JPH07333857A - Treatment method and treatment device - Google Patents

Treatment method and treatment device

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JPH07333857A
JPH07333857A JP14384194A JP14384194A JPH07333857A JP H07333857 A JPH07333857 A JP H07333857A JP 14384194 A JP14384194 A JP 14384194A JP 14384194 A JP14384194 A JP 14384194A JP H07333857 A JPH07333857 A JP H07333857A
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processed
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剛伸 松尾
Kazuki Denpo
一樹 伝宝
Eiji Yamaguchi
永司 山口
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to easy execute film thickness control of a coating film and substitution of air for the atmosphere in a treating vessel after treatment. CONSTITUTION:The treatment device is composed of a rotatable spin chuck 20 which holds an LCD substrate G, a hermetic rotary cup 30 which houses this LCD substrate G and a resist liquid supplying nozzle 10 which supplies a resist liquid to the surface of the LCD substrate G. A shaft part 34 disposed at a cap 33 to close the aperture 32 of the rotary cup 30 is provided with a spiral outdoor introducing passage 35 for introducing the outdoor air into the treating chamber 31 according to rotation of the rotary cup 30. As a result, the outdoor air is introduced from the outdoor introducing passage 35 into the treating chamber 31 by rotating the treating vessel during the coating treatment or after the coating treatment to suppress the adhesion of the mists of the coating liquid to the substrate to be treated and to uniformly dry the coating liquid to form the coating film having the uniform film thickness.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、被処理基板に塗布液
を塗布する処理方法及び処理装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing method and a processing apparatus for applying a coating liquid onto a substrate to be processed.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、液晶表示ディスプレイ(LC
D)装置の製造工程においては、LCD基板(ガラス基
板)上に例えばITO(Indium Tin Oxi
de)の薄膜や電極パターン等を形成するために、半導
体製造工程において用いられるものと同様なフォトリソ
グラフィ技術を用いて回路パターン等を縮小してフォト
レジストに転写し、これを現像処理する一連の処理が施
される。
2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display (LC
D) In the manufacturing process of the device, for example, ITO (Indium Tin Oxi) is formed on the LCD substrate (glass substrate).
In order to form a thin film, electrode pattern, etc. of de), a circuit pattern etc. is reduced using a photolithography technique similar to that used in the semiconductor manufacturing process, transferred to a photoresist, and then developed. Processing is performed.

【0003】例えば、被処理基板である角形状のLCD
基板を、洗浄装置にて洗浄した後、LCD基板にアドヒ
ージョン処理装置にて疎水化処理を施し、冷却処理装置
にて冷却した後、レジスト塗布装置にてフォトレジスト
すなわち感光膜を塗布形成する。そして、フォトレジス
トを加熱処理装置にて加熱してベーキング処理を施した
後、露光装置にて所定のパターンを露光する。そして、
露光後のLCD基板を現像装置にて現像液を塗布して現
像した後にリンス液により現像液を洗い流し、現像処理
を完了する。
For example, a rectangular LCD which is a substrate to be processed
After the substrate is washed by a washing device, the LCD substrate is subjected to a hydrophobic treatment by an adhesion treatment device and cooled by a cooling treatment device, and then a photoresist, that is, a photosensitive film is applied and formed by a resist applying device. Then, the photoresist is heated by a heat treatment device to be subjected to baking treatment, and then a predetermined pattern is exposed by an exposure device. And
The exposed LCD substrate is coated with a developing solution by a developing device and developed, and then the developing solution is washed away with a rinse solution to complete the developing process.

【0004】上記のような処理を行う場合、LCD基板
等の被処理基板の表面にスピンコーティング法やスプレ
ー法等によってレジスト液を塗布する処理が行われてお
り、この処理方法の1つとして、密閉式の処理容器内に
収容される被処理基板の表面に塗布液を塗布した後、上
記処理容器と被処理基板を回転して被処理基板の表面に
塗布膜を形成する処理方法が知られている。この処理方
法によれば、処理容器と被処理基板とを同時に回転する
ことにより、被処理基板の表面外気に直接晒すことなく
レジスト液を塗布することができる。また、この種の処
理方法において、レジスト膜の膜厚を制御するために、
例えば処理容器の排気量の調整、処理容器の回転力の調
整あるいはレジスト液の供給量の調整等が行われてい
る。
In the case of performing the above-mentioned treatment, a treatment of applying a resist solution to the surface of a substrate to be treated such as an LCD substrate by a spin coating method, a spray method or the like is performed. One of the treatment methods is as follows. A known method is to apply a coating liquid to the surface of a substrate to be processed housed in a closed processing container, and then rotate the processing container and the substrate to be processed to form a coating film on the surface of the substrate to be processed. ing. According to this processing method, by rotating the processing container and the substrate to be processed at the same time, the resist solution can be applied without directly exposing the surface of the substrate to be exposed to the outside air. Further, in this type of processing method, in order to control the film thickness of the resist film,
For example, the exhaust amount of the processing container is adjusted, the rotational force of the processing container is adjusted, or the supply amount of the resist solution is adjusted.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、LCD
基板のように角形の被処理基板においては、回転時の基
板近傍の乱流発生や、安全溶媒(溶剤)の使用要求の増
加などから、装置駆動条件や使用溶剤の違いにより、塗
布膜厚の均一性コントロールが難しい状態にある。
However, the LCD is
In the case of a rectangular substrate such as a substrate, turbulent flow near the substrate during rotation and an increase in the demand for the use of safe solvents (solvents) may cause the coating film thickness to vary depending on the device driving conditions and the solvent used. Uniformity control is difficult.

【0006】例えば、溶剤の蒸気圧が高いものは乾燥し
易く、ECA系(エチレングリコールモノエチルエーテ
ルアセテート)とPGMEA系(プロピレングリコール
モノメチルエーテルアセテート)でも膜厚分布は異な
り、その制御は基板内・外周部の膜厚差異も含めて極め
て難しいという問題があった。
For example, if the solvent has a high vapor pressure, it easily dries, and the film thickness distribution is different between the ECA type (ethylene glycol monoethyl ether acetate) and PGMEA type (propylene glycol monomethyl ether acetate). There is a problem that it is extremely difficult to include the difference in film thickness at the outer peripheral portion.

