JPH07325015A - シングルモード光ファイバーにおける非線形屈折率測定方法 - Google Patents
シングルモード光ファイバーにおける非線形屈折率測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバーの非線形屈折率を測定する方法
を提供すること。 【構成】 光源（Ｌ）により放たれた各パルスが一対の
パルスに分割され、それらは測定中のファイバー（Ｆ）
を含んだ光ファイバーサグナック干渉計ループ（ＡＳ）
中を反対方向に送られる。その対のパルスのうちの一つ
は、もう一方のパルスのみがファイバー（Ｆ）内の非線
形効果を引き起こすようなパワーを有するように、ファ
イバー（Ｆ）を通過する前に減衰される。パルスの部分
間の干渉がループ（ＡＳ）の出力において分析され、非
線形屈折率が前記対の二つのパルス間の位相シフトの測
定から導かれる。
を提供すること。 【構成】 光源（Ｌ）により放たれた各パルスが一対の
パルスに分割され、それらは測定中のファイバー（Ｆ）
を含んだ光ファイバーサグナック干渉計ループ（ＡＳ）
中を反対方向に送られる。その対のパルスのうちの一つ
は、もう一方のパルスのみがファイバー（Ｆ）内の非線
形効果を引き起こすようなパワーを有するように、ファ
イバー（Ｆ）を通過する前に減衰される。パルスの部分
間の干渉がループ（ＡＳ）の出力において分析され、非
線形屈折率が前記対の二つのパルス間の位相シフトの測
定から導かれる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】ここに記載された発明は光ファイ
バーの特徴付けに関し、特に干渉計技術によるシングル
モード光ファイバー内の非線形屈折率を測定する方法に
関係する。
バーの特徴付けに関し、特に干渉計技術によるシングル
モード光ファイバー内の非線形屈折率を測定する方法に
関係する。
【０００２】
【従来の技術】光通信に興味ある大抵の物質では、屈折
率に影響する主な非線形現象は、光学的カー効果(Kerr
effect) である。屈折率に対するその影響は、次式によ
り表される。 n(I) = n0 + n2 I （１） ここで、n(I)はファイバー内に送られた放射の強度Ｉ
（従って、パワー）の関数としての屈折率であり、n0は
線形屈折率（定数）であり、n2はいわゆる屈折率の非線
形係数（以下、より簡単に「非線形屈折率」という。）
である。光通信システム内に光増幅器を導入することに
より、ファイバーに沿って伝送されるパワーがｎ2 に関
係する非線形効果をもはや無視できなくしている。これ
らの効果によりシステムの性能が大きく落ち、又は反対
に新しい技術的解法を実現するのに活用され得るので、
光通信の典型的動作波長において、光ファイバー内の非
線形屈折率ｎ2 の正確な知識がより一層重要になりつつ
ある。ｎ2 を測定するための幾つかの方法は知られてお
り、そして最も正確なものは、干渉計技術を基にしてい
る。
率に影響する主な非線形現象は、光学的カー効果(Kerr
effect) である。屈折率に対するその影響は、次式によ
り表される。 n(I) = n0 + n2 I （１） ここで、n(I)はファイバー内に送られた放射の強度Ｉ
（従って、パワー）の関数としての屈折率であり、n0は
線形屈折率（定数）であり、n2はいわゆる屈折率の非線
形係数（以下、より簡単に「非線形屈折率」という。）
である。光通信システム内に光増幅器を導入することに
より、ファイバーに沿って伝送されるパワーがｎ2 に関
係する非線形効果をもはや無視できなくしている。これ
らの効果によりシステムの性能が大きく落ち、又は反対
に新しい技術的解法を実現するのに活用され得るので、
光通信の典型的動作波長において、光ファイバー内の非
線形屈折率ｎ2 の正確な知識がより一層重要になりつつ
ある。ｎ2 を測定するための幾つかの方法は知られてお
り、そして最も正確なものは、干渉計技術を基にしてい
る。
【０００３】一つの例が、Ｍ．モネリ(Monerie) とＹ．
ダーテス(Durtese) による論文「交差位相変調による光
ファイバーの非線形屈折率の直接干渉計測定(Direct in
terferometric measurement of nonlinear refractive
