JPH0755888A

JPH0755888A - 電子装置の試験方法及び装置

Info

Publication number: JPH0755888A
Application number: JP5218016A
Authority: JP
Inventors: Takashi Yoshitake; 隆志吉竹
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1993-08-09
Filing date: 1993-08-09
Publication date: 1995-03-03
Anticipated expiration: 2017-04-30
Also published as: JP3279404B2

Abstract

(57)【要約】【目的】疑似環境の設定により試験を行い、手動による
設定の解消及び試験結果の分析に要する時間を短縮す
る。【構成】ＣＰＵ（１１〜１３）とこれにハード／ソフト
ウェアインターフェース機能のみを持つ疑似ＰＫＧ（２
１〜２ｎ）を接続して電子装置本体（１０）を構成す
る。電子装置本体（１０）に試験状態に設定するための
コマンド列データを送出し、ついで、疑似ＰＫＧ（２１
〜２ｎ）の状態を設定するためのコマンド列データを該
疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）に送出し、疑似ＰＫＧ（２１
〜２ｎ）からＣＰＵ（１１〜１３）へのデータの通信状
態をトレースし、そのデータを記憶内蔵し、全ての試験
が終了した時点で、該記憶内蔵したデータを解析する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子装置の試験方法及
び装置に関する。特に、伝送装置の試験に対し、疑似的
に試験状態の設定を行うようにした伝送装置の試験方法
及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】各種電子装置の機能試験を行う場合は、
試験を行うための試験環境を構築する必要がある。伝送
装置の機能試験を行う場合も同様で、試験環境には、実
環境（装置を実際に運用する環境）を構築し、その試験
環境で機能試験をおこなっていた。図８は、従来の試験
方法の説明図である。

【０００３】図において、１０は伝送装置本体であり、
ＣＰＵ１１〜１３及び複数のインターフェース＝パッケ
ージ（以下ＰＫＧという）１２１〜１２ｎを有する。３
０は、外部制御装置、５０は外部監視装置である。こ
こで、ＣＰＵ１１は、外部制御装置３０と伝送装置本体
１０を繋ぐＣＰＵであり、外部制御装置３０からの制御
データを各ＰＫＧ１２１〜１２ｎに送る信号に変換す
る。

【０００４】ＣＰＵ１２は、外部監視装置５０と伝送装
置本体１０を繋ぐＣＰＵであり、ＣＰＵ１３からの情報
データを変換し、出力する。ＣＰＵ１３は、各ＰＫＧ１
２１〜１２ｎからの情報データを収集処理する。

【０００５】外部制御装置３０は、各種試験状態の設定
が一試験項目ずつオペレータによって手動入力され、そ
れを伝送装置本体１０に送る。外部制御装置３０からの
設定がなされると、各種の試験状態即ち、本体１０に実
環境を構築するために、ＰＫＧの挿抜作業やケーブル等
の切替え、外部制御装置３０からの排除（切り離し）命
令等の投入操作を手動で行う。

【０００６】これにより、伝送装置本体１０のＣＰＵ１
２に接続される外部監視装置５０は、外部制御装置３０
や手動による設定、操作による試験結果を出力する。そ
してこの試験結果に対し、一試験項目が終了する毎に確
認作業が行われる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、かかる試験環
境に実環境を与えて機能試験を行うという試験方法に
は、特に電子装置として伝送装置を考えた時、以下のよ
うな問題がある。即ち、第一に伝送装置本体や外部監視
装置などの周辺機器が少なく、又伝送装置に実装する各
種ＰＫＧの種類や数が多く高価なために、全てを揃えた
十分な実環境を構築することが難しい。

【０００８】又、一試験当たりの状態設定・操作・確認
項目が多く煩雑なため、試験効率が低い。一例として警
報処理を考えると、複数のＰＫＧから発生した警報を特
定する機能は有しているが、一項目ごとに状態の設定、
次いで警報の発出操作更に、動作の確認という一連の手
順を複数のＰＫＧに対して行わなければならない。しか
も、その操作が煩雑である。

【０００９】更に、ＰＫＧの種類が多く、しかも新技術
の採用により、高集積ＬＳＩや光モジュールをＰＫＧに
実装しているために、ＰＫＧ一つあたりの機能が多い。
回線インターフェースの多様化と多数のＰＫＧによる組
み合わせ数が増加するために、ソフト制御の採用により
機能が豊富である。等の理由により、試験項目が非常に
多くなる。