【0007】また、塗布処理中に処理容器内にレジスト
残留濃度ミストが上がり、このレジスト残留ミストは乾
燥してパーティクルと変化するため、レジスト塗布処理
後は処理容器を開放する前に内部の空気置換を行わなけ
ればならないという問題があった。
Further, the residual resist concentration mist rises in the processing container during the coating process, and the residual resist mist is dried and changes into particles. Therefore, after the resist coating process, the internal air is replaced before opening the processing container. There was a problem that I had to do.

【0008】この発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、塗布膜の膜厚制御と空気置換とを容易に行えるよう
にした処理方法及び処理装置を提供することを目的とす
るものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a processing method and a processing apparatus capable of easily controlling the film thickness of a coating film and performing air replacement.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の処理方法は、密閉式の処理容器内に収容
される被処理基板の表面に塗布液を塗布した後、上記処
理容器と被処理基板を回転して被処理基板の表面に塗布
膜を形成する処理方法において、上記被処理基板の表面
に塗布膜を形成する塗布工程中に、上記処理容器内に外
気を導入する工程と、上記塗布工程終了後に、上記処理
容器内に外気を導入して、処理容器内の雰囲気を外気と
置換する工程とを有することを特徴とするものである
(請求項1)。
In order to achieve the above object, the processing method of the present invention is such that after the coating liquid is applied to the surface of a substrate to be processed contained in a closed processing container, the processing container is treated. And a treatment method of rotating a substrate to be processed to form a coating film on the surface of the substrate to be treated, a step of introducing outside air into the processing container during a coating step of forming a coating film on the surface of the substrate to be treated And the step of replacing the atmosphere in the processing container with the outside air by introducing outside air into the processing container after completion of the coating step (claim 1).

【0010】この発明の処理装置は、被処理基板を保持
する回転可能な保持手段と、上記被処理基板を収容する
回転可能な密閉式処理容器と、上記被処理基板の表面に
塗布液を供給する塗布液供給手段とを具備する処理装置
を前提とし、上記処理容器に、この処理容器の回転に伴
って処理容器内に外気を導入する螺旋状の外気導入通路
を設けたことを特徴とするものである(請求項2)。
The processing apparatus of the present invention comprises a rotatable holding means for holding a substrate to be processed, a rotatable hermetically-sealed processing container for housing the substrate to be processed, and a coating liquid supplied to the surface of the substrate to be processed. On the premise of a processing apparatus including a coating liquid supply means, the processing container is provided with a spiral outside air introduction passage for introducing outside air into the processing container as the processing container rotates. (Claim 2).

【0011】[0011]

【作用】この発明によれば、被処理基板の表面に塗布膜
を形成する塗布工程中に、処理容器内に外気(空気)を
導入することにより、塗布液のミストの被処理基板への
付着を抑制すると共に、塗布液を均一に乾燥させて膜厚
の均一な塗布膜を形成することができる。また、塗布工
程終了後に、処理容器内に外気を導入して、処理容器内
の雰囲気を外気と置換することにより、処理容器内に残
存するミスト化された塗布液の濃度を希釈することがで
きる。したがって、塗布膜の均一化が図れ、また、塗布
処理後に発生する残留塗布液ミストの濃度を低減して残
存する塗布液の乾燥によるパーティクルの発生を防止す
ることができる。(請求項1)。
According to the present invention, the outside air (air) is introduced into the processing container during the coating process for forming the coating film on the surface of the substrate to be processed, so that the mist of the coating liquid adheres to the substrate to be processed. It is possible to form a coating film having a uniform film thickness by suppressing the above-mentioned problem and drying the coating liquid uniformly. Further, after the coating process is completed, by introducing outside air into the processing container and replacing the atmosphere inside the processing container with outside air, the concentration of the misted coating liquid remaining in the processing container can be diluted. . Therefore, the coating film can be made uniform, and the concentration of the residual coating liquid mist generated after the coating process can be reduced to prevent the generation of particles due to the drying of the residual coating liquid. (Claim 1).

【0012】また、上記のように構成されるこの発明の
処理装置によれば、塗布処理中又は塗布処理後に処理容
器が回転することにより、外気導入通路を通って外気を
積極的に処理容器内に導入することができる(請求項
2)。
Further, according to the processing apparatus of the present invention configured as described above, the processing container is rotated during or after the coating process so that the outside air is positively introduced into the processing container through the outside air introduction passage. (Claim 2).

【0013】[0013]

【実施例】以下にこの発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。ここでは、この発明の処理装置を、LCD
基板のレジスト塗布装置に適用した場合について説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. Here, the processing device of the present invention is used as an LCD.
A case where the present invention is applied to a substrate resist coating apparatus will be described.

【0014】この発明の処理装置は、図1に示すよう
に、角形状の被処理基板例えば矩形状のLCD基板G
(以下に基板という)の表面に塗布液例えばレジスト液
を供給してレジスト液を塗布する塗布液供給手段として
のレジスト液供給ノズル10と、基板Gを図示しない真
空装置によって吸着保持すると共に水平方向(θ方向)
に回転するスピンチャック20と、このスピンチャック
20の上部及び外周部を包囲する処理室31を有する上
方部が開口した有低開口円筒状の処理容器30(以下に
回転カップという)と、この回転カップ30の開口部3
2を開閉可能に被着(着脱)される蓋体33と、回転カ
ップ30の下部及び外周側を取囲むように配置されるド
レンカップ40とで主要部が構成されている。
As shown in FIG. 1, the processing apparatus of the present invention has a rectangular substrate to be processed, for example, a rectangular LCD substrate G.
A resist liquid supply nozzle 10 as a coating liquid supply means for supplying a coating liquid, for example, a resist liquid to the surface of a substrate (hereinafter referred to as a substrate) to apply the resist liquid; (Θ direction)
A spin chuck 20 that rotates in a vertical direction, a processing container 30 (hereinafter referred to as a rotating cup) in the form of a cylinder having a low opening and an upper portion having a processing chamber 31 that surrounds an upper portion and an outer peripheral portion of the spin chuck 20 and has an open upper portion; Opening 3 of cup 30
A main part is composed of a lid 33 that is attached (detachable) so as to be capable of opening and closing 2, and a drain cup 40 that is arranged so as to surround the lower portion and the outer peripheral side of the rotary cup 30.

