JPH0784058A - Ｇｅ半導体検出器 - Google Patents
Ｇｅ半導体検出器Info
- Publication number
- JPH0784058A JPH0784058A JP23054893A JP23054893A JPH0784058A JP H0784058 A JPH0784058 A JP H0784058A JP 23054893 A JP23054893 A JP 23054893A JP 23054893 A JP23054893 A JP 23054893A JP H0784058 A JPH0784058 A JP H0784058A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquefied gas
- refrigerator
- storage container
- gas storage
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】エネルギ分解能の高度維持，Ｇｅ半導体検出部
周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距離の
設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化要望
等、核種測定に係る特殊な問題を解決して、冷却維持用
の低温冷凍機の運用を適切に行なうことができるように
する。 【構成】Ｇｅ半導体検出部１を液化ガス貯蔵容器２に接
続するとともに、液化ガス貯蔵容器の開口部２ａに液化
ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールドヘ
ッド５を配置したＧｅ半導体検出器であって、液化ガス
貯蔵容器の開口部とコールドヘッドとの間に、電気的絶
縁性を有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介在
させたことを特徴とする。
周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距離の
設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化要望
等、核種測定に係る特殊な問題を解決して、冷却維持用
の低温冷凍機の運用を適切に行なうことができるように
する。 【構成】Ｇｅ半導体検出部１を液化ガス貯蔵容器２に接
続するとともに、液化ガス貯蔵容器の開口部２ａに液化
ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールドヘ
ッド５を配置したＧｅ半導体検出器であって、液化ガス
貯蔵容器の開口部とコールドヘッドとの間に、電気的絶
縁性を有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介在
させたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線測定装置、例え
ばγ線スペクトロメータ等に適用されるＧｅ（ゲルマニ
ウム）半導体検出器に係り、特に冷却維持用の低温冷凍
機部を改良したＧｅ半導体検出器に関する。
ばγ線スペクトロメータ等に適用されるＧｅ（ゲルマニ
ウム）半導体検出器に係り、特に冷却維持用の低温冷凍
機部を改良したＧｅ半導体検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】原子力発電所では、運転状況や作業環境
または周辺環境への影響等を把握するために、適時に試
料を採取して放射能測定を行なっている。この場合、多
くの核種が混在する試料の核種分析用として、エネルギ
分解能が優れたＧｅ半導体検出器が多用されている。
または周辺環境への影響等を把握するために、適時に試
料を採取して放射能測定を行なっている。この場合、多
くの核種が混在する試料の核種分析用として、エネルギ
分解能が優れたＧｅ半導体検出器が多用されている。
【０００３】このＧｅ半導体検出器は、測定精度を高め
るために、液化ガスの気化熱を利用した冷凍機によって
測定中継続的に冷却するようになっている。具体的に
は、Ge半導体検出部を液化ガス貯蔵容器にコールドフィ
ンガを介して接続し、このコールドフィンガによって冷
熱の供給を行なうようになっている。
るために、液化ガスの気化熱を利用した冷凍機によって
測定中継続的に冷却するようになっている。具体的に
は、Ge半導体検出部を液化ガス貯蔵容器にコールドフィ
ンガを介して接続し、このコールドフィンガによって冷
熱の供給を行なうようになっている。
【０００４】ところで、液化ガスは蒸発によって容器外
に飛散するため、通常は必要に応じて液化ガス貯蔵容器
に補給し、測定時における冷却維持を図っている。しか
し、Ｇｅ半導体検出器は被曝防止のため遮蔽壁で覆われ
ることもあり、ガス補給作業が比較的煩雑で作業者の負
担の多いことから、液化ガスの蒸発対策が望まれてい
る。
に飛散するため、通常は必要に応じて液化ガス貯蔵容器
に補給し、測定時における冷却維持を図っている。しか
し、Ｇｅ半導体検出器は被曝防止のため遮蔽壁で覆われ
ることもあり、ガス補給作業が比較的煩雑で作業者の負
担の多いことから、液化ガスの蒸発対策が望まれてい
る。
【０００５】なお、電子顕微鏡のＥＤＳ検出器等の分野
では、同様の液化ガス蒸発対策として、液化ガス貯蔵容
器の開口部に低温冷凍機のコールドヘッドを配置し、気
化したガスを液化させるとともに液体温度を降下させる
ことによって容器内の液化ガス量を維持する技術が開発
されており、これに関して出願人は冷凍機の振動による
影響防止技術等について種々の提案を行なっている
（例：特開平２−２７９９７７号，同４−２５６８８６
号）。
では、同様の液化ガス蒸発対策として、液化ガス貯蔵容
器の開口部に低温冷凍機のコールドヘッドを配置し、気
化したガスを液化させるとともに液体温度を降下させる
ことによって容器内の液化ガス量を維持する技術が開発
されており、これに関して出願人は冷凍機の振動による
影響防止技術等について種々の提案を行なっている
（例：特開平２−２７９９７７号，同４−２５６８８６
号）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】Ｇｅ半導体検出器につ
いては、エネルギ分解能の高度維持，Ｇｅ半導体検出部
周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距離の
設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化要望
等、核種測定に係る特殊な問題があり、これまでの関連
技術をそのまま適用することは困難性がある。
