JPH0726752U - 粒子測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 粒体試料を定量的かつ連続的に粒子測定部に
落下供給するようにした粒子測定装置を提供する。 【構成】 この考案の粒子測定装置は、円柱体の外周面
に中心軸に対して傾斜した傾斜溝が一定間隔で形成され
中心軸が水平にして回転される溝付円柱体と、少なくと
も前記溝付円柱の外周面上方部を包囲しかつ円柱の外周
面上方部に摺接するよう配置された包囲枠と、この包囲
枠上に設置され上方開口部からの粒体試料を下方の供給
口を経て粒体試料を溝付円柱体に供給する供給部とから
なる試料供給機構を具備し、この供給部からの粒体試料
を包囲枠を経て溝付円柱体の各溝に充填させかつ溝付円
柱体の回転によって順次下方に位置する粒子測定部に落
下供給させるようにしたものである。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、粒体試料を適正に供給する供給機構を具備した粒子測定装置例え ばレーザ回折式粒度分布測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

レーザ回折式粒度分布測定装置は、粒子群にレーザ光を照射して得られる回折 ／散乱光の強度分布は粒度群を構成する粒子の大きさと量によって変化するとい う原理に基づくもので、試料たとえば粉粒体についてその粒子の大きさと量の情 報を載せた回折／散乱光強度分布から、その粉粒体の粒度分布度を測定する装置 である。この場合、レーザ光が照射される粒子群の状態は、より均一な動的状況 を現出するべく、測定すべき粒体試料を一定量ずつ常時落下させて定量供給する 方式（乾式）などが採用され、これらの均一な動的状況にある粒子群にレーザ光 が照射されるようになっている。この粒体試料の定量供給方法としては、エンド レスに巡回するベルトにて供給するベルトフィーダや、供給枠に一定の振動を与 えて試料を供給する振動フィーダ、さらにはスクリュウの回転により供給するス クリュウフィーダなどが一般的に採用されている。さらにターンテーブルに溝を 設け、ホッパーからの粒体試料をこの溝に落下させ掻き混器などにて溝に充填す るとともにこの溝の粒体試料を吸引空気流にて取りだし供給する方式も採用され ている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

上述のベルトフィーダや振動フィーダ、さらにはスクリュウフィーダなど一般 的な供給機構は定量性が低く、特に微量定量供給機構としては実用的でない。ま た、上述のターンテーブルに溝を設けてその溝から試料を取り出し供給する方式 は、空気流により吸引するため、特に壊れやすい粒子や比重が大きい大粒子には 不向きである。すなわち、均一な動的状況を現出できにくいという問題点を有し ている。

【０００４】 この考案は、上述の問題点を解決する粒体試料供給機構を具備した粒子測定装 置を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

この考案が提供する粒子測定装置は、円柱体の外周面に中心軸に対して傾斜し た軸方向溝を一定間隔で形成され中心軸が水平にして回転される溝付円柱体と、 少なくとも前記溝付円柱の外周面上方部を包囲しかつ円柱の外周面上方部に摺接 するよう配置された包囲枠と、この包囲枠上に設置され上方開口部からの粒体試 料を下方の供給口を経て粒体試料を溝付円柱体に供給する供給部たとえばホッパ ーとからなる試料供給機構を備え、供給部からの粒体試料を包囲枠を経て溝付円 柱体の各溝に充填させかつ溝付円柱体の回転によって順次下方に位置する粒子測 定部に落下供給するようにしたことを特徴とするものである。

【０００６】

【作用】

この考案の粒子測定装置が特徴とする試料供給機構によれば、円柱体の外周面 に形成された傾斜溝から粒体試料が自然落下する方式であり、溝の深さが一定あ るので定量供給が実現するとともに、１本の溝からの粒体試料が落下し終わると 次の溝から粒体試料が落下をし始め連続的供給が行われる。

【０００７】

【実施例】

以下、この考案を図面に示す実施例にしたがって説明する。 図１は、この考案を実施したレーザ回折式粒度分布測定装置の概略図である。 図面において上方が試料供給機構であり、下方が粒子測定部としての粒度分布測 定部である。試料供給機構は上方に配置されたホッパー１とその下方に位置する カバー２と円柱状ドラム３および投入口５から構成されている。ホッパー１は粒 体試料を受け入れ、その下方の開口（図示せず）からカバー２に粒体試料を受け 渡すもので、逆四角錘状をなしカバー２上に架設されている。カバー２はホッパ ー１からの粒体試料を円柱状ドラム３における外周の各傾斜溝Ｍに供給し充填す るもので、円柱状ドラム３の外周面上方部でかつ傾斜溝Ｍ全長をほぼ包囲する大 きさのものである。また、カバー２の下面は円柱状ドラム３の外周面と同形の凹 形円曲面に形成されていて、円柱状ドラム３の外周面上方部に摺接するよう配置 されている。したがってカバー２は円柱状ドラム３の外周面に乗架された形とな っている。円柱状ドラム３の外周面における各傾斜溝Ｍはすべて同一の所定深さ にて形成されるとともに、これら各傾斜溝Ｍのピッチは１本の傾斜溝の後端が最 下位を通過すると即次の傾斜溝の先端が最下位に位置するよう設定されている。 この構造によって定量的供給と連続的供給が保障される。