【0015】上記スピンチャック20は、図2に示すよ
うに、略矩形状に形成され、各辺部側に窓穴20aを有
するフレーム体20bにて形成されており、フレーム体
20bの角部に基板Gの角部の2辺を支持する筒状の支
持ピース20cを水平方向に回転可能に取り付けてな
る。また、スピンチャック20は下方に配置した駆動モ
ータ21の駆動によって回転される回転軸22を介して
水平方向に回転(自転)可能になっており、また回転軸
22に連結される昇降シリンダ23の駆動によって上下
方向に移動し得るようになっている。
As shown in FIG. 2, the spin chuck 20 is formed of a frame body 20b having a substantially rectangular shape and having a window hole 20a on each side, and a corner portion of the frame body 20b. A tubular support piece 20c that supports two sides of the corner of the substrate G is rotatably attached in the horizontal direction. Further, the spin chuck 20 is rotatable (rotatable) in the horizontal direction via a rotary shaft 22 that is rotated by the drive of a drive motor 21 arranged below, and an elevating cylinder 23 connected to the rotary shaft 22. It can be moved up and down by driving.

【0016】この場合、回転軸22は、固定筒体24の
内周面にベアリング25aを介して回転及び摺動可能に
装着されている。回転軸22には従動歯付プーリ26a
が装着されており、従動歯付プーリ26aには駆動モー
タ21の駆動軸21aに装着された駆動歯付プーリ21
bとの間に歯付ベルト27aが掛け渡されている。
In this case, the rotary shaft 22 is rotatably and slidably mounted on the inner peripheral surface of the fixed cylindrical body 24 via a bearing 25a. The rotary shaft 22 has a driven toothed pulley 26a.
Is attached to the driven toothed pulley 26a, and the driven toothed pulley 26a is attached to the drive shaft 21a of the drive motor 21.
The toothed belt 27a is stretched between the b and the b.

【0017】したがって、駆動モータ21の駆動によっ
て歯付ベルト27aを介して回転軸22が回転してスピ
ンチャック20が回転される。また、回転軸22の下部
側は図示しない筒体内に配設されており、筒体内におい
て回転軸22はバキュームシール部28を介して昇降シ
リンダ23に連結され、昇降シリンダ23の駆動によっ
て回転軸22が上下方向に移動し得るようになってい
る。
Therefore, when the drive motor 21 is driven, the rotary shaft 22 is rotated via the toothed belt 27a and the spin chuck 20 is rotated. Further, the lower side of the rotary shaft 22 is disposed in a cylinder body (not shown), and the rotary shaft 22 is connected to the elevating cylinder 23 via a vacuum seal portion 28 in the cylinder body and is driven by the elevating cylinder 23. Can move up and down.

【0018】上記回転カップ30は、上記固定筒体24
の外周面にベアリング25bを介して装着される回転筒
体29を介して取り付けられており、回転カップ30の
底部30aとスピンチャック20の下面との間にはシー
ル機能を有するベアリング(図示せず)が介在されてス
ピンチャック20と相対的に回転可能になっている。そ
して、回転筒体29に装着される従動歯付プーリ26b
と上記駆動モータ21に装着される駆動歯付プーリ21
cに掛け渡される歯付ベルト29bによって駆動モータ
21からの駆動が回転カップ30に伝達されて回転カッ
プ30が回転される。
The rotary cup 30 has the fixed cylindrical body 24.
Is attached to the outer peripheral surface of the rotary cup 30 via a rotary cylinder 29 that is mounted via a bearing 25b, and has a sealing function between the bottom 30a of the rotary cup 30 and the lower surface of the spin chuck 20 (not shown). ) Is interposed so that it can rotate relative to the spin chuck 20. Then, the driven toothed pulley 26b mounted on the rotating tubular body 29.
And a drive toothed pulley 21 mounted on the drive motor 21.
The drive from the drive motor 21 is transmitted to the rotary cup 30 by the toothed belt 29b that is wound around c, and the rotary cup 30 is rotated.

【0019】この場合、従動歯付プーリ26bの直径は
上記回転軸22に装着された従動歯付プーリ26aの直
径と同一に形成され、同一の駆動モータ21に歯付ベル
ト27a,27bが掛け渡されているので、回転カップ
30とスピンチャック20は同一回転する。また、駆動
歯付プーリ21b及び21cはそれぞれクラッチ21
d,21eを介して駆動軸21aに装着されており、ク
ラッチ21d,21eの作動によって駆動歯付プーリ2
1bと21cが独立して駆動し得るように構成されてい
る。したがって、スピンチャック20と回転カップ30
は同時に回転することができると共に、スピンチャック
20を停止して回転カップ30のみを回転させることが
できる。このような動作は、同一の駆動モータ21を用
いずに、別々の駆動モータにそれぞれ歯付ベルト27
a,27bを介して従動プーリ26a,26bを連結す
ることによっても行うことができる。
In this case, the diameter of the driven toothed pulley 26b is formed to be the same as the diameter of the driven toothed pulley 26a mounted on the rotary shaft 22, and the toothed belts 27a and 27b are wound around the same drive motor 21. Therefore, the rotating cup 30 and the spin chuck 20 rotate in the same direction. Further, the drive toothed pulleys 21b and 21c are respectively the clutch 21
It is mounted on the drive shaft 21a through the drive shafts 21d and 21e, and the pulleys 2 with drive teeth are driven by the operation of the clutches 21d and 21e.
It is configured that 1b and 21c can be driven independently. Therefore, the spin chuck 20 and the rotating cup 30
Can rotate at the same time, and the spin chuck 20 can be stopped and only the rotating cup 30 can be rotated. In such an operation, the toothed belts 27 are provided to different drive motors without using the same drive motor 21.
It can also be performed by connecting the driven pulleys 26a and 26b via a and 27b.

