JPH0783637A - 縞画像解析方法 - Google Patents

縞画像解析方法

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JPH0783637A
JPH0783637A JP5231728A JP23172893A JPH0783637A JP H0783637 A JPH0783637 A JP H0783637A JP 5231728 A JP5231728 A JP 5231728A JP 23172893 A JP23172893 A JP 23172893A JP H0783637 A JPH0783637 A JP H0783637A
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image
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JP5231728A
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English (en)
Inventor
Masato Noguchi
正人 野口
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 縞画像を二次元画素群を有する画像入力手段
に入力し、縞画像に位相シフトを与えながら、各画素の
出力変化を見て縞画像の位相分布を解析する方法におい
て、縞画像に与える位相シフトにエラーがあった場合に
も、正確な縞画像の位相分布を検出することができる方
法(アルゴリズム)を得ること。 【構成】 干渉縞等の縞画像を入力する、二次元画素群
を有する画像入力手段と;この縞画像の位相を変化させ
る位相シフト手段と;画像入力手段に入力された縞画像
を解析する縞画像解析手段と;を備え、位相シフト手段
により縞画像の位相を2π/3ずつ変化させながら、画
像入力手段の二次元画素群に4枚の縞画像情報を入力
し、縞画像解析手段は、4枚の縞画像の対応する二次元
画素群のそれぞれの出力を用い、 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、4枚の縞画像情報の各画
素における光強度)の演算を施して、縞画像の位相分布
を求める縞画像解析方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は、干渉縞等の位相変調を受けた縞
画像を解析する方法に関する。
【0002】
【従来技術およびその問題点】例えば、被測定物体の表
面で反射光と、基準面(参照ミラー)での反射光とを干
渉させ、その干渉縞の位相分布によって、被測定物体の
表面形状を測定する方法は、広く知られている。さら
に、この干渉縞が時間的または空間的に変化したときの
位相に着目した縞画像解析技術も提案されている。例え
ば、参照ミラーを光軸と直交させたまま動かして縞画像
に位相変調を与えると、最低3枚の縞画像情報から、物
体の表面形状を測定することができる(位相シフト
法)。あるいは、ティルト法(空間縞走査法)として知
られるように、参照ミラーを光軸に対して傾けても、同
様である。
【0003】このように参照ミラーを移動させて縞画像
に位相シフトを与える測定方法では、参照ミラーを波長
の数百分の1のオーダで正確に移動させることが不可欠
である。しかしながら、このような位相シフト手段の機
械的精度には限界があり、ある程度の位相シフトエラー
を見込まなければならない。ところが、従来の縞画像の
位相分布を演算するアルゴリズムは、この位相シフトエ
ラーに弱いという問題があった。つまり、小さい位相シ
フトエラーでも、大きい測定値エラーが生じる。
【0004】
【発明の目的】本発明は、従来の縞画像解析方法につい
ての以上の問題意識に基づき、縞画像の位相シフト手段
によって位相シフトエラーが生じた場合でも、測定精度
には大きな影響を与えない測定方法、特に位相分布演算
用のアルゴリズムを得ることを目的とする。
【0005】
【発明の概要】本発明は、その第一の態様によると、干
渉縞等の縞画像を入力する、二次元画素群を有する画像
入力手段と;この縞画像の位相を変化させる位相シフト
手段と;画像入力手段に入力された縞画像を解析する縞
