装
置13により可視化された後、転写コロナ14により記
録紙15に転写され、所望するハードコピーとして得ら
れることになる。
16により記録体11上に形成された静電像は、現像装
置13により可視化された後、転写コロナ14により記
録紙15に転写され、所望するハードコピーとして得ら
れることになる。
【0007】ところで、このように構成される印字ヘッ
ドに形成されるフィンガー電極4の開口5やスクリーン
電極8の開口7などのイオン流通過孔は極めて微小であ
るため、ヘッドの製造時の精度を高めても、多少の機械
的および電気的誤差は避けられず、これらの誤差が、画
像の上で濃度むら、即ち印字むらとして現われ、画像品
質を著しく低下させることがある。
ドに形成されるフィンガー電極4の開口5やスクリーン
電極8の開口7などのイオン流通過孔は極めて微小であ
るため、ヘッドの製造時の精度を高めても、多少の機械
的および電気的誤差は避けられず、これらの誤差が、画
像の上で濃度むら、即ち印字むらとして現われ、画像品
質を著しく低下させることがある。
【0008】そこで、従来、印字むらの度合いをイオン
流の測定により予測し、その結果に基づいて印字ヘッド
の駆動を制御し、印字むらをなくす試みがなされてお
り、例えば、特開平1−105754号公報には、各イ
オン流通過孔を駆動するパルス電圧Vfの大きさ又はパ
ルス幅の補正係数を記憶したROM(リード オンリー
メモリー)を印字ヘッドに搭載し、この補正係数を用い
ることにより、印字むらの少ない画像を得ることが開示
されている。ここでROMに記憶される補正係数は、各
イオン流通過孔を通過するイオン流を予め測定すること
により求められる。
流の測定により予測し、その結果に基づいて印字ヘッド
の駆動を制御し、印字むらをなくす試みがなされてお
り、例えば、特開平1−105754号公報には、各イ
オン流通過孔を駆動するパルス電圧Vfの大きさ又はパ
ルス幅の補正係数を記憶したROM(リード オンリー
メモリー)を印字ヘッドに搭載し、この補正係数を用い
ることにより、印字むらの少ない画像を得ることが開示
されている。ここでROMに記憶される補正係数は、各
イオン流通過孔を通過するイオン流を予め測定すること
により求められる。
【0009】また、特開平4−303667号公報に
は、プリンタ本体内にイオン流を測定するための校正電
極を設け、イオン流を逐次に測定して印字むらを補正す
ることが開示されている。
は、プリンタ本体内にイオン流を測定するための校正電
極を設け、イオン流を逐次に測定して印字むらを補正す
ることが開示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、これら公報
に開示された方法によれば、印字むらをある程度補正す
ることは可能であるが、濃度むらの目立つ、いわゆるべ
た画像などでは完全に均一な画像は望めない。つまり、
これら従来のものによれば、各開口から放出されるイオ
ン流の濃度分布パターンが開口毎に必ずしも一定でな
く、そのためイオン流を均一になるように補正しても、
記録体への電荷蓄積の相違や、現像特性などの影響のた
めに、実際の画像上では濃度むらが残ってしまうことが
あり、また、階調画像をとりたい場合には、現像のγ特
性を補正するために、測定されるイオン流と得られる画
像濃度の関係を予め求めておく必要があり、工程が増す
とともに、データ処理が複雑になるという問題点があっ
た。
に開示された方法によれば、印字むらをある程度補正す
ることは可能であるが、濃度むらの目立つ、いわゆるべ
た画像などでは完全に均一な画像は望めない。つまり、
これら従来のものによれば、各開口から放出されるイオ
ン流の濃度分布パターンが開口毎に必ずしも一定でな
く、そのためイオン流を均一になるように補正しても、
記録体への電荷蓄積の相違や、現像特性などの影響のた
めに、実際の画像上では濃度むらが残ってしまうことが
あり、また、階調画像をとりたい場合には、現像のγ特
性を補正するために、測定されるイオン流と得られる画
像濃度の関係を予め求めておく必要があり、工程が増す
とともに、データ処理が複雑になるという問題点があっ
た。
【0011】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、べた画像などにおいても濃度むらのない均一な画像
を得られる画像形成装置の濃度むら補正方法を提供する
ことを目的とする。
で、べた画像などにおいても濃度むらのない均一な画像
を得られる画像形成装置の濃度むら補正方法を提供する
ことを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の荷電粒
子通過孔を有し、記録信号に基づいて荷電粒子通過孔を
通過される荷電粒子流を制御することにより記録体上に
静電荷像を形成する画像形成装置において、前記記録体
上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した荷電粒子による
静電荷像をテストパターンとして形成し、このテストパ
ターンを測定するとともに該測定結果に応じて前記各荷
電粒子通過孔を通過させる荷電粒子流の制御を補正する
ようにしている。
子通過孔を有し、記録信号に基づいて荷電粒子通過孔を
