JPH0779913A - 視野測定装置 - Google Patents
視野測定装置Info
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- JPH0779913A JPH0779913A JP5229935A JP22993593A JPH0779913A JP H0779913 A JPH0779913 A JP H0779913A JP 5229935 A JP5229935 A JP 5229935A JP 22993593 A JP22993593 A JP 22993593A JP H0779913 A JPH0779913 A JP H0779913A
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- Japan
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/02—Subjective types, i.e. testing apparatus requiring the active assistance of the patient
- A61B3/024—Subjective types, i.e. testing apparatus requiring the active assistance of the patient for determining the visual field, e.g. perimeter types
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Medical Informatics (AREA)
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- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 検者の勘に頼ることなく客観的に有用な測定
点を追加することができて、被検者に無用の負担を強い
ることなく信頼性の高い視野測定を行うことができる視
野測定装置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明に係わる視野測定装置は、複数個の視
標を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補
間して推定値を含む視野特性分布データを形成するＣＰ
Ｕ１１と、各実測値を含めてその近傍分布を推定した実
測値近傍データと視野特性分布データとに基づき実測値
からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する疑
分布ＷＤを形成する表示部１８とを有する。
点を追加することができて、被検者に無用の負担を強い
ることなく信頼性の高い視野測定を行うことができる視
野測定装置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明に係わる視野測定装置は、複数個の視
標を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補
間して推定値を含む視野特性分布データを形成するＣＰ
Ｕ１１と、各実測値を含めてその近傍分布を推定した実
測値近傍データと視野特性分布データとに基づき実測値
からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する疑
分布ＷＤを形成する表示部１８とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、視野検査に使用する視
野測定装置の改良に関する。
野測定装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、網膜や視神経の機能を調べる
ための視野測定装置が知られている。この種の視野測定
装置では、被検眼に複数個の視標を提示し、視野検査と
していわゆる動的視野、静的視野の測定を行っている。
ための視野測定装置が知られている。この種の視野測定
装置では、被検眼に複数個の視標を提示し、視野検査と
していわゆる動的視野、静的視野の測定を行っている。
【０００３】この視野検査には、測定を短時間でかつ効
率良く行うために、スクリーニング検査を行い、このス
クリーニング検査の結果により、測定点の追加を行って
精密な視野測定を行うようにしている。
率良く行うために、スクリーニング検査を行い、このス
クリーニング検査の結果により、測定点の追加を行って
精密な視野測定を行うようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
の従来の視野測定装置は、検者の勘に頼ってライトペン
等を用いて手動で測定点の追加を行っていたので、検査
に習熟した検者以外の者が測定を行う場合に、短時間で
効率よく測定点の追加を行うことができず、被検者に負
担をかけるという問題点があった。
の従来の視野測定装置は、検者の勘に頼ってライトペン
等を用いて手動で測定点の追加を行っていたので、検査
に習熟した検者以外の者が測定を行う場合に、短時間で
効率よく測定点の追加を行うことができず、被検者に負
担をかけるという問題点があった。
【０００５】また、自動的に測定点を追加する視野測定
装置もあるにはあったが、この種の従来の視野測定装置
は、実測値が所定値以下のときに、その実測値を孤立暗
点とみなして、その周囲に機械的に測定点の追加を行う
ため、測定点の追加個数が多くなり過ぎるというきらい
