JPH0786893A - Detecting circuit for clock signal abnormality - Google Patents
Detecting circuit for clock signal abnormalityInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はクロック信号異常検出回
路に関し、詳しくは、伝送路装置等において、装置に供
給されるクロック信号の異常(断・周波数劣化)を検出
し、異常を検出した際には異常検出信号を出力するクロ
ック信号異常検出回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock signal abnormality detecting circuit, and more particularly, to a clock signal which is supplied to a transmission line device when an abnormality (disconnection / frequency deterioration) is detected and the abnormality is detected. Relates to a clock signal abnormality detection circuit which outputs an abnormality detection signal.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、伝送路装置等において、装置に供
給されるクロック信号が断・周波数劣化が発生すると、
装置が動作しなくなり、伝送するデータも正しく伝送さ
れなくなる。従って、供給されるクロック信号を監視
し、そのクロック信号に異常が発生した際には、装置を
保障するために異常検出信号(アラーム信号)を出力す
るクロック信号異常検出回路が設けられていた。2. Description of the Related Art Conventionally, in a transmission line device or the like, when a clock signal supplied to the device is disconnected or frequency deterioration occurs,
The device will not work and the data to be transmitted will not be transmitted correctly. Therefore, there is provided a clock signal abnormality detection circuit that monitors the supplied clock signal and outputs an abnormality detection signal (alarm signal) to ensure the device when an abnormality occurs in the clock signal.
【0003】図6は従来のクロック信号異常検出回路の
構成を示すブロック図である。図6において、61はパ
ルス発生回路で構成されたタイマーであり、タイマー信
号cを所定の間隔で周期的に発生するものである。62
はR−Sフリップフロップで構成されたラッチ回路であ
り、周期的に発生するタイマー信号cをラッチし、その
ラッチされた信号bをクロック信号aによりリセットす
るものである。63はDフリップフロップで構成された
検出回路であり、ラッチ信号bをタイマー信号cの同期
でラッチすることによりクロック信号aの異常を検出
し、アラーム信号dを出力するものである。FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of a conventional clock signal abnormality detection circuit. In FIG. 6, reference numeral 61 is a timer composed of a pulse generation circuit, which periodically generates a timer signal c at predetermined intervals. 62
Is a latch circuit composed of an RS flip-flop, which latches a timer signal c which is periodically generated and resets the latched signal b by a clock signal a. Reference numeral 63 is a detection circuit composed of a D flip-flop, which detects an abnormality of the clock signal a by latching the latch signal b in synchronization with the timer signal c and outputs an alarm signal d.
【0004】図7及び図8は従来のクロック信号異常検
出回路のタイムチャート(その1及びその2)である。
なお、図7は、クロック信号aの断を検出する際のタイ
ムチャート(その1)である。また、図8は、クロック
信号aの周波数劣化を検出する際のタイムチャート(そ
の2)である。図7のタイムチャート(その1)につい
て説明すると、例えば、ラッチ回路62がタイマー61
から発生されるタイマー信号cの立ち上がりでラッチ
し、そのラッチ信号bを出力する。このとき、クロック
信号aが供給されると、クロック信号aの立ち上がり、
または立ち下がりでラッチ信号bはリセットされる。こ
こで、クロック信号aの断が発生し、タイマー61から
次のタイマー信号cが入力されるとラッチ信号bはリセ
ットされないで“High”の状態を維持する。次に、
検出回路63はさらに次のタイマー信号cで“hig
h”の状態のラッチ信号bをラッチすることでクロック
信号aの断を検出してアラーム信号dを出力している。7 and 8 are time charts (No. 1 and No. 2) of the conventional clock signal abnormality detection circuit.
7. FIG. 7 is a time chart (No. 1) when detecting the disconnection of the clock signal a. Further, FIG. 8 is a time chart (No. 2) when detecting the frequency deterioration of the clock signal a. Explaining the time chart (part 1) of FIG. 7, for example, the latch circuit 62 includes the timer 61.
It latches at the rising edge of the timer signal c generated from the above and outputs the latch signal b. At this time, when the clock signal a is supplied, the clock signal a rises,
Alternatively, the latch signal b is reset at the falling edge. Here, when the clock signal a is disconnected and the next timer signal c is input from the timer 61, the latch signal b is not reset and maintains the “High” state. next,
The detection circuit 63 further receives “high” with the next timer signal c.
