JPH0742195Y2 - 試験装置付き地絡保護継電器 - Google Patents
試験装置付き地絡保護継電器Info
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- JPH0742195Y2 JPH0742195Y2 JP1986189664U JP18966486U JPH0742195Y2 JP H0742195 Y2 JPH0742195 Y2 JP H0742195Y2 JP 1986189664 U JP1986189664 U JP 1986189664U JP 18966486 U JP18966486 U JP 18966486U JP H0742195 Y2 JPH0742195 Y2 JP H0742195Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 考案の目的 （産業上の利用分野） この考案は高圧需要家の受電点に設けられ、地絡事故が
受電点よりも電源側か、負荷側かを判定して負荷側の場
合には開閉器を開放動作させる地絡保護継電器に係り、
詳しくは試験装置付きの地絡保護継電器に関するもので
ある。
受電点よりも電源側か、負荷側かを判定して負荷側の場
合には開閉器を開放動作させる地絡保護継電器に係り、
詳しくは試験装置付きの地絡保護継電器に関するもので
ある。
（従来の技術） 一般的に保護継電器は安定した機能保持を図るため試験
用端子を有しており、同端子に対し別途用意した試験機
材を接続し、同継電器から開閉器へのトリップ信号出力
用制御線を取外し、開閉器を投入状態として需要家への
電力供給に支障を来たさない状態にし、動作レベル以上
の試験信号を印加して単に出力用リレーが動作するか否
かを確認したり、あるいは動作時の入力レベルを測定し
て測定値に対して動作値が許容誤差範囲内にあるかどう
かを確認できるようにしている。
用端子を有しており、同端子に対し別途用意した試験機
材を接続し、同継電器から開閉器へのトリップ信号出力
用制御線を取外し、開閉器を投入状態として需要家への
電力供給に支障を来たさない状態にし、動作レベル以上
の試験信号を印加して単に出力用リレーが動作するか否
かを確認したり、あるいは動作時の入力レベルを測定し
て測定値に対して動作値が許容誤差範囲内にあるかどう
かを確認できるようにしている。
（考案が解決しようとする問題点） ところが、前記試験時には試験機材の運搬、又、この機
材の接続といった具合に試験作業が面倒であるばかり
か、前記開閉器のトリップ信号用制御線の外し忘れによ
る需要家への停電事故といった虞も考えられ、作用には
充分注意する必要があった。
材の接続といった具合に試験作業が面倒であるばかり
か、前記開閉器のトリップ信号用制御線の外し忘れによ
る需要家への停電事故といった虞も考えられ、作用には
充分注意する必要があった。
そこで、この考案の保護継電器は試験装置を一体に備
え、自己試験時における操作が簡単な試験装置付き地絡
保護継電器を提供することにある。
え、自己試験時における操作が簡単な試験装置付き地絡
保護継電器を提供することにある。
考案の構成 （問題点を解決するための手段） この考案は実働モードから試験モードに切換える試験開
始手段と、試験モードにおいて試験信号を付与する試験
信号付与手段と、前記試験信号がトリップ信号出力条件
を満したとき、トリップ出力を阻止する第１の試験モー
ド又はトリップの出力を許容する第２の試験モードとの
いずれかの試験モードに選択的に切換える切換手段と、
前記試験開始手段が試験モードに切換操作されたとき、
前記切換手段により試験モードの設定状態を判別し、第
２の試験モードに設定されているときには前記制御手段
による開閉器へのトリップ信号の出力を阻止する阻止手
段とを備えたことをその要旨とするものである。
始手段と、試験モードにおいて試験信号を付与する試験
信号付与手段と、前記試験信号がトリップ信号出力条件
を満したとき、トリップ出力を阻止する第１の試験モー
ド又はトリップの出力を許容する第２の試験モードとの
いずれかの試験モードに選択的に切換える切換手段と、
前記試験開始手段が試験モードに切換操作されたとき、
前記切換手段により試験モードの設定状態を判別し、第
２の試験モードに設定されているときには前記制御手段
による開閉器へのトリップ信号の出力を阻止する阻止手
段とを備えたことをその要旨とするものである。
（作用） あらかじめ切換手段による第２の試験モードに切換設定
されている状態で試験開始手段を実働モードから試験モ
ードに切替えたとき、試験信号付与手段から付与された
試験信号がトリップ信号出力条件を満足しても阻止手段
は制御手段のトリップ出力を阻止する。
されている状態で試験開始手段を実働モードから試験モ
ードに切替えたとき、試験信号付与手段から付与された
試験信号がトリップ信号出力条件を満足しても阻止手段
は制御手段のトリップ出力を阻止する。
（実施例） 以下、この考案を具体化した一実施例を第１図〜第４図
に従って説明する。
に従って説明する。
