JPH0774815B2 - Analog LSI tester - Google Patents

Analog LSI tester

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JPH0774815B2
JPH0774815B2 JP59123457A JP12345784A JPH0774815B2 JP H0774815 B2 JPH0774815 B2 JP H0774815B2 JP 59123457 A JP59123457 A JP 59123457A JP 12345784 A JP12345784 A JP 12345784A JP H0774815 B2 JPH0774815 B2 JP H0774815B2
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module
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sequencer
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Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、アナログLSIの動作異常を検査するためのア
ナログLSIテスタに関し、詳しくはアナログLSIテスタの
計測用モジュールに対しコントロール系からノイズが混
入しないようにしたデータ転送方式の改良に関するもの
である。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an analog LSI tester for inspecting an abnormal operation of an analog LSI, and more specifically, to prevent noise from being mixed into a measurement module of the analog LSI tester from a control system. The present invention relates to the improvement of the data transfer method.

(従来技術) 従来より、計測用モジュールをディジタル計算機で制御
されるモジュール・コントローラにより駆動し、このモ
ジュールに接続された被試験アナログLSIに対し、必要
ならば所定のアナログ信号を与え、適宜LSIの各部のア
ナログ信号を計測用モジュールにて測定し、得られたデ
ータをディジタルに変換した後ディジタル計算機等によ
り解析し、被試験アナログLSIの動作異常を検査するア
ナログLSIテスタがある。
(Prior Art) Conventionally, a measurement module is driven by a module controller controlled by a digital computer, a predetermined analog signal is given to an analog LSI under test connected to this module if necessary, and the LSI There is an analog LSI tester that measures the analog signal of each part with a measurement module, converts the obtained data into digital, analyzes it with a digital computer, etc., and inspects the operation abnormality of the analog LSI under test.

このようなLSIテスタにおいては、計測モジュールへコ
ントロール系からのノイズが混入しないようにする必要
があり、その一手法として計測モジュールとコントロー
ラとの間のデータ転送を光ファイバ経由で行うようにし
たものがある。この場合のデータ転送には通常シリアル
転送方式が採られ、市販の同期式,非同期式シリアル転
送LSIが用いられる。このシリアル転送LSIは、パラレル
信号をシリアル信号に変換して出力する並列・直列変換
(PS変換)機能と、与えられるシリアル信号をパラレル
信号に変換して出力する直列・並列変換(SP変換)機能
を併有し、第2図に示すような構成で用いられる。すな
わち、一方のシリアル転送LSI200(210)の出力信号は
光電変換器(図示せず),転送線(光ファイバ)220及
び相手側の光電変換器(図示せず)を介して他方のシリ
アル転送LSI210(200)に転送される。この場合、各転
送LSIにはLSIコントロール用のプロセッサ201,211ある
いはそれに代るシーケンサが必要とされる。
In such an LSI tester, it is necessary to prevent noise from the control system from entering the measurement module, and one method is to transfer data between the measurement module and the controller via an optical fiber. There is. In this case, a serial transfer method is usually adopted for data transfer, and a commercially available synchronous or asynchronous serial transfer LSI is used. This serial transfer LSI has a parallel / serial conversion (PS conversion) function that converts a parallel signal to a serial signal and outputs it, and a serial / parallel conversion (SP conversion) function that converts a given serial signal to a parallel signal and outputs it. Both are used and used in a configuration as shown in FIG. That is, the output signal of one serial transfer LSI 200 (210) passes through the photoelectric converter (not shown), the transfer line (optical fiber) 220 and the other side photoelectric converter (not shown), and the other serial transfer LSI 210. Transferred to (200). In this case, each transfer LSI requires LSI control processors 201, 211 or a sequencer instead thereof.

ところで、このようなシステムにおいて、計測モジュー
ル230に対し、LSIコントロール用のプロセッサ201,211
や他のコントロール系からノイズが混入するという問題
があった。
By the way, in such a system, with respect to the measurement module 230, the LSI control processors 201, 211
There was a problem that noise was mixed in from other control systems.