いては、エネルギ分解能の高度維持，Ｇｅ半導体検出部
周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距離の
設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化要望
等、核種測定に係る特殊な問題があり、これまでの関連
技術をそのまま適用することは困難性がある。
【０００７】例えば特開平２−２７９９７７号で示した
ように、低温冷凍機に防振用支持台を設けた場合、支持
台ごと遮蔽体で囲設する必要があるが、液化ガス貯蔵容
器とＧｅ半導体検出部との連結部に合せて製作される一
般的な遮蔽体が適用できなくなる。
ように、低温冷凍機に防振用支持台を設けた場合、支持
台ごと遮蔽体で囲設する必要があるが、液化ガス貯蔵容
器とＧｅ半導体検出部との連結部に合せて製作される一
般的な遮蔽体が適用できなくなる。
【０００８】また、特開平４−２５６８８６号で示した
ように、冷凍機の振動吸収材として、防振ゴムを用いた
場合には、エネルギ分解能が低下し易い。
ように、冷凍機の振動吸収材として、防振ゴムを用いた
場合には、エネルギ分解能が低下し易い。
【０００９】一方、振動吸収材としてベローズ等を用い
た場合、冷凍機電源と検出器電源との間に連結されるグ
ランドループによって、ノイズが発生することがある。
た場合、冷凍機電源と検出器電源との間に連結されるグ
ランドループによって、ノイズが発生することがある。
【００１０】さらに、設置状況によっては、Ｇｅ半導体
検出器と液化ガス蒸発防止装置用冷凍機とを制御するた
めのコントローラが、放射線量が高いなどの理由によっ
てGe検出器から大きい離間距離を必要とする場合がある
が、前記従来技術で使用されている液化ガス貯蔵容器内
の温度検出用温度センサではコントローラまでの離間距
離を大きく設定することが性能上困難となることがあ
る。
検出器と液化ガス蒸発防止装置用冷凍機とを制御するた
めのコントローラが、放射線量が高いなどの理由によっ
てGe検出器から大きい離間距離を必要とする場合がある
が、前記従来技術で使用されている液化ガス貯蔵容器内
の温度検出用温度センサではコントローラまでの離間距
離を大きく設定することが性能上困難となることがあ
る。
【００１１】また、オートサンプルチェンジャなどを使
用して自動測定を行なう場合、従来のような手動操作に
よる冷凍機運転が併合できない。
用して自動測定を行なう場合、従来のような手動操作に
よる冷凍機運転が併合できない。
【００１２】一方、従来のＥＤＳ検出器用蒸発防止装置
では、自動運転制御用センサからの信号でコントローラ
をＯＮ，ＯＦＦ動作する等の手段が採用されているが、
これでは装置が複雑化して製作，運用上の問題が生じ
る。
では、自動運転制御用センサからの信号でコントローラ
をＯＮ，ＯＦＦ動作する等の手段が採用されているが、
これでは装置が複雑化して製作，運用上の問題が生じ
る。
【００１３】さらにまた、従来の装置では、故障時にＧ
ｅ半導体検出器を保護する機能がなく、故障原因の診断
が適切に行なえない等の問題がある。
ｅ半導体検出器を保護する機能がなく、故障原因の診断
が適切に行なえない等の問題がある。
【００１４】本発明は、このような事情に着目してなさ
れたもので、エネルギ分解能の高度維持，Ｇｅ半導体検
出部周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距
離の設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化
要望等、核種測定に係る特殊な問題を解決して、冷却維
持用の低温冷凍機の運用を適切に行なうことができるＧ
ｅ半導体検出器を提供することを目的とする。
れたもので、エネルギ分解能の高度維持，Ｇｅ半導体検
出部周りの遮蔽壁囲設，操作用コントローラとの離間距
離の設定，機器の保守点検や故障原因の診断等の容易化
要望等、核種測定に係る特殊な問題を解決して、冷却維
持用の低温冷凍機の運用を適切に行なうことができるＧ
ｅ半導体検出器を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯
蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開
口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機の
コールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、
前記液化ガス貯蔵容器の開口部と前記コールドヘッドと
の間に、電気的絶縁性を有するゲル状物質からなる振動
吸収層を介在させたことを特徴とする。
に、請求項１の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯
蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開
口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機の
コールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、
前記液化ガス貯蔵容器の開口部と前記コールドヘッドと
の間に、電気的絶縁性を有するゲル状物質からなる振動
吸収層を介在させたことを特徴とする。
【００１６】請求項２の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記液化ガス貯蔵容器の開口部と前記Ｇｅ半導
体検出部との間に、電気的絶縁性を有するゲル状物質か
らなる振動吸収層を介在させたことを特徴とする。
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記液化ガス貯蔵容器の開口部と前記Ｇｅ半導
体検出部との間に、電気的絶縁性を有するゲル状物質か
らなる振動吸収層を介在させたことを特徴とする。
【００１７】請求項３の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記Ｇｅ半導体検出部の測定操作と前記冷凍機
の運転とはそれらのいずれか一方のみが可能となるべく
設定されており、その設定手段は、前記Ｇｅ半導体検出
部の測定操作を検出する手段、前記冷凍機の運転の検出
する手段または前記液化ガス貯蔵容器内の圧力を検出す
る手段であることを特徴とする。
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記Ｇｅ半導体検出部の測定操作と前記冷凍機
の運転とはそれらのいずれか一方のみが可能となるべく