【0020】なお、上記駆動歯付プーリ21b,21c
及び従動歯付プーリ26a,26bの中央部を、図5及
び図6に示すように、中高50に形成することにより、
ベルト27a,27bの張力を利用してプーリ21b,
21c,26a,26bに自動調心機能を持たせること
ができる。また、プーリフランジを設ける必要がないの
で、ベルト27a,27bの側部の摩耗を防止すること
ができると共に、ベルト駆動機構を小型化することがで
きる。
The pulleys 21b and 21c with the driving teeth are provided.
By forming the center portion of the driven toothed pulleys 26a and 26b into a medium height 50 as shown in FIGS. 5 and 6,
The pulley 21b, utilizing the tension of the belts 27a, 27b,
21c, 26a and 26b can be provided with an automatic centering function. Further, since it is not necessary to provide the pulley flange, it is possible to prevent the side portions of the belts 27a and 27b from being worn and to downsize the belt drive mechanism.

【0021】なお、固定筒体24と回転軸22及び回転
筒体29との対向面にはラビリンスシール部(図示せ
ず)が形成されて回転処理時に下部の駆動系から回転カ
ップ30内にごみが進入するのを防止している。なお、
上記従動歯付プーリ26aと26bの直径を異ならせ、
異なる回転数で回転させるようにしてもよい。
A labyrinth seal portion (not shown) is formed on the opposing surfaces of the fixed cylindrical body 24, the rotary shaft 22 and the rotary cylindrical body 29, so that dust can be removed from the lower drive system into the rotary cup 30 during the rotation process. Are prevented from entering. In addition,
The driven toothed pulleys 26a and 26b have different diameters,
You may make it rotate at a different rotation speed.

【0022】また、上記回転カップ30の開口部32に
被着される蓋体33は、その中央部から上方に向って軸
部34が突出しており、この軸部34の上端部と軸部3
4の下部の処理室31とを連通すべく螺旋状の外気導入
通路35が設けられている(図4参照)。また、回転カ
ップ30の側壁30bの下部側の周方向の適宜位置には
排気孔36が穿設されている。また、蓋体33と基板G
との中間位置に、中心部分で蓋体33に取着された基板
G以上の大きさの多孔板等にて形成されるバッフル板3
7が配置されている。なお、外気導入通路35の処理室
31側の開口部近傍には、フィルタ機能を有する補助バ
ッフル板37aが配設されている。
Further, the cover 33 attached to the opening 32 of the rotary cup 30 has a shaft portion 34 protruding upward from the central portion thereof, and the upper end portion of the shaft portion 34 and the shaft portion 3 are provided.
A spiral outside air introduction passage 35 is provided to communicate with the processing chamber 31 below 4 (see FIG. 4). Further, an exhaust hole 36 is formed at an appropriate position in the circumferential direction on the lower side of the side wall 30b of the rotary cup 30. In addition, the lid 33 and the substrate G
A baffle plate 3 formed of a perforated plate or the like having a size larger than that of the substrate G attached to the lid 33 at the central portion at an intermediate position between
7 are arranged. An auxiliary baffle plate 37a having a filter function is arranged near the opening of the outside air introduction passage 35 on the processing chamber 31 side.

【0023】一方、ドレンカップ40の底部の外周側に
は排液口41が設けられ、この排液口41の内方側には
図示しない真空ポンプ等の排気装置に接続する排気口4
2が設けられている。
On the other hand, a drain port 41 is provided on the outer peripheral side of the bottom of the drain cup 40, and an exhaust port 4 connected to an exhaust device such as a vacuum pump (not shown) is provided on the inner side of the drain port 41.
Two are provided.

【0024】上記のように構成することにより、駆動モ
ータ21が駆動すると、回転カップ30が図1の矢印A
方向に回転し、この回転カップ30の回転により外気が
外気導入通路35を通って処理室31内に流れ、排気孔
36から排気口42に向って流れる。
With the above-described structure, when the drive motor 21 is driven, the rotary cup 30 moves in the direction of arrow A in FIG.
When the rotary cup 30 rotates, the outside air flows through the outside air introduction passage 35 into the processing chamber 31, and flows from the exhaust hole 36 toward the exhaust port 42.

【0025】上記説明では、ドレンカップ40の底部4
0aに排液口41と排気口42を設けた場合について説
明したが、必しもこのような構造とする必要はなく、例
えば図3に示すように、回転カップ30の外周側に中空
リング状のドレンカップ40Aを配置し、このドレンカ
ップ40内部に環状通路43を設け、この環状通路43
の外周壁の適宜箇所(例えば周方向の4箇所)に図示し
ない排気装置に接続する排気口42を設けると共に、ド
レンカップ40の内周側上方部に排気口42と連通する
放射状の排気通路44を形成してもよい。
In the above description, the bottom portion 4 of the drain cup 40 is
0a is provided with the drainage port 41 and the exhaust port 42, but it is not always necessary to have such a structure. For example, as shown in FIG. Of the drain cup 40A is provided, and an annular passage 43 is provided inside the drain cup 40.
A radial exhaust passage 44 communicating with the exhaust port 42 is provided at an upper portion on the inner peripheral side of the drain cup 40, while providing an exhaust port 42 connected to an exhaust device (not shown) at appropriate places (for example, four places in the circumferential direction) on the outer peripheral wall of May be formed.

【0026】このようにドレンカップ40の外周部に排
気口42を設けると共に、ドレンカップ40の内周側上
方部に排気口42と連通する排気通路44を形成するこ
とにより、回転処理時に処理室31内で遠心力により飛
散し排気孔36を通ってドレンカップ40内に流れ込ん
だミストが回転カップ30の上部側へ舞い上がるのを防
止して、排気口42から外部に排出することができる。
As described above, the exhaust port 42 is provided on the outer peripheral portion of the drain cup 40, and the exhaust passage 44 communicating with the exhaust port 42 is formed on the upper inner peripheral side of the drain cup 40. The mist scattered by the centrifugal force in 31 and flowing into the drain cup 40 through the exhaust hole 36 can be prevented from rising to the upper side of the rotary cup 30, and can be discharged to the outside from the exhaust port 42.

