JPH0762864B2 - ラインセンサの信号補正装置 - Google Patents
ラインセンサの信号補正装置Info
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- JPH0762864B2 JPH0762864B2 JP62252285A JP25228587A JPH0762864B2 JP H0762864 B2 JPH0762864 B2 JP H0762864B2 JP 62252285 A JP62252285 A JP 62252285A JP 25228587 A JP25228587 A JP 25228587A JP H0762864 B2 JPH0762864 B2 JP H0762864B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の利用分野］ 本発明は、連続して搬送される被搬送物から不良品を選
別するのに用いられるラインセンサにかかり、特にライ
ンセンサの各受光素子から出力される検出信号の出力レ
ベルを均一化することができるラインセンサの信号補正
装置に関する。
別するのに用いられるラインセンサにかかり、特にライ
ンセンサの各受光素子から出力される検出信号の出力レ
ベルを均一化することができるラインセンサの信号補正
装置に関する。
［従来技術］ 食品等においては、検査物の色によって不良品を識別で
きる場合がある。例えば焼きが足りないせんべいは他に
較べて色が白く、また逆に焼き過ぎのせんべいは他に較
べて色が黒い。
きる場合がある。例えば焼きが足りないせんべいは他に
較べて色が白く、また逆に焼き過ぎのせんべいは他に較
べて色が黒い。
ラインセンサはこのような色の違いや明度の差によっ
て、検査対象から不良品を識別するものである。
て、検査対象から不良品を識別するものである。
第５図はラインセンサの使用状況を示すブロック図であ
り、この図においてラインセンサ１はコンベア２の上方
に下向きに配置され、照明３、３の間から連続して搬送
される被搬送物（検査対象）４をコンベア２の幅方向に
走査する。被搬送物４を反射した光はラインセンサ１内
に一例に設けられた図示せぬ受光素子によって受光さ
れ、電気信号に変換されて比較器５へ供給される。
り、この図においてラインセンサ１はコンベア２の上方
に下向きに配置され、照明３、３の間から連続して搬送
される被搬送物（検査対象）４をコンベア２の幅方向に
走査する。被搬送物４を反射した光はラインセンサ１内
に一例に設けられた図示せぬ受光素子によって受光さ
れ、電気信号に変換されて比較器５へ供給される。
比較器５は、ある一定レベル以下、あるいは以上の信号
を検出して図示せぬ選別機構を起動し、これによって搬
送最中、あるいは搬送後に不良品が排除される。
を検出して図示せぬ選別機構を起動し、これによって搬
送最中、あるいは搬送後に不良品が排除される。
［発明が解決すべき問題点］ ところで、ラインセンサに設けられた各受光素子から出
力される検出信号の出力レベルは、照明の不均一、ライ
ンセンサのレンズの中心部と、周辺部の明るさの違い、
あるいは各受光素子の感度の違いにより、受光素子によ
って異なる。例えば第６図（ａ）に示すように、色、明
度共に均一の検査対象を走査した場合においても、ライ
ンセンサから出力される検出信号出力レベルは走査位置
（受光素子）によって異なり、全体として略山形にな
る。このように中心部において検出レベルが高いと、第
６図（ｂ）に示すように中央を通過する不良品を検出で
きないことがある。
力される検出信号の出力レベルは、照明の不均一、ライ
ンセンサのレンズの中心部と、周辺部の明るさの違い、
あるいは各受光素子の感度の違いにより、受光素子によ
って異なる。例えば第６図（ａ）に示すように、色、明
度共に均一の検査対象を走査した場合においても、ライ
ンセンサから出力される検出信号出力レベルは走査位置
（受光素子）によって異なり、全体として略山形にな
る。このように中心部において検出レベルが高いと、第
６図（ｂ）に示すように中央を通過する不良品を検出で
きないことがある。
通常は、第７図（ａ）に示すような、中央が狭くなって
いる長孔が形成されたシェーデイング板６をラインセン
サ１の前に置き、中央部に入射する光の量を制限して各
受光素子から出力される検出信号の出力レベルを均一化