(発明の目的) 本発明は、このような点に鑑み、その目的とするところ
は、コントロール系から計測モジュールへノイズが混入
しないようにしたアナログLSIテスタを提供することに
ある。
(Object of the Invention) In view of such a point, an object of the present invention is to provide an analog LSI tester in which noise is not mixed from a control system to a measurement module.

(発明の概要) このような目的を達成するために本発明では、被試験ア
ナログLSIに対し必要に応じてアナロク信号を与えると
共にLSI各分のアナログ信号を測定するための計測モジ
ュールと、この計測モジュールとは光結合となっていて
そのモジュールを制御するためのモジュール・コントロ
ーラと、モジュール・コントローラを駆動し所定のテス
ト動作を行わせ、得られた測定データを適宜に処理する
計算機を備え、被試験アナログLSIの動作解析を行い得
るアナログLSIテスタにおいて、 前記モジュール・コントローラと前記計測モジュールは
それぞれコントローラ・インタフェースとモジュール・
インタフェースを介してシリアル転送方式で信号の授受
ができるように構成され、 前記モジュール・コントローラ側のコントローラ・イン
タフェースは、モジュール・コントローラ側からの出力
信号を計測モジュール側に送出する送信部と、計測モジ
ュール側からの出力信号を受信してモジュール・コント
ローラ側に送る受信部と、モジュール・コントローラか
ら与えられる制御信号に応じて送信部と受信部を制御す
る信号を発生すると共にその制御信号をコード信号にし
て送信部へ入力し、さらに前記制御信号が出ている間モ
ジュール・コントローラからのクロックを計測モジュー
ル側へ送出する機能を備えたシーケンサより構成され、 前記計測モジュール側のモジュール・インタフェース
は、計測モジュール側からの信号を前記モジュール・コ
ントローラ側に送出する送信部と、モジュール・コント
ローラ側からの信号を受信し計測モジュール側に送出す
る受信部と、前記モジュール・コントローラ側のインタ
フェースのシーケンサから与えられるクロックによって
作動し、受信部と送信部をタイミング制御すると共に、
受信部で受信した制御信号のコードを解釈する機能を有
するシーケンサと、このシーケンサからの信号に基づき
前記クロックに同期して計測モジュールを制御するパル
ス信号を発生するパルス発生器より構成された ことを特徴とする。
(Summary of the Invention) In order to achieve such an object, the present invention provides a measurement module for applying an analog signal to an analog LSI under test as needed and measuring an analog signal for each LSI, and a measurement module for measuring the analog signal. The module is optically coupled and has a module controller for controlling the module and a computer that drives the module controller to perform a predetermined test operation and appropriately processes the obtained measurement data. In an analog LSI tester capable of analyzing the operation of a test analog LSI, the module controller and the measurement module are respectively a controller interface and a module interface.
The controller interface on the module controller side is configured to be able to send and receive signals by a serial transfer method via the interface, and the transmitter interface for sending the output signal from the module controller side to the measurement module side, and the measurement module. Generates a signal for controlling the transmitter and receiver according to the control signal given from the module controller and the receiver which receives the output signal from the module controller side and the control signal to the code signal. Input to a transmission unit, and further comprises a sequencer having a function of sending a clock from the module controller to the measurement module side while the control signal is output, wherein the module interface on the measurement module side is a measurement module. Signal from the And a receiving unit that receives a signal from the module controller side and sends it to the measurement module side, and a receiving unit that operates by a clock given from the sequencer of the interface of the module controller side. And timing control the transmitter,
It is composed of a sequencer having a function of interpreting the code of the control signal received by the receiving unit, and a pulse generator that generates a pulse signal for controlling the measurement module in synchronization with the clock based on the signal from the sequencer. Characterize.

(実施例) 以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第1図は本
発明に係るアナログLSIテスタの特にデータ転送に係わ
る部分の一実施例を示す要部構成図である。同図におい
て、10はモジュール・コントローラ、20はコントローラ
・インタフェース、30はモジュール・インタフェース、
40は計測モジュールである。
(Example) The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a main part configuration diagram showing an embodiment of a portion particularly related to data transfer of an analog LSI tester according to the present invention. In the figure, 10 is a module controller, 20 is a controller interface, 30 is a module interface,
40 is a measurement module.