【0027】上記環状通路43は、ドレンカップ40の
底部から起立する外側壁43aとドレンカップ40の天
井部から垂下する内側壁43bとで迂回状に区画され
て、排気が均一に行えるようになっており、外側壁43
aと内側壁43bとの間に位置する底部43cには周方
向に適宜間隔をおいて排液口41が設けられている。
The annular passage 43 is detoured by an outer wall 43a standing upright from the bottom of the drain cup 40 and an inner side wall 43b hanging down from the ceiling of the drain cup 40 so that exhaust can be performed uniformly. The outer wall 43
The bottom part 43c located between a and the inner wall 43b is provided with a drainage port 41 at an appropriate interval in the circumferential direction.

【0028】上記蓋体33は回転処理時には回転カップ
30の開口部32に固定されて一体に回転される必要が
あるので、例えば回転カップ30の上部に突出する固定
ピン(図示せず)と、この固定ピンに嵌合する嵌合凹所
(図示せず)とを互いに嵌合させて蓋体33を回転カッ
プ30に固定することができる。
Since the lid 33 needs to be fixed to the opening 32 of the rotary cup 30 and rotated integrally during the rotation process, for example, a fixing pin (not shown) protruding above the rotary cup 30, The lid 33 can be fixed to the rotating cup 30 by fitting a fitting recess (not shown) fitted to the fixing pin to each other.

【0029】上記蓋体33を開閉する場合には、図1に
想像線で示すように、蓋体33の上面に突設された膨隆
頭部33aの下にロボットアーム50を挿入し、膨隆頭
部33aに設けられた係止溝33bにロボットアーム5
0から突出する係止ピン51を係合させた後、ロボット
アーム50を上下動させることによって行うことができ
る。なお、蓋体33を開放するときの膨隆頭部33aの
係止溝33bとロボットアーム50の係止ピン51との
位置合せ、及び蓋体33を閉じるときの固定ピンと嵌合
凹所の位置合せは、サーボモータ等にて形成される駆動
モータ21の回転角を制御することによって行うことが
できる。
When the lid 33 is opened and closed, the robot arm 50 is inserted under the bulging head portion 33a protruding from the upper surface of the lid body 33 as shown by an imaginary line in FIG. The robot arm 5 is provided in the locking groove 33b provided in the portion 33a.
This can be done by engaging the locking pin 51 protruding from 0 and then moving the robot arm 50 up and down. It should be noted that the locking groove 33b of the bulging head 33a and the locking pin 51 of the robot arm 50 are aligned when the lid 33 is opened, and the fixing pin and the fitting recess are aligned when the lid 33 is closed. Can be performed by controlling the rotation angle of the drive motor 21 formed by a servo motor or the like.

【0030】なお、回転カップ30の下部側の回転せず
固定された固定筒体24内にカップ洗浄ノズル(図示せ
ず)を配設することにより、回転カップ30及び蓋体3
3の内面を洗浄することができる。すなわち、スピンチ
ャック20を上昇させてスピンチャック20と回転カッ
プ30の底部との間からカップ洗浄ノズルを臨ませて洗
浄液を回転する回転カップ30及び蓋体33の内面に噴
射して、回転カップ30及び蓋体33の内面を洗浄する
ことができる。
By disposing a cup cleaning nozzle (not shown) in the fixed cylindrical body 24 which is fixed on the lower side of the rotary cup 30 without rotating, the rotary cup 30 and the lid 3 are provided.
The inner surface of 3 can be cleaned. That is, the spin chuck 20 is lifted to face the cup cleaning nozzle between the spin chuck 20 and the bottom of the rotary cup 30, and the cleaning liquid is sprayed onto the inner surface of the rotating cup 30 and the lid 33 to rotate the rotary cup 30. The inner surface of the lid 33 can be washed.

【0031】次に、上記のように構成されるこの発明の
処理装置を用いて基板G上へのレジスト塗布の手順につ
いて、図7を参照して説明する。
Next, the procedure of resist coating on the substrate G using the processing apparatus of the present invention configured as described above will be described with reference to FIG.

【0032】まず、蓋体33を上方に引き上げた状態
で、スピンチャック20上に搬送されてきた基板Gをス
ピンチャック20にて吸着保持した後、基板Gの表面に
レジスト液供給ノズル10からレジスト液を滴下する
(図7(a)参照)。次に、レジスト液供給ノズル10
を後退させて、蓋体33を下降させて回転カップ30の
開口部32を塞いだ状態で、スピンチャック20と回転
カップ30を回転させると、基板G表面に滴下されたレ
ジスト液は遠心力によって拡散されて基板G表面にレジ
スト膜が形成される(図7(b)参照)。このとき、回
転カップ30の軸部34に設けられた外気導入通路35
から外気が処理室31内に導入され、この導入された外
気すなわち空気は基板Gの中心部から外周部に向って流
れて排気孔36を介して排気口42に流れるので、レジ
ストミストの基板Gへの付着を抑制すると共に、レジス
トの均一な乾燥及びレジスト膜厚の均一化が図れる。
First, with the lid 33 pulled up, the substrate G carried on the spin chuck 20 is adsorbed and held by the spin chuck 20, and then the resist is supplied from the resist solution supply nozzle 10 to the surface of the substrate G. The liquid is dropped (see FIG. 7 (a)). Next, the resist solution supply nozzle 10
When the spin chuck 20 and the rotating cup 30 are rotated with the lid 33 lowered to close the opening 32 of the rotating cup 30, the resist liquid dropped on the surface of the substrate G is subjected to centrifugal force. A resist film is diffused to form a resist film on the surface of the substrate G (see FIG. 7B). At this time, the outside air introduction passage 35 provided in the shaft portion 34 of the rotary cup 30
Outside air is introduced into the processing chamber 31 from the inside, and the introduced outside air, that is, air, flows from the central portion of the substrate G toward the outer peripheral portion and flows to the exhaust port 42 through the exhaust hole 36. It is possible to suppress the adhesion to the surface and to uniformly dry the resist and make the resist film thickness uniform.

