JPH0772087A - 円筒物の外面検査装置 - Google Patents

円筒物の外面検査装置

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JPH0772087A
JPH0772087A JP5219834A JP21983493A JPH0772087A JP H0772087 A JPH0772087 A JP H0772087A JP 5219834 A JP5219834 A JP 5219834A JP 21983493 A JP21983493 A JP 21983493A JP H0772087 A JPH0772087 A JP H0772087A
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aluminum
cylindrical object
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area
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JP5219834A
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Atsuo Ito
厚生 伊藤
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Mitsubishi Materials Corp
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Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】検査精度の向上、検査バラツキ、検査漏れなど
の発生の防止を図れ、信頼性の高い円筒物の外面検査装
置を実現する。 【構成】円筒物をその軸を中心に回転させながら一定方
向に搬送する搬送部10と、搬送路に設定された検査領
域INSの長さ方向の略全体に亘って並設され所定周期
毎に搬送路から受ける光量に応じたレベルの画像データ
を出力する第1および第2のラインセンサ40,50
と、第1のラインセンサの出力レベルが設定レベル外と
なった位置毎に位置同期信号を発生する比較器80と、
位置同期信号PSに同期して、当該同期信号が発生され
た位置に対応する第2のラインセンサ50による円筒物
の画像データを順次記憶するA/D変換器90および記
憶部100と、検査領域から搬出された円筒物の画像デ
ータを記憶部100から読み出し画像処理を行う画像信
号処理系200とを設け、精度の高い検査を実現する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アルミ缶などの円筒物
の外面を検査する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】アルミ缶などは、製造後に出荷先の要求
に応じた文字あるいは図形などの情報をその側外面に印
刷して出荷している。この印刷情報は、出荷先の商品の
出所や品質表示の機能を有し、また宣伝広告の機能など
をも果たすものであるため、印刷が正確に行われた否か
は重要な意義をもつ。したがって、出荷に際しては、出
荷先の要求通りの情報が印刷されているか否かの検査が
行われている。この検査方法としては、従来主に、人間
の視覚により1缶1缶チェックを行う方法が採用されて
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、人間の
視覚により多量の缶の外面検査を行うと、検査精度、所
定時間内の検査数などにバラツキを生じ、また検査漏れ
が生じることもあり、現在、信頼性の高い検査システム
が確立されていないのが現状である。
【0004】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、検査精度の向上、検査バラツ
キ、検査漏れなどの発生の防止を図れ、信頼性の高い円
