JPH0735532A - Method of measuring length of crack on road surface - Google Patents
Method of measuring length of crack on road surfaceInfo
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- JPH0735532A JPH0735532A JP20043793A JP20043793A JPH0735532A JP H0735532 A JPH0735532 A JP H0735532A JP 20043793 A JP20043793 A JP 20043793A JP 20043793 A JP20043793 A JP 20043793A JP H0735532 A JPH0735532 A JP H0735532A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、路面のひび割れ長さの
測定方法に関し、特に、路面を撮影したアナログ画像か
ら画像処理を施してひび割れの有無を表す2値画像を求
め、この2値画像から単位面積当たりの路面のひび割れ
長さを求める測定方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for measuring the length of cracks on a road surface, and more particularly, to a binary image representing the presence or absence of cracks by performing image processing on an analog image of the road surface. To a measurement method for obtaining the crack length of the road surface per unit area from.
【0002】[0002]
【従来の技術】舗装路面の状態を評価したり或いは舗装
路面の補修時期を特定するために、路面の“ひび割れ”
の長さを測定する方法がある。従来より、路面を写真撮
影してアナログ画像を求め、このアナログ画像に画像処
理を施して路面のひび割れを表す2値画像を求め、この
2値画像から路面のひび割れ長さを求めることが行われ
ている。2. Description of the Related Art "Cracks" on a road surface in order to evaluate the condition of the paved road surface or to specify the repair time of the paved road surface.
There is a method to measure the length of. Conventionally, a road surface is photographed to obtain an analog image, the analog image is subjected to image processing to obtain a binary image representing a crack on the road surface, and the crack length of the road surface is obtained from the binary image. ing.
【0003】ひび割れの長さを測定しようとする路面
は、通常、長尺フィルムを用いて写真撮影されるが、ビ
デオカメラを用いて撮影してもよい。ビデオカメラを用
いて路面を撮影する場合には、撮影後にビデオデジタイ
ザによりアナログ画像をデジタル化したり、或いは、ビ
デオカメラの出力を直接デジタル化する方法が知られて
いる。本発明は、路面撮影の方法に限定されることな
く、上記何れの方法を用いて求めた2値画像に対しても
応用可能である。The road surface on which the length of the crack is to be measured is usually photographed using a long film, but it may be photographed using a video camera. When shooting a road surface using a video camera, a method is known in which an analog image is digitized by a video digitizer after shooting or the output of the video camera is directly digitized. The present invention is not limited to the road surface photographing method, and can be applied to a binary image obtained using any of the above methods.
【0004】本発明の実施例を説明する前に、路面を写
真撮影したアナログ画像に画像処理を施して2値画像を
求め、この2値画像から路面のひび割れ長さを求める従
来の画像処理方法を簡単に説明する。Prior to the description of the embodiments of the present invention, a conventional image processing method for obtaining a binary image by subjecting an analog image of a road surface to image processing to obtain a binary image and obtaining the crack length of the road surface from the binary image Will be briefly described.
【0005】先ず、路面をセンターラインを含むように
写真撮影してアナログ画像(図示せず)を作成する。First, the road surface is photographed so as to include the center line, and an analog image (not shown) is created.
【0006】(a) このアナログ画像から公知の手法を
用いて図13に示すデジタル画像(多値画素から成る画
像)を求める。(A) From this analog image, a digital image (image consisting of multi-valued pixels) shown in FIG. 13 is obtained using a known method.
【0007】(b) 図13の多値画素デジタル画像に含
まれる路面の微小凹凸に起因するノイズを、公知の手法
(ローパスフィルタを用いる手法)により除去して図1
4に示すデジタル画像を求める。(B) The noise caused by the minute unevenness of the road surface included in the multi-valued pixel digital image of FIG. 13 is removed by a known method (method using a low-pass filter), and the noise shown in FIG.
The digital image shown in 4 is obtained.
【0008】(c) 公知のゾーベル(Sobel)オペ
レータを用いて、図14のデジタル画像からエッジを検
出して図15に示すデジタル画像を求める。(C) A known Sobel operator is used to detect edges from the digital image shown in FIG. 14 to obtain the digital image shown in FIG.
【0009】(d) 図15のデジタル画像から2値画像
を求める。例えば、図15の各画素が8ビットの多値画
素の場合、2値化のしきい値を16として図16に示す
2値画素画像を得る。(D) A binary image is obtained from the digital image shown in FIG. For example, when each pixel in FIG. 15 is an 8-bit multi-valued pixel, the binary pixel image shown in FIG. 16 is obtained by setting the threshold value for binarization to 16.
