JPH0775828B2 - Seasoning device for polishing pad - Google Patents

Seasoning device for polishing pad

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JPH0775828B2
JPH0775828B2 JP62208418A JP20841887A JPH0775828B2 JP H0775828 B2 JPH0775828 B2 JP H0775828B2 JP 62208418 A JP62208418 A JP 62208418A JP 20841887 A JP20841887 A JP 20841887A JP H0775828 B2 JPH0775828 B2 JP H0775828B2
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JP
Japan
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seasoning
polishing pad
carrier
plate
carrier plate
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JP62208418A
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Japanese (ja)
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JPS6451267A (en
Inventor
隆喜 山崎
肇 清水
Original Assignee
ロデール・ニッタ株式会社
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は,半導体用ウェーハ,光学レンズ,光学用ガラ
ス等の研磨に用いる研磨パッドのシーズニング装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a seasoning device for a polishing pad used for polishing a semiconductor wafer, an optical lens, an optical glass or the like.

(従来の技術) 半導体用ウェーハ等の表面は,通常,不織布に高分子物
質,合成樹脂等を含浸させミクロポーラス状に発泡させ
た研磨パッドにより研磨される。高精度な研磨仕上げを
要求される半導体用ウェーハ等では,複数の研磨パッド
による多段研磨も行われている。このような研磨作業に
おいては,研磨パッド表面の状態により,被研磨物の仕
上がり精度が左右される。多段研磨においても,最初に
使用する研磨パッドの表面状態により,被研磨物の仕上
がり精度がほぼ決まり,後工程における研磨によっても
被研磨面の仕上がり精度はそれほど向上しない。被研磨
物表面が高精度に研磨されていないために,被研磨物表
面に微笑な凹凸が存在すれば,その被研磨物表面に光を
当てると,円状,円弧状等の縞模様が現れる。半導体用
ウェーハ,光学レンズ,光学ガラス等は,これらを使用
した製品の進歩に伴い,これらの研磨仕上がり精度は一
層高く要求され,このような,光による縞模様等が発生
すると,研磨不良として使用し得ない。
(Prior Art) The surface of a semiconductor wafer or the like is usually polished with a polishing pad formed by impregnating a non-woven fabric with a polymeric substance, a synthetic resin or the like and foaming it into a microporous shape. For semiconductor wafers and the like that require highly accurate polishing finishes, multi-step polishing with multiple polishing pads is also performed. In such a polishing operation, the finish accuracy of the object to be polished depends on the state of the surface of the polishing pad. Even in multi-step polishing, the finishing accuracy of the object to be polished is almost determined by the surface condition of the polishing pad used first, and the finishing accuracy of the surface to be polished does not improve so much even in the subsequent step. Since the surface of the object to be polished is not polished with high precision, if there are smiling irregularities on the surface of the object to be polished, when the surface of the object to be polished is irradiated with light, a striped pattern such as a circle or arc appears. . Semiconductor wafers, optical lenses, optical glass, etc. are required to have higher polishing finish accuracy with the progress of products using them, and when such a stripe pattern due to light occurs, they are used as defective polishing. I can't.

半導体用ウェーハ等の被研磨物表面の研磨仕上がり精度
を向上させるためには,研磨パッドの表面を,あらかじ
めシーズニング,すなわち,平滑にしておくことが好ま
しいことを,本願発明者等は知見しており,研磨パッド
表面のシーズニングには,強化ガラス(パイレックスガ
ラス等),セラミックスや金属のプレート,さらには研
磨すべきウェーハ自身等が使用されている。しかし,こ
のようなものにより研磨パッド表面を平滑にするために
は,30分〜1時間のシーズニング時間が必要である。ま
た,これらのものは摩耗が激しいために,連続使用が困
難であり,再生加工するために,多大な手間と費用を要
するという不都合があり,このため,半導体用ウェーハ
等の研磨作業の効率低下を来すおそれがある。
The inventors of the present application have found that it is preferable to season the surface of the polishing pad in advance, that is, to smooth the surface of the polishing pad, in order to improve the polishing finish accuracy of the surface of an object to be polished such as a semiconductor wafer. For the seasoning of the polishing pad surface, tempered glass (Pyrex glass or the like), ceramics or metal plates, and the wafer itself to be polished are used. However, in order to make the polishing pad surface smooth by such a thing, a seasoning time of 30 minutes to 1 hour is required. In addition, since these materials are heavily worn, it is difficult to continuously use them, and it takes a lot of time and money to reprocess them. Therefore, the efficiency of polishing work for semiconductor wafers is deteriorated. May come.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記従来の問題点を解決するものであり,その
目的は,短時間にて高精度に研磨パッド表面をシーズニ
ングし得る研磨パッド用のシーズニング装置を提供する
ことにある。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is to provide a seasoning device for a polishing pad, which can season a polishing pad surface with high accuracy in a short time. To provide.