通過される荷電粒子流を制御することにより記録体上に
静電荷像を形成する画像形成装置において、前記記録体
上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した荷電粒子による
静電荷像をテストパターンとして形成し、このテストパ
ターンを測定するとともに該測定結果に応じて前記各荷
電粒子通過孔を通過させる荷電粒子流の制御を補正する
ようにしている。
【0013】
【作用】この結果、本発明によれば、最初にテストパタ
ーンとして、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過
した荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、
このテストパターンの状態を測定するとともに、この測
定結果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔
を通過させる荷電粒子流の制御量を補正することにより
濃度むら補正を行うことができる。
ーンとして、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過
した荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、
このテストパターンの状態を測定するとともに、この測
定結果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔
を通過させる荷電粒子流の制御量を補正することにより
濃度むら補正を行うことができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に従い説明す
る。 (第1実施例)図1は、第1実施例の濃度むら補正方法
が適用される画像形成装置の概略構成を示している。図
において、21は誘電体ドラムで、この誘電体ドラム2
1の周囲に沿って、印字ヘッド221を有する印字ヘッ
ドユニット22、現像装置23、転写装置24、クリー
ニング除電装置25、表面電位センサ26を配設してい
る。
る。 (第1実施例)図1は、第1実施例の濃度むら補正方法
が適用される画像形成装置の概略構成を示している。図
において、21は誘電体ドラムで、この誘電体ドラム2
1の周囲に沿って、印字ヘッド221を有する印字ヘッ
ドユニット22、現像装置23、転写装置24、クリー
ニング除電装置25、表面電位センサ26を配設してい
る。
【0015】この場合、印字ヘッドユニット22は、図
2に示すように誘電体ドラム21の軸方向に配置された
軸222が固定され、これら軸222の両端部を軸受2
23により摺動自在に支持している。また、軸222
は、一端をばね224を介して固定部材225に支持す
るとともに、他端をステッピングモータ226の駆動軸
に当接し、ステッピングモータ226の駆動力により印
字ヘッドユニット22をばね224の偏倚力に抗して誘
電体ドラム21の軸方向に移動できるようにしている。
2に示すように誘電体ドラム21の軸方向に配置された
軸222が固定され、これら軸222の両端部を軸受2
23により摺動自在に支持している。また、軸222
は、一端をばね224を介して固定部材225に支持す
るとともに、他端をステッピングモータ226の駆動軸
に当接し、ステッピングモータ226の駆動力により印
字ヘッドユニット22をばね224の偏倚力に抗して誘
電体ドラム21の軸方向に移動できるようにしている。
【0016】一方、表面電位センサ26は、誘電体ドラ
ム21表面に対し数mm程度離間して配置され表面電位
Vを測定するもので、この表面電位センサ26は、図3
に示すように支持体261により、誘電体ドラム21の
軸方向に配置されたガイド軸262に沿って移動可能に
支持され、プーリ263に巻回されたワイヤ264によ
り駆動されるようになっている。
ム21表面に対し数mm程度離間して配置され表面電位
Vを測定するもので、この表面電位センサ26は、図3
に示すように支持体261により、誘電体ドラム21の
軸方向に配置されたガイド軸262に沿って移動可能に
支持され、プーリ263に巻回されたワイヤ264によ
り駆動されるようになっている。
【0017】このような構成から、まず、誘電体ドラム
21上の補正用テストパターンの形成を図4に示すフロ
ーチャートにより実行する。この場合、補正用のテスト
パターン印字指令を与えると(ステップ401)、誘電
体ドラム21が等速回転を開始すると同時に、図示しな
いドラム回転数カウンタ(R=0)がリセットされる
(ステップ402)。
21上の補正用テストパターンの形成を図4に示すフロ
ーチャートにより実行する。この場合、補正用のテスト
パターン印字指令を与えると(ステップ401)、誘電
体ドラム21が等速回転を開始すると同時に、図示しな
いドラム回転数カウンタ(R=0)がリセットされる
(ステップ402)。
【0018】そして、図示しない回転位置センサが、誘
電体ドラム21に設けられたマーカにより、特定の回転
位置(スタート位置)を検知すると(ステップ40
3)、ドラム回転数カウンタの値Rを1だけ進めて、エ
ンコーダパルスカウンタをリセット(E=0)するとと