まず、この保護継電器の電気的構成を第１図に従って説
明する。
明する。
電流変成器CTは各相毎に配電線路43に取着され、配電線
路43に流れる主回路電流Ｉを検出すると、電流変成器１
に出力する。電流変成器１は計測信号としてその零相電
流を所定の電流値に変換し、過入力保護回路２を介して
その主回路電流Ｉを最大相入力電流検出回路３へ出力す
る。
路43に流れる主回路電流Ｉを検出すると、電流変成器１
に出力する。電流変成器１は計測信号としてその零相電
流を所定の電流値に変換し、過入力保護回路２を介して
その主回路電流Ｉを最大相入力電流検出回路３へ出力す
る。
最大相入力電流検出回路３は各相から入力した主回路電
流Ｉを互いに比較し、最大値の主回路電流Ｉをレベル変
換回路４、A/D変換器５を介してディジタル値に変換し
た後、中央処理制御装置28に出力する。
流Ｉを互いに比較し、最大値の主回路電流Ｉをレベル変
換回路４、A/D変換器５を介してディジタル値に変換し
た後、中央処理制御装置28に出力する。
前記配電線路43の二相に接続された電源用トランス６の
二次側には低圧トランス７が接続され、同低圧トランス
７の二次側は次段以降の各回路を保護するための過入力
保護回路８を介して定電圧回路９、電源断検出回路10、
試験回路25に接続されている。前記定電圧回路９は保護
継電器の各回路に対して電源として接続されている。
又、電源断検出回路10は後記中央処理制御装置28に接続
され、前記低圧トランス７、過入力保護回路８、定電圧
回路９等から構成される電源回路の制御電圧が計測信号
として出力するようになっている。
二次側には低圧トランス７が接続され、同低圧トランス
７の二次側は次段以降の各回路を保護するための過入力
保護回路８を介して定電圧回路９、電源断検出回路10、
試験回路25に接続されている。前記定電圧回路９は保護
継電器の各回路に対して電源として接続されている。
又、電源断検出回路10は後記中央処理制御装置28に接続
され、前記低圧トランス７、過入力保護回路８、定電圧
回路９等から構成される電源回路の制御電圧が計測信号
として出力するようになっている。
又、電源断検出回路10には無電圧スイッチ11が設けら
れ、無電圧スイッチ11をオン操作すると、後記中央処理
制御装置28に無電圧信号（変電所トリップ状態のときに
出力する信号と同じ信号）を出力するようになってい
る。又、電源断検出回路10には試験零相電流用チェック
端子10a、試験零相電圧用チェック端子10bが設けられて
おり、後記試験回路25にて各試験信号が中央処理制御回
路28に印加されたとき、その印加された試験零相電流、
試験零相電圧を各チェック端子10a,10bに接続されるテ
スタにてチェックできるようになっている。
れ、無電圧スイッチ11をオン操作すると、後記中央処理
制御装置28に無電圧信号（変電所トリップ状態のときに
出力する信号と同じ信号）を出力するようになってい
る。又、電源断検出回路10には試験零相電流用チェック
端子10a、試験零相電圧用チェック端子10bが設けられて
おり、後記試験回路25にて各試験信号が中央処理制御回
路28に印加されたとき、その印加された試験零相電流、
試験零相電圧を各チェック端子10a,10bに接続されるテ
スタにてチェックできるようになっている。
又、この地絡保護継電器の電源回路には配電線路43が無
電圧になったときのバックアップ用電源（図示しない）
を備えており、配電線路43の無電圧時においてこの保護
継電器の各種回路に制御電圧を供給するようになってい
る。
電圧になったときのバックアップ用電源（図示しない）
を備えており、配電線路43の無電圧時においてこの保護
継電器の各種回路に制御電圧を供給するようになってい
る。
零相電流変成器ZCTは配電線路43に取着され、配電線路4
3に流れる零相電流I0を検出すると、その検出値（すな
わち、電路状態の計測信号）を電流変成器12に出力す
る。電流変成器12はその零相電流I0に所定の電流値、及
び電圧値に変換し、過入力保護回路13を介してその零相
電流I0をフィルタ回路14へ出力する。フィルタ回路14は
入力した零相電流I0を所望の信号に濾波してレベル変換
回路15及び位相パルス発生回路16に出力する。
3に流れる零相電流I0を検出すると、その検出値（すな
わち、電路状態の計測信号）を電流変成器12に出力す
る。電流変成器12はその零相電流I0に所定の電流値、及
び電圧値に変換し、過入力保護回路13を介してその零相
電流I0をフィルタ回路14へ出力する。フィルタ回路14は
入力した零相電流I0を所望の信号に濾波してレベル変換
回路15及び位相パルス発生回路16に出力する。
レベル変換回路15に入力された零相電流I0はA/D変換器1
7を介してディジタル値に変換され、中央処理制御装置2
8に入力するようになっている。又、位相パルス発生回
路16を介して入力された零相電流I0はパルス信号に波形
成形され、同じく後記中央処理制御装置28に入力され
る。
7を介してディジタル値に変換され、中央処理制御装置2
8に入力するようになっている。又、位相パルス発生回