(問題点を解決するための手段) 本発明の研磨パッド用シーズニング装置は,シーズニン
グすべき研磨パッドに対して相対的に回転するキャリヤ
プレートと,平坦面を有する基体の該平坦面に,新モー
ス硬度が12以上の粒子を電着により固定してなり,前記
キャリヤプレートの回転中心から偏位した位置に装着さ
れる研磨パッド用のシーズニグ材と,該シーズニング材
の基体と前記キャリヤプレートの間に介装された,ミク
ロポーラス状に発泡された高分子体であるバッキング材
と,を具備してなり,そのことにより上記目的が達成さ
れる。
(Means for Solving the Problems) A seasoning device for a polishing pad according to the present invention includes a carrier plate that rotates relative to a polishing pad to be seasoned, and a new moth on the flat surface of a substrate having a flat surface. Particles having a hardness of 12 or more are fixed by electrodeposition, and a seasoning material for a polishing pad, which is mounted at a position deviated from the center of rotation of the carrier plate, and between the base of the seasoning material and the carrier plate The backing material, which is a polymer body having a microporous shape and which is interposed, is provided, and the above object is achieved thereby.

(実施例) 以下に本発明を実施例について説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described with reference to Examples.

本発明の研磨パッド用シーズニング装置は,第1図に示
すように,上方に移動可能なキャリヤ10と,該キャリヤ
10とは対向配設され,下方への移動可能な定盤(図示せ
ず)とを具備する。該キャリヤ10の定盤10と対向する面
は平坦であり,キャリヤプレート11となっている。該キ
ャリヤ10およびキャリヤプレート11は,金属,合金,セ
ラミックス,ガラス,プラスチック等にて製造される。
キャリヤ10は,回転可能になっており,そのプレート11
は,平坦面で精密に仕上げられている。図示しない下側
の定盤は,該キャリヤ10の回転方向とは正逆いずれの方
向へも回転可能であり,該定盤上には研磨すべき研磨パ
ッドが載置される。
As shown in FIG. 1, the polishing pad seasoning apparatus of the present invention comprises a carrier 10 movable upward and a carrier 10 which is movable upward.
10 is provided so as to face each other, and includes a surface plate (not shown) that can move downward. The surface of the carrier 10 facing the surface plate 10 is flat and serves as a carrier plate 11. The carrier 10 and the carrier plate 11 are made of metal, alloy, ceramics, glass, plastic or the like.
The carrier 10 is rotatable and its plate 11
Is precisely finished with a flat surface. A lower surface plate (not shown) can be rotated in any direction opposite to the rotation direction of the carrier 10, and a polishing pad to be polished is placed on the surface plate.

キャリヤ10のプレート11には,バッキング材20を介し
て,シーズニング材30が,例えば該プレート11上に三等
配に配設されている。
A seasoning material 30 is arranged on the plate 11 of the carrier 10 with a backing material 20 in between, for example, in three equal parts on the plate 11.

シーズニング材30は,平坦面を有する基体31の該平坦面
に,新モース硬度が12以上の粒子32を電着により固定し
たものである。
The seasoning material 30 is obtained by fixing particles 32 having a new Mohs hardness of 12 or more to the flat surface of a base 31 having a flat surface by electrodeposition.

バッキング材20は,シーズニング材30をキャリヤ10のプ
レート11上に保持するために使用されるものであり,内
部に微細な空隙を有するように,ミクロポーラス状に発
泡された高分子体が用いられる。発泡体の構造は,中央
部に大きなポアが存在し,その壁面からミクロポアが無
数に出ているものでもよく,また,単にミクロポアが独
立して全体に無数に存在するものでもよい。
The backing material 20 is used to hold the seasoning material 30 on the plate 11 of the carrier 10, and is made of a microporous foamed polymer so as to have fine voids inside. . The structure of the foam may be one in which a large pore exists in the central part and innumerable micropores are projected from the wall surface, or it may be one in which the micropores are independent and innumerable in the whole.

該バッキング材20は,例えば水,ポリエチレングリコー
ルやポリプロピレングリコール等のグリコール類等の液
体や,グリセリン等の粘液性の貼着剤や粘着剤,接着剤
が滴下または含浸してキャリヤ10のプレート11と,シー
ズニング材30の基体31との間に介装し,シーズニング材
30をキャリヤ10のプレート11に強く押圧することによ
り,該バッキング材20が圧縮して,上記液体の助けでシ
ーズニング材30がキャリヤ10の表面11に密着されて支持
される。
The backing material 20 is applied to the plate 11 of the carrier 10 by dripping or impregnating it with a liquid such as water, glycols such as polyethylene glycol or polypropylene glycol, or a viscous adhesive or adhesive such as glycerin, or an adhesive. , The seasoning material 30 is interposed between the base material 31 and the seasoning material 30.
By strongly pressing 30 onto the plate 11 of the carrier 10, the backing material 20 is compressed and the seasoning material 30 is brought into close contact with and supported by the surface 11 of the carrier 10 with the aid of the liquid.