【0010】(e) 図16の2値画像のデータ量を減ら
すために、図16の2値画像の5×5画素(合計25画
素)を新たな1画素とする。このデータ量減少は、例え
ば、25画素中で1(ひび割れ部分を表す)の値を持つ
画素の数が、12個以上であれば新画素を1(ひび割れ
部分を表す)とし、12個未満であれば新画素を0(ひ
び割れ部分でないことを示す)とする。得られた2値画
像を図17に示す。(E) In order to reduce the data amount of the binary image of FIG. 16, 5 × 5 pixels (25 pixels in total) of the binary image of FIG. 16 are set as a new pixel. For example, if the number of pixels having a value of 1 (representing a cracked portion) among 25 pixels is 12 or more, the new pixel is set to 1 (represents a cracked portion), and if the number of pixels is less than 12, If there is, the new pixel is set to 0 (indicating that it is not a cracked portion). The obtained binary image is shown in FIG.
【0011】(f) 更に、上記のステップ(e)におけるデ
ータ量減少処理の際に欠落した欠落点を補間する。即
ち、図17の画素画像から3×3画素(合計9画素)を
その中心画素を1画素づつずらしながら順次取り出す。
取り出した3×3画素の中心画素の値が0の場合に、周
囲8画素中で例えば4個以上の画素が1であれば中心画
素の値を1で置換し、周囲8画素の内で画素1の数が4
個未満であれば中心画素の値を0のままにする。欠落点
を補間した2値画像を図18に示す。(F) Further, the missing points missing during the data amount reduction processing in step (e) are interpolated. That is, 3 × 3 pixels (9 pixels in total) are sequentially extracted from the pixel image of FIG. 17 while shifting the center pixel by one pixel.
When the value of the center pixel of the extracted 3 × 3 pixels is 0, and if, for example, 4 or more pixels are 1 in the 8 surrounding pixels, the value of the center pixel is replaced with 1, and the pixel in the 8 surrounding pixels Number of 1 is 4
If it is less than the number, the value of the central pixel is left at 0. FIG. 18 shows a binary image in which missing points are interpolated.
【0012】(g) 最後に、図18の画像から孤立点ノ
イズを除去する。即ち、5×5画素(合計25画素)の
領域において、最外周の16画素の値が全て0の場合、
内側の9画素の値を全て0にする。次に、7×7画素
(合計49画素)の領域において、最外周の24画素の
値が全て0の場合、内側の25画素の値をすべて0にす
る。このような画像処理を各画素について行い、図19
に示す2値画像を得る。(G) Finally, isolated point noise is removed from the image of FIG. That is, in the area of 5 × 5 pixels (total of 25 pixels), when the values of all 16 pixels of the outermost circumference are 0,
The values of the inner 9 pixels are all set to 0. Next, in the area of 7 × 7 pixels (total of 49 pixels), when the values of the outermost 24 pixels are all 0, the values of the inner 25 pixels are all 0. Such image processing is performed for each pixel, and
The binary image shown in is obtained.
【0013】上記の(a)乃至(g)の画像処理により得られ
た2値画像(図19)から、路面のひび割れ長さを求め
る。The crack length of the road surface is obtained from the binary image (FIG. 19) obtained by the image processing of the above (a) to (g).
【0014】図19の2値画像中のセンターラインを基
準にし、図19の2値画像を複数の正方形の単位面積の
画素ブロック(例えば、一辺が50cmの正方形の画素
ブロック)に分割する。複数の単位面積の夫々の画素ブ
ロック内のひび割れ長さを測定し、夫々のブロックの合
計ひび割れ長さを計測結果として出力する。尚、路面の
センターラインを基準にして図19の2値画像を複数の
画素ブロックに分割するので、道路の端部に相当する部
分では、単位面積に満たない画素ブロックが発生する。
この場合、単位面積に満たない画素ブロック内のひび割
れ長さを測定した後に、この測定値を単位面積のひび割
れ長さに換算すればよい。例えば、道路端部の画素ブロ
ックの面積が、単位面積の画素ブロックの1/2であれ
ば、この道路端部の画素ブロックのひび割れ長さを2倍
にする。With the center line in the binary image of FIG. 19 as a reference, the binary image of FIG. 19 is divided into a plurality of square unit pixel areas (for example, a square pixel block of which one side is 50 cm). The crack length in each pixel block of a plurality of unit areas is measured, and the total crack length of each block is output as a measurement result. Since the binary image of FIG. 19 is divided into a plurality of pixel blocks with the center line of the road surface as a reference, a pixel block that is less than the unit area occurs in a portion corresponding to the end of the road.