するようにしていた（第７図（ｂ）参照）。
いる長孔が形成されたシェーデイング板６をラインセン
サ１の前に置き、中央部に入射する光の量を制限して各
受光素子から出力される検出信号の出力レベルを均一化
するようにしていた（第７図（ｂ）参照）。
しかしながらこの方法によっては照明の不均一、あるい
は受光素子毎の感度の違い、等の細かい補正をすること
ができず、識別の誤りを完全に防ぐことができなかっ
た。また照明、レンズ系を変える都度、シェーデイング
板の長孔の形状も変えなければならず、非常に煩わしか
った。
は受光素子毎の感度の違い、等の細かい補正をすること
ができず、識別の誤りを完全に防ぐことができなかっ
た。また照明、レンズ系を変える都度、シェーデイング
板の長孔の形状も変えなければならず、非常に煩わしか
った。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、各受光素子
から出力される検出信号の出力レベルを均一化してライ
ンセンサの識別精度を向上させることができるラインセ
ンサの信号補正装置を提供することを目的とする。
から出力される検出信号の出力レベルを均一化してライ
ンセンサの識別精度を向上させることができるラインセ
ンサの信号補正装置を提供することを目的とする。
［問題点の解決手段］ 上記目的を達成するために本発明は、連続して搬送され
る被搬送物から不良品を選別するために用いられるライ
ンセンサの信号補正装置であって、複数の受光素子から
出力される検出信号を補正する補正データが記憶された
第１の記憶手段と、この第１の記憶手段に記憶された前
記補正データを、前記検出信号に乗じる演算手段と、前
記演算手段から出力される補正信号を記憶する第２の記
憶手段と、この第２の記憶手段に記憶された補正信号の
出力レベルを一定期間記録すると共に一定期間経過後に
計算された該出力レベルの平均値に基づき、前記第１の
記憶手段に記憶された補正データを修正してこの補正信
号出力レベルを均一化する新たな補正データを生成する
信号処理手段とを具備し、複数の受光素子から出力され
る検出信号を各受光素子毎に補正して、各検出信号の出
力レベルを自動的に均一化することを特徴とする。
る被搬送物から不良品を選別するために用いられるライ
ンセンサの信号補正装置であって、複数の受光素子から
出力される検出信号を補正する補正データが記憶された
第１の記憶手段と、この第１の記憶手段に記憶された前
記補正データを、前記検出信号に乗じる演算手段と、前
記演算手段から出力される補正信号を記憶する第２の記
憶手段と、この第２の記憶手段に記憶された補正信号の
出力レベルを一定期間記録すると共に一定期間経過後に
計算された該出力レベルの平均値に基づき、前記第１の
記憶手段に記憶された補正データを修正してこの補正信
号出力レベルを均一化する新たな補正データを生成する
信号処理手段とを具備し、複数の受光素子から出力され
る検出信号を各受光素子毎に補正して、各検出信号の出
力レベルを自動的に均一化することを特徴とする。
また本発明は、前記信号処理手段は、試験対象を走査し
て得られた前記補正信号の出力レベルで、あらかじめ定
められた基準レベルを除してこれらの比率を求め、この
比率に前記第１の記憶手段に記憶された補正データを乗
じることにより前記新たな補正データを生成することを
特徴とする。
て得られた前記補正信号の出力レベルで、あらかじめ定
められた基準レベルを除してこれらの比率を求め、この
比率に前記第１の記憶手段に記憶された補正データを乗
じることにより前記新たな補正データを生成することを
特徴とする。
［作用］ 第３図（ａ）に示すように、受光素子から得られた不均
一な検出信号（１）に、補正データ（２）を乗ずること
により、一定の補正信号（３）が得られる。
一な検出信号（１）に、補正データ（２）を乗ずること
により、一定の補正信号（３）が得られる。
［実施例］ 以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
第１図は本発明の実施例にかかるラインセンサの信号補
正装置の構成を示すブロック図である。この図において
10は信号処理部であり、本発明にかかる信号補正装置を
制御する中央処理装置（CPU）11、CPU11の処理に用いら
れるプログラムが記憶されたROM（Read Only Memory）1