設定されており、その設定手段は、前記Ｇｅ半導体検出
部の測定操作を検出する手段、前記冷凍機の運転の検出
する手段または前記液化ガス貯蔵容器内の圧力を検出す
る手段であることを特徴とする。
【００１８】請求項４の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記冷凍機の運転と停止とを一定のサイクルで
切り換えるタイマ制御手段を備えたことを特徴とする。
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記冷凍機の運転と停止とを一定のサイクルで
切り換えるタイマ制御手段を備えたことを特徴とする。
【００１９】請求項５の発明は、Ｇｅ半導体検出部を液
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記冷凍機の圧縮機温度、前記Ｇｅ半導体検出
部の結露状態、または前記液化ガス貯蔵容器の圧力を検
出し、これらの検出値が指定範囲外にある場合のその旨
もしくはその原因を表示する診断装置を備えたことを特
徴とする。
化ガス貯蔵容器に接続するとともに、前記液化ガス貯蔵
容器の開口部に液化ガスの液化点以下の温度を設定した
冷凍機のコールドヘッドを配置したＧｅ半導体検出器で
あって、前記冷凍機の圧縮機温度、前記Ｇｅ半導体検出
部の結露状態、または前記液化ガス貯蔵容器の圧力を検
出し、これらの検出値が指定範囲外にある場合のその旨
もしくはその原因を表示する診断装置を備えたことを特
徴とする。
【００２０】
【作用】請求項１の発明によれば、液化ガス貯蔵容器の
開口部と冷凍機のコールドヘッドとの間にゲル状物質か
らなる振動吸収層を介在させることにより、これら液化
ガス貯蔵容器とコールドヘッドとの連設構造を大幅に変
える必要なく振動防止が図れるようになり、また、従来
から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適用できる
ようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動吸収層は
電気的絶縁性を有するものとしたことにより、Ｇｅ検出
器電源と冷凍機電源との間で形成されるグランドループ
による影響を防止でき、雑音によるエネルギ分解能の低
下を防止することができる。
開口部と冷凍機のコールドヘッドとの間にゲル状物質か
らなる振動吸収層を介在させることにより、これら液化
ガス貯蔵容器とコールドヘッドとの連設構造を大幅に変
える必要なく振動防止が図れるようになり、また、従来
から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適用できる
ようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動吸収層は
電気的絶縁性を有するものとしたことにより、Ｇｅ検出
器電源と冷凍機電源との間で形成されるグランドループ
による影響を防止でき、雑音によるエネルギ分解能の低
下を防止することができる。
【００２１】請求項２の発明によれば、液化ガス貯蔵容
器の開口部と冷凍機のＧｅ半導体検出部との間にゲル状
物質からなる振動吸収層を介在させることにより、これ
ら液化ガス貯蔵容器とＧｅ半導体検出部との連設構造を
大幅に変える必要なく振動防止が図れるようになり、ま
た、従来から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適
用できるようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動
吸収層は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、
Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグラン
ドループによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分
解能の低下を防止することができる。
器の開口部と冷凍機のＧｅ半導体検出部との間にゲル状
物質からなる振動吸収層を介在させることにより、これ
ら液化ガス貯蔵容器とＧｅ半導体検出部との連設構造を
大幅に変える必要なく振動防止が図れるようになり、ま
た、従来から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適
用できるようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動
吸収層は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、
Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグラン
ドループによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分
解能の低下を防止することができる。
【００２２】請求項３の発明によれば、Ｇｅ検出部によ
る測定時は低温冷凍機の運転を停止する自動制御機能を
有するため、自動連続測定が可能になり、その場合の切
換操作が容易であることに加え、液化ガス貯蔵容器内の
圧力を切換用設定手段として用いるので、従来用いられ
ていた温度センサを使用することがなくなり、これによ
りＧｅ半導体検出器とコントローラとの距離を離すこと
が可能になり、放射線対策も確実なものとすることがで
きる。
る測定時は低温冷凍機の運転を停止する自動制御機能を
有するため、自動連続測定が可能になり、その場合の切
換操作が容易であることに加え、液化ガス貯蔵容器内の
圧力を切換用設定手段として用いるので、従来用いられ
ていた温度センサを使用することがなくなり、これによ
りＧｅ半導体検出器とコントローラとの距離を離すこと
が可能になり、放射線対策も確実なものとすることがで
きる。
【００２３】請求項４の発明によれば、低温冷凍機の運
転を、タイマ制御手段を使用して実施するので、温度や
圧力に関係なく、一定サイクルの動作を行なうことがで
きる。したがって、センサ等を必要としないため、装置
の簡略化が図れるようになる。
転を、タイマ制御手段を使用して実施するので、温度や
圧力に関係なく、一定サイクルの動作を行なうことがで
きる。したがって、センサ等を必要としないため、装置
の簡略化が図れるようになる。
【００２４】請求項５の発明によれば、一定時間低温冷
凍機の運転を実施しても、特定圧力に到達しない場合や
使用環境条件が運転に適合していない場合に、その自動
診断、即ち、装置の故障，環境条件の適合性等が自動的
に判別でき、装置の保護に有効的なものとなる。
凍機の運転を実施しても、特定圧力に到達しない場合や