index of optical fibres bycrossphase modulation)
」、エレクトロニクスレターズ(Electronics Letters)
、第１８巻、１９８７年、９６１−９６３頁に記載さ
れている。この論文には、異なる長さの二つのアームを
有するマッハ−ツェンダー干渉計を利用した測定装置が
記載されている。このアームのうちの一つは空中経路で
あり、もう一方は測定中のファイバーを含んでいる。第
１の放射光源により放たれた放射のビームは、二つの部
分ビームに分割され、干渉計の二つのアーム内に夫々送
られた後に再結合される。もし、補助光源により放たれ
たポンプパルスが、そのようなシステム内に第１光源に
より放たれたビームに対して反対方向に送られるなら
ば、測定中のファイバーのコアーの屈折率は増加し、異
なる経路に沿って進むビーム間の干渉のレベルにおける
変動が観測されるであろう。この変動は、測定されるべ
き屈折率の非線形係数に直接比例する相対的位相シフト
により表される。上記技術は幾つかの欠点を有してい
る。特に、その測定は二つの放射の偏光の相対的な配向
に反応する。該配向は、最終の結果への影響が幾つかの
単純化仮説を適用することによってのみ評価できる確率
的現象である。該仮説は一般的にパルスの発射条件にも
依存する。更に、放射はそれらの夫々の経路に沿ってた
だ一つの方向に進むので、温度や機械的な自然現象の環
境的変動に関して、装置が自己補償しないという事実に
よる体系的エラーが存在する。
ダーテス(Durtese) による論文「交差位相変調による光
ファイバーの非線形屈折率の直接干渉計測定(Direct in
terferometric measurement of nonlinear refractive
index of optical fibres bycrossphase modulation)
」、エレクトロニクスレターズ(Electronics Letters)
、第１８巻、１９８７年、９６１−９６３頁に記載さ
れている。この論文には、異なる長さの二つのアームを
有するマッハ−ツェンダー干渉計を利用した測定装置が
記載されている。このアームのうちの一つは空中経路で
あり、もう一方は測定中のファイバーを含んでいる。第
１の放射光源により放たれた放射のビームは、二つの部
分ビームに分割され、干渉計の二つのアーム内に夫々送
られた後に再結合される。もし、補助光源により放たれ
たポンプパルスが、そのようなシステム内に第１光源に
より放たれたビームに対して反対方向に送られるなら
ば、測定中のファイバーのコアーの屈折率は増加し、異
なる経路に沿って進むビーム間の干渉のレベルにおける
変動が観測されるであろう。この変動は、測定されるべ
き屈折率の非線形係数に直接比例する相対的位相シフト
により表される。上記技術は幾つかの欠点を有してい
る。特に、その測定は二つの放射の偏光の相対的な配向
に反応する。該配向は、最終の結果への影響が幾つかの
単純化仮説を適用することによってのみ評価できる確率
的現象である。該仮説は一般的にパルスの発射条件にも
依存する。更に、放射はそれらの夫々の経路に沿ってた
だ一つの方向に進むので、温度や機械的な自然現象の環
境的変動に関して、装置が自己補償しないという事実に
よる体系的エラーが存在する。
【０００４】これらの問題は、装置が、Ｊ．Ｅ．メイヤ
(Meier) 、Ｗ．Ｅ．ヘインレーン(Heinlein)による論文
「エルビウムドープファイバーの効果的非線形性を測定
する改良された自己補償干渉計法(Improved self-compe
nsated interferometer method to measure the effect
ive nonlinearity of an Er-doped fibre)」、光ファイ
バー計測コンファレンス’９３(Optical Fibre Measure
ment Conference '93)、トリノ、１９９３年９月２１日
〜２２日、テクニカルダイジェスト(TechnicalDiges
t)、１２５〜１２８頁に記載された測定技術により解決
される。特に、光源により放たれた各パルスは、二つの
パルスに分割され、それらはマッハ−ツェンダー(Mach-
Zehnder)干渉計の二つのアームを形成する異なる長さの
