JPH0743356B2 - Dispenser - Google Patents

Dispenser

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JPH0743356B2
JPH0743356B2 JP2061952A JP6195290A JPH0743356B2 JP H0743356 B2 JPH0743356 B2 JP H0743356B2 JP 2061952 A JP2061952 A JP 2061952A JP 6195290 A JP6195290 A JP 6195290A JP H0743356 B2 JPH0743356 B2 JP H0743356B2
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JP
Japan
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standard solution
dispenser
piston pump
storage bottle
attached
Prior art date
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JP2061952A
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Japanese (ja)
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JPH03262962A (en
Inventor
真 塚田
一雄 大貫
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Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Handotai Co Ltd
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Publication of JPH0743356B2 publication Critical patent/JPH0743356B2/en
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J4/00Feed or outlet devices; Feed or outlet control devices
    • B01J4/008Feed or outlet control devices

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、分注器に関するもので、さらに詳しくは、イ
オンクロマトグラフィを用いてのガス分析の際使用され
る標準液を取り扱うための分注器に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a dispenser, and more specifically, a dispenser for handling a standard solution used in gas analysis using ion chromatography. It is related to vessels.

[従来の技術] 半導体集積回路の微細化・高集積化に伴って、半導体製
造工場内雰囲気のクリーン化が益々厳しいものとなって
きた。そのため、汚染原因の発明や汚染の程度を調べる
ため、半導体製造工場においては各種のガス分析が行な
われている。
[Prior Art] With the miniaturization and high integration of semiconductor integrated circuits, it has become increasingly difficult to clean the atmosphere in semiconductor manufacturing plants. Therefore, in order to investigate the invention of the cause of pollution and the degree of pollution, various gas analyzes are conducted in semiconductor manufacturing factories.

ところで、従来、半導体製造工場内雰囲気のガス分析
は、例えば、イオンクロマトグラフィ(本分析の市販品
の一つとして横河電機製のイオンクロマトアナライザー
Model IC200又はModel DS10がある)によって行われて
いたが、このイオンクロマトグラフィによるガス分析を
行なう際には、予め標準液を使用して分析装置における
検量線を求めておく必要がある。この検量線は分析対象
に応じ分析の度毎に求める必要がある。そのため、所定
濃度の標準液を貯留し保存しておき、必要に応じて適宜
に抽出できるようにしておくことが便利である。そのた
め従来次のような分注器が用いられていた。
By the way, conventionally, gas analysis of the atmosphere in a semiconductor manufacturing plant is performed by, for example, ion chromatography (as one of the commercial products of this analysis, an ion chromatograph analyzer manufactured by Yokogawa Electric Corporation).
Model IC200 or Model DS10), but when performing gas analysis by this ion chromatography, it is necessary to use a standard solution in advance to obtain a calibration curve in the analyzer. It is necessary to obtain this calibration curve for each analysis depending on the analysis target. Therefore, it is convenient to store and store a standard solution having a predetermined concentration so that the standard solution can be appropriately extracted as needed. Therefore, the following dispenser has been conventionally used.

この分注器は、標準液を貯留し保存するための保存びん
と、この保存びんに取付けられるピストンポンプとを備
えてなり、ピストンポンプによって保存びん中に貯留・
保存されている標準液を適宜抽出できるような構造にな
っている。
This dispenser comprises a storage bottle for storing and storing the standard solution, and a piston pump attached to this storage bottle, and the piston pump stores and stores the standard solution in the storage bottle.
The structure is such that the stored standard solution can be appropriately extracted.

[発明が解決しようとする課題] ところが、従来の分注器では保存びんおよびピストンポ
ンプが共にホウケイ酸低アルカリガラスによって形成さ
れていたため、次のような問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional dispenser, both the storage bottle and the piston pump were formed of borosilicate low-alkali glass, and therefore, there were the following problems.