【００１０】このため上記問題点により試験効率が低
く、その結果、試験期間が長くなりやすいという傾向が
あった。したがって、本発明は、かかる従来の試験方法
における問題を解決すべく、疑似環境の設定により試験
を行う方法及び装置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明にしたがう電子装
置の試験方法は、ＣＰＵとこれにハード／ソフトウェア
インターフェース機能のみを持つ疑似ＰＫＧを接続して
電子装置本体を構成する。そしてこの電子装置本体に試
験状態に設定するためのコマンド列データを送出し、つ
いで、前記疑似ＰＫＧの状態を設定するためのコマンド
列データを疑似ＰＫＧに送出し、この疑似ＰＫＧから前
記ＣＰＵへのデータの通信状態をトレースし、そのデー
タを記憶内蔵し、全ての試験が終了した時点で、記憶内
蔵したデータを解析する。

【００１２】又本発明にしたがう電子装置の試験装置
は、ＣＰＵとこれにハード／ソフトウェアインターフェ
ース機能のみを持つ疑似ＰＫＧを接続して電子装置本体
を構成する。更に前記電子装置本体を試験状態に設定す
るためのコマンド列データを記憶内蔵し、このデータを
前記ＣＰＵに送出する疑似監視制御装置と、前記疑似Ｐ
ＫＧの状態を設定するためのコマンド列データを記憶内
蔵し、前記データを疑似ＰＫＧに送出する疑似環境設定
装置と、前記疑似ＰＫＧから前記ＣＰＵへのデータの通
信状態をトレースし、そのデータを記憶内蔵するトレー
ス装置を有して構成される。

【００１３】更に前記トレース装置は、すベての試験が
終了した時点で、記憶内蔵したデータを分析するように
構成される。又、前記疑似監視制御装置、疑似環境設定
装置及びトレース装置は、それぞれパソコンにより構成
され、パソコン内の記憶装置に前記コマンド列データ及
び前記疑似ＰＫＧと前記ＣＰＵ間に通信されるデータを
記憶内蔵するように構成される。

【００１４】更に、前記疑似環境設定装置から前記疑似
ＰＫＧに送出されるコマンド列データは、所定のビット
数により構成されるビットマップのビット位置により定
義される。又更に、前記電子装置が、伝送装置であるこ
とを特徴とする。

【００１５】

【作用】本発明は、疑似ＰＫＧを使用し、更に予め作成
されたコマンド列データにより試験状態の設定と、疑似
ＰＫＧに対し、各種の警報の発出、切り換えを自動的に
設定することが可能である。又トレース装置により、疑
似ＰＫＧとＣＰＵ間の通信状態をトレースし、データと
して記憶内蔵している。したがって、これまでの試験方
法、試験装置における手動による設定の解消及び試験結
果の分析に要する時間を短縮することができる。

【００１６】

【実施例】図１は、本発明の試験方法の概念説明図であ
る。以下実施例説明において、同一又は類似のものには
同一の記号又は数字を付して行う。

【００１７】図において、１は伝送装置本体に単体シェ
ルフの形で備えられ、ＣＰＵ１１〜１３を有するもので
ある。２は複数の疑似ＰＫＧ２１〜２ｎを有し、伝送装
置本体に備えられる真のＰＫＧに代わり用意されるもの
である。更に、３は疑似監視制御装置であり、４は疑似
環境設定装置である。更にＣＰＵ間通信のトレース装置
５を備える。

【００１８】これら疑似監視制御装置３、疑似環境設定
装置４及びＣＰＵ間通信のトレース装置５は、実施例と
してパーソナルコンピュータを用い、これにそれらの機
能を持たせることが可能である。本発明では、これら端
末を各ＣＰＵや疑似ＰＫＧに接続して疑似環境を構築す
る。

【００１９】ここで、疑似監視制御装置３は、内部に記
憶装置を有し、これに試験項目のコマンド列データのパ
ターンを記憶している。このデータをＣＰＵ１１に直接
送るよう構成される。これにより、従来の方法との比較
において、ＣＰＵ１１での変換作業が無くなる。又、手
動で設定を行うのに対し、疑似監視制御装置３を端末と
して利用することで自動的にデータが流せる。