もに、ステッピングモータ226により印字ヘッドユニ
ット22をばね224の偏倚力に抗して誘電体ドラム2
1の軸方向に微少量(1ドットピッチ)移動する(ステ
ップ404、ステップ405)。そして、一定時間後
(エンコーダパルスカウントE=eの時点)に印字ヘッ
ド221を駆動して、誘電体ドラム21上に図5(a)
に示すような単一のイオン流通過孔を通過したイオン流
のみからなるライン状の静電荷像211を形成する(ス
テップ406、ステップ407)。
電体ドラム21に設けられたマーカにより、特定の回転
位置(スタート位置)を検知すると(ステップ40
3)、ドラム回転数カウンタの値Rを1だけ進めて、エ
ンコーダパルスカウンタをリセット(E=0)するとと
もに、ステッピングモータ226により印字ヘッドユニ
ット22をばね224の偏倚力に抗して誘電体ドラム2
1の軸方向に微少量(1ドットピッチ)移動する(ステ
ップ404、ステップ405)。そして、一定時間後
(エンコーダパルスカウントE=eの時点)に印字ヘッ
ド221を駆動して、誘電体ドラム21上に図5(a)
に示すような単一のイオン流通過孔を通過したイオン流
のみからなるライン状の静電荷像211を形成する(ス
テップ406、ステップ407)。
【0019】そして、ステップ403に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21を停止すると(ステップ408、ステップ4
09)、誘電体ドラム21上には、図5(b)からさら
に同図(c)に示すように矩形状の静電荷像211がイ
オン流通過孔の数Nまでがテストパターンとして形成さ
れることになる。この場合の静電荷像211のサイズ
は、一定の条件下で任意に設定できるが、ここでは4m
m×4mmとしている。
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21を停止すると(ステップ408、ステップ4
09)、誘電体ドラム21上には、図5(b)からさら
に同図(c)に示すように矩形状の静電荷像211がイ
オン流通過孔の数Nまでがテストパターンとして形成さ
れることになる。この場合の静電荷像211のサイズ
は、一定の条件下で任意に設定できるが、ここでは4m
m×4mmとしている。
【0020】次に、濃度むら補正データを得るための誘
電体ドラム21表面のテストパターンの電位測定を図6
に示すフローチャートにより実行する。この場合、測定
開始信号を与えると(ステップ601)、誘電体ドラム
21が等速回転を開始すると同時に、ドラム回転数カウ
ンタをリセット(R=0)する(ステップ602)。
電体ドラム21表面のテストパターンの電位測定を図6
に示すフローチャートにより実行する。この場合、測定
開始信号を与えると(ステップ601)、誘電体ドラム
21が等速回転を開始すると同時に、ドラム回転数カウ
ンタをリセット(R=0)する(ステップ602)。
【0021】そして、図示しない回転位置センサが誘電
体ドラム21に設けられたマーカにより、特定の回転位
置(スタート位置)を検知すると、ドラム回転数カウン
タの値Rを1だけ進めて、エンコーダパルスカウンタを
リセット(E=0)する(ステップ603、ステップ6
04)。
体ドラム21に設けられたマーカにより、特定の回転位
置(スタート位置)を検知すると、ドラム回転数カウン
タの値Rを1だけ進めて、エンコーダパルスカウンタを
リセット(E=0)する(ステップ603、ステップ6
04)。
【0022】この状態から、エンコーダパルスカウント
E=ei時点で表面電位センサ26により誘電体ドラム
21上の静電荷像211中央に対向するタイミングで表
面電位Vを測定する(ステップ605、ステップ60
6)。そして、この測定データをA/D変換し、第1回
目の測定であるから、これをイオン流通過孔を駆動する
パルス電圧Vf(=Vf1)としてメモリに記憶する(ス
テップ607、ステップ608、ステップ609)。
E=ei時点で表面電位センサ26により誘電体ドラム
21上の静電荷像211中央に対向するタイミングで表
面電位Vを測定する(ステップ605、ステップ60
6)。そして、この測定データをA/D変換し、第1回
目の測定であるから、これをイオン流通過孔を駆動する
パルス電圧Vf(=Vf1)としてメモリに記憶する(ス
テップ607、ステップ608、ステップ609)。
【0023】そして、ステップ603に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21が停止すると(ステップ610、ステップ6
11)、誘電体ドラム21上の全静電荷像211の表面
電位Vの測定データが、それぞれ対応するイオン流通過
孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf1)としてメモリに
記憶されることになる。
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21が停止すると(ステップ610、ステップ6
11)、誘電体ドラム21上の全静電荷像211の表面
電位Vの測定データが、それぞれ対応するイオン流通過
孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf1)としてメモリに