In this case, after measuring the crack length within the pixel block which does not reach the unit area, this measured value may be converted into the crack length of the unit area. For example, if the area of the pixel block at the end of the road is 1/2 of the pixel block of the unit area, the crack length of the pixel block at the end of the road is doubled.
【0015】ところで、各画素ブロック内のひび割れ長
さを求める従来の方法は、画素ブロック内のひび割れ部
分を線として辿るという方法であった。By the way, the conventional method for obtaining the crack length in each pixel block is to trace the cracked portion in the pixel block as a line.
【0016】しかし、ひび割れ部分を線として辿る従来
の方法は、次のような問題があった。即ち、 (a) ひび割れを線として辿り易くするための細線化処
理にかなりの時間を要する。 (b) ひび割れが網状の場合には非常に多くの処理時間
を必要とする。 (c) ひび割れを線として辿るには多くの分岐(判断)
条件が存在するので、ひび割れ長さの測定に膨大な処理
時間を必要とする 等である。However, the conventional method of tracing the cracked portion as a line has the following problems. That is, (a) it takes a considerable amount of time for the thinning process to make it easier to trace cracks as lines. (b) If the cracks are reticulated, a very long processing time is required. (c) Many branches (judgments) to trace cracks as lines
Due to the existence of conditions, it takes a huge amount of processing time to measure the crack length.
【0017】このため、ひび割れ長さを線として辿る従
来の手法を用いないで、処理時間を大幅に減少させる測
定方法が望まれていた。For this reason, there has been a demand for a measuring method which significantly reduces the processing time without using the conventional method of tracing the crack length as a line.
【0018】[0018]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ひび
割れを線として辿る従来の方法を用いずに、極めて短い
処理時間で路面のひび割れ長さを求めることである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to determine the crack length of a road surface in a very short processing time without using the conventional method of tracing a crack as a line.
【0019】[0019]
【課題を解決するための手段】本発明は、路面を撮影し
て路面のアナログ画像を求め、該アナログ画像に画像処
理を施してひび割れの有無を表す2値画像を求め、該2
値画像から路面の単位面積当たりのひび割れ長さを求め
る方法に関し、(a)中心画素がひび割れを表す2値の
N×N画素(Nは3以上の奇数)が取り得る複数個の画
素配列パターンを予め求め、該複数個の画素配列パター
ンの夫々に関して前記ひび割れを表す中心画素が寄与す
るひび割れの長さの係数を予め求め、(b)上記ひび割
れを表す2値画像に単位面積を設定し、(c)該単位面
積中の画素の内からひび割れを表す画素を中心としてN
×N画素を抽出し、(d)抽出したN×N画素の画素配
列パターンを、上記予め求めた複数個の画素配列パター
ンと比較して同一の画素配列パターンを求め、該画素配
列パターンに与えられたひび割れ長さの係数を求め、
(e)上記ステップ(c)乃至(d)を上記単位面積中
の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、
求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ
長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの
測定方法である。According to the present invention, a road surface is photographed to obtain an analog image of the road surface, and the analog image is subjected to image processing to obtain a binary image representing the presence or absence of cracks.
Regarding a method for obtaining a crack length per unit area of a road surface from a value image, (a) a plurality of pixel array patterns which can be binary N × N pixels (N is an odd number of 3 or more) of which the central pixel indicates a crack Is calculated in advance, and a coefficient of the length of the crack contributed by the central pixel representing the crack is calculated in advance for each of the plurality of pixel array patterns, and (b) a unit area is set in the binary image representing the crack. (C) N out of the pixels in the unit area, with the pixel representing the crack being the center
XN pixels are extracted, and (d) the extracted pixel array pattern of N × N pixels is compared with a plurality of pixel array patterns obtained in advance to obtain the same pixel array pattern, which is given to the pixel array pattern. Calculate the coefficient of crack length
(E) The steps (c) to (d) are repeated for each pixel in the unit area, and the coefficients obtained respectively are added,
A method for measuring a crack length of a road surface, characterized in that the crack length in the unit area is measured based on the sum of the obtained coefficients.
【0020】[0020]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図12及
び図19を参照して説明する。尚、図19に示す2値画
像を求めるまでの画像処理は従来と同じである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 12 and 19. The image processing until obtaining the binary image shown in FIG. 19 is the same as the conventional one.