モジュール・コントローラ10は、プロセッサ11(通常マ
イクロプロセッサが用いられる)と発振器12より構成さ
れ、コントローラ・インタフェース20を制御する。プロ
セッサ11は図示しない計算機から与えられるコマンドに
応じて所定の計測動作を実行するためにコントローラ・
インタフェースに対して制御信号やデータの授受を行
う。
The module controller 10 includes a processor 11 (usually a microprocessor is used) and an oscillator 12, and controls a controller interface 20. The processor 11 is a controller for executing a predetermined measurement operation in response to a command given from a computer (not shown).
Sends and receives control signals and data to and from the interface.

コントローラ・インタフェース20は、モジュール・イン
タフェース30に対してデータの授受及びクロックの供給
を行うもので、送信部21,受信部22およびシーケンサ23
より構成されている。
The controller interface 20 sends and receives data and supplies a clock to the module interface 30, and includes a transmitter 21, a receiver 22, and a sequencer 23.
It is composed of

送信部21は、シーケンサ23により制御され、与えられる
並列のデジタル信号を直列信号に変換し、更にこれを光
電変換により光信号に変換して出力する。受信部22は、
シーケンサ23によりタイミング制御され、入力される直
列デジタル信号(光信号)を光電変換により光信号に変
換した後この直列の電気信号を並列信号に変換して出力
する。シーケンサ23は、プロセッサ11から与えられる制
御信号(ライト,リード及びリセット信号)に応じて送
信部21,受信部22を制御する信号を発生すると共に前記
制御信号をコード信号にした上で送信部21へ入力し、ま
た、発振器12から与えられるクロックを光電変換して光
信号で出力する。
The transmitter 21 is controlled by the sequencer 23 to convert a given parallel digital signal into a serial signal, and further converts this into a light signal by photoelectric conversion and outputs the light signal. The receiver 22
Timing control is performed by the sequencer 23, and the input serial digital signal (optical signal) is converted into an optical signal by photoelectric conversion, and then this serial electric signal is converted into a parallel signal and output. The sequencer 23 generates a signal for controlling the transmitting unit 21 and the receiving unit 22 according to a control signal (write, read and reset signal) given from the processor 11 and converts the control signal into a code signal, and then the transmitting unit 21. The clock supplied from the oscillator 12 is photoelectrically converted and output as an optical signal.

モジュール・インタフェース30は、受信部31,送信部32,
シーケンサ33及びパルス発生器34より構成される。受信
部31及び送信部32はコントローラ・インタフェース20の
受信部31及び送信部32と同一の構成又は同じ機能を有す
るものである。
The module interface 30 includes a receiving unit 31, a transmitting unit 32,
It is composed of a sequencer 33 and a pulse generator 34. The receiving unit 31 and the transmitting unit 32 have the same configuration or the same function as the receiving unit 31 and the transmitting unit 32 of the controller interface 20.

シーケンサ33はコントローラ・インタフェース20からの
同期クロックによって作動し、受信部31及び送信部32を
タイミング制御すると共に、受信部31で受信した制御信
号のコードを解釈してパルス発生器34を制御する。パル
ス発生器34は前記同期クロックに同期し、シーケンサ33
からの信号にもとづきリード又はライト又はリセット信
号を発生する。
The sequencer 33 operates according to the synchronous clock from the controller interface 20, controls the timing of the receiving unit 31 and the transmitting unit 32, interprets the code of the control signal received by the receiving unit 31, and controls the pulse generator 34. The pulse generator 34 synchronizes with the synchronous clock, and the sequencer 33
A read or write or reset signal is generated based on the signal from.

