JPH0789123A - 画像形成装置の濃度むら補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、べた画像などにおいても濃度むらの
ない均一な画像を得られる画像形成装置の濃度むら補正
方法を提供する。 【構成】誘電体ドラム２１に対して印字ヘッド２２１を
微少量（１ドットピッチ）ずつ移動しながら、誘電体ド
ラム２１上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン流
のみからなる矩形状の静電荷像を、テストパターンとし
て形成し、この誘電体ドラム２１上の静電荷像の表面電
位を表面電位センサ２６により測定し、この結果から流
通過孔を駆動する適性パルス電圧Ｖｆを求めるととも
に、制御系にフィードバックして各イオン流通過孔を通
過させるイオン流の制御量を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、荷電粒子（イオンまた
は電子）流の制御により記録体上に電荷潜像を形成する
イオノグラフィー技術に基づく画像形成装置の濃度むら
補正方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、画像形成装置のうち階調のある画
像の印刷を行うものとして、複数のイオンヘッドを用い
て、ドット毎に印刷を行うようなイオンプリンタが広く
用いられている。

【０００３】図１８は、このようなイオンプリンタに適
用される印字ヘッドの一部を切り欠いた概略構成を示し
ている。この場合、誘電体１上に互いに電気的に絶縁さ
れて平行に配置された複数のライン電極２と、絶縁体３
上に互いに絶縁して形成された複数のフィンガー電極４
をマトリックス状に交叉して配置し、これらフィンガー
電極４のライン電極２との交叉部分に多数の開口５を形
成している。絶縁体３にはフィンガー電極４に沿ってス
リット状の開口６を形成している。そして、絶縁体３の
下面には、スクリーン電極８を配置し、このスクリーン
電極８に、フィンガー電極４の開口５と対応する位置に
多数の開口７を形成している。また、ライン電極２上に
は基体９を配置し、スクリーン電極８を枠状基板１０に
嵌合している。

【０００４】図１９は、このような印字ヘッドの断面概
略構成を示すもので、スクリーン電極８に対して所定の
ギャップＧを介在して記録体１１を配置している。記録
体１１は、背面電極１２を通じて接地している。

【０００５】そして、ライン電極２とフィンガー電極４
との間にコロナイオン発生のための高周波高電圧Ｖｒｆ
を順次印加するとともに、フィンガー電極４とスクリー
ン電極８との間に、記録信号に応じてイオン流通過孔で
のイオンの通過又は阻止するための電界を形成するパル
ス電圧Ｖｆを選択的に印加することにより、イオン流の
発生および通過により、記録体１１上に静電像を形成す
るようにしている。

【０００６】そして、図２０に示すように、印字ヘッド
１６により記録体１１上に形成された静電像は、現像装
置１３により可視化された後、転写コロナ１４により記
録紙１５に転写され、所望するハードコピーとして得ら
れることになる。

【０００７】ところで、このように構成される印字ヘッ
ドに形成されるフィンガー電極４の開口５やスクリーン
電極８の開口７などのイオン流通過孔は極めて微小であ
るため、ヘッドの製造時の精度を高めても、多少の機械
的および電気的誤差は避けられず、これらの誤差が、画
像の上で濃度むら、即ち印字むらとして現われ、画像品
質を著しく低下させることがある。

【０００８】そこで、従来、印字むらの度合いをイオン
流の測定により予測し、その結果に基づいて印字ヘッド
の駆動を制御し、印字むらをなくす試みがなされてお
り、例えば、特開平１−１０５７５４号公報には、各イ
オン流通過孔を駆動するパルス電圧Ｖｆの大きさ又はパ
ルス幅の補正係数を記憶したＲＯＭ（リード オンリー
メモリー）を印字ヘッドに搭載し、この補正係数を用い
ることにより、印字むらの少ない画像を得ることが開示
されている。ここでＲＯＭに記憶される補正係数は、各
イオン流通過孔を通過するイオン流を予め測定すること
により求められる。

