JPH0731517Y2 - IC socket - Google Patents

IC socket

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JPH0731517Y2
JPH0731517Y2 JP15744286U JP15744286U JPH0731517Y2 JP H0731517 Y2 JPH0731517 Y2 JP H0731517Y2 JP 15744286 U JP15744286 U JP 15744286U JP 15744286 U JP15744286 U JP 15744286U JP H0731517 Y2 JPH0731517 Y2 JP H0731517Y2
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JP
Japan
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contact
socket
pin
probe
circuit board
Prior art date
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JP15744286U
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Japanese (ja)
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JPS6361790U (en
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実 政門
良次 丸山
智義 山口
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NEC Corp
I Pex Inc
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Dai Ichi Seiko Co Ltd
NEC Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はICソケット、特に共通電位のコンタクトピンを
統合して接続する接続端子板を有するICソケットに関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of application) The present invention relates to an IC socket, and more particularly to an IC socket having a connection terminal plate for integrally connecting contact pins of a common potential.

(従来の技術とその問題点) 従来第6図に断面図として示す如きIC試験に使用するIC
ソケットが提案されている。かかるICソケットにおいて
は、ソケット本体1に一定間隔で複数のプローブ2が植
設してある。又、該ソケット本体1の上側にはプローブ
2を挿通し、ガイドピン3で位置決めされたフローティ
ングプレート4が設けてある。このフローティングプレ
ート4は前記ガイドピン3で横方向の位置を規制された
まま上下方向に摺動可能で、常時はガイドピン3の頭部
3aにばね5で弾圧されている。又フローティングプレー
ト4の上面にはIC6の位置決めをする凹部4aが設けてあ
る。
(Prior art and its problems) Conventional IC used for IC test as shown in FIG. 6 as a sectional view
Sockets have been proposed. In such an IC socket, a plurality of probes 2 are implanted in the socket body 1 at regular intervals. A probe 2 is inserted above the socket body 1 and a floating plate 4 positioned by a guide pin 3 is provided. The floating plate 4 is slidable in the vertical direction while the lateral position is restricted by the guide pin 3, and the head of the guide pin 3 is always present.
The spring 5 is pressed against 3a. A recess 4a for positioning the IC 6 is provided on the upper surface of the floating plate 4.

このICソケットは、上記フローティングプレート4の凹
部4aにIC6を載置し、その上側に放熱板7を載置して両
端を押え部材8で押圧してIC6の接続端子をプローブ2
の接触端に接触させる構造である。
In this IC socket, the IC 6 is placed in the concave portion 4a of the floating plate 4, the heat radiating plate 7 is placed on the upper side thereof, and both ends thereof are pressed by the holding members 8 to connect the connection terminals of the IC 6 to the probe 2.
It is a structure to contact the contact end of.

このような構造のICソケットを回路基板11に実装する場
合、回路基板11の穴12にプローブ2の下端部を全部挿入
し、固定用の脚部13の貫通孔13aにボルト14を通して回
路基板11に固定し、回路基板11の回路にプローブ2の接
続端をハンダ付けする。
When the IC socket having such a structure is mounted on the circuit board 11, the lower end portion of the probe 2 is completely inserted into the hole 12 of the circuit board 11, and the bolt 14 is passed through the through hole 13a of the fixing leg portion 13 to insert the circuit board 11 into the circuit board 11. Then, the connection end of the probe 2 is soldered to the circuit of the circuit board 11.

しかしこの場合、ICの種類によりICパッケージの端子全
部が接続に使用されるものではなく、また、一部には同
一電位の端子もある。このような同一電位の端子があっ
ても従来はそのプローブ端子全部を回路基板11にハンダ
付けし、そのうえで回路基板11において同一電位の端子
相互を接続していた。
However, in this case, not all terminals of the IC package are used for connection depending on the type of IC, and some terminals have the same potential. Even if there are such terminals having the same potential, conventionally, all the probe terminals are soldered to the circuit board 11, and then the terminals having the same potential are connected to each other on the circuit board 11.

このために特に微細な回路パターンの場合はその接続作
業が大変であるばかりでなく、ICが変更された場合には
回路基板11の相互接続もその都度接続変更をしなければ
ならない等の問題があった。
For this reason, particularly in the case of a fine circuit pattern, not only the connection work is difficult, but also when the IC is changed, the interconnection of the circuit board 11 must be changed each time. there were.