By latching the latch signal b in the state of h ″, the disconnection of the clock signal a is detected and the alarm signal d is output.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図7の
タイムチャート(その1)に示すように、クロック信号
aの断を検出できてもタイマー信号cの周期により即時
検出することができないので、クロック信号aの断が発
生してからアラーム信号が検出されるまで、装置内の動
作を保障することができなかった。また、図8のタイム
チャート(その2)では、クロック信号aの周波数が劣
化しそのクロック信号aの周期時間が伸びているがタイ
マー信号cの周期時間より短いため、ラッチ信号bはク
ロック信号aにより常にリセットされ“Low”に維持
されるのでアラーム信号dは検出回路63から出力しな
いことになる。従って、クロック信号aが劣化した場合
はその異常を検出できないという問題があった。However, as shown in the time chart (No. 1) of FIG. 7, even if the disconnection of the clock signal a can be detected, it cannot be immediately detected by the cycle of the timer signal c. The operation in the apparatus could not be guaranteed until the alarm signal was detected after the disconnection of the signal a. Further, in the time chart (part 2) of FIG. 8, the frequency of the clock signal a is deteriorated and the cycle time of the clock signal a is extended, but since it is shorter than the cycle time of the timer signal c, the latch signal b is the clock signal a. As a result, the alarm signal d is not output from the detection circuit 63 because it is always reset and maintained at "Low". Therefore, when the clock signal a is deteriorated, there is a problem that the abnormality cannot be detected.
【0006】換言すれば、周期的にクロック信号を監視
するのでは周期間にクロック信号の断が発生した場合に
周期間の動作が保障されなくなり、周期間でクロック信
号の周波数が劣化しても周期間中にクロック信号の状態
変化(High/Lowの変化)があれば、クロック信
号を正常と見なすため、クロック信号の異常を検出でき
ず、装置内で異常動作が発生することになる。従って、
クロック信号の断及び劣化に対して即時検出する方法が
待望されていた。In other words, if the clock signal is monitored periodically, the operation between cycles cannot be guaranteed when the clock signal is interrupted during the cycle, and even if the frequency of the clock signal deteriorates during the cycle. If there is a change in the state of the clock signal (change in High / Low) during the period, the clock signal is regarded as normal, so that an abnormality in the clock signal cannot be detected and an abnormal operation occurs in the device. Therefore,
There has been a long-felt demand for a method of immediately detecting a break or deterioration of a clock signal.
【0007】本発明は以上の事情を考慮してなされたも
ので、例えば、クロック信号の断検出と周波数の劣化検
出を同じ回路で即時に検出できるクロック信号異常検出
回路を提供するものである。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and provides, for example, a clock signal abnormality detection circuit capable of immediately detecting the disconnection of a clock signal and the detection of frequency deterioration with the same circuit.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明が講じた技術的手段は、次の通りである。
図1は本発明の基本回路構成を示すブロック図である。
図1において、本発明は、回路に供給されるクロック信
号Aと同一の周波数の模擬クロック信号Cを発生する模
擬クロック信号発生回路1と、そのクロック信号Aに同
期した固定パターン信号Bを生成するパターン信号生成
回路2と、固定パターン信号Bの周期時間を模擬クロッ
ク信号Cの周期時間を基準にして比較する比較回路3と
を備え、前記比較回路3が固定パターン信号Bの周期時
間の異常を模擬クロック信号Cと比較することによりク
ロック信号Aの断および周波数の劣化を検出することを
特徴とするクロック信号異常検出回路である。The technical means taken by the present invention to achieve the above object are as follows.
FIG. 1 is a block diagram showing the basic circuit configuration of the present invention.
In FIG. 1, the present invention generates a simulated clock signal generation circuit 1 for generating a simulated clock signal C having the same frequency as the clock signal A supplied to the circuit, and a fixed pattern signal B synchronized with the clock signal A. A pattern signal generation circuit 2 and a comparison circuit 3 for comparing the cycle time of the fixed pattern signal B with the cycle time of the simulated clock signal C as a reference are provided, and the comparison circuit 3 detects an abnormality in the cycle time of the fixed pattern signal B. It is a clock signal abnormality detection circuit characterized by detecting disconnection of the clock signal A and deterioration of frequency by comparing with the simulated clock signal C.