【０００９】また、特開平４−３０３６６７号公報に
は、プリンタ本体内にイオン流を測定するための校正電
極を設け、イオン流を逐次に測定して印字むらを補正す
ることが開示されている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところが、これら公報
に開示された方法によれば、印字むらをある程度補正す
ることは可能であるが、濃度むらの目立つ、いわゆるべ
た画像などでは完全に均一な画像は望めない。つまり、
これら従来のものによれば、各開口から放出されるイオ
ン流の濃度分布パターンが開口毎に必ずしも一定でな
く、そのためイオン流を均一になるように補正しても、
記録体への電荷蓄積の相違や、現像特性などの影響のた
めに、実際の画像上では濃度むらが残ってしまうことが
あり、また、階調画像をとりたい場合には、現像のγ特
性を補正するために、測定されるイオン流と得られる画
像濃度の関係を予め求めておく必要があり、工程が増す
とともに、データ処理が複雑になるという問題点があっ
た。

【００１１】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、べた画像などにおいても濃度むらのない均一な画像
を得られる画像形成装置の濃度むら補正方法を提供する
ことを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、複数の荷電粒
子通過孔を有し、記録信号に基づいて荷電粒子通過孔を
通過される荷電粒子流を制御することにより記録体上に
静電荷像を形成する画像形成装置において、前記記録体
上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した荷電粒子による
静電荷像をテストパターンとして形成し、このテストパ
ターンを測定するとともに該測定結果に応じて前記各荷
電粒子通過孔を通過させる荷電粒子流の制御を補正する
ようにしている。

【００１３】

【作用】この結果、本発明によれば、最初にテストパタ
ーンとして、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過
した荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、
このテストパターンの状態を測定するとともに、この測
定結果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔
を通過させる荷電粒子流の制御量を補正することにより
濃度むら補正を行うことができる。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に従い説明す
る。 （第１実施例）図１は、第１実施例の濃度むら補正方法
が適用される画像形成装置の概略構成を示している。図
において、２１は誘電体ドラムで、この誘電体ドラム２
１の周囲に沿って、印字ヘッド２２１を有する印字ヘッ
ドユニット２２、現像装置２３、転写装置２４、クリー
ニング除電装置２５、表面電位センサ２６を配設してい
る。

【００１５】この場合、印字ヘッドユニット２２は、図
２に示すように誘電体ドラム２１の軸方向に配置された
軸２２２が固定され、これら軸２２２の両端部を軸受２
２３により摺動自在に支持している。また、軸２２２
は、一端をばね２２４を介して固定部材２２５に支持す
るとともに、他端をステッピングモータ２２６の駆動軸
に当接し、ステッピングモータ２２６の駆動力により印
字ヘッドユニット２２をばね２２４の偏倚力に抗して誘
電体ドラム２１の軸方向に移動できるようにしている。

【００１６】一方、表面電位センサ２６は、誘電体ドラ
ム２１表面に対し数ｍｍ程度離間して配置され表面電位
Ｖを測定するもので、この表面電位センサ２６は、図３
に示すように支持体２６１により、誘電体ドラム２１の
軸方向に配置されたガイド軸２６２に沿って移動可能に
支持され、プーリ２６３に巻回されたワイヤ２６４によ
り駆動されるようになっている。

【００１７】このような構成から、まず、誘電体ドラム
２１上の補正用テストパターンの形成を図４に示すフロ
ーチャートにより実行する。この場合、補正用のテスト
パターン印字指令を与えると（ステップ４０１）、誘電
体ドラム２１が等速回転を開始すると同時に、図示しな
いドラム回転数カウンタ（Ｒ＝０）がリセットされる
（ステップ４０２）。

【００１８】そして、図示しない回転位置センサが、誘
電体ドラム２１に設けられたマーカにより、特定の回転
位置（スタート位置）を検知すると（ステップ４０
３）、ドラム回転数カウンタの値Ｒを１だけ進めて、エ
ンコーダパルスカウンタをリセット（Ｅ＝０）するとと
もに、ステッピングモータ２２６により印字ヘッドユニ
ット２２をばね２２４の偏倚力に抗して誘電体ドラム２
１の軸方向に微少量（１ドットピッチ）移動する（ステ
ップ４０４、ステップ４０５）。そして、一定時間後
（エンコーダパルスカウントＥ＝ｅの時点）に印字ヘッ
ド２２１を駆動して、誘電体ドラム２１上に図５（ａ）
に示すような単一のイオン流通過孔を通過したイオン流
のみからなるライン状の静電荷像２１１を形成する（ス
テップ４０６、ステップ４０７）。