筒物の外面検査装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、円筒物をその軸を中心に回転させなが
ら一定方向に搬送する手段と、搬送路の搬送方向に所定
の長さに設定された検査領域と、検査領域の長さ方向の
略全体に亘って、搬送路を搬送される円筒物の側外面を
撮像可能に並設され、所定周期毎に搬送路から受ける光
量に応じたレベルの画像データを出力する第1および第
2の撮像手段と、第1の撮像手段の出力レベルがあらか
じめ設定したレベル外となった位置毎に位置同期信号を
発生する手段と、上記位置同期信号に同期して、当該同
期信号が発生された位置に対応する上記第2の撮像手段
による円筒物の画像データを順次記憶する手段と、検査
領域から搬出された円筒物の画像データを上記記憶手段
から読み出し画像処理を行う手段とを有するようにし
た。
【0006】本発明では、上記記憶手段に設けられ、上
記検査領域内に同時に配置可能な検査対象円筒物の数N
に1を加えた数のメモリ領域と、これらメモリ領域を検
査領域へ搬入された円筒物順に順次割当て、割当てたメ
モリ領域に対応する円筒物の上記画像データを格納する
手段とを有するようにした。
【0007】本発明では、上記検査領域への円筒物の搬
入を検出する手段と、上記検査領域からの円筒物の搬出
を検出する手段と、搬入検出手段により検出された円筒
物に対して一のメモリ領域を割当て、搬出検出手段によ
り検出された円筒物の記憶された画像データを読み出す
手段とを有するようにした。
【0008】
【作用】本発明によれば、搬送手段により回転されなが
ら搬送されたきた円筒物は、検査領域に搬入される。検
査領域に搬入された円筒物は、その側外面が第1および
第2の撮像手段により所定周期毎に撮像され、その画像
データが出力される。ここで、第1の撮像手段の出力レ
ベルがあらかじめ設定したレベル外となった位置毎、す
なわち上記周期毎に円筒物が第1の撮像手段に最接近し
た位置毎に位置同期信号が発生される。次いで、この位
置同期信号に同期して、当該同期信号が発生された位置
に対応する第2の撮像手段による円筒物の画像データが
順次記憶される。このようにして、略一周分の画像デー
タが記憶された円筒物が検査領域から搬出されると、そ
の記憶画像データが読み出され、所定の画像処理が施さ
れ、このデータに基づいて外面検査が行われる。
【0009】本発明によれば、検査領域内に搬入された
円筒物順に記憶手段内のメモリ領域が順次割当てられ、
割当てられたメモリ領域に対応する円筒物の上記画像デ
ータが格納される。
【0010】本発明によれば、検査領域への円筒物の搬
入が検出され、この検出結果に基づき検出された円筒物
に対して一のメモリ領域が割当てられる。また、検査領
域からの円筒物の搬出が検出され、検出された円筒物の
記憶された画像データが読み出され、所定の画像処理が
施される。
【0011】
【実施例】図1は本発明に係る円筒アルミ缶の外面検査
装置の一実施例を示す外観斜視図、図2は本装置におけ
る信号処理系の構成例を示すブロック図である。図にお
いて、C1〜C6はワークとしての円筒アルミ缶(以
下、単にアルミ缶という)、INSは検査領域、10は
アルミ缶搬送部、20は搬入検出センサ、30は搬出検
出センサ、40は第1のラインセンサ、50は第2のラ
インセンサ、60は制御回路、70はスキャン信号発生
回路、80は比較器、90はアナログ/ディジタル(A
/D)変換器、100は記憶部、200は画像信号処理
系をそれぞれ示している。
【0012】アルミ缶C1〜C6は、全て直径Dおよび
高さHが同一規格のものであり、側面の所定の位置に出
荷先の要求に応じた、図示しない文字あるいは図形など
の情報INFが印刷されている。
【0013】検査領域INSは、アルミ缶搬送部10の
搬送方向における所定の長さに亘って設定されている。
その長さLは、少なくともアルミ缶Cが1回転可能な長
さに設定される。本例の場合、4個のアルミ缶Cが接近
した状態で検査領域INS内に配置可能な長さに設定さ
れている。
【0014】アルミ缶搬送部10は、ベルトコンベア1