計測モジュール40は、メモリ(又はレジスタ)41を備
え、送受データが記憶されるようにつなっている。この
メモリ41には、モジュール・インタフェース30のパルス
発生器34からの制御信号(ライト,リード,リセット)
が与えられる。
The measurement module 40 includes a memory (or register) 41, and is configured to store transmission / reception data. Control signals (write, read, reset) from the pulse generator 34 of the module interface 30 are stored in the memory 41.
Is given.

このような構成における動作を次に説明する。The operation in such a configuration will be described below.

モジュール・コントローラ10のプロセッサ11は計算機よ
り与えられるコマンドに応じて所定のプログラムを実行
し一つずつシーケンスを実行する。計測モジュール40を
制御する必要がある時(例えば書込みの場合)、プロセ
ッサ4からライト信号がシーケンサ23に与えられる。シ
ーケンサ23はライト信号を受けるとアクノリッジ信号を
プロセッサ4に返す。プロセッサ4はまた、アドレス線
13,データ線14を介してアドレスとデータが送信部21に
送られ、シリアル信号に変換された後、光ファイバ24を
経由してモジュール・インタフェース30の受信部31に入
力される。一方、コントローラ・インタフェース20のシ
ーケンサ23に入ったライト信号は、送信データの一部と
して送信部21及び光ファイバ24を介して受信部31に入る
(第4図の(ロ))。この場合におけるデータ書式は第
3図の(イ)に示すような形式である。なお、第3図の
(イ)は送信データの中に制御命令やアドレスデータを
含むデータのフォーマットを示し、同図(ロ)は送受信
されるデータ(いわゆる単なる数値としてのデータ)の
フォーマットを示す。
The processor 11 of the module controller 10 executes a predetermined program according to a command given by the computer and executes the sequence one by one. When it is necessary to control the measurement module 40 (for writing, for example), a write signal is given from the processor 4 to the sequencer 23. Upon receiving the write signal, the sequencer 23 returns an acknowledge signal to the processor 4. Processor 4 also has an address line
The address and data are sent to the transmitter 21 via the data line 14, converted into a serial signal, and then input to the receiver 31 of the module interface 30 via the optical fiber 24. On the other hand, the write signal that has entered the sequencer 23 of the controller interface 20 enters the receiver 31 via the transmitter 21 and the optical fiber 24 as part of the transmission data ((b) in FIG. 4). The data format in this case is as shown in FIG. It should be noted that FIG. 3A shows the format of data including control instructions and address data in the transmission data, and FIG. 3B shows the format of transmitted / received data (so-called simple numerical data). .

受信部31に入ったデータは並列データに変換され(第4
図の(ニ))アドレス線35,データ線36を経由して計測
モジュール40のメモリ41に入る。このとき第3図(イ)
に示されるリセット,リード(“1"でリード、“0"でラ
イト),コマンドを示す、ビットはシーケンサ33に送ら
れ、ここでその内容が解釈される。シーケンサ33は、制
御信号(第4図の(ハ))が出ている間送られるクロッ
ク(第4図(イ))に同期して、ライト命令であること
をパルス発生器34に知らせる。パルス発生器34から出力
されたライト信号(第4図の(ホ))がメモリ41に与え
られ、受信部31の出力で指定されるメモリアドレスに受
信部31から与えられるデータ(第4図の(ニ)のn番目
確定データ)が書き込まれる(第4図の(ホ))。
The data that has entered the receiving unit 31 is converted into parallel data (fourth
(D) In the figure, it enters the memory 41 of the measuring module 40 via the address line 35 and the data line 36. At this time, Fig. 3 (a)
The bits indicating the reset, read (read by "1", write by "0") and command shown in (1) are sent to the sequencer 33, and the contents are interpreted here. The sequencer 33 notifies the pulse generator 34 that it is a write command in synchronization with the clock (FIG. 4 (A)) sent while the control signal ((C) in FIG. 4) is being output. The write signal ((e) in FIG. 4) output from the pulse generator 34 is given to the memory 41, and the data given from the receiving unit 31 to the memory address specified by the output of the receiving unit 31 (see FIG. 4). The (nth confirmed data) of (d) is written ((e) of FIG. 4).

