JPH07270133A - 断面形状計測装置 - Google Patents
断面形状計測装置Info
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- JPH07270133A JPH07270133A JP6064863A JP6486394A JPH07270133A JP H07270133 A JPH07270133 A JP H07270133A JP 6064863 A JP6064863 A JP 6064863A JP 6486394 A JP6486394 A JP 6486394A JP H07270133 A JPH07270133 A JP H07270133A
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- distance measuring
- measuring sensor
- sensor
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 新設時に鋼製構造物などに存在する微小な
溶接部の変形、目違い量などの局部変形を精度良く計測
でき、計測対象物の計測面が狭い場所にある場合に
も、広範な範囲を計測でき、計測面が高所にある場
合、安全に計測でき、非接触式で、計測面を傷付けな
い。 【構成】 センサー移動装置により測距センサー１を計
測面１０ａに沿うＸ軸方向に移動させて、測距センサー
１に設けた移動距離計３によりＸ軸方向移動距離を計測
する一方、測距センサー１から計測面１０ａへ特定波長
の光Ａを照射し、計測面から反射した反射光Ｂを測距セ
ンサー１で受光して、測距センサー１と計測面１０ａと
の間のＹ軸方向距離を計測する。そしてＸ軸方向データ
ＤとＹ軸方向データＣとをデータ処理装置７へ送り、こ
こでこれらのデータを処理して、局部変形プロファイル
（断面形状）データを得る。
溶接部の変形、目違い量などの局部変形を精度良く計測
でき、計測対象物の計測面が狭い場所にある場合に
も、広範な範囲を計測でき、計測面が高所にある場
合、安全に計測でき、非接触式で、計測面を傷付けな
い。 【構成】 センサー移動装置により測距センサー１を計
測面１０ａに沿うＸ軸方向に移動させて、測距センサー
１に設けた移動距離計３によりＸ軸方向移動距離を計測
する一方、測距センサー１から計測面１０ａへ特定波長
の光Ａを照射し、計測面から反射した反射光Ｂを測距セ
ンサー１で受光して、測距センサー１と計測面１０ａと
の間のＹ軸方向距離を計測する。そしてＸ軸方向データ
ＤとＹ軸方向データＣとをデータ処理装置７へ送り、こ
こでこれらのデータを処理して、局部変形プロファイル
（断面形状）データを得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、新設された高層煙突、
タワー等の鋼構造物の製作時に発生した溶接変形、目違
い量、径年劣化による腐食や変形などを計測する断面形
状計測装置に関するものである。
タワー等の鋼構造物の製作時に発生した溶接変形、目違
い量、径年劣化による腐食や変形などを計測する断面形
状計測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】溶接により組み立てられる鋼製構造物に
は、新設時、既に多いか少ないかは別として溶接部の変
形、目違い（接合部材の組立誤差による段差）などに起
因した全体変形、局部変形が存在するが、これらは長期
間の使用中の径年劣化、腐食などにより進展して、遂に
は部材の座屈その他の損傷に至る恐れがある。
は、新設時、既に多いか少ないかは別として溶接部の変
形、目違い（接合部材の組立誤差による段差）などに起
因した全体変形、局部変形が存在するが、これらは長期
間の使用中の径年劣化、腐食などにより進展して、遂に
は部材の座屈その他の損傷に至る恐れがある。
【０００３】そのため、新設時からこれらの変形状態を
正確に把握しておくことは、強度面の管理上、非常に大
切なことであり、美観上からも望ましいことである。従
来は、これらの変形、特に局部変形の計測に当たって
は、ダイヤルゲージ等の計測器を使用し、これを計測対
象物の計測面に押し付けて、局部変形を計測する接触式
計測方法が一般的に採用されている。
正確に把握しておくことは、強度面の管理上、非常に大
切なことであり、美観上からも望ましいことである。従