経路に沿って進む。このアームの一つ（例えば、長い方
のアーム）は、可変減衰器を含んでいる。二つの異なる
経路の終わりでは、調整可能なパワーの差異と、互いに
関するある時間遅延を有するパルスの一対が得られる。
これら二つのパルスは測定中のファイバー内に送られ
る。ファイバーの終わりでは、前記パルス対が反射さ
れ、その反射されたパルスは、ファイバーの入力端から
出るときに、再び分割され、パルス対が前方へ進行した
のと同じ経路に沿って送られる。このように、三つのパ
ルスが得られる。そのうちの第一のものは短い経路を二
回進み、第二のものは長い経路を二回進み、中心のもの
は長い経路を一回と短い経路を一回進んだ二つのパルス
のコヒーレントな重ね合わせである。可変減衰器により
もたらされた減衰の適当な値を選択することにより、明
瞭な干渉パターンが中心パルスの中心部分において得ら
れる。これらの干渉パターンから、ｎ2 を導くことが可
能である。サイドピークは除かれなければならない。
(Meier) 、Ｗ．Ｅ．ヘインレーン(Heinlein)による論文
「エルビウムドープファイバーの効果的非線形性を測定
する改良された自己補償干渉計法(Improved self-compe
nsated interferometer method to measure the effect
ive nonlinearity of an Er-doped fibre)」、光ファイ
バー計測コンファレンス’９３(Optical Fibre Measure
ment Conference '93)、トリノ、１９９３年９月２１日
〜２２日、テクニカルダイジェスト(TechnicalDiges
t)、１２５〜１２８頁に記載された測定技術により解決
される。特に、光源により放たれた各パルスは、二つの
パルスに分割され、それらはマッハ−ツェンダー(Mach-
Zehnder)干渉計の二つのアームを形成する異なる長さの
経路に沿って進む。このアームの一つ（例えば、長い方
のアーム）は、可変減衰器を含んでいる。二つの異なる
経路の終わりでは、調整可能なパワーの差異と、互いに
関するある時間遅延を有するパルスの一対が得られる。
これら二つのパルスは測定中のファイバー内に送られ
る。ファイバーの終わりでは、前記パルス対が反射さ
れ、その反射されたパルスは、ファイバーの入力端から
出るときに、再び分割され、パルス対が前方へ進行した
のと同じ経路に沿って送られる。このように、三つのパ
ルスが得られる。そのうちの第一のものは短い経路を二
回進み、第二のものは長い経路を二回進み、中心のもの
は長い経路を一回と短い経路を一回進んだ二つのパルス
のコヒーレントな重ね合わせである。可変減衰器により
もたらされた減衰の適当な値を選択することにより、明
瞭な干渉パターンが中心パルスの中心部分において得ら
れる。これらの干渉パターンから、ｎ2 を導くことが可
能である。サイドピークは除かれなければならない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】一つの光源の使用によ
り、偏光に関係する問題が除去される。一方、測定に用
いられるパルスが測定装置に沿って両方向に進み、ファ
イバーによって、温度と機械的自然条件の環境変動に関
して自己補償される装置となるという事実が存在する。
上述の装置は、しかしながら、ひどく複雑なものとな
り、光ファイバーにより作られてない種々の部分を用い
ており、測定の精度は用いられたパルスのパルス幅に依
存する。というのは、そのパラメータがサイドピークの
大きさを決めているからである。このサイドピークは、
中心ピークに影響することなく除かれるために可能な限
り中心ピークから離れて位置されなければならない。こ
の中心ピークが有益な信号を表している。
り、偏光に関係する問題が除去される。一方、測定に用
いられるパルスが測定装置に沿って両方向に進み、ファ
イバーによって、温度と機械的自然条件の環境変動に関
して自己補償される装置となるという事実が存在する。
上述の装置は、しかしながら、ひどく複雑なものとな
り、光ファイバーにより作られてない種々の部分を用い
ており、測定の精度は用いられたパルスのパルス幅に依
存する。というのは、そのパラメータがサイドピークの
大きさを決めているからである。このサイドピークは、
