JPH0745529A - 燐ドープシリコン膜生成方法及びその反応炉 - Google Patents
燐ドープシリコン膜生成方法及びその反応炉Info
- Publication number
- JPH0745529A JPH0745529A JP20464993A JP20464993A JPH0745529A JP H0745529 A JPH0745529 A JP H0745529A JP 20464993 A JP20464993 A JP 20464993A JP 20464993 A JP20464993 A JP 20464993A JP H0745529 A JPH0745529 A JP H0745529A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- reaction
- phosphorus
- silicon film
- doped silicon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
リコン膜生成反応炉内での位置の相違により、ウェーハ
間での膜中の燐濃度、抵抗率の相違が生ずるのを防止す
る。 【構成】反応室上流側よりシランガス及びフォスフィン
ガスを供給し、下流側よりフォスフィンガスを供給し、
下流に向かう程フォスフィンガスが消費され燐濃度が低
下するのを補い、燐濃度を均一にする。
Description
する反応炉、特にシリコンウェーハ上に燐ドープシリコ
ン膜を生成する燐ドープシリコン膜生成方法及びその反
応炉に関するものである。
同時に行う燐ドープシリコン膜の生成は、ノンドープS
i膜の生成後、POCl3 等による燐拡散や燐イオン打
込み等によりドーピングを行うよりも工程数の低減等の
利点があり、従来より研究が行われ、最近になりSiH
4 (モノシラン)+PH3 (フォスフィン)系の反応ガ
スにより、550〜580℃程度の低温成膜を行うこと
で、均一性の優れた膜質で実用レベルの量産ができる様
になった。
H3 (フォスフィン)系の反応ガスを供給し、シリコン
ウェーハ上に燐ドープシリコン膜を生成する従来の燐ド
ープシリコン膜生成反応炉を縦型反応炉に於いて説明す
る。
た外部反応管であり、該外部反応管1内に筒状の内部反
応管3が設けられ、該内部反応管3により反応室が画成
される。該内部反応管3内にボート4に保持されたウェ
ーハ5が挿入される様になっている。前記外部反応管
1、内部反応管3で形成される炉内は前記ボート4が載
設される炉蓋13により気密に閉塞される様になってい
る。
応管3の下端に開口する反応ガス導入管6より導入さ
れ、導入流量は反応ガス導入管6途中に設けた流量調整
器7により調整される。
応炉では反応ガスを反応室の下端、反応ガス流れの上流
端より導入しており、反応ガスが反応室の下端より上昇
するにつれ、反応ガス中の燐が消耗される。燐ドープシ
リコン膜中の燐濃度はSiH4 分圧+PH3 分圧に対す
るPH3 分圧の比に比例すると考えられる。
iH4 分圧,PH3 分圧との関係を示し、図9(B)は
膜中に取込まれる燐濃度のZ方向の分布を示している。
は、下流側に行く程PH3 分圧が低くなり、ウェーハ間
で膜中に取込まれる燐濃度に差が生ずるという問題があ
った。
ハの燐濃度と抵抗率との関係を示しており、燐濃度の変
化で抵抗率が変化しており、燐濃度がZ方向で異なった
場合ウェーハ間で抵抗率が異なるという問題を生じてい
た。
の膜中の燐濃度、抵抗率の相違を解消しようとするもの
である。
よりシランガス及びフォスフィンガスを供給し、下流側
よりフォスフィンガスを供給することを特徴とするもの
である。
ドープシリコン膜を生成する場合に下流に向かう程フォ
スフィンガスが消費され燐濃度が低下するが、下流側よ
りフォスフィンガスを供給し、燐濃度を均一にする。
説明する。
要素には同符号を付しその説明を省略する。
入ノズル9を立設し、該反応ガス導入ノズル9には所要
数のガス導入孔10を穿設してあり、前記ボート4は図
示しない回転機構により回転される様になっている。
る様に、穿設されたガス導入孔10は上方に位置する
程、間隔が広く又孔径が大きくなっている。
それぞれ流量調整器7を介してSiH4 (モノシラン)
ガス源に接続され、又流量調整器11を介してPH
3 (フォスフィン)ガス源に接続されている。前記反応
ガス導入ノズル9は流量調整器12を介してPH3 (フ
ォスフィン)ガス源に接続されている。
4 +PH3 の混合ガスが、又反応ガス導入ノズル9の各
ガス導入孔10からはPH3 ガスが供給される。
せ、同一ウェーハ内での燐濃度を均一にする。
ル9を用い、2系列で反応ガスを供給し、更に反応ガス
導入ノズル9により反応室の上部に行く程(下流に行く
程)より多くPH3 ガスを供給する構成としてあるの
で、図9(A)に示す様なPH3 分圧の減少分を補給す
ることができ、燐濃度を略一定にすることができる。
さ方向の位置Z)に対する燐濃度の状態を図6中、曲線
Aで示す。曲線Aは若干の凹凸はあるものの、燐濃度が
略一定となったことを示している。尚、図6中曲線Bは
従来例の燐濃度の状態を示しており、本実施例と従来例
との燐濃度を比較すると燐濃度の均一化が改善されたこ
とが分る。
コン膜のステップカバレッジ(段差被覆性)は略1.0
あることが計測により確認されおり、段差被覆性も良好
であることが分かっている。更に、図7は燐ドープシリ
コン膜の深さ方向の燐濃度分布をSIMS(Secon
dary Ion Mass Spectroscop
e)を用いて測定した結果を示しており、SiO2 との
界面へのパイルアップもなく、均一性のよい燐濃度分布
が得られている。
例を示しており、上方に行く程ガス導入孔10の穿設密
度を高くしたものであり、図4で示す反応ガス導入ノズ
ル9は上方に行く程同一レベルのガス導入孔10の数を
多くしたものであり、図5で示す例は高さの異なる反応
ガス導入ノズル9a,9b,9cを複数設け、各反応ガ
ス導入ノズル9a,9b,9cに対して流量調整器12
a,12b,12cを介してPH3 を供給し、該流量調
整器12a,12b,12cはガス導入ノズル9a,9
b,9cの高さに応じてガスの供給量を変化させたもの
である。
し、複数本毎に区分けし、各区分毎に流量調整器12を
設け、複数の反応ガス導入ノズル毎に流量制御する様に