路16を介して入力された零相電流I0はパルス信号に波形
成形され、同じく後記中央処理制御装置28に入力され
る。
零相電圧検出用コンデンサZPDは配電線路43に取着さ
れ、配電線路43に流れる零相電圧V0を検出すると、その
検出値（すなわち、電路状態の計測信号）を電流変成器
18、過入力保護回路19を介してその零相電圧V0をフィル
タ回路20へ出力する。フィルタ回路20は入力した零相電
圧V0を所望の信号に濾波してレベル変換回路21及び位相
パルス発生回路22に出力する。
れ、配電線路43に流れる零相電圧V0を検出すると、その
検出値（すなわち、電路状態の計測信号）を電流変成器
18、過入力保護回路19を介してその零相電圧V0をフィル
タ回路20へ出力する。フィルタ回路20は入力した零相電
圧V0を所望の信号に濾波してレベル変換回路21及び位相
パルス発生回路22に出力する。
レベル変換回路21に入力された零相電圧V0はA/D変換器2
3を介してディジタル値に変換され、中央処理制御装置2
8に入力するようになっている。又、位相パルス発生回
路22は入力された零相電流V0をパルス信号に波形成形さ
れた後、同じく後記中央処理制御装置28に出力するよう
になっている。
3を介してディジタル値に変換され、中央処理制御装置2
8に入力するようになっている。又、位相パルス発生回
路22は入力された零相電流V0をパルス信号に波形成形さ
れた後、同じく後記中央処理制御装置28に出力するよう
になっている。
試験信号付与手段としての試験回路25はこの地絡保護継
電器のケース内に配置されており、試験零相電流信号、
試験零相電圧信号を中央処理制御装置28に対して印加す
るための信号印加用ボリュームがそれぞれ設けられ、そ
の信号印加用ボリュームをそれぞれ調節することによ
り、各試験信号の大きさを変更できるようになってい
る。又、試験回路25には試験動作位相差切換えスイッチ
26が設けられ、切換スイッチ26を動作モードに切換え操
作したときには前記試験零相電流信号の位相と試験零相
電圧信号の位相との位相差が動作位相差範囲内になるよ
うに設定される。
電器のケース内に配置されており、試験零相電流信号、
試験零相電圧信号を中央処理制御装置28に対して印加す
るための信号印加用ボリュームがそれぞれ設けられ、そ
の信号印加用ボリュームをそれぞれ調節することによ
り、各試験信号の大きさを変更できるようになってい
る。又、試験回路25には試験動作位相差切換えスイッチ
26が設けられ、切換スイッチ26を動作モードに切換え操
作したときには前記試験零相電流信号の位相と試験零相
電圧信号の位相との位相差が動作位相差範囲内になるよ
うに設定される。
又、反対に切換スイッチ26を不動作モードに切換え操作
したときには前記試験零相電流信号と試験零相電圧信号
とが動作位相差範囲外の位相差になるように設定され
る。そして、このように動作位相差範囲内又は動作位相
差範囲外に設定された前記試験零相電流信号は過入力保
護回路13に印加され、又、試験零相電圧信号は過入力保
護回路19に印加される。
したときには前記試験零相電流信号と試験零相電圧信号
とが動作位相差範囲外の位相差になるように設定され
る。そして、このように動作位相差範囲内又は動作位相
差範囲外に設定された前記試験零相電流信号は過入力保
護回路13に印加され、又、試験零相電圧信号は過入力保
護回路19に印加される。
試験開始手段としての試験開始スイッチ24は試験回路25
に設けられ、地絡保護動作等を行なう実働モードから試
験モードに切替えるときに使用される。又、切換手段と
してのモード切換スイッチ27は試験回路25に設けられ、
試験モードにおける第１の試験モード又は第２の試験モ
ードに選択的に切換可能になっている。
に設けられ、地絡保護動作等を行なう実働モードから試
験モードに切替えるときに使用される。又、切換手段と
してのモード切換スイッチ27は試験回路25に設けられ、
試験モードにおける第１の試験モード又は第２の試験モ
ードに選択的に切換可能になっている。
制御手段及び阻止手段としての中央処理制御装置（以
下、CPUという）28は前記主回路電流Ｉと制御電圧Ｖと
を設定された時間毎に読込むようになっている。又、CP
U28は設定された時間毎に両位相パルス発生回路16,22か
ら入力した信号の立上がりの時間差をクロックパルスで
カウントし、この時間差を零相電流I0と零相電圧V0との
位相差ψとして演算処理する。又、CPU28は前記零相電
流I0と、零相電圧V0を設定された時間毎に読込む。さら
に、CPU28の入力ポートには零相電流整定回路29及び零
相電圧整定回路30、並びに位相差整定回路31及び動作時
間整定回路32が接続されている。
下、CPUという）28は前記主回路電流Ｉと制御電圧Ｖと
を設定された時間毎に読込むようになっている。又、CP
U28は設定された時間毎に両位相パルス発生回路16,22か
ら入力した信号の立上がりの時間差をクロックパルスで
カウントし、この時間差を零相電流I0と零相電圧V0との
位相差ψとして演算処理する。又、CPU28は前記零相電