【００２０】疑似環境設定装置４は、同様に記憶装置を
有し、これに各試験項目のＰＫＧ状態設定データ及びア
ラーム発生パターンデータを記憶している。この疑似環
境設定装置４により、疑似パッケージＰＫＧ２１〜２ｎ
に対し、自動的に試験状態の設定を行い、擬似的に発出
された警報などのデータがＣＰＵ１３に流れ、当該ＣＰ
Ｕ１３内で処理される。

【００２１】ＣＰＵ間通信のトレース装置５は、従来の
方法においてはＣＰＵ１２がＣＰＵ１３から収集した処
理後のデータを変換し、外部監視装置５０に出力してい
た。これに対し、本発明ではＣＰＵ１２とＣＰＵ１３間
のデータをトレースし、試験処理後のデータをストック
する。その結果、従来方法では、一試験項目毎に確認作
業をしていたが、全試験項目の終了後に一括して試験結
果を解析することが可能である。

【００２２】次に、疑似環境が設定された後の試験作業
について説明すると、次の通りである。先ず、疑似監視
制御装置３から試験項目コマンド列データをＣＰＵ１１
に流し、疑似環境を試験状態に設定する。

【００２３】次いで、疑似環境設定装置４からあらかじ
め作成しておいた試験状態設定データを流し、疑似ＰＫ
Ｇ２１〜２ｎを介してＣＰＵ１３に流し、試験状態を設
定する。又、同様にアラーム発生パターンデータをＣＰ
Ｕ１３に流し、各種警報発出状態に設定する。

【００２４】全ての試験作業が終了したあと、トレース
装置５に収容されたＣＰＵ１３及び１２間のデータを調
べ、結果を解析して動作を確認する。これにより、従来
方法に比べ、各種試験作業が自動化される。又、試験結
果の確認作業が試験終了後に一括して行うことができ
る。図２は、本発明にしたがう試験方法を実行する疑似
ＰＫＧ２１〜２ｎの構成とＣＰＵ１３の接続を説明する
図である。

【００２５】図２では、疑似ＰＫＧ２１を疑似ＰＫＧ２
１〜２ｎの代表としてその構成を示す。即ち、疑似ＰＫ
Ｇ２１は、真のＰＫＧと同様のハード／ソフトインター
フェース回路２１１を有する。更に、直／並列変換回路
２１２及び並列／直列変換回路２１３を有する。

【００２６】直／並列変換回路２１２は、並列／直列変
換回路１３１を介して、又並列／直列変換回路２１３
は、直／並列変換回路１３２を介して、ＣＰＵ１３に接
続される。

【００２７】かかる本発明の構成において、疑似環境設
定装置４は、パターンジェネレータとしての機能を持
ち、後に説明するビットマップデータをハード／ソフト
インターフェース２１１に送出して擬似的に警報を設定
することができる。更に、疑似環境設定装置４は、実際
にＰＫＧの挿抜作業を行うことなく、疑似的に挿抜を行
った状態を設定出来る。

【００２８】又、ＰＫＧが壊れた状態を疑似的に設定で
きる。更にＣＰＵと疑似ＰＫＧ間の通信の検出や擾乱状
態の設定ができる。又、擬似的に切替えを行った状態に
も設定できる。ＣＰＵ１３からの出力データを可視化で
きる。等の機能を持つ。

【００２９】これらの状態の設定は、全て疑似監視制御
装置３、疑似環境設定装置４内の記憶装置に記憶されて
いる各種データにより、自動的に且つ複数のＰＫＧに対
し、同時に設定が可能とされる。

【００３０】各種の設定・操作が終了したあと、擬似的
に発出されたデータがＣＰＵ１３に収集され、更に上位
のＣＰＵ１１に送られ収集される。本発明では、ＣＰＵ
１３からＣＰＵ１１への通信がなされた時、自動的にそ
の通信をトレースしてデータを蓄積するＣＰＵ間のトレ
ース装置５を有している。したがって、この装置によ
り、全ての試験が終了した後に確認作業が行えるという
利点を有する。

