JPH0747688Y2

JPH0747688Y2 - 測距装置

Info

Publication number: JPH0747688Y2
Application number: JP1988018822U
Authority: JP
Inventors: 佳史藤本; 達治樋口; 明石田
Original assignee: Olympus Optic Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1988-02-16
Filing date: 1988-02-16
Publication date: 1995-11-01
Anticipated expiration: 2003-02-16
Also published as: JPH01124515U

Description

【考案の詳細な説明】［産業上の利用分野］この考案は、例えば自動焦点検出カメラに使用される測
距装置に関する。

［従来の技術］三角測距の原理に基づく一般的な測距装置は、例えば実
開昭56−96414号に開示され、この測距装置は、主にカ
メラの内部に組込まれて自動焦点検出カメラの測距装置
として広く利用されている。また、このような測距装置
は、今後カメラ以外の産業製品の測距装置としても広く
応用される可能性は高い。

［考案が解決しようとする課題］ところで、三角測距の原理を応用した測距装置では、受
光素子上における被写体像の位置出し調整が必要とな
る。そこで従来の測距装置では、二種以上の光学部材、
例えば受光レンズ及び反射ミラー等を移動調整するか、
または少なくとも１つの光学部材に２成分、例えばＸ方
向及びＹ方向、以上の移動調整をする機構が用いられて
いる。また、受光素子は、調整機構を介して測距装置本
体に取付固定されている。そのため、測距装置を構成す
る部材点数が多くなり、調整機構も複雑となり、調整工
数も増加するという問題がある。

この考案は、上記問題点に着目してなされたものであ
り、その目的は、構成する部品点数を少なくし、しかも
受光素子上における被写体像の位置出し調整機構が単純
化された測距装置を提供することにある。

［課題を解決する手段および作用］この考案の目的は、以下の測距装置によって達成され
る。すなわちその測距装置は、基線長を隔てて配置され
た一対の結像光学系を有し、被写体像を前記一対の結像
光学系を介して、列状に配置された一対の受光素子上に
夫々結像させ、この一対の受光素子からの出力を比較し
て被写体までの距離を測定する測距装置にあって、さら
に前記一対の結像光学系のうち、前記測距装置の高さ方
向の移動が規制された第１の結像光学系と、前記一対の
結像光学系のうち、前記測距装置の基線方向の移動が規
制された第２の結像光学系と、前記第１の結像光学系を
前記基線方向に移動させる第１の調整部材と、前記第２
の結像光学系を前記高さ方向に移動させる第２の調整部
材と、前記第1,第２の結像光学系を夫々前記第1,第２の
調整部材の方向に付勢する付勢部材とを備えた測距装置
である。

従って、部品点数を最少にして調整機構を簡略化するこ
とができる。

以下図面を参照しながらこの考案の実施例について説明
する。

［実施例］この考案に係わる測距装置すなわち測距光学装置は、第
１図から第４図に示すように函状の本体枠２と、被写体
からの光が入射する左右２つの開口4a,4bを有する視野
マスク部材４とを備えている。そして、視野マスク部材
４は、係止腕５が本体枠２の係止溝３に掛かることによ
り本体枠２に固定され、本体枠２の前面を覆っている。
本体枠２の前部には、左右２つの受光レンズ取付部6,7
が設けられ、その内部には各々受光レンズ8,9が収納さ
れ、各受光レンズ8,9は、視野マスク部材４の開口4a,4b
と同軸上に配置されている。

本体枠２の中央部には、プリズム収納室10が設けられ、
プリズム12が収納されている。プリズム12は、視野マス
ク部材４と一体に樹脂成型されたプリズム押えバネ13に
よって、プリズム収納室10内のプリズム受面10aに押付
けられて固定されている。また、本体枠２の後部には、
凹所14が形成され、凹所14内には、センサアレイ16を有
するセンサIC18が組込まれ、センサーIC18は、本体枠２
に直接、接着固定されている。また、本体枠２の後部の
両端には、後部の表面に対して傾斜した２つの凹部20,2
1が形成され、凹部20,21内にはミラー押えバネ22,23に
保持された全反射ミラー24,25が組込まれている。全反
射ミラー24,25は、第４図に示すミラー押えバネ22,23に
より、凹部20,21内のミラー受け面に押し付けられて固
定されている。

第３図に示すように、本考案の基本光学系は上述のよう
に構成され、被写体からの光線は、測距光学装置１の本
体枠２に取付られた一対の受光レンズ8,9を通過し、一
対の全反射ミラー24,25で直角に折曲げられ、更にプリ
ズム12により直角に折曲げられてセンサーIC18のセンサ
アレイ16上に結像させる。センサアレイ16上に結像され
た２つの像は、電気信号に変換されて出力され、既に知
られている三角測距の原理に基づいて演算されて被写体
までの距離が求められる。

次に、本考案の測距装置における調整機構について説明
する。

第１図に示すように樹脂で形成された第１の受光レンズ
８は、本体枠２に対して矢印Ｙで示す方向の移動が規制
され、基線と平行な矢印Ｘで示す方向については摺動可
能に組込まれている。そして、視野マスク部材４と一体
に樹脂成形されたＸ方向レンズ調整バネ26が第１の受光
レンズ８のリブ28を矢印Ｘの方向に付勢している。

