JPH0746514B2 - Decoder circuit - Google Patents

Decoder circuit

Info

Publication number
JPH0746514B2
JPH0746514B2 JP17107884A JP17107884A JPH0746514B2 JP H0746514 B2 JPH0746514 B2 JP H0746514B2 JP 17107884 A JP17107884 A JP 17107884A JP 17107884 A JP17107884 A JP 17107884A JP H0746514 B2 JPH0746514 B2 JP H0746514B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
write
node
output
point
effect transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP17107884A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6150289A (en
Inventor
潔和 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP17107884A priority Critical patent/JPH0746514B2/en
Publication of JPS6150289A publication Critical patent/JPS6150289A/en
Publication of JPH0746514B2 publication Critical patent/JPH0746514B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、絶縁ゲート型の構造をもつ電界効果型トラン
ジスタ(以下IGFETと記す。)を主な構成要素とするも
のであり、大容量で高速度が要求される書き込み消去可
能な不揮発性記憶装置に用いられるデコーダ回路に関す
る。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention has a field effect transistor (hereinafter referred to as IGFET) having an insulated gate structure as a main constituent element, and has a large capacity and a high speed. The present invention relates to a decoder circuit used in a required non-volatile memory device capable of writing and erasing.

〔従来技術〕[Prior art]

第1図は従来例に係るデコーダ回路の回路図である。Q
111はソースが電源CCに,ドレインが点Lに,ゲートが
アドレス入力a1に接続されたPチヤネル型IGFETであ
る。Q112は電源CCと点Lの間にQ111と並列に接続され、
ゲートにアドレス入力a2が接続されたPチヤネル型IGFE
Tである。Q113はドレインが点Lに,ゲートがアドレス
入力a1に,ソースが点Mに接続されたNチャネル型IGFE
Tである。Q114はドレインが点Mに,ゲートがアドレス
入力a2に,ソースが接地に接続されたNチヤネル型IGFE
Tである。Q115はソースが電源CCに,ゲートが点Lに,
ドレインが点Nに接続されたPチヤネル型IGFET,Q116
ドレインが点Nに,ゲートが点Lに,ソースが接地に接
続されたNチヤネル型IGFETである。Q117はドレインが
点Nに,ゲートが書き込み又は消去モード時に“L"とな
り、書き込み又は消去モードが終了すると“H"になる信
号▲▼が接続されたNチヤネル型でデイプレツシ
ヨン型のIGFETである。
FIG. 1 is a circuit diagram of a decoder circuit according to a conventional example. Q
Reference numeral 111 is a P-channel IGFET in which the source is connected to the power supply CC, the drain is connected to the point L, and the gate is connected to the address input a 1 . Q 112 is connected in parallel with Q 111 between power source CC and point L,
P channel type IGFE with address input a 2 connected to the gate
T. Q 113 is an N-channel IGFE with the drain connected to point L, the gate connected to address input a 1 , and the source connected to point M.
T. Q 114 is an N-channel IGFE with the drain connected to point M, the gate connected to address input a 2 , and the source connected to ground.
T. In Q 115, the source is the power supply CC, the gate is the point L,
The P-channel IGFET, Q 116 , whose drain is connected to the point N, is an N-channel IGFET in which the drain is connected to the point N, the gate is connected to the point L, and the source is connected to ground. Q 117 is an N-channel type depletion type IGFET to which a signal ▲ ▼ whose drain becomes point N and whose gate becomes “L” in the write or erase mode and which becomes “H” when the write or erase mode ends is connected. .