流I0と、零相電圧V0を設定された時間毎に読込む。さら
に、CPU28の入力ポートには零相電流整定回路29及び零
相電圧整定回路30、並びに位相差整定回路31及び動作時
間整定回路32が接続されている。
零相電流整定回路29はこの地絡保護継電器のトリップ信
号出力条件の一つである動作零相電流整定値I1を整定す
るためのものであり、零相電圧整定回路30はこの地絡保
護継電器のトリップ信号出力条件の一つである動作零相
電圧整定値V1を整定するためのものである。又、位相差
整定回路31はこの地絡保護継電器のトリップ信号出力条
件の一つである動作位相範囲を整定するためのものであ
り、動作位相範囲を設定するために位相の遅れの設定値
ψ１と進みの整定値ψ２が設定可能になっている。
号出力条件の一つである動作零相電流整定値I1を整定す
るためのものであり、零相電圧整定回路30はこの地絡保
護継電器のトリップ信号出力条件の一つである動作零相
電圧整定値V1を整定するためのものである。又、位相差
整定回路31はこの地絡保護継電器のトリップ信号出力条
件の一つである動作位相範囲を整定するためのものであ
り、動作位相範囲を設定するために位相の遅れの設定値
ψ１と進みの整定値ψ２が設定可能になっている。
動作時間整定回路32はCPU28が入力する零相電圧V0と零
相電流I0とが所定時間T1継続して入力されているかを判
定するためにこの地絡保護継電器のトリップ信号出力条
件の一つであるその時間T1を整定するためのものであ
る。各整定回路29〜32はこの保護継電器の本体ケースの
外部からその整定値を変更可能になっている。
相電流I0とが所定時間T1継続して入力されているかを判
定するためにこの地絡保護継電器のトリップ信号出力条
件の一つであるその時間T1を整定するためのものであ
る。各整定回路29〜32はこの保護継電器の本体ケースの
外部からその整定値を変更可能になっている。
又、CPU28には配電線路43を保護するためのトリップ出
力用リレー37が接続されるとともに、表示部駆動回路3
9,40を介して地絡表示器41及び過電流表示器42が接続さ
れている。
力用リレー37が接続されるとともに、表示部駆動回路3
9,40を介して地絡表示器41及び過電流表示器42が接続さ
れている。
そして、CPU28はROMより構成されるプログラムメモリ
（図示しない）、読出し書込み可能なメモリ（RAM）か
らなる内部メモリ44を始め各種のメモリを備えている。
前記プログラムメモリ内にはこの地絡保護継電器が保護
動作をするための制御プログラム、前記表示器41,42を
制御するための表示器制御プログラム、試験モードにお
ける試験制御プログラム等の各種プログラムが格納され
ている。
（図示しない）、読出し書込み可能なメモリ（RAM）か
らなる内部メモリ44を始め各種のメモリを備えている。
前記プログラムメモリ内にはこの地絡保護継電器が保護
動作をするための制御プログラム、前記表示器41,42を
制御するための表示器制御プログラム、試験モードにお
ける試験制御プログラム等の各種プログラムが格納され
ている。
上記のように構成された地絡保護継電器の実働モードか
ら試験モードへ切換え操作したときの作用を第３図のフ
ローチャートに従って説明する。
ら試験モードへ切換え操作したときの作用を第３図のフ
ローチャートに従って説明する。
モード切換スイッチ27が第２の試験モードに切換られて
いる状態で、試験開始スイッチ24を実働モードから試験
モードへ切換操作すると、CPU28は各スイッチ24,27がど
のモードに設定されているかを各スイッチ24,27から入
力されるオン信号に基づいて内部メモリ44のアドレスα
にテストスイッチデータを格納する。すなわち、ステッ
プ101（以下ステップをＳであらわす）において試験モ
ードに設定されているか実働モードに設定されているか
否かを判別するためのTESTスイッチデータα０、第１の
試験モードに設定されているか否かのTEST1スイッチデ
ータα１、又は第２の試験モードに設定されているか否
かのTEST2スイッチデータα２を所定の記憶領域に記憶
する。
いる状態で、試験開始スイッチ24を実働モードから試験
モードへ切換操作すると、CPU28は各スイッチ24,27がど
のモードに設定されているかを各スイッチ24,27から入
力されるオン信号に基づいて内部メモリ44のアドレスα
にテストスイッチデータを格納する。すなわち、ステッ
プ101（以下ステップをＳであらわす）において試験モ
ードに設定されているか実働モードに設定されているか
否かを判別するためのTESTスイッチデータα０、第１の
試験モードに設定されているか否かのTEST1スイッチデ
ータα１、又は第２の試験モードに設定されているか否
かのTEST2スイッチデータα２を所定の記憶領域に記憶
する。
次に、CPU28は格納したTESTスイッチデータα０を読出
し、その読出したデータα０に基づいて実働モードか試
験モードかを判定する（S102）。このとき、試験開始ス
イッチ24は試験モードに切換え設定されているためYES
と判定し、次にCPU28はTEST2スイッチデータα２を読出