があり、測定しても意味のない測定点が追加されること
もあって、同様に検者に無用の負担を強いるという問題
点があった。
装置もあるにはあったが、この種の従来の視野測定装置
は、実測値が所定値以下のときに、その実測値を孤立暗
点とみなして、その周囲に機械的に測定点の追加を行う
ため、測定点の追加個数が多くなり過ぎるというきらい
があり、測定しても意味のない測定点が追加されること
もあって、同様に検者に無用の負担を強いるという問題
点があった。
【０００６】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的は、検者の勘に頼ることなく客観的に有
用な測定点を追加することができて、被検者に無用の負
担を強いることなく信頼性の高い視野測定を行うことが
できる視野測定装置を提供するところにある。
ので、その目的は、検者の勘に頼ることなく客観的に有
用な測定点を追加することができて、被検者に無用の負
担を強いることなく信頼性の高い視野測定を行うことが
できる視野測定装置を提供するところにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項１
に記載の視野測定装置は、上記の課題を解決するため、
複数個の視標を呈示することにより得られた被検者の各
実測値を補間して推定値を含む視野特性分布データを形
成する視野特性分布データ形成部と、前記各実測値を含
めてその近傍分布を推定した実測値近傍データと前記視
野特性分布データとに基づき実測値からの隔たりが大き
いと目される推定領域を意味する疑分布を形成する疑分
布表示部とを有する。
に記載の視野測定装置は、上記の課題を解決するため、
複数個の視標を呈示することにより得られた被検者の各
実測値を補間して推定値を含む視野特性分布データを形
成する視野特性分布データ形成部と、前記各実測値を含
めてその近傍分布を推定した実測値近傍データと前記視
野特性分布データとに基づき実測値からの隔たりが大き
いと目される推定領域を意味する疑分布を形成する疑分
布表示部とを有する。
【０００８】本発明に係わる請求項２に記載の視野測定
装置は、前記疑分布に応じて新たに視野測定を必要とす
る追加測定点を決定する追加測定点決定部を有してい
る。
装置は、前記疑分布に応じて新たに視野測定を必要とす
る追加測定点を決定する追加測定点決定部を有してい
る。
【０００９】
【作用】本発明に係わる請求項１に記載の視野測定装置
によれば、視野特性分布データ形成部は、複数個の視標
を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補間
して推定値を含む視野特性分布データを形成する。疑分
布表示部は、各実測値を含めてその近傍分布を推定した
実測値近傍データと視野特性分布データとに基づき実測
値からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する
疑分布を形成する。
によれば、視野特性分布データ形成部は、複数個の視標
を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補間
して推定値を含む視野特性分布データを形成する。疑分
布表示部は、各実測値を含めてその近傍分布を推定した
実測値近傍データと視野特性分布データとに基づき実測
値からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する
疑分布を形成する。
【００１０】
【実施例】以下に、本発明に係わる視野測定装置の実施
例を図面を参照しつつ説明する。
例を図面を参照しつつ説明する。
【００１１】図１は本発明に係わる視野測定装置１の斜
視図を示す。視野測定装置１は、ハウジング２、半球状
のドーム３を有する。ドーム３の内面には視標としての
スポット４が所定位置に呈示される。ドーム３の前面部
にはパネル５が設けられ、パネル５には被検者の顔部が
臨む開口６が形成されている。開口６には顔受部材７が
形成され、顔受部材７は顎受け８、額当て９を有する。
検査に際し、被検者は顎受け８、額当て９に顎、顔を当
てがい、ドーム３の内面に呈示された固視標を固視しつ
つ呈示された視標としてのスポット４を視認する。
視図を示す。視野測定装置１は、ハウジング２、半球状
のドーム３を有する。ドーム３の内面には視標としての
スポット４が所定位置に呈示される。ドーム３の前面部
にはパネル５が設けられ、パネル５には被検者の顔部が
臨む開口６が形成されている。開口６には顔受部材７が
形成され、顔受部材７は顎受け８、額当て９を有する。
検査に際し、被検者は顎受け８、額当て９に顎、顔を当
てがい、ドーム３の内面に呈示された固視標を固視しつ
つ呈示された視標としてのスポット４を視認する。
【００１２】検者は、ライトペン等の操作スイッチ１０
を操作し、呈示すべき視標の位置（測定点ともいう）と
輝度と視標の大きさとを選択して視野測定を行うもの
で、図２はその制御ブロック回路を示している。
を操作し、呈示すべき視標の位置（測定点ともいう）と
輝度と視標の大きさとを選択して視野測定を行うもの
で、図２はその制御ブロック回路を示している。
【００１３】制御ブロック回路はＣＰＵ１１、視野測定
プログラムメモリ部１２、視標呈示位置変更部１３、視
標大きさ変更部１４、視標明るさ変更部１５、応答スイ
ッチ１６、応答メモリ部１７、表示部１８から概略なっ
ている。ＣＰＵ１１は操作スイッチ１０からの指令、応
答スイッチ１６からの指令、視野測定プログラムに従っ
て各種の制御を行う。視野測定プログラムには、一般視