記憶されることになる。
【0024】この場合、誘電体ドラム21上の静電荷像
211の表面電位Vの測定を行うには、誘電体ドラム2
1を回転すると同時に、表面電位センサ26をプーリ2
63に巻回されたワイヤ264によりガイド軸262に
沿って適切な速度で移動すれば、図7に示す表面電位セ
ンサ26の移動経路212に従って、全ての矩形状静電
荷像211の表面電位Vを一度に測定することができる
ようになる。この場合、表面電位センサ26での測定精
度を上げるには、表面電位Vの検知範囲が静電荷像の領
域の大部分をカバーしていることが望ましい。
211の表面電位Vの測定を行うには、誘電体ドラム2
1を回転すると同時に、表面電位センサ26をプーリ2
63に巻回されたワイヤ264によりガイド軸262に
沿って適切な速度で移動すれば、図7に示す表面電位セ
ンサ26の移動経路212に従って、全ての矩形状静電
荷像211の表面電位Vを一度に測定することができる
ようになる。この場合、表面電位センサ26での測定精
度を上げるには、表面電位Vの検知範囲が静電荷像の領
域の大部分をカバーしていることが望ましい。
【0025】次に、ステップ612に進み、第2回目の
測定か判断するが、この場合第1回目であるので、ステ
ップ601に戻る。次に、上述のイオン流通過孔を駆動
するパルス電圧Vfを少し変化させた条件で上述したと
全く同様の測定を行う。すると、この場合は、ステップ
608で1回目の測定と判断しないので、ステップ61
3に進み、このときの測定データを、イオン流通過孔を
駆動するパルス電圧Vf(=Vf2)としてメモリする。
測定か判断するが、この場合第1回目であるので、ステ
ップ601に戻る。次に、上述のイオン流通過孔を駆動
するパルス電圧Vfを少し変化させた条件で上述したと
全く同様の測定を行う。すると、この場合は、ステップ
608で1回目の測定と判断しないので、ステップ61
3に進み、このときの測定データを、イオン流通過孔を
駆動するパルス電圧Vf(=Vf2)としてメモリする。
【0026】そして、ステップ603に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21を停止すると(ステップ610、ステップ6
11)、誘電体ドラム21上の全静電荷像211の表面
電位Vの測定データが、イオン流通過孔を駆動するパル
ス電圧Vf(=Vf2)としてメモリに記憶されることに
なる。
上述した動作を誘電体ドラム21の回転数カウンタの値
Rが指定回数rに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム21を停止すると(ステップ610、ステップ6
11)、誘電体ドラム21上の全静電荷像211の表面
電位Vの測定データが、イオン流通過孔を駆動するパル
ス電圧Vf(=Vf2)としてメモリに記憶されることに
なる。
【0027】次に、ステップ613に進むと、2回目の
測定と判断されるので、適性パルス電圧Vfの演算を行
う(ステップ614)。この場合、特定のイオン流通過
孔に対するものだけに注目すると、図8に示すように、
Vf =Vf1の表面電位がV1、Vf =Vf2の表面電位が
V2であれば、適正画濃度D0 に対応する表面電位V0
を得るにはVf =Vf0とすればよいことが分かる。この
ことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過孔に
対してVf =Vf0となるような適切なパルス電圧Vfを
求め、これらをメモリに記憶する(ステップ615)。
測定と判断されるので、適性パルス電圧Vfの演算を行
う(ステップ614)。この場合、特定のイオン流通過
孔に対するものだけに注目すると、図8に示すように、
Vf =Vf1の表面電位がV1、Vf =Vf2の表面電位が
V2であれば、適正画濃度D0 に対応する表面電位V0
を得るにはVf =Vf0とすればよいことが分かる。この
ことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過孔に
対してVf =Vf0となるような適切なパルス電圧Vfを
求め、これらをメモリに記憶する(ステップ615)。
【0028】そして、このようにして求められたパルス
電圧Vf を制御電圧として上述した印字ヘッド221の
イオン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像にお
いても濃度むらのない均一な画像が得られることにな
る。
電圧Vf を制御電圧として上述した印字ヘッド221の
イオン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像にお
いても濃度むらのない均一な画像が得られることにな
る。
【0029】従って、このようにすれば、誘電体ドラム
21に対して印字ヘッド221を微少量(1ドットピッ
チ)ずつ移動しながら、テストパターンとして、誘電体
ドラム21上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン
流のみからなる矩形状の静電荷像211を形成し、この
誘電体ドラム21上の静電荷像211の表面電位を表面