1、回転軸12a,12b、駆動ベルト13a,13b
およびスリップガイド14a,14bにより構成されて
いる。ベルトコンベア11は、上面に載置されたアルミ
缶Cを矢印A方向に所定速度で搬送する。実際は、図1
に示すように、複数のアルミ缶Cが所定間隔をおいた状
態で、あるいは略接近した状態で搬送される。回転軸1
2a,12bは、ベルトコンベア11の搬送方向に向か
って図中左側面近傍で、かつその軸が搬送方向に直交す
るように、検査領域INSの長さLよりも大きな間隔を
おいて配置されている。これら回転軸12a,12bの
少なくとも一方の回転軸12a(12b)は、図示しな
いモータにより所定の回転速度、たとえば300〜40
0rpmで図中矢印Bで示す方向に回転される。
【0015】駆動ベルト13a,13bは、回転軸12
aおよび12bに掛け渡され、回転軸12a,12bの
回転力を受けて所定速度で回転し、ベルトコンベア11
により搬送されるアルミ缶Cの上部側および下部側の左
側外面に摺接してアルミ缶Cを一定方向に回転させなが
ら矢印A方向に搬送する。なお、これら駆動ベルト13
a,13bは、回転軸方向に所定の間隔を設けて回転軸
12a,12bに装着されている。スリップガイド14
a,14bは、ベルトコンベア11の搬送方向に向かっ
て図中右側で駆動ベルト13a,13bに平行するよう
に配置され、駆動ベルト13a,13bによって回転、
搬送されるアルミ缶Cのベルトコンベア11で形成され
る搬送路からのはみ出しを抑制し、アルミ缶Cの搬送方
向を規制する。これにより、アルミ缶Cは、進行方向A
へ定速で進行しつつ、第1および第2のラインセンサ4
0,50に対し全周部を接近させつつ通過する。
【0016】搬入検出センサ20は、検査領域INSの
アルミ缶Cの搬入側で、ベルトコンベア11を挟んで互
いに対向するように配置された発光部21と受光部22
とから構成されている。搬入検出センサ20は、発光部
21から出射された受光部22への光が、搬送されてき
たアルミ缶Cで遮断され受光部22の受光レベルが低下
したときに、検査領域INSへアルミ缶Cが搬入される
ことを示す検出信号DT1 を制御回路60に出力する。
【0017】搬出検出センサ30は、検査領域INSの
アルミ缶Cの搬出側で、ベルトコンベア11を挟んで互
いに対向するように配置された発光部31と受光部32
とから構成されている。搬出検出センサ30は、発光部
31から出射された受光部32への光が、搬送されてき
たアルミ缶Cで遮断され受光部32の受光レベルが低下
したときに、検査領域INSからアルミ缶Cが搬出され
たことを示す検出信号DT2 を制御回路60に出力す
る。
【0018】第1のラインセンサ40は、アルミ缶Cの
側面に対向し、かつ検査領域INSの長さ方向全体に亘
って配置されており、スキャン信号発生回路70により
発生されたスキャン信号SCANを受けて検査領域INSを
走査して検査領域INSの搬送方向全体の画像情報を
得、信号IM1 として比較器80に出力する。
【0019】第2のラインセンサ50は、第1のライン
センサ40のアルミ缶の軸方向において上側に、アルミ
缶Cの情報INFが印刷された領域に対向し、かつ検査
領域INSの長さ方向全体に亘って並設されており、ス
キャン信号発生回路70により発生されたスキャン信号
SCANを受け検査領域INSを走査して検査領域INSの
アルミ缶Cの情報INFを含む搬送方向全体の画像情報
を得、信号IM2 としてA/D変換器90に出力する。
【0020】制御回路60は、搬入検出センサ20の出
力検出信号DT1 の入力に伴い、記憶部100の後記す
るメモリ領域M1〜M5へのA/D変換器90の出力画
像データの格納制御を行い、搬出検出センサ30の出力
検出信号DT2 の入力に伴い、制御信号CTLにより後
記するメモリ領域M1〜M5から画像信号処理系200
への画像データの出力制御を行う。
【0021】スキャン信号発生回路70は、所定周期の
パルス信号であるスキャン信号SCANを第1のラインセン
サ40および第2のラインセンサ50に出力する。スキ