大気中に微量存在するNOxやSOxは、半導体集積回路素子
の製造工程、またはその始発材料であるシリコン基板ウ
ェーハの汚染の原因になるので、それら不純物のレベル
の測定をすることは重要であり(環境汚染の程度による
が、SOxについてSO4 --換算で0.1〜10ng/の空気が含ま
れることがある)、これらの微量な空気中の不純物を分
析するための、検量線作成用標準液分注器の材質がパイ
レックスの場合には、その材質からのNaおよびK等のガ
ラス成分が標準液中に溶出し、それら溶出成分の分析は
勿論であるが目的とするNOxイオン又はSOxイオンの検出
も上記アルカリ金属イオンの存在の故にS/N比が低下
し、イオンクロマトグラフィの出力ピーク値などが、対
象分析化学種の濃度に対応する真の値よりも著しく大き
くなったり、またその波形が乱れて、正確な検量線の作
成が困難となる。
It is important to measure the level of these impurities because NOx and SOx, which are present in trace amounts in the atmosphere, cause contamination of the manufacturing process of semiconductor integrated circuit devices or the silicon substrate wafer that is the starting material. depending on the degree of environmental pollution, SO 4 for SOx - it may include the 0.1~10Ng / air in terms), for analyzing these trace impurities such air, the standard liquid separation for preparing the calibration curve When the material of the injector is Pyrex, the glass components such as Na and K from the material are eluted into the standard solution, and of course the analysis of these eluted components is also required to detect the target NOx ion or SOx ion. The S / N ratio decreases due to the presence of the above alkali metal ions, and the output peak value of ion chromatography becomes significantly larger than the true value corresponding to the concentration of the target analysis chemical species, and its waveform is disturbed. , It is difficult to create an accurate calibration curve.

また、従来の分注器では、ピストンポンプによって標準
液を抽出する際、液溜の上部空間を雰囲気空気に開放し
たり、或いは、ゴム風船にてピストンポンプ下部のガス
吸上管に若干の加圧をしたりしているので、前者では雰
囲気ガスからの汚染、後者からは、ゴム風船の材質に起
因する汚染が生じていた。
In addition, in the conventional dispenser, when the standard liquid is extracted by the piston pump, the upper space of the liquid reservoir is opened to atmospheric air, or a rubber balloon is used to slightly add the gas suction pipe below the piston pump. Since pressure is applied, the former causes pollution from atmospheric gas, and the latter causes pollution due to the material of the rubber balloon.

半導体工場においては今後益々分析対象が超微量化する
ので、分注器からの溶出等、標準液の汚染を防止するこ
とが必要となる。
In semiconductor factories, the amount of analytes will become extremely small in the future, so it is necessary to prevent contamination of standard solutions such as elution from dispensers.

本発明は、かかる点に鑑みてなされたもので、分注器か
らのガラス成分の溶出等が防止でき、ひいては標準液の
汚染防止が図れ、超微量不純物の分析が可能な技術を提
供することを主たる目的とする。
The present invention has been made in view of such a point, and it is possible to prevent elution of glass components from the dispenser, thereby preventing the standard solution from being contaminated, and providing a technique capable of analyzing ultratrace impurities. Is the main purpose.

[課題を解決するための手段] 本発明は、イオンクロマトグラフィを用いてのガス分析
の際使用される標準液を貯留し保存するための保存ビン
と、この保存ビンに取り付けられ該保存ビン中の標準液
を適宜に抽出するためのピストンポンプとを備えた分注
器において、上記保存ビンと上記ピストンポンプとが共
に、その含有不純物であるリチウム、ナトリウム、カリ
ウム、マグネシウムおよびカルシウムが何れも0.1ppm
(重量)以下である合成石英ガラスによって形成されて
いるとともに、上記ピストンポンプのシリンダにはガス
吸込管が付設され、このガス吸込管には、柔軟で気密性
を持ち不活性ガスを封入可能な、フィルム状シートから
なる袋が取り付けられ、当該袋に封入した不活性ガスに
よって標準液に背圧を加えつつ当該標準液を抽出するよ
うに構成されていることを特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention relates to a storage bottle for storing and storing a standard solution used in gas analysis using ion chromatography, and a storage bottle attached to the storage bottle. In a dispenser equipped with a piston pump for appropriately extracting a standard solution, both the storage bottle and the piston pump, and their contents of impurities lithium, sodium, potassium, magnesium and calcium are both 0.1 ppm.
It is made of synthetic quartz glass (weight) or less, and a gas suction pipe is attached to the cylinder of the piston pump, and this gas suction pipe is flexible and airtight and can contain an inert gas. A bag made of a film-like sheet is attached, and the standard solution is extracted while applying a back pressure to the standard solution by the inert gas sealed in the bag.