点pp/ccは書き込み又は消去モード時に書き込み制御電
圧Vpp′に,それ以外の場合は電源電圧Vccになるように
外部端子から印加された外部電源であるか、あるいは書
き込み又は消去モード時は昇圧回路により高電圧Vpp′
になり、それ以外の場合は電源電圧Vccになるように内
部回路で制御された内部電源である。Q118はソースが点
pp/ccに,ゲートが点に,ドレインが点Qに,基板が
点pp/ccに接続されたPチヤネル型IGFETである。Q119
ドレインが点Qに,ゲートが点Oに,ソースが接地に接
続されたNチヤネル型IGFETである。Q120はソースが点p
p/ccに,ゲートが点Qに,ドレインが点に,基板が点
pp/ccに接続されたPチヤネル型IGFETである。ここでQ
111,Q112,Q115で示すPチヤネル型IGFETの基板はすべて
電源CCに接続され、Q113,Q114,Q116,Q119で示すNチヤ
ネル型IGFETの基板はすべて接地に接続される。またQ
117を除くすべてのIGFETは、エンハンスメント型であ
り、点が第1図のデコーダ回路の出力である。
The point pp / cc is the external power supply applied from the external terminal so that it becomes the write control voltage Vpp 'in the write or erase mode and the power supply voltage Vcc in other cases, or the booster circuit in the write or erase mode. Due to high voltage Vpp ′
In other cases, the internal power supply is controlled by the internal circuit so that the power supply voltage becomes Vcc. Q 118 is source point
This is a P-channel IGFET in which the gate is connected to the point, the drain is connected to the point Q, and the substrate is connected to the point pp / cc at pp / cc. Q 119 is an N-channel IGFET with the drain connected to point Q, the gate connected to point O, and the source connected to ground. Q 120 is the source p
p / cc, gate at point Q, drain at point, substrate at point
It is a P-channel IGFET connected to pp / cc. Where Q
The substrates of the P-channel IGFETs denoted by 111 , Q 112 , and Q 115 are all connected to the power supply CC, and the substrates of the N-channel IGFETs denoted by Q 113 , Q 114 , Q 116 , and Q 119 are all connected to ground. Also Q
All IGFETs except 117 are enhancement type, and the point is the output of the decoder circuit of FIG.

次に第1図と第2図を用いて、第1図のデコーダ回路の
動作を説明する。第2図は書き込み又は消去モード時、
および書き込み又は消去モードが終了して読み出しモー
ドに変化した時の信号▲▼,点pp/cc,デコーダ回
路の出力,信号READの電圧の時間変化を示したもので
ある。
Next, the operation of the decoder circuit shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. Figure 2 shows the write or erase mode
Also, it shows the time change of the signal ▲ ▼, the point pp / cc, the output of the decoder circuit, and the voltage of the signal READ when the write or erase mode is finished and the mode is changed to the read mode.

書き込み又は消去モードになると信号▲▼は“L"
になり(時間t21)、点pp/ccの電圧は書き込み制御電圧
Vpp′まで上昇する。アドレス入力a1,a2が共に“H"の時
デコーダ回路は選択され点Lが“L",点Nが“H"とな
る。この時Q117のゲートの電圧と点Nの電圧との差は
〔−Vcc〕となるので、Q117のしきい値電圧が−Vcc
(V)以下に設定してあるならば点から電源CCには電
流は流れない。従つて出力の電圧は第2図に示すよう
に書き込み制御電圧Vpp′まで上昇する。一方a1又はa2
が“L"の時デコーダ回路は非選択になり、点Lが“H",
点Nが“L",出力は“L"となる。
When in write or erase mode, signal ▲ ▼ is "L"
(Time t 21 ) and the voltage at the point pp / cc is the write control voltage.
Rises to Vpp '. When the address inputs a 1 and a 2 are both "H", the decoder circuit is selected and the point L becomes "L" and the point N becomes "H". At this time, the difference between the gate voltage of Q 117 and the voltage of point N is [−Vcc], so the threshold voltage of Q 117 is −Vcc.
If set to (V) or less, no current will flow in the power supply CC from the point. Therefore, the output voltage rises to the write control voltage Vpp 'as shown in FIG. On the other hand, a 1 or a 2
Is "L", the decoder circuit is deselected and the point L is "H",
The point N is "L" and the output is "L".