画像解析手段と;を備え、位相シフト手段により縞画像
の位相をxずつ変化させながら、画像入力手段の二次元
画素群にN枚の縞画像情報を入力し、縞画像解析手段
は、N枚の縞画像の対応する二次元画素群のそれぞれの
出力を用いて式Φにより縞画像の位相分布を求めること
を特徴としている。
【0006】本発明は、この第一の態様のx、N、及び
Φにつき、次の1−1及び1−2の2つのアルゴリズム
を提案する。 1−1. x=2π/3 N=4 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、N枚の縞画像情報の各画
素における光強度)
【0007】1−2. x=π/2 N=4 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、N枚の縞画像情報の各画
素における光強度)
【0008】また本発明は、第二の態様によると、干渉
縞等の縞画像をその平均的縞間隔のほぼM倍でサンプリ
ングする、二次元画素群を有する画像入力手段と;画像
入力手段に入力された縞画像を解析する縞画像解析手段
と;を備え、縞画像解析手段は、画像入力手段の二次元
画素群の隣り合うN個の画素の出力を用いて、式Φによ
り縞画像の位相分布を求めることを特徴としている。
【0009】本発明は、この第二の態様のM、N、及び
Φにつき、次の2−1、2−2及び2−3の3つのアル
ゴリズムを提案する。 2−1. M=4 N=5 Φ=tan-1[2(I4-I2)/I1+I5-2I3] (但し、Ii(i=1,2,3,4,5 )は、隣り合うN個の画素に
おける光強度)
【0010】2−2. M=3 N=4 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合うN個の画素にお
ける光強度)
【0011】2−3. M=4 N=4 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合うN個の画素にお
ける光強度)
【0012】
【発明の実施例】以下図示実施例について本発明を説明
する。図1は、本発明の縞画像解析方法を適用する装置
として、トワイマングリーン干渉計を示したもので、レ
ーザ光源11からの光は、コリメータレンズ系12を介
して参照ミラー13に照射される。コリメータレンズ系
12と参照ミラー13の間には、ハーフミラー15が置
かれていて、このハーフミラー15で反射した光は、被
検物体の被検面16に入射する。参照ミラー13の反射
光と被検面16での反射光とは、ハーフミラー15で合
成され、結像レンズ系17を介して干渉縞を作り、二次
元イメージセンサ(縞画像入力手段)18に入力され
る。二次元イメージセンサ18は、二次元画素群を有す
るものである。
【0013】参照ミラー13は、参照光の位相を変調す
るピエゾ素子(位相シフト手段)19に接続されてい
る。このピエゾ素子19は、二次元イメージセンサ18
に入力される干渉縞の周期(レーザ光源11の波長)の
数分の1ないし数十分の1の移動精度で、参照ミラー1
3を、光軸と直交させたまま、進退させる。
【0014】縞画像解析装置20のCPU21は、A/
Dコンバータ22によってA/D変換された二次元イメ
ージセンサ18からの縞画像情報の入力を受け、一方、
D/Aコンバータ23を介して高圧電源24を制御し、
ピエゾ素子19を駆動する。CPU21は、外部記憶装
置26、キーボード27、ディスプレイ28、プリンタ
29等に接続されている。
【0015】以上の周知の干渉計は、ピエゾ素子19に
よって参照ミラー13をレーザ光源11の波長の数分の
1オーダで動かすと、二次元イメージセンサ18上に形
成されている干渉縞の各点の光強度は正弦波状に変動す
る。図2は、その変化の様子の一例を示したものであ
る。この光強度の変動は、二次元イメージセンサ18を
構成する二次元画素群の各画素によって捕らえられ、こ
の光強度の変化を観測することで、被検面16の参照ミ
ラー13と比較した面精度を検出することができる。
【0016】この手法によって被検面16の面精度を検
出するには、参照ミラー13を干渉縞の1周期(2π)
の変化をN等分(Nは3以上)する位置に正確に移動さ
せる必要がある。干渉縞の位相分布をΦとすると、N≧