【００１９】そして、ステップ４０３に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム２１の回転数カウンタの値
Ｒが指定回数ｒに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム２１を停止すると（ステップ４０８、ステップ４
０９）、誘電体ドラム２１上には、図５（ｂ）からさら
に同図（ｃ）に示すように矩形状の静電荷像２１１がイ
オン流通過孔の数Ｎまでがテストパターンとして形成さ
れることになる。この場合の静電荷像２１１のサイズ
は、一定の条件下で任意に設定できるが、ここでは４ｍ
ｍ×４ｍｍとしている。

【００２０】次に、濃度むら補正データを得るための誘
電体ドラム２１表面のテストパターンの電位測定を図６
に示すフローチャートにより実行する。この場合、測定
開始信号を与えると（ステップ６０１）、誘電体ドラム
２１が等速回転を開始すると同時に、ドラム回転数カウ
ンタをリセット（Ｒ＝０）する（ステップ６０２）。

【００２１】そして、図示しない回転位置センサが誘電
体ドラム２１に設けられたマーカにより、特定の回転位
置（スタート位置）を検知すると、ドラム回転数カウン
タの値Ｒを１だけ進めて、エンコーダパルスカウンタを
リセット（Ｅ＝０）する（ステップ６０３、ステップ６
０４）。

【００２２】この状態から、エンコーダパルスカウント
Ｅ＝ｅｉ時点で表面電位センサ２６により誘電体ドラム
２１上の静電荷像２１１中央に対向するタイミングで表
面電位Ｖを測定する（ステップ６０５、ステップ６０
６）。そして、この測定データをＡ／Ｄ変換し、第１回
目の測定であるから、これをイオン流通過孔を駆動する
パルス電圧Ｖｆ（＝Ｖf1）としてメモリに記憶する（ス
テップ６０７、ステップ６０８、ステップ６０９）。

【００２３】そして、ステップ６０３に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム２１の回転数カウンタの値
Ｒが指定回数ｒに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム２１が停止すると（ステップ６１０、ステップ６
１１）、誘電体ドラム２１上の全静電荷像２１１の表面
電位Ｖの測定データが、それぞれ対応するイオン流通過
孔を駆動するパルス電圧Ｖｆ（＝Ｖf1）としてメモリに
記憶されることになる。

【００２４】この場合、誘電体ドラム２１上の静電荷像
２１１の表面電位Ｖの測定を行うには、誘電体ドラム２
１を回転すると同時に、表面電位センサ２６をプーリ２
６３に巻回されたワイヤ２６４によりガイド軸２６２に
沿って適切な速度で移動すれば、図７に示す表面電位セ
ンサ２６の移動経路２１２に従って、全ての矩形状静電
荷像２１１の表面電位Ｖを一度に測定することができる
ようになる。この場合、表面電位センサ２６での測定精
度を上げるには、表面電位Ｖの検知範囲が静電荷像の領
域の大部分をカバーしていることが望ましい。

【００２５】次に、ステップ６１２に進み、第２回目の
測定か判断するが、この場合第１回目であるので、ステ
ップ６０１に戻る。次に、上述のイオン流通過孔を駆動
するパルス電圧Ｖｆを少し変化させた条件で上述したと
全く同様の測定を行う。すると、この場合は、ステップ
６０８で１回目の測定と判断しないので、ステップ６１
３に進み、このときの測定データを、イオン流通過孔を
駆動するパルス電圧Ｖｆ（＝Ｖf2）としてメモリする。

【００２６】そして、ステップ６０３に戻って、以下、
上述した動作を誘電体ドラム２１の回転数カウンタの値
Ｒが指定回数ｒに達するまで繰り返し、そして、誘電体
ドラム２１を停止すると（ステップ６１０、ステップ６
１１）、誘電体ドラム２１上の全静電荷像２１１の表面
電位Ｖの測定データが、イオン流通過孔を駆動するパル
ス電圧Ｖｆ（＝Ｖf2）としてメモリに記憶されることに
なる。