【0021】通常、ひび割れの幅はその長さに比べて十
分に狭いと仮定することができる。したがって、図19
におけるひび割れ部分(図面では黒色で示す)の輪郭線
の長さの1/2をひび割れの長さとして近似できる。つ
まり、ひび割れ部分の輪郭線の長さの1/2の合計をひ
び割れを辿ることなく求めればよいことになる。It can usually be assumed that the width of the crack is sufficiently narrow compared to its length. Therefore, FIG.
It is possible to approximate 1/2 of the length of the contour line of the cracked portion (shown in black in the drawing) as the cracked length. That is, the total of 1/2 of the length of the contour line of the cracked portion can be obtained without following the crack.
【0022】本実施例では、図19の2値画像を、従来
と同様に、例えば、センターラインを基準として一辺が
50cmの正方形の単位面積に分割し、各単位面積内の各
画素を順を追って0(ひび割れ部分に属さない(白色で
表す))か1(ひび割れ部分に属する(黒色で表す))
かを判断する。画素が0の場合にはその画素を無視し、
画素が1の場合には周囲の8画素から成る画素配列パタ
ーンを、予め求めた複数の画素配列パターンと比較して
一致するパターンを求める。次に、一致するパターンの
中心画素が寄与するひび割れの長さの係数(予め求めて
おく)を加算していく。最後に、係数の総計を基に単位
面積中のひび割れ長さを求める。In the present embodiment, the binary image of FIG. 19 is divided into unit areas of a square having a side of 50 cm with the center line as a reference, and each pixel in each unit area is sequentially arranged, as in the conventional case. 0 (not belonging to the cracked portion (shown in white)) or 1 (belonging to the cracked portion (shown in black))
To judge. If the pixel is 0, ignore that pixel,
When the number of pixels is 1, the pixel array pattern consisting of the surrounding 8 pixels is compared with a plurality of pixel array patterns obtained in advance to find a matching pattern. Next, the coefficient of the length of the crack contributed by the central pixel of the matching pattern (predetermined) is added. Finally, the crack length in the unit area is calculated based on the total coefficient.
【0023】このため、図1乃至図8に示すように、3
×3の2値画素の中心画素が1である画素配列パターン
(即ち2(9-1)=256通り)を予め全て求める。但
し、複数の相似形のパターンが存在するので、相似形の
画素配列パターンを省略すれば、準備する画素配列パタ
ーンの数を少なくすることができる。図1乃至図8にお
いて、画素配列パターンの枠外の上部の括弧内の数字
(1〜256)は256個の画素配列パターンの番号を
示す。Therefore, as shown in FIG. 1 to FIG.
All pixel array patterns (ie, 2 (9-1) = 256 ways) in which the central pixel of the × 3 binary pixels is 1 are obtained in advance. However, since there are a plurality of similar pattern patterns, the number of prepared pixel array patterns can be reduced by omitting the similar pixel array patterns. 1 to 8, the numbers in parentheses (1 to 256) outside the frame of the pixel array pattern indicate the numbers of the 256 pixel array patterns.
【0024】次に、3×3画素群の中心画素が周囲8画
素の状態に応じてひび割れの長さ(即ちひび割れの輪郭
の1/2)に寄与する係数を近似する。図1乃至図8の
画素配列パターンの枠外の下部の数値は、中心画素の周
囲8画素の状態に応じて中心画素が寄与するひび割れの
長さの係数を示す。Next, the coefficient by which the central pixel of the 3 × 3 pixel group contributes to the length of the crack (that is, 1/2 of the contour of the crack) is approximated according to the state of the surrounding 8 pixels. Numerical values in the lower part outside the frame of the pixel array patterns of FIGS. 1 to 8 indicate coefficients of the length of the crack contributed by the central pixel according to the state of eight pixels around the central pixel.
【0025】図1乃至図8の各画素の大きさが例えば路
面上で2cm×2cmに相当すれば、第2番目の画素パター
ンの中心画素が寄与するひび割れの長さは、その係数が
1なので約2cmであり、一方、第3番目の画素パターン
の中心画素が寄与するひび割れ長さは、その係数が約
1.4なので、約2.8cmに相当する。以下同様であ
る。If the size of each pixel in FIGS. 1 to 8 corresponds to, for example, 2 cm × 2 cm on the road surface, the length of the crack contributed by the central pixel of the second pixel pattern has a coefficient of 1, The length of the crack contributed by the central pixel of the third pixel pattern is about 2 cm, and since the coefficient is about 1.4, it corresponds to about 2.8 cm. The same applies hereinafter.