このように,キャリヤ10のプレート11にバッキング材20
を介してシーズニング材30を取付けたシーズニング装置
は,下側の定盤に研磨パッドを取付けて,キャリヤプレ
ートと下側定盤との間に研磨液を介在させながら,両者
を所定の圧力にて押圧した状態で,相互に回転して使用
される。シーズニング材30が,第1図から第6図の各々
に示すように,キャリヤプレート11の回転中心から偏移
した位置に装着されるため,キャリヤプレート11と下側
定盤とが相互に回転する間に,同一のシーズニング材30
における研磨パッドから受ける接触抵抗が,キャリヤプ
レート11の回転中心からの離隔距離が異なるシーズニン
グ材部分で異なる。このとき,上述したように、シーズ
ニング材30が密着支持されているが故に、シーズニング
材30が部分的に異なる接触抵抗の力により自転しつつ,
研磨パッド表面をシーズニングし,その表面を円滑にす
る。このシーズニング作業時には,研磨液が研磨パッド
表面とシーズニング材との間に通流され,研磨屑をその
間から除去する。
In this way, the backing material 20 is attached to the plate 11 of the carrier 10.
The seasoning device with the seasoning material 30 attached via a polishing pad is attached to the lower surface plate, and a polishing liquid is interposed between the carrier plate and the lower surface plate, and both are subjected to a predetermined pressure. They are used by rotating each other while being pressed. Since the seasoning material 30 is mounted at a position deviated from the rotation center of the carrier plate 11 as shown in each of FIGS. 1 to 6, the carrier plate 11 and the lower surface plate rotate relative to each other. In between, the same seasoning material 30
The contact resistance received from the polishing pad differs depending on the seasoning material portion where the distance from the center of rotation of the carrier plate 11 is different. At this time, as described above, since the seasoning material 30 is closely supported, the seasoning material 30 rotates while being partially rotated by the different contact resistance forces.
Season the surface of the polishing pad to smooth the surface. During this seasoning operation, a polishing liquid is passed between the surface of the polishing pad and the seasoning material to remove polishing debris from between.

バッキング材20の材料は,エステル系,エーテル系のウ
レタンポリマー,熱可塑性エラストマーでスチレン系
(例えば日本エラストマー社製ソルプレン−T),オレ
フィン系(住友化学社製住友TPE),エステル系(デュ
ポン社製ハイトレル),ウレタン系(日本エラストラン
社製エラストラン)等,合成ゴムでブタジエンゴム,ス
チレンブタジエンゴム,NBR,クロロプレンゴム,ウレタ
ンゴム,弗素ゴム,ブチルゴム等があげられ,バッキン
グ材20には,これらのシート,フィルムまたはこれらの
ミクロポーラスな発泡体が使われる。
The material of the backing material 20 is an ester-based or ether-based urethane polymer, a thermoplastic elastomer such as a styrene-based (for example, Sorprene-T manufactured by Nippon Elastomer Co., Ltd.), an olefin-based (Sumitomo TPE manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.), an ester-based (manufactured by DuPont). Hytrel), urethane-based (Elastollan manufactured by Japan Elastollan Co., Ltd.), and synthetic rubbers such as butadiene rubber, styrene-butadiene rubber, NBR, chloroprene rubber, urethane rubber, fluorine rubber, and butyl rubber. Sheets, films or microporous foams of these are used.

特に,該バッキング材20としては,ウレタンの湿式凝固
法により得られる低発泡体,例えばDF−200,WB−20(米
国ロデール社製品)が好適に使われる。
In particular, as the backing material 20, a low foam obtained by a wet solidification method of urethane, for example, DF-200, WB-20 (manufactured by Rodel, USA) is preferably used.

バッキング材に強度が必要な時には,補強層としてプラ
スチック,金属等のフィルム,シート,プレート等で裏
打ちして使用すればよい。
When the backing material needs strength, it may be used by backing it with a film, sheet, plate or the like of plastic or metal as a reinforcing layer.

バッキング材20は,第2図に示すように,キャリヤプレ
ート11と,また,シーズニング材30と,前記貼着剤や粘
着剤または接着剤41および42を介して密着もしくは接着
してもよい。バッキング材20とシーズニング材30は,予
め接着剤にて接着して,一体化させておくと能率はさら
に上がる。また,バッキング材がポーラス状であること
からキャリヤのプレート面に細孔を施し,中空にしたキ
ャリヤを減圧源につないで吸引力で密着させてもよい。
また必要に応じてキャリヤ平面に単数もしくは複数の凹
みを形成し,この凹みに上記吸引用細孔を設けたものを
利用することができる。
As shown in FIG. 2, the backing material 20 may be adhered or adhered to the carrier plate 11 and also to the seasoning material 30 via the above-mentioned adhesive agent, adhesive agent or adhesive agents 41 and 42. The efficiency is further improved if the backing material 20 and the seasoning material 30 are previously bonded with an adhesive and integrated. Further, since the backing material is porous, it is possible to form pores on the plate surface of the carrier and connect the hollowed carrier to a decompression source so that the carrier is brought into close contact with suction.
If necessary, a single or a plurality of recesses may be formed in the plane of the carrier, and the suction holes may be provided in the recesses.