中心ピークに影響することなく除かれるために可能な限
り中心ピークから離れて位置されなければならない。こ
の中心ピークが有益な信号を表している。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、上述の
二回通過技術のように自己補償される測定システムを実
現することである。しかし、それは、用いられる干渉計
に沿って二回通ることは要求されないので、より簡単な
構造を有しており、シングルモードファイバーに完全に
実現され、そして、デューティーサイクルが十分大きい
としても、どんなパルス幅のパルスでも使用でき、従っ
て、少なくとの原理上は、任意の時間分解能でｎ2 の測
定が可能である。本発明により、光ファイバーの非線形
屈折率の測定方法が与えられる。その方法においては、
パルス対の間の干渉が分析される。このパルス対のうち
の一つのみがファイバー内の非線形効果を引き起こすよ
うなパワーを有し、非線形屈折率がその対の二つのパル
ス間の位相シフトを測定することにより得られる。ま
た、その対のパルスは同一の経路に沿って伝播した後に
干渉させられる。この同一の経路には、測定中のファイ
バーが含まれており、光ファイバーサグナック干渉計ル
ープ(Sagnac interferometric loop) で作られている。
この干渉計ループ内に、光源により放たれたパルスが両
方向に送られ、その対のパルスのうちの一つは測定中の
ファイバー内を通過する前にループ内で減衰される。
二回通過技術のように自己補償される測定システムを実
現することである。しかし、それは、用いられる干渉計
に沿って二回通ることは要求されないので、より簡単な
構造を有しており、シングルモードファイバーに完全に
実現され、そして、デューティーサイクルが十分大きい
としても、どんなパルス幅のパルスでも使用でき、従っ
て、少なくとの原理上は、任意の時間分解能でｎ2 の測
定が可能である。本発明により、光ファイバーの非線形
屈折率の測定方法が与えられる。その方法においては、
パルス対の間の干渉が分析される。このパルス対のうち
の一つのみがファイバー内の非線形効果を引き起こすよ
うなパワーを有し、非線形屈折率がその対の二つのパル
ス間の位相シフトを測定することにより得られる。ま
た、その対のパルスは同一の経路に沿って伝播した後に
干渉させられる。この同一の経路には、測定中のファイ
バーが含まれており、光ファイバーサグナック干渉計ル
ープ(Sagnac interferometric loop) で作られている。
この干渉計ループ内に、光源により放たれたパルスが両
方向に送られ、その対のパルスのうちの一つは測定中の
ファイバー内を通過する前にループ内で減衰される。
【０００７】Ｎ．Ｊ．ドラン(Doran) とＤ．ウッド(Woo
d)による論文「非線形光ループミラー(Nonlinear-optic
al loop mirror) 」、オプティクスレターズ(Optics Le
tters)、第１３巻、第１号、１９８８年１月、５６頁以
下に、異なるパワーを有する二つのパルスの異なる非線
形位相シフトを利用する可能性について記載されてい
る。これらの二つのパルスは、スイッチング装置を得る
ために光ファイバーサグナック干渉計ループに沿って反
対方向に伝播する。二つのパルスは非平衡Ｘカップラー
によって得られ、このＸカップラーの出力上においてフ
ァイバーループは閉じている。この論文は、非線形屈折
率を測定するこの種の装置を用いることの可能性につい
ては何も示していない。一方、この装置はどちらかの出
力に１００％切り換えられなければならないソリトニッ
ク(solitonic) パルスを操作するように設計されている
ので、二つの出力において干渉縞を作ることはできな
い。本発明の特徴は、以下の説明及び非制限的な好適実
施例に関しての添付図によりさらに明らかにされるであ
ろう。
d)による論文「非線形光ループミラー(Nonlinear-optic
al loop mirror) 」、オプティクスレターズ(Optics Le
tters)、第１３巻、第１号、１９８８年１月、５６頁以
下に、異なるパワーを有する二つのパルスの異なる非線
形位相シフトを利用する可能性について記載されてい
る。これらの二つのパルスは、スイッチング装置を得る