[作用] 本発明によれば、分注器を十分に高純度の合成石英ガラ
スによって形成しているので、後述する実験結果で明ら
かなように合成石英ガラスから標準液への好ましくない
ガラス成分の溶出はほとんどなく、したがって、分注器
の材質に起因する標準液の汚染低減が図れ、正確な検量
線を求めることが可能となり、高感度の分析が可能とな
る。
[Operation] According to the present invention, since the dispenser is formed of sufficiently high-purity synthetic quartz glass, as will be apparent from the experimental results described later, it is possible to remove undesired glass components from the synthetic quartz glass into the standard solution. Since there is almost no elution, the contamination of the standard solution due to the material of the dispenser can be reduced, an accurate calibration curve can be obtained, and highly sensitive analysis can be performed.

また、上記分注器の使用に際し、ピストンポンプのシリ
ンダに柔軟で十分に気密なフィルム状シート例えばポリ
プロピレンからなる袋を取り付け、その袋に封入した高
純度不活性ガスによって標準液に背圧を加えるようにす
れば、該背圧を付加する圧力源からの汚染もなく、その
分、さらに汚染の低減が図れる。
Further, when using the above dispenser, a flexible and sufficiently airtight film sheet such as a polypropylene bag is attached to the cylinder of the piston pump, and back pressure is applied to the standard solution by the high-purity inert gas enclosed in the bag. By doing so, there is no contamination from the pressure source that applies the back pressure, and the contamination can be further reduced accordingly.

[実施例] 以下、図面を参照して本発明の好適な実施例を例示的に
詳しく説明する。
[Embodiment] Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be illustratively described in detail with reference to the drawings.

第1図乃至第3図は、本発明の実施例に係る分注器を示
している。
1 to 3 show a dispenser according to an embodiment of the present invention.

この分注器1は、標準液2を貯留し保存するための保存
びん3(第2図)と、この保存びん3に貯留し保存され
ている標準液2を適宜に所定量抽出するためのピストン
ポンプ4(第3図)とから構成され、これら保存びん3
とピストンポンプ4及びピストン5その他本願発明分注
器は、例えば、サーマルシンジケート社(Thermal Synd
icate Limited)製の合成石英である合成シリカスペク
トロシル(Synthetic Vitreous Silica SPECTROSIL)か
ら作られている。
The dispenser 1 is for storing a storage bottle 3 (FIG. 2) for storing and storing the standard solution 2, and for appropriately extracting a predetermined amount of the standard solution 2 stored and stored in the storage bottle 3. It consists of a piston pump 4 (Fig. 3) and these storage bottles 3
The piston pump 4 and the piston 5 and other dispensers of the present invention are, for example, Thermal Synd
It is made from Synthetic Vitreous Silica SPECTROSIL, which is synthetic quartz manufactured by icate Limited.

合成シリカスペトロシルのカタログ分析値を次にあげ
る。
The following are the catalog analysis values of synthetic silica spectrosil.

しかもピストンポンプ4及びピストン5の摺動部は、高
精度に且つ鏡面で仕上げられ、グリースレスで、標準液
の薄膜を介して、気密且つ円滑に摺動することができ
る。
Moreover, the sliding portions of the piston pump 4 and the piston 5 are finished with high precision and a mirror surface, and can slide airtightly and smoothly through a thin film of standard liquid without grease.