【００３１】図３は、ビットマップによって定義される
警報データであって、図３に示すように、ビットＮｏ．
０〜３９までの５バイトによって４０種類の警報を表
す。警報の表しかたは、警報が出たら対応するビットに
「１」をたてる。例えば、図３に示す如く警報Ａが発生
したら、ビットＮｏ．３０に「１」をたてる。警報Ｂが
発生したら、ビットＮｏ．１９に「１」をたてる。

【００３２】この警報データは、各ＰＫＧ毎に上記のビ
ットマップが定義されており、ＣＰＵ１１〜１３とＰＫ
Ｇ間でかかるビットマップにより定義される警報データ
の伝達が行われる。

【００３３】図４乃至図７は、更に従来の構成と比較し
て図２の実施例の各構成部分の機能を説明する図であ
る。図４は、疑似ＰＫＧ２１〜２ｎを説明する図であ
る。図４（ａ）が従来構成、図４（ｂ）が本発明による
構成である。

【００３４】図４（ａ）において、各種任意の警報を発
出させるために、従来はＰＫＧの挿抜等の操作を手動で
行っている（図４（ａ））。ついでＰＫＧ２１の内部
に実装されているＬＳＩ等が警報の発出を感知し、ビッ
トマップに対応する警報のビット位置にビット「１」を
たてる（図４（ｂ））。

【００３５】更に、ＰＫＧで作成されたビットマップを
ＣＰＵ１３に送り、ＣＰＵ１３は送りこまれたビットパ
ターンデータを収集処理する。ここで警報試験を一例に
すると、一枚のＰＫＧから複数の警報（警報Ａ、警報
Ｂ、警報Ｃ）を同時に発生させて警報データをＣＰＵ１
３に流す必要のある試験項目が存在する。

【００３６】かかる場合、従来方法では、本物のＰＫＧ
を必要な種類、必要な数だけ用意しなければならない。
又一枚のＰＫＧから数種類の複数の警報を同時に発出さ
せるのは煩雑な作業が必要である。あるいは、不可能の
場合がある。更に、ＰＫＧに負荷がかかる場合があるた
めにＰＫＧを破壊する恐れがある。したがって、通常の
ＰＫＧを使用する試験方法では、非常に効率が悪い。

【００３７】これに対し、図４（ｂ）に示す本発明の方
法においては、疑似環境設定装置４を例えば汎用パソコ
ンを利用して構成し、その記憶装置に各種情報を発出さ
せるビットマップのパターンをデータとして記憶させる
（パターンデータは予め試験前に作成しておくことが可
能である）。この意味において、疑似環境設定装置４
は、パターンジェネレータとして機能する。

【００３８】任意の警報を発出させたい場合は、それに
対応するビットマップパターンデータを疑似ＰＫＧのイ
ンターフェス２１１を介して直接ＣＰＵ１３に送る。Ｃ
ＰＵ１３は、送られたピットマップパターンデータを処
理する。

【００３９】本発明ではこのように警報を発出させるた
めにビットマップデータを利用していることに注目し
て、警報発出パターンのビットマップデータを疑似環境
設定装置４である汎用パソコンから疑似ＰＫＧを介して
ＣＰＵ１３に直接送るように構成される。

【００４０】ここで本発明によって備えられる疑似ＰＫ
Ｇの特徴を確認すると、次のとおりである。即ち、通常
のインターフェースパッケージと異なり、光モジュール
や高集積ＬＳＩなどを使用しない代わりに疑似環境設定
装置の役割を持つ汎用パソコンと接続されるケーブルが
実装されている。

【００４１】通常のＰＫＧに対し、安価で短時間で製作
できる。又ハード／ソフトインターフェースだけを持つ
ので、状態の設定だけで全てのＰＫＧの代用として使用
できる。通常のＰＫＧでは、ＰＫＧの挿抜等の警報を発
出し、その情報がＣＰＵに行くのに対して、汎用パソコ
ンから流した疑似警報の情報がそのままＣＰＵ１３に行
くように構成される。

【００４２】図５は、疑似環境設定装置４を説明する図
である。図５（ａ）が従来構成、図５（ｂ）が本発明に
よる構成である。従来技術においては、試験のために各
種の情報を発出させるために、ＰＫＧの挿抜等の操作を
手動で、複数のＰＫＧに対して行っている。そして、各
ＰＫＧ内部に実装されているＬＳＩなどがこの情報の発
出を感知し、各ビットマップに対応している情報の位置
にビットをたてる。