本考案は上述のような問題を解決して電位等が共通する
ICのリード端子と回路基板11との接続が容易となる接続
端子板を有するICソケットを提供することを目的とす
る。
The present invention solves the above-mentioned problems and has common potentials and the like.
An object of the present invention is to provide an IC socket having a connection terminal plate that facilitates connection between the IC lead terminal and the circuit board 11.

(問題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本考案のICソケットはICの
接続端子に接触する複数のプローブ(コンタクトピン)
のうち、例えば同一電位の一群のプローブと接触する接
続端子板をソケット本体1と回路基板11との間に配置
し、この端子板の上側には前記プローブとの接触位置を
決める位置決め手段を設け、また、この端子板の下側
(回路基板11側)には1本の共通ピンを設けたものであ
る。
(Means for Solving the Problem) In order to achieve the above object, the IC socket of the present invention comprises a plurality of probes (contact pins) that come into contact with the connection terminals of the IC.
Among them, for example, a connection terminal plate that comes into contact with a group of probes having the same potential is arranged between the socket body 1 and the circuit board 11, and a positioning means for determining a contact position with the probe is provided above the terminal plate. Further, one common pin is provided on the lower side of the terminal board (on the side of the circuit board 11).

なお上記位置決め手段は、コンタクトピンが管状プロー
ブの場合、プローブの管内に挿入する突起、あるいはプ
ローブが挿入される座ぐりで構成され、その他の場合
は、コンタクトピンが挿入される座ぐりで構成される。
Incidentally, the positioning means, when the contact pin is a tubular probe, a protrusion inserted into the probe tube, or a counterbore into which the probe is inserted, and in other cases, a counterbore into which the contact pin is inserted. It

(作用) 上述のように同一電位等の共通端子は個々に配線せず、
接触端子板に連結しておくだけで、電気的な接続が完了
する。
(Function) As described above, common terminals of the same potential or the like are not individually wired,
The electrical connection is completed simply by connecting it to the contact terminal board.

(実施例) 第1図は本考案の接続端子板を使用したICソケットの断
面図、第2図はICパッケージの端子配列図、第3図は本
考案の接続端子板を使用する場合の回路基板の穴の配列
図、第4図は第1実施例の接続端子板を示す部分断面
図、第5図は第2実施例の接続端子板を示す部分断面図
である。
(Example) FIG. 1 is a sectional view of an IC socket using the connection terminal board of the present invention, FIG. 2 is a terminal arrangement diagram of an IC package, and FIG. 3 is a circuit when the connection terminal board of the present invention is used. FIG. 4 is a partial sectional view showing the connection terminal board of the first embodiment, and FIG. 5 is a partial sectional view showing the connection terminal board of the second embodiment.

第1の実施例では接続端子板は端子板20,共通ピン20a及
び突起20bからなる。ソケット本体1の下面に端子板20
を挿入する窪み1aを設け、ここに第1図示のように端子
板20を圧入若しくは接着挿入して固定する。この場合第
2図のIC6の端子面で端子6aのうち、回路基板11の穴12
のうちで同一電位(例えばアース電位)の端子6bの列に
対応する回路基板11の穴の列を一個所のみとして共通ピ
ン挿入孔12aとする。
In the first embodiment, the connection terminal plate is composed of the terminal plate 20, the common pin 20a and the protrusion 20b. On the bottom surface of the socket body 1, the terminal board 20
A recess 1a for inserting the terminal plate 20 is provided, and the terminal plate 20 is press-fitted or adhesively inserted and fixed therein as shown in the first illustration. In this case, on the terminal surface of the IC 6 shown in FIG.
Among them, the row of holes of the circuit board 11 corresponding to the row of the terminals 6b having the same potential (for example, the ground potential) is defined as the common pin insertion hole 12a by providing only one location.

このようにしておくと、第1図のICソケットを実装した
時に回路基板11のボルト挿入孔11aでソケットが位置決
めされるので、接続端子板の共通ピン20aは回路基板11
の共通ピン挿入孔12aに挿入され、ICの同一電位の端子6
bは1本の共通ピン20aで接続されることになる。
In this way, when the IC socket of FIG. 1 is mounted, the socket is positioned by the bolt insertion hole 11a of the circuit board 11, so that the common pin 20a of the connection terminal board is
Is inserted into the common pin insertion hole 12a of the
b will be connected by one common pin 20a.