3の一般的な解は、次式1で与えられる。
【0017】
【式1】Φ=tan-1[Σ Iisin{2π(i-1)/N]/[ΣIicos {2
π(i−1)/N] (i=1からNまで) N=3の場合は、 Φ=tan−1[31/2(I−I)/2I−I
−I] である。また、N=4の場合は、 Φ=tan-1[(I4-I2)/(I1-I3)] である。この2つのアルゴリズムをそれぞれ0−1、0
−2とする。
【0018】ところが、この従来のアルゴリズムでは、
ピエゾ素子19による参照ミラー13の送り誤差(位相
シフトエラー)がある場合には、干渉縞の正確な位相を
求めることができず、僅かな位相シフトエラーで大きな
位相検出誤差が生じる。
【0019】図3と図4の0−1及び0−2のグラフは
それぞれ、1ステップの位相シフト量が設定値の0.9
倍だったとき、及び0.75倍だったとき、0−1、0
−2のアルゴリズムを用いて干渉縞の位相を検出したと
きのエラーをシミュレーションしたものである。この図
の横軸は求める位相を示し、縦軸は誤差(縞本数単位
(左側)と、位相単位(右側))を示している。
【0020】本発明は、参照光の位相シフトエラーがあ
った場合にも、干渉縞の検出位相に影響を与えないアル
ゴリズムを提案するもので、その第一の態様では、1−
1及び1−2のアルゴリズムを提案し、第二の態様で
は、2−1、2−2、及び2−3のアルゴリズムを提案
する。
【0021】第一の態様は、図1のように、参照ミラー
13を光軸と直交させたまま、光軸方向に進退させる場
合に相当し、第二の態様は、図5のように、参照ミラー
13Tを光軸に対して傾ける場合(ティルト法、空間縞
走査法)に相当する。この第二の態様の参照ミラー13
T、及びその駆動系以外の構成要素は図1と同じであ
り、同じ構成要素には同じ符合を付している。このティ
ルト法の原理及び制御系を図5について説明する。
【0022】図5の装置が図1の装置と比較して異なる
点は、参照ミラー13Tが光軸に対して適当角度傾ける
ことができる点である。
【0023】このように、参照ミラー13Tが光軸に対
して傾けると、図1の装置に比して、細かい干渉縞が発
生する。図6は、参照ミラー13Tを光軸に直交する状
態から傾けていったときの干渉縞の変化の様子の例を示
している。この細かい干渉縞を二次元イメージセンサを
構成する二次元画素群の各画素で検出することにより、
被検面16の参照ミラー13Tと比較した面精度を検出
することができる。
【0024】図7は、その原理を示すものである。同図
において、直線(平行線)13’の位置P1 、P2 、P
3 、P4 を図1の装置において参照ミラー13を順次移
動させた際の位置とする。これに対し、これらの平行線
を横切る傾斜直線13T’を参照ミラー13Tの位置と
し、13Tの位置と13T’の位置が同じ位置(P1
を基準位置x1 とする。すると、13T’は、x2 の位
置ではP2 と同じ位置にあり、x3 の位置ではP3 と同
じ位置にあり、x4 の位置ではP3 と同じ位置にある。
従って、図1の装置において、参照ミラー13TをP
1 、P2 、P3 、P4 と移動させて干渉縞を観察するこ
とは、図5の装置において参照ミラー13Tを傾けてx
1 、x2 、x3 、x4 の位置で干渉縞を観察することと
等価となる。つまり、図1の装置で使われるアルゴリズ
ムを空間座標x1 〜x4 に置き換えることができること
となる。
【0025】しかし、以上のことが成り立つのは、x1
〜x4 の区間で、サンプル(被検面)の形状変化が十分
小さいときだけである。x1 〜x4 の区間距離が小さけ
れば小さい程、この仮定は成立しやすい。別言すると、
1 〜x4 の区間距離が十分小さければ、図5の装置に
おけるアルゴリズムとして、図1の装置に用いるアルゴ
リズムを実質的に使用できる。
【0026】そこで、本発明では、図1の装置に用いる
アルゴリズムを、図5の装置に用いるアルゴリズムに適
用するについて、x1 〜x4 の区間距離が十分小さいと
いうことを、二次元イメージセンサの隣り合う画素の出
力を用いることで担保した。つまり、二次元イメージセ
ンサの画素は十分小さく、従って、隣り合うN個の画素
の出力を用いれば、極めて小さい区間距離を用いている