野測定プログラム（動的視野測定プログラム、静的視野
測定プログラム）、クイックスクリーニング検査プログ
ラム、疑分布作成プログラム、測定点追加プログラム等
の各種のプログラムが準備されている。
プログラムメモリ部１２、視標呈示位置変更部１３、視
標大きさ変更部１４、視標明るさ変更部１５、応答スイ
ッチ１６、応答メモリ部１７、表示部１８から概略なっ
ている。ＣＰＵ１１は操作スイッチ１０からの指令、応
答スイッチ１６からの指令、視野測定プログラムに従っ
て各種の制御を行う。視野測定プログラムには、一般視
野測定プログラム（動的視野測定プログラム、静的視野
測定プログラム）、クイックスクリーニング検査プログ
ラム、疑分布作成プログラム、測定点追加プログラム等
の各種のプログラムが準備されている。
【００１４】ＣＰＵ１１は呈示する視標の輝度を変更す
るときには視標明るさ変更部１５に明るさ変更信号を出
力し、呈示すべき視標の大きさを変更するときには視標
大きさ変更信号を視標大きさ変更部１４に出力し、視標
を呈示すべき位置（測定点）を変更するときには視標呈
示位置変更部１３に視標呈示位置変更信号を出力する。
また、ＣＰＵ１１は被検者による応答スイッチ１６の操
作によりその応答に対応する測定閾値としての実測値を
応答メモリ部１７に記憶させる。
るときには視標明るさ変更部１５に明るさ変更信号を出
力し、呈示すべき視標の大きさを変更するときには視標
大きさ変更信号を視標大きさ変更部１４に出力し、視標
を呈示すべき位置（測定点）を変更するときには視標呈
示位置変更部１３に視標呈示位置変更信号を出力する。
また、ＣＰＵ１１は被検者による応答スイッチ１６の操
作によりその応答に対応する測定閾値としての実測値を
応答メモリ部１７に記憶させる。
【００１５】ここで、測定閾値とは、正常な被検者が視
野検査を受けたときの輝度（平均光量レベル）を「０」
として、実際に呈示された視標を被検者が知覚できたと
きの輝度（光量レベル）との偏差をいう。なお、ある測
定点において被検者がその呈示された視標を認識し得る
光量レベルが高いということは、その測定点において、
被検者の網膜部位の視感度が低いということに対応す
る。
野検査を受けたときの輝度（平均光量レベル）を「０」
として、実際に呈示された視標を被検者が知覚できたと
きの輝度（光量レベル）との偏差をいう。なお、ある測
定点において被検者がその呈示された視標を認識し得る
光量レベルが高いということは、その測定点において、
被検者の網膜部位の視感度が低いということに対応す
る。
【００１６】検者が、クイックスクリーニング検査を指
定すると、図３のＳ．１において、視野測定プログラム
が選択される。図４はそのＳ．１に示す視野測定プログ
ラムの詳細手順を示すもので、ＣＰＵ１１はＳ．１０１
において測定点を選択する。ここでは、クイックスクリ
ーニング検査において呈示される測定点の個数は７６個
である。その測定点の一例を図５に示す。この実施例で
は、黄斑部ＹＰを中心にして緯線５０度以内で測定点が
選定されている。
定すると、図３のＳ．１において、視野測定プログラム
が選択される。図４はそのＳ．１に示す視野測定プログ
ラムの詳細手順を示すもので、ＣＰＵ１１はＳ．１０１
において測定点を選択する。ここでは、クイックスクリ
ーニング検査において呈示される測定点の個数は７６個
である。その測定点の一例を図５に示す。この実施例で
は、黄斑部ＹＰを中心にして緯線５０度以内で測定点が
選定されている。
【００１７】次に、各測定点について、正常の被検者が
視認できる輝度が選定されて被検者に視標が呈示され、
被検者がその呈示された視標を視認できたか否かを判断
する（Ｓ．１０２、Ｓ．１０３）。Ｓ．１０３におい
て、被検者の応答がなかったときには、視標の明るさを
変更し、輝度をアップする（Ｓ．１０２）。この実施例
では、輝度レベルを３ｄＢずつアップさせるようになっ
ている。ＣＰＵ１１は応答スイッチ１６が操作されるま
で、Ｓ．１０２、Ｓ．１０３の処理を繰り返す。ＣＰＵ
１１は応答スイッチ１６が操作されると、測定閾値を実
測値として応答メモリ部１７に記憶させる（Ｓ．１０
４）。この実施例では、実測値は正常者の平均光量レベ
ルからの偏差量として表わされる。
視認できる輝度が選定されて被検者に視標が呈示され、
被検者がその呈示された視標を視認できたか否かを判断
する（Ｓ．１０２、Ｓ．１０３）。Ｓ．１０３におい
て、被検者の応答がなかったときには、視標の明るさを
変更し、輝度をアップする（Ｓ．１０２）。この実施例
では、輝度レベルを３ｄＢずつアップさせるようになっ
ている。ＣＰＵ１１は応答スイッチ１６が操作されるま
で、Ｓ．１０２、Ｓ．１０３の処理を繰り返す。ＣＰＵ
１１は応答スイッチ１６が操作されると、測定閾値を実
測値として応答メモリ部１７に記憶させる（Ｓ．１０
４）。この実施例では、実測値は正常者の平均光量レベ
ルからの偏差量として表わされる。
【００１８】そして、次に、７６個の測定点の全てにつ
いて測定が終了したか否かを判断する（Ｓ．１０５）。
全測定点についての測定が終了していない場合には、Ｓ
１０６において、次に視標を呈示すべき測定点を指定し
て、Ｓ１０２に移行する。そして、再度正常の被検者が
視認できる輝度が選定されて被検者に視標が呈示され、
被検者がその呈示された視標を視認できたか否かを判断
する（Ｓ．１０２、Ｓ．１０３）。Ｓ．１０３におい
て、被検者の応答がなかったときには、視標の明るさを
変更し、輝度をアップし（Ｓ．１０２）、視標の呈示が
全測定点について終了するまでこれを繰り返す。
いて測定が終了したか否かを判断する（Ｓ．１０５）。
全測定点についての測定が終了していない場合には、Ｓ
