JPH0782829B2 - 複合分析装置 - Google Patents

複合分析装置

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JPH0782829B2
JPH0782829B2 JP61309946A JP30994686A JPH0782829B2 JP H0782829 B2 JPH0782829 B2 JP H0782829B2 JP 61309946 A JP61309946 A JP 61309946A JP 30994686 A JP30994686 A JP 30994686A JP H0782829 B2 JPH0782829 B2 JP H0782829B2
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analyzer
energy analyzer
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は2次イオン質量分析計とオージェ電子分光分析
計等を兼ねた複合分析装置に関するものである。
(従来技術) 従来より第2図に示すように、励起線源装置3とエネル
ギアナライザ4を共用し、2次イオン質量分析(SIMS)
とオージェ電子分光分析(AES)とに兼用できるように
した複合分析装置が提供されている。この分析装置にお
いては、SIMSとAESとを切り替えるのに、SIMS用の質量
分析器5及び検出器6とAES用の検出器7とを機械的に
移動させるための回転機構10が使用されているが、特に
質量分析器5が重いためにかなり大形の回転機構10を必
要とし、装置全体が大形化するという問題がある。また
モータや減速機などを用いて回転機構10を自動化する場
合には、ギアの遊びやバックラッシュのためにエネルギ
アナライザ4と質量分析器5との軸合わせに誤差を生じ
易いという問題があった。またエネルギアナライザ4と
質量分析器5とを用いたSIMSにおいては、エネルギアナ
ライザ4からの出力ビームの広がり角が大きいために、
質量分析器5の感度が低下するという欠点があった。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記の諸点に鑑み、SIMSとAESとの切替機構を
簡略化すると共に、切り替えの際のエネルギアナライザ
と質量分析器との軸合わせの精度を向上し、また質量分
析器に入射するビームの広がり角を絞って感度を向上す
ることができるような複合分析装置を提供しようとする
ものである。
(問題点を解決するための手段) 上記の目的を達成するために本発明は、イオン銃1と電
子銃2とを備えた励起線源装置3と、エネルギアナライ
ザ4と、質量分析器5と、2次イオン分析(SIMS)用の
イオン検出器6と、オージェ電子分析(AES)用の電子
検出器7とを備え、エネルギアナライザ4をSIMSとAES
とに共用するようにした複合分析装置において、エネル
ギアナライザ4の出射口4bと質量分析器5の入射口5aと
の間にレンズ系8を設け、レンズ系8の一部または全部
と電子検出器7とを一体化して、横方向へスライドさせ
ることにより、両分析系を切り替え自在としたものであ
る。
(作用) 上記の構成において、SIMSとAESの切り替えの際には、
重量のある質量分析器を移動させず、AES用電子検出器
と軽量のレンズ系の一部または全部を移動させるだけで
よいので、移動機構が小形で簡単なもので済み、そのた
めに軸合わせも容易で精度を向上することができる上
に、レンズ系でエネルギアナライザの出力ビームを絞る
ことにより、質量分析器の感度を高めることができるも
のである。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例を示したもので、励起線源装
置3においてはイオン銃1と電子銃2とが試料Sの表面
に向けて設置されており、エネルギアナライザ4の入射
口4aが試料面の近傍に配設されている。エネルギアナラ
イザ4は荷電粒子の質量を静電的に分析するものであ
り、荷電粒子がオージェ電子の場合にはこのエネルギア
ナライザ4のみで分析が完了し、荷電粒子がイオンの場
合には、エネルギアナライザ4と4重極形の質量分析器
5とが直列に使用されるものである。
同図ではエネルギアナライザ4の出射口4bに対向して、
レンズ系8の初段部8aが配設されているが、この初段部
8aとAES用電子検出器7とが一体化されており、切替機
構9により横方向へスライドして、初段部8aとAES用検
出器7のいずれか一方がエネルギアナライザ4の出射口
4bに対向するように構成されている。
いまSIMS分析を行う場合は、切替機構9が図示の状態に
切り替えられ、イオン銃1からイオンビームが試料Sに
照射され、試料Sから放射された二次イオンがエネルギ
アナライザ4で選別された後、レンズ系8によって4重
極形の質量分析器5の入口アパーチャ5aに焦点を合わさ
れ、質量分析器5を通過した後、SIMS用イオン検出器6
で検出される。
次にAES分析を行う場合には、AES用検出器7がエネルギ
アナライザ4の出射口4bに対向するように切替機構9が
切り替えられる。いま電子銃2から電子ビームが試料S
に照射されると、試料Sから放射されるオージェ電子が
エネルギアナライザ4で選別されて、AES用電子検出器
7で検出される。
(発明の効果) 上記のように本発明は、エネルギアナライザをSIMSとAE
Sに共用するようにした複合分析装置において、エネル
ギアナライザと質量分析器との間にレンズ系を設け、レ
ンズ系の一部または全部とAES用電子検出器とを横方向
へスライドさせることにより、SIMSとAESとの切り替え
を自在としたものであり、切り替えの際に従来のように
重量のある質量分析器を移動させずに、電子検出器と軽
量のレンズ系の一部または全部を移動させるだけでよい
ので、移動機構が小形で簡単なもので済み、従ってまた
軸合わせも容易で精度を向上することができるものであ
り、またこのレンズ系によって、エネルギアナライザか
ら出射するビームを広がり角の狭いビームに絞り込むこ
とができるので、質量分析器の感度を向上させることが
できる。また上記実施例では質量分析器として4重極形
を用いたが、切り替えの際に移動させる必要がないの
で、更に重量の大きい磁界偏向形を用いることも可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略系統図、第2図は
従来例の概略系統図である。 1……イオン銃、2……電子銃、3……イオン源装置、
4……エネルギアナライザ、5……質量分析器、6……
2次イオン分析用イオン検出器、7……オージェ電子分
析用電子検出器、8……レンズ系、9……切替機構、S
……試料。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】励起線源装置と、エネルギアナライザと、
    質量分析器と、2次イオン分析用検出器と、電子検出器
    とを備え、エネルギアナライザを2次イオン分析系と電
    子分析系とに共用するようにした複合分析装置におい
    て、エネルギアナライザの出射口と質量分析器の入射口
    との間にレンズ系を設け、レンズ系の一部または全部と
    電子検出器とを一体化して、横方向へスライドさせるこ
    とにより、両分析系を切り替え自在として成る複合分析
    装置。
JP61309946A 1986-12-27 1986-12-27 複合分析装置 Expired - Lifetime JPH0782829B2 (ja)

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JPS63166134A JPS63166134A (ja) 1988-07-09
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