【0026】画素パターンの中心画素が寄与するひび割
れ長さの係数は、次のようにして求める。中心画素を中
心とする3×3の画素群(イメージ)を図9に示す6通
りのパターンに近似して分類する。尚、これらのパター
ンに対して回転対称及び線対称のパターンも同一パター
ンとする。図9の6通りのパターンの何れにも属さない
パターンは、夫々妥当性を考慮して係数を定める。 (1) 第1のパターン(図9の(1)):このパターン
では、水平方向のひびの片方(上側)が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は0.5画素分(即ち係数0.5)とする。 (2) 第2のパターン(図9の(2)):このパターン
では、水平方向のひびの上下両側が観測されているもの
と考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄
与は1画素分(即ち係数1)とする。 (3) 第3のパターン(図9の(3)):このパターン
では、傾き1(45度)のひびの片側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√2/2画素分(即ち係数√2/2)とする。 (4) 第4のパターン(図9の(4)):このパターン
では、傾き1(45度)のひびの両側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√2画素分(即ち係数√2)とする。 (5) 第5のパターン(図1の(5)):このパターン
では、傾き1/2のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√5/4画素分(即ち係数√5/4)とする。 (6) 第6のパターン(図1の(6)):このパターン
では、傾き1/2のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√5/2画素(即ち係数√5/2)とする。The coefficient of the crack length contributed by the central pixel of the pixel pattern is obtained as follows. A 3 × 3 pixel group (image) centering on the central pixel is classified by approximating to the six patterns shown in FIG. It should be noted that the rotationally symmetrical and line symmetrical patterns with respect to these patterns are also the same pattern. For the patterns that do not belong to any of the six patterns in FIG. 9, the coefficient is determined in consideration of their validity. (1) First pattern ((1) in FIG. 9): In this pattern, one of the horizontal cracks (upper side) is considered to be observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is 0. .5 pixels (that is, a coefficient of 0.5). (2) Second pattern ((2) in FIG. 9): In this pattern, it is considered that the upper and lower sides of the horizontal crack are observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is one pixel. (That is, a coefficient of 1). (3) Third pattern ((3) in FIG. 9): In this pattern, it is considered that one side of the crack with a slope of 1 (45 degrees) is observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is √2 / 2 pixels (that is, coefficient √2 / 2). (4) Fourth pattern ((4) in FIG. 9): In this pattern, it is considered that both sides of a crack with a slope of 1 (45 degrees) are observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is √2 pixels (that is, coefficient √2). (5) Fifth pattern ((5) in FIG. 1): In this pattern, it is considered that one of the cracks with a slope of 1/2 is observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is √5. / 4 pixels (that is, coefficient √5 / 4). (6) Sixth pattern ((6) in FIG. 1): In this pattern, it is considered that one of the cracks with a slope of 1/2 is observed, so the contribution of the central pixel to the crack length is √5. / 2 pixels (that is, coefficient √5 / 2).
【0027】このように、図1乃至図8に示した画素配
列パターンの中心画素が寄与するひび割れ長さの係数を
求め、全パターン及び係数を適当な記憶手段に記憶して
おく。As described above, the coefficient of the crack length contributed by the central pixel of the pixel array pattern shown in FIGS. 1 to 8 is obtained, and all the patterns and the coefficients are stored in an appropriate storage means.
【0028】以下、図1乃至図8、及び図10乃至図1
2を参照して単位面積内のひび割れ長さを測定する方法
を説明する。Hereinafter, FIG. 1 to FIG. 8 and FIG. 10 to FIG.
A method for measuring the crack length within a unit area will be described with reference to 2.
【0029】図10はひび割れ長さを測定するために、
図19に示す2値画像をセンターラインを基準として複
数の単位面積の画素領域30a〜30fに分割した様子
を模式的に表した図である。図11は、図10の画素領
域30dの斜線部分32の拡大図である。図11におい
て、複数の正方形は夫々1画素を表し、網掛け部分の画
素(1の値を有する)はひび割れ部分を示し、白色の画
素(0の値を有する)はひび割れに属さない部分を示
す。FIG. 10 shows a method for measuring the crack length.
FIG. 20 is a diagram schematically showing how the binary image shown in FIG. 19 is divided into a plurality of pixel areas 30a to 30f each having a unit area with a center line as a reference. FIG. 11 is an enlarged view of the shaded portion 32 of the pixel region 30d of FIG. In FIG. 11, each of a plurality of squares represents one pixel, a shaded pixel (having a value of 1) represents a cracked portion, and a white pixel (having a value of 0) represents a portion not belonging to the cracking. .