こととなる。ここにNは、Φを求めるために必要なデー
タ数であり、第一の態様における画像の枚数Nに対応す
る。
【0027】また、これらの画素からのサンプリング
を、平均的縞間隔のM倍とするのは、コンピュータに入
力される干渉縞画像の平均的な縞間隔がほぼM画素分の
長さで表わされることを意味している。つまり、縞1本
がいくつの画素に相当するかを表わしている。縞1本は
位相で2πに相当するから、2π/Mは隣り合う画素で
変化する位相量を表わす。この2π/Mは、第一の態様
の位相変化xに対応する。
【0028】次に各態様のアルゴリズムを具体的に記
す。第一の態様において、xを縞画像の1ステップ毎の
位相シフト量、Nを撮像枚数とすると、 1−1. x=2π/3 N=4 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、4枚の縞画像情報の各画
素における光強度)である。
【0029】1−2. x=π/2 N=4 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、4枚の縞画像情報の各画
素における光強度)である。
【0030】第二の態様において、Mを二次元画素群を
有する画像入力手段によるサンプリング数、Nを干渉縞
の位相分布を求めるために用いる二次元イメージセンサ
の隣り合う画素数とすると、 2−1. M=4 N=5 Φ=tan-1[2(I4-I2)/I1+I5-2I3] (但し、Ii(i=1,2,3,4,5 )は、隣り合うN個の画素に
おける光強度)である。
【0031】2−2. M=3 N=4 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合うN個の画素にお
ける光強度)である。
【0032】2−3. M=4 N=4 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合うN個の画素に置
ける光強度)である。
【0033】図3には、1ステップの位相シフト量が設
定値の0.9倍だったとき、これら1−1、1−2、2
−1、2−2及び2−3のアルゴリズムを用いて干渉縞
の位相を検出したときのエラーをシミュレーションした
グラフを重ねて描いている。また図4には、1ステップ
の位相シフト量が設定値の0.75倍だったとき、これ
ら1−1、1−2、2−1、2−2及び2−3のアルゴ
リズムを用いて干渉縞の位相を検出したときのエラーを
シミュレーションしたグラフを重ねて描いている。位相
エラーの小さい図3では、アルゴリズム間の差が明らか
ではないが、位相エラーの大きい図4では、その差が明
らかである。このグラフによると、従来の0−1、0−
2のアルゴリズムに比べ、本発明のアルゴリズムは干渉
縞の位相シフトエラーに対する干渉縞の検出位相分布誤
差が非常に小さいことが理解される。
【0034】以下に、本発明のアルゴリズムが干渉縞の
位相シフトエラーに強い理由を説明する。この理由は一
つの推論であり、仮にこの推論が誤っていたとしても、
本発明の有利性は、実験が証明するところであり、損な
われない。
【0035】図8及び図9は、従来のアルゴリズム0−
2についての干渉縞の位相シフトと、そのエラー、及び
干渉縞の検出位相分布誤差を説明するものである。この
アルゴリズム0−2では、位相をπ/2=90゜ずつ4
ステップ変化させてI1〜I4を測定する。図8のように、
円周上にベクトルV1〜V4を90゜置きに配置させ、V1を
I1に、V2をI2に、V3をI3に、V4をI4にそれぞれ対応させ
る。なおベクトルの表記は、図面上のみにて行ない、明
細書中ではV をもってベクトルとする。
【0036】アルゴリズム0−2式のtan-1 中の分母I1
−I3に対応するベクトルV1−V3をVxとし、分子I4−I2に
対応するベクトルV4−V2をベクトルVyとする。このと
き、VxとVyが直交し、かつ長さが等しければ、位相分布
Φを正確に演算することができる。図8は、90゜毎の
位相ステップにエラーがない理想的な場合を示してお
り、このときには、正確なΦを検出することができる。
【0037】これに対し、図9は位相ステップが90゜
−αになってしまった場合を示している。この場合に
は、この図から明らかなように、VxとVyの絶対値は等し