ところで第1図に示すデコーダ回路は一般に以下の
(1),(2)を考慮して設計されている。
By the way, the decoder circuit shown in FIG. 1 is generally designed in consideration of the following (1) and (2).

(1)書き込み又は消去モード時、デコーダ回路が選択
された場合において、点に電圧〔Vcc〕(例えば5V)
が印加され、点pp/ccに電圧〔Vpp′〕(例えば20V)が
印加された時にQ118とQ119から構成されるインバータが
反転できるように、Q118(以下IGFETのゲート長をL,ゲート幅をWと記す。)をQ
119のW/Lに比べてかなり小さくする。
(1) In programming or erasing mode, when the decoder circuit is selected, the voltage [Vcc] (for example, 5V) is applied to the point.
There is applied, so that the inverter composed of Q 118 and Q 119 may inversion when voltage at point pp / cc [Vpp '] (e.g. 20V) is applied, the Q 118 (Hereinafter, the gate length of the IGFET is described as L and the gate width as W).
It is considerably smaller than the W / L of 119 .

(2)書き込み又は消去モード時、デコーダ回路が選択
(出力はVpp′)から非選択になり、点Lの電圧が
“H"〔Vcc〕になつた場合、Q118とQ119から構成される
インバータが反転できるように、Q120のW/LをQ116のW/L
とQ117のW/Lに比べてかなり小さくする。
(2) In the programming or erasing mode, when the decoder circuit is deselected (the output is Vpp ') and deselected, and the voltage at the point L becomes "H" [Vcc], it is composed of Q 118 and Q 119. as inverter can be reversed, the W / L of the Q 120 of Q 116 W / L
And make it considerably smaller than the W / L of Q 117 .

かかる条件下での動作について説明する。▲▼が
“L"から“H"になり、書き込み又は消去モードが終了す
る(時間t22)と、点pp/cc電圧は電源電圧Vccになる。
書き込み又は消去モード時に出力の容量に充電された
電荷は、点pp/ccの電圧が低下するにともない出力の
容量と、Q120の電流駆動能力(以下、on抵抗と記す。)
で決まる時定数で電源に放電され、最終的には出力Oの
電圧は電源電圧Vccになる。前述したように、Q120のW/L
は小さいので、Q120のon抵抗は大きくなり、出力Oの電
圧が低下する時定数は、一般に第2図のD1に示すように
大きい。出力Oの電圧が電源電圧Vccになると、信号REA
Dが“H"になり、読み出しモードになる(時間t24)。
The operation under such conditions will be described. ▲ ▼ becomes "H" to "L", the write or erase mode is terminated (the time t 22), the point pp / cc voltage becomes the power supply voltage Vcc.
The charge charged in the output capacitance in the write or erase mode is the output capacitance as the voltage at the point pp / cc decreases, and the current drive capacity of the Q 120 (hereinafter referred to as on resistance).
Is discharged to the power supply with the time constant determined by, and finally the voltage of the output O becomes the power supply voltage Vcc. As mentioned above, Q 120 W / L
Is small, the on-resistance of Q 120 is large, and the time constant for the voltage of the output O to decrease is generally large as indicated by D 1 in FIG. When the voltage of output O reaches the power supply voltage Vcc, signal REA
D becomes “H”, and the read mode is set (time t 24 ).

以上述べたように、従来例に係るデコーダ回路によれば
デコーダ回路の出力に付加された容量に充電された電荷
が、高いon抵抗を持つIGFETを通して放電されるので、
書き込み又は消去モードから読み出しモードに変化する
タイミングの設定が複雑で、かつ書き込み又は消去モー
ドから読み出しモードへ変化する時間幅を長く設定する
必要がある。従つて高速度で書き込み又は消去−読み出
しサイクルを行なう用途に不適当である。
As described above, according to the decoder circuit according to the conventional example, the charge charged in the capacitance added to the output of the decoder circuit is discharged through the IGFET having a high on resistance,
The setting of the timing for changing from the write or erase mode to the read mode is complicated, and it is necessary to set a long time width for changing from the write or erase mode to the read mode. Therefore, it is unsuitable for high speed write or erase-read cycle applications.