【0030】単位面積の画素領域の端部の画素は他の画
素で周囲を囲まれていないので、画素P1から矢印Y1
の方向に右端の画素の内側の画素(図示せず)まで、画
素毎に0か1かのチェックを行う。Pixels at the end of the pixel area of the unit area are not surrounded by other pixels, so that the pixel P1 indicates the arrow Y1.
In the direction of, up to a pixel (not shown) inside the rightmost pixel, 0 or 1 is checked for each pixel.
【0031】上述したように、画素が0の場合にはひび
割れ部分でないため無視し、画素が1の場合には周囲の
8画素の状態によって定まる画素パターンを、予め適当
な記憶手段に記憶してある図1乃至図8に示す256個
の画素パターンと比較し、一致した画素パターンの中心
画素が寄与するひび割れの長さの係数を求め、加算して
いく。As described above, when the number of pixels is 0, it is not a cracked portion and is ignored. When the number of pixels is 1, the pixel pattern determined by the state of the surrounding 8 pixels is stored in advance in an appropriate storage means. By comparing with the 256 pixel patterns shown in FIG. 1 to FIG. 8, the coefficient of the crack length contributed by the central pixel of the matched pixel pattern is calculated and added.
【0032】次に、第3行の画素P2から矢印Y2に沿
って右端の端部画素(図示せず)の内側の画素まで、上
述と同様に処理する。更に、第4行に属する画素につい
ても、画素P3から矢印Y3に沿って、同様の処理を行
う。このように、単位面積の画素領域中の最外周の画素
を除く全ての画素について上述の処理を行えば、単位面
積中のひび割れ長さの係数の値の総和が求まる。図19
の画素の一辺の長さと実際の路面上の長さとの対応は既
知なので、係数の総和が求まれば、単位面積中の実際の
ひび割れ長さを近似的に求めることができる。Next, from the pixel P2 in the third row to the pixel inside the right end pixel (not shown) along the arrow Y2, the same process as described above is performed. Further, with respect to the pixels belonging to the fourth row, the same processing is performed from the pixel P3 along the arrow Y3. In this way, if the above-mentioned processing is performed for all pixels except the outermost peripheral pixel in the pixel area of the unit area, the sum of the coefficient values of the crack length in the unit area can be obtained. FIG. 19
Since the correspondence between the length of one side of the pixel and the actual length on the road surface is known, the actual crack length in the unit area can be approximately calculated if the sum of the coefficients is calculated.
【0033】図12は上述の動作を更に詳しく説明する
図である。画素P1はひび割れ部分を表す画素なので、
P1を中心画素とする3×3画素の配列パターン(図1
2の(A)の太線で囲った部分)を、図1乃至図8に示
した複数の画素配列パターンと比較する。本実施例の場
合、図7の第249番のパターンと合致するので、第2
46番のひび割れ長さの係数を適当な記憶箇所に記憶す
る。画素P1の右隣の画素P1(1)もひび割れ部分を
表す画素なので、図12の(B)の太線で囲った画素配
列パターンを図1乃至図8の複数のパターンと比較す
る。この場合、図6の第206番のパターンと合致する
ので、該パターンに割り当てられたひび割れ長さの係数
を求め、既に求めた係数に加算する。図12の(C)の
場合は、画素P1(2)はひび割れ部分の画素でないの
でこの画素を無視して次の画素に処理を移す。図12の
(E)、(F)及び(I)については、注目する画素P
2(1)、P2(2)及びP3(2)が夫々ひび割れを
表す画素なので、太線で囲った画素パターンを図1乃至
図8の画素配列パターンと比較し、求めた係数を加算し
ていく。一方、図12の(D)、(G)及び(H)では
注目する画素P2、P3及びP3(1)は夫々ひび割れ
部分の画素でないため無視される。FIG. 12 is a diagram for explaining the above operation in more detail. Since pixel P1 is a pixel representing a cracked portion,
An array pattern of 3 × 3 pixels with P1 as the central pixel (see FIG.
2 (A portion surrounded by a thick line) is compared with the plurality of pixel array patterns shown in FIGS. 1 to 8. In the case of this embodiment, since it matches the pattern No. 249 in FIG.