【0033】のようにして塗布処理を行った後、スピン
チャック20の回転を停止し、回転カップ30のみを回
転すると、上述したように回転カップ30の軸部34に
設けられた外気導入通路35から外気(空気)が処理室
31内に導入されて、処理室31内に在留するレジスト
ミストの雰囲気を空気と置換して、レジストミストを排
液口41から外部に排出する(図7(c)参照)。そし
て、塗布処理後、回転カップ30を所定時間回転させた
後、塗布処理は完了する。
After the spin chuck 20 is stopped from rotating after the coating process is performed as described above, and only the rotary cup 30 is rotated, the outside air introduction passage 35 provided in the shaft portion 34 of the rotary cup 30 as described above. Outside air (air) is introduced into the processing chamber 31 from the air, the atmosphere of the resist mist residing in the processing chamber 31 is replaced with air, and the resist mist is discharged to the outside through the drainage port 41 (FIG. 7C). )reference). After the coating process, the rotary cup 30 is rotated for a predetermined time, and then the coating process is completed.

【0034】上記のように構成されるこの発明の処理装
置は単独の装置として使用できることは勿論であるが、
以下に説明するLCD基板の塗布・現像処理システムに
組込んで使用することができる。
It goes without saying that the processing apparatus of the present invention configured as described above can be used as an independent apparatus.
It can be incorporated and used in the coating / developing processing system for LCD substrates described below.

【0035】上記塗布・現像処理システムは、図8に示
すように、基板Gを搬入・搬出するローダ部90と、基
板Gの第1処理部91と、中継部93を介して第1処理
部91に連設される第2処理部92とで主に構成されて
いる。なお、第2処理部92には受渡し部94を介して
レジスト膜に所定の微細パターンを露光するための露光
装置95が連設可能になっている。
As shown in FIG. 8, the coating / developing system described above includes a loader section 90 for loading / unloading the substrate G, a first processing section 91 for the substrate G, and a first processing section via a relay section 93. It is mainly configured with a second processing unit 92 that is provided in series with 91. An exposure device 95 for exposing a predetermined fine pattern on the resist film can be connected to the second processing section 92 via a transfer section 94.

【0036】上記ローダ部90は、未処理の基板Gを収
容するカセット96と、処理済みの基板Gを収容するカ
セット97を載置するカセット載置台98と、このカセ
ット載置台98上のカセット96,97との間で基板G
の搬出入を行うべく水平(X,Y)方向と垂直(Z)方
向の移動及び回転(θ)可能な基板搬出入ピンセット9
9とで構成されている。
The loader section 90 has a cassette 96 for accommodating an unprocessed substrate G, a cassette mounting table 98 for mounting a cassette 97 for accommodating the processed substrate G, and a cassette 96 on the cassette mounting table 98. , 97 to substrate G
Substrate loading / unloading tweezers 9 capable of moving and rotating (θ) in horizontal (X, Y) and vertical (Z) directions for loading / unloading
It is composed of 9 and 9.

【0037】上記第1処理部91は、X,Y、Z方向の
移動及びθ回転可能なメインアーム80の搬送路100
の一方の側に、基板Gをブラシ洗浄するブラシ洗浄装置
110と、基板Gを高圧ジェット水で洗浄するジェット
水洗浄装置120と、基板Gの表面を疎水化処理するア
ドヒージョン処理装置130と、基板Gを所定温度に冷
却する冷却処理装置140とを配置し、搬送路100の
他方の側に、この発明の処理装置を具備する塗布処理装
置150と塗布膜除去装置160を配置してなる。
The first processing section 91 is a transport path 100 for the main arm 80 which is movable in the X, Y and Z directions and is rotatable by θ.
On one side, a brush cleaning device 110 for brush cleaning the substrate G, a jet water cleaning device 120 for cleaning the substrate G with high-pressure jet water, an adhesion treatment device 130 for hydrophobicizing the surface of the substrate G, and a substrate A cooling processing device 140 for cooling G to a predetermined temperature is arranged, and a coating processing device 150 and a coating film removing device 160 having the processing device of the present invention are arranged on the other side of the transport path 100.

【0038】この場合、上記メインアーム80は、図9
及び図10に示すように、上下2段のコ字状アーム体8
1a,81bがそれぞれ独立して水平方向に進退移動可
能な二重構造となっいてる。すなわち、対向して配置さ
れる外側リニアガイド82に沿って摺動可能な一対の外
側フレーム83によって上部アーム体81aの両側を支
持し、第1の駆動モータ84の駆動軸84aに装着され
る駆動歯付プーリ85aに歯付ベルト85bを掛け渡し
て連結される伝達歯付プーリ85cを介して駆動される
外側歯付プーリ85に掛け渡される歯付ベルト(図示せ
ず)と外側フレーム83とを締結して、第1の駆動モー
タ84の正逆回転によって上部アーム体81aを進退移
動可能に構成する。また、外側リニアガイド82の内側
に配設される一対の内側リニアガイド86に沿って移動
可能な内側フレーム87にて下部アーム体81bを支持
し、第2の駆動モータ88の駆動軸88aに装着される
駆動歯付プーリ89aに歯付ベルト89bを掛け渡して
連結される伝達歯付プーリ89cを介して駆動される内
側歯付プーリ89に掛け渡される歯付ベルト(図示せ
ず)と内側フレーム87とを締結して、第2の駆動モー
タ88の正逆回転によって下部アーム体81bを進退移
動可能に構成してある。
In this case, the main arm 80 has the structure shown in FIG.
As shown in FIG. 10 and FIG.
1a and 81b each have a double structure capable of independently moving forward and backward in the horizontal direction. That is, a pair of outer frames 83, which are slidable along the outer linear guides 82 arranged to face each other, support both sides of the upper arm 81 a, and are mounted on the drive shaft 84 a of the first drive motor 84. The outer frame 83 and the toothed belt (not shown) that is hung on the outer toothed pulley 85 that is driven by the transmission toothed pulley 85c that is connected by hung the toothed belt 85b on the toothed pulley 85a. The upper arm body 81a can be moved forward and backward by fastening the first drive motor 84 forward and backward. Further, the lower arm body 81b is supported by an inner frame 87 movable along a pair of inner linear guides 86 arranged inside the outer linear guide 82, and is attached to a drive shaft 88a of a second drive motor 88. The toothed belt (not shown) and the inner frame that are hung on the inner toothed pulley 89 that is driven by the transmission toothed pulley 89c that is connected by the toothed belt 89b that is connected to the driven toothed pulley 89a. The lower arm body 81b can be moved forward and backward by the forward and reverse rotations of the second drive motor 88 by connecting with 87.