ャン信号SCANの出力周期は、たとえば検査領域INSを
アルミ缶Cが通過するのに要する時間を第1および第2
のラインセンサ40,50の画素数にて除した時間毎に
ラインスキャンを開始するように設定される。
【0022】比較器80は、第1のラインセンサ40の
出力信号IM1 の入力レベルとあらかじめ設定したレベ
ルTHとを比較し、入力レベルが設定レベルTH以下の
場合に、位置同期信号PSをA/D変換器90に出力す
る。具体的には、図1に示す位置P1 〜P4 の近傍にア
ルミ缶Cが搬送されているときは、その位置に対応する
領域の第1のラインセンサ40の受光部への光量が少な
いためその出力レベルが低くなり、位置同期信号PSが
出力される。図3(a)は、位置P1 〜P4 の全てにア
ルミ缶Cが連続的に搬送されたときの1回のスキャンで
出力される位置同期信号PSの例を示している。
【0023】A/D変換器90は、図3(b)に示すよ
うに、位置同期信号PSに同期して、位置同期信号パル
スが出力された位置P1 〜P4 に対応する領域における
第2のラインセンサ50の出力信号IM2 をアナログ信
号からディジタル信号に変換し、このディジタル信号D
IMを記憶部100に出力する。
【0024】記憶部100は、5つのメモリ領域M1〜
M5を有し、A/D変換器90の出力ディジタル画像デ
ータを制御回路60からの制御信号CTLの制御に基づ
いて割当てられたメモリ領域M1〜M5の所定アドレス
領域に格納する。また、各メモリ領域M1〜M5に格納
された画像データは、制御信号CTLに基づいて画像信
号処理系200に読み出される。記憶部100に設けら
れるメモリ領域Mの数は、検査領域INSに同時に配置
可能なアルミ缶の数Nに「1」を加えた数に設定され
る。したがって、本例の場合は、検査領域INSに同時
に配置可能なアルミ缶の数「N=4」に「1」を加えた
数「5」に設定される。
【0025】図4は、制御回路60により割当てられる
メモリ領域M1〜M5と、各メモリ領域M1〜M5に画
像データが格納されるアルミ缶Cとの対応関係を示す図
である。図4に示すように、制御回路60は、搬入検出
信号DT1 の入力順に応じてアルミ缶Cの検査領域IN
Sへの搬入順を認識し、メモリ領域M1〜M5を順次割
当てる。
【0026】具体的には、メモリ領域M1には、検査領
域INSへ搬入される第1番目のアルミ缶C1,第6番
目のアルミ缶C6,第11番目のアルミ缶C11,…、
すなわち、下記(1) 式に示すアルミ缶のディジタル画像
データが格納される。 1+(n−1)×5 …(1) 但し、nは第1番目から連続するアルミ缶5個を一組と
した場合の組番号を示している。
【0027】メモリ領域M2には、検査領域INSへ搬
入される第2番目のアルミ缶C2,第7番目のアルミ缶
C7,第12番目のアルミ缶C12,…、すなわち、下
記(2) 式に示すアルミ缶のディジタル画像データが格納
される。 2+(n−1)×5 …(2)
【0028】メモリ領域M3には、検査領域INSへ搬
入される第3番目のアルミ缶C3,第8番目のアルミ缶
C8,第13番目のアルミ缶C13,…、すなわち、下
記(3) 式に示すアルミ缶のディジタル画像データが格納
される。 3+(n−1)×5 …(3)
【0029】メモリ領域M4には、検査領域INSへ搬
入される第4番目のアルミ缶C4,第9番目のアルミ缶
C9,第14番目のアルミ缶C14,…、すなわち、下
記(4) 式に示すアルミ缶のディジタル画像データが格納
される。 4+(n−1)×5 …(4)
【0030】メモリ領域M5には、検査領域INSへ搬
入される第5番目のアルミ缶C5,第10番目のアルミ
缶C10,第15番目のアルミ缶C15,…、すなわ
ち、下記(5) 式に示すアルミ缶のディジタル画像データ
が格納される。 5+(n−1)×5 …(5)
【0031】また、図5は、制御回路60によりメモリ
領域M1に取り込まれるアルミ缶C1などの画像データ
の、格納領域と検出信号DT1 を入力してからのスキャ
ン回数と取り込み位置との対応関係を示す図である。図