ここで、ピストンポンプ4は、ピストン5と、このピス
トン5をその軸線方向(図中上下方向)に摺動可能に保
存するシリンダ6とを含んで構成されている。そして、
このピストンポンプ4におけるシリンダ6下端部外面と
上記保存びん3の開口部3a内面とには互いにグリースレ
スで気密に嵌合するような形状と仕上面を持つテーパ部
が付けられ、このテーパ部同士の結合によって、保存び
ん3にピストンポンプ4を取り付けることができるよう
になっている。
Here, the piston pump 4 includes a piston 5 and a cylinder 6 that stores the piston 5 slidably in the axial direction (vertical direction in the drawing). And
The outer surface of the lower end of the cylinder 6 of the piston pump 4 and the inner surface of the opening 3a of the storage bottle 3 are provided with a tapered portion having a shape and a finished surface which are airtightly fitted to each other without grease. The piston pump 4 can be attached to the storage bottle 3 by the connection.

シリンダ6には、その下部内側にシリンダ6よりも径の
小さい標準液吸上管7が付設されており、この標準液吸
上管7の周りには、ガス吸込管8に連通されたガス導入
部9が形成された構造となっている。また、シリンダ6
には、標準液吐出管10が付設されている。
A standard liquid suction pipe 7 having a diameter smaller than that of the cylinder 6 is attached to the inside of the lower portion of the cylinder 6, and the gas introduction pipe 7 communicated with a gas suction pipe 8 is provided around the standard liquid suction pipe 7. It has a structure in which the portion 9 is formed. Also, the cylinder 6
A standard solution discharge pipe 10 is attached to the.

上記標準液吸込管7および標準液吐出管10の途中部分に
はボール弁12,13がそれぞれ介装されている。このボー
ル弁12,13において、ボール12a,13aは共に合成石英ガラ
スによって形成されている。
Ball valves 12 and 13 are provided in the middle of the standard liquid suction pipe 7 and the standard liquid discharge pipe 10, respectively. In the ball valves 12 and 13, both balls 12a and 13a are made of synthetic quartz glass.

また、ボール12a,13aが着座するための弁座12b,13bとボ
ール12a,13aを係止するためのストッパ12c,13cは標準液
吸上管7および標準液吐出管10の内側に該標準液吸上管
7および標準液吐出管10と一体的に形成されている。
Further, the valve seats 12b, 13b for seating the balls 12a, 13a and the stoppers 12c, 13c for locking the balls 12a, 13a are provided inside the standard liquid suction pipe 7 and the standard liquid discharge pipe 10, respectively. It is formed integrally with the suction pipe 7 and the standard liquid discharge pipe 10.

また、ガス吸込管8には例えば1気圧の不活性ガスが封
入されたポリプロピレンからなる袋11が取り付けられて
いる。
Further, a bag 11 made of polypropylene in which an inert gas of 1 atm is sealed is attached to the gas suction pipe 8.

以上のように構成された本実施例の分注器1の作用につ
いて説明すれば、ピストン5を上昇させると、標準液吸
上管7から標準液2がシリンダ6内に入り込む。つま
り、ピストン5の上昇によって、シリンダ6内は保存び
ん3中の標準液2に作用する背圧及び大気に対して負圧
となるので、標準液吸込管7から標準液2がシリンダ6
に入り込む。このとき、ボール弁12を構成するボール12
aは弁座12bから離れ、ストッパ12cに突き当たった状態
にある。一方、ボール弁13を構成するボール13aは弁座1
3b側にある。
The operation of the dispenser 1 of the present embodiment configured as described above will be described. When the piston 5 is raised, the standard liquid 2 enters the cylinder 6 from the standard liquid suction pipe 7. In other words, as the piston 5 rises, the inside of the cylinder 6 becomes a back pressure acting on the standard solution 2 in the storage bottle 3 and a negative pressure with respect to the atmosphere.
Get in. At this time, the ball 12 that constitutes the ball valve 12
The a is separated from the valve seat 12b and abuts on the stopper 12c. On the other hand, the ball 13a constituting the ball valve 13 has a valve seat 1
It is on the 3b side.