来は、これらの変形、特に局部変形の計測に当たって
は、ダイヤルゲージ等の計測器を使用し、これを計測対
象物の計測面に押し付けて、局部変形を計測する接触式
計測方法が一般的に採用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の接触式計測
方法では、ダイヤルゲージ等の計測器を計測対象物の計
測面に押し付けて、局部変形を計測するので、（ａ）測
定可能変形量が１０〜５０ｍ／ｍ程度で、新設時に鋼製
構造物などに存在する微小な溶接部の変形、目違い量な
どを精度良く計測できない。（ｂ）計測対象物の計測面
が狭い場所にある場合には、計測範囲が限定される。
（ｃ）計測面が高所にあり且つ計測器を手動で操作する
場合には、高所作業になって、危険である。（ｄ）接触
式のため、計測対象物によっては、計測面を傷付けると
いう問題があった。
方法では、ダイヤルゲージ等の計測器を計測対象物の計
測面に押し付けて、局部変形を計測するので、（ａ）測
定可能変形量が１０〜５０ｍ／ｍ程度で、新設時に鋼製
構造物などに存在する微小な溶接部の変形、目違い量な
どを精度良く計測できない。（ｂ）計測対象物の計測面
が狭い場所にある場合には、計測範囲が限定される。
（ｃ）計測面が高所にあり且つ計測器を手動で操作する
場合には、高所作業になって、危険である。（ｄ）接触
式のため、計測対象物によっては、計測面を傷付けると
いう問題があった。
【０００５】本発明は前記の問題点に鑑み提案するもの
であり、その目的とする処は、新設時に鋼製構造物な
どに存在する微小な溶接部の変形、目違い量などの局部
変形を精度良く計測でき、計測対象物の計測面が狭い
場所にある場合にも、広範な範囲を計測でき、計測面
が高所にある場合、安全に計測でき、非接触式で、計
測面を傷付けない断面形状計測装置を提供しようとする
点にある。
であり、その目的とする処は、新設時に鋼製構造物な
どに存在する微小な溶接部の変形、目違い量などの局部
変形を精度良く計測でき、計測対象物の計測面が狭い
場所にある場合にも、広範な範囲を計測でき、計測面
が高所にある場合、安全に計測でき、非接触式で、計
測面を傷付けない断面形状計測装置を提供しようとする
点にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の断面形状計測装置は、計測面に対して特
定波長光を照射し、その反射光を受光して、同計測面と
のＹ軸方向距離を三角測量の原理により計測する測距セ
ンサーと、前記計測面に相対して設けたガイド軸に沿っ
て同測距センサをＸ軸方向に移動させるセンサー移動装
置と、前記測距センサーのＸ軸方向の移動距離を計測す
る移動距離計と、これらの機器よりなる計測ユニットを
計測部位に着脱自在に取付ける着脱機構と、前記測距セ
ンサーにより得られたＹ軸方向データと前記移動距離計
により得られたＸ軸方向データとを処理するデータ処理
装置とにより構成している。
めに、本発明の断面形状計測装置は、計測面に対して特
定波長光を照射し、その反射光を受光して、同計測面と
のＹ軸方向距離を三角測量の原理により計測する測距セ
ンサーと、前記計測面に相対して設けたガイド軸に沿っ
て同測距センサをＸ軸方向に移動させるセンサー移動装
置と、前記測距センサーのＸ軸方向の移動距離を計測す
る移動距離計と、これらの機器よりなる計測ユニットを
計測部位に着脱自在に取付ける着脱機構と、前記測距セ
ンサーにより得られたＹ軸方向データと前記移動距離計
により得られたＸ軸方向データとを処理するデータ処理
装置とにより構成している。
【０００７】また本発明は前記断面形状計測装置におい
て、測距センサーが、照射した特定波長光のみを通過さ
せる光学フィルターと、照射光及び反射光を反復して反
射させる複数のミラーとを内蔵している。
て、測距センサーが、照射した特定波長光のみを通過さ
せる光学フィルターと、照射光及び反射光を反復して反
射させる複数のミラーとを内蔵している。
【０００８】
【作用】本発明の断面形状計測装置は前記のように構成
されており、センサー移動装置により測距センサーを計
測面に沿うＸ軸方向に移動させて、測距センサーに設け
た移動距離計によりＸ軸方向移動距離を計測する一方、
測距センサーから計測面へ特定波長の光を照射し、計測
面から反射した反射光を測距センサーで受光して、測距
センサーと計測面との間のＹ軸方向距離を計測する。そ