5に示すように、メモリ領域M1(〜M5)には、検査
領域INSの4つの位置P1 〜P4 における第2のライ
ンセンサ50による画像データが4つのメモリ領域M1
−1〜M1−4に順次格納される。このように画像デー
タが順次格納されたメモリ領域M1〜M5のデータは、
該当するアルミ缶Cが搬出検出センサ30で検出され、
検出信号DT2 が制御回路60に入力されたときに、画
像信号処理系200に出力される。
【0032】画像信号処理系200は、記憶部100の
各メモリ領域M1〜M5から出力された画像データを合
成し、所定の信号処理を行って、表示装置や印刷装置に
出力する。
【0033】次に、上記構成において複数のアルミ缶が
連続的に搬送される場合の動作を説明する。初期状態で
は、アルミ缶の搬送が開始され、検査領域INS近傍に
アルミ缶が搬送されてきていないときには、搬入検出セ
ンサ20および搬出検出センサ30の各発光部21、3
1から所定強度の光が出射され受光部22、32でそれ
ぞれ受光されている。
【0034】このような状態で、複数のアルミ缶C1〜
Cmが、アルミ缶搬送部10のベルトコンベア11によ
り図1に示す矢印A方向に,かつ駆動ベルト12a,1
2bにより矢印B方向に所定速度で回転されながら検査
領域INS方向に搬送されてくる。ここで、まず先頭の
アルミ缶C1が検査領域INSへの搬入口に達すると、
搬入検出センサ20の発光部21から出射され受光部2
2で受光されていた光がアルミ缶C1の側外面により遮
断される。これにより、受光部22の受光レベルが低下
し、検査領域INSへアルミ缶C1が搬入されることを
示す検出信号DT1 が制御回路60に出力される。続い
て、アルミ缶C1は検査領域INSに搬入され、搬入検
出センサ20の発光部21の出射光のアルミ缶C1によ
る遮断状態が解除され、発光部21の出射光は受光部2
2で受光される。これにより、検出信号DT1 の出力が
停止される。
【0035】制御回路60では、検出信号DT1 の入力
に伴いスキャン信号発生回路70に対するスキャン信号
SCANの出力指示が行われると共に、制御信号CTLが記
憶部100に出力されて、アルミ缶C1に対するメモリ
領域M1の割当てが行われる。
【0036】スキャン信号発生回路70では、制御回路
60からの指示を受けて所定周期のスキャン信号SCANが
第1および第2のラインセンサ40,50にそれぞれ出
力される。第1および第2のラインセンサ40,50で
は、スキャン信号SCANを受けて検査領域INSの走査が
行われ、これに応じた信号IM1 ,IM2 がそれぞれ発
生され、第1のラインセンサ40の出力信号IM1 は比
較器80に出力され、第1のラインセンサ50の出力信
号IM2 はA/D変換器90に出力される。
【0037】比較器80では、信号IM1 のレベルとあ
らかじめ設定されたレベルTHとの比較が行われる。こ
のとき、アルミ缶C1は、検査領域INSの位置P1
傍に達しており、その領域におけるアルミ缶C1の第1
および第2のラインセンサ40,50との対向領域が撮
像される。この場合、アルミ缶C1の存在により位置P
1 近傍の第1のラインセンサ40への入射光量が少なく
なっているため、その領域の出力信号レベルIM1 が設
定レベルTHより低くなる。これにより、比較器80か
ら、位置同期信号PSが、A/D変換器90に出力され
る。
【0038】A/D変換器90では、入力した位置同期
信号PSに同期して、第2のラインセンサ50の出力信
号IM2 のディジタル化が行われる。このディジタル化
された画像データは、検査領域INSの位置P1 近傍領
域の画像データであり、これが信号DIMとして記憶部
100に出力される。記憶部100に入力された画像デ
ータは、制御回路60の制御に基づいてメモリ領域M1
−1に格納される。
【0039】アルミ缶C1が、検査領域INSの位置P
1 の近傍に搬送されたときには、後続するアルミ缶C2
は、検査領域INSの搬入口に搬送されている。したが
って、搬入検出センサ20の発光部21から出射され受
光部22で受光されていた光がアルミ缶C2の側外面に