し、その読出したデータα２に基づいて第２の試験モー
ドかを判定する（S103）。このとき、モード切換スイッ
チ27は第２の試験モードに切換え設定されているためYE
Sと判定し、S104に移行する。S104においてCPU28は内部
メモリ44のアドレスβを読出し、TEST1受付フラグβ２
がセットされているか否かを判定する。
し、その読出したデータα０に基づいて実働モードか試
験モードかを判定する（S102）。このとき、試験開始ス
イッチ24は試験モードに切換え設定されているためYES
と判定し、次にCPU28はTEST2スイッチデータα２を読出
し、その読出したデータα２に基づいて第２の試験モー
ドかを判定する（S103）。このとき、モード切換スイッ
チ27は第２の試験モードに切換え設定されているためYE
Sと判定し、S104に移行する。S104においてCPU28は内部
メモリ44のアドレスβを読出し、TEST1受付フラグβ２
がセットされているか否かを判定する。
最初はTEST1受付フラグβ２はセットされていないためN
Oと判定し、S106で内部メモリ44のアドレスγにTEST2ア
ラーム表示データをセットするとともに、S107で内部メ
モリ44のアドレスδにTEST2アラームフラグをセットす
る。すると、CPU28は表示プログラムに基づいて動作す
る際にこれらセットされたアラーム表示データ及びアラ
ームフラグを読込み、それらのデータに基づいて警報ア
ラーム及び表示器（ともに図示しいな）を警報動作さ
せ、S101に戻る。
Oと判定し、S106で内部メモリ44のアドレスγにTEST2ア
ラーム表示データをセットするとともに、S107で内部メ
モリ44のアドレスδにTEST2アラームフラグをセットす
る。すると、CPU28は表示プログラムに基づいて動作す
る際にこれらセットされたアラーム表示データ及びアラ
ームフラグを読込み、それらのデータに基づいて警報ア
ラーム及び表示器（ともに図示しいな）を警報動作さ
せ、S101に戻る。
前記警報アラーム及び表示器の警報により、作業員が気
づいてモード切換スイッチ27を第１の試験モードに切換
えると、S102がYES、S103がNO、S108がYESと判定され、
S109に移行する。S109においてCPU28は内部メモリ44の
アドレスβにTEST1受付フラグβ２をセットし、S110で
アドレスγ，δの内容をクリヤする。
づいてモード切換スイッチ27を第１の試験モードに切換
えると、S102がYES、S103がNO、S108がYESと判定され、
S109に移行する。S109においてCPU28は内部メモリ44の
アドレスβにTEST1受付フラグβ２をセットし、S110で
アドレスγ，δの内容をクリヤする。
そして、作業員が次にモード切換スイッチ27を第１の試
験モードから第２の試験モードに切換えると、CPU28はS
102,S103及びS104においてそれぞれYESと判定し、S105
でアドレスβにTEST2受付可フラブをセットする。
験モードから第２の試験モードに切換えると、CPU28はS
102,S103及びS104においてそれぞれYESと判定し、S105
でアドレスβにTEST2受付可フラブをセットする。
このようにして、試験開始スイッチ24が試験モードに切
換えられたとき、すでにモード切換スイッチ27が第２の
試験モードに切換設定されているときは第１の試験モー
ドに一旦切換しない限り表示器、警報アラームは警報を
継続する。なお、S102において、試験モードでないと判
定すると、CPU28はS111で内部メモリ44のアドレスβの
内容をクリヤする。
換えられたとき、すでにモード切換スイッチ27が第２の
試験モードに切換設定されているときは第１の試験モー
ドに一旦切換しない限り表示器、警報アラームは警報を
継続する。なお、S102において、試験モードでないと判
定すると、CPU28はS111で内部メモリ44のアドレスβの
内容をクリヤする。
次に地絡保護試験時における作用を第４図に示すフロー
チャートに従って説明する。
チャートに従って説明する。
CPU28は試験開始スイッチ24が試験モードに切換えられ
ている状態でモード切換スイッチ27が実働モードから第
１の試験モード又は第２の試験モードのいずれのモード
に切換え操作されているかを判断し（S31）、第２の試
験モードに切換え操作されているときはS32で内部メモ
リ44のアドレスｎにTEST2フラグをセットし、S33に移行
する。又、S31で第２の試験モード以外のモードに切替
えられているときにはS33に移行する。
ている状態でモード切換スイッチ27が実働モードから第
１の試験モード又は第２の試験モードのいずれのモード
に切換え操作されているかを判断し（S31）、第２の試
験モードに切換え操作されているときはS32で内部メモ
リ44のアドレスｎにTEST2フラグをセットし、S33に移行
する。又、S31で第２の試験モード以外のモードに切替
えられているときにはS33に移行する。
S33においてCPU28は各整定回路29〜32から動作零相電流
整定値I1、動作零相電圧整定値V1、動作位相範囲整定値