ために光ファイバーサグナック干渉計ループに沿って反
対方向に伝播する。二つのパルスは非平衡Ｘカップラー
によって得られ、このＸカップラーの出力上においてフ
ァイバーループは閉じている。この論文は、非線形屈折
率を測定するこの種の装置を用いることの可能性につい
ては何も示していない。一方、この装置はどちらかの出
力に１００％切り換えられなければならないソリトニッ
ク(solitonic) パルスを操作するように設計されている
ので、二つの出力において干渉縞を作ることはできな
い。本発明の特徴は、以下の説明及び非制限的な好適実
施例に関しての添付図によりさらに明らかにされるであ
ろう。
【０００８】
【実施例】図１において、大パワーパルスの光源、典型
的にはレーザーＬは、一連のパルスを放射し、それらは
可変減衰器ＡＶ１内を通され、それからＣ１で示される
カップラーによって二つの同一のパルス列に分割され
る。このカップラー上には、ＡＳで示され、測定中のフ
ァイバーを含んだ光ファイバーサグナック干渉計ループ
の二つの端が存在する。光源とＣ１間のパルスの伝播は
光ファイバー内で為される。偏光制御装置ＰＣ１によ
り、もし望めば、所望の偏光を有した放射をループＡＳ
内に送ることができる。非常に短いパルスを利用するの
を望むのならば、その光源は、ファイバーＦ内で零分散
に対応する波長に出来るだけ近い波長を有した放射を放
たなければならないであろう。
的にはレーザーＬは、一連のパルスを放射し、それらは
可変減衰器ＡＶ１内を通され、それからＣ１で示される
カップラーによって二つの同一のパルス列に分割され
る。このカップラー上には、ＡＳで示され、測定中のフ
ァイバーを含んだ光ファイバーサグナック干渉計ループ
の二つの端が存在する。光源とＣ１間のパルスの伝播は
光ファイバー内で為される。偏光制御装置ＰＣ１によ
り、もし望めば、所望の偏光を有した放射をループＡＳ
内に送ることができる。非常に短いパルスを利用するの
を望むのならば、その光源は、ファイバーＦ内で零分散
に対応する波長に出来るだけ近い波長を有した放射を放
たなければならないであろう。
【０００９】二つのパルス列はループに沿い反対方向に
伝播し、二つのパルス列のうちの一つはファイバーＦに
入る前に可変減衰器ＡＶ２で大きく減衰する。もう一方
のパルス列は第２の偏光制御装置ＰＣ２を通過する。こ
の偏光制御装置はループＡＳの複屈折を補償し、特に、
線形伝播条件下で、ループに沿って伝播した後に再結合
するパルスが有するパワーを全てカップラーＣ１のポー
トＯ１から抜け出すようにする。減衰器ＡＶ２は、二つ
の出力間で大きくアンバランスな分割比（例えば、９
０：１０から９９：１まで）を有するカップラーにより
実現され得る。パルス列を減衰することは、パルスがフ
ァイバー内に非線形効果を引き起こすのを実質的に防ぐ
のに必要であり、その結果、これらのパルスは実質的に
無視できる自己位相変調を受ける。反対に、もう一方の
パルス列はファイバーＦを通じて非線形伝播が為された
後に同じ減衰器ＡＶ２を通過する。このように、Ｃ１に
戻るパルスは同じ強度を有し、それらのうちの一つのみ
が自己位相変調による重要な位相シフトを示す。ループ
を反対方向に進んだパルスはＣ１で再結合され、Ｃ１の
ポートＯ１を介して引き出される。このポートはｎ2 を
測定する装置、特にオートコリレーター(auto-correlat
or) ＡＣに接続され高時間分解能でループ内を伝播する
パルス列間の干渉を特徴付ける。
伝播し、二つのパルス列のうちの一つはファイバーＦに
入る前に可変減衰器ＡＶ２で大きく減衰する。もう一方
のパルス列は第２の偏光制御装置ＰＣ２を通過する。こ
の偏光制御装置はループＡＳの複屈折を補償し、特に、
線形伝播条件下で、ループに沿って伝播した後に再結合
するパルスが有するパワーを全てカップラーＣ１のポー
トＯ１から抜け出すようにする。減衰器ＡＶ２は、二つ
の出力間で大きくアンバランスな分割比（例えば、９
０：１０から９９：１まで）を有するカップラーにより
実現され得る。パルス列を減衰することは、パルスがフ
ァイバー内に非線形効果を引き起こすのを実質的に防ぐ
のに必要であり、その結果、これらのパルスは実質的に
無視できる自己位相変調を受ける。反対に、もう一方の
パルス列はファイバーＦを通じて非線形伝播が為された