してＸ軸方向データとＹ軸方向データとをデータ処理装
置へ送り、ここでこれらのデータを処理して、局部変形
プロファイル（断面形状）データを得る。その際、測距
センサーから計測面への照射光及び計測面から測距セン
サーへの反射光を複数の反射ミラーにより反復、反射さ
せて、三角測量で不可欠な計測面と測距センサーとの間
の光路距離を確保する。また光路上の光学フィルターに
より特定波長の照射光のみを選択し、屋外などで使用す
る際の太陽光などの外乱による測定誤差を小さくして、
精度の良い計測を可能にする。
されており、センサー移動装置により測距センサーを計
測面に沿うＸ軸方向に移動させて、測距センサーに設け
た移動距離計によりＸ軸方向移動距離を計測する一方、
測距センサーから計測面へ特定波長の光を照射し、計測
面から反射した反射光を測距センサーで受光して、測距
センサーと計測面との間のＹ軸方向距離を計測する。そ
してＸ軸方向データとＹ軸方向データとをデータ処理装
置へ送り、ここでこれらのデータを処理して、局部変形
プロファイル（断面形状）データを得る。その際、測距
センサーから計測面への照射光及び計測面から測距セン
サーへの反射光を複数の反射ミラーにより反復、反射さ
せて、三角測量で不可欠な計測面と測距センサーとの間
の光路距離を確保する。また光路上の光学フィルターに
より特定波長の照射光のみを選択し、屋外などで使用す
る際の太陽光などの外乱による測定誤差を小さくして、
精度の良い計測を可能にする。
【０００９】
【実施例】次に本発明の断面形状計測装置を図１〜図６
に示す一実施例により説明する。図１は本断面形状計測
装置の全体を示す系統図、図２はその要部を示す説明
図、図３（ａ）（ｂ）は局部変形プロファイル（断面形
状）データを示す説明図、図４は図２の矢印Ｗ方向から
見た底面図、図５はレーザ式測距センサーの一般的な利
用方法を示す説明図、図６はレーザ式測距センサーの基
本構造及び距離測定原理を示す説明図である。
に示す一実施例により説明する。図１は本断面形状計測
装置の全体を示す系統図、図２はその要部を示す説明
図、図３（ａ）（ｂ）は局部変形プロファイル（断面形
状）データを示す説明図、図４は図２の矢印Ｗ方向から
見た底面図、図５はレーザ式測距センサーの一般的な利
用方法を示す説明図、図６はレーザ式測距センサーの基
本構造及び距離測定原理を示す説明図である。
【００１０】図１、図２の１０が計測対象物、１０ａが
計測対象物の計測面、１が測距センサー、１ａがセンサ
ー本体、図２、図４、図６の１ｂが同センサー本体１ａ
に内蔵した三角測量方式のレーザ式測距センサーで、同
レーザ式測距センサー１ｂは、計測対象物１０の計測面
１０ａに照射光Ａを照射し、その反射光を受光して、同
計測面１０ａと測距センサー１との間のＹ軸方向距離を
同レーザ式測距センサー本体１ａにより計測するように
なっている。
計測対象物の計測面、１が測距センサー、１ａがセンサ
ー本体、図２、図４、図６の１ｂが同センサー本体１ａ
に内蔵した三角測量方式のレーザ式測距センサーで、同
レーザ式測距センサー１ｂは、計測対象物１０の計測面
１０ａに照射光Ａを照射し、その反射光を受光して、同
計測面１０ａと測距センサー１との間のＹ軸方向距離を
同レーザ式測距センサー本体１ａにより計測するように
なっている。
【００１１】１ｃが上記センサー本体１ａに設けた窓の
内側に設置した光学フィルターで、この光学フィルター
１ｃにより、特定波長の照射光Ａのみを選択することに
より、屋外などで使用する際の太陽光などの外乱による
測定誤差を小さくするようにしている。８ａ、８ｂが上
記レーザ式測距センサー１ｂと上記光学フィルター１ｃ
との間のセンサー本体１ａ内に設置した反射ミラーであ
る。
内側に設置した光学フィルターで、この光学フィルター
１ｃにより、特定波長の照射光Ａのみを選択することに
より、屋外などで使用する際の太陽光などの外乱による
測定誤差を小さくするようにしている。８ａ、８ｂが上
記レーザ式測距センサー１ｂと上記光学フィルター１ｃ
との間のセンサー本体１ａ内に設置した反射ミラーであ
る。
【００１２】上記三角測量方式のレーザ式測距センサー
１ｂの基本構造及び距離測定原理を図６により説明する
と、発光部（レーザ発光素子）１ｂ−１から出たレーザ
光（照射光Ａ）が投光レンズ１ｂ−２を通過して、計測
面１０ａへ照射され、そこで拡散反射して、拡散反射光