The 46th crack length coefficient is stored in an appropriate storage location. Since the pixel P1 (1) to the right of the pixel P1 is also a pixel representing a cracked portion, the pixel array pattern surrounded by the thick line in FIG. 12B is compared with the plurality of patterns in FIGS. In this case, since it matches the 206th pattern in FIG. 6, the coefficient of the crack length assigned to the pattern is calculated and added to the coefficient already calculated. In the case of FIG. 12C, the pixel P1 (2) is not the pixel in the cracked portion, so this pixel is ignored and the processing is moved to the next pixel. Regarding (E), (F) and (I) of FIG.
Since 2 (1), P2 (2), and P3 (2) are pixels that represent cracks, respectively, the pixel patterns surrounded by thick lines are compared with the pixel array patterns of FIGS. 1 to 8, and the obtained coefficients are added. . On the other hand, in (D), (G) and (H) of FIG. 12, the pixels of interest P2, P3 and P3 (1) are not pixels in the cracked portion and are ignored.
【0034】本発明に係る方法を実施するための装置
(ハードウエア)自体は、当業者にとって自明なので図
示及び説明を省略する。A device (hardware) itself for carrying out the method according to the present invention is obvious to those skilled in the art, and therefore, illustration and description thereof will be omitted.
【0035】上述の説明では、測定対象の単位面積中の
端部の画素については、その画素を囲む画素が存在しな
いため無視された。しかし、測定対象の単位面積中の端
部の画素が他の測定領域の画素に隣接する場合は、この
隣接する画素を利用して3×3画素の配列パターンを図
1乃至図8の画素配列パターンと比較するようにしても
よい。In the above description, the pixel at the end of the unit area to be measured is ignored because there is no pixel surrounding the pixel. However, when the pixel at the end portion in the unit area of the measurement target is adjacent to the pixel in the other measurement region, the adjacent pixel is used to form the array pattern of 3 × 3 pixels in the pixel array of FIGS. 1 to 8. You may make it compare with a pattern.
【0036】更に、本実施例では、処理対象の画素がひ
び割れ部分を表す場合、周囲8個の画素(即ち3×3画
素)を抽出して図1のパターンと比較しているが、5×
5画素を抽出するようにしてもよい。この場合、予め準
備する画素配列パターンは2(25-1)個となる。勿論、相
似形のパターンについては画素配列パターンの作成・記
憶を省略できることは3×3画素の場合と同様である。Further, in this embodiment, when the pixel to be processed represents a cracked portion, eight surrounding pixels (that is, 3 × 3 pixels) are extracted and compared with the pattern of FIG.
You may make it extract 5 pixels. In this case, the number of pixel array patterns prepared in advance is 2 (25-1) . Of course, it is the same as the case of 3 × 3 pixels that the creation and storage of the pixel array pattern can be omitted for the similar pattern.
【0037】[0037]
【発明の効果】本発明によれば、ひび割れ部分の画素を
中心とする所定の画素群を、予め用意した複数の画素配
列パターンと比較する。この比較動作をひび割れ部分の
画素について順次繰り返すことにより、単位面積中のひ
び割れ長さを求めることができる。特に、本発明に係る
方法は極めて簡単なソフトウェアで実施できるので、ひ
び割れを線として辿る従来の方法と比較して極めて短時
間で路面のひび割れ長さの測定ができるという顕著な効
果を有する。According to the present invention, a predetermined pixel group centered on a pixel in a cracked portion is compared with a plurality of pixel array patterns prepared in advance. By sequentially repeating this comparison operation for the pixels in the cracked portion, the crack length in the unit area can be obtained. In particular, since the method according to the present invention can be carried out with extremely simple software, it has a remarkable effect that the crack length of the road surface can be measured in an extremely short time as compared with the conventional method of tracing the crack as a line.
【図1】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 1 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図2】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 2 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図3】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 3 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図4】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 4 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図5】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 5 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図6】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 6 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図7】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 7 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図8】本発明を実施するため必要な3×3画素の画素
配列パターンを示す図。FIG. 8 is a diagram showing a pixel array pattern of 3 × 3 pixels necessary for implementing the present invention.
【図9】本発明の画素配列パターンの中心画素が寄与す
るひび割れ長さの係数を求めるための基本パターンを示
す図。FIG. 9 is a diagram showing a basic pattern for obtaining a coefficient of a crack length contributed by a central pixel of a pixel array pattern of the present invention.
【図10】本発明の実施を説明するために、2値画像を
複数の“単位面積の画素領域”に分割する様子を示す
図。FIG. 10 is a diagram showing how a binary image is divided into a plurality of “unit area pixel regions” in order to explain an embodiment of the present invention.