【0009】前記固定パターン生成回路2は2進カウン
タを備え、クロック信号Aを1/2分周しそのクロック
信号Aに同期した固定パターン信号Bを生成するように
構成されることが好ましい。It is preferable that the fixed pattern generation circuit 2 is provided with a binary counter and is configured to divide the clock signal A into 1/2 and generate a fixed pattern signal B synchronized with the clock signal A.
【0010】前記比較回路3は固定パターン信号Bの周
期時間の異常を検出した際、異常検出信号Dを出力する
ように構成されることが好ましい。The comparison circuit 3 is preferably configured to output an abnormality detection signal D when detecting an abnormality in the fixed pattern signal B in the cycle time.
【0011】なお、本発明において、模擬クロック信号
発生回路1としては、クロック信号を発生する回路構成
と同一のパルスジェネレータ、またはクロック信号発生
モジュールが用いられる。パターン信号生成回路2とし
ては、フリップフロップで構成される2進カウンタが用
いられる。比較回路3としては、カウンタ、デコーダ、
コンパレータ等で構成されている回路が用いられる。ま
た、模擬クロック信号発生回路1、パターン信号生成回
路2、比較回路3は、一つの基板にTTL、またはCM
OSのゲートアレイとしてLSI化し実装することがで
きる。また、CPU、ROM、RAM、I/Oポートか
らなるマイクロコンピュータで構成してもよい。In the present invention, as the simulated clock signal generation circuit 1, a pulse generator or a clock signal generation module having the same circuit configuration as that for generating a clock signal is used. As the pattern signal generation circuit 2, a binary counter composed of flip-flops is used. The comparison circuit 3 includes a counter, a decoder,
A circuit composed of a comparator or the like is used. Further, the simulated clock signal generation circuit 1, the pattern signal generation circuit 2, and the comparison circuit 3 are provided on one substrate by TTL or CM.
It can be implemented as an LSI as an OS gate array. Further, it may be composed of a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, and an I / O port.
【0012】[0012]
【作用】本発明によれば、回路に供給されるクロック信
号Aと同一の周波数の模擬クロック信号Cを模擬クロッ
ク信号発生回路1により発生し、クロック信号Aに同期
した固定パターン信号Bをパターン信号生成回路2によ
り生成し、比較回路3で固定パターン信号Bの周期時間
を模擬クロック信号Cの周期時間を基準にして比較する
ことによりクロック信号Aの断および周波数の劣化を検
出することができる。According to the present invention, the simulated clock signal generating circuit 1 generates the simulated clock signal C having the same frequency as the clock signal A supplied to the circuit, and the fixed pattern signal B synchronized with the clock signal A is used as the pattern signal. The generation of the generation circuit 2 and the comparison circuit 3 comparing the cycle time of the fixed pattern signal B with the cycle time of the simulated clock signal C as a reference enables detection of the interruption of the clock signal A and the deterioration of the frequency.
【0013】前記固定パターン生成回路2は2進カウン
タを備えているので、クロック信号Aを1/2分周しそ
のクロック信号Aに同期した固定パターン信号Bを生成
することができる。Since the fixed pattern generation circuit 2 has a binary counter, it can generate a fixed pattern signal B synchronized with the clock signal A by dividing the clock signal A by 1/2.
【0014】前記比較回路3は固定パターン信号Bの周
期時間の異常を検出した際、異常検出信号Dを出力する
ことができる。The comparator circuit 3 can output an abnormality detection signal D when it detects an abnormality in the cycle time of the fixed pattern signal B.
【0015】[0015]
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいて本発明を詳
述する。なお、これによって本発明は限定されるもので
はない。また、本発明は、例えば、伝送路装置等におい
て、装置に供給されるクロック信号の異常の検出に用い
て好適である。The present invention will be described in detail below based on the embodiments shown in the drawings. The present invention is not limited to this. Further, the present invention is suitable for use in, for example, a transmission line device or the like, for detecting an abnormality of a clock signal supplied to the device.