2及びCPU11の処理に用いられるデータを、一時記憶する
RAM（Random Access Memory）13から構成されている。
正装置の構成を示すブロック図である。この図において
10は信号処理部であり、本発明にかかる信号補正装置を
制御する中央処理装置（CPU）11、CPU11の処理に用いら
れるプログラムが記憶されたROM（Read Only Memory）1
2及びCPU11の処理に用いられるデータを、一時記憶する
RAM（Random Access Memory）13から構成されている。
また14は走査位置カウンタであり、この走査位置カウン
タ14には第２図に示す走査信号（ａ）及び走査クロック
（ｂ）が供給されている。走査信号（ａ）はラインセン
サ１が走査を行う間、“ON"となり、また走査クラック
（ｂ）は、ラインセンサ１の走査に同期し、走査を行う
各受光素子ｉ（ｉ＝１〜ｎ）に対応してNO/OFFを繰り返
す。走査位置カウンタ14は走査信号（ａ）がONの間、走
査クロック（ｂ）を計数し、計数結果をアドレスデータ
としてセレクタ15及びセレクタ16へ供給する。また走査
位置カウンタ14の計数値は、走査信号（ａ）が“OFF"に
なることによりクリヤされる。従って走査位置カウンタ
14から出力されるアドレスデータは第２図（ｃ）に示す
ようにラインセンサ１の走査に同期して出力され、走査
を行う受光素子ｉに対応して１からｎまで順次増加する
値をとる。
タ14には第２図に示す走査信号（ａ）及び走査クロック
（ｂ）が供給されている。走査信号（ａ）はラインセン
サ１が走査を行う間、“ON"となり、また走査クラック
（ｂ）は、ラインセンサ１の走査に同期し、走査を行う
各受光素子ｉ（ｉ＝１〜ｎ）に対応してNO/OFFを繰り返
す。走査位置カウンタ14は走査信号（ａ）がONの間、走
査クロック（ｂ）を計数し、計数結果をアドレスデータ
としてセレクタ15及びセレクタ16へ供給する。また走査
位置カウンタ14の計数値は、走査信号（ａ）が“OFF"に
なることによりクリヤされる。従って走査位置カウンタ
14から出力されるアドレスデータは第２図（ｃ）に示す
ようにラインセンサ１の走査に同期して出力され、走査
を行う受光素子ｉに対応して１からｎまで順次増加する
値をとる。
セレクタ15はCPU11の制御により、走査位置カウンタ14
から供給されるアドレスデータ、もしくはCPU11からア
ドレスバスＡに供給されたアドレスデータを選択的に補
正データメモリ17へ出力する。
から供給されるアドレスデータ、もしくはCPU11からア
ドレスバスＡに供給されたアドレスデータを選択的に補
正データメモリ17へ出力する。
補正データメモリ17の各メモリ番地ｉはラインセンサ１
の受光素子ｉと一対一に対応しており、セレクタ15から
アドレスデータが供給されることによって、これら各メ
モリ番地ｉに、補正データｋｉ（ｉ＝１〜ｎ）書き込ま
れ、あるいは書き込まれている補正データkiが読み出さ
れてゲート18及び乗算回路19へ供給される。
の受光素子ｉと一対一に対応しており、セレクタ15から
アドレスデータが供給されることによって、これら各メ
モリ番地ｉに、補正データｋｉ（ｉ＝１〜ｎ）書き込ま
れ、あるいは書き込まれている補正データkiが読み出さ
れてゲート18及び乗算回路19へ供給される。
ここで補正データkiについて説明する。既に述べたよう
に、種々の理由によって各受光素子から出力される検出
信号の出力レベルは一定ではなく、１回の走査によって
得られる検出信号は全体として第３図の（１）に示すよ
うになる。補正データkiはこの検出信号の出力レベルを
均一化するものである。補正データkiは各受光素子ｉに
対応して補正データメモリ17に記憶されており、全体と
して第３図の（２）に示すような値になっている。これ
ら各補正データkiを対応する受光素子ｉから出力された
検出信号に乗ずることにより、補正された信号の出力レ
ベルは第３図の（３）に示すように均一化される。
に、種々の理由によって各受光素子から出力される検出
信号の出力レベルは一定ではなく、１回の走査によって
得られる検出信号は全体として第３図の（１）に示すよ
うになる。補正データkiはこの検出信号の出力レベルを
均一化するものである。補正データkiは各受光素子ｉに
対応して補正データメモリ17に記憶されており、全体と