１０６において、次に視標を呈示すべき測定点を指定し
て、Ｓ１０２に移行する。そして、再度正常の被検者が
視認できる輝度が選定されて被検者に視標が呈示され、
被検者がその呈示された視標を視認できたか否かを判断
する（Ｓ．１０２、Ｓ．１０３）。Ｓ．１０３におい
て、被検者の応答がなかったときには、視標の明るさを
変更し、輝度をアップし（Ｓ．１０２）、視標の呈示が
全測定点について終了するまでこれを繰り返す。
【００１９】ＣＰＵ１１は全測定点について測定が終了
すると、Ｓ．２に移行してその測定結果を表示部１８に
表示する。表示部１８には通常のスクリーニング検査に
よる表示が行われる。図６はその表示部１８に表示され
た実測値の一例を示すもので、この図６において、ＮＯ
ＲＭは正常者の閾値の平均値を示し、ＬＯＷ１はその平
均値ＮＯＲＭよりも視標の明るさを電圧値に換算して３
ｄＢ増加させることを意味し、ＬＯＷ２は平均値ＮＯＲ
Ｍよりも視標の明るさを電圧値に換算して６ｄＢ増加さ
せることを意味し、ＬＯＷ３は平均値ＮＯＲＭよりも視
標の明るさを電圧値に換算して９ｄＢ増加させることを
意味し、ＭＩＳＳは測定不能を意味する。
すると、Ｓ．２に移行してその測定結果を表示部１８に
表示する。表示部１８には通常のスクリーニング検査に
よる表示が行われる。図６はその表示部１８に表示され
た実測値の一例を示すもので、この図６において、ＮＯ
ＲＭは正常者の閾値の平均値を示し、ＬＯＷ１はその平
均値ＮＯＲＭよりも視標の明るさを電圧値に換算して３
ｄＢ増加させることを意味し、ＬＯＷ２は平均値ＮＯＲ
Ｍよりも視標の明るさを電圧値に換算して６ｄＢ増加さ
せることを意味し、ＬＯＷ３は平均値ＮＯＲＭよりも視
標の明るさを電圧値に換算して９ｄＢ増加させることを
意味し、ＭＩＳＳは測定不能を意味する。
【００２０】また、図７はある経線方向における測定の
一例を感度で表現した例を示すもので、破線は正常者の
各網膜部位における閾値の平均値曲線ＮＯＲＭＡＬを示
しており、符号Ｍ１〜Ｍ４は被検者の左眼の感度データ
を示している。すなわち、視標の光量の増加は被検者の
網膜部位の感度が低いことに対応し、周囲に較べて感度
の低い箇所を暗点という。
一例を感度で表現した例を示すもので、破線は正常者の
各網膜部位における閾値の平均値曲線ＮＯＲＭＡＬを示
しており、符号Ｍ１〜Ｍ４は被検者の左眼の感度データ
を示している。すなわち、視標の光量の増加は被検者の
網膜部位の感度が低いことに対応し、周囲に較べて感度
の低い箇所を暗点という。
【００２１】検者はこの表示部１８に表示されたスクリ
ーニング検査結果を見て、測定点の追加が必要か否かを
判断する（Ｓ．３）。追加の測定を行わない場合には、
操作スイッチ１０の「Ｎ」を操作することにより測定を
終了し、追加の測定を行う場合には操作スイッチ１０の
「Ｙ」を操作することによりＳ．４に移行する。
ーニング検査結果を見て、測定点の追加が必要か否かを
判断する（Ｓ．３）。追加の測定を行わない場合には、
操作スイッチ１０の「Ｎ」を操作することにより測定を
終了し、追加の測定を行う場合には操作スイッチ１０の
「Ｙ」を操作することによりＳ．４に移行する。
【００２２】Ｓ．４においては、ＣＰＵ１１は実測値に
基づき視野特性分布データを形成する。この視野特性分
布データはいわゆるスプライン補間法を用いて作成され
る。ここで、スプラインとは自在定規の意味で、スプラ
イン補間法とは与えられた区間をいくつかの小区間に分
け、それぞれの小区間ごとに多項式を適用し、全体とし
て与えられた点を通り、かつ、１階、２階の微分係数が
与えられた点で一致するように定める近似方式をいう。
このスプライン補間により、人間の感覚に極めて近い自
然な曲線を得ることができる。この補間法は公知である
ので、その詳細な説明は省略する。
基づき視野特性分布データを形成する。この視野特性分
布データはいわゆるスプライン補間法を用いて作成され
る。ここで、スプラインとは自在定規の意味で、スプラ
イン補間法とは与えられた区間をいくつかの小区間に分
け、それぞれの小区間ごとに多項式を適用し、全体とし
て与えられた点を通り、かつ、１階、２階の微分係数が
与えられた点で一致するように定める近似方式をいう。
このスプライン補間により、人間の感覚に極めて近い自
然な曲線を得ることができる。この補間法は公知である
ので、その詳細な説明は省略する。
【００２３】このスプライン補間法は、図８（イ）に示
すようにオフセット座標（極座標）を用いて行う。この
オフセット座標の中心は黄斑部ＹＰである。この黄斑部
ＹＰから所定緯線ＬＴ毎に円周方向の補間が行われる。
そして、次に、図８（ロ）に示す経線ＭＥ方向への補
間、または図８（ハ）に示すＹ方向への補間を行い、オ
フセット座標による補間と経線またはＹ方向への補間と
により網目を形成して、ＣＰＵ１１は三次元的に視野特
性分布データを得る。この他、図８（ニ）に示すように
視神経繊維層ＶＬＦの走行状態に沿わせて補間を行うこ
ともできる。この図８（ニ）に示す補間は、視神経繊維
層ＶＬＦに沿う補間方法であるので、医学的に望まし
い。図８（ニ）において、ＰＬは乳頭、黒真四角は測定
点である。
すようにオフセット座標（極座標）を用いて行う。この
オフセット座標の中心は黄斑部ＹＰである。この黄斑部
ＹＰから所定緯線ＬＴ毎に円周方向の補間が行われる。
そして、次に、図８（ロ）に示す経線ＭＥ方向への補
間、または図８（ハ）に示すＹ方向への補間を行い、オ
フセット座標による補間と経線またはＹ方向への補間と
により網目を形成して、ＣＰＵ１１は三次元的に視野特
性分布データを得る。この他、図８（ニ）に示すように