の一部が受光レンズ１ｂ−３を通過して、受光部（光位
置検出素子：ＰＳＤ）１ｂ−４にスポットを結び（Ｐ
点）、検出距離に応じて受光部１ｂ−４を移動する。こ
の入射位置により、入射角θが求まり、図６中の式に
より距離Ｌ（Ｙ軸方向距離）が導かれる。
１ｂの基本構造及び距離測定原理を図６により説明する
と、発光部（レーザ発光素子）１ｂ−１から出たレーザ
光（照射光Ａ）が投光レンズ１ｂ−２を通過して、計測
面１０ａへ照射され、そこで拡散反射して、拡散反射光
の一部が受光レンズ１ｂ−３を通過して、受光部（光位
置検出素子：ＰＳＤ）１ｂ−４にスポットを結び（Ｐ
点）、検出距離に応じて受光部１ｂ−４を移動する。こ
の入射位置により、入射角θが求まり、図６中の式に
より距離Ｌ（Ｙ軸方向距離）が導かれる。
【００１３】図１の５がスライドガイド軸、６、６が同
スライドガイド軸５の両端部を計測対象物１０に着脱自
在に取付けるマグネットで、上記スライドガイド軸５
は、計測対象物１０の計測面１０ａから所定の距離を置
いて対向している。上記測距センサー本体１ａは、スラ
イドガイド軸５に例えばウオームアンドウォームギヤ方
式のセンサー移動装置（図示せず）を介して係合してお
り、測距センサー本体１ａに設けたセンサー駆動モータ
２を駆動することにより、スライドガイド軸５に沿い移
動して、Ｙ軸方向距離を計測する。また同センサー駆動
モータ２に設けたエンコーダ（移動距離計）３により測
距センサー１のＸ軸方向移動距離を計測するようになっ
ている。
スライドガイド軸５の両端部を計測対象物１０に着脱自
在に取付けるマグネットで、上記スライドガイド軸５
は、計測対象物１０の計測面１０ａから所定の距離を置
いて対向している。上記測距センサー本体１ａは、スラ
イドガイド軸５に例えばウオームアンドウォームギヤ方
式のセンサー移動装置（図示せず）を介して係合してお
り、測距センサー本体１ａに設けたセンサー駆動モータ
２を駆動することにより、スライドガイド軸５に沿い移
動して、Ｙ軸方向距離を計測する。また同センサー駆動
モータ２に設けたエンコーダ（移動距離計）３により測
距センサー１のＸ軸方向移動距離を計測するようになっ
ている。
【００１４】Ｃが上記レーザ式測距センサー１ｂにより
得られたＹ軸方向データ、Ｄが上記エンコーダ３により
得られたＸ軸方向データ、７がこれらＹ軸方向データＣ
及びＸ軸方向データＤを処理するデータ処理装置で、同
データ処理装置７は、レーザ式測距センサー１ｂからの
Ｙ軸方向データＣとエンコーダ３からのＸ軸方向データ
Ｄとを処理して、計測面１０ａの局部変形プロファイル
（断面形状）データを得た後、この局部変形プロファイ
ル（断面形状）データを出力するようになっている。
得られたＹ軸方向データ、Ｄが上記エンコーダ３により
得られたＸ軸方向データ、７がこれらＹ軸方向データＣ
及びＸ軸方向データＤを処理するデータ処理装置で、同
データ処理装置７は、レーザ式測距センサー１ｂからの
Ｙ軸方向データＣとエンコーダ３からのＸ軸方向データ
Ｄとを処理して、計測面１０ａの局部変形プロファイル
（断面形状）データを得た後、この局部変形プロファイ
ル（断面形状）データを出力するようになっている。
【００１５】次に前記図１〜図６に示す断面形状計測装
置の作用を具体的に説明する。図１、図２は、計測対象
物１０と測距センサー１との間を広くとれない場所で、
断面計測を行う場合を示している。先ず図１に示すよう
にマグネット６、６によりスライドガイド軸５を計測対
象物１０の計測面１０ａに対向する状態で着脱可能に取
付け、同スライドガイド軸５に移動装置（図示せず）を
介して測距センサー１を移動可能に取付ける。
置の作用を具体的に説明する。図１、図２は、計測対象
物１０と測距センサー１との間を広くとれない場所で、
断面計測を行う場合を示している。先ず図１に示すよう
にマグネット６、６によりスライドガイド軸５を計測対
象物１０の計測面１０ａに対向する状態で着脱可能に取
付け、同スライドガイド軸５に移動装置（図示せず）を
介して測距センサー１を移動可能に取付ける。
【００１６】次いで計測を開始し、測距センサー本体１
ａに設けたセンサー駆動モータ２を駆動して、センサー
移動装置により測距センサー１を図２、図４に示すスラ
イドガイド軸５に沿って移動させる一方、レーザ式測距
センサー１ｂから照射光Ａを照射し、この照射光Ａを反
射ミラー８ａ、８ｂにより反復、反射させて、光学フィ
