JPH076537Y2 - 印刷配線基板検査装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は印刷配線基板のコンデンサの静電容量を測定す
る印刷配線基板検査装置に関する。

（従来の技術） 従来．印刷配線基板に搭載されたコンデンサの静電容量
を測定する場合．印刷配線基板の回路構成によってはコ
ンデンサに充電された電荷が放電されずに残っている場
合がある。このコンデンサに測定信号源より測定信号を
印加すると．コンデンサに溜っている電荷によって測定
信号源を破壊してしまう恐れがあった。そこで．全ての
コンデンサに溜っている電荷を抵抗を介して放電させて
から測定信号を印加している。

しかしながら．印刷配線基板の回路構成上．コンデンサ
に電荷が溜っているものは極僅かであり．この極僅かの
コンデンサのために測定信号源の保護が必要になり．他
の大部分のコンデンサには無駄な放電時間を費やしてい
た。通常．コンデンサの放電時間は．コンデンサ1mFの
時．放電時間100msである。

（考案が解決しようとする問題点） 本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので．印刷配線
基板に搭載されたコンデンサのうち電荷が溜っているコ
ンデンサのみ電荷を放電して後静電容量を測定し．電荷
の溜っていないコンデンサは直ちに静電容量を測定する
ことにより．測定時間を大幅に短縮し得る印刷配線基板
検査装置を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段と作用） 本考案は上記目的を達成するために．印刷配線基板の被
測定コンデンサに接続されるように設けられた第１のリ
レー及び放電用抵抗よりなる放電回路と．前記被測定コ
ンデンサに第２のリレーを介して接続されるように設け
られた静電容量を測定する測定回路及び測定信号源と．
前記被測定コンデンサに接続されるように設けられ該被
測定コンデンサに電荷が溜っている状態では前記第１の
リレーを導通状態にし．該被測定コンデンサに電荷が溜
っていない状態では前記第２のリレーを導通状態にする
放電完了検出回路とを具備することを特徴とするもの
で．印刷配線基板に搭載されたコンデンサのうち電荷が
溜っているコンデンサのみ電荷を放電して後静電容量を
測定し．電荷の溜っていないコンデンサは直ちに静電容
量を測定することにより．測定時間を大幅に短縮するも
のである。

（実施例） 以下図面を参照して本考案の実施例を詳細に説明する。

第１図は本考案の一実施例を示し．印刷配線基板に搭載
された被測定コンデンサＣに接続されるように接続端子
T1,T2が設けられる。この接続端子T1,T2間には第１のリ
レーK1及び放電用抵抗Ｒが直列に接続された放電回路が
接続される。前記接続端子T1,T2には第２のリレーK2を
介して直流定電圧電源よりなる測定信号源１及び測定回
路２が接続される。この測定回路２は被測定コンデンサ
Ｃが所定の電圧になるまでのチャージ時間を計ることに
より静電容量を測定するものである。又．前記接続端子
T1,T2には．前記被測定コンデンサＣに電荷が溜ってい
る状態では前記第１のリレーK1を導通状態にし．前記被
測定コンデンサＣに電荷が溜っていない状態では前記第
２のリレーK2を導通状態にする放電完了検出回路３が接
続される。

即ち．接続端子T1,T2を被測定コンデンサＣに接続し
て．放電完了検出回路３で被測定コンデンサＣに電荷が
蓄積されていることを検出した場合には．第１のリレー
K1を動作して導通状態にし．放電用抵抗Ｒよりなる放電
回路により被測定コンデンサＣの電荷を放電する。しか
る後．放電完了検出回路３で被測定コンデンサＣが放電
を完了して電荷が蓄積されていないことを検出すると．
第２のリレーK2を動作して導通状態にし．測定信号源１
から測定信号を被測定コンデンサＣに印加して測定回路
２で静電容量を測定する。

一方．放電完了検出回路３で被測定コンデンサＣに電荷
が蓄積されていないことを検出した場合には．直ちに第
２のリレーK2を動作して導通状態にし．測定信号源１か
ら測定信号を被測定コンデンサＣに印加して測定回路２
で静電容量を測定する。