して第３図の（２）に示すような値になっている。これ
ら各補正データkiを対応する受光素子ｉから出力された
検出信号に乗ずることにより、補正された信号の出力レ
ベルは第３図の（３）に示すように均一化される。
さて、上記ゲート18はCPU11に制御により、選択的に、C
PU11からデータバスＤに供給された補正データkiを補正
データメモリ17へ供給し、あるいは補正データメモリ17
から読み出された補正データkiをデータバスＤへ供給す
る。
PU11からデータバスＤに供給された補正データkiを補正
データメモリ17へ供給し、あるいは補正データメモリ17
から読み出された補正データkiをデータバスＤへ供給す
る。
乗算回路19はラインセンサ１の各受光素子から出力され
る検出信号に、補正データメモリ17から供給される補正
データkiを乗じ、補正信号を生成する。この補正信号は
A/Dコンバータ20によってデイジタル信号（信号データ
ｌｉ（ｉ＝１〜ｎ））に変換され、補正検出信号メモリ
21に供給される。
る検出信号に、補正データメモリ17から供給される補正
データkiを乗じ、補正信号を生成する。この補正信号は
A/Dコンバータ20によってデイジタル信号（信号データ
ｌｉ（ｉ＝１〜ｎ））に変換され、補正検出信号メモリ
21に供給される。
一方、前記セレクタ16はCPU11の制御により、走査位置
カウンタ14から供給されるアドレスデータ、もしくはCP
U11からアドレスバスＡに供給されたアドレスデータを
選択的に補正検出信号メモリ21に出力する。
カウンタ14から供給されるアドレスデータ、もしくはCP
U11からアドレスバスＡに供給されたアドレスデータを
選択的に補正検出信号メモリ21に出力する。
補正検出信号メモリ21の各メモリ番地ｉは、補正データ
メモリ17と同様に、ラインセンサ１の受光素子ｉと一対
一に対応しており、セレクタ16からアドレスデータが供
給されることにより、補正検出信号メモリ21の指定され
たメモリ番地ｉに、A/Dコンバータ20から供給される信
号データliが書き込まれ、あるいは書き込まれた信号デ
ータliが読み出され、ゲート22を介してデータバスＤへ
供給される。
メモリ17と同様に、ラインセンサ１の受光素子ｉと一対
一に対応しており、セレクタ16からアドレスデータが供
給されることにより、補正検出信号メモリ21の指定され
たメモリ番地ｉに、A/Dコンバータ20から供給される信
号データliが書き込まれ、あるいは書き込まれた信号デ
ータliが読み出され、ゲート22を介してデータバスＤへ
供給される。
次に、以上の構成を有する信号補正装置の動作について
説明する。
説明する。
操作員は装置の始動に際して、第５図に示すラインセン
サ１の真下に色及び明度の均一な板を置く。
サ１の真下に色及び明度の均一な板を置く。
CPU11は動作の開始と同時にセレクタ15を介して、アド
レスデータを補正データメモリ17に供給すると共に、ゲ
ート18を介して補正データメモリ17の各メモリ番地ｉ
に、あらかじめ定められた初期の補正データkiを書き込
む。
レスデータを補正データメモリ17に供給すると共に、ゲ
ート18を介して補正データメモリ17の各メモリ番地ｉ
に、あらかじめ定められた初期の補正データkiを書き込
む。
ラインセンサ１が上述の板からの反射光を一回走査する
ことにより、各受光素子から、順次検出信号が乗算回路
19へ供給される。またこの走査の間、走査クロックが走
査位置カウンタ14によって計数され、走査位置カウンタ
14から走査に同期してアドレスデータが出力され、セレ
クタ15及びセレクタ16を介して補正データメモリ17及び
補正検出信号メモリ21へ供給される。この結果、補正デ
ータメモリ17から、走査を行っている受光素子に対応し
て補正データkiが読み出され、乗算回路19へ供給され
る。乗算回路19では受光素子から出力された検出信号
に、補正データメモリ17から読み出された補正データki
が乗じられ補正信号が生成される。
ことにより、各受光素子から、順次検出信号が乗算回路
19へ供給される。またこの走査の間、走査クロックが走
査位置カウンタ14によって計数され、走査位置カウンタ
14から走査に同期してアドレスデータが出力され、セレ
クタ15及びセレクタ16を介して補正データメモリ17及び
補正検出信号メモリ21へ供給される。この結果、補正デ
ータメモリ17から、走査を行っている受光素子に対応し