使用環境条件が運転に適合していない場合に、その自動
診断、即ち、装置の故障，環境条件の適合性等が自動的
に判別でき、装置の保護に有効的なものとなる。
【００２５】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００２６】まず、図１によって全体構成を説明する。
【００２７】本実施例のＧｅ半導体検出器では図１に示
すように、Ｇｅ半導体検出部１が液化ガス貯蔵容器とし
てのデュワ瓶２の上端の開口部２ａにコールドフィンガ
３を介して接続されている。このデュワ瓶２内には液化
ガスとして例えば液体窒素が収容されている。そして、
デュワ瓶２の開口部２ａに液体窒素の液化点以下の温度
を設定した冷凍機４のコールドヘッド５が配置され、開
口部２ａからデュワ瓶２内にコールドヘッド５のコール
ドエンド６が挿入されている。
すように、Ｇｅ半導体検出部１が液化ガス貯蔵容器とし
てのデュワ瓶２の上端の開口部２ａにコールドフィンガ
３を介して接続されている。このデュワ瓶２内には液化
ガスとして例えば液体窒素が収容されている。そして、
デュワ瓶２の開口部２ａに液体窒素の液化点以下の温度
を設定した冷凍機４のコールドヘッド５が配置され、開
口部２ａからデュワ瓶２内にコールドヘッド５のコール
ドエンド６が挿入されている。
【００２８】なお、冷凍機４は、コールドヘッド５を冷
媒配管７および中継ボックス８を介して圧縮機９に接続
して構成されており、これらコールドヘッド５と圧縮機
９とが低温冷凍機信号ケーブル１０によって相互に接続
されるとともに、それぞれコントローラ１１に圧力信号
ケーブル１２および低温冷凍機信号ケーブル１３を介し
て接続されている。
媒配管７および中継ボックス８を介して圧縮機９に接続
して構成されており、これらコールドヘッド５と圧縮機
９とが低温冷凍機信号ケーブル１０によって相互に接続
されるとともに、それぞれコントローラ１１に圧力信号
ケーブル１２および低温冷凍機信号ケーブル１３を介し
て接続されている。
【００２９】デュワ瓶２の開口部２ａ内には断熱材１４
が装着され、この開口部２ａ上にフランジ１５が載置さ
れている。Ｇｅ半導体検出部１接続用のコールドフィン
ガ３および冷凍機４のコールドエンド６は、これらフラ
ンジ１５および断熱材１４を貫通してデュワ瓶２内に挿
入されている。
が装着され、この開口部２ａ上にフランジ１５が載置さ
れている。Ｇｅ半導体検出部１接続用のコールドフィン
ガ３および冷凍機４のコールドエンド６は、これらフラ
ンジ１５および断熱材１４を貫通してデュワ瓶２内に挿
入されている。
【００３０】なお、図２に示すように、フランジ１５上
には圧力センサ１６，液体窒素補給口１７，安全弁１８
等が設けられ、またデュワ瓶２内には液体窒素レベルセ
ンサ１９が挿入されている。
には圧力センサ１６，液体窒素補給口１７，安全弁１８
等が設けられ、またデュワ瓶２内には液体窒素レベルセ
ンサ１９が挿入されている。
【００３１】このものにおいて、前述した冷凍機４のコ
ールドヘッド５は、フランジ１５の上に、電気的絶縁性
を有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介して載
置されてボルト等の締付具２１で固定されている。この
振動吸収層２０を構成するゲル状物質は、例えばシリコ
ンを主体として構成され、比重が約０．５〜２，引張強
度が約０．５〜２６kg／cm2 で、ゴム等の防振材に比べ
て低周波振動の吸収能に優れ、温度変化に対しても反発
弾性が２０％以下と一定としているものである。
ールドヘッド５は、フランジ１５の上に、電気的絶縁性
を有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介して載
置されてボルト等の締付具２１で固定されている。この
振動吸収層２０を構成するゲル状物質は、例えばシリコ
ンを主体として構成され、比重が約０．５〜２，引張強
度が約０．５〜２６kg／cm2 で、ゴム等の防振材に比べ
て低周波振動の吸収能に優れ、温度変化に対しても反発
弾性が２０％以下と一定としているものである。
【００３２】このような構成によると、デュワ瓶２の開
口部２ａと冷凍機４のコールドヘッド５との間にゲル状
物質からなる振動吸収層２０が介在しているので、これ
らデュワ瓶２とコールドヘッド５との連設構造を大幅に
変える必要なく、振動防止が図れるようになり、従来か
ら使用されている一般的な構造の遮蔽体が適用できるよ
うになる。しかも、ゲル状物質からなる振動吸収層２０
は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、Ｇｅ検
出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグランドルー
プによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分解能の
低下を防止することができる。さらに、この振動吸収層
２０はゲル状物質からなるので、容器密閉効果も奏さ
れ、したがって、Ｏリング等によるシール材が省略でき
る。
口部２ａと冷凍機４のコールドヘッド５との間にゲル状
物質からなる振動吸収層２０が介在しているので、これ
らデュワ瓶２とコールドヘッド５との連設構造を大幅に
変える必要なく、振動防止が図れるようになり、従来か
ら使用されている一般的な構造の遮蔽体が適用できるよ
うになる。しかも、ゲル状物質からなる振動吸収層２０
は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、Ｇｅ検
出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグランドルー
プによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分解能の
低下を防止することができる。さらに、この振動吸収層
２０はゲル状物質からなるので、容器密閉効果も奏さ
れ、したがって、Ｏリング等によるシール材が省略でき
る。
【００３３】また、低温冷凍機４を使用しない場合に
は、フランジ１５上に設けられた液体窒素補給口１７か
らの液体窒素を補給することができる。
は、フランジ１５上に設けられた液体窒素補給口１７か
らの液体窒素を補給することができる。
【００３４】また、初期冷却時および異常時には、フラ
ンジ１５に設けられた安全弁１８が作動し、デュワ瓶２
内の圧力が一定値以下に保持さる。デュワ瓶２の開口部
２ａには断熱材１４を装填してあるので、熱の侵入が抑
えられ、低温冷凍機４の運転時間が短縮できる。
ンジ１５に設けられた安全弁１８が作動し、デュワ瓶２
内の圧力が一定値以下に保持さる。デュワ瓶２の開口部