【0016】図2は本発明のクロック信号異常検出回路
の一実施例を示すブロックである。図2において、図1
と同一の構成のものは同一の番号または記号で示してい
る。図2について説明すると、1は断/周波数劣化を検
出するクロック信号Aと同じ周波数の模擬クロック信号
Cを発生させる模擬クロック信号発生回路、2は断・周
波数劣化を検出するために任意の固定パターン信号Bを
クロック信号Aで生成するパターン信号生成回路、3は
パターン信号生成回路2で生成された固定パターン信号
Bを模擬クロック信号発生回路1の模擬クロック信号C
で比較する比較回路である。FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the clock signal abnormality detection circuit of the present invention. In FIG. 2, FIG.
Components having the same configurations as are indicated by the same numbers or symbols. Referring to FIG. 2, 1 is a simulated clock signal generating circuit for generating a simulated clock signal C having the same frequency as the clock signal A for detecting disconnection / frequency deterioration, and 2 is an arbitrary fixed pattern for detecting disconnection / frequency deterioration. The pattern signal generation circuit 3 for generating the signal B by the clock signal A, the simulated clock signal C of the simulated clock signal generation circuit 1 for the fixed pattern signal B generated by the pattern signal generation circuit 2.
This is a comparison circuit for comparing with.
【0017】模擬クロック信号発生回路1はクロック信
号Aを発生する回路構成と同一のパルスジェネレータ、
クロック信号発生モジュールを用いて、模擬クロック信
号Cを元のクロック信号Aに対し非同期に発生してい
る。パターン信号生成回路2はDフリップフロップで構
成し、クロック信号Aを1/2に分周して0/1交番
(High、Low)の固定パターン信号Bを生成す
る。比較回路3はカウンタ、デコーダ、コンパレータ等
で構成され、この0/1交番の固定パターン信号Bをク
ロック信号Aと同じ周波数の模擬クロック信号Cの立ち
上がりで比較回路3により比較して行き、クロック信号
Aの断/周波数劣化を検出すれば異常検出信号D(アラ
ーム信号)を出力する。The simulated clock signal generation circuit 1 is a pulse generator having the same circuit configuration as that for generating the clock signal A,
The simulated clock signal C is generated asynchronously to the original clock signal A by using the clock signal generation module. The pattern signal generation circuit 2 is composed of a D flip-flop, and divides the clock signal A into halves to generate a fixed pattern signal B of 0/1 alternating (High, Low). The comparison circuit 3 is composed of a counter, a decoder, a comparator, etc., and the 0/1 alternating fixed pattern signal B is compared by the comparison circuit 3 at the rise of the simulated clock signal C having the same frequency as the clock signal A. If the disconnection / frequency deterioration of A is detected, the abnormality detection signal D (alarm signal) is output.
【0018】図3及び図4は本発明のクロック信号異常
検出回路のタイムチャート(その1及びその2)であ
る。図3は、クロック信号Aの断を検出する際のタイム
チャート(その1)である。また、図4は、クロック信
号Aの周波数劣化を検出する際のタイムチャート(その
2)である。図3のタイムチャート(その1)におい
て、比較回路3は、固定パターン信号Bを模擬クロック
信号Cの立ち上がりで比較して行く。例えば、比較回路
3に入力される(B、C)に対し、(1、1)、(0、
1)、(1、1)、(0、1)……(1、1)、(0、
1)ならばクロック信号Aは正常である。もし、クロッ
ク信号Aが断すれば0/1交番のデータはHigh、L
owの何方かに固定となる。即ち、(B、C)は(1、
1)、(0、1)、……(0、1)、(0、1)、また
は、(1、1)、(0、1)、……(1、1)、(1、
1)となるので、この連続する2組みの(0、1)、
(0、1)、または(1、1)、(1、1)を比較回路
3により検出することでクロック信号Aの断が即時検出
できる。3 and 4 are time charts (No. 1 and No. 2) of the clock signal abnormality detection circuit of the present invention. FIG. 3 is a time chart (No. 1) when detecting the disconnection of the clock signal A. FIG. 4 is a time chart (No. 2) when detecting the frequency deterioration of the clock signal A. In the time chart (part 1) of FIG. 3, the comparison circuit 3 compares the fixed pattern signal B with the rising edge of the simulated clock signal C. For example, for (B, C) input to the comparison circuit 3, (1, 1), (0,
1), (1, 1), (0, 1) ... (1, 1), (0,
If 1), the clock signal A is normal. If the clock signal A is cut off, the 0/1 alternating data is High, L
It will be fixed to somewhere of ow. That is, (B, C) is (1,
1), (0,1), ... (0,1), (0,1), or (1,1), (0,1), ... (1,1), (1,
1), two consecutive sets of (0, 1),
By detecting (0, 1) or (1, 1), (1, 1) by the comparison circuit 3, the disconnection of the clock signal A can be immediately detected.