また、第１の受光レンズ８のリブ28の反対側には、基線
対して略45°傾斜した斜面部30aを有する腕部30が設け
られている。そして、本体枠２に組込まれた第１のレン
ズ調整ビス32の略半球形状の先端32aが斜面部30aに当接
され、第１の受光レンズ８におけるＸ方向の位置が設定
されている。ここで、第１のレンズ調整ビス32をプラス
Ｙ方向へねじ込んで行くと、第１の受光レンズ８の腕部
30における斜面部30aが第１のレンズ調整ビス32の先端3
2aによって押され、レンズ調整ビス32のＹ方向への移動
がＸ方向の移動に変換されて、第１の受光レンズ8aは、
矢印Ｘと反対の方向（マイナスＸ方向）に移動される。
その結果、センサIC18のセンサアレイ16上に結像する被
写体像は、マイナスＸ方向に移動調整される。

次に、第１のレンズ調整ビス32を反対に矢印Ｙと反対の
方向（マイナスＹ方向）に抜いていくと、レンズ調整バ
ネ26の付勢力によって第１の受光レンズ８は、プラスＸ
方向に移動され、センサーIC18のセンサアレイ16上に結
像する被写体像をプラスＸ方向に移動調整することがで
きる。第１の受光レンズ８を移動調整する際に受光レン
ズ８は、視野マスク部材４と一体に樹脂成型されたレン
ズ押えバネ34,35により、常に本体枠２の方向に押圧さ
れ、本体枠２のレンズ受け面38に押え付けられている。

次に、第１の受光レンズ８の反対側に配置された第２の
受光レンズ９について説明する。

第２の受光レンズ９は、同様に樹脂から形成され、本体
枠２に対してＸ方向の移動が規制され、Ｙ方向のみに摺
動可能に組込まれている。そして、視野マスク部材４と
一体に樹脂成型されたＹ方向レンズ調整バネ40が第２の
受光レンズ９をマイナスＹ方向に付勢している。また、
第２の受光レンズ９の下端面には、本体枠２に組込まれ
た第２のレンズ調整ビス42の略半球形状の先端42aが当
接され、Ｙ方向の位置が設定されている。ここで、第２
のレンズ調整ビス42をプラスＹ方向へねじ込んで行く
と、レンズ調整ビス42の先端42aは第２の受光レンズ９
をプラスＹ方向に移動させる。その結果、センサーIC18
のセンサアレイ16上に結像する被写体像はプラスＹ方向
に移動調整される。

また反対に、第２のレンズ調整ビス42をマイナスＹ方向
に抜いて行くと、Ｙ方向レンズ調整バネ40の付勢力によ
って、第２の受光レンズ９はナイナスＹ方向に移動し、
センサーIC18のセンサアレイ16上に結像する被写体像
は、マイナスＹ方向に移動調整される。

第２の受光レンズ９を移動調整する際に、第２の受光レ
ンズ９は、視野マスク部材４と一体に樹脂成型されたレ
ンズ押えバネ44,45により、常に本体枠２の方向に押圧
され、本体枠２のレンズ受け面７に押し付けられてい
る。

本考案の測距光学装置には、更に光量調整用ビス50が第
３図に示すように第２の受光レンズ９を通る光路上に配
置されている。従って、この光路内に光量調整用ビス50
の先端を出入れすることにより、左右２つの光学系の光
量を補正することができる。

本考案の測距光学装置では、第１図に示すように上記３
つの調整ビス32,42,50は、全べて本体枠２の一方の側面
に配置されている。従って、調整ビス32,42,50を操作し
て行なう調整作業が簡略化される。

なお、共通の部品、例えば受光レンズ、全反射ミラー、
ミラー押えバネ等は、全て同一形状の部品が使用されて
いる。

［考案の効果］本考案の測距装置は、従来の測距装置と比較して構成す
る部品点数が少なく、調整機構が簡易であるために低コ
ストと小型軽量化を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係わる測距装置の内部を示す正面図、
第２図は同側面図、第３図は同底面図、第４図は本考案
に係わる測距装置の倒立状態での分解斜視図である。１……測距光学装置、８……第１の受光レンズ（第１の
結像光学系）、９……第２の受光レンズ（第２の結像光
学系）、32……第１のレンズ調整ビス（第１の調整部
材）、42……第２のレンズ調整ビス（第２の調整部
材）、26……Ｘ方向レンズ調整バネ（付勢部材）、40…
…Ｙ方向レンズ調整バネ（付勢部材）。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】基線長を隔てて配置された一対の結像光学
系を有し、被写体像を上記一対の結像光学系を介して、
列上に配置された一対の受光素子上に夫々結像させ、こ
の一対の受光素子からの出力を比較して被写体までの距
離を測定する測距装置において、上記一対の結像光学系のうち、上記測距装置の高さ方向
の移動が規制された第１の結像光学系と、上記一対の結像光学系のうち、上記測距装置の基線長方
向の移動が規制されると共に、上記第１の結像光学系と
同一形状に形成された第２の結像光学系と、これら第１及び第２の結像光学系における基線長方向の
側面に夫々形成された斜面と、上記測距装置の上面もしくは下面のいずれか一方の面に
設けられ、操作されることにより上記第１の結像光学系
の側面に形成された斜面に当接し該第１の結像光学系を
上記基線長方向に移動させる第１の調整手段と、上記第１の調整手段と同じ面に設けられ、操作されるこ
とにより上記第２の結像光学系の上面もしくは下面に当
接し該第２の結像光学系を上記高さ方向に移動させる第
２の調整手段と、上記測距装置における不動部材に一体的に形成され、上
記第1,第２の結像光学系を夫々上記第1,第２の調節手段
に当接する方向に向けて付勢する付勢部材と、を具備することを特徴とする測距装置。