シーズニング材30における,平坦面を有する基体31とし
ては,リン青銅,鉄,真鍮,ステンレス等の金属や合
金,塩化ビニル,PMMA(ポリメタクリル酸メチル)等の
高分子化合物や合成樹脂あるいはエンジニアリングプラ
スチック,アルミナ,フォルステライト等のセラミック
ス,強化ガラスにニッケルや銅あるいはステンレス等を
メタルコートしたもの,さらにはこれらの複合材が用い
得る。いずれの場合にも,後述の粒子が電着し得るもの
であること,もしくは電着し得るように処理されている
ことが必要である。この処理としては,金属蒸着,スパ
ッタリング,イオンプレーティング,金属膜を形成し得
る塗料による被膜の形成等が挙げられる。
As the base 31 having a flat surface in the seasoning material 30, there are metals and alloys such as phosphor bronze, iron, brass and stainless, vinyl chloride, polymer compounds such as PMMA (polymethylmethacrylate), synthetic resins or engineering plastics, Ceramics such as alumina and forsterite, tempered glass coated with nickel, copper, stainless steel, or the like, or a composite material thereof can be used. In either case, it is necessary that the particles described below can be electrodeposited or treated so that they can be electrodeposited. Examples of this treatment include metal vapor deposition, sputtering, ion plating, and formation of a coating film with a paint capable of forming a metal film.

このような材質の基体は,粒子を固定し得る平坦面を有
しておればよく,プレート状,シート状,あるいはフィ
ルム状であってもよい。
The substrate made of such a material may have a flat surface on which particles can be fixed, and may have a plate shape, a sheet shape, or a film shape.

この基体の面は平行度,平面精度が例えば5ミクロン前
後に仕上げる必要のある場合もある。また,別の高精度
に仕上げられた平坦面体を貼りつけて利用することがき
る。
The surface of this substrate may need to be finished to have parallelism and plane accuracy of, for example, about 5 microns. It is also possible to attach and use another highly accurate flat surface body.

基体に電着される粒子32は,新モース硬度が12以上であ
ればよく,ダイヤモンド等の天然宝石,人造宝石,結晶
アルミナ,炭化珪素,窒化珪素,立方晶窒化硼素(CB
N),炭化硼素等が挙げられる。
The particles 32 electrodeposited on the substrate may have a new Mohs hardness of 12 or more, such as natural jewels such as diamond, artificial jewels, crystalline alumina, silicon carbide, silicon nitride, and cubic boron nitride (CB).
N), boron carbide and the like.

このような粒子は,あらかじめ塗料,スラリー,接着
剤,粘着剤,固着材等により基体31の平坦面に付着され
た後に,電着により固定される。粒子を平坦面に付着さ
せる塗料等は,後の電着の障害とならないことが必要で
ある。
Such particles are previously attached to the flat surface of the base 31 with a paint, a slurry, an adhesive, an adhesive, a fixing material or the like, and then fixed by electrodeposition. It is necessary that the paint that adheres the particles to the flat surface does not interfere with the subsequent electrodeposition.

粒子の粒子径は,1〜500μmが好適であり,粒子径が大
きすぎると,シーズニングにより研磨パッドの表面が平
滑にならず,また粒子径が小さすぎても研磨パッド表面
を平滑にし得ない。
The particle size of the particles is preferably 1 to 500 μm. If the particle size is too large, the surface of the polishing pad will not be smooth due to seasoning, and if the particle size is too small, the polishing pad surface will not be smooth.

プレート状,シート状,フィルム状の基体は,三角形,
四角形,その他の多角形,円形,扇形等の様々な形状と
され,適当な大きさおよび形状に切断して,バッキング
材20を介してキャリヤプレート11に装着される。
Plate, sheet, and film substrates are triangles,
It is formed into various shapes such as a quadrangle, other polygons, circles, and fan shapes, cut into an appropriate size and shape, and attached to the carrier plate 11 via the backing material 20.

基体31のシーズニング面には溝を形成しておくことがで
きる。
A groove may be formed on the seasoning surface of the base 31.

該溝部は,単一もしくは複数の帯状あるいは適当な面積
を有する形状とされる。その帯状としては,直線状,折
線状,曲線状,あるいはこれらを組み合わせた形状で,
溝部が複数の帯状である場合には,相互に交差してもよ
い。該溝部の形状としては,具体的には,渦巻状,同心
円状,格子状,放射線状,ジグザグ状,平行線状,扇形
状,曲線状,およびこれらの組合せ等であり,さらに
は,適当な面積を有する形状が単独もしくは帯状の溝と
組合わされてもよい。溝部の断面形状としては,四角形
状,半円状,半楕円状,三角形状等とされる。溝部の角
部は弧状であってもよく,また角張っていてもよい。溝
部の幅は1〜10mmが適当である。
The groove portion is formed in a single shape, a plurality of band shapes, or a shape having an appropriate area. The band shape may be a straight line shape, a broken line shape, a curved shape, or a combination thereof.
When the groove has a plurality of strips, they may intersect with each other. Specific examples of the shape of the groove include a spiral shape, a concentric shape, a lattice shape, a radial shape, a zigzag shape, a parallel line shape, a fan shape, a curved shape, a combination thereof, and the like. The shape having the area may be used alone or in combination with the band-shaped groove. The cross-sectional shape of the groove is quadrangular, semicircular, semielliptical, triangular, or the like. The corners of the groove may be arcuate or angular. A suitable width of the groove is 1 to 10 mm.