電位センサ26により測定し、この結果から流通過孔を
駆動する適性パルス電圧Vfを求め、制御系にフィード
バックして各イオン流通過孔を通過させるイオン流の制
御量を補正するようにしたので、形成画像の濃度むら補
正を行うことができ、濃度むらの目立ちやすいべた画像
においても、濃度むらのない均一な画像を得ることがで
きる。
21に対して印字ヘッド221を微少量(1ドットピッ
チ)ずつ移動しながら、テストパターンとして、誘電体
ドラム21上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン
流のみからなる矩形状の静電荷像211を形成し、この
誘電体ドラム21上の静電荷像211の表面電位を表面
電位センサ26により測定し、この結果から流通過孔を
駆動する適性パルス電圧Vfを求め、制御系にフィード
バックして各イオン流通過孔を通過させるイオン流の制
御量を補正するようにしたので、形成画像の濃度むら補
正を行うことができ、濃度むらの目立ちやすいべた画像
においても、濃度むらのない均一な画像を得ることがで
きる。
【0030】(第2実施例)次に、図9、図10、図1
1は、本発明の第2実施例の濃度むら補正方法が適用さ
れる画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した図
1乃至図3と同一部分には同符号を付して説明を省略す
る。
1は、本発明の第2実施例の濃度むら補正方法が適用さ
れる画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した図
1乃至図3と同一部分には同符号を付して説明を省略す
る。
【0031】この場合、誘電体ドラム21は、固定軸2
13のの両端部を軸受214により摺動自在に支持して
いる。また、軸213は、一端をばね215を介して固
定部材216に支持するとともに、他端をステッピング
モータ217の駆動軸に当接し、ステッピングモータ2
17の駆動力により誘電体ドラム21をばね215の偏
倚力に抗して主走査方向に移動できるようにしている。
13のの両端部を軸受214により摺動自在に支持して
いる。また、軸213は、一端をばね215を介して固
定部材216に支持するとともに、他端をステッピング
モータ217の駆動軸に当接し、ステッピングモータ2
17の駆動力により誘電体ドラム21をばね215の偏
倚力に抗して主走査方向に移動できるようにしている。
【0032】このような構成から、まず、誘電体ドラム
21上に補正用テストパターンを形成するには、上述し
た図4のフローチャートを実行するようになる。この場
合、補正用のテストパターン印字指令により、誘電体ド
ラム21が等速回転を開始する。そして、図示しない回
転位置センサが誘電体ドラム21の特定の回転位置を検
知したら、一定時間後に印字ヘッド221を駆動して、
誘電体ドラム21上に図5(a)に示ような単一のイオ
ン流通過孔を通過したイオン流のみからなるライン状の
静電荷像211を形成する。
21上に補正用テストパターンを形成するには、上述し
た図4のフローチャートを実行するようになる。この場
合、補正用のテストパターン印字指令により、誘電体ド
ラム21が等速回転を開始する。そして、図示しない回
転位置センサが誘電体ドラム21の特定の回転位置を検
知したら、一定時間後に印字ヘッド221を駆動して、
誘電体ドラム21上に図5(a)に示ような単一のイオ
ン流通過孔を通過したイオン流のみからなるライン状の
静電荷像211を形成する。
【0033】次に、回転位置センサが誘電体ドラム21
の上記特定の回転位置を検知した信号を受けて、ステッ
ピングモータ217により誘電体ドラム21を微少量
(1ドットピッチ)移動させると共に、1回転目と同じ
タイミングで上記静電荷像211を形成する。これを何
回か繰り返すことにより、誘電体ドラム21上に、図5
(b)からさらに同図(c)に示すように矩形状の静電
荷像211をイオン流通過孔の数Nまで形成するように
なる。
の上記特定の回転位置を検知した信号を受けて、ステッ
ピングモータ217により誘電体ドラム21を微少量
(1ドットピッチ)移動させると共に、1回転目と同じ
タイミングで上記静電荷像211を形成する。これを何
回か繰り返すことにより、誘電体ドラム21上に、図5
(b)からさらに同図(c)に示すように矩形状の静電
荷像211をイオン流通過孔の数Nまで形成するように
なる。
【0034】その後に、上述した図6に示すフローチャ
ートに従って誘電体ドラム21表面の電位測定を実行す
れば、全てのイオン流通過孔に対してVf =Vf0となる
ような適切なパルス電圧Vfを求め、この求められたパ
ルス電圧Vf を制御電圧として上述した印字ヘッドのイ
オン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像におい
ても濃度むらのない均一な画像が得られることになる。
ートに従って誘電体ドラム21表面の電位測定を実行す
れば、全てのイオン流通過孔に対してVf =Vf0となる
ような適切なパルス電圧Vfを求め、この求められたパ
ルス電圧Vf を制御電圧として上述した印字ヘッドのイ
オン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像におい