【００２７】次に、ステップ６１３に進むと、２回目の
測定と判断されるので、適性パルス電圧Ｖｆの演算を行
う（ステップ６１４）。この場合、特定のイオン流通過
孔に対するものだけに注目すると、図８に示すように、
Ｖf ＝Ｖf1の表面電位がＶ1、Ｖf ＝Ｖf2の表面電位が
Ｖ２であれば、適正画濃度Ｄ0 に対応する表面電位Ｖ0
を得るにはＶf ＝Ｖf0とすればよいことが分かる。この
ことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過孔に
対してＶf ＝Ｖf0となるような適切なパルス電圧Ｖｆを
求め、これらをメモリに記憶する（ステップ６１５）。

【００２８】そして、このようにして求められたパルス
電圧Ｖf を制御電圧として上述した印字ヘッド２２１の
イオン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像にお
いても濃度むらのない均一な画像が得られることにな
る。

【００２９】従って、このようにすれば、誘電体ドラム
２１に対して印字ヘッド２２１を微少量（１ドットピッ
チ）ずつ移動しながら、テストパターンとして、誘電体
ドラム２１上に単一の各イオン通過孔を通過したイオン
流のみからなる矩形状の静電荷像２１１を形成し、この
誘電体ドラム２１上の静電荷像２１１の表面電位を表面
電位センサ２６により測定し、この結果から流通過孔を
駆動する適性パルス電圧Ｖｆを求め、制御系にフィード
バックして各イオン流通過孔を通過させるイオン流の制
御量を補正するようにしたので、形成画像の濃度むら補
正を行うことができ、濃度むらの目立ちやすいべた画像
においても、濃度むらのない均一な画像を得ることがで
きる。

【００３０】（第２実施例）次に、図９、図１０、図１
１は、本発明の第２実施例の濃度むら補正方法が適用さ
れる画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した図
１乃至図３と同一部分には同符号を付して説明を省略す
る。

【００３１】この場合、誘電体ドラム２１は、固定軸２
１３のの両端部を軸受２１４により摺動自在に支持して
いる。また、軸２１３は、一端をばね２１５を介して固
定部材２１６に支持するとともに、他端をステッピング
モータ２１７の駆動軸に当接し、ステッピングモータ２
１７の駆動力により誘電体ドラム２１をばね２１５の偏
倚力に抗して主走査方向に移動できるようにしている。

【００３２】このような構成から、まず、誘電体ドラム
２１上に補正用テストパターンを形成するには、上述し
た図４のフローチャートを実行するようになる。この場
合、補正用のテストパターン印字指令により、誘電体ド
ラム２１が等速回転を開始する。そして、図示しない回
転位置センサが誘電体ドラム２１の特定の回転位置を検
知したら、一定時間後に印字ヘッド２２１を駆動して、
誘電体ドラム２１上に図５（ａ）に示ような単一のイオ
ン流通過孔を通過したイオン流のみからなるライン状の
静電荷像２１１を形成する。

【００３３】次に、回転位置センサが誘電体ドラム２１
の上記特定の回転位置を検知した信号を受けて、ステッ
ピングモータ２１７により誘電体ドラム２１を微少量
（１ドットピッチ）移動させると共に、１回転目と同じ
タイミングで上記静電荷像２１１を形成する。これを何
回か繰り返すことにより、誘電体ドラム２１上に、図５
（ｂ）からさらに同図（ｃ）に示すように矩形状の静電
荷像２１１をイオン流通過孔の数Ｎまで形成するように
なる。

【００３４】その後に、上述した図６に示すフローチャ
ートに従って誘電体ドラム２１表面の電位測定を実行す
れば、全てのイオン流通過孔に対してＶf ＝Ｖf0となる
ような適切なパルス電圧Ｖｆを求め、この求められたパ
ルス電圧Ｖf を制御電圧として上述した印字ヘッドのイ
オン流通過孔を駆動して印字を行えば、べた画像におい
ても濃度むらのない均一な画像が得られることになる。