〔発明の目的〕[Object of the Invention]

本発明の目的は上記の欠点を除去し、書き込み又は消去
−読み出しサイクルを高速度で行なうことができ、かつ
書き込み又は消去モードから読み出しモードに変化する
タイミングの設定が容易なデコーダ回路を提供すること
にある。
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, provide a decoder circuit capable of performing a write or erase-read cycle at high speed, and easily setting the timing of changing from the write or erase mode to the read mode. It is in.

〔発明の構成〕[Structure of Invention]

本発明は、複数個のアドレスが入力されるNAND回路と、
前記NAND回路の出力が入力に接続された第1の反転増幅
器と、ドレインが前記第1の反転増幅器の出力に接続さ
れた第1の電界効果型トランジスタと、書き込み又は消
去モード時には第1の電圧が印加され、読み出しモード
時には第2の電圧が印加される第1の節点と、前記第1
の節点と接地の間に挿入され、入力が前記第1の電界効
果型トランジスタのソースに接続された第2の反転増幅
器と、ソースが前記第1の節点に接続され、ゲートが前
記第2の反転増幅器の出力に接続された第2の電界効果
型トランジスタと、前記第1の電界効果型トランジスタ
のソースと前記第2の電界効果型トランジスタのドレイ
ンが接続された第2の節点と、ドレインが前記第2の節
点に,ゲートが書き込み又は消去モードが終了後、一定
期間導通するような信号に,かつソースが接地に接続さ
れた前記第2の電界効果型トランジスタと逆導電型の第
3の電界効果型トランジスタとを有し、前記第2の節点
を出力としたことを特徴とする。
The present invention is a NAND circuit to which a plurality of addresses are input,
A first inverting amplifier having an output connected to the input of the NAND circuit, a first field effect transistor having a drain connected to the output of the first inverting amplifier, and a first voltage in a write or erase mode And a first node to which a second voltage is applied in the read mode, and the first node
A second inverting amplifier inserted between the node and the ground, the input of which is connected to the source of the first field effect transistor, and the source of which is connected to the first node and the gate of which is connected to the second node. A second field effect transistor connected to the output of the inverting amplifier; a second node where the source of the first field effect transistor and the drain of the second field effect transistor are connected; At the second node, a third field-conducting transistor having a conductivity type opposite to that of the second field effect transistor having a signal connected to the gate for a certain period after the programming or erasing mode ends and a source connected to the ground is provided. A field effect transistor, and the second node is used as an output.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面を参照して本発明の実施例を説明する。第3図
は本発明の実施例に係るデコーダ回路の回路図である。
第1図の回路図における符号のものは同じものを示して
いる。Q121は、ドレインがデコーダ回路の出力′に,
ゲートが信号DISに,ソースが接地に接続され,基板が
接地に接続されたNチヤネル型でエンハンスメント型の
IGFETQ121である。信号DISは、通常“L"の電圧状態にあ
るが、書き込み又は消去モードが終了後、一定期間“H"
になるパルスが印加される信号である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a circuit diagram of a decoder circuit according to the embodiment of the present invention.
The reference numerals in the circuit diagram of FIG. 1 indicate the same things. In Q 121 , the drain is the output of the decoder circuit,
The gate is connected to the signal DIS, the source is connected to ground, and the substrate is connected to ground.
It is IGFETQ 121 . The signal DIS is normally in the “L” voltage state, but is “H” for a certain period after the write or erase mode ends.
Is a signal to which a pulse is applied.