後に同じ減衰器ＡＶ２を通過する。このように、Ｃ１に
戻るパルスは同じ強度を有し、それらのうちの一つのみ
が自己位相変調による重要な位相シフトを示す。ループ
を反対方向に進んだパルスはＣ１で再結合され、Ｃ１の
ポートＯ１を介して引き出される。このポートはｎ2 を
測定する装置、特にオートコリレーター(auto-correlat
or) ＡＣに接続され高時間分解能でループ内を伝播する
パルス列間の干渉を特徴付ける。
【００１０】更に特に、Ｃ１で再結合された二つのパル
スのうちの一つの非線形伝播の故に、それらは相対的な
位相シフトを与え、ファイバー内を進む前に減衰された
パルスにおける自己位相変調の小さな値も考慮すると、
次式で表される。 Δφ(t) = (2πn2／λＡeff ) [P1(t) - P2(t)] Ｌeff （２） ここで、P1(t) とP2(t) は大きい強度と小さい強度のパ
ルス（即ち、夫々、ファイバーに沿って進む前に減衰さ
れなかったものと減衰されたものについて）の瞬間パワ
ー、Ａeff はファイバーの有効範囲、Ｌeff はファイバ
ーの有効長である。これら二つの量の意味は当業者には
よく知られており、ここでそれらを表す式を示す必要は
ないであろう。上記の表式において、二つの対抗して伝
播するパルス列間のクロス位相変調の効果は無視してい
る。この仮定は大きなデューティーサイクルのパルス列
には有効である。（オートコリレーターＡＣで決められ
る）Δφから、ファイバーの有効範囲と有効長が分かっ
ているとすると、ｎ2 は式（２）により得ることができ
る。
スのうちの一つの非線形伝播の故に、それらは相対的な
位相シフトを与え、ファイバー内を進む前に減衰された
パルスにおける自己位相変調の小さな値も考慮すると、
次式で表される。 Δφ(t) = (2πn2／λＡeff ) [P1(t) - P2(t)] Ｌeff （２） ここで、P1(t) とP2(t) は大きい強度と小さい強度のパ
ルス（即ち、夫々、ファイバーに沿って進む前に減衰さ
れなかったものと減衰されたものについて）の瞬間パワ
ー、Ａeff はファイバーの有効範囲、Ｌeff はファイバ
ーの有効長である。これら二つの量の意味は当業者には
よく知られており、ここでそれらを表す式を示す必要は
ないであろう。上記の表式において、二つの対抗して伝
播するパルス列間のクロス位相変調の効果は無視してい
る。この仮定は大きなデューティーサイクルのパルス列
には有効である。（オートコリレーターＡＣで決められ
る）Δφから、ファイバーの有効範囲と有効長が分かっ
ているとすると、ｎ2 は式（２）により得ることができ
る。
【００１１】非線形的な挙動により、ループの終わりで
再結合されるパルスが有するパワーの一部はＣ１により
光源の方に反射されることは心に留めておかねばならな
い。反射されたパルスにおいて、破壊的又は建設的干渉
の条件は、Ｃ１のポートＯ１へ向かって伝送されるパル
スに存在するものと相補的となるであろう。この事実は
上記装置の変更実施例において用いられ、これは図２に
示されていて、光源ＬとカップラーＣ１間に、追加のカ
ップラーＣ２を含んでいる。この追加カップラーは、オ
ートコリレーターＡＣもしくはＯ１にスイッチＣＭを介
して接続できるポートＯ２を有する。Ｊ．Ｅ．メイヤと
Ｗ．Ｅ．ヘインレーンによる上記論文に記載の方法の場
合には、サグナック干渉計の使用により、測定装置の自
己補償される構成がもたらされ、しかもシングルパルス
が分析されるという利点を与え、従って、不必要な大パ
ワーパルスを除去する必要が避けられ、それ故、超短パ
ルスが使用できるのである。数値の変更、改造、統合、
変形、および機能的に等価な他のものとの要素の置換
が、本発明の範囲を逸脱することなく、非制限的例の方
法により上述の好適実施例に為されることは明らかであ
る。
再結合されるパルスが有するパワーの一部はＣ１により
光源の方に反射されることは心に留めておかねばならな
い。反射されたパルスにおいて、破壊的又は建設的干渉
の条件は、Ｃ１のポートＯ１へ向かって伝送されるパル
スに存在するものと相補的となるであろう。この事実は
上記装置の変更実施例において用いられ、これは図２に
示されていて、光源ＬとカップラーＣ１間に、追加のカ
ップラーＣ２を含んでいる。この追加カップラーは、オ