その状態から今度は、ピストン5を下降させると、シリ
ンダ6内は標準液2に使用する背圧及び大気に対して正
圧となるので、標準液吐出管10から標準液2が排出され
る。このときには、ボール弁12を構成するボール12aは
弁座12b側にあり、一方、ボール弁13を構成するボール1
3aは弁座13bから離れ、ストッパ13cに突き当たった状態
にある。
When the piston 5 is lowered from this state, the internal pressure of the cylinder 6 becomes positive with respect to the back pressure used for the standard liquid 2 and the atmosphere, so that the standard liquid 2 is discharged from the standard liquid discharge pipe 10. At this time, the ball 12a forming the ball valve 12 is on the valve seat 12b side, while the ball 1 forming the ball valve 13 is
3a is in a state of being separated from the valve seat 13b and hitting the stopper 13c.

このように構成された分注器1によれば、下記のような
効果が得られる。
According to the dispenser 1 configured in this way, the following effects can be obtained.

即ち、本実施例では、分注器1を合成石英ガラスによっ
て形成しているので、分注器1から標準液2への主とし
てアリカリからなるガラス成分の溶出はほとんどなく、
したがって、分注器の材質に起因する標準液2の汚染低
減が図れ、正確な検量線を求められる結果、高感度の分
析が可能となる。
That is, in the present embodiment, since the dispenser 1 is formed of synthetic quartz glass, the glass component mainly composed of alkaline is hardly eluted from the dispenser 1 to the standard solution 2.
Therefore, the contamination of the standard solution 2 due to the material of the dispenser can be reduced, and as a result of obtaining an accurate calibration curve, highly sensitive analysis is possible.

この点について、実際に、合成石英ガラス製の分注器と
ホウケイ酸低アルカリガラス製の分注器を用いて、脱イ
オン水への各ガラスの成分溶出量を比較する実験を行な
った。その方法及び結果について以下に記載する。
With respect to this point, an experiment was actually carried out to compare the amounts of components eluted from each glass into deionized water using a dispenser made of synthetic quartz glass and a dispenser made of borosilicate low alkali glass. The method and the result are described below.

本実験においては、合成石英ガラス製の分注器と、ホウ
ケイ酸低アルカリガラスの分注器の中の標準液がどの程
度汚染するかを見極めるかであるので、それぞれの分注
器に、比抵抗18.2MSL、溶存酸素(DC)濃度0.1ppmの脱
イオン水を入れ、24時間室温で放置後、それら脱イオン
水について、通常の手続にて、イオンクロマトグラフィ
によって、不純物に対応する出力ピーク値を計ったとこ
ろ、第2の結果を得た。ホウケイ酸低アルカリガラスと
しては、パイレックスガラスを用いた。また各分注器の
ピストンポンプのシリンダにはポリプロピレンからなる
袋を取付けその袋の中に高純度N2ガスを封入した。
In this experiment, it was decided to determine how much the standard solution in the dispenser made of synthetic quartz glass and the dispenser of borosilicate low-alkali glass would be contaminated. Put deionized water with a resistance of 18.2 MSL and dissolved oxygen (DC) concentration of 0.1 ppm, leave it at room temperature for 24 hours, and then, for these deionized water, set the output peak value corresponding to impurities by ion chromatography in the usual procedure. When measured, a second result was obtained. Pyrex glass was used as the borosilicate low-alkali glass. In addition, a polypropylene bag was attached to the cylinder of the piston pump of each dispenser, and high-purity N 2 gas was enclosed in the bag.