より遮断される。これにより、受光部22の受光レベル
が低下し、検査領域INSへ後続するアルミ缶C2が搬
入されることを示す検出信号DT1 が制御回路60に出
力される。続いて、アルミ缶C2は検査領域INSに搬
入され、搬入検出センサ20の発光部21の出射光のア
ルミ缶C1による遮断状態が解除され、発光部21の出
射光は受光部22で受光される。これにより、検出信号
DT1 の出力が停止される。
【0040】制御回路60では、検出信号DT1 の入力
に伴いスキャン信号発生回路70に対するスキャン信号
SCANの出力指示が行われると共に、制御信号CTLが記
憶部100に出力されて、アルミ缶C2に対するメモリ
領域M2の割当てが行われる。
【0041】スキャン信号発生回路70では、上述した
アルミ缶C1の場合と同様に、所定周期のスキャン信号
SCANが第1および第2のラインセンサ40,50にそれ
ぞれ出力される。第1および第2のラインセンサ40,
50では、スキャン信号SCANを受けて検査領域INSの
走査が行われ、これに応じた信号IM1 ,IM2 がそれ
ぞれ発生され、第1のラインセンサ40の出力信号IM
1 は比較器80に出力され、第1のラインセンサ50の
出力信号IM2 はA/D変換器90に出力される。
【0042】比較器80では、信号IM1 のレベルとあ
らかじめ設定されたレベルTHとの比較が行われる。こ
のとき、アルミ缶C1は検査領域INSの位置P2 近傍
に達し、アルミ缶C2は検査領域INSの位置P1 近傍
に達しており、その領域におけるアルミ缶C1の第1お
よび第2のラインセンサ40,50との対向領域が撮像
される。この場合、アルミ缶C1およびC2の存在によ
り位置P2 およびP1 近傍の第1のラインセンサ40へ
の入射光量が少なくなっているため、その領域の出力信
号レベルIM1 が設定レベルTHより低くなる。これに
より、比較器80から、位置同期信号PSが、A/D変
換器90に出力される。
【0043】A/D変換器90では、入力した位置同期
信号PSに同期して、第2のラインセンサ50の出力信
号IM2 のディジタル化が行われる。このディジタル化
された画像データは、検査領域INSの位置P2 および
1 の近傍領域の画像データであり、これが信号DIM
として記憶部100に出力される。記憶部100に入力
された画像データは、制御回路60の制御に基づいてア
ルミ缶C1の位置P2 近傍における位置P1 の場合と略
90°ずれた方向の画像データがメモリ領域M1−2に
格納され、アルミ缶C2の位置P1 近傍における画像デ
ータがメモリ領域M2−1に格納される。
【0044】以上の動作が順次行われ、記憶部100へ
の画像データの格納が行われる。すなわち、アルミ缶C
1が位置P3 近傍に達したときには、アルミ缶C2が位
置P2 近傍に、アルミ缶C3が位置P1 近傍に達する。
これに伴う第3回目のスキャンにより、アルミ缶C1の
位置P3 近傍における画像データがメモリ領域M1−3
に、アルミ缶C2の位置P2 近傍における画像データが
メモリ領域M2−2に、アルミ缶C3の位置P1 近傍に
おける画像データがメモリ領域M3−1にそれぞれ格納
される。
【0045】続いて、アルミ缶C1が位置P4 近傍に達
したときには、アルミ缶C2が位置P3 近傍に、アルミ
缶C3が位置P2 近傍に、アルミ缶C4が位置P1 近傍
に達する。これに伴う第4回目のスキャンにより、アル
ミ缶C1の位置P4 近傍における画像データがメモリ領
域M1−4に、アルミ缶C2の位置P3 近傍における画
像データがメモリ領域M2−3に、アルミ缶C3の位置
2 近傍における画像データがメモリ領域M3−2に、
アルミ缶C4の位置P1 近傍における画像データがメモ
リ領域M4−1にそれぞれ格納される。このとき、メモ
リ領域M1には、アルミ缶C1の略90°ずつずれた側
外面の4つの画像データが格納されたことになる。
【0046】さらに続いて、アルミ缶の搬送が行われる
と、アルミ缶C1が検査領域INS外に搬出される。こ
れにより、搬出検出センサ30の発光部31から出射さ