第２図は前記放電完了検出回路３の具体例を示す。すな
わち．接続端子T1には抵抗R1を介して増幅器U1の反転入
力端が接続され．この増幅器U1の非反転入力端には抵抗
R2を介して接続端子T2が接続され．この接続端子T2は接
地される。前記増幅器U1の反転入力端と出力端との間に
は抵抗R3が接続される。前記増幅器U1の出力端はコンパ
レータU2の非反転入力端に接続されると共にコンパレー
タU3の反転入力端に接続される。前記コンパレータU2の
反転入力端には基準電源E1の正極側が接続され．前記コ
ンパレータU3の非反転入力端には基準電源E2の負極側が
接続される。前記コンパレータU2の出力端はダイオード
D1を介して抵抗R4の一端に接続され．この抵抗R4の一端
はダイオードD2を介してコンパレータU2の出力端に接続
される。前記抵抗R4の他端はトランジスタTR1のベース
に接続されると共に抵抗R5を介して接地される。このト
ランジスタTR1はエミッタが接地され．コレクタが第１
のリレーK1に接続される。前記トランジスタTR1のコレ
クタは抵抗R6を介してトランジスタTR2のベースに接続
され．このトランジスタTR2はエミッタが接地され．コ
レクタが第２のリレーK2に接続される。

即ち．被測定コンデンサＣに電荷が溜っている場合には
接続端子T1,T2間に電圧が抽出され．この電圧は増幅器U
1で増幅されて後．コンパレータU2,U3を通してトランジ
スタTR1のベースに加えられ．トランジスタTR1をオンし
て第１のリレーK1を動作して導通し被測定コンデンサＣ
の電荷を放電する。この場合トランジスタTR2のベース
には電圧が印加されないためトランジスタTR2はオフし
第２のリレーK2は動作しない。一方．被測定コンデンサ
Ｃに電荷が溜っていない場合には接続端子T1,T2間には
電圧が現われないためトランジスタTR1のベースには電
圧が印加されずトランジスタTR1はオフする。この場合
トランジスタTR2のベースには第１のリレーK1のコイル
を通して電圧が印加されるためトランジスタTR2はオン
して第２のリレーK2は動作して導通状態となり被測定コ
ンデンサＣの静電容量を測定する。

従って．放電完了検出回路を付加することにより．電荷
の溜っていないコンデンサは直ぐに測定信号を印加して
静電容量を測定することができ．電荷の溜っているコン
デンサも必要最小限の放電時間を要するのみとなり．ト
ータルの測定時間は大幅に短縮することができる。特
に．大容量のコンデンサ測定に要する時間を短縮するの
に効果的である。

尚．第２図のＡ部は第３図に示すように．インバータI
1,I2,I3,第１のリレーK1,第２のリレーK2及び抵抗R4,R5
で構成しても同様に動作することができる。

（考案の効果） 以上述べたように本考案によれば．印刷配線基板に搭載
されたコンデンサのうち電荷が溜っているコンデンサの
み電荷を放電して後測定信号を印加して静電容量を測定
し．電荷の溜っていないコンデンサは直ちに測定信号を
印加して静電容量を測定することにより．トータルの測
定時間を大幅に短縮することができる印刷配線基板検査
装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す構成説明図．第２図は
本考案に係る放電完了検出回路の一例を示す回路図．第
３図は本考案に係る放電完了検出回路のリレー部を示す
回路図である。 １……測定信号源.2……測定回路.3……放電完了検出回
路.K1……第１のリレー.K2……第２のリレー.R……放電
用抵抗．

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】印刷配線基板の被測定コンデンサの両端に
   接続されるように設けられた接続端子と、 この接続端子に接続された第１のリレー及び放電用抵抗
   よりなる放電回路と、 前記接続端子に第２のリレーを介して接続された静電容
   量を測定する測定回路及び測定信号源と、 前記接続端子に増幅器を介して入力端子が接続されたコ
   ンパレータと、 このコンパレータの出力端子にダイオードを介して制御
   端子が接続され、非制御端子が前記第１のリレーに接続
   された第１のトランジスタと、 この第１のトランジスタの非制御端子に制御端子が接続
   され、非制御端子が前記第２のリレーに接続された第２
   のトランジスタと を具備することを特徴とする印刷配線基板検査装置。