一転送が終了するとシーケンサ23はプロセッサ11に対し
てアクノリッジ信号を返して、プロセッサ11のライトタ
イミングを終わらせる。これにより制御信号が下ち(第
4図の(ハ))、シーケンサ23からのクロック出力は停
止する(第4図(イ))。
When one transfer is completed, the sequencer 23 returns an acknowledge signal to the processor 11 to end the write timing of the processor 11. As a result, the control signal is lowered ((c) in FIG. 4), and the clock output from the sequencer 23 is stopped ((a) in FIG. 4).

モジュール・インタフェース30のシーケンサ33はクロッ
クが入力されている期間だけ作動し、クロックの入力さ
れない期間には作動しない。シーケンサ33が作動しない
ときはモジュール・インタフェース内の受信部31,送信
部32,パルス発生器34もその動作が停止する。
The sequencer 33 of the module interface 30 operates only while the clock is input, and does not operate when the clock is not input. When the sequencer 33 does not operate, the operations of the receiver 31, transmitter 32, and pulse generator 34 in the module interface also stop.

なお、データ読み取りの場合、すなわち計測モジュール
のメモリ41に格納された測定データを読みだしてプロセ
ッサ11に取り込む場合は、インタフェース30では送信部
32が、またインタフェース20では受信部22がそれぞれ作
動し、上述のライトの場合と同様の動作原理によりデー
タ転送が行われる。
In the case of data reading, that is, when the measurement data stored in the memory 41 of the measurement module is read out and taken into the processor 11, the interface 30 uses the transmitting unit.
32 and the receiving unit 22 in the interface 20 respectively operate, and data transfer is performed according to the same operation principle as in the case of the above-mentioned write.

また、電源投入時あるいは所望時にシステム全体を初期
化する場合には、モジュール・コントローラのプロセッ
サ11よりリセット信号が出力され、データ書き込みの場
合と同様にしてリセット・コマンドがモジュール・イン
タフェース30へ転送され、パルス発生器34よりリセット
信号が出力され、このリセット信号によって計測モジュ
ールが初期化される。
Further, when the entire system is initialized at power-on or when desired, a reset signal is output from the processor 11 of the module controller, and a reset command is transferred to the module interface 30 as in the case of writing data. A reset signal is output from the pulse generator 34, and the measurement module is initialized by this reset signal.