次に実施例の動作について説明する。書き込み又は消去
モード時と読み出しモード時の実施例のデコーダ回路の
動作は、信号DISが“L"になり、Q121が非導通になる状
態であるから従来例の場合とまつたく同一であるので、
説明を省略し、書き込み又は消去モードが終了して読み
出しモードになるまでの動作を第3図,第4図を用いて
説明する。
Next, the operation of the embodiment will be described. The operation of the decoder circuit of the embodiment in the write or erase mode and the read mode is the same as the case of the conventional example because the signal DIS becomes "L" and the Q 121 is in the non-conducting state. ,
The description is omitted, and the operation from the end of the write or erase mode to the read mode will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

第4図は書き込み又は消去モード時、および書き込み又
は消去モードが終了して読み出しモードに変化した時の
信号▲▼,点pp/cc,デコーダ回路の出力′信号
DIS,信号READの電圧の時間変化を示したものである。▲
▼が“L"から“H"になり、書き込み又は消去モー
ドが終了する(時間t42)と点pp/ccの電圧は従来例と同
様に電源電圧Vccになる。書き込み又は消去モードが終
了すると、信号DISには一定期間“H"になるパルスが印
加される。このため書き込み又は消去モード時に出力
′に付加された容量に充電された電荷は、出力′に
付加された容量とQ121ののon抵抗で決まる時定数で接地
に放電され、出力′の電圧は電源電圧Vccになる。信
号DISの時間幅〔t43−t42〕は、Q121の抵抗onによつて
制御できる。すなわちQ121のon抵抗を小さくすれば時間
幅〔t43−t42〕を短く設定できるし、Q121のon抵抗を大
きくすれば時間幅〔t43−t42〕を長く設定できる。
Fig. 4 shows signal ▲ ▼, point pp / cc, output of decoder circuit in write or erase mode, and when write or erase mode ends and the mode changes to read mode.
It shows the time change of the voltage of DIS and signal READ. ▲
▼ becomes "L" to "H", likewise becomes the power supply voltage Vcc and the write or erase mode ends voltage (time t 42) and the point pp / cc prior art example. When the writing or erasing mode is completed, a pulse that is "H" is applied to the signal DIS for a certain period. Therefore, the charge charged in the capacitance added to the output 'in the write or erase mode is discharged to the ground with a time constant determined by the capacitance added to the output' and the on resistance of Q 121 , and the voltage of the output 'is changed. The power supply voltage becomes Vcc. The time width [t 43 −t 42 ] of the signal DIS can be controlled by the resistance on of Q 121 . That It can be set short duration by reducing the on resistance [t 43 -t 42] of Q 121, can be set long duration by increasing the on-resistance of Q 121 [t 43 -t 42].

実施例では、時間幅〔t43−t42〕を短く設定するため
に、Q121のW/Lを大きくしon抵抗を十分小さしている。
このため書き込み又は消去モード時に出力′の容量に
充電された電荷が放電されるスピードは、第4図のD2
示すように従来例に比べて速い。しかもQ121は書き込み
又は消去モードが終了後、一定期間導通するだけである
から、Q121があることによりデコーダ回路の動作特性
が、従来例の場合と変わることはない、そして出力′
の電圧が電源電圧Vccになると信号READが“H"になり、
読み出しモードになる(時間t44)。
In the embodiment, in order to set the time width [t 43 −t 42 ] to be short, the W / L of Q 121 is made large and the on resistance is made sufficiently small.
Therefore, in the write or erase mode, the speed at which the charges stored in the output 'capacitance are discharged is faster than that of the conventional example, as indicated by D 2 in FIG. Moreover, since Q 121 only conducts for a certain period after the write or erase mode ends, the presence of Q 121 does not change the operating characteristics of the decoder circuit from that of the conventional example, and the output '
The signal READ becomes “H” when the voltage of becomes the power supply voltage Vcc,
It will read mode (time t 44).