ψ1,ψ２、動作時間整定値T1を読込み、そられの整定値
をそれぞれ内部メモリ44の所定のアドレスａ〜ｅに格納
する。次に、CPU28はS34において入力した試験零相電流
信号を零相電流I0データとして、試験零相電圧信号を零
相電圧V0データとして、さらに前記零相電流I0と零相電
圧V0とに基づいて演算した位相差ψデータとともに内部
メモリ44の所定のアドレスｈ〜ｊに格納する。
整定値I1、動作零相電圧整定値V1、動作位相範囲整定値
ψ1,ψ２、動作時間整定値T1を読込み、そられの整定値
をそれぞれ内部メモリ44の所定のアドレスａ〜ｅに格納
する。次に、CPU28はS34において入力した試験零相電流
信号を零相電流I0データとして、試験零相電圧信号を零
相電圧V0データとして、さらに前記零相電流I0と零相電
圧V0とに基づいて演算した位相差ψデータとともに内部
メモリ44の所定のアドレスｈ〜ｊに格納する。
そして、S35においてCPU28は内部メモリ44に格納した零
相電流I0データと設定した動作零相電流整定値I1とを読
出して動作零相電流整定値I1よりも入力した試験零相電
流信号である零相電流I0が大きいか若しくは等しいと判
定すると、S36に移行する。
相電流I0データと設定した動作零相電流整定値I1とを読
出して動作零相電流整定値I1よりも入力した試験零相電
流信号である零相電流I0が大きいか若しくは等しいと判
定すると、S36に移行する。
S36においてCPU28は動作零相電圧整定値V1よりも入力し
た試験零相電圧信号である零相電圧V0が大きいか若しく
は等しいと判定し、S37に移行する。
た試験零相電圧信号である零相電圧V0が大きいか若しく
は等しいと判定し、S37に移行する。
そして、S37においては位相差ψが動作位相範囲内にあ
るか否か（すなわち、切換スイッチ26が動作モード又は
不動作モードに切換られているか）を判定し、動作位相
範囲内（すなわち、切換スイッチ26が動作モードに切換
られている）であると判定すると、S38においてCPU28は
CPU28が備えている基準クロックにてカウントを開始す
る。すなわち、内部メモリ44のアドレスｋに格納してい
るカウント数Ｔに１を加算する。次に、CPU28はS39にお
いてアドレスｋに格納した経過時間Ｔ（カウント数）
と、アドレスｅに格納した動作時間整定値T1との大小を
比較する。
るか否か（すなわち、切換スイッチ26が動作モード又は
不動作モードに切換られているか）を判定し、動作位相
範囲内（すなわち、切換スイッチ26が動作モードに切換
られている）であると判定すると、S38においてCPU28は
CPU28が備えている基準クロックにてカウントを開始す
る。すなわち、内部メモリ44のアドレスｋに格納してい
るカウント数Ｔに１を加算する。次に、CPU28はS39にお
いてアドレスｋに格納した経過時間Ｔ（カウント数）
と、アドレスｅに格納した動作時間整定値T1との大小を
比較する。
そして、動作時間整定値T1よりも経過時間が短い場合に
はS31に戻る。最初は動作時間整定値T1よりも短いためS
31に戻るが、継続して前記各種の動作整定値よりも大き
な電路状態の計測信号がCPU28に入力されている場合に
はS31〜S40のループを繰り返す毎にS38でカウントに１
を加え、カウント値が動作時間整定値T1以上に達する
と、S39の判定をYESとし、S40に移行する。
はS31に戻る。最初は動作時間整定値T1よりも短いためS
31に戻るが、継続して前記各種の動作整定値よりも大き
な電路状態の計測信号がCPU28に入力されている場合に
はS31〜S40のループを繰り返す毎にS38でカウントに１
を加え、カウント値が動作時間整定値T1以上に達する
と、S39の判定をYESとし、S40に移行する。
S40ではCPU28は内部メモリ44のアドレスｎにTEST2フラ
グがセットされているか否かを判定する。S40でTEST2フ
ラグがセットされている（すなわち、第２の試験モード
に設定されている）と判定すると、S41でトリップ信号
を出力してトリップ出力用リレー37をオン動作させ、配
電線路43に設けた開閉器を開放駆動し、S42に移行す
る。反対にS40でTEST2フラグがセットされていない（す
なわち、第１の試練モードに設定されている）と判定す
ると、S42で地絡表示信号を表示部駆動回路39に出力し
て地絡表示器41を表示させる。
グがセットされているか否かを判定する。S40でTEST2フ
ラグがセットされている（すなわち、第２の試験モード
に設定されている）と判定すると、S41でトリップ信号
を出力してトリップ出力用リレー37をオン動作させ、配
電線路43に設けた開閉器を開放駆動し、S42に移行す
る。反対にS40でTEST2フラグがセットされていない（す
なわち、第１の試練モードに設定されている）と判定す
ると、S42で地絡表示信号を表示部駆動回路39に出力し
て地絡表示器41を表示させる。
このように第２の試験モードにおいてはこの試験零相電
流信号、試験零相電圧信号及び試験動作位相差切換スイ