同表から、パイレックスガラスを用いた場合には、相当
なアルカリ金属の汚染があることがわかる。元素は、分
注器の構造からして、液溜の器壁からの溶出、上部ピス
トンポンプの摺動部からの溶出、その他ボールチャック
弁からの溶出が考えられる。NH4+のピークが測定された
理由は明らかでない。
From the table, it can be seen that when Pyrex glass is used, there is considerable alkali metal contamination. Due to the structure of the dispenser, the elements may be eluted from the vessel wall of the liquid reservoir, from the sliding part of the upper piston pump, or from the ball chuck valve. It is not clear why the NH 4+ peak was measured.

しかしながら合成石英ガラスを材質とした場合には、全
く出力ピークは検出されなかった。
However, when synthetic quartz glass was used as the material, no output peak was detected.

更に合成石英ガラス製の分注器を2つ用意し一方のピス
トンポンプのシリンダのみにポリプロピレンからなる袋
を取付け、その内部に高純度N2ガスを封入、他方は、雰
囲気空気に直接開放した。これに、それぞれ比抵抗18.2
MΩ、溶存酸素(DO)溶液0.1ppmの脱イオン水を入れ、
約24時間室温で放置後、それら脱イオン水について、通
常の手続にて、イオンクロマトグラフィによって、その
出力ピークを測定した。その結果を表3に示す。
Further, two dispensers made of synthetic quartz glass were prepared, a polypropylene bag was attached only to the cylinder of one piston pump, high-purity N 2 gas was sealed inside, and the other was opened directly to atmospheric air. This has a specific resistance of 18.2
MΩ, deionized water of dissolved oxygen (DO) solution 0.1ppm,
After being left at room temperature for about 24 hours, the output peak of the deionized water was measured by ion chromatography in a usual procedure. The results are shown in Table 3.

同表からポリプロピレン袋を備えない分注器について
は、アンモニアイオンが検出されたがこれは雰囲気中の
アンモニア分子又はアンモニア化合物微粒子によるもの
と考えられる。これに対し、ポリプロピレン袋を備えた
場合には、完全にその出力ピークはゼロである。
From the table, ammonia ions were detected in the dispenser not equipped with a polypropylene bag, which is considered to be due to ammonia molecules or ammonia compound fine particles in the atmosphere. On the other hand, when the polypropylene bag is provided, the output peak is completely zero.

次に、半導体ウェーハ製造工場内の雰囲気について、そ
の中の窒素酸化物及び硫黄酸化物を測定する。先ず測定
に先だって、予め、分析対象のイオンが溶存する標準液
を所定の濃度に希釈した溶液を必要数用意して、イオン
クロマトグラフィにより分析を行ない、各濃度の分析の
際に得られたピーク高さを濃度に対してプロットして検
量線をひいておいた。
Next, nitrogen oxide and sulfur oxide in the atmosphere in the semiconductor wafer manufacturing plant are measured. First, prior to measurement, prepare a required number of solutions prepared by diluting the standard solution in which the ions to be analyzed are dissolved to a predetermined concentration, and analyze by ion chromatography to obtain the peak heights obtained during the analysis of each concentration. The concentration was plotted against the concentration and a calibration curve was drawn.

この場合、一般的にはイオンクロマトグラフィのピーク
高さと分析機器内にとり込まれて検出されたイオン数と
は正比例関係にあるので、溶液内のイオン濃度が均一で
あれば、ピーク高さと溶液のイオン濃度とは正比例する
ことになる。したがって、高純度窒素封入のポリプロピ
レン袋をピストンシリンダに取付けた分注器により検量
線を作成すれば、この分注器自身に起因する誤測定要素
がないので、実際の測定において、その吸収ビンの材質
に同様な考慮をすれば雰囲気中の微量不純物を高精度に
測定できることになる。
In this case, in general, the peak height of ion chromatography and the number of ions detected in the analytical instrument are in direct proportion, so if the ion concentration in the solution is uniform, the peak height and the ions in the solution It is directly proportional to the concentration. Therefore, if a calibration curve is created by a pipette with a high-purity nitrogen-filled polypropylene bag attached to the piston cylinder, there is no erroneous measurement element due to the pipette itself. If the same consideration is given to the material, trace impurities in the atmosphere can be measured with high accuracy.