ルター１ｃを通過させた後、計測対象物１０の計測面１
０ａへ入射し、ここで反射した反射光Ｂを再び光学フィ
ルター１ｃを通過させた後、ミラー８ｂ、８ａにより反
復、反射させ、同レーザ式測距センサー１ｂに受光させ
て、Ｙ軸方向距離を計測する。そして同レーザ式測距セ
ンサー１ｂにより得られたＹ軸方向データＣをデータ処
理装置７へ送る。
ａに設けたセンサー駆動モータ２を駆動して、センサー
移動装置により測距センサー１を図２、図４に示すスラ
イドガイド軸５に沿って移動させる一方、レーザ式測距
センサー１ｂから照射光Ａを照射し、この照射光Ａを反
射ミラー８ａ、８ｂにより反復、反射させて、光学フィ
ルター１ｃを通過させた後、計測対象物１０の計測面１
０ａへ入射し、ここで反射した反射光Ｂを再び光学フィ
ルター１ｃを通過させた後、ミラー８ｂ、８ａにより反
復、反射させ、同レーザ式測距センサー１ｂに受光させ
て、Ｙ軸方向距離を計測する。そして同レーザ式測距セ
ンサー１ｂにより得られたＹ軸方向データＣをデータ処
理装置７へ送る。
【００１７】以上の作用により、計測対象物１０と測距
センサー１との間を広くとれない場所でも、光路長を十
分に長くとれて、広範な範囲の計測が可能になる。図５
は、レーザ式測距センサー１ｂの一般的な利用方法を示
している。この場合、レーザ式測距センサー１ｂを出た
照射光Ａを計測対象物１０の計測面１０ａへ直接入射
し、ここで反射した反射光Ｂをレーザ式測距センサー１
ｂへ直接入射させており、図３及び図４と、図５とで
は、レーザ式測距センサー１ｂが同じ計測範囲をもつ
が、図３及び図４のレーザ式測距センサー１ｂの方が計
測対象物１０に近い（Ｌ’＜Ｌ）ことが判る。
センサー１との間を広くとれない場所でも、光路長を十
分に長くとれて、広範な範囲の計測が可能になる。図５
は、レーザ式測距センサー１ｂの一般的な利用方法を示
している。この場合、レーザ式測距センサー１ｂを出た
照射光Ａを計測対象物１０の計測面１０ａへ直接入射
し、ここで反射した反射光Ｂをレーザ式測距センサー１
ｂへ直接入射させており、図３及び図４と、図５とで
は、レーザ式測距センサー１ｂが同じ計測範囲をもつ
が、図３及び図４のレーザ式測距センサー１ｂの方が計
測対象物１０に近い（Ｌ’＜Ｌ）ことが判る。
【００１８】また上記のようにＹ軸方向距離を計測して
いるとき、センサー駆動モータ２に設けたエンコーダ
（移動距離計）３により測距センサー１のＸ軸方向移動
距離を計測する。そして同エンコーダ３により得られた
Ｘ軸方向データＤをデータ処理装置７へ送り、ここで同
Ｘ軸方向データＤと上記Ｙ軸方向データＣとを処理し
て、計測面１０ａの局部変形プロファイル（断面形状）
データを得た後、この局部変形プロファイル（断面形
状）データを出力する。
いるとき、センサー駆動モータ２に設けたエンコーダ
（移動距離計）３により測距センサー１のＸ軸方向移動
距離を計測する。そして同エンコーダ３により得られた
Ｘ軸方向データＤをデータ処理装置７へ送り、ここで同
Ｘ軸方向データＤと上記Ｙ軸方向データＣとを処理し
て、計測面１０ａの局部変形プロファイル（断面形状）
データを得た後、この局部変形プロファイル（断面形
状）データを出力する。
【００１９】図３（ａ）（ｂ）は、この局部変形プロフ
ァイル（断面形状）データを示している。縦軸がＹ軸方
向距離、横軸がＸ軸方向距離で、図３（ａ）からは、計
測長さ（Ｌ0 ）間の計測面１０ａの断面形状（局部変形
プロファイル）、最大変形量Δδ1 （例えば溶接部に生
じた収縮変形）等が把握される。また図３（ｂ）から
は、計測面１０ａの段差Δδ2 （例えば２つの部材の接
合部の目違い量）が把握される。
ァイル（断面形状）データを示している。縦軸がＹ軸方
向距離、横軸がＸ軸方向距離で、図３（ａ）からは、計
測長さ（Ｌ0 ）間の計測面１０ａの断面形状（局部変形
プロファイル）、最大変形量Δδ1 （例えば溶接部に生
じた収縮変形）等が把握される。また図３（ｂ）から
は、計測面１０ａの段差Δδ2 （例えば２つの部材の接
合部の目違い量）が把握される。
【００２０】なお上記測距センサー１の測定範囲（測定
可能変形量）は、Ｙ軸±１００ｍｍ（Ｘ軸は任意に設定
可）で、測定精度は、Ｘ・Ｙ軸のいずれも±０．１ｍｍ
以内である。構造物に生じた上記溶接部の収縮変形、目
違い量は、長期間の使用中に進展して、部材強度を低下
させ、風、地震等の外力を受けたときに、構造物に局部