なお実施例ではNAND回路が2入力の場合について説明し
たが、入力数に制限はない。またQ117は、ゲートが信号
▲▼に接続されたデイプレツシヨン型のNチヤネ
ル型IGFETの場合を示したが、ゲートが電源CCに接続さ
れたNチヤネル型でエンハンスメント型のIGFETの場合
においても本発明を適用できることは勿論である。
Although the NAND circuit has two inputs in the embodiment, the number of inputs is not limited. Q 117 shows the case of a depletion type N-channel IGFET whose gate is connected to the signal ▲ ▼, but the present invention is also applicable to the case of an N-channel type enhancement IGFET whose gate is connected to the power source CC. Of course, can be applied.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明によれば、書き込み又は消去
モード時に出力に充電された電荷が十分低いon抵抗のIG
FETにより放電されるので、放電スピードが高速にな
る。従つて書き込み又は消去モードから読み出しモード
に変化するタイミングの設計が容易になる。又高速度で
書き込み又は消去−読み出しサイクルを行なう用途に適
している。
As described above, according to the present invention, the on-resistance IG in which the charge charged in the output in the write or erase mode is sufficiently low
Since it is discharged by the FET, the discharge speed becomes high. Therefore, it becomes easy to design the timing of changing from the write or erase mode to the read mode. It is also suitable for high speed write or erase-read cycles.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は従来例に係るデコーダ回路の回路図,第2図は
第1図の回路動作を説明するための各部の信号波形図,
第3図は本発明の実施例に係るデコーダ回路の回路図,
第4図は第3図の回路動作を説明するための信号波形図
である。Q111,Q112,Q115,Q118,Q120……Pチヤネル型IG
FET、Q113,Q114,Q116,Q119,Q121……Nチヤネル型IGFE
T、Q117……Nチヤネル・デイプレツシヨン型IGFET
FIG. 1 is a circuit diagram of a decoder circuit according to a conventional example, FIG. 2 is a signal waveform diagram of each part for explaining the circuit operation of FIG. 1,
FIG. 3 is a circuit diagram of a decoder circuit according to an embodiment of the present invention,
FIG. 4 is a signal waveform diagram for explaining the circuit operation of FIG. Q 111 , Q 112 , Q 115 , Q 118 , Q 120 ...... P Channel type IG
FET, Q 113 , Q 114 , Q 116 , Q 119 , Q 121・ ・ ・ N channel type IGFE
T, Q 117 …… N channel display type IGFET