本願発明の実施に当たってバッキング材の機能をさらに
向上させるために第3図〜第5図のように,ホルダー50
を併用することができる。ホルダー50は一種の枠であて
テンプレートとも呼称される。ホルダー50は柔軟なバッ
キング材20の補助として使用される。
In order to further improve the function of the backing material in carrying out the present invention, as shown in FIG. 3 to FIG.
Can be used together. The holder 50 is a kind of frame and is also called a template. The holder 50 is used as an aid to the flexible backing material 20.

ホルダー50は,プラスチック,メタル,セラミックス,F
RP,防水紙等で適当な厚さに作られた平板でこれに1個
または複数個の孔51を設けたものである。ホルダー50お
よびその孔51のサイズ,形はどのようなものであっても
よいが最大キャリアプレート11と等しい大きさとされ
る。
Holder 50 is made of plastic, metal, ceramics, F
It is a flat plate made of RP, waterproof paper, etc., having an appropriate thickness and provided with one or a plurality of holes 51. The holder 50 and its hole 51 may have any size and shape, but they are equal in size to the maximum carrier plate 11.

ホルダー50の孔51の深さはシーズニング材30を使用する
時の状態でシーズニング材30のシーズニング粒子の先端
がシーズニングに必要な長さだけホルダー50より出る寸
法でなければならない。
The depth of the holes 51 of the holder 50 should be such that the tips of the seasoning particles of the seasoning material 30 are out of the holder 50 by the length required for the seasoning when the seasoning material 30 is used.

バッキング材20は孔51のあいたホルダー50に対し,第3
図に示すようにホルダー50の裏面全体に貼着してもよ
い。この場合バッキング材20の裏面には補強材60が貼着
されて,接着剤44によりキャリアプレート11に貼着され
る。補強材はフィルム,シート,プレートでポリエステ
ル,マイラー,ナイロン等のプラスチック類が好適に使
用できる。
The backing material 20 has a third
It may be attached to the entire back surface of the holder 50 as shown in the figure. In this case, the reinforcing material 60 is attached to the back surface of the backing material 20 and is attached to the carrier plate 11 with the adhesive 44. As the reinforcing material, plastics such as polyester, mylar and nylon can be preferably used for the film, sheet and plate.

バッキング材20は,ホルダー50の孔51内にのみ位置させ
てもよい(インサート方式)。この場合は,バッキング
材20とシーズニング材30とを予め一体化させておいても
よい。一体化させておくことにより,作業効率は著しく
向上する。
The backing material 20 may be located only in the hole 51 of the holder 50 (insert method). In this case, the backing material 20 and the seasoning material 30 may be integrated in advance. By integrating them, work efficiency is significantly improved.

ホルダー50としては,1つのシーズニング材30を囲繞し得
る環状もしくは短筒状のものも使用し得,例えば,第5
図に示すように,キャリアプレート11に,このような3
つのホルダー50を三等配に配設してもよい。
As the holder 50, a ring-shaped or short-cylindrical one that can surround one seasoning material 30 can also be used, for example, the fifth
As shown in the figure, the carrier plate 11 has three
One holder 50 may be arranged in three equal parts.

このようなホルダー50を用いることなく,例えば第6図
に示すように,キャリアプレート11に単数もしくは複数
の凹溝11aを形成し,この凹溝11a内にバッキング材20お
よびシーズニング材30を挿入して,該シーズニング材30
をバッキング材20を介してキャリヤ10に貼着してもよ
い。シーズニング材30とバッキング材20は一体であって
もよい。バッキング材20とキャリヤ10との間には,必要
に応じて補強材が介装される。バッキング材20は接着剤
を用いてキャリヤ10と貼着させてもよい。
Without using such a holder 50, for example, as shown in FIG. 6, one or a plurality of recessed grooves 11a are formed in the carrier plate 11, and the backing material 20 and the seasoning material 30 are inserted into the recessed grooves 11a. The seasoning material 30
May be attached to the carrier 10 via the backing material 20. The seasoning material 30 and the backing material 20 may be integrated. A reinforcing material is interposed between the backing material 20 and the carrier 10, if necessary. The backing material 20 may be attached to the carrier 10 using an adhesive.