【0039】上記のように構成されるメインアーム80
のベルト駆動機構において、各歯付プーリ85a,85
c,85;89a,89c,89を、図5及び図6に示
したように中高50に形成することにより、歯付プーリ
にフランジを設ける必要がなく、自動調心機能を具備さ
せることができ、また、歯付ベルトの側部の摩耗を防止
することができると共に、ベルトの摩耗により生じる粉
塵の発生を防止することができる。更には、ベルト駆動
機構を小型化できると共に、装置の小型化を図ることが
できる。なお、上記アーム体81a,81bには基板G
を保持する保持爪81cが立設されている。また、メイ
ンアーム80のアーム体81a,81b上に載置される
基板Gの有無はセンサ200によって検出できるように
構成されている(図10参照)。
Main arm 80 constructed as described above
In the belt drive mechanism of, the toothed pulleys 85a, 85
By forming the c, 85; 89a, 89c, 89 in the middle height 50 as shown in FIGS. 5 and 6, it is not necessary to provide a flange on the toothed pulley, and the self-centering function can be provided. In addition, it is possible to prevent wear of the side portions of the toothed belt and also to prevent generation of dust caused by wear of the belt. Further, the belt drive mechanism can be downsized and the device can be downsized. It should be noted that the substrate G is attached to the arm bodies 81a and 81b.
A holding claw 81c for holding the is provided upright. Further, the presence or absence of the substrate G placed on the arm bodies 81a and 81b of the main arm 80 can be detected by the sensor 200 (see FIG. 10).

【0040】一方、上記第2処理部92は、第1処理部
91と同様に、X,Y、Z方向の移動及びθ回転可能な
メインアーム80Aを有し、このメインアーム80Aの
搬送路100aの一方の側に、レジスト液塗布の前後で
基板Gを加熱してプリベーク又はポストベークを行う加
熱処理装置170を配置し、搬送路100aの他方の側
に、現像装置180を配置している。
On the other hand, the second processing section 92 has a main arm 80A that is movable in the X, Y and Z directions and can rotate by the same as the first processing section 91, and the main arm 80A transport path 100a. A heat treatment device 170 that heats the substrate G before and after applying the resist solution to perform pre-baking or post-baking is arranged on one side, and the developing device 180 is arranged on the other side of the transport path 100a.

【0041】なお、上記受渡し部94には、基板Gを一
時待機させるためのカセット94aと、このカセット9
4aとの間で基板Gの出入れを行う搬送用ピンセット9
4bと、基板Gの受渡し台94cが設けられている。
The transfer section 94 has a cassette 94a for temporarily holding the substrate G, and the cassette 9a.
Transport tweezers 9 for loading and unloading the substrate G with the 4a
4b and a transfer table 94c for the substrate G are provided.

【0042】上記のように構成される塗布・現像処理シ
ステムにおいて、カセット96内に収容された未処理の
基板Gはローダ部90の搬出入ピンセット99によって
取出された後、第1処理部91のメインアーム80に受
け渡され、そして、ブラシ洗浄装置110内に搬送され
る。このブラシ洗浄装置110内にてブラシ洗浄された
基板Gは引続いてジェット水洗浄装置120内にて高圧
ジェット水により洗浄される。この後、基板Gは、アド
ヒージョン処理装置130にて疎水化処理が施され、冷
却処理装置140にて冷却された後、この発明に係るレ
ジスト塗布処理装置160にてフォトレジストすなわち
感光膜が塗布形成され、引続いて塗布膜除去装置160
よって基板Gの辺部の不要なレジスト膜が除去される。
そして、このフォトレジストが加熱処理装置170にて
加熱されてベーキング処理が施された後、露光装置95
にて所定のパターンが露光される。そして、露光後の基
板Gは現像装置180内へ搬送され、現像液により現像
された後にリンス液により現像液を洗い流し、現像処理
を完了する。
In the coating / developing processing system configured as described above, the unprocessed substrate G accommodated in the cassette 96 is taken out by the carry-in / take-out tweezers 99 of the loader section 90, and then the first processing section 91. It is delivered to the main arm 80 and then conveyed into the brush cleaning device 110. The substrate G brush-cleaned in the brush cleaning device 110 is subsequently cleaned in the jet water cleaning device 120 with high-pressure jet water. After that, the substrate G is subjected to a hydrophobic treatment by the adhesion processing device 130 and cooled by the cooling processing device 140, and then a photoresist, that is, a photosensitive film is formed by coating with the resist coating processing device 160 according to the present invention. And subsequently the coating film removing device 160
Therefore, the unnecessary resist film on the sides of the substrate G is removed.
Then, after the photoresist is heated by the heat treatment device 170 and subjected to a baking treatment, the exposure device 95
A predetermined pattern is exposed at. Then, the exposed substrate G is conveyed into the developing device 180, developed by the developing solution, and then rinsed with the rinse solution to complete the developing process.

【0043】現像処理された処理済みの基板Gはローダ
部90のカセット97内に収容された後に、搬出されて
次の処理工程に向けて移送される。
The processed and processed substrate G is accommodated in the cassette 97 of the loader unit 90, then carried out and transferred to the next processing step.