２ａには断熱材１４を装填してあるので、熱の侵入が抑
えられ、低温冷凍機４の運転時間が短縮できる。
【００３５】なお、図３に示すように、ゲル状物質から
なる振動吸収層２０は、冷凍機４のコールドヘッド５の
周囲部を被覆する構成としてもよい。
なる振動吸収層２０は、冷凍機４のコールドヘッド５の
周囲部を被覆する構成としてもよい。
【００３６】このような構成とすれば、コールドヘッド
５が外面全体に亘って振動防止状態となるので、騒音防
止効果が奏され、また断熱効果も奏される。
５が外面全体に亘って振動防止状態となるので、騒音防
止効果が奏され、また断熱効果も奏される。
【００３７】また、図４に示した構成は、Ｇｅ半導体検
出部１を液化ガス貯蔵容器としてのデュワ瓶２に接続す
るとともに、デュワ瓶２の開口部２ａに液化ガスの液化
点以下の温度を設定した冷凍機４のコールドヘッド５を
配置したＧｅ半導体検出器であって、デュワ瓶２の開口
部２ａとＧｅ半導体検出部１との間に、電気的絶縁性を
有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介在させた
ものである。
出部１を液化ガス貯蔵容器としてのデュワ瓶２に接続す
るとともに、デュワ瓶２の開口部２ａに液化ガスの液化
点以下の温度を設定した冷凍機４のコールドヘッド５を
配置したＧｅ半導体検出器であって、デュワ瓶２の開口
部２ａとＧｅ半導体検出部１との間に、電気的絶縁性を
有するゲル状物質からなる振動吸収層２０を介在させた
ものである。
【００３８】このような構成によると、冷凍機４側の振
動は、Ｇｅ半導体検出部１側で吸収され、図２に示した
構成のものと同様の効果が奏される。
動は、Ｇｅ半導体検出部１側で吸収され、図２に示した
構成のものと同様の効果が奏される。
【００３９】なお、図５には、振動吸収層２０を有しな
い構成例を示している。このものでは図２〜図４に示し
た構成のような振動吸収能は得られないが、後述する制
御構成の対象となり得るものである。各部の構成につい
ては、振動吸収層以外について図２〜図４のものと略同
様であるから、図の対応部分に同一符号を付して説明を
省略する。
い構成例を示している。このものでは図２〜図４に示し
た構成のような振動吸収能は得られないが、後述する制
御構成の対象となり得るものである。各部の構成につい
ては、振動吸収層以外について図２〜図４のものと略同
様であるから、図の対応部分に同一符号を付して説明を
省略する。
【００４０】また、図６には、Ｇｅ半導体検出部１に結
露センサ２２を設け、この結露センサ２２を結露センサ
ケーブル２３によってコントローラ１１に接続し、冷凍
機４の制御要素を加えた構成例を示している。制御につ
いては後述する。また、他の各部の構成については、図
１に示したものと略同様であるから、図１の対応部分に
同一符号を付して説明を省略する。
露センサ２２を設け、この結露センサ２２を結露センサ
ケーブル２３によってコントローラ１１に接続し、冷凍
機４の制御要素を加えた構成例を示している。制御につ
いては後述する。また、他の各部の構成については、図
１に示したものと略同様であるから、図１の対応部分に
同一符号を付して説明を省略する。
【００４１】さらに、図７には、Ｇｅ半導体検出部１を
デュワ瓶２の側方に配設した構成例を示している。この
例においては、Ｇｅ半導体検出部の配置構成以外は図１
と略同様である。
デュワ瓶２の側方に配設した構成例を示している。この
例においては、Ｇｅ半導体検出部の配置構成以外は図１
と略同様である。
【００４２】次に図８〜図９によって制御構成を説明す
る。
る。
【００４３】基本的には、図８に示すように、Ｇｅ半導
体検出部１の測定操作と冷凍機４の運転とがそれらのい
ずれか一方のみ可能となるべく設定される。その設定手
段は、デュワ瓶２内の温度もしくは圧力を検出する手
段、例えば圧力センサ１６が用いられる。なお、Ｇｅ半
導体検出部１の測定操作を検出する手段、または冷凍機
４の運転の検出する手段としてもよい。
体検出部１の測定操作と冷凍機４の運転とがそれらのい
ずれか一方のみ可能となるべく設定される。その設定手
段は、デュワ瓶２内の温度もしくは圧力を検出する手
段、例えば圧力センサ１６が用いられる。なお、Ｇｅ半
導体検出部１の測定操作を検出する手段、または冷凍機
４の運転の検出する手段としてもよい。
【００４４】また、図９に示すように、本実施例では、
液体窒素レベルセンサ１９によりレベル確認が行なわれ
液体窒素のレベルがＬＯの時には高圧がカットされ、Ｇ
ｅ半導体検出部１が保護される。そして、ブザーと赤ラ
ンプとにより、液化ガスレベルＬＯが報知される。レベ
ルＯＫの場合は、青ランプ点灯となる。
液体窒素レベルセンサ１９によりレベル確認が行なわれ
液体窒素のレベルがＬＯの時には高圧がカットされ、Ｇ
ｅ半導体検出部１が保護される。そして、ブザーと赤ラ
ンプとにより、液化ガスレベルＬＯが報知される。レベ
ルＯＫの場合は、青ランプ点灯となる。
【００４５】図１０は本実施例による自己診断を行なう
場合のフローチャートを示している。
場合のフローチャートを示している。
【００４６】即ち、圧縮機９の設置環境温度がセンサに
より確認され、指定範囲外であれば動作ＯＦＦとなり、
コントローラ１１に考えられる原因が表示される。指定
範囲内であればＧｅ半導体検出部１に取り付けられた検
出器結露センサ２２の確認が行なわれ、範囲外であれば
コントローラ１１に考えられる原因が表示される。
より確認され、指定範囲外であれば動作ＯＦＦとなり、
コントローラ１１に考えられる原因が表示される。指定
範囲内であればＧｅ半導体検出部１に取り付けられた検
出器結露センサ２２の確認が行なわれ、範囲外であれば
コントローラ１１に考えられる原因が表示される。
【００４７】したがって、範囲内の場合はデュワ瓶２の
フランジ１５に取り付けられた圧力センサ１６（または
温度センサ）の出力が確認され、指定範囲外のときは低
温冷凍機４が動作する。動作スタート時にタイマもスタ
ートし、一定時間、例えば１２時間以内に指定範囲に入
ることが確認される。タイマ動作中に指定範囲に入らな
い場合には、コントローラ１１に推定原因が表示され
る。圧力センサ１６（または温度センサ）の出力が指定
範囲内のときは、低温冷凍機４が動作ＯＦＦとされ、各
センサの出力監視に入る。
フランジ１５に取り付けられた圧力センサ１６（または
温度センサ）の出力が確認され、指定範囲外のときは低
温冷凍機４が動作する。動作スタート時にタイマもスタ
ートし、一定時間、例えば１２時間以内に指定範囲に入
ることが確認される。タイマ動作中に指定範囲に入らな
い場合には、コントローラ１１に推定原因が表示され
る。圧力センサ１６（または温度センサ）の出力が指定
範囲内のときは、低温冷凍機４が動作ＯＦＦとされ、各