【００３５】このような第２実施例によれば、第１実施
例の効果に加えて誘電体ドラム２１そのものをステッピ
ングモータ２１７の駆動力によりばね２１５の偏倚力に
抗して主走査方向に移動できるようにしており、電装系
を備えた部材の移動を伴わないため信頼性をさらに向上
させることができる。

【００３６】（第３実施例）次に、図１２、図１３、図
１４は、本発明の第３実施例の濃度むら補正方法が適用
される画像形成装置の概略構成を示すもので、上述した
図１乃至図３と同一部分には同符号を付して説明を省略
する。

【００３７】この場合、現像装置２３は、誘電体ドラム
２１面に対して進退可能に設けられ、誘電体ドラム２１
上に静電荷像２１１を形成するまで後退位置にあって、
静電荷像２１１の形成後に誘電体ドラム２１面まで前進
し、現像液を誘電体ドラム２１に供給し、誘電体ドラム
２１を１回転させることによって、静電荷像２１１をト
ナー像に変換する。そして、再び後退して現像液の誘電
体ドラム２１への供給を断つようにしている。

【００３８】一方、表面電位センサ２６に代えて画濃度
センサ３０を誘電体ドラム２１表面に対し数ｍｍ程度離
間して配置している。この画濃度センサ３０は、誘電体
ドラム２１表面に形成されたトナー像の濃度を測定する
もので、図３に示すように支持体２６１により、誘電体
ドラム２１の軸方向に配置されたガイド軸２６２に沿っ
て移動可能に支持され、プーリ２６３に巻回されたワイ
ヤ２６４により駆動されるようになっている。この場
合、画濃度センサ３０としては、フォトダイオード、フ
ォトトランジスタ、ＣＣＤ等が用いられる。

【００３９】このような構成から、まず誘電体ドラム２
１上に補正用テストパターンを形成するには、上述した
図４のフローチャートを実行する。この場合、誘電体ド
ラム２１上に静電荷像２１１を形成した後、現像装置２
３を誘電体ドラム２１面まで前進し、現像液を供給し
て、誘電体ドラム２１に静電荷像２１１をトナー像を形
成する。

【００４０】そして、濃度むら補正データを得るには、
誘電体ドラム２１を回転させると同時に、画濃度センサ
３０をプーリ２６３に巻回されたワイヤ２６４により、
適切な速度で移動させれば、上述した図７に示すように
誘電体ドラム２１上の全ての矩形状のトナー像の画濃度
を一度に測定することができ、この測定データを、イオ
ン流通過孔を駆動するパルス電圧Ｖｆ（＝Ｖf1）として
得る。

【００４１】次に、パルス電圧Ｖｆを少し変化させた条
件で上述したと全く同様の測定を行い、この測定データ
を、イオン流通過孔を駆動するパルス電圧Ｖｆ（＝Ｖf
2）として得る。

【００４２】そして、このようにして得られたデータに
より適性パルス電圧Ｖｆの演算を行う。この場合、特定
のイオン流通過孔に対するものだけに注目すると、図１
５に示すように、Ｖf ＝Ｖf1の表面電位が画濃度をＤ1
、Ｖf ＝Ｖf2の表面電位がＤ2 であれば、適正画濃度
Ｄ0 を得るにはＶf ＝Ｖf0とすればよいことが分かる。
このことから、以下、同様にして、全てのイオン流通過
孔に対してＶf ＝Ｖf0となるような適切なパルス電圧Ｖ
ｆを求められ、このようにして求められたパルス電圧Ｖ
f を制御電圧として上述した印字ヘッドのイオン流通過
孔を駆動して印字を行えば、べた画像においても濃度む
らのない均一な画像が得られることになる。

【００４３】このような第３の実施例によれば、上述し
た第１、第２実施例と同様の効果が得られるだけでな
く、表面電位と画濃度との対応を前もって求めておく必
要がないこと、現像液の劣化等による現像特性の変化の
影響を受けないなどの利点が期待できる。