ても濃度むらのない均一な画像が得られることになる。
【0035】このような第2実施例によれば、第1実施
例の効果に加えて誘電体ドラム21そのものをステッピ
ングモータ217の駆動力によりばね215の偏倚力に
抗して主走査方向に移動できるようにしており、電装系
を備えた部材の移動を伴わないため信頼性をさらに向上
させることができる。
例の効果に加えて誘電体ドラム21そのものをステッピ
ングモータ217の駆動力によりばね215の偏倚力に
抗して主走査方向に移動できるようにしており、電装系
を備えた部材の移動を伴わないため信頼性をさらに向上
させることができる。
【0036】(第3実施例)次に、図12、図13、図
14は、本発明の第3実施例の濃度むら補正方法が適用
される画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した
図1乃至図3と同一部分には同符号を付して説明を省略
する。
14は、本発明の第3実施例の濃度むら補正方法が適用
される画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した
図1乃至図3と同一部分には同符号を付して説明を省略
する。
【0037】この場合、現像装置23は、誘電体ドラム
21面に対して進退可能に設けられ、誘電体ドラム21
上に静電荷像211を形成するまで後退位置にあって、
静電荷像211の形成後に誘電体ドラム21面まで前進
し、現像液を誘電体ドラム21に供給し、誘電体ドラム
21を1回転させることによって、静電荷像211をト
ナー像に変換する。そして、再び後退して現像液の誘電
体ドラム21への供給を断つようにしている。
21面に対して進退可能に設けられ、誘電体ドラム21
上に静電荷像211を形成するまで後退位置にあって、
静電荷像211の形成後に誘電体ドラム21面まで前進
し、現像液を誘電体ドラム21に供給し、誘電体ドラム
21を1回転させることによって、静電荷像211をト
ナー像に変換する。そして、再び後退して現像液の誘電
体ドラム21への供給を断つようにしている。
【0038】一方、表面電位センサ26に代えて画濃度
センサ30を誘電体ドラム21表面に対し数mm程度離
間して配置している。この画濃度センサ30は、誘電体
ドラム21表面に形成されたトナー像の濃度を測定する
もので、図3に示すように支持体261により、誘電体
ドラム21の軸方向に配置されたガイド軸262に沿っ
て移動可能に支持され、プーリ263に巻回されたワイ
ヤ264により駆動されるようになっている。この場
合、画濃度センサ30としては、フォトダイオード、フ
ォトトランジスタ、CCD等が用いられる。
センサ30を誘電体ドラム21表面に対し数mm程度離
間して配置している。この画濃度センサ30は、誘電体
ドラム21表面に形成されたトナー像の濃度を測定する
もので、図3に示すように支持体261により、誘電体
ドラム21の軸方向に配置されたガイド軸262に沿っ
て移動可能に支持され、プーリ263に巻回されたワイ
ヤ264により駆動されるようになっている。この場
合、画濃度センサ30としては、フォトダイオード、フ
ォトトランジスタ、CCD等が用いられる。
【0039】このような構成から、まず誘電体ドラム2
1上に補正用テストパターンを形成するには、上述した
図4のフローチャートを実行する。この場合、誘電体ド
ラム21上に静電荷像211を形成した後、現像装置2
3を誘電体ドラム21面まで前進し、現像液を供給し
て、誘電体ドラム21に静電荷像211をトナー像を形
成する。
1上に補正用テストパターンを形成するには、上述した
図4のフローチャートを実行する。この場合、誘電体ド
ラム21上に静電荷像211を形成した後、現像装置2
3を誘電体ドラム21面まで前進し、現像液を供給し
て、誘電体ドラム21に静電荷像211をトナー像を形
成する。
【0040】そして、濃度むら補正データを得るには、
誘電体ドラム21を回転させると同時に、画濃度センサ
30をプーリ263に巻回されたワイヤ264により、
適切な速度で移動させれば、上述した図7に示すように
誘電体ドラム21上の全ての矩形状のトナー像の画濃度
を一度に測定することができ、この測定データを、イオ
ン流通過孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf1)として
得る。
誘電体ドラム21を回転させると同時に、画濃度センサ
30をプーリ263に巻回されたワイヤ264により、
適切な速度で移動させれば、上述した図7に示すように
誘電体ドラム21上の全ての矩形状のトナー像の画濃度
を一度に測定することができ、この測定データを、イオ
ン流通過孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf1)として
得る。
【0041】次に、パルス電圧Vfを少し変化させた条
件で上述したと全く同様の測定を行い、この測定データ
を、イオン流通過孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf
2)として得る。
件で上述したと全く同様の測定を行い、この測定データ
を、イオン流通過孔を駆動するパルス電圧Vf(=Vf