座屈その他の損傷が起こり易くなる。このような場合に
予め求めた上記局部変形プロファイル（断面形状）デー
タに基づいて危険断面の補強など適切な対策が講じられ
ることになり、構造物の強度面の管理及び美観面の管理
が適切に行われる。
可能変形量）は、Ｙ軸±１００ｍｍ（Ｘ軸は任意に設定
可）で、測定精度は、Ｘ・Ｙ軸のいずれも±０．１ｍｍ
以内である。構造物に生じた上記溶接部の収縮変形、目
違い量は、長期間の使用中に進展して、部材強度を低下
させ、風、地震等の外力を受けたときに、構造物に局部
座屈その他の損傷が起こり易くなる。このような場合に
予め求めた上記局部変形プロファイル（断面形状）デー
タに基づいて危険断面の補強など適切な対策が講じられ
ることになり、構造物の強度面の管理及び美観面の管理
が適切に行われる。
【００２１】
【発明の効果】本発明の断面形状計測装置は前記のよう
にセンサー移動装置により測距センサーを計測面に沿う
Ｘ軸方向に移動させて、測距センサーに設けた移動距離
計によりＸ軸方向移動距離を計測する一方、測距センサ
ーから計測面へ特定波長の光を照射し、計測面から反射
した反射光を測距センサーで受光して、測距センサーと
計測面との間のＹ軸方向距離を計測する。そしてＸ軸方
向データとＹ軸方向データとをデータ処理装置へ送り、
ここでこれらのデータを処理して、局部変形プロファイ
ル（断面形状）データを得る。その際、測距センサーか
ら計測面への照射光及び計測面から測距センサーへの反
射光を複数の反射ミラーにより反復、反射させて、三角
測量で不可欠な計測面と測距センサーとの間の光路距離
を確保する。また光路上の光学フィルターにより特定波
長の照射光のみを選択し、屋外などで使用する際の太陽
光などの外乱による測定誤差を小さくするので、新設
時に鋼製構造物などに存在する微小な溶接部の変形、目
違い量などの局部変形を精度良く計測でき、計測対象
物の計測面が狭い場所にある場合にも、広範な範囲を計
測でき、計測面が高所にある場合、安全に計測でき、
非接触式で、計測面を傷付けない。
にセンサー移動装置により測距センサーを計測面に沿う
Ｘ軸方向に移動させて、測距センサーに設けた移動距離
計によりＸ軸方向移動距離を計測する一方、測距センサ
ーから計測面へ特定波長の光を照射し、計測面から反射
した反射光を測距センサーで受光して、測距センサーと
計測面との間のＹ軸方向距離を計測する。そしてＸ軸方
向データとＹ軸方向データとをデータ処理装置へ送り、
ここでこれらのデータを処理して、局部変形プロファイ
ル（断面形状）データを得る。その際、測距センサーか
ら計測面への照射光及び計測面から測距センサーへの反
射光を複数の反射ミラーにより反復、反射させて、三角
測量で不可欠な計測面と測距センサーとの間の光路距離
を確保する。また光路上の光学フィルターにより特定波
長の照射光のみを選択し、屋外などで使用する際の太陽
光などの外乱による測定誤差を小さくするので、新設
時に鋼製構造物などに存在する微小な溶接部の変形、目
違い量などの局部変形を精度良く計測でき、計測対象
物の計測面が狭い場所にある場合にも、広範な範囲を計
測でき、計測面が高所にある場合、安全に計測でき、
非接触式で、計測面を傷付けない。
【図１】本発明の断面形状計測装置の一実施例の全体を
示す系統図である。
示す系統図である。
【図２】同断面形状計測装置の要部を示す説明図であ
る。
る。
【図３】（ａ）（ｂ）は同断面形状計測装置により得ら
れた局部変形プロファイル（断面形状）データを示す説
明図である。
れた局部変形プロファイル（断面形状）データを示す説
明図である。
【図４】図２の矢印Ｗ方向から見た底面図である。
【図５】レーザ式測距センサーの一般的な利用方法を示
す説明図である。
す説明図である。
【図６】同断面形状計測装置のレーザ式測距センサーの
基本構造及び距離測定原理を示す説明図である。
基本構造及び距離測定原理を示す説明図である。
１ 測距センサー １ａ センサー本体 １ｂ レーザ式測距センサー １ｃ 光学フィルター ２ センサー駆動モータ ３ 移動距離計（エンコーダ） ５ スライドガイド軸 ６ マグネット ７ データ処理装置 ８ａ 反射ミラー ８ｂ 〃 １０ 計測対象物 １０ａ 計測面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/60 (72)発明者 近藤 浩 広島県広島市西区観音新町四丁目６番22号 三菱重工業株式会社広島製作所内