センサの出力監視に入る。
【００４８】このような制御によると、検出器の自動測
定に合せて、測定時は低温冷凍機４の運転を停止する自
動制御機能が得られ、自動連続測定が可能となる。
定に合せて、測定時は低温冷凍機４の運転を停止する自
動制御機能が得られ、自動連続測定が可能となる。
【００４９】また、低温冷凍機の運転をタイマのみを使
用して実施する場合には、温度、圧力等に関係なく一定
サイクルによる動作が行なわれる。したがって、センサ
等が必要なく、装置の簡略化が実施できるようになる。
用して実施する場合には、温度、圧力等に関係なく一定
サイクルによる動作が行なわれる。したがって、センサ
等が必要なく、装置の簡略化が実施できるようになる。
【００５０】さらに、自動運転制御機能に加え、環境お
よび運転状況による自動診断機能が得られ、一定時間、
低温冷凍機４の運転を実施しても特定圧力に到達しない
場合や、使用環境条件（検出器の結露等）により、運転
に適合していない場合の判断を行なう自動診断機能を有
するものとなり、装置の故障，環境条件の適合性等を自
動診断することが可能となり、装置保護にも好適なもの
となる。
よび運転状況による自動診断機能が得られ、一定時間、
低温冷凍機４の運転を実施しても特定圧力に到達しない
場合や、使用環境条件（検出器の結露等）により、運転
に適合していない場合の判断を行なう自動診断機能を有
するものとなり、装置の故障，環境条件の適合性等を自
動診断することが可能となり、装置保護にも好適なもの
となる。
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、液化ガス貯蔵容器の開口部と冷凍機のコールド
ヘッドとの間にゲル状物質からなる振動吸収層を介在さ
せることにより、これら液化ガス貯蔵容器とコールドヘ
ッドとの連設構造を大幅に変える必要なく振動防止が図
れるようになり、また、従来から使用されている一般的
な構造の遮蔽体が適用できるようになる。しかも、ゲル
状物質からなる振動吸収層は電気的絶縁性を有するもの
としたことにより、Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間
で形成されるグランドループによる影響を防止でき、雑
音によるエネルギ分解能の低下を防止することができ
る。
よれば、液化ガス貯蔵容器の開口部と冷凍機のコールド
ヘッドとの間にゲル状物質からなる振動吸収層を介在さ
せることにより、これら液化ガス貯蔵容器とコールドヘ
ッドとの連設構造を大幅に変える必要なく振動防止が図
れるようになり、また、従来から使用されている一般的
な構造の遮蔽体が適用できるようになる。しかも、ゲル
状物質からなる振動吸収層は電気的絶縁性を有するもの
としたことにより、Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間
で形成されるグランドループによる影響を防止でき、雑
音によるエネルギ分解能の低下を防止することができ
る。
【００５２】請求項２の発明によれば、液化ガス貯蔵容
器の開口部と冷凍機のＧｅ半導体検出部との間にゲル状
物質からなる振動吸収層を介在させることにより、これ
ら液化ガス貯蔵容器とＧｅ半導体検出部との連設構造を
大幅に変える必要なく振動防止が図れるようになり、ま
た、従来から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適
用できるようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動
吸収層は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、
Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグラン
ドループによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分
解能の低下を防止することができる。
器の開口部と冷凍機のＧｅ半導体検出部との間にゲル状
物質からなる振動吸収層を介在させることにより、これ
ら液化ガス貯蔵容器とＧｅ半導体検出部との連設構造を
大幅に変える必要なく振動防止が図れるようになり、ま
た、従来から使用されている一般的な構造の遮蔽体が適
用できるようになる。しかも、ゲル状物質からなる振動
吸収層は電気的絶縁性を有するものとしたことにより、
Ｇｅ検出器電源と冷凍機電源との間で形成されるグラン
ドループによる影響を防止でき、雑音によるエネルギ分
解能の低下を防止することができる。
【００５３】請求項３の発明によれば、Ｇｅ検出部によ
る測定時は低温冷凍機の運転を停止する自動制御機能を
有するため、自動連続測定が可能になり、その場合の切
換操作が容易であることに加え、液化ガス貯蔵容器内の
圧力を切換用設定手段として用いるので、従来用いられ
ていた温度センサを使用することがなくなり、これによ
りＧｅ半導体検出器とコントローラとの距離を離すこと
が可能になり、放射線対策も確実なものとすることがで
きる。
る測定時は低温冷凍機の運転を停止する自動制御機能を
有するため、自動連続測定が可能になり、その場合の切
換操作が容易であることに加え、液化ガス貯蔵容器内の
圧力を切換用設定手段として用いるので、従来用いられ
ていた温度センサを使用することがなくなり、これによ
りＧｅ半導体検出器とコントローラとの距離を離すこと
が可能になり、放射線対策も確実なものとすることがで
きる。
【００５４】請求項４の発明によれば、低温冷凍機の運
転を、タイマ制御手段を使用して実施するので、温度や
圧力に関係なく、一定サイクルの動作を行なうことがで
きる。したがって、センサ等を必要としないため、装置
の簡略化が図れるようになる。
転を、タイマ制御手段を使用して実施するので、温度や
圧力に関係なく、一定サイクルの動作を行なうことがで
きる。したがって、センサ等を必要としないため、装置
の簡略化が図れるようになる。
【００５５】請求項５の発明によれば、一定時間低温冷
凍機の運転を実施しても、特定圧力に到達しない場合や
使用環境条件が運転に適合していない場合に、その自動
診断、即ち、装置の故障，環境条件の適合性等が自動的
に判別でき、装置の保護に有効的なものとなる。
凍機の運転を実施しても、特定圧力に到達しない場合や
使用環境条件が運転に適合していない場合に、その自動
診断、即ち、装置の故障，環境条件の適合性等が自動的
に判別でき、装置の保護に有効的なものとなる。
【図１】本発明の実施例を示す全体構成図。
【図２】同実施例の要部拡大図。
【図３】図２の第１の変形例を示す図。
【図４】図２の第２の変形例を示す図。
【図５】図３の第３の変形例を示す図。