第4図は本考案に係る接続端子板の一例を示しており、
端子板20の下側に1本の共通ピン20aが設けてあり、こ
れと反対側の上側にはプローブ2の下端に挿入される突
起20bが列をなして設けてある。この実施例のものは、
プローブ2の下端が管状の場合に使用できるものであ
る。
FIG. 4 shows an example of the connection terminal board according to the present invention.
One common pin 20a is provided on the lower side of the terminal plate 20, and protrusions 20b to be inserted into the lower end of the probe 2 are provided in rows on the upper side opposite to the common pin 20a. In this example,
It can be used when the lower end of the probe 2 is tubular.

第5図は接続端子板の異なる例を示しており、第4図の
場合の突起20bの代わりに座ぐり21bを設けたもので他の
部分即ち端子板21,共通ピン21aは第4図のものと同様で
ある。
FIG. 5 shows a different example of the connection terminal board, in which a counterbore 21b is provided instead of the projection 20b in the case of FIG. 4, and the other parts, that is, the terminal board 21 and the common pin 21a are shown in FIG. It is similar to the one.

(考案の効果) 上述のように本考案によれば、回路基板11における同一
電位等の共通端子相互の接続は不要となり、一個所だけ
の接続でよい。
(Effect of the Invention) As described above, according to the present invention, it is not necessary to connect common terminals such as the same potential on the circuit board 11 to each other, and only one connection is required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の接続端子板を使用したICソケットの断
面図、第2図はICパッケージの端子配列図、第3図は接
続端子板を使用する回路基板の穴の配列図、第4図は本
考案に係る接続端子板の一例を示す部分断面図、第5図
は接続端子板の他の例を示す部分断面図、第6図は接続
端子板を使用しない従来ICソケットの断面図である。 1:ソケット本体、2:コンタクトピンとしてのプローブ、
11:回路基板、12:穴、12a:共通ピン挿入用孔、20:端子
板、20a:共通ピン、20b:突起、21:端子板、21a:共通ピ
ン、21b:座ぐり。
FIG. 1 is a sectional view of an IC socket using the connection terminal board of the present invention, FIG. 2 is a terminal array view of the IC package, FIG. 3 is an array view of holes of a circuit board using the connection terminal board, and FIG. FIG. 6 is a partial sectional view showing an example of the connection terminal board according to the present invention, FIG. 5 is a partial sectional view showing another example of the connection terminal board, and FIG. 6 is a sectional view of a conventional IC socket without using the connection terminal board. Is. 1: Socket body, 2: Probe as contact pin,
11: circuit board, 12: hole, 12a: common pin insertion hole, 20: terminal plate, 20a: common pin, 20b: protrusion, 21: terminal plate, 21a: common pin, 21b: counterbore.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 丸山 良次 埼玉県川口市並木2丁目30番1号 第一精 工株式会社内 (72)考案者 山口 智義 埼玉県川口市並木2丁目30番1号 第一精 工株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Creator Ryoji Maruyama 2-30-1 Namiki, Kawaguchi City, Saitama Prefecture Daiichi Seiko Co., Ltd. (72) Creator Tomoyoshi Yamaguchi 2-30-1 Namiki, Kawaguchi City, Saitama Prefecture No. Daiichi Seiko Co., Ltd.

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】ICパッケージの端子に接触するようソケッ
ト本体に収容された複数のコンタクトピンを有するICソ
ケットにおいて、上記コンタクトピンのうち、共通する
電位に接続される一群のコンタクトピンと接触する接続
端子板を上記コンタクトピンの下側に設けると共に、こ
の端子板の上側には前記コンタクトピンとの接触位置を
決める位置決め手段を設け、下側には1本の共通ピンを
設けてなるICソケット。
1. An IC socket having a plurality of contact pins housed in a socket body so as to come into contact with terminals of an IC package, wherein a connection terminal is in contact with a group of contact pins connected to a common potential among the contact pins. An IC socket in which a plate is provided on the lower side of the contact pin, positioning means for determining a contact position with the contact pin is provided on the upper side of the terminal plate, and one common pin is provided on the lower side.
【請求項2】前記位置決め手段はコンタクトピンが管状
プローブの場合、該プローブの管内に挿入される突起で
ある実用新案登録請求の範囲第1項記載のICソケット。
2. The IC socket according to claim 1, wherein the positioning means is a protrusion inserted into the tube of the probe when the contact pin is a tubular probe.
【請求項3】前記位置決め手段はコンタクトピンが挿入
される座ぐりである実用新案登録請求の範囲第1項記載
のICソケット。
3. The IC socket according to claim 1, wherein the positioning means is a spot facing into which a contact pin is inserted.
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JPS6361790U JPS6361790U (en) 1988-04-23
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