2)として得る。
【0042】そして、このようにして得られたデータに
より適性パルス電圧Vfの演算を行う。この場合、特定
のイオン流通過孔に対するものだけに注目すると、図1
5に示すように、Vf =Vf1の表面電位が画濃度をD1
、Vf =Vf2の表面電位がD2 であれば、適正画濃度
D0 を得るにはVf =Vf0とすればよいことが分かる。
このことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過
孔に対してVf =Vf0となるような適切なパルス電圧V
fを求められ、このようにして求められたパルス電圧V
f を制御電圧として上述した印字ヘッドのイオン流通過
孔を駆動して印字を行えば、べた画像においても濃度む
らのない均一な画像が得られることになる。
より適性パルス電圧Vfの演算を行う。この場合、特定
のイオン流通過孔に対するものだけに注目すると、図1
5に示すように、Vf =Vf1の表面電位が画濃度をD1
、Vf =Vf2の表面電位がD2 であれば、適正画濃度
D0 を得るにはVf =Vf0とすればよいことが分かる。
このことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過
孔に対してVf =Vf0となるような適切なパルス電圧V
fを求められ、このようにして求められたパルス電圧V
f を制御電圧として上述した印字ヘッドのイオン流通過
孔を駆動して印字を行えば、べた画像においても濃度む
らのない均一な画像が得られることになる。
【0043】このような第3の実施例によれば、上述し
た第1、第2実施例と同様の効果が得られるだけでな
く、表面電位と画濃度との対応を前もって求めておく必
要がないこと、現像液の劣化等による現像特性の変化の
影響を受けないなどの利点が期待できる。
た第1、第2実施例と同様の効果が得られるだけでな
く、表面電位と画濃度との対応を前もって求めておく必
要がないこと、現像液の劣化等による現像特性の変化の
影響を受けないなどの利点が期待できる。
【0044】(第4実施例)この場合、第4実施例は、
第3実施例と同様の構成をなしていて、補正用のテスト
パターンを異ならせたものである。
第3実施例と同様の構成をなしていて、補正用のテスト
パターンを異ならせたものである。
【0045】図16は、同実施例にて作成される補正用
テストパターンを示している。この場合、誘電体ドラム
21に形成される矩形状の静電荷像211のそれぞれ
が、Vf を変化させて形成した階調の異なる16通りの
静電荷像から成っている。
テストパターンを示している。この場合、誘電体ドラム
21に形成される矩形状の静電荷像211のそれぞれ
が、Vf を変化させて形成した階調の異なる16通りの
静電荷像から成っている。
【0046】そして、これらの画像の濃度を測定するこ
とによって得られたデータについて、特定の荷電粒子通
過孔に対するものだけに注目すると、図17に示すよう
に任意の画濃度Di を得るためにはVf =Vfiとすれば
よいことが分かる。このことから、これを複数の画濃度
レベル(通常は等間隔にとる)に対して適用すれば、階
調画像を得るために必要な一組の補正されたVf の値を
求められ、同様にして、全てのイオン流通過孔に対し
て、補正されたVf の値の組が求められることになる。
とによって得られたデータについて、特定の荷電粒子通
過孔に対するものだけに注目すると、図17に示すよう
に任意の画濃度Di を得るためにはVf =Vfiとすれば
よいことが分かる。このことから、これを複数の画濃度
レベル(通常は等間隔にとる)に対して適用すれば、階
調画像を得るために必要な一組の補正されたVf の値を
求められ、同様にして、全てのイオン流通過孔に対し
て、補正されたVf の値の組が求められることになる。
【0047】このような第4実施例によれば、第3実施
例によって得られる効果に加えて、一回の測定で均一な
階調画像を得るための補正データが全て求めることがで
き、また、画濃度を直接データとして採用しているた
め、γ補正も同時に行うことができるという利点が期待
できる。なお、本発明は上記実施例にのみ限定されず、
要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。
例によって得られる効果に加えて、一回の測定で均一な
階調画像を得るための補正データが全て求めることがで
き、また、画濃度を直接データとして採用しているた
め、γ補正も同時に行うことができるという利点が期待
できる。なお、本発明は上記実施例にのみ限定されず、
要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、最初にテストパターン
として、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した
荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、この
テストパターンの状態を測定するとともに、この測定結
果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔を通
過させる荷電粒子流の制御量を補正するようにしたの