て補正データkiが読み出され、乗算回路19へ供給され
る。乗算回路19では受光素子から出力された検出信号
に、補正データメモリ17から読み出された補正データki
が乗じられ補正信号が生成される。
この補正信号はA/Dコンバータ20によって信号データli
に変換され、補正検出信号メモリ21へ供給される。上述
したように補正検出信号メモリ21には、セレクタ16を介
し、走査位置カウンタ14から走査に同期してアドレスデ
ータが供給されており、これによって、補正検出信号メ
モリ21の各メモリ番地ｉに信号データliが順次記憶され
る。即ち、補正データメモリ17からの補正データkiの読
み出し、補正信号の生成、補正信号の変換及び補正検出
信号メモリ21への記憶は全て一時に行われる。
に変換され、補正検出信号メモリ21へ供給される。上述
したように補正検出信号メモリ21には、セレクタ16を介
し、走査位置カウンタ14から走査に同期してアドレスデ
ータが供給されており、これによって、補正検出信号メ
モリ21の各メモリ番地ｉに信号データliが順次記憶され
る。即ち、補正データメモリ17からの補正データkiの読
み出し、補正信号の生成、補正信号の変換及び補正検出
信号メモリ21への記憶は全て一時に行われる。
CPU11はこの１回の走査が終了するとセレクタ16を介し
て、アドレスデータを補正検出信号メモリ21へ供給し、
記憶されている信号データliを順次読み出す。そして各
信号データliについて、 Ki＝Ki×L/1i ……（１） なる演算を行い新たな補正データKiを求め、求めた補正
データKiを、ゲート18を介して補正データメモリ17へ順
次供給し記憶させる。
て、アドレスデータを補正検出信号メモリ21へ供給し、
記憶されている信号データliを順次読み出す。そして各
信号データliについて、 Ki＝Ki×L/1i ……（１） なる演算を行い新たな補正データKiを求め、求めた補正
データKiを、ゲート18を介して補正データメモリ17へ順
次供給し記憶させる。
ここでＬは検出信号の出力レベルを決定する定数であ
る。
る。
以上の操作によって補正データメモリ17に記憶された補
正データkiが修正され、続いて行われる不良品の識別に
はこの修正された補正データkiが用いられる。
正データkiが修正され、続いて行われる不良品の識別に
はこの修正された補正データkiが用いられる。
操作員は第５図に示すコンベア２を動かし被搬送物４を
搬送する。同時にラインセンサ１は連続して走査を行
い、これによって各受光素子から順次検出信号が出力さ
れる。またこの走査に同期して補正データメモリ17から
上述した新たな補正データkiが読み出され、乗算回路19
において検出信号に生じられる。この結果、乗算回路19
から出力される補正信号の出力レベルは全てＬに統一さ
れ、第５図に示す比較器５へ供給される。このように補
正信号の出力レベルが均一化されることにより、良品及
び不良品の検出に際して出力される検出信号を明確に区
別することができ、不良品の識別精度が向上する。
搬送する。同時にラインセンサ１は連続して走査を行
い、これによって各受光素子から順次検出信号が出力さ
れる。またこの走査に同期して補正データメモリ17から
上述した新たな補正データkiが読み出され、乗算回路19
において検出信号に生じられる。この結果、乗算回路19
から出力される補正信号の出力レベルは全てＬに統一さ
れ、第５図に示す比較器５へ供給される。このように補
正信号の出力レベルが均一化されることにより、良品及
び不良品の検出に際して出力される検出信号を明確に区
別することができ、不良品の識別精度が向上する。
次に、第４図は任意の一つの補正信号について、その出
力レベルの変動を記録したヒストグラムであり、横軸は
出力レベルを示し、縦軸はその出現頻度（度数）を示し
ている。即ちこのヒストグラムには一定の範囲の各出力
レベルについて、そのレベルで出力された補正信号の出
力回数が記録されている。
力レベルの変動を記録したヒストグラムであり、横軸は
出力レベルを示し、縦軸はその出現頻度（度数）を示し
ている。即ちこのヒストグラムには一定の範囲の各出力
レベルについて、そのレベルで出力された補正信号の出
力回数が記録されている。
運転初期には（ａ）に示すような出力態様であったもの
がある期間を経過すると照明の劣化や、レンズの汚れ等
