JPH076543Y2 - Ｉｃテスタ用信号発生器 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は被試験IC素子へ試験信号を供給するためのIC
テスタ用信号発生器に関する。

「従来の技術」 従来のICテスタにおいては被試験IC素子へデジタルの試
験信号を供給する信号発生器と、アナログの試験信号を
発生する信号発生器とを設けていた。

そのアナログの試験信号を発生する信号発生器は第４図
に示すように、テストプロセッサから制御部11を通じて
任意波形データを波形メモリ12に格納し、その格納され
た波形データを読み出しDA変換器13でアナログ信号に変
換し、その階段状波形を低域通過波器14により整形
し、ピンエレクトロニクス15で設定振幅として出力して
いる。

このように任意関数波形を出すために、従来においては
波形メモリ12、DA変換器13、低域通過波器14、ピンエ
レクトロニクス15を必要とし、高価なものとなってい
た。このためこのアナログ信号発生器は数チャネル分だ
け設けられ、被試験IC素子の各端子へアナログ試験信号
を供給するためには切替リレーにより切替えて供給して
いた。このためのその切替リレーも価格を上昇させてい
た。

「問題点を解決するための手段」 この考案によれば２値信号が入力されるドライバの出力
が積分器で積分され、その積分器の出力とドライバの出
力とが切替スイッチにより切替えて出力端子へ供給され
る。

つまりデジタル試験信号を出力する場合はドライバの出
力を直接出力端子へ供給し、アナログ試験信号を出力す
る場合はドライバの出力を積分器で積分してアナログ信
号に変換して出力端子へ出力する。このようにしてデジ
タル試験信号もアナログ試験信号も一つの信号発生器か
ら出力することができる。

「実施例」 第１図はこの考案の実施例を示す。入力端子21からの２
値信号はドライバ22へ供給される。ドライバ22の出力は
積分器23で積分される。積分器23において正の電流源24
と負の電流源25とが設けられ、電流源24,25の出力はス
イッチ26で切替えられて積分回路27へ供給される。スイ
ッチ26はドライバ22の出力により制御され、ドライバ22
の出力が高レベルの場合は正の電流源24が積分回路27へ
接続され、ドライバ22の出力が低レベルの場合は負の電
流源25が積分回路27へ接続される。積分回路27は制御回
路28で初期リセットされる。また制御回路28は電流源2
4,25でそれぞれ発生する電流の値を変化させることがで
きる。ドライバ22の出力と積分器23の出力とが切替スイ
ッチ29で切替えられて出力端子31へ出力される。

ドライバ22から第２図Ａに示すような２値信号が出力さ
れると、積分器23の出力は第２図Ｂのようになる。つま
り２値信号が高レベルの間は電流＋Ｉを積分し、積分出
力が直線的に上昇し、２値信号が低レベルの間は電流−
Ｉを積分し、積分出力が直線的に減少する。積分回路27
の積分コンデンサの容量値をＣとすると、積分器23の出
力の傾きはI/Cとなる。

２値信号の高レベル区間、低レベル区間、電流値＋I,−
Ｉを制御することにより積分器23から任意関数波形を発
生することができる。

デジタル試験信号を出力したい場合は切替スイッチ29を
ドライバ22の出力側へ切替え、アナログ試験信号を出力
したい場合は切替スイッチ29を積分器23の出力側へ切替
えればよい。

積分器23としては第３図に示すように抵抗器32とコンデ
ンサ33とよりなる積分回路を用い、その出力をバッフア
回路34で取出すように構成してもよい。

「考案の効果」 以上述べたようにこの考案の信号発生器によればデジタ
ル試験信号もアナログ試験信号も出力することができ、
しかもアナログ試験信号は２値信号を積分して得るもの
であるため、簡単な構成で得ることができる。このよう
に構成が簡単であるため、ICテスタの各チャネルにこの
信号発生器を設けることも容易に行うことができ、その
場合は切替リレーも必要としなくなる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案によるICテスタ用信号発生器の一例を
示すブロック図、第２図はその動作の説明に供する波形
図、第３図はこの考案のICテスタ用信号発生器の他の例
を示すブロック図、第４図は従来のアナログ試験信号発
生器を示すブロック図である。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】２値信号が入力されるドライバと、 そのドライバの出力を積分する積分器と、 その積分器の出力と上記ドライバの出力とを切替えて出
   力端子へ供給する切替スイッチとを備えたICテスタ用信
   号発生器。