Claims (2)
- 【請求項１】 計測面に対して特定波長光を照射し、そ
の反射光を受光して、同計測面とのＹ軸方向距離を三角
測量の原理により計測する測距センサーと、前記計測面
に相対して設けたガイド軸に沿って同測距センサをＸ軸
方向に移動させるセンサー移動装置と、前記測距センサ
ーのＸ軸方向の移動距離を計測する移動距離計と、これ
らの機器よりなる計測ユニットを計測部位に着脱自在に
取付ける着脱機構と、前記測距センサーにより得られた
Ｙ軸方向データと前記移動距離計により得られたＸ軸方
向データとを処理するデータ処理装置とにより構成した
ことを特徴とする断面形状計測装置。 - 【請求項２】 前記測距センサーが、照射した特定波長
光のみを通過させる光学フィルターと、前記照射光及び
前記反射光を反復して反射させる複数のミラーとを内蔵
している請求項１記載の断面形状計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6064863A JPH07270133A (ja) | 1994-04-01 | 1994-04-01 | 断面形状計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6064863A JPH07270133A (ja) | 1994-04-01 | 1994-04-01 | 断面形状計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07270133A true JPH07270133A (ja) | 1995-10-20 |
Family
ID=13270437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6064863A Pending JPH07270133A (ja) | 1994-04-01 | 1994-04-01 | 断面形状計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07270133A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014013A (ja) * | 2000-06-27 | 2002-01-18 | Structural Quality Assurance Inc | 地震等の突発的な外力により影響を受ける構築物の安全性確保のための総合対策システム |
| EP2278259A1 (en) * | 2009-07-09 | 2011-01-26 | General Electric Company | Weld analysis device |
| JP2012521005A (ja) * | 2009-03-19 | 2012-09-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学式ゲージ及び３次元表面プロファイル測定方法 |
-
1994
- 1994-04-01 JP JP6064863A patent/JPH07270133A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014013A (ja) * | 2000-06-27 | 2002-01-18 | Structural Quality Assurance Inc | 地震等の突発的な外力により影響を受ける構築物の安全性確保のための総合対策システム |
| JP2012521005A (ja) * | 2009-03-19 | 2012-09-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学式ゲージ及び３次元表面プロファイル測定方法 |
| EP2278259A1 (en) * | 2009-07-09 | 2011-01-26 | General Electric Company | Weld analysis device |
| JP2011017702A (ja) * | 2009-07-09 | 2011-01-27 | General Electric Co <Ge> | 溶接分析装置及び方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000404 |