によって（ｂ）に示すような出力態様になることがあ
る。本発明においてはこの出力レベルの経時変化も補正
している。以下この経時変化の補正について説明する。
がある期間を経過すると照明の劣化や、レンズの汚れ等
によって（ｂ）に示すような出力態様になることがあ
る。本発明においてはこの出力レベルの経時変化も補正
している。以下この経時変化の補正について説明する。
乗算回路19から出力された補正信号は常にA/Dコンバー
タ20によって信号データliに変換され、補正検出信号メ
モリ21に記憶される。CPU11は１回の走査が終了する都
度、補正検出信号メモリ21に記憶されている信号データ
liを読み出してRAM13に書き込む。そしてこのRAM13に書
き込まれた信号データliに基づいて、各信号データli毎
に第４図に示すヒストグラムを作成する。このヒストグ
ラムはあらかじめ定められた一定期間について作成さ
れ、これにより、その一定期間において、補正信号のレ
ベルの変動が各受光素子について記録される。
タ20によって信号データliに変換され、補正検出信号メ
モリ21に記憶される。CPU11は１回の走査が終了する都
度、補正検出信号メモリ21に記憶されている信号データ
liを読み出してRAM13に書き込む。そしてこのRAM13に書
き込まれた信号データliに基づいて、各信号データli毎
に第４図に示すヒストグラムを作成する。このヒストグ
ラムはあらかじめ定められた一定期間について作成さ
れ、これにより、その一定期間において、補正信号のレ
ベルの変動が各受光素子について記録される。
そしてCPU11は一定期間が終了すると、その記録に基づ
いて各受光素子毎に信号レベルの平均値miを計算する。
この平均値miは前記一定期間に出力された補正信号の出
力レベルの平均を意味し、各出力レベルについて、その
レベルで出力された補正信号の出力回数にそのレベル値
を乗じ、それらを全て加えたものを、出力回数の総和で
除することにより得られる。
いて各受光素子毎に信号レベルの平均値miを計算する。
この平均値miは前記一定期間に出力された補正信号の出
力レベルの平均を意味し、各出力レベルについて、その
レベルで出力された補正信号の出力回数にそのレベル値
を乗じ、それらを全て加えたものを、出力回数の総和で
除することにより得られる。
CPU11はこの一定期間毎に処理を連続して行い、一定期
間毎に各受光素子ｉについてその期間における平均値mi
を求める。そして運転初期における１回目の平均値を特
に平均値MiとしてRAM13に記憶し、この平均値Miと２回
以降の平均値miとから新たな補正データKiを計算する。
即ちCPU11は２回以降、平均値miが求められる都度、補
正データメモリ17から補正データkiを読みだし、 Ki＝ki×Mi/mi ……（２） なる演算を行って新たな補正データKiを求め、これを補
正データメモリ17に記憶させる。この結果、次の一定期
間においてはこの新たな補正データKiによって検出信号
の補正が行われることになる。こうして検出信号の出力
レベルが経時変化しても常に初期の状態に戻すことがで
きる。
間毎に各受光素子ｉについてその期間における平均値mi
を求める。そして運転初期における１回目の平均値を特
に平均値MiとしてRAM13に記憶し、この平均値Miと２回
以降の平均値miとから新たな補正データKiを計算する。
即ちCPU11は２回以降、平均値miが求められる都度、補
正データメモリ17から補正データkiを読みだし、 Ki＝ki×Mi/mi ……（２） なる演算を行って新たな補正データKiを求め、これを補
正データメモリ17に記憶させる。この結果、次の一定期
間においてはこの新たな補正データKiによって検出信号
の補正が行われることになる。こうして検出信号の出力
レベルが経時変化しても常に初期の状態に戻すことがで
きる。
なお経時変化が全ての受光素子、あるいは幾つかの受光
素子のグループについて均一に生じる場合は、必ずしも
全ての受光素子について平均値miを求める必要はなく、
一つの受光素子について、あるいは各グループ内の一つ
の受光素子について平均値を求めればよい。
素子のグループについて均一に生じる場合は、必ずしも
全ての受光素子について平均値miを求める必要はなく、
一つの受光素子について、あるいは各グループ内の一つ
の受光素子について平均値を求めればよい。