いが、VxとVyは直交しなくなる。このため、正確なΦは
求められない。
【0038】図10は、同様の表記法により、アルゴリ
ズム2−1について、位相ステップにエラーがあった場
合を描いたものである。Vx=(V1+V5−2V3)/2と
し、Vy=V4−V2とすると、VyとVxは直交し、VyとVxの大
きさもほぼ等しい。このため、Φは、位相ステップエラ
ーがあった場合もほぼ正確に求めることができる。
【0039】図11は、アルゴリズム1−2(2−3)
について、同様の表記法により、位相ステップにエラー
があった場合を描いたものである。Vx=V2−V3、Vy=
(V1−V2−V3+V4)/2とすると、VyとVxは直交し、Vy
とVxの大きさもほぼ等しい。このため、Φは、位相ステ
ップエラーがあった場合もほぼ正確に求めることができ
る。
【0040】図12及び図13は、従来のアルゴリズム
0−1について、同様の表記法により、位相ステップエ
ラーがなかった場合と、あった場合を描いたものであ
る。従来のアルゴリズム0−2と同様に、図12のよう
に位相ステップエラーがないときには、VxとVyは直交
し、かつその大きさも等しくなるが、図13のように位
相ステップエラーが発生すると、VxとVyは直交せず、か
つその大きさも等しくならない。このため、正確なΦを
求めることができない。
【0041】図14は、本発明のアルゴリズム1−1及
び2−2につき、同様の表記法により、位相ステップエ
ラーが発生した場合を描いたものである。Vx=(V1−V2
−V3+V4)/2、Vy=31/2 {V3−V2+(V4−V1)/
3}/2とすると、VyとVxは直交し、その大きさもほぼ
等しい。このため、Φは、位相ステップエラーがあった
場合もほぼ正確に求めることができる。
【0042】上記実施例は、干渉縞について本発明を説
明したものであるが、本発明は、時間的あるいは空間的
に変調を受ける縞画像一般について適用可能である。
【0043】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、縞画像を
二次元画素群を有する画像入力手段に入力し、縞画像に
位相シフトを与えながら、各画素の出力変化を見て縞画
像の位相分布を解析する方法において、縞画像に与える
位相シフトにエラーがあった場合にも、正確な縞画像の
位相分布を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による縞画像解析方法を適用する干渉計
の原理図である。
【図2】図1の装置による干渉縞の変化の様子を示す図
である。
【図3】位相ステップエラー(小)があったときの従来
方法と本発明方法による干渉縞の検出位相分布のシュミ
レーション図である。
【図4】位相ステップエラー(大)があったときの従来
方法と本発明方法による干渉縞の検出位相分布のシュミ
レーション図である。
【図5】本発明による縞画像解析方法を適用する別の干
渉計の原理図である。
【図6】図5の装置による干渉縞の変化の様子を示す図
である。
【図7】図5の装置に図1の装置のアルゴリズムが適用
可能であることを説明する図である。
【図8】縞画像解析方法に用いる従来のアルゴリズムに
おいて位相ステップエラーがない場合の説明図である。
【図9】同あった場合の説明図である。
【図10】縞画像解析方法に用いる本発明のアルゴリズ
ムにおいて位相ステップエラーがあった場合の説明図で
ある。
【図11】縞画像解析方法に用いる本発明の別のアルゴ
リズムにおいて位相ステップエラーがあった場合の説明
図である。
【図12】縞画像解析方法に用いる従来の別のアルゴリ
ズムにおいて位相ステップエラーがない場合の説明図で
ある。
【図13】同あった場合の説明図である。
【図14】縞画像解析方法に用いる本発明のさらに他の
アルゴリズムにおいて位相ステップエラーがあった場合
の説明図である。
【符号の説明】
11 レーザ光源 12 コリメータレンズ系 13 参照ミラー 13T 傾斜参照ミラー 15 ハーフミラー 16 被検面 18 二次元イメージセンサ(画像入力手段) 19 ピエゾ素子(位相シフト手段) 20 縞画像解析装置 21 CPU
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06T 1/00 7/00