【0044】なお、上記実施例では、この発明の処理方
法及び処理装置をLCD基板の塗布処理に適用した場合
について説明したが、LCD基板以外の角形状被処理基
板や半導体ウエハ等に塗布液を塗布し、塗布された被処
理基板の縁部の不要な塗布膜を除去する方法及び装置に
も適用できることは勿論である。
In the above embodiment, the case where the processing method and the processing apparatus of the present invention are applied to the coating processing of the LCD substrate has been described. However, the coating liquid is applied to the rectangular substrate other than the LCD substrate, the semiconductor wafer, or the like. It is needless to say that the present invention can be applied to a method and apparatus for applying and removing an unnecessary applied film on the edge of the applied substrate.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば、以下のような効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0046】1)請求項1記載の処理方法によれば、被
処理基板の表面に塗布膜を形成する塗布工程中に、処理
容器内に外気を導入するので、塗布液のミストの被処理
基板への付着を抑制すると共に、塗布液を均一に乾燥さ
せて膜厚の均一な塗布膜を形成することができる。ま
た、塗布工程終了後に、処理容器内に外気を導入して、
処理容器内の雰囲気を外気と置換するので、処理容器内
に残存するミスト化された塗布液の濃度を希釈すること
ができる。したがって、塗布膜の均一化が図れ、塗布処
理後に発生する残留塗布液ミストの濃度を低減して残存
する塗布液の乾燥によるパーティクルの発生を防止する
ことができる。
1) According to the processing method of claim 1, since the outside air is introduced into the processing container during the coating step of forming the coating film on the surface of the substrate to be treated, the substrate to be treated with the mist of the coating liquid is treated. It is possible to form a coating film having a uniform thickness by suppressing the adhesion to the surface and drying the coating liquid uniformly. In addition, after the coating process is completed, external air is introduced into the processing container,
Since the atmosphere in the processing container is replaced with the outside air, the concentration of the misted coating liquid remaining in the processing container can be diluted. Therefore, the coating film can be made uniform, the concentration of the residual coating liquid mist generated after the coating process can be reduced, and the generation of particles due to the drying of the residual coating liquid can be prevented.

【0047】2)請求項2記載の処理装置によれば、処
理容器の回転に伴って処理容器内に外気を導入すること
ができるので、塗布処理中は、塗布液のミストの被処理
基板への付着を抑制すると共に、塗布液を均一に乾燥さ
せて膜厚の均一な塗布膜を形成することができる。ま
た、塗布工程終了後に、処理容器内に外気を導入して、
処理容器内の雰囲気を外気と置換することにより、処理
容器内に残存するミスト化された塗布液の乾燥によるパ
ーティクルの発生を防止することができる。
2) According to the processing apparatus of the second aspect, the outside air can be introduced into the processing container with the rotation of the processing container. Therefore, during the coating processing, the mist of the coating liquid is applied to the substrate to be processed. It is possible to form a coating film having a uniform thickness by suppressing the adhesion of the coating liquid and drying the coating liquid uniformly. In addition, after the coating process is completed, external air is introduced into the processing container,
By replacing the atmosphere in the processing container with the outside air, it is possible to prevent the generation of particles due to the drying of the misted coating liquid remaining in the processing container.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の処理装置の一例の概略断面図であ
る。
FIG. 1 is a schematic sectional view of an example of a processing apparatus of the present invention.

【図2】図1の要部の概略平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view of a main part of FIG.

【図3】この発明の処理装置の変形例の概略断面図であ
る。
FIG. 3 is a schematic sectional view of a modification of the processing apparatus of the present invention.

【図4】この発明における螺旋状外気導入通路を示す断
面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a spiral outside air introducing passage according to the present invention.

【図5】処理装置のベルト駆動部を示す概略斜視図であ
る。
FIG. 5 is a schematic perspective view showing a belt driving unit of the processing device.

【図6】ベルト駆動部の歯付プーリの概略側面図であ
る。
FIG. 6 is a schematic side view of a toothed pulley of a belt driving unit.

【図7】この発明の処理方法の手順を示す説明図であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a procedure of a processing method of the present invention.

【図8】この発明の処理装置を適用したLCD基板の塗
布・現像システムの一例を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing an example of an LCD substrate coating / developing system to which the processing apparatus of the present invention is applied.

【図9】塗布・現像システムにおけるメインアームの要
部を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a main part of a main arm in a coating / developing system.

【図10】メインアームの駆動機構を示す側面図であ
る。
FIG. 10 is a side view showing a drive mechanism of the main arm.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G LCD基板(被処理基板) 10 レジスト液供給ノズル(塗布液供給手段) 20 スピンチャック(保持手段) 30 回転カップ(処理容器) 31 処理室 33 蓋体 34 軸部 35 外気導入通路 G LCD substrate (substrate to be processed) 10 Resist liquid supply nozzle (coating liquid supply means) 20 Spin chuck (holding means) 30 Rotating cup (processing container) 31 Processing chamber 33 Lid 34 Shaft 35 External air introduction passage

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 密閉式の処理容器内に収容される被処理
基板の表面に塗布液を塗布した後、上記処理容器と被処
理基板を回転して被処理基板の表面に塗布膜を形成する
処理方法において、 上記被処理基板の表面に塗布膜を形成する塗布工程中
に、上記処理容器内に外気を導入する工程と、 上記塗布工程終了後に、上記処理容器内に外気を導入し
て、処理容器内の雰囲気を外気と置換する工程とを有す
ることを特徴とする処理方法。
1. A coating solution is applied to the surface of a substrate to be processed housed in a hermetically sealed processing container, and then the processing container and the substrate to be processed are rotated to form a coating film on the surface of the substrate to be processed. In the processing method, during the coating step of forming a coating film on the surface of the substrate to be processed, a step of introducing outside air into the processing container, and after the coating step is completed, introducing outside air into the processing container, And a step of replacing the atmosphere in the processing container with outside air.
【請求項2】 被処理基板を保持する回転可能な保持手
段と、上記被処理基板を収容する回転可能な密閉式処理
容器と、上記被処理基板の表面に塗布液を供給する塗布
液供給手段とを具備する処理装置において、 上記処理容器に、この処理容器の回転に伴って処理容器
内に外気を導入する螺旋状の外気導入通路を設けたこと
を特徴とする処理装置。
2. A rotatable holding means for holding a substrate to be processed, a rotatable hermetic processing container for housing the substrate to be processed, and a coating liquid supply means for supplying a coating liquid to the surface of the substrate to be processed. A processing apparatus comprising: a processing apparatus including a spiral outside air introduction passage that introduces outside air into the processing container as the processing container rotates.
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