また検査対象が一定の割合で通過する場合は、背景レベ
ルと検査対象のレベルの度数は常に一定であると考えら
れるので上述したように全ての受光素子について平均値
miを求める。しかしながら検査対象がランダムに通過す
る場合は、背景レベルと検査対象のレベルの度数は一定
期間毎に常に変化し、一定ではなくなるため経時変化を
起こしていない場合であっても平均値が異なってくる。
このような場合には背景レベル付近、もしくは検査対象
のレベル付近の平均を求め、これを用いて計算する。
ルと検査対象のレベルの度数は常に一定であると考えら
れるので上述したように全ての受光素子について平均値
miを求める。しかしながら検査対象がランダムに通過す
る場合は、背景レベルと検査対象のレベルの度数は一定
期間毎に常に変化し、一定ではなくなるため経時変化を
起こしていない場合であっても平均値が異なってくる。
このような場合には背景レベル付近、もしくは検査対象
のレベル付近の平均を求め、これを用いて計算する。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば各受光素子から出
力される検出信号の出力レベルを自動的に均一化するこ
とができ、ラインセンサの検出精度が向上する。本発明
のラインセンサは連続して搬送される被搬送物から不良
品を選別するために用いられ、ホコリの多いスナック類
の食品製造現場で使用されることが多いため、ラインセ
ンサの経時的変化のみならずレンズの汚れによる検出信
号の変動にも、補正値を設定するために製造ラインを一
時的に停止する不都合もなく自動的に検出信号の出力レ
ベルを均一化でき、検査対象の選別作業を能率良くしか
も正確に行うことができる。
力される検出信号の出力レベルを自動的に均一化するこ
とができ、ラインセンサの検出精度が向上する。本発明
のラインセンサは連続して搬送される被搬送物から不良
品を選別するために用いられ、ホコリの多いスナック類
の食品製造現場で使用されることが多いため、ラインセ
ンサの経時的変化のみならずレンズの汚れによる検出信
号の変動にも、補正値を設定するために製造ラインを一
時的に停止する不都合もなく自動的に検出信号の出力レ
ベルを均一化でき、検査対象の選別作業を能率良くしか
も正確に行うことができる。
また本発明によれば、検出信号の出力レベルの経時変化
も補正することができ、常に一定の検出精度を保持する
ことができる。
も補正することができ、常に一定の検出精度を保持する
ことができる。
第１図は本発明による信号補正装置の構成を示すブロッ
ク図、第２図は走査信号及び走査クロックと、走査位置
カウンタ14から出力されるアドレスデータとの関係を示
すタイミングチャート、第３図は検出信号、補正データ
及び補正信号の関係を示すグラフ、第４図は任意の一の
補正信号について、その出出力レベルの変動を記録した
ヒストグラム、第５図はラインセンサの使用状況を示す
ブロック図、第６図は補正されていない検出信号を示す
グラフ、第７図（ａ）及び（ｂ）は、各々従来用いられ
ていたシェーデイング板を示す正面図及びその取り付け
状態を示す平面図である。 1:ラインセンサ、10:処理部（信号処理手段）、11:CP
U、12:ROM、13:RAM、14:走査位置カウンタ、15:セレク
タ、16:セレクタ、17:補正データメモリ（第１の記憶手
段）、18:ゲート、19:乗算回路（演算手段）、20:A/Dコ
ンバータ、21:補正検出信号メモリ（第２の記憶手
段）、22:ゲート。
ク図、第２図は走査信号及び走査クロックと、走査位置
カウンタ14から出力されるアドレスデータとの関係を示
すタイミングチャート、第３図は検出信号、補正データ
及び補正信号の関係を示すグラフ、第４図は任意の一の
補正信号について、その出出力レベルの変動を記録した
ヒストグラム、第５図はラインセンサの使用状況を示す
ブロック図、第６図は補正されていない検出信号を示す
グラフ、第７図（ａ）及び（ｂ）は、各々従来用いられ
ていたシェーデイング板を示す正面図及びその取り付け
状態を示す平面図である。 1:ラインセンサ、10:処理部（信号処理手段）、11:CP
U、12:ROM、13:RAM、14:走査位置カウンタ、15:セレク
タ、16:セレクタ、17:補正データメモリ（第１の記憶手
段）、18:ゲート、19:乗算回路（演算手段）、20:A/Dコ