【００４３】各ＰＫＧにおいて作成されたビットマップ
はＣＰＵ１３に送られる。したがって、図４に関して従
来の問題を指摘した点に加え、更に複数のＰＫＧに対し
て操作が必要となるので試験作業が非常に煩雑になる。
しかも複数枚のＰＫＧであるので、更に面倒なものとな
る。

【００４４】これに対し、図５（ｂ）の本発明において
は、ビットマップデータを汎用パソコン等の疑似環境設
定装置４から複数のＰＫＧに対して送る。これにより、
設定の操作が飛躍的に少なくなると同時に、自動化も進
められ試験効率が向上する。かかる疑似環境設定装置４
による本発明特徴は、これを確認すると次の通りであ
る。

【００４５】複数のＰＫＧの挿抜や設定などといった煩
雑な動作を汎用パソコンから自動的に設定できる。更に
実際のＰＫＧでは出せない警報（例えば、ＰＫＧの故障
状態）なども擬似的に生成することができる。又、警報
発出の種類をデータとして蓄えて置く事が可能であるの
で、警報データの組み合わせ等応用の自由度が高い。図
６は、疑似監視制御装置３を説明する図である。図６
（ａ）が従来構成、図６（ｂ）が本発明による構成であ
る。

【００４６】従来技術においては、外部制御装置３０か
ら試験状態の設定のためにコマンドを投入する。同時に
制御装置内でデータの変換が行われコマンドデータに対
応したデータがＣＰＵ１１に流される。

【００４７】ＣＰＵ１１からＣＰＵ１３にコマンドデー
タが送出される。ＣＰＵ１３が各ＰＫＧに対してコマン
ドを送出し、各ＰＫＧに対して設定を行う。この場合、
従来方法では、一試験項目毎に手動で試験状態の設定を
行っていたため効率が悪かった。

【００４８】これに対し、図６（ｂ）の本発明において
は、疑似監視制御装置３（汎用パソコンを使用）の記憶
装置に各種情報を発出させるビットマップのパターンデ
ータとして記憶させる。このパターンデータは予め試験
前に作成しておくことが必要である。

【００４９】任意の試験状態に設定したい場合、それに
対応するコマンドパターンデータをＣＰＵ１１が疑似監
視制御装置３から受ける。そしてＣＰＵ１３が各ＰＫＧ
に対してコマンドを送り、各ＰＫＧに対して試験状態の
設定を行う。ここで疑似監視制御装置３を備えることに
よる本発明特徴は、これを確認すると次の通りである。

【００５０】疑似監視制御装置３からのコマンド列デー
タを各ＰＫＧに流すことができるようになったので、試
験状態設定の自動化・効率化が図れる。又、図５に関し
て説明したと同様に、コマンド列データ組み合わせの自
由度が高い。図７は、ＣＰＵ間の通信トレース装置５を
説明する図である。

【００５１】図７（ａ）の従来構成において、ＣＰＵ１
３が各ＰＫＧ２１〜２ｎの状態を収集する。ＣＰＵ１２
が仲介となって、ＣＰＵ１３が収集したデータ列を外部
監視装置５０に転送する。外部監視装置５０は、転送さ
れたデータ列の変換を行い、各種警報の発生状況を表示
する。

【００５２】このために従来方法では、先ず試験状態の
設定、操作が行われる。次いでＣＰＵ１３でデータ収集
処理を行い、ＰＫＧ１２１〜１２ｎは、ＣＰＵからの命
令を実行する。これら動作を別のＣＰＵ１２（外部監視
装置５０に接続するためのＣＰＵ）が読み取る。次い
で、ＣＰＵ１２から出力された結果を外部監視装置５０
が確認する。

【００５３】従来の方法では、これらの手順を一試験項
目毎に確認し、作業を行なわなければならない。したが
って、極めて非効率であった。これに対し、図７（ｂ）
に示す本発明の方法では、ＣＰＵ１３が各ＰＫＧ２１〜
２ｎの状態を収集する。ＣＰＵ１３が収集したデータ列
をＣＰＵ１２に送出するデータをＣＰＵ間トレース装置
５が直接読出し情報を蓄積する。全ての試験終了後、ス
トックしたデータの確認をＣＰＵ間トレース装置５が行
う。