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 干渉縞等の縞画像を入力する、二次元画
    素群を有する画像入力手段と;この縞画像の位相を変化
    させる位相シフト手段と;上記画像入力手段に入力され
    た縞画像を解析する縞画像解析手段と;を備え、 上記位相シフト手段により縞画像の位相を2π/3ずつ
    変化させながら、上記画像入力手段の二次元画素群に4
    枚の縞画像情報を入力し、 上記縞画像解析手段は、4枚の縞画像の対応する二次元
    画素群のそれぞれの出力を用い、次式 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、4枚の縞画像情報の各画
    素における光強度)の演算を施して、縞画像の位相分布
    を求めることを特徴とする縞画像解析方法。
  2. 【請求項2】 干渉縞等の縞画像を入力する、二次元画
    素群を有する画像入力手段と;この縞画像の位相を変化
    させる位相シフト手段と;上記画像入力手段に入力され
    た縞画像を解析する縞画像解析手段と;を備え、 上記位相シフト手段により縞画像の位相をπ/2ずつ変
    化させながら上記画像入力手段の二次元画素群に4枚の
    縞画像情報を入力し、 上記縞画像解析手段は、4枚の縞画像の対応する二次元
    画素群のそれぞれの出力を用い、次式 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、4枚の縞画像情報の各画
    素における光強度)の演算を施して、縞画像の位相分布
    を求めることを特徴とする縞画像解析方法。
  3. 【請求項3】 干渉縞等の縞画像をその平均的縞間隔の
    ほぼ4倍でサンプリングする、二次元画素群を有する画
    像入力手段と;上記画像入力手段に入力された縞画像を
    解析する縞画像解析手段と;を備え、 上記縞画像解析手段は、画像入力手段の二次元画素群の
    隣り合う5個の画素の出力を用いて、次式 Φ=tan-1[2(I4-I2)/I1+I5-2I3] (但し、Ii(i=1,2,3,4,5 )は、隣り合う5個の画素に
    おける光強度)の演算を施して、縞画像の位相分布を求
    めることを特徴とする縞画像解析方法。
  4. 【請求項4】 干渉縞等の縞画像をその平均的縞間隔の
    ほぼ3倍でサンプリングする、二次元画素群を有する画
    像入力手段と;上記画像入力手段に入力された縞画像を
    解析する縞画像解析手段と;を備え、 上記縞画像解析手段は、画像入力手段の二次元画素群の
    隣り合う4個の画素の出力を用いて、次式 Φ=tan-1[31/2{I3-I2+(I4-I1)/3}/I1-I2-I3+I4] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合う4個の画素にお
    ける光強度) の演算を施して、縞画像の位相分布を求めることを特徴
    とする縞画像解析方法。
  5. 【請求項5】 干渉縞等の縞画像をその平均的縞間隔の
    ほぼ4倍でサンプリングする、二次元画素群を有する画
    像入力手段と;上記画像入力手段に入力された縞画像を
    解析する縞画像解析手段と;を備え、 上記縞画像解析手段は、画像入力手段の二次元画素群の
    隣り合う4個の画素の出力を用いて、次式 Φ=tan-1[I1-I2-I3+I4/2(I2-I3)] (但し、Ii(i=1,2,3,4 )は、隣り合う4個の画素にお
    ける光強度)の演算を施して、縞画像の位相分布を求め
    ることを特徴とする縞画像解析方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002162205A (ja) * 2000-09-13 2002-06-07 Fuji Photo Optical Co Ltd 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法
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