ンバータ、21:補正検出信号メモリ（第２の記憶手
段）、22:ゲート。
Claims (2)
- 【請求項１】連続して搬送される被搬送物から不良品を
選別するために用いられるラインセンサの信号補正装置
であって、 複数の受光素子から出力される検出信号を補正する補正
データが記憶された第１の記憶手段と、この第１の記憶
手段に記憶された前記補正データを、前記検出信号に乗
じる演算手段と、前記演算手段から出力される補正信号
を記憶する第２の記憶手段と、この第２の記憶手段に記
憶された補正信号の出力レベルを一定期間記録すると共
に一定期間経過後に計算された該出力レベルの平均値に
基づき、前記第１の記憶手段に記憶された補正データを
補正してこの補正信号出力レベルを均一化する新たな補
正データを生成する信号処理手段とを具備し、複数の受
光素子から出力される検出信号を各受光素子毎に補正し
て、各検出信号の出力レベルを自動的に均一化すること
を特徴とするラインセンサの信号補正装置。 - 【請求項２】前記信号処理手段は、試験対象を走査して
得られた前記補正信号の出力レベルで、あらかじめ定め
られた基準レベルを除してこれらの比率を求め、この比
率に前記第１の記憶手段に記憶された補正データを乗じ
ることにより前記新たな補正データを生成することを特
徴とする請求の範囲第１項記載のラインセンサの信号補
正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62252285A JPH0762864B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | ラインセンサの信号補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62252285A JPH0762864B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | ラインセンサの信号補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0194486A JPH0194486A (ja) | 1989-04-13 |
| JPH0762864B2 true JPH0762864B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=17235127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62252285A Expired - Lifetime JPH0762864B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | ラインセンサの信号補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0762864B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19646678A1 (de) * | 1996-11-12 | 1998-05-14 | Heuft Systemtechnik Gmbh | Verfahren zum Testen der Zuverlässigkeit eines Prüfgerätes, insbesondere eines Leerflascheninspektors |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57143682A (en) * | 1981-03-03 | 1982-09-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | Optical character reader |
-
1987
- 1987-10-06 JP JP62252285A patent/JPH0762864B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0194486A (ja) | 1989-04-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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