してもよい。
には、PH3 流量を少なくしなければならないが、PH
3 流量のみを少量流すと、ノズルの上方に行く程PH3
の流量を増やすという、前記反応ガス導入ノズル9の特
性が得られず、下方への流量が増えてしまうという結果
となるので、キャリアガスを混合して供給する様にす
る。キャリアガスを混合してPH3 の混合比を適宜選択
すれば、下方より上方でより多くのPH3 を供給でき
る。
ガス等があげられ、PH3 の混合比としては、1.0%
〜0.01%程度が用いられる。
したが、横型反応炉についても同様に実施可能であるこ
とは言う迄もない。
CVD膜生成と同時に行う燐ドープシリコン膜の生成を
量産ベースで具体化でき、而もウェーハ間の品質の均一
化、同一ウェーハで均質が達成できるという優れた効果
を発揮する。
例を示す説明図である。
の一例を示す説明図である。
の一例を示す説明図である。
の一例を示す説明図である。
である。
である。
図、(B)は燐ドープシリコン膜中の燐濃度を示す線図
である。
線図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 反応室上流側よりシランガス及びフォス
フィンガスを供給し、下流側よりフォスフィンガスを供
給することを特徴とする燐ドープシリコン膜成膜方法。 - 【請求項2】 下流側複数箇所でフォスフィンガスを供
給する請求項1の燐ドープシリコン膜生成方法。 - 【請求項3】 下流側に向かってフォスフィンガスの供
給量を多くした請求項2の燐ドープシリコン膜生成方
法。 - 【請求項4】 下流側で供給するフォスフィンガスを不
活性ガスに混合した請求項2又は請求項3の燐ドープシ
リコン膜生成方法。 - 【請求項5】 不活性ガスに対するフォスフィンガスの
混合比を1%以下とした請求項4の燐ドープシリコン膜
生成方法。 - 【請求項6】 反応室上流側にシランガス及びフォスフ
ィンガスを供給するノズルを設け、反応室の長手方向に
沿ってフォスフィンガスを供給する反応ガス導入ノズル
を設け、該反応ガス導入ノズルが複数箇所でフォスフィ
ンガスを供給可能としたことを特徴とする燐ドープシリ
コン膜生成反応炉。 - 【請求項7】 反応室上流側にシランガス及びフォスフ
ィンガスを供給するノズルを設け、反応室の長手方向に
沿ってフォスフィンガスを供給する反応ガス導入ノズル
を複数設け、該複数の反応ガス導入ノズルが複数箇所で
フォスフィンガスを供給可能としたことを特徴とする燐
ドープシリコン膜生成反応炉。 - 【請求項8】 反応室上流側にシランガス及びフォスフ
ィンガスを供給するノズルを設け、反応室の長手方向に
沿ってフォスフィンガスを供給する反応ガス導入ノズル
を複数設けると共に複数の流量調整器を設け、前記複数
の反応ガス導入ノズルを区分けして前記流量調整器に接
続し、該流量調整器を介してフォスフィンガスを供給す
る様構成したことを特徴とする燐ドープシリコン膜生成
反応炉。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20464993A JP3318067B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 燐ドープシリコン膜生成方法及び半導体製造装置及び半導体デバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20464993A JP3318067B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 燐ドープシリコン膜生成方法及び半導体製造装置及び半導体デバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0745529A true JPH0745529A (ja) | 1995-02-14 |
JP3318067B2 JP3318067B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=16493987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20464993A Expired - Lifetime JP3318067B2 (ja) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | 燐ドープシリコン膜生成方法及び半導体製造装置及び半導体デバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3318067B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6413833B2 (en) | 1998-01-30 | 2002-07-02 | Nec Corporation | Method for forming a CVD silicon film |
US6821871B2 (en) | 2000-06-14 | 2004-11-23 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Method for manufacturing semiconductor device, substrate treatment method, and semiconductor manufacturing apparatus |
JP2012015536A (ja) * | 2003-08-26 | 2012-01-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 半導体装置の製造方法、基板処理方法および基板処理装置 |
JP2018514084A (ja) * | 2015-04-14 | 2018-05-31 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | 基板処理装置 |
-
1993
- 1993-07-27 JP JP20464993A patent/JP3318067B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6413833B2 (en) | 1998-01-30 | 2002-07-02 | Nec Corporation | Method for forming a CVD silicon film |