視神経繊維層ＶＬＦの走行状態に沿わせて補間を行うこ
ともできる。この図８（ニ）に示す補間は、視神経繊維
層ＶＬＦに沿う補間方法であるので、医学的に望まし
い。図８（ニ）において、ＰＬは乳頭、黒真四角は測定
点である。
【００２４】この視野特性分布データには、実際には測
定を行っていないにもかかわらず推定により感度が低い
とされる領域が含まれており、精密な視野測定を行うた
めには、更に測定点の追加が必要である。
定を行っていないにもかかわらず推定により感度が低い
とされる領域が含まれており、精密な視野測定を行うた
めには、更に測定点の追加が必要である。
【００２５】次に、ＣＰＵ１１は次にＳ．５に移行して
実測値近傍データを作成する。これは、測定点を含めて
その近傍は、図９に示すガウス分布Ｇに従って山を形づ
くっていると考えられるので、各実測値をピークとして
ガウス分布Ｇに従う実測値近傍データを作成する（人間
の視感度で表現する場合には、正常な被検者を基準とし
た場合の谷底の深さがガウス分布Ｇに従っていると考え
る）。
実測値近傍データを作成する。これは、測定点を含めて
その近傍は、図９に示すガウス分布Ｇに従って山を形づ
くっていると考えられるので、各実測値をピークとして
ガウス分布Ｇに従う実測値近傍データを作成する（人間
の視感度で表現する場合には、正常な被検者を基準とし
た場合の谷底の深さがガウス分布Ｇに従っていると考え
る）。
【００２６】７６個の測定点について、実測値近傍デー
タが作成される。そして、ＣＰＵ１１は、視野特性分布
データから実測値近傍データを引算し、これにより疑分
布が形成される（Ｓ．６）。この疑分布は、実際に測定
を行っていないにもかかわらず見かけ上、視感度が低い
とされる領域を意味（正常な被検者からの偏差量が大き
いとされる領域を意味）する。すなわち、実測値近傍デ
ータから離れた箇所で推定により視感度が低いとされて
いる領域は、信頼性に欠けるので、この領域を浮きだた
せるために、疑分布を形成するのである。
タが作成される。そして、ＣＰＵ１１は、視野特性分布
データから実測値近傍データを引算し、これにより疑分
布が形成される（Ｓ．６）。この疑分布は、実際に測定
を行っていないにもかかわらず見かけ上、視感度が低い
とされる領域を意味（正常な被検者からの偏差量が大き
いとされる領域を意味）する。すなわち、実測値近傍デ
ータから離れた箇所で推定により視感度が低いとされて
いる領域は、信頼性に欠けるので、この領域を浮きだた
せるために、疑分布を形成するのである。
【００２７】次に、ＣＰＵ１１はこの疑分布ＷＰを表示
する（Ｓ．７）。
する（Ｓ．７）。
【００２８】図１０（イ）は視野領域の全体を図１１
（イ）に示すように縦横８０×８０個の画素ＰＸからな
るものとして把握し、各画素ＰＸがその疑分布ＷＰに応
じたグレースケール値を有するとして、グレースケール
により疑分布ＷＰを示すもので、この図１０（イ）にお
いて濃い部分ＷＰ´は視感度がその回りよりも低いとさ
れる部分（視標の明るさで表現すると光量がより高い部
分）である。また、図１０（ロ）はその疑分布を数値化
表現をしたものである。この図１０（ロ）には、その右
肩に正常者の平均値ＮＯＲＭ、ＬＯＷ１、ＬＯＷ２、Ｌ
ＯＷ３、ＭＩＳＳに対応する数値が示されている。この
数値により疑分布Ｇを表示することにすると、グレース
ケールにより疑分布ＷＰを表示するのに較べてより客観
的に判断することはできるが、単に視野特性分布データ
から実測値近傍データを引算したデータを用いて疑分布
を表示すると、ノイズとして考えられる領域も疑分布と
して表示されるため、ＣＰＵ１１はこのノイズを除去す
るために以下の処理を行う。
（イ）に示すように縦横８０×８０個の画素ＰＸからな
るものとして把握し、各画素ＰＸがその疑分布ＷＰに応
じたグレースケール値を有するとして、グレースケール
により疑分布ＷＰを示すもので、この図１０（イ）にお
いて濃い部分ＷＰ´は視感度がその回りよりも低いとさ
れる部分（視標の明るさで表現すると光量がより高い部
分）である。また、図１０（ロ）はその疑分布を数値化
表現をしたものである。この図１０（ロ）には、その右
肩に正常者の平均値ＮＯＲＭ、ＬＯＷ１、ＬＯＷ２、Ｌ
ＯＷ３、ＭＩＳＳに対応する数値が示されている。この
数値により疑分布Ｇを表示することにすると、グレース
ケールにより疑分布ＷＰを表示するのに較べてより客観
的に判断することはできるが、単に視野特性分布データ
から実測値近傍データを引算したデータを用いて疑分布
を表示すると、ノイズとして考えられる領域も疑分布と
して表示されるため、ＣＰＵ１１はこのノイズを除去す
るために以下の処理を行う。
【００２９】まず、ＣＰＵ１１は、各画素ＰＸのグレー
スケール値を総和する。そして、このグレースケール値
の総和を画素ＰＸの個数で割り算し、スレーッシュホー
ルドレベルＳＬを形成する。ただし、各測定点に一致す
る画素は「０」の値を持つので、この「０」のグレース
ケール値を有する画素ＰＸはスレーッシュホールドレベ
ルＳＬの形成に用いない。
スケール値を総和する。そして、このグレースケール値
の総和を画素ＰＸの個数で割り算し、スレーッシュホー
ルドレベルＳＬを形成する。ただし、各測定点に一致す
る画素は「０」の値を持つので、この「０」のグレース
ケール値を有する画素ＰＸはスレーッシュホールドレベ
ルＳＬの形成に用いない。
【００３０】そして、ＣＰＵ１１は、スレッシュホール
ドレベルＳＬ以上のグレースケール値を有する画素ＰＸ
のみを抽出する。この処理は、左上の画素ＰＸから右下
の画素ＰＸ´に向かって順次行う。この場合に、そのス
レッシュホールドレベルＳＬ以上のグレースケール値を
有する画素を図１１（ロ）に示すように上下左右に比較
し、隣接する画素ＰＸがスレッシュホールドレベルＳＬ
以上のグレースケール値を有する場合には、同一のグル
ープに属すると判断し、同一の番号を付与する。
ドレベルＳＬ以上のグレースケール値を有する画素ＰＸ
のみを抽出する。この処理は、左上の画素ＰＸから右下
の画素ＰＸ´に向かって順次行う。この場合に、そのス
レッシュホールドレベルＳＬ以上のグレースケール値を
有する画素を図１１（ロ）に示すように上下左右に比較
し、隣接する画素ＰＸがスレッシュホールドレベルＳＬ
以上のグレースケール値を有する場合には、同一のグル
ープに属すると判断し、同一の番号を付与する。
【００３１】これにより、図１２に示すように、グルー
プ分けされた疑分布ＷＤが表示される。この図１２にお
いて、数値「１」ないし「４」はグループ分けされた疑
分布の領域を示している。次に、この疑分布ＷＰ内で、
ピークを有する画素ＰＸを探索する。この探索は、Ｘ、
Ｙの両方向について微分をとり、両方向について微分値
が「０」の点（正から負に変化する点）をピークを有す
る画素とする。
プ分けされた疑分布ＷＤが表示される。この図１２にお
いて、数値「１」ないし「４」はグループ分けされた疑
分布の領域を示している。次に、この疑分布ＷＰ内で、
ピークを有する画素ＰＸを探索する。この探索は、Ｘ、
Ｙの両方向について微分をとり、両方向について微分値
が「０」の点（正から負に変化する点）をピークを有す
る画素とする。
【００３２】そして、ＣＰＵ１１は、領域「１」〜
「４」が得られたとすると、その領域内での偏差量の総
和を求め、その総和を求めるのに用いた画素数により割
って平均値を求める。例えば領域「４」の平均値が１、
領域「３」の平均値が１、領域「２」の平均値が１、領
域「１」の平均値が７であるとすると、その各領域
「１」ないし「４」の平均値の比は、「４」：「３」：
「２」：「１」＝１：１：１：７である。この場合、測
定点の追加の個数をＮとすると、各領域「４」、
「３」、「２」、「１」には、Ｎ／１０、Ｎ／１０、Ｎ
／１０、７Ｎ／１０個の追加測定点の個数が割り当てら
れ、その領域内のピーク値の最も大きい箇所から順次追
加測定点が決定される。例えば、Ｎ＝１０とすると、領
域「４」ないし「２」には測定点が各１個追加され、領
域「１」には測定点が７個追加される。
「４」が得られたとすると、その領域内での偏差量の総
和を求め、その総和を求めるのに用いた画素数により割
って平均値を求める。例えば領域「４」の平均値が１、
領域「３」の平均値が１、領域「２」の平均値が１、領
域「１」の平均値が７であるとすると、その各領域
「１」ないし「４」の平均値の比は、「４」：「３」：
「２」：「１」＝１：１：１：７である。この場合、測
定点の追加の個数をＮとすると、各領域「４」、
「３」、「２」、「１」には、Ｎ／１０、Ｎ／１０、Ｎ
／１０、７Ｎ／１０個の追加測定点の個数が割り当てら
れ、その領域内のピーク値の最も大きい箇所から順次追
加測定点が決定される。例えば、Ｎ＝１０とすると、領
域「４」ないし「２」には測定点が各１個追加され、領
域「１」には測定点が７個追加される。
【００３３】このようにして、ＣＰＵ１１は測定点の追
加処理を行い、追加された測定点は図１３に示すように
表示する（Ｓ．８）。この図１３において、追加された
測定点を符号ＡＤで示す。この符号ＡＤで示す測定点
は、ピーク値を有する箇所の近傍に表示されている。
加処理を行い、追加された測定点は図１３に示すように
表示する（Ｓ．８）。この図１３において、追加された
測定点を符号ＡＤで示す。この符号ＡＤで示す測定点
は、ピーク値を有する箇所の近傍に表示されている。
【００３４】上記は、測定点の追加処理の一例である
が、測定点の追加処理には、以下に説明する各種の態様
が可能である。
が、測定点の追加処理には、以下に説明する各種の態様
が可能である。
【００３５】（イ）各領域内のピーク値の個数を数え、
この個数の比を求めて、その領域内に追加すべき測定点
の個数を決定する。追加測定点を呈示すべき箇所は、そ
の領域内のピーク値の最も大きい箇所から順次追加す
る。
この個数の比を求めて、その領域内に追加すべき測定点
の個数を決定する。追加測定点を呈示すべき箇所は、そ
の領域内のピーク値の最も大きい箇所から順次追加す
る。
【００３６】（ロ）各領域内において、ピーク値のみを
ピックアップし、その累積度数を求め、この累積度数の
比を求め、この比に基づいて各領域に追加すべき測定点
の個数を決定する。
ピックアップし、その累積度数を求め、この累積度数の
比を求め、この比に基づいて各領域に追加すべき測定点
の個数を決定する。
【００３７】（ハ）各領域内のピーク値の中から最高値
を選び出し、この最高値の比を求め、各領域に追加すべ
き測定点の割合を算出する。
を選び出し、この最高値の比を求め、各領域に追加すべ
き測定点の割合を算出する。
【００３８】次に、ＣＰＵ１１はその指定された追加測
定点の箇所に視標を呈示し、測定を実行する（Ｓ．
９）。この視標の呈示処理は、図４に示すフローチャー
トと大略同一の処理に従って行われる。その測定が終了
すると、ＣＰＵ１１はその結果を表示する（Ｓ．１
０）。そして、ＣＰＵ１１は追加の測定が必要か否かを
判断し（Ｓ．１１）、追加の測定が必要な場合にはＳ４
に戻り、追加の測定が不要な場合には測定を終了する。
なお、孤立暗点の場合には、その孤立暗点を中心にして
周囲に測定点を数個追加する。
定点の箇所に視標を呈示し、測定を実行する（Ｓ．
９）。この視標の呈示処理は、図４に示すフローチャー
トと大略同一の処理に従って行われる。その測定が終了
すると、ＣＰＵ１１はその結果を表示する（Ｓ．１
０）。そして、ＣＰＵ１１は追加の測定が必要か否かを
判断し（Ｓ．１１）、追加の測定が必要な場合にはＳ４
に戻り、追加の測定が不要な場合には測定を終了する。
なお、孤立暗点の場合には、その孤立暗点を中心にして
周囲に測定点を数個追加する。
【００３９】
【効果】本発明に係わる請求項１に記載の視野測定装置
は、以上説明したように構成したので、視野特性データ
において補間の度合が大きいと目される疑分布を、検者
の勘に頼ることなく、かつ測定に無意味な領域を取り除
いて客観的に決定できる。
は、以上説明したように構成したので、視野特性データ
において補間の度合が大きいと目される疑分布を、検者
の勘に頼ることなく、かつ測定に無意味な領域を取り除
いて客観的に決定できる。
【００４０】本発明に係わる請求項２に記載の視野測定
装置は、以上説明したように構成したので、測定に無意
味な追加測定点を追加することなく信頼性の高い視野測
定を行うことができるという効果を奏し、ひいては被検
者の負担の軽減を図ることが可能となる。
装置は、以上説明したように構成したので、測定に無意
味な追加測定点を追加することなく信頼性の高い視野測
定を行うことができるという効果を奏し、ひいては被検
者の負担の軽減を図ることが可能となる。
【図１】本発明に係わる視野測定装置の外観構成を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図２】本発明に係わる視野測定装置の制御回路のブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】本発明に係わる視野測定装置の視野測定手順の
フローチャートである。
フローチャートである。
【図４】図４に示すＳ．１の処理の詳細を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図５】本発明に係わるスクリーニング検査の測定点の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図６】本発明に係わるスクリーニング検査結果の一例
を示す図である。
を示す図である。
【図７】本発明に係わるスクリーニング検査結果の一例
を示す図であって被検者の所定経線方向の測定結果を示
す図である。
を示す図であって被検者の所定経線方向の測定結果を示
す図である。
【図８】本発明に係わる視野特性分布データの形成に使
用するスプライン補間法の座標系を説明する図であっ
て、（イ）はオフセット座標系、（ロ）は経線方向座標
系、（ハ）はＹ方向座標系、（ニ）は視神経繊維座標系
を示す。
用するスプライン補間法の座標系を説明する図であっ
て、（イ）はオフセット座標系、（ロ）は経線方向座標
系、（ハ）はＹ方向座標系、（ニ）は視神経繊維座標系
を示す。
【図９】ガウス分布を示す図である。
【図１０】本発明に係わる疑分布を示す図であって、
（イ）はグレースケール値による疑分布を示し、（ロ）
は数値化による疑分布を示す。
（イ）はグレースケール値による疑分布を示し、（ロ）
は数値化による疑分布を示す。
【図１１】本発明に係わる疑分布のグループ分けを説明
するための図であって、（イ）は領域を画素表現した場
合の説明図であり、（ロ）は隣り合う画素が同一グルー
プに属するか否かを判断するための処理方法の説明図で
ある。
するための図であって、（イ）は領域を画素表現した場
合の説明図であり、（ロ）は隣り合う画素が同一グルー
プに属するか否かを判断するための処理方法の説明図で
ある。
【図１２】グループ分けした疑分布を示す図である。
【図１３】測定点の追加箇所、追加個数を説明するため
の図である。
の図である。
１１…ＣＰＵ １８…表示部 ＷＤ…疑分布
Claims (3)
- 【請求項１】 複数個の視標を呈示することにより得ら
れた被検者の各実測値を補間して推定値を含む視野特性
分布データを形成する視野特性分布データ形成部と、前
記各実測値を含めてその近傍分布を推定した実測値近傍
データと前記視野特性分布データとに基づき実測値から
の隔たりが大きいと目される推定領域を意味する疑分布
を形成する疑分布表示部と、を有することを特徴とする
視野測定装置。 - 【請求項２】 前記疑分布に応じて新たに視野測定を必
要とする追加測定点を決定する追加測定点決定部を有し
ている請求項１に記載の視野測定装置。 - 【請求項３】 前記疑分布は、前記視野特性分布データ
から前記実測値近傍データを引算することにより求めら
れたデータにより形成される請求項１に記載の視野測定
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22993593A JP3317754B2 (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | 視野測定装置 |
| US08/306,975 US5463431A (en) | 1993-09-16 | 1994-09-16 | Perimeter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22993593A JP3317754B2 (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | 視野測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0779913A true JPH0779913A (ja) | 1995-03-28 |