【0019】図4のタイムチャート(その2)に示すよ
うに、周波数が劣化した場合でも、0/1交番の固定パ
ターン信号Bの変化が遅くなるため、比較回路3に入力
される(B、C)が(1、1)、(0、1)、……
(0、1)、(0、1)、または、(1、1)、(0、
1)、……(1、1)、(1、1)となるので、この連
続する2組みの(0、1)、(0、1)、または(1、
1)、(1、1)を検出することでクロック信号Aの周
波数劣化が即時検出できる。As shown in the time chart (part 2) of FIG. 4, even when the frequency is deteriorated, the change of the 0/1 alternating fixed pattern signal B is delayed, so that it is input to the comparison circuit 3 (B, C) is (1, 1), (0, 1), ...
(0,1), (0,1), or (1,1), (0,
1), ... (1,1), (1,1), so two consecutive sets of (0,1), (0,1), or (1,
By detecting 1) and (1, 1), the frequency deterioration of the clock signal A can be immediately detected.
【0020】図5は本発明を二重化クロック信号で構成
される回路に適用した一実施例を示すブロック図であ
る。図5において、0系クロック信号A1と1系クロッ
ク信号A2の断・周波数劣化を検出する場合、2組みの
固定パターン信号B1、B2を生成するパターン信号生
成回路21、22と、固定パターン信号B1、B2をク
ロック信号A1、A2でそれぞれ比較する比較回路3
1、32とでフロック信号異常検出回路を構成し、例え
ば、0系クロック信号A1を1系クロック信号A2を比
較する比較回路32に入力し、1系クロック信号A2を
0系クロック信号A1を比較する比較回路31に入力
し、それぞれのクロック信号A1、A2の断・周波数劣
化の検出を行う。従って、クロック信号の二重化構成の
場合は断検出を行うクロック信号で生成された固定パタ
ーン信号を片系のクロック信号で比較すれば、それぞれ
のクロック信号の断・周波数劣化を即時検出することが
できるので、模擬クロック信号発生回路を設ける必要は
ない。FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment in which the present invention is applied to a circuit composed of dual clock signals. In FIG. 5, when detecting disconnection / frequency deterioration of the 0-system clock signal A1 and the 1-system clock signal A2, pattern signal generation circuits 21 and 22 for generating two sets of fixed pattern signals B1 and B2, and a fixed pattern signal B1. , B2 are compared with the clock signals A1 and A2, respectively.
1 and 32 constitute a flock signal abnormality detection circuit. For example, the 0 system clock signal A1 is input to the comparison circuit 32 which compares the 1 system clock signal A2, and the 1 system clock signal A2 is compared with the 0 system clock signal A1. Input to the comparator circuit 31 to detect disconnection / frequency deterioration of the respective clock signals A1 and A2. Therefore, in the case of the dual configuration of the clock signals, if the fixed pattern signal generated by the clock signal for detecting the disconnection is compared with the clock signal of one system, it is possible to immediately detect the disconnection / frequency deterioration of each clock signal. Therefore, it is not necessary to provide a simulated clock signal generation circuit.
【0021】[0021]
【発明の効果】本発明によれば、クロック信号から固定
パターン信号を生成し、クロック信号と同じ周波数の模
擬クロック信号を発生し、その模擬クロック信号で固定
パターン信号を監視することにより、装置に供給される
クロック信号の異常(断及び周波数劣化)を即時に検出
する異常検出回路が得られる。従って、検出された異常
検出信号により装置を即時保障することが可能になるの
で装置の信頼性が向上する。According to the present invention, a fixed pattern signal is generated from a clock signal, a simulated clock signal having the same frequency as the clock signal is generated, and the fixed pattern signal is monitored by the simulated clock signal. An abnormality detection circuit for immediately detecting an abnormality (disconnection and frequency deterioration) of the supplied clock signal can be obtained. Therefore, it is possible to immediately guarantee the device by the detected abnormality detection signal, so that the reliability of the device is improved.