【００５４】このように、本発明の方法では、試験状態
の設定、操作の後ＣＰＵにより処理が行われる。ＣＰＵ
１２と１３の間の通信を例えば汎用パソコンであるＣＰ
Ｕ間トレース装置５により自動的に収集する。

【００５５】これら一連の動作は、一試験項目当たりの
手順として必要であるが、確認作業は、全ての試験終了
後、一括して行うことが出来ると言う利点がある。以上
伝送装置を例として本発明を説明してきたが、本発明は
かかる装置に限定されるものではなく、広く一般の電子
装置にも適用可能のものである。

【００５６】

【発明の効果】本発明は、疑似ＰＫＧを使用することに
より実際の回線接続などを不要とするので共通化できる
範囲が大きい。試験状態の設定の自動化が可能であると
ともに、ＣＰＵ間トレースにより確実且つ一括した効率
のよい確認作業ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の試験方法の概念説明図である。

【図２】本発明の一実施例を示すブロック図である。

【図３】警報データマップの一例を説明する図である。

【図４】疑似ＰＫＧの説明図である。

【図５】疑似環境設定装置の説明図である。

【図６】疑似監視制御装置の説明図である。

【図７】ＣＰＵ間トレース装置の説明図である。

【図８】従来の試験方法を説明する図である。

【符号の説明】

１ＣＰＵ単体シェルフ１１〜１３ＣＰＵ２疑似ＰＫＧ単体シェルフ２１〜２ｎ疑似ＰＫＧ３疑似監視制御装置４疑似環境設定装置５ＣＰＵ間通信のトレース装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ＣＰＵ（１１〜１３）とこれにハード／ソ
フトウェアインターフェース機能のみを持つ疑似ＰＫＧ
（２１〜２ｎ）を接続して電子装置本体（１０）を構成
し、該電子装置本体（１０）に試験状態に設定するためのコ
マンド列データを送出し、ついで、該疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）の状態を設定する
ためのコマンド列データを該疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）
に送出し、該疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）から該ＣＰＵ（１１〜１
３）へのデータの通信状態をトレースし、そのデータを
記憶内蔵し、全ての試験が終了した時点で、該記憶内蔵
したデータを解析するようにしたことを特徴とする電子
装置用の試験方法。
【請求項２】ＣＰＵ（１１〜１３）とこれにハード／ソ
フトウェアインターフェース機能のみを持つ疑似ＰＫＧ
（２１〜２ｎ）を接続して電子装置本体（１０）を構成
し、該電子装置本体（１０）を試験状態に設定するためのコ
マンド列データを記憶内蔵し、該データを該ＣＰＵ（１
１〜１３）に送出する疑似監視制御装置（３）と、該疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）の状態を設定するためのコ
マンド列データを記憶内蔵し、該データを該疑似ＰＫＧ
（２１〜２ｎ）に送出する疑似環境設定装置（４）と、該疑似ＰＫＧ（２１〜２ｎ）から該ＣＰＵ（１１〜１
３）へのデータの通信状態をトレースし、そのデータを
記憶内蔵するトレース装置（５）を有して構成されたこ
とを特徴とする電子装置用の試験装置。
【請求項３】請求項２において、前記トレース装置
（５）は、すベての試験が終了した時点で、該トレース
装置（５）に記憶内蔵したデータを分析するように構成
されたことを特徴とする電子装置用の試験装置。
【請求項４】請求項２に記載の前記疑似監視制御装置
（３）、疑似環境設定装置（４）及びトレース装置
（５）は、それぞれパソコンにより構成され、該パソコ
ン内の記憶装置に前記コマンド列データ及び前記疑似Ｐ
ＫＧ（２１〜２ｎ）と前記ＣＰＵ（１１〜１３）間に通
信されるデータを記憶内蔵するように構成されたことを
特徴とする電子装置の試験装置。
【請求項５】請求項２において、前記疑似環境設定装置（４）から前記疑似ＰＫＧ（２１
〜２ｎ）に送出されるコマンド列データは、所定のビッ
ト数により構成されるビットマップのビット位置により
定義されることを特徴とする電子装置の試験装置。
【請求項６】請求項１及び２において、前記電子装置が、伝送装置であることを特徴とするを試
験方法及び装置。