| JP3317754B2 JP3317754B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=16900036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22993593A Expired - Fee Related JP3317754B2 (ja) | 1993-09-16 | 1993-09-16 | 視野測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5463431A (ja) |
| JP (1) | JP3317754B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007195787A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-08-09 | Kowa Co | 視野計 |
| JP2007319408A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Nidek Co Ltd | 眼科装置及び視野データ処理方法 |
| JP2010259796A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Optopol Technology Sa | 視野検査方法 |
| WO2019021986A1 (ja) * | 2017-07-24 | 2019-01-31 | 国立大学法人東北大学 | 視野計 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5883692A (en) * | 1997-10-01 | 1999-03-16 | Retsan, Inc. | Visual field measurement apparatus |
| IL138926A0 (en) | 2000-10-06 | 2001-11-25 | Notal Vision Ltd | Method and system for detecting eye disease |
| JP4901009B2 (ja) * | 2001-03-02 | 2012-03-21 | 興和株式会社 | 視野計 |
| IL163604A0 (en) * | 2002-02-19 | 2005-12-18 | Notal Vision Ltd | Method and system for assessing eyedisease |
| US7665847B2 (en) * | 2003-05-05 | 2010-02-23 | Reichert, Inc. | Eye mapping |
| JP4250048B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2009-04-08 | 株式会社ニデック | 視野計 |
| JP4806602B2 (ja) * | 2006-08-09 | 2011-11-02 | 興和株式会社 | 視野計 |
| US8226237B2 (en) | 2006-09-28 | 2012-07-24 | Reichert, Inc. | Apparatus and method for monitoring the position of a subject's hand |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3032261B2 (ja) * | 1990-09-27 | 2000-04-10 | 株式会社トプコン | 自動視野計 |
-
1993
- 1993-09-16 JP JP22993593A patent/JP3317754B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-09-16 US US08/306,975 patent/US5463431A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007195787A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-08-09 | Kowa Co | 視野計 |
| JP2007319408A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Nidek Co Ltd | 眼科装置及び視野データ処理方法 |
| JP2010259796A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Optopol Technology Sa | 視野検査方法 |
| WO2019021986A1 (ja) * | 2017-07-24 | 2019-01-31 | 国立大学法人東北大学 | 視野計 |
| JPWO2019021986A1 (ja) * | 2017-07-24 | 2020-07-02 | 国立大学法人東北大学 | 視野計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5463431A (en) | 1995-10-31 |
| JP3317754B2 (ja) | 2002-08-26 |
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