【図６】図１の第１の変形例を示す図。
【図７】図１の第２の変形例を示す図。
【図８】同実施例による制御方法を示す図。
【図９】同実施例による制御方法を示す図。
【図１０】同実施例による制御方法を示す図。
【符号の説明】 １ Ｇｅ半導体検出部 ２ 液化ガス収納容器（デュワ瓶） ４ 低温冷凍機 ５ コールドヘッド ９ 圧縮機 １６ 圧力検出手段（圧力センサ） ２０ 振動吸収層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤田 真也 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 牧野 俊一郎 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 堀尾 志伸 神奈川県横浜市港北区新横浜２−14−27 岩谷産業株式会社横浜支店内 (72)発明者 足立 正人 滋賀県守山市勝部町1095番地 イワタニプ ランテック株式会社滋賀工場内
Claims (5)
- 【請求項１】 Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯蔵容器に
接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開口部に液
化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールド
ヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、前記液化
ガス貯蔵容器の開口部と前記コールドヘッドとの間に、
電気的絶縁性を有するゲル状物質からなる振動吸収層を
介在させたことを特徴とするＧｅ半導体検出器。 - 【請求項２】 Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯蔵容器に
接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開口部に液
化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールド
ヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、前記液化
ガス貯蔵容器の開口部と前記Ｇｅ半導体検出部との間
に、電気的絶縁性を有するゲル状物質からなる振動吸収
層を介在させたことを特徴とするＧｅ半導体検出器。 - 【請求項３】 Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯蔵容器に
接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開口部に液
化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールド
ヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、前記Ｇｅ
半導体検出部の測定操作と前記冷凍機の運転とはそれら
のいずれか一方のみが可能となるべく設定されており、
その設定手段は、前記Ｇｅ半導体検出部の測定操作を検
出する手段、前記冷凍機の運転の検出する手段または前
記液化ガス貯蔵容器内の圧力を検出する手段であること
を特徴とするＧｅ半導体検出器。 - 【請求項４】 Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯蔵容器に
接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開口部に液
化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールド
ヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、前記冷凍
機の運転と停止とを一定のサイクルで切り換えるタイマ
制御手段を備えたことを特徴とするGe半導体検出器。 - 【請求項５】 Ｇｅ半導体検出部を液化ガス貯蔵容器に
接続するとともに、前記液化ガス貯蔵容器の開口部に液
化ガスの液化点以下の温度を設定した冷凍機のコールド
ヘッドを配置したＧｅ半導体検出器であって、前記冷凍
機の圧縮機温度、前記Ｇｅ半導体検出部の結露状態、ま
たは前記液化ガス貯蔵容器の圧力を検出し、これらの検
出値が指定範囲外にある場合のその旨もしくはその原因
を表示する診断装置を備えたことを特徴とするＧｅ半導
体検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23054893A JPH0784058A (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | Ｇｅ半導体検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23054893A JPH0784058A (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | Ｇｅ半導体検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0784058A true JPH0784058A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16909490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23054893A Pending JPH0784058A (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | Ｇｅ半導体検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0784058A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08278400A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Rigaku Corp | 冷却装置 |
| JP2007003397A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 試料分析装置 |
| JP2007298506A (ja) * | 2006-04-06 | 2007-11-15 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 試料冷却装置 |