で、形成画像の濃度むら補正を行うことができ、濃度む
らの目立ちやすいべた画像においても、濃度むらのない
均一な画像を得ることができる。
として、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した
荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、この
テストパターンの状態を測定するとともに、この測定結
果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔を通
過させる荷電粒子流の制御量を補正するようにしたの
で、形成画像の濃度むら補正を行うことができ、濃度む
らの目立ちやすいべた画像においても、濃度むらのない
均一な画像を得ることができる。
【図1】本発明の第1実施例の概略構成を示す図。
【図2】第1実施例の概略構成を示す図。
【図3】第1実施例の概略構成を示す図。
【図4】第1実施例の補正用テストパターン形成を説明
するフローチャート。
するフローチャート。
【図5】第1実施例の補正用テストパターン形成のプロ
セスを示す図。
セスを示す図。
【図6】第1実施例の電位測定を説明するフローチャー
ト。
ト。
【図7】第1実施例の電位測定を説明する図。
【図8】第1実施例のデータ補正原理を示す図。
【図9】本発明の第2実施例の概略構成を示す図。
【図10】第2実施例の概略構成を示す図。
【図11】第2実施例の概略構成を示す図。
【図12】本発明の第3実施例の概略構成を示す図。
【図13】第3実施例の概略構成を示す図。
【図14】第3実施例の概略構成を示す図。
【図15】第3実施例のデータ補正原理を示す図。
【図16】本発明の第4実施例を説明する図。
【図17】第4実施例のデータ補正原理を示す図。
【図18】従来の印字ヘッドの一部を切り欠いた概略構
成を示す図。
成を示す図。
【図19】従来の印字ヘッドの断面概略構成を示す図。
【図20】従来の画像形成装置のの全体図。
21…誘電体ドラム、211…静電荷像、212…移動
経路、213…固定軸、214…軸受、215…ばね、
216…固定部材、217…ステッピングモータ、22
…印字ヘッドユニット、221…印字ヘッド、222…
軸、223…軸受、224…ばね、225…固定部材、
226…ステッピングモータ、23…現像装置、24…
転写装置、25…クリーニング除電装置、26…表面電
位センサ、261…支持体、262…ガイド軸、263
…プーリ、264…ワイヤ、30…画濃度センサ。
経路、213…固定軸、214…軸受、215…ばね、
216…固定部材、217…ステッピングモータ、22
…印字ヘッドユニット、221…印字ヘッド、222…
軸、223…軸受、224…ばね、225…固定部材、
226…ステッピングモータ、23…現像装置、24…
転写装置、25…クリーニング除電装置、26…表面電
位センサ、261…支持体、262…ガイド軸、263
…プーリ、264…ワイヤ、30…画濃度センサ。
Claims (1)
- 【請求項1】 複数の荷電粒子通過孔を有し、記録信号
に基づいて前記荷電粒子通過孔を通過される荷電粒子流
を制御することにより記録体上に静電荷像を形成する画
像形成装置において、 前記記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した荷電
粒子による静電荷像をテストパターンとして形成し、 このテストパターンを測定するとともに該測定結果に応
じて前記各荷電粒子通過孔を通過させる荷電粒子流の制
御を補正することを特徴とする画像形成装置の濃度むら
補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5239281A JPH0789123A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 画像形成装置の濃度むら補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5239281A JPH0789123A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 画像形成装置の濃度むら補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0789123A true JPH0789123A (ja) | 1995-04-04 |
Family
ID=17042420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5239281A Withdrawn JPH0789123A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 画像形成装置の濃度むら補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0789123A (ja) |
-
1993
- 1993-09-27 JP JP5239281A patent/JPH0789123A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001128 |