【図11】図10の単位面積の画素領域30dの斜線部
分の詳細を示し、本発明の実施を説明する図。FIG. 11 is a diagram illustrating details of a hatched portion of a pixel area 30d having the unit area of FIG. 10 to explain an embodiment of the present invention.
【図12】本発明の実施例を説明するための図。FIG. 12 is a diagram for explaining an example of the present invention.
【図13】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 13 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図14】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 14 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図15】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 15 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図16】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 16 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図17】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 17 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図18】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。FIG. 18 is a digital image in a digital image processing process for obtaining a digital image used in the present invention.
【図19】本発明に用いるデジタル画像。FIG. 19 is a digital image used in the present invention.
30a 単位面積の画素領域 30b 単位面積の画素領域 30c 単位面積の画素領域 30d 単位面積の画素領域 30e 単位面積の画素領域 30f 単位面積の画素領域 P1 画素 P2 画素 P3 画素 30a unit area pixel area 30b unit area pixel area 30c unit area pixel area 30d unit area pixel area 30e unit area pixel area 30f unit area pixel area P1 pixel P2 pixel P3 pixel
Claims (4)
め、該アナログ画像に画像処理を施してひび割れの有無
を表す2値画像を求め、該2値画像から路面の単位面積
当たりのひび割れ長さを求める方法に関し、 (a)中心画素がひび割れを表す2値のN×N画素(N
は3以上の奇数)が取り得る複数個の画素配列パターン
を予め求め、該複数個の画素配列パターンの夫々に関し
て前記ひび割れを表す中心画素が寄与するひび割れの長
さの係数を予め求め、 (b)上記ひび割れを表す2値画像に単位面積を設定
し、 (c)該単位面積中の画素の内からひび割れを表す画素
を中心としてN×N画素を抽出し、 (d)抽出したN×N画素の画素配列パターンを、上記
予め求めた複数個の画素配列パターンと比較して同一の
画素配列パターンを求め、該画素配列パターンに与えら
れたひび割れ長さの係数を求め、 (e)上記ステップ(c)乃至(d)を上記単位面積中
の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、 求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ
長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの
測定方法。1. A road surface is photographed to obtain an analog image of the road surface, image processing is performed on the analog image to obtain a binary image representing presence or absence of cracks, and the crack length per unit area of the road surface is obtained from the binary image. (A) Binary N × N pixel (N) in which the central pixel represents a crack (N)
A plurality of pixel array patterns that can be taken by an odd number of 3 or more) are obtained in advance, and a coefficient of the length of the crack contributed by the central pixel representing the crack is previously obtained for each of the plurality of pixel array patterns, ) A unit area is set in the binary image representing the crack, and (c) N × N pixels centered on the pixel representing the crack are extracted from pixels in the unit area, and (d) the extracted N × N. The pixel array pattern of the pixels is compared with the previously determined plurality of pixel array patterns to obtain the same pixel array pattern, and the coefficient of the crack length given to the pixel array pattern is obtained. (C) to (d) are repeated for each pixel in the unit area, the coefficients obtained respectively are added, and the crack length in the unit area is measured based on the total of the obtained coefficients. Do Method of measuring the crack lengths surface.
のひび割れ長さの測定方法。2. The method for measuring a crack length of a road surface according to claim 1, wherein N is 3.
(N・N-1)個である請求項1に記載の路面のひび割れ長さ
の測定方法。3. The plurality of pixel array patterns is 2
The method for measuring a crack length of a road surface according to claim 1, wherein the number is (N · N-1) .
(N・N-1)個の画素配列パターンから相似形の画素パター
ンを除いた画素配列パターンからなる請求項1に記載の
路面のひび割れ長さの測定方法。4. The plurality of pixel array patterns is 2
The method for measuring a crack length of a road surface according to claim 1, wherein the method comprises a pixel array pattern obtained by removing a similar pixel pattern from (N · N-1) pixel array patterns.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20043793A JPH0735532A (en) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | Method of measuring length of crack on road surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20043793A JPH0735532A (en) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | Method of measuring length of crack on road surface |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0735532A true JPH0735532A (en) | 1995-02-07 |
Family
ID=16424282
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20043793A Pending JPH0735532A (en) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | Method of measuring length of crack on road surface |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0735532A (en) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH1139471A (en) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Kagawa Univ | Segment element extraction system and device therefor |
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-
1993
- 1993-07-20 JP JP20043793A patent/JPH0735532A/en active Pending
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