【００４４】（第４実施例）この場合、第４実施例は、
第３実施例と同様の構成をなしていて、補正用のテスト
パターンを異ならせたものである。

【００４５】図１６は、同実施例にて作成される補正用
テストパターンを示している。この場合、誘電体ドラム
２１に形成される矩形状の静電荷像２１１のそれぞれ
が、Ｖf を変化させて形成した階調の異なる１６通りの
静電荷像から成っている。

【００４６】そして、これらの画像の濃度を測定するこ
とによって得られたデータについて、特定の荷電粒子通
過孔に対するものだけに注目すると、図１７に示すよう
に任意の画濃度Ｄi を得るためにはＶf ＝Ｖfiとすれば
よいことが分かる。このことから、これを複数の画濃度
レベル（通常は等間隔にとる）に対して適用すれば、階
調画像を得るために必要な一組の補正されたＶf の値を
求められ、同様にして、全てのイオン流通過孔に対し
て、補正されたＶf の値の組が求められることになる。

【００４７】このような第４実施例によれば、第３実施
例によって得られる効果に加えて、一回の測定で均一な
階調画像を得るための補正データが全て求めることがで
き、また、画濃度を直接データとして採用しているた
め、γ補正も同時に行うことができるという利点が期待
できる。なお、本発明は上記実施例にのみ限定されず、
要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。

【００４８】

【発明の効果】本発明によれば、最初にテストパターン
として、記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した
荷電粒子のみからなる矩形状の静電荷像を形成し、この
テストパターンの状態を測定するとともに、この測定結
果を制御系にフィードバックして各荷電粒子通過孔を通
過させる荷電粒子流の制御量を補正するようにしたの
で、形成画像の濃度むら補正を行うことができ、濃度む
らの目立ちやすいべた画像においても、濃度むらのない
均一な画像を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例の概略構成を示す図。

【図２】第１実施例の概略構成を示す図。

【図３】第１実施例の概略構成を示す図。

【図４】第１実施例の補正用テストパターン形成を説明
するフローチャート。

【図５】第１実施例の補正用テストパターン形成のプロ
セスを示す図。

【図６】第１実施例の電位測定を説明するフローチャー
ト。

【図７】第１実施例の電位測定を説明する図。

【図８】第１実施例のデータ補正原理を示す図。

【図９】本発明の第２実施例の概略構成を示す図。

【図１０】第２実施例の概略構成を示す図。

【図１１】第２実施例の概略構成を示す図。

【図１２】本発明の第３実施例の概略構成を示す図。

【図１３】第３実施例の概略構成を示す図。

【図１４】第３実施例の概略構成を示す図。

【図１５】第３実施例のデータ補正原理を示す図。

【図１６】本発明の第４実施例を説明する図。

【図１７】第４実施例のデータ補正原理を示す図。

【図１８】従来の印字ヘッドの一部を切り欠いた概略構
成を示す図。

【図１９】従来の印字ヘッドの断面概略構成を示す図。

【図２０】従来の画像形成装置のの全体図。

【符号の説明】

２１…誘電体ドラム、２１１…静電荷像、２１２…移動
経路、２１３…固定軸、２１４…軸受、２１５…ばね、
２１６…固定部材、２１７…ステッピングモータ、２２
…印字ヘッドユニット、２２１…印字ヘッド、２２２…
軸、２２３…軸受、２２４…ばね、２２５…固定部材、
２２６…ステッピングモータ、２３…現像装置、２４…
転写装置、２５…クリーニング除電装置、２６…表面電
位センサ、２６１…支持体、２６２…ガイド軸、２６３
…プーリ、２６４…ワイヤ、３０…画濃度センサ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の荷電粒子通過孔を有し、記録信号
   に基づいて前記荷電粒子通過孔を通過される荷電粒子流
   を制御することにより記録体上に静電荷像を形成する画
   像形成装置において、 前記記録体上に単一の各荷電粒子通過孔を通過した荷電
   粒子による静電荷像をテストパターンとして形成し、 このテストパターンを測定するとともに該測定結果に応
   じて前記各荷電粒子通過孔を通過させる荷電粒子流の制
   御を補正することを特徴とする画像形成装置の濃度むら
   補正方法。