さらに第7図に示すように,キャリヤ10を中空に形成
し,キャリアプレート11に,キャリヤ10内と外部とを連
通する透孔12を形成して,該透孔12の下方にバッキング
材20を介してシーズニング材30を位置せしめ,キャリヤ
10内を減圧することにより,シーズニング材30をバッキ
ング材20を介して吸引する機能としてもよい。この場
合,ホルダー50を用いてもよい。ホルダー50は1つのシ
ーズニング材30を囲繞するものでも,複数のシーズニン
グ材を囲繞するものでもよい。また,バッキング材20の
裏面に補強材60を配設してもよい。さらに,第8図に示
すように,キャリアプレート11に凹溝11aを形成し,該
凹溝11内に,バッキング材20とシーズニング材30を配設
し,該凹溝11a内を減圧することにより,シーズニング
材30をキャリヤ10に保持するようにしてもよい。
Further, as shown in FIG. 7, a carrier 10 is formed hollow, a through hole 12 for communicating the inside and outside of the carrier 10 is formed in a carrier plate 11, and a backing material 20 is provided below the through hole 12. Position the seasoning material 30 through the carrier
By depressurizing the inside of 10, the seasoning material 30 may be sucked through the backing material 20. In this case, the holder 50 may be used. The holder 50 may surround one seasoning material 30 or may surround a plurality of seasoning materials. Further, the reinforcing material 60 may be arranged on the back surface of the backing material 20. Further, as shown in FIG. 8, a recessed groove 11a is formed in the carrier plate 11, a backing material 20 and a seasoning material 30 are disposed in the recessed groove 11, and the inside of the recessed groove 11a is depressurized. The seasoning material 30 may be held on the carrier 10.

実施例1 第3図に示すように,直径220mm,厚さ2mmのガラス繊維
強化エポキシプレートに,径100ミリの穴(リセス)加
工を行い3個あけホルダーとした。この裏側に,湿式凝
固法により製造した0.35マイクロフォームウレタンシー
ト(バッキング材)次いで2軸延伸ポリエステルフィル
ム(補強剤)を積層接着し,さらにその裏側に両面貼着
シートを積層しホルダー(またはテンプレートアセンブ
リー)とした。次にこれの剥離紙をはがし,直径225mm
のキャリアプレートに装着した。ホルダーの穴内にシー
ズニング材の平坦面を水貼りで装着した。
Example 1 As shown in FIG. 3, a glass fiber reinforced epoxy plate having a diameter of 220 mm and a thickness of 2 mm was processed with holes (recesses) having a diameter of 100 mm to form a three-hole holder. 0.35 microfoam urethane sheet (backing material) and biaxially stretched polyester film (reinforcing agent) manufactured by wet coagulation method are laminated and adhered to this back side, and a double-sided adhesive sheet is further laminated on the back side thereof and a holder (or template assembly) is formed. Lee) Next, peel off the release paper, and the diameter is 225mm.
It was attached to the carrier plate. The flat surface of the seasoning material was attached to the hole of the holder by water.

シーズニング材は,厚さ3mm,直径98mmのステンレス製の
基体に,新モース硬度が15,平均粒径が60μmのダイヤ
モンド粒子を密度が60000個/cm2で固定させたものを使
用した。
The seasoning material used was a stainless steel substrate having a thickness of 3 mm and a diameter of 98 mm, with diamond particles having a new Mohs hardness of 15 and an average particle size of 60 μm fixed at a density of 60,000 particles / cm 2 .

このような状態で,下定盤に研磨パッドを載置し,該研
磨パッドを100r.p.m.で回転させながら,シーズニング
材30を該研磨パッドに,150g/cm2の圧力にて押圧し,さ
らにはシーズニング材20と研磨パッドとの間に純粋を通
流させつつ,1分間シーズニングした。シーズニング後,
研磨パッドの表面は,厚みバラツキが6μmであり,平
滑性に優れていた。この研磨パッドを用いて,シリコン
ウェーハを,半導体ウェーハ研磨機にて研磨した。得ら
れた角ウェーハを洗浄乾燥後,その平面精度を測定した
ところTTV(Total Thickness Variation)値で2.4μm
と良好であり,表面品位も良好であった。
In this state, the polishing pad is placed on the lower surface plate, and while rotating the polishing pad at 100 rpm, the seasoning material 30 is pressed against the polishing pad at a pressure of 150 g / cm 2 , and further, Seasoning was performed for 1 minute while purely flowing between the seasoning material 20 and the polishing pad. After seasoning,
The surface of the polishing pad had a thickness variation of 6 μm and was excellent in smoothness. A silicon wafer was polished with a semiconductor wafer polishing machine using this polishing pad. After cleaning and drying the obtained square wafer, the planar accuracy was measured and the TTV (Total Thickness Variation) value was 2.4 μm.
The surface quality was also good.

実施例2 直径230mm,厚さ1.5mmのベークライト平板に直径100mmの
穴を3個あけ,この裏に全面にポリエステルフィルムを
接着積層し,フィルム面をキャリアプレートに接着剤で
装着した。
Example 2 A bakelite flat plate having a diameter of 230 mm and a thickness of 1.5 mm was provided with three holes having a diameter of 100 mm, a polyester film was adhesively laminated on the entire back surface, and the film surface was attached to a carrier plate with an adhesive.