以上のような動作において、プロセッサ11からの制御信
号がアクティブでない期間中は、モジュール・インタフ
ェースが動作停止の状態になるため、計測モジュールに
対しコントロール系からのノイズの混入を防止できる。
In the above-described operation, the module interface is in a stopped state while the control signal from the processor 11 is inactive, so that it is possible to prevent noise from the control system from being mixed into the measurement module.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、計測モジュール
にて計測中はモジュール・インタフェースの動作を停止
状態としているため、計測モジュールに対するコントロ
ーラ側からのノイズの回り込みを防止できるアナログLS
Iテスタを実現することができる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the operation of the module interface is stopped during measurement by the measurement module, so that it is possible to prevent the noise from flowing from the controller side to the measurement module. LS
The I tester can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明に係るアナログLSIテスタの要部構成
図、第2図は従来のアナログLSIテスタの一例を示す要
部構成図、第3図は転送データ書式を示す図、第4図は
動作を説明するためのタイムチャートである。 10……モジュール・コントローラ、11……プロセッサ、
12……発振器、20……コントローラ・インタフェース、
21,32……送信部、22,31……受信部、23,33……シーケ
ンサ、24,25,26……光ファイバ、30……モジュール・イ
ンタフェース、34……パルス発生器、40……計測モジュ
ール、41……メモリ。
FIG. 1 is a block diagram of a main part of an analog LSI tester according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a main part of an example of a conventional analog LSI tester, FIG. 3 is a diagram showing a transfer data format, and FIG. 7 is a time chart for explaining the operation. 10 …… Module controller, 11 …… Processor,
12 ... Oscillator, 20 ... Controller interface,
21,32 …… Transmitter, 22,31 …… Receiver, 23,33 …… Sequencer, 24,25,26 …… Optical fiber, 30 …… Module interface, 34 …… Pulse generator, 40 …… Measurement module, 41 ... Memory.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被試験アナログLSIに対し必要に応じてア
ナログ信号を与えると共にLSI各分のアナログ信号を測
定するための計測モジュールと、この計測モジュールと
は光結合となっていてそのモジュールを制御するための
モジュール・コントローラと、モジュール・コントロー
ラを駆動し所定のテスト動作を行わせ、得られた測定デ
ータを適宜に処理する計算機を備え、被試験アナログLS
Iの動作解析を行い得るアナログLSIテスタにおいて、 前記モジュール・コントローラと前記計測モジュールは
それぞれコントローラ・インタフェースとモジュール・
インタフェースを介してシリアル転送方式で信号の授受
ができるように構成され、 前記モジュール・コントローラ側のコントローラ・イン
タフェースは、 モジュール・コントローラ側からの出力信号を計測モジ
ュール側に送出する送信部と、 計測モジュール側からの出力信号を受信してモジュール
・コントローラ側に送る受信部と、 モジュール・コントローラから与えられる制御信号に応
じて送信部と受信部を制御する信号を発生すると共にそ
の制御信号をコード信号にして送信部へ入力し、さらに
前記制御信号が出ている間モジュール・コントローラか
らのクロックを計測モジュール側へ送出する機能を備え
たシーケンサ より構成され、 前記計測モジュール側のモジュール・インタフェース
は、 計測モジュール側からの信号を前記モジュール・コント
ローラ側に送出する送信部と、 モジュール・コントローラ側からの信号を受信し計測モ
ジュール側に送出する受信部と、 前記モジュール・コントローラ側のインタフェースのシ
ーケンサから与えられるクロックによって作動し、受信
部と送信部をタイミング制御すると共に、受信部で受信
した制御信号のコードを解釈する機能を有するシーケン
サと、 このシーケンサからの信号に基づき前記クロックに同期
して計測モジュールを制御するパルス信号を発生するパ
ルス発生器 より構成されアナログLSIテスタ。
1. A measurement module for supplying an analog signal to an analog LSI under test as needed and measuring an analog signal for each LSI, and the measurement module is optically coupled to control the module. Equipped with a module controller for driving the module controller and a computer that drives the module controller to perform a predetermined test operation and appropriately processes the measured data obtained.
In an analog LSI tester capable of performing operation analysis of I, the module controller and the measurement module are respectively a controller interface and a module interface.
The controller interface on the module controller side is configured so that signals can be transmitted and received through the interface in a serial transfer method, and the controller interface on the module controller side sends the output signal from the module controller side to the measurement module side, and the measurement module. Generates a signal that controls the transmitter and receiver in response to the control signal provided by the module controller and the receiver that sends the output signal from the module controller side to the module controller side, and uses that control signal as a code signal. Input to the transmitting section, and further, while the control signal is being output, it is composed of a sequencer having a function of sending the clock from the module controller to the measuring module side, and the module interface on the measuring module side is a measuring module. Signal from the side Of the module controller, a receiver for receiving the signal from the module controller and sending it to the measurement module, and a receiver operated by the clock given from the sequencer of the interface of the module controller. A sequencer having the function of controlling the timing of the transmitter and the transmitter and interpreting the code of the control signal received by the receiver, and a pulse signal for controlling the measurement module in synchronization with the clock based on the signal from the sequencer. An analog LSI tester composed of a pulse generator.
JP59123457A 1984-06-15 1984-06-15 Analog LSI tester Expired - Lifetime JPH0774815B2 (en)

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JPS612085A JPS612085A (en) 1986-01-08
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US5441685A (en) * 1991-01-28 1995-08-15 Tokiwa Chemical Industries Co., Ltd. Method for producing a window glass edging member for a vehicle such as an automobile
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US5343655A (en) * 1992-10-27 1994-09-06 Tokiwa Chemical Industries Co., Ltd. Weather strip for the window glass of an automobile

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