| US8307665B2 (en) | 2006-04-06 | 2012-11-13 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Sample cooling apparatus |
| JP2017126570A (ja) * | 2009-11-06 | 2017-07-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオンビーム装置および試料解析方法 |
| JP2017161444A (ja) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | セイコー・イージーアンドジー株式会社 | 放射線検出器 |
-
1993
- 1993-09-16 JP JP23054893A patent/JPH0784058A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08278400A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Rigaku Corp | 冷却装置 |
| JP2007003397A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 試料分析装置 |
| JP4692742B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2011-06-01 | 富士電機ホールディングス株式会社 | 試料分析装置 |
| JP2007298506A (ja) * | 2006-04-06 | 2007-11-15 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 試料冷却装置 |
| US8307665B2 (en) | 2006-04-06 | 2012-11-13 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Sample cooling apparatus |
| JP2017126570A (ja) * | 2009-11-06 | 2017-07-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオンビーム装置および試料解析方法 |
| JP2017161444A (ja) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | セイコー・イージーアンドジー株式会社 | 放射線検出器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3184958A (en) | Conduit system | |
| US6223587B1 (en) | Device and method for permanently controlling the tightness of closing lids of containers for radioactive materials | |
| US8750594B2 (en) | System and method for non-destructively examining degradation of an interior of a device | |
| JPH0784058A (ja) | Ｇｅ半導体検出器 | |
| JPH0666670A (ja) | 漏出検知装置、流体収容装置及び流体漏出監視方法 | |
| CN101151514A (zh) | 用于流体分配容器的泄漏测试和鉴定的设备及方法 | |
| Knöpfle et al. | Design and performance of the GERDA low-background cryostat for operation in water | |
| KR900008347B1 (ko) | 공정분석장치 | |
| JP2004226385A (ja) | キャニスタ異常検出システム | |
| JP3833671B2 (ja) | 宇宙環境試験装置 | |
| CN115683463A (zh) | 一种储氢用泄漏探测的非接触式传感系统及其检漏方法 | |
| JP4959376B2 (ja) | 変位計測装置を備えた二重殻構造タンク装置、及びタンク設備 | |
| JPH0476596B2 (ja) | ||
| JP3386780B2 (ja) | 冷凍サイクル装置 | |
| Kobayashi et al. | Liquid hydrogen and deuterium target for antiproton annihilation at rest | |
| EVALUATI0N | Tkk 3 5. Project Titte/No./Work Order Mo. 6. Bldg./Sys../Fac. No. 7. Approval Designator S eee SS Characterization, S0 | |
| Balaskó et al. | Applications of dynamic neutron and gamma radiography at the Budapest Research Reactor | |
| Kim et al. | Fundamental design of systems and facilities for cold neutron source in the Hanaro | |
| JP3441719B2 (ja) | 配管挿入型温度計保護管を断水なしに交換する方法と治具 | |
| de Winter | A Facility for Testing Large Superconducting Magnets | |
| JP2001281381A (ja) | ケーブルペネトレーション健全性診断装置 | |
| Anderson et al. | Fluid leak indicator | |
| JPS61272693A (ja) | 移動式点検装置 | |
| Brough et al. | Instrumentation report 1: specification, design, calibration, and installation of instrumentation for an experimental, high-level, nuclear waste storage facility | |
| Haroldsen et al. | EBR-II radioactive sodium chemistry loop (RSCL) |