これらの穴(リセス)には,厚さ0.6mmの湿域凝固法に
よるマイクロフォームウレタンシート(バッキング材)
にポリエステルフィルムを予め積層し,外径99mmの円形
にカットして,穴の中に水を滴下しフィルム面を先頭に
して穴に入れ押圧し密着させ,さらにシーズニング材と
して厚さ1.5mmの塩化ビニルシートに新モース硬度13,平
均粒径20μmの炭化珪素を密度25万個/cm2で幅4mm,深さ
0.25mmの放射状に電着したものをバッキング材に水で密
着させた。
In these holes (recesses), a microfoam urethane sheet (backing material) with a thickness of 0.6 mm produced by the wet coagulation method.
Polyester film is pre-laminated on it, cut into a circle with an outer diameter of 99 mm, water is dropped into the hole, the film surface is placed at the top, and the film surface is put into the hole and pressed tightly. Vinyl sheet with new Mohs hardness of 13 and average particle size of 20μm of silicon carbide with a density of 250,000 pieces / cm 2 and width of 4mm and depth.
A 0.25 mm radial electrodeposition was adhered to the backing material with water.

このような状態で,下定盤に研磨パッドを載置し,該研
磨パッドを180r.p.m.で回転させ,該研磨パッドにシー
ズニング材を200g/cm2の圧力にて押圧しつつ,コロイダ
ルシリカ希釈液をシーズニング材と研磨パッドとの間に
流通させながら10秒間シーズニングした。
In such a state, place the polishing pad on the lower surface plate, rotate the polishing pad at 180 rpm, press the seasoning material against the polishing pad at a pressure of 200 g / cm 2 , and colloidal silica diluted solution. Was circulated between the seasoning material and the polishing pad for 10 seconds.

シーズニングされた研磨パッドは厚みのバラツキが10μ
mであり,平滑性に優れていた。この研磨パッドを用い
て,シリコンウェーハを,半導体ウェーハ研磨機にて研
磨した。得られた,ウェーハを洗浄乾燥後,その平面精
度を測定したところ,TTV値が2.8μmと良好であり,表
面品位も良好であった。
The seasoned polishing pad has a thickness variation of 10μ
m, and was excellent in smoothness. A silicon wafer was polished with a semiconductor wafer polishing machine using this polishing pad. After the wafer thus obtained was washed and dried, the plane accuracy was measured, and the TTV value was as good as 2.8 μm and the surface quality was also good.

実施例3 厚さ2mmのポリエステル製の外径125mmの円形板に直径11
0mmの穴(リセス)をあけてリング状ホルダーを3個作
りキャリアプレートに接着剤で適当な間隔をあけて装着
した。
Example 3 A circular plate having an outer diameter of 125 mm and made of polyester having a thickness of 2 mm has a diameter of 11
Three ring-shaped holders were made by making 0 mm holes (recesses) and mounted on a carrier plate with an adhesive at appropriate intervals.

シーズニング材は厚さ5mmの円形状ステンレスプレー
ト,直径108mmのものに新モース硬度12,平均粒径10μm,
密度100万個/cm2で結晶アルミナ,巾1mm,深さ3mmの格子
状の溝がつくようにして電着固定したものを選び,シー
ズニング材の裏面の平坦面に厚さ0.6mmのバッキング材
を予め接着したものを3個作った。これを3個のホルダ
ーそれぞれの中にグリセリンを介して押圧し密着せしめ
た。
The seasoning material is a circular stainless steel plate with a thickness of 5 mm, a diameter of 108 mm, a new Mohs hardness of 12, an average particle size of 10 μm,
Select crystalline alumina with a density of 1 million pieces / cm 2 , electrodeposited and fixed so that grid-like grooves with a width of 1 mm and a depth of 3 mm are formed, and a backing material with a thickness of 0.6 mm on the flat surface of the back surface of the seasoning material. 3 were pre-bonded. This was pressed into each of the three holders via glycerin to make them adhere to each other.

実施例2と同様に,研磨パッド回転60r.p.m,キャリアプ
レート回転50r.p.m,シーズニング材押圧150g/cm2,コロ
イダル希釈液で15秒間シーズニングした。結果,ウェー
ハ研磨後のウェーハの平面精度はTTV値2.5μmで表面品
位は良好であった。
As in Example 2, the polishing pad was rotated at 60 rpm, the carrier plate was rotated at 50 rpm, the seasoning material pressure was 150 g / cm 2 , and the seasoning was performed for 15 seconds using the colloidal diluent. As a result, the flatness of the wafer after polishing was TTV 2.5 μm and the surface quality was good.

実施例4 キャリアプレート面に直径100mm,深さ2mmの凹みを3ケ
所設け,これらのそれぞれの凹みの底部平坦面に吸引細
孔を設けて,キャリヤ内部から減圧吸引できるキャリヤ
を作り,減圧減に接続した。
Example 4 Three recesses having a diameter of 100 mm and a depth of 2 mm were provided on the surface of a carrier plate, and suction holes were provided on the flat surface of the bottom of each of these recesses to make a carrier capable of vacuum suction from inside the carrier. Connected

シーズニング材にポリメチルメタクリレート3mm厚板に
ダイヤモンドを平均粒径15μm,密度一万個/cm2で電着し
たものを使用し,その裏面の平坦面に実施例2のミクロ
フォームウレタシートを予め接着積層した径98mmのもの
を,キャリアプレートの凹みに入れ,水柱30mmで吸引密
着した。
As a seasoning material, a 3 mm thick plate of polymethylmethacrylate and electrodeposited diamond with an average particle size of 15 μm and a density of 10,000 pieces / cm 2 was used, and the microform ureta sheet of Example 2 was previously bonded to the flat surface of the back surface. The laminated ones with a diameter of 98 mm were put into the recesses of the carrier plate and suctioned and adhered with a water column of 30 mm.