【図1】本発明の基本回路構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing a basic circuit configuration of the present invention.
【図2】本発明のクロック信号異常検出回路の一実施例
を示すブロックである。FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of a clock signal abnormality detection circuit of the present invention.
【図3】本発明のクロック信号異常検出回路のタイムチ
ャート(その1)である。FIG. 3 is a time chart (No. 1) of the clock signal abnormality detection circuit of the present invention.
【図4】本発明のクロック信号異常検出回路のタイムチ
ャート(その2)である。FIG. 4 is a time chart (No. 2) of the clock signal abnormality detection circuit of the present invention.
【図5】本発明を二重化クロック信号で構成される回路
に適用した一実施例を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment in which the present invention is applied to a circuit composed of dual clock signals.
【図6】従来のクロック信号異常検出回路の構成を示す
ブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a conventional clock signal abnormality detection circuit.
【図7】従来のクロック信号異常検出回路のタイムチャ
ート(その1)である。FIG. 7 is a time chart (No. 1) of the conventional clock signal abnormality detection circuit.
【図8】従来のクロック信号異常検出回路のタイムチャ
ート(その2)である。FIG. 8 is a time chart (No. 2) of the conventional clock signal abnormality detection circuit.
1 模擬クロック信号発生回路 2 パターン信号生成回路 3 比較回路 A クロック信号 B 固定パターン信号 C 模擬クロック信号 D 異常検出信号(アラーム信号) 1 Simulated clock signal generation circuit 2 Pattern signal generation circuit 3 Comparison circuit A Clock signal B Fixed pattern signal C Simulated clock signal D Abnormality detection signal (alarm signal)
Claims (3)
同一の周波数の模擬クロック信号(C)を発生する模擬
クロック信号発生回路(1)と、そのクロック信号
(A)に同期した固定パターン信号(B)を生成するパ
ターン信号生成回路(2)と、固定パターン信号(B)
の周期時間を模擬クロック信号(C)の周期時間を基準
にして比較する比較回路(3)とを備え、前記比較回路
(3)が固定パターン信号(B)の周期時間の異常を模
擬クロック信号(C)と比較することによりクロック信
号(A)の断および周波数の劣化を検出することを特徴
とするクロック信号異常検出回路。1. A simulated clock signal generation circuit (1) for generating a simulated clock signal (C) having the same frequency as the clock signal (A) supplied to the circuit, and a fixed pattern synchronized with the clock signal (A). A pattern signal generation circuit (2) for generating a signal (B) and a fixed pattern signal (B)
And a comparison circuit (3) for comparing the cycle time of the simulated clock signal (C) with the cycle time of the simulated clock signal (C) as a reference, and the comparison circuit (3) simulates an abnormal cycle time of the fixed pattern signal (B). A clock signal abnormality detection circuit, which detects a disconnection of a clock signal (A) and deterioration of a frequency by comparing with (C).
カウンタを備え、クロック信号(A)を1/2分周しそ
のクロック信号(A)に同期した固定パターン信号
(B)を生成することを特徴とする請求項1記載のクロ
ック信号異常検出回路。2. The fixed pattern generation circuit (2) includes a binary counter, divides the clock signal (A) by 1/2 and generates a fixed pattern signal (B) synchronized with the clock signal (A). The clock signal abnormality detection circuit according to claim 1, wherein
(B)の周期時間の異常を検出した際、異常検出信号
(D)を出力することを特徴とする請求項1記載のクロ
ック信号異常検出回路。3. The clock signal abnormality according to claim 1, wherein the comparator circuit (3) outputs an abnormality detection signal (D) when detecting an abnormality in the fixed pattern signal (B) in the cycle time. Detection circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23196193A JPH0786893A (en) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | Detecting circuit for clock signal abnormality |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23196193A JPH0786893A (en) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | Detecting circuit for clock signal abnormality |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0786893A true JPH0786893A (en) | 1995-03-31 |
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ID=16931771
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23196193A Withdrawn JPH0786893A (en) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | Detecting circuit for clock signal abnormality |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0786893A (en) |
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- 1993-09-17 JP JP23196193A patent/JPH0786893A/en not_active Withdrawn
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US7791599B2 (en) * | 2000-12-15 | 2010-09-07 | Lg Display Co., Ltd. | Liquid crystal display and driving method thereof |
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