ッチ26の操作により、所定時間経過後にトリップ信号を
トリップ出力用リレー37に出力する。この結果、トリッ
プ出力用リレー37の動作により、開閉器が自動開放され
ることになる。又、第１の試験モードにおいてはトリッ
プ出力用リレー37にはトリップ信号が出力されず、地絡
表示器41及び警報出力用リレー38が動作することにな
る。
流信号、試験零相電圧信号及び試験動作位相差切換スイ
ッチ26の操作により、所定時間経過後にトリップ信号を
トリップ出力用リレー37に出力する。この結果、トリッ
プ出力用リレー37の動作により、開閉器が自動開放され
ることになる。又、第１の試験モードにおいてはトリッ
プ出力用リレー37にはトリップ信号が出力されず、地絡
表示器41及び警報出力用リレー38が動作することにな
る。
なお、S35,S36,S37において電路状態の計測値としての
試験信号である零相電流I0データ及び零相電圧V0データ
が動作零相電流整定値I1、動作零相電圧整定値V1よりも
小さい場合にはS31に戻る。
試験信号である零相電流I0データ及び零相電圧V0データ
が動作零相電流整定値I1、動作零相電圧整定値V1よりも
小さい場合にはS31に戻る。
以上、この地絡保護継電器の試験モードにおける作用に
ついて説明したが、前記試験モードから実働モードに試
験開始スイッチ24を切替えた場合においては、以下の点
で異なる。
ついて説明したが、前記試験モードから実働モードに試
験開始スイッチ24を切替えた場合においては、以下の点
で異なる。
実働モードにおける地絡故障検出においてはS31,S32が
省略されるとともに、S40が省略され、S39の次がS41に
移行した後、エンドに至る。
省略されるとともに、S40が省略され、S39の次がS41に
移行した後、エンドに至る。
この実施例ではチェック端子10a,10bが設けられている
ため、各試験モードにおいて印加された試験信号を計測
することができる。又、トリップ信号の出力を阻止する
モード切換スイッチ27にて第１の試験モードに設定すれ
ば、この地絡保護継電器51によりトリップ動作する開閉
器をトリップ動作させることなく保護継電器51の試験を
行うことができる。
ため、各試験モードにおいて印加された試験信号を計測
することができる。又、トリップ信号の出力を阻止する
モード切換スイッチ27にて第１の試験モードに設定すれ
ば、この地絡保護継電器51によりトリップ動作する開閉
器をトリップ動作させることなく保護継電器51の試験を
行うことができる。
なお、この考案は前記実施例に限定されるものではな
く、この考案の趣旨から逸脱しない範囲で任意に変更す
ることも可能である。
く、この考案の趣旨から逸脱しない範囲で任意に変更す
ることも可能である。
考案の効果 以上詳述したようにこの考案によれば試験モードの設定
状態がトリップ出力を許容する第２の試験モードに設定
されていることを知らずに実働モードから試験モードに
切換操作した場合にも、開閉器にトリップを生じさせる
ことはないため、間違って保護継電器に接続されている
開閉器等が試験信号によりトリップ動作しない優れた効
果を奏する。
状態がトリップ出力を許容する第２の試験モードに設定
されていることを知らずに実働モードから試験モードに
切換操作した場合にも、開閉器にトリップを生じさせる
ことはないため、間違って保護継電器に接続されている
開閉器等が試験信号によりトリップ動作しない優れた効
果を奏する。
第１図はこの考案の地絡保護継電器の電気ブロック回路
図、第２図は内部メモリの説明図、第３図は試験開始ス
イッチ及びモード切換スイッチを切換操作したときのフ
ローチャート図、第４図は地絡試験におけるフローチャ
ート図である。 24……試験開始手段としての試験開始スイッチ、25……
試験信号付与手段としての試験回路、26……試験動作位
相差切換スイッチ、27……切換手段としてのモード切換
スイッチ、28……制御手段及び阻止手段としての中央処
理制御装置（CPU）、29……零相電流整定回路、30……
零相電圧整定回路、31……位相差整定回路、32……動作
時間整定回路、37……トリップ出力用リレー、39,40…
…表示部駆動回路、41……地絡表示器、42……過電流表
示器、43……配電線路、44……内部メモリ、CT……電流
変成器、ZCT……零相電流変成器、ZPD……零相電圧検出
用コンデンサ。
図、第２図は内部メモリの説明図、第３図は試験開始ス
イッチ及びモード切換スイッチを切換操作したときのフ
ローチャート図、第４図は地絡試験におけるフローチャ
ート図である。 24……試験開始手段としての試験開始スイッチ、25……
試験信号付与手段としての試験回路、26……試験動作位
相差切換スイッチ、27……切換手段としてのモード切換
スイッチ、28……制御手段及び阻止手段としての中央処
理制御装置（CPU）、29……零相電流整定回路、30……
零相電圧整定回路、31……位相差整定回路、32……動作
時間整定回路、37……トリップ出力用リレー、39,40…
…表示部駆動回路、41……地絡表示器、42……過電流表
示器、43……配電線路、44……内部メモリ、CT……電流