先ず、検量線作成のために、本願発明の高純度の合成石
英ガラスで作られたメスフラスコを用いて、標準溶液を
調整する。即ち、JIS特級試薬NaNO2,NaNO3およびK2SO4
を適当量110℃で2時間乾燥後、デシケーター中で保管
冷却し、次いで電子天秤でそれぞれ次の量を±0.0003g
の精度で計り、 NaNo2:0.1500±0.0003g NaNO3:0.2741±0.0003g K2SO4:0.3628±0.0003g 純水を用いて、メスフラスコ中で1(25℃)の水溶液
を作成し、これらを検量線標準母溶液とし、更に前記検
量線標準母溶液をさらにマイクロピペットおよびメスフ
ラスコを用い、測定レベルに近いところで、3種類の標
準試料溶液を作り、これを実際にイオンクロマトグラフ
ィにかけて、その出力ピーク長さ等を測定する。
First, in order to prepare a calibration curve, a standard solution is prepared using a measuring flask made of high-purity synthetic quartz glass of the present invention. That is, JIS special grade reagents NaNO 2 , NaNO 3 and K 2 SO 4
After drying at 110 ℃ for 2 hours, store and cool in a desiccator, then use an electronic balance to adjust the following amounts to ± 0.0003g.
With the accuracy of NaNo 2 : 0.1500 ± 0.0003g NaNO 3 : 0.2741 ± 0.0003g K 2 SO 4 : 0.3628 ± 0.0003g Using pure water, make an aqueous solution of 1 (25 ℃) in a volumetric flask. As a calibration curve standard mother solution, and further using the above-mentioned calibration curve standard mother solution with a micropipette and a measuring flask, three kinds of standard sample solutions are prepared at the measurement level, and actually subjected to ion chromatography, and the output Measure peak length etc.

次に、分注器と同一材質の合成石英ガラス製の吸収具に
よって半導体ウェーハ製造工場内の空調外気取入口と、
半導体ウェーハの最終製品(鏡面加工ウェーハ)の洗浄
室における空気中の窒素酸化物、硫黄酸化物をそれぞれ
NO2 -,NO3 -およびSO4 2-の形で定量した。これらのイオン
は、空気中でNO,NO2およびSO3として存在すると見る。
Next, with an absorber made of synthetic quartz glass of the same material as the dispenser, the outside air intake of the air conditioner in the semiconductor wafer manufacturing plant,
Nitrogen oxides and sulfur oxides in the air in the cleaning room for semiconductor wafer final products (mirror-finished wafers), respectively
NO 2 -, NO 3 - were determined by and SO 4 2-form. These ions appear to exist as NO, NO 2 and SO 3 in air.

吸収液は、温度25℃一定で、比抵抗18.2MΩ、溶存酸素
(DO)濃度0.1ppmの脱イオン水30mlを吸収びんに入れ、
速やかに吸排具部を嵌合する。また、サンプリング開始
迄は吸収液への大気のコンタミネーションがないように
キャップをする。サンプリングする際吸収ポンプの流量
を50n ml/minに設定し、10分間計500n ml吸引する。吸
引後、速やかな吸排ノズル部をキャップし、イオンクロ
マトアナライザーにて測定する。
As the absorbing liquid, 30 ml of deionized water having a specific resistance of 18.2 MΩ and a dissolved oxygen (DO) concentration of 0.1 ppm was placed in an absorption bottle at a constant temperature of 25 ° C.
Promptly fit the suction and discharge device. In addition, until the sampling starts, cap the absorption liquid so that there is no atmospheric contamination. At the time of sampling, set the flow rate of the absorption pump to 50 nml / min and aspirate a total of 500 nml for 10 minutes. After suction, quickly cap the suction nozzle and measure with an ion chromatograph analyzer.