れ受光部32で受光されていた光がアルミ缶C1の側外
面により遮断される。これに伴い、受光部32の受光レ
ベルが低下し、検査領域INSからアルミ缶C1が搬出
されたことを示す検出信号DT2 が制御回路60に出力
される。続いて、アルミ缶C1は検査領域INSからさ
らに遠ざかる方向に搬送され、搬出検出センサ30の発
光部31の出射光のアルミ缶C1による遮断状態が解除
され、発光部31の出射光は受光部32で受光される。
これにより、検出信号DT2 の出力が停止される。
【0047】制御回路60では、検出信号DT2 の入力
(第1回目の入力)により、アルミ缶C1が、検査領域
INSから搬出されたものと判断され、メモリ領域M1
に格納された各位置P1 〜P4 近傍にあったときの4方
向のディジタル画像データが、画像信号処理系200に
出力される。
【0048】画像信号処理系200では、入力したアル
ミ缶C1の画像データの合成などの所定の信号処理が行
われ、この画像が図示しない表示装置や印刷装置に出力
される。これにより、アルミ缶C1の側外面の所定の位
置に規定された情報INFが、規定通りに印刷されてい
るか否かの判断などが行われる。
【0049】以上の一連の動作が、後続するアルミ缶に
対して行われ、連続的に印刷情報INFなどの検査が行
われる。
【0050】以上説明したように、本実施例によれば、
所定長さに設定された検査領域INSの長さ方向(缶の
搬送方向)に第1および第2のラインセンサ40,50
を配置して、アルミ缶を所定速度で回転させながら撮像
し、これに基づく第1のラインセンサ40の出力信号レ
ベルと設定レベルTHとの比較を行い、設定レベルTH
より信号レベルが低くなったときに位置同期信号PSを
発生し、この信号に同期させてその位置に対応した第2
のラインセンサ50の出力信号をA/D変換して、その
ディジタル画像データを検査領域INSへの搬入順に順
次割当てられるメモリ領域M1〜M5に格納し、検査領
域INSから搬出されたアルミ缶の画像データのみを対
応するメモリ領域M1〜M5から読み出して所定の画像
処理を行い、これに基づいて印刷情報INFなどの検査
を行うようにしたので、検査領域INSを通過したアル
ミ缶などの円筒物の略一周分の画像データを得られ、ア
ルミ缶に印刷などされた各種情報INFの検査を的確
に、かつ迅速に行うことができ、検査精度、所定時間内
の検査数などにバラツキがなく、また検査漏れが生じる
ことがない、信頼性の高い検査システムを実現できる。
【0051】なお、本実施例では、アルミ缶Cの一部に
情報INFが印刷されている場合を例に説明したが、ア
ルミ缶Cの全周に亘って情報が印刷されている場合にも
本発明が適用できることはいうまでもない。また、本実
施例では、アルミ缶を例に説明したが、これに限定され
るものではなく、円筒状のものであれば、本発明が適用
できることはいうまでもない。さらに本実施例では、検
査領域INSへ同時に配置できるアルミ缶の数Nを
「4」に設定した場合を説明したが、これは任意に設定
可能であり、その場合、記憶部100に設けられるメモ
リ領域の数は「N+1」に設定される。さらにまた、ア
ルミ缶搬送部10の構成も図1に示すものに限定され
ず、搬送円筒物の両側に駆動ベルトを配置するなど、種
々の態様が可能であり、また、搬送速度も任意に設定可
能である。また、本実施例では、アルミ缶の搬送間隔が
ほぼ一定であることを前提に説明を行ったが、その間隔
が一定でない場合でも本発明が適用可能であることは勿
論である。
【0052】また、本実施例では、実際の画像データ用
に用いる第2のラインセンサ50として一次元状のもの
を用いたが、二次元のものを用いることより、文字情報
や図形情報などに対する検査を容易に行え、検査対象の
増大を図れる利点がある。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
円筒物に印刷などされた各種情報の検査を的確に、かつ
迅速に行うことができ、検査精度、所定時間内の検査数
などにバラツキがなく、また検査漏れが生じることがな
い、信頼性の高い検査システムを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る円筒アルミ缶の外面検査装置の一
実施例を示す外観斜視図である。
【図2】本装置における信号処理系の構成例を示すブロ
ック図である。
【図3】本発明に係る位置同期信号およびアナログ画像
データの出力例を示す図である。
【図4】本発明に係る制御回路により割り当てられるメ
モリ領域と、各メモリ領域に画像データが格納されるア
ルミ缶との対応関係を示す図である。
【図5】本発明に係る制御回路によりメモリ領域に取り
込まれるアルミ缶などの画像データの、格納領域と搬入
検出信号を入力してからのスキャン回数と取り込み位置
との対応関係を示す図である。
【符号の説明】
C1〜C6…円筒アルミ缶 INS…検査領域 10…アルミ缶搬送部 20…搬入検出センサ 30…搬出検出センサ 40…第1のラインセンサ 50…第2のラインセンサ 60…制御回路 70…スキャン信号発生回路 80…比較器 90…A/D変換器 100…記憶部 200…画像信号処理系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06T 1/00

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円筒物をその軸を中心に回転させながら
    一定方向に搬送する手段と、 搬送路の搬送方向に所定の長さに設定された検査領域
    と、 検査領域の長さ方向の略全体に亘って、搬送路を搬送さ
    れる円筒物の側外面を撮像可能に並設され、所定周期毎
    に搬送路から受ける光量に応じたレベルの画像データを
    出力する第1および第2の撮像手段と、 第1の撮像手段の出力レベルがあらかじめ設定したレベ
    ル外となった位置毎に位置同期信号を発生する手段と、 上記位置同期信号に同期して、当該同期信号が発生され
    た位置に対応する上記第2の撮像手段による円筒物の画
    像データを順次記憶する手段と、 検査領域から搬出された円筒物の画像データを上記記憶
    手段から読み出し画像処理を行う手段とを有することを
    特徴とする円筒物の外面検査装置。
  2. 【請求項2】 上記記憶手段に設けられ、上記検査領域
    内に同時に配置可能な検査対象円筒物の数Nに1を加え
    た数のメモリ領域と、 これらメモリ領域を検査領域へ搬入された円筒物順に順
    次割当て、割当てたメモリ領域に対応する円筒物の上記
    画像データを格納する手段とを有する請求項1記載の円
    筒物の外面検査装置。
  3. 【請求項3】 上記検査領域への円筒物の搬入を検出す
    る手段と、 上記検査領域からの円筒物の搬出を検出する手段と、 搬入検出手段により検出された円筒物に対して一のメモ
    リ領域を割当て、搬出検出手段により検出された円筒物
    の記憶された画像データを読み出す手段とを有する請求
    項2記載の円筒物の外面検査装置。
JP5219834A 1993-09-03 1993-09-03 円筒物の外面検査装置 Withdrawn JPH0772087A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007085924A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Kirin Techno-System Corp 容器検査装置
JP2013542427A (ja) * 2010-10-08 2013-11-21 キャプシュゲル・ベルジウム・エヌ・ヴィ 三次元物体表面の二次元画像を取得する装置及び方法
KR20210080305A (ko) * 2013-10-25 2021-06-30 에쎈트라 필터 프로덕츠 디벨롭먼트 씨오. 피티이. 엘티디 검출 시스템

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