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数個のアドレスが入力されるNAND回路
と、 前記NAND回路の出力が入力に接続された第1の反転増幅
器と、ドレインが前記第1の反転増幅器の出力に接続さ
れた第1の電界効果型トランジスタと、書き込みまたは
消去モード時には第1の電圧が印加され、読み出しモー
ド時には第2の電圧が印加される第1の節点と、前記第
1の節点と接地との間に挿入され、入力が前記第1の電
界効果型トランジスタのソースに接続された第2の反転
増幅器と、ソースが前記第1の節点に接続され、ゲート
が前記第2の反転増幅器の出力に接続された第2の電界
効果型トランジスタと、前記第1の電界効果型トランジ
スタのソースと前記第2の電界効果型トランジスタのド
レインとが接続され、出力となる第2の節点と、ドレイ
ンが前記第2の節点に、ソースが接地にそれぞれ接続さ
れ、ゲートには書き込みまたは消去モード終了直後で読
み出しモード前の一定時間ゲートをオンしそれ以外の期
間ではオフにする信号が入力され、前記第2の電界効果
型トランジスタとは逆導電型であってそのオン抵抗を小
さくした第3の電界効果型トランジスタとを備え、前記
第1の電界効果型トランジスタはゲートに所定の制御信
号を受けて前記書き込みまたは消去モード時に前記第2
の節点から前記第1の反転増幅器への電流を抑制するこ
とを特徴とするデコーダ回路。
1. A NAND circuit to which a plurality of addresses are input, a first inverting amplifier to which an output of the NAND circuit is connected to an input, and a drain to which an output of the first inverting amplifier is connected. 1 field effect transistor, a first node to which a first voltage is applied in a write or erase mode and a second voltage in a read mode, and a first node, and the first node is inserted between the first node and ground. A second inverting amplifier having an input connected to the source of the first field effect transistor, a source connected to the first node, and a gate connected to the output of the second inverting amplifier. A second field effect transistor, a source of the first field effect transistor and a drain of the second field effect transistor are connected to each other, and a second node serving as an output and a drain have the second node. section A source is connected to the ground, and a signal is input to the gate to turn on the gate for a certain period immediately after the end of the write or erase mode and before the read mode, and turn it off during the other period. A third field-effect transistor having a conductivity type opposite to that of the transistor and having a reduced on-resistance, and the first field-effect transistor receives a predetermined control signal at its gate during the write or erase mode. The second
Decoder circuit for suppressing the current from the node to the first inverting amplifier.
JP17107884A 1984-08-17 1984-08-17 Decoder circuit Expired - Lifetime JPH0746514B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17107884A JPH0746514B2 (en) 1984-08-17 1984-08-17 Decoder circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17107884A JPH0746514B2 (en) 1984-08-17 1984-08-17 Decoder circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6150289A JPS6150289A (en) 1986-03-12
JPH0746514B2 true JPH0746514B2 (en) 1995-05-17

Family

ID=15916604

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17107884A Expired - Lifetime JPH0746514B2 (en) 1984-08-17 1984-08-17 Decoder circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0746514B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62180400U (en) * 1986-05-06 1987-11-16
JP2582791B2 (en) * 1987-07-17 1997-02-19 沖電気工業株式会社 Decoder circuit of semiconductor memory device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56110334A (en) * 1980-02-05 1981-09-01 Toshiba Corp Input detection circuit
JPS57130294A (en) * 1981-02-05 1982-08-12 Toshiba Corp Semiconductor memory
JPS5952497A (en) * 1982-09-17 1984-03-27 Nec Corp Decoder circuit
JPS5968895A (en) * 1982-10-13 1984-04-18 Hitachi Ltd Sense amplifier circuit
JPS5990292A (en) * 1982-11-12 1984-05-24 Toshiba Corp Voltage converting circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6150289A (en) 1986-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5640123A (en) Substrate voltage control circuit for a flash memory
JP3741735B2 (en) Nonvolatile memory device
JP3152762B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device
JPH0773685A (en) Semiconductor nonvolatile storage device
JP2530821B2 (en) Semiconductor memory
KR940006611B1 (en) Automatic erase optimization circuit and method for eeprom
JPH0746515B2 (en) Decoder circuit
JPS6177199A (en) Semiconductor memory
JP4047001B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device, local row decoder structure thereof, semiconductor memory device, and word line driving method in the same
JPH0793022B2 (en) Semiconductor memory integrated circuit
KR900001774B1 (en) The semiconductor memory device involving a bias voltage generator
JP4068247B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device for selecting program operation
JPH0748310B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP2002353345A (en) Semiconductor memory device and bulk area forming method
JP2606941B2 (en) Write circuit for nonvolatile memory
JPH0746514B2 (en) Decoder circuit
JPS60236195A (en) Nonvolatile semiconductor memory
JP2655441B2 (en) Read-only semiconductor memory device
JPH01294297A (en) Non-volatile semiconductor storage device
JP2722536B2 (en) Non-volatile memory address decoder circuit
US6229735B1 (en) Burst read mode word line boosting
JPS6050697A (en) Semiconductor integrated circuit
JP3155821B2 (en) Non-volatile semiconductor memory
US20040037157A1 (en) Synchronous memory with open page
JPS6215957B2 (en)