前述検量線を用いて定量した測定例を次表に示す。The following table shows an example of measurement quantified using the above calibration curve.

[発明の効果] 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりであ
る。
[Effects of the Invention] The effects obtained by the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

本発明によれば、標準液を貯留し保存するための保存び
んと、この保存びんに取付けられ該保存びん中の標準液
を適宜に抽出するためのピストンポンプとを備えたイオ
ンクロマトグラフィ用の分注器において、上記保存びん
とピストンポンプとを合成石英ガラスによって形成した
ので、合成石英ガラスから標準液へのガラス成分の溶出
はほとんどなく、標準液は汚染されなくなりしたがっ
て、高感度の分析が可能となる。
According to the present invention, a storage bottle for storing and storing a standard solution, and a component for ion chromatography provided with a piston pump attached to the storage bottle for appropriately extracting the standard solution in the storage bottle. In the injector, the storage bottle and piston pump were made of synthetic quartz glass, so there was almost no elution of glass components from the synthetic quartz glass to the standard solution, and the standard solution was not contaminated, enabling high-sensitivity analysis. Becomes

また、上記分注器の使用に際し、例えば、ポリプロピレ
ンに封入したガスによって標準液に背圧を加えるように
すればさらに標準液の汚染が妨げる。
Further, when the dispenser is used, for example, if back pressure is applied to the standard solution by a gas sealed in polypropylene, the contamination of the standard solution is further hindered.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は実施例の分注器の縦断面図、 第2図は実施例の分注器における保存ビンの正面図、 第3図は実施例の分注器におけるピストンポンプの正面
図である。 1……分注器、2……標準液、3……保存びん、4……
ピストンポンプ。
FIG. 1 is a vertical cross-sectional view of a dispenser of the embodiment, FIG. 2 is a front view of a storage bottle in the dispenser of the embodiment, and FIG. 3 is a front view of a piston pump in the dispenser of the embodiment. . 1 ... Dispenser, 2 ... Standard solution, 3 ... Storage bottle, 4 ...
Piston pump.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 1/00 102 C 1/10 N ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location G01N 1/00 102 C 1/10 N

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】イオンクロマトグラフィを用いてのガス分
析の際使用される標準液を貯留し保存するための保存ビ
ンと、この保存ビンに取り付けられ該保存ビン中の標準
液を適宜に抽出するためのピストンポンプとを備えた分
注器において、上記保存ビンと上記ピストンポンプとが
共に、その含有不純物であるリチウム、ナトリウム、カ
リウム、マグネシウムおよびカルシウムが何れも0.1ppm
(重量)以下である合成石英ガラスによって形成されて
いるとともに、上記ピストンポンプのシリンダにはガス
吸込管が付設され、このガス吸込管には、柔軟で気密性
を持ち不活性ガスを封入可能な、フィルム状シートから
なる袋が取り付けられ、当該袋に封入した不活性ガスに
よって標準液に背圧を加えつつ当該標準液を抽出するよ
うに構成されていることを特徴とする分注器。
1. A storage bottle for storing and storing a standard solution used in gas analysis using ion chromatography, and for appropriately extracting the standard solution attached to this storage bottle. In the dispenser equipped with the piston pump, both the storage bottle and the piston pump have 0.1 ppm of impurities contained therein, such as lithium, sodium, potassium, magnesium and calcium.
It is made of synthetic quartz glass (weight) or less, and a gas suction pipe is attached to the cylinder of the piston pump, and this gas suction pipe is flexible and airtight and can contain an inert gas. A dispenser characterized in that a bag made of a film-like sheet is attached, and the standard solution is extracted while applying back pressure to the standard solution by an inert gas sealed in the bag.
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JPS6385450A (en) * 1986-09-25 1988-04-15 ザ ダウ ケミカル カンパニ− High-performance anion-exchange chromatographic filling composition
JPS6482526A (en) * 1987-09-25 1989-03-28 Shinetsu Handotai Kk Jig for manufacturing semiconductor made of quartz glass

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