変成器、ZCT……零相電流変成器、ZPD……零相電圧検出
用コンデンサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 山田 和夫 熊本県阿蘇郡一の宮町大字宮地4429 阿蘇 立石電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−36110（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−18802（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】電路状態の計測信号を入力し、これらが予
め設定されたトリップ信号出力条件を満したとき、トリ
ップ信号を開閉器に出力する制御手段を備えた地絡保護
継電器において、 実働モードから試験モードに切換える試験開始手段と、 試験モードにおいて試験信号を付与する試験信号付与手
段と、 前記試験信号がトリップ信号出力条件を満したとき、ト
リップ出力を阻止する第１の試験モード又はトリップの
出力を許容する第２の試験モードとのいずれかの試験モ
ードに選択的に切換える切換手段と、 前記試験開始手段が試験モードに切換操作されたとき、
前記切換手段による試験モードの設定状態を判別し、第
２の試験モードに設定されているときには前記制御手段
による開閉器へのトリップ信号の出力を阻止する阻止手
段と を備えたことを特徴とする試験装置付き地絡保護継電
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986189664U JPH0742195Y2 (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 試験装置付き地絡保護継電器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986189664U JPH0742195Y2 (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 試験装置付き地絡保護継電器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6393730U JPS6393730U (ja) | 1988-06-17 |
| JPH0742195Y2 true JPH0742195Y2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=31142171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986189664U Expired - Lifetime JPH0742195Y2 (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 試験装置付き地絡保護継電器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0742195Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180078739A (ko) * | 2016-12-30 | 2018-07-10 | 엘에스산전 주식회사 | 디지털 신호 입력 회로의 진단 기능을 구비한 계전 장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4786436B2 (ja) * | 2006-06-27 | 2011-10-05 | 中国電力株式会社 | 地絡監視装置および地絡監視方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5518802A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-09 | Tokyo Shibaura Electric Co | Device for inspecting protective relay |
| JPS5836110A (ja) * | 1981-08-25 | 1983-03-03 | 三菱電機株式会社 | 電力系統の電圧検出回路 |
-
1986
- 1986-12-09 JP JP1986189664U patent/JPH0742195Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180078739A (ko) * | 2016-12-30 | 2018-07-10 | 엘에스산전 주식회사 | 디지털 신호 입력 회로의 진단 기능을 구비한 계전 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6393730U (ja) | 1988-06-17 |
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