ートコリレーターＡＣもしくはＯ１にスイッチＣＭを介
して接続できるポートＯ２を有する。Ｊ．Ｅ．メイヤと
Ｗ．Ｅ．ヘインレーンによる上記論文に記載の方法の場
合には、サグナック干渉計の使用により、測定装置の自
己補償される構成がもたらされ、しかもシングルパルス
が分析されるという利点を与え、従って、不必要な大パ
ワーパルスを除去する必要が避けられ、それ故、超短パ
ルスが使用できるのである。数値の変更、改造、統合、
変形、および機能的に等価な他のものとの要素の置換
が、本発明の範囲を逸脱することなく、非制限的例の方
法により上述の好適実施例に為されることは明らかであ
る。
【図１】記載された方法に基づいた測定装置のより好ま
しい実施例を表す。
しい実施例を表す。
【図２】上記装置の可能な変更がなされた実施例を表
す。
す。
Ｌ 光源 ＡＳ 光ファイバーサグナック干渉計ループ Ｆ 被測定ファイバー ＡＶ１，ＡＶ２ 可変減衰器 Ｃ１，Ｃ２ カップラー ＡＣ オートコリレーター(auto-correlato
r) ＰＣ１，ＰＣ２ 偏光制御装置 ＣＭ スイッチ Ｏ１，Ｏ２ ポート
r) ＰＣ１，ＰＣ２ 偏光制御装置 ＣＭ スイッチ Ｏ１，Ｏ２ ポート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マツシモ・アルチグリア イタリー国トリノ、ヴイア・アラソナツチ ６ (72)発明者 レナート・カポニ イタリー国トリノ、ヴイア・ピガフエツタ ６ (72)発明者 フランチエスコ・チステルニーノ イタリー国トリノ、ヴイア・ビアンツエ 39 (72)発明者 クラウデイオ・ナツデオ イタリー国ピノ・トリネーゼ（トリノ）、 ヴイア・キエリ 20／３ (72)発明者 デイエゴ・ロツカート イタリー国トリノ、シ・エツセオ・ペスキ エラ 260
Claims (3)
- 【請求項１】 パルス対のうちの一つのパルスのみがフ
ァイバー内の非線形効果を引き起こすパワーを有する、
該パルス対の間の干渉が分析され、そして、非線形屈折
率が各対の二つのパルス間の位相シフトを測定すること
により得られる、光ファイバーの非線形屈折率測定方法
であって、 測定中のファイバーを含み、且つ光ファイバーサグナッ
ク干渉計ループ（ＡＳ）により作られた同じ経路に沿っ
て伝播した後に各対のパルスを干渉させ、このとき該干
渉計ループ内に光源（Ｌ）により放たれたパルスを同時
に両方向に送り、対のパルスのうちの一つを、測定中の
ファイバーを通過する前に該ループ内で減衰させること
を特徴とする前記光ファイバーの非線形屈折率測定方
法。 - 【請求項２】 前記ループの出力で直接得られる対のパ
ルスと、光源（Ｌ）とループ（ＡＳ）を接続する光ファ
イバー経路の部分に沿って逆方向に伝播した後に得られ
る同一パルスとの間の干渉を分析することを特徴とする
請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 ファイバー内の零分散の波長に近い波長
を有するパルスを測定中のファイバー（Ｆ）内に送るこ
とを特徴とする請求項１又は２に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT94TO000443A IT1266016B1 (it) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | Procedimento per la misura dell'indice di rifrazione non lineare in una fibra ottica monomodo. |
| IT94A000443 | 1994-05-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07325015A true JPH07325015A (ja) | 1995-12-12 |
Family
ID=11412566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7154139A Pending JPH07325015A (ja) | 1994-05-30 | 1995-05-30 | シングルモード光ファイバーにおける非線形屈折率測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0685722A3 (ja) |