実施例1と同様にシーズニング材を行い,表面品位良好
でTTV値3.0μmの平面精度の結果を得た。
A seasoning material was used in the same manner as in Example 1, and the surface quality was good and the flatness of TTV value of 3.0 μm was obtained.

(発明の効果) 本発明のシーズニング装置は,このように,シーズニン
グ材を,バッキング材を介してキャリヤプレートに装着
する構成であるため,シーズニング材のキャリヤプレー
トからの取替えが容易に行なえる。キャリヤプレートが
研磨パッドに対して,相対的に回転する際に,シーズニ
ング材は,バッキング材に対して回転することになり,
シーズニング効率が向上する。更に,これらの取替え容
易化やシーズニング効率の向上に加えて、シーズニング
材が新モース硬度が12以上の粒子を電着により固定され
たものであるので、短時間にて研磨パッド表面をシーズ
ニングできる。また,シーズニング時には,バッキング
材が緩衝材として機能するため,圧力調節等が容易に行
なえる。シーズニング材の先端の面出しが多少異なって
もこれらの機能によって,手間なく精度よく研磨でき
る。
(Effects of the Invention) Since the seasoning device of the present invention is configured such that the seasoning material is mounted on the carrier plate via the backing material in this way, the seasoning material can be easily replaced from the carrier plate. As the carrier plate rotates relative to the polishing pad, the seasoning material will rotate relative to the backing material,
Seasoning efficiency is improved. Further, in addition to facilitating replacement and improvement of seasoning efficiency, since the seasoning material is obtained by fixing particles having a new Mohs hardness of 12 or more by electrodeposition, the surface of the polishing pad can be seasoned in a short time. Also, during seasoning, the backing material functions as a cushioning material, so that pressure adjustment and the like can be easily performed. Even if the tip of the seasoning material is slightly different, these functions allow you to polish it accurately and easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図〜第8図はそれぞれ本発明の一例を示すシーズニ
ング装置の要部断面図である。 10……キャリヤ,11……キャリヤプレート,20……バッキ
ング材,30……シーズニング材,50,60……ホルダー。
1 to 8 are cross-sectional views of essential parts of a seasoning device showing an example of the present invention. 10 …… Carrier, 11 …… Carrier plate, 20 …… Backing material, 30 …… Seasoning material, 50,60 …… Holder.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】シーズニングすべき研磨パッドに対して相
対的に回転するキャリヤプレートと, 平坦面を有する基体の該平坦面に,新モース硬度が12以
上の粒子を電着により固定してなり,前期キャリヤプレ
ートの回転中心から偏位した位置に装着される研磨パッ
ド用のシーズニング材と, 該シーズニング材の基体と前記キャリヤプレートとの間
に介装された,ミクロポーラス状に発泡された高分子体
であるパッキング材と, を具備する研磨パッド用シーズニング装置。
1. A carrier plate rotating relative to a polishing pad to be seasoned, and particles having a new Mohs hardness of 12 or more are fixed to the flat surface of a substrate having a flat surface by electrodeposition, The seasoning material for the polishing pad, which is mounted at a position deviated from the center of rotation of the carrier plate, and the microporous foamed polymer interposed between the base material of the seasoning material and the carrier plate. A seasoning device for a polishing pad, which includes a packing material that is a body.
【請求項2】前記バッキング材が,シーズニング材と予
め積層一体化されてなる特許請求の範囲第1項に記載の
研磨パッド用シーズニング装置。
2. The seasoning device for a polishing pad according to claim 1, wherein the backing material is preliminarily laminated and integrated with a seasoning material.
JP62208418A 1987-08-21 1987-08-21 Seasoning device for polishing pad Expired - Lifetime JPH0775828B2 (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3482328B2 (en) * 1997-11-07 2003-12-22 新日本製鐵株式会社 Dresser for polishing cloth for semiconductor substrate and method of manufacturing the same
US6302770B1 (en) 1998-07-28 2001-10-16 Nikon Research Corporation Of America In-situ pad conditioning for CMP polisher
JP2002208575A (en) * 2001-01-10 2002-07-26 Sony Corp Semiconductor grinding device
JP5422262B2 (en) * 2009-06-01 2014-02-19 ニッタ・ハース株式会社 Polishing pad conditioner
JP5478945B2 (en) * 2009-06-01 2014-04-23 ニッタ・ハース株式会社 Polishing pad conditioner

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57149158A (en) * 1981-03-09 1982-09-14 Fujimi Kenmazai Kogyo Kk Method of removing choke in grinding pad and dresser

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