JPH07262233A - Method and device for deciding form of element in analog lsi - Google Patents

Method and device for deciding form of element in analog lsi

Info

Publication number
JPH07262233A
JPH07262233A JP6047480A JP4748094A JPH07262233A JP H07262233 A JPH07262233 A JP H07262233A JP 6047480 A JP6047480 A JP 6047480A JP 4748094 A JP4748094 A JP 4748094A JP H07262233 A JPH07262233 A JP H07262233A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shape
elements
determining
group
division
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6047480A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahito Uechi
將人 植地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP6047480A priority Critical patent/JPH07262233A/en
Publication of JPH07262233A publication Critical patent/JPH07262233A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To automatically decide the form of an element satisfying an analog restriction. CONSTITUTION:In the ascertaining processing 31 of the same form element group as against plural kinds of elements mentioned by the element numbers of a net list, an approximate arrangement condition which is previously set so that they are set to be the same forms is inputted. It is judged whether the plural elements applied to the approximate arrangement condition exists on the net list or not. When the plural elements applied to the approximate arrangement condition exist, the element numbers are set to be one group, and respective groups are stored as intermediate data. In the deciding processing 33 of the element form, element form designation where a basic form designated for constituting the element is previously defined as against the element number