| JP (1) | JPH07325015A (ja) |
| CA (1) | CA2150418A1 (ja) |
| IT (1) | IT1266016B1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0155530B1 (ko) * | 1995-11-17 | 1998-12-15 | 양승택 | 사냑 간섭계를 사용한 광섬유의 비선형 굴절계수 측정방법 |
| JP3388227B2 (ja) * | 1999-11-05 | 2003-03-17 | 独立行政法人通信総合研究所 | 光分散測定装置およびそれを用いた測定方法 |
| GB0424305D0 (en) * | 2004-11-03 | 2004-12-01 | Polarmetrix Ltd | Phase-disturbance location and measurement in optical-fibre interferometric reflectometry |
| US7356207B2 (en) | 2006-06-05 | 2008-04-08 | Honeywell International, Inc. | Method and system for adjusting the sensitivity of optical sensors |
| US7715663B2 (en) * | 2008-08-29 | 2010-05-11 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Integrated optical latch |
| PL222771B1 (pl) * | 2014-01-07 | 2016-09-30 | Orange Polska Spółka Akcyjna | Sposób i układ do pomiaru współczynnika nieliniowości światłowodu |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5050183A (en) * | 1990-11-05 | 1991-09-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Figure eight shaped coherent optical pulse source |
| US5386290A (en) * | 1992-04-30 | 1995-01-31 | Japan Aviation Electronics Industry Limited | Optical interferometric angular rate meter with a self-diagnostic capability |
-
1994
- 1994-05-30 IT IT94TO000443A patent/IT1266016B1/it active IP Right Grant
-
1995
- 1995-05-29 EP EP95108236A patent/EP0685722A3/en not_active Withdrawn
- 1995-05-29 CA CA002150418A patent/CA2150418A1/en not_active Abandoned
- 1995-05-30 JP JP7154139A patent/JPH07325015A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2150418A1 (en) | 1995-12-01 |
| ITTO940443A1 (it) | 1995-11-30 |
| EP0685722A3 (en) | 1996-08-14 |
| ITTO940443A0 (it) | 1994-05-30 |
| EP0685722A2 (en) | 1995-12-06 |
| IT1266016B1 (it) | 1996-12-16 |
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