【０００８】 なお、図示していないが、円柱状ドラム３は、その長身軸が水平状態にて回転 可能に支持され、モータ４にて所定速度で矢印方向に回転駆動される。この回転 駆動によって、円柱状ドラム３の外周面における各傾斜溝Ｍには１本ずつ一杯に 粒体試料が充填されており、それが順次下方に位置したとき落下されることにな る。したがって粒体試料は間欠的にはならず連続的でかつ定量で落下供給される ことになる。落下した粒体試料は粒子群６して粒度分布測定部に供給される。な お、円柱状ドラム３は、モータ４に対して容易に着脱できる形で接続されており 、円柱状ドラム３の清掃などのメンテナンスが容易に行い得る。

【０００９】 粒度分布測定部においては、レーザ光源７からのレーザ光がコリメータ８を経 て粒子群６に照射される。すると回折／散乱した光は集光レンズ９にて集光れて 検出部１０の面に回折像Ｋ１，Ｋ２を結実する。これらの回折像Ｋ１，Ｋ２は、 リングデテクタ（図示せず）などによって検出される。また、側方に散乱したレ ーザ光については側方散乱検出部（センサ）１１にて検出される。これら検出部 １０，１１からの出力はデータ処理機（図示せず）に入力され粒度分布の計算が 行われる。 図２は円柱状ドラム３を取り出して示す図で、図１の円柱状ドラムに比較して 傾斜溝Ｍが長く形成されている。この場合はカバーもこの傾斜溝Ｍの全長を包囲 する大きさに設定される。

【００１０】 この考案の粒子測定装置が特徴とする試料供給機構は以上説明したとおりであ るが、上記ならびに図示例に限定されず、種々の変形実施例を包含するものであ る。まず、粒体試料を受け入れる供給部については、ホッパー状のものに限定さ れず、たとえば粒体試料容器自体を兼用してもよく、あるいは供給パイプを設置 する形とすることもできこれら試料供給部の形状については図示例に限定されな い。つぎに傾斜溝付円柱の外周面上方部を包囲しかつ円柱の外周面上方部に摺接 するよう配置された包囲枠は、図示例のようなカバー状の形でもよいが、円柱状 ドラム３全体を包囲するシリンドリカルな形としその内方に円柱状ドラムが回転 可能に収納される形とすることも可能である。要は、傾斜溝付円柱の外周面上方 部を包囲しかつ円柱の外周面上方部に摺接する包囲枠であることが条件となる。 これは粒体試料を円柱の傾斜溝に確実に充填する必要があるからである。供給部 と包囲枠を一体的に形成するすることも可能である。

【００１１】 さて、円柱体については図示例では円柱状ドラムとして示されているが、中実 のものあるいは円筒状のものなどあらゆる円柱体のものが適用される。材料も金 属製のみならずプラスチック材料でも製作でき各種材料が使用されよう。ただ円 筒状にて軽量化を図るのが望ましい。傾斜溝の本数は図示例に限定されないが、 あまりに少なくすると傾斜の勾配を大きくすることになり、製作上の困難さを伴 わない範囲で設定されるのが有利である。また、この円柱体の回転駆動方法につ いては、図示例のようにモータ直結の駆動方式以外にベルトなどによる減速駆動 方式や円柱体の内にモータを収納して全体の小型化を図る形の構造とすることも 可能である。また、円柱体を回転駆動系と着脱自在として説明したが、着脱でき ない形とすることは可能である。

【００１２】 図示例のレーザ回折式粒度分布測定装置としての使用例はいわゆる乾式のもの であるが、液体の流れの中に粒体試料を混入供給する湿式の測定装置としての供 給機構としても適用可能であることは当然であり、さらにこのような粒度分布測 定装置以外の粒子測定装置たとえば粒子径測定装置にも適用可能である。この考 案はこれらすべての変形実施例を含む。

【００１３】

【考案の効果】

この考案が提供する粒子測定装置は以上説明したとおりであるから、構成が極 めて簡略にしてかつ粒体試料の連続的供給と定量的供給を可能にするものであり 、各種の状態の粒体試料が適正かつ精度よく粒子測定部に供給できる。また、特 に微量の粉粒体を少量ずつあるいは大径の粒子を連続的供給かつ定量的供給も可 能である。さらに円柱体の回転数を調整することで供給量を広い範囲で調整でき る利点をも有する。また、円柱体の大きさや傾斜溝の大きさを調整することによ り、さらに広い供給範囲に対応可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案による粒子測定装置を斜視的に示す概
略図である。

【図２】この考案の要部を斜視的に示す図である。

【符号の説明】

１…ホッパー ２…カバー ３…円柱状ドラム ４…モータ ５…投入口 ６…粒子群 ７…レーザ光源 ９…集光レンズ １０…検出部

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】円柱体の外周面に中心軸に対して傾斜した
   傾斜溝が一定間隔で形成され中心軸が水平にして回転さ
   れる溝付円柱体と、少なくとも前記溝付円柱の外周面上
   方部を包囲しかつ円柱の外周面上方部に摺接するよう配
   置された包囲枠と、この包囲枠上に設置され上方開口部
   からの粒体試料を下方の供給口を経て粒体試料を溝付円
   柱体に供給する供給部とからなる試料供給機構を備え、
   供給部からの粒体試料を包囲枠を経て溝付円柱体の各溝
   に充填させかつ溝付円柱体の回転によって順次下方に位
   置する粒子測定部に落下供給するようにしたことを特徴
   とする粒子測定装置。