US6821871B2 (en) | 2000-06-14 | 2004-11-23 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Method for manufacturing semiconductor device, substrate treatment method, and semiconductor manufacturing apparatus |
JP2012015536A (ja) * | 2003-08-26 | 2012-01-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 半導体装置の製造方法、基板処理方法および基板処理装置 |
JP2018514084A (ja) * | 2015-04-14 | 2018-05-31 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | 基板処理装置 |
US10741396B2 (en) | 2015-04-14 | 2020-08-11 | Eugene Technology Co., Ltd. | Substrate processing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3318067B2 (ja) | 2002-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7718518B2 (en) | Low temperature doped silicon layer formation | |
US6645884B1 (en) | Method of forming a silicon nitride layer on a substrate | |
US5925188A (en) | Film forming apparatus | |
US5503875A (en) | Film forming method wherein a partial pressure of a reaction byproduct in a processing container is reduced temporarily | |
US20030111013A1 (en) | Method for the deposition of silicon germanium layers | |
JPH0945597A (ja) | 半導体製造装置及びロードロック室酸素濃度の制御方法及び自然酸化膜の生成方法 | |
US5545436A (en) | CVD method and apparatus for making silicon oxide films | |
JPS60245231A (ja) | 硼燐珪酸塩ガラスの蒸着方法 | |
EP4060077A2 (en) | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and program | |
JPH05326413A (ja) | 気相成長膜の形成方法、半導体製造装置、および半 導体装置 | |
JPH0745529A (ja) | 燐ドープシリコン膜生成方法及びその反応炉 | |
EP0463863B1 (en) | Gas-phase growing method for the method | |
GB2335928A (en) | Production of semiconductors | |
KR102611684B1 (ko) | 기판 처리 방법, 반도체 장치의 제조 방법, 기판 처리 시스템 및 프로그램 | |
JPH09102463A (ja) | 成膜装置 | |
US5489446A (en) | Device for forming silicon oxide film | |
JP3359474B2 (ja) | 横型熱処理装置 | |
US6555166B2 (en) | Method for reducing the microloading effect in a chemical vapor deposition reactor | |
JP3434972B2 (ja) | 半導体素子の製造方法及びその装置 | |
US6436487B1 (en) | Method for depositing a silicon oxide film | |
US6821871B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device, substrate treatment method, and semiconductor manufacturing apparatus | |
US5792701A (en) | Conical baffle for semiconductor furnaces | |
EP0279406B1 (en) | Device for forming silicon oxide film | |
KR100518509B1 (ko) | 실리콘층의증착을위한화학기상증착장치 | |
JPH0997768A (ja) | 縦型拡散炉 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090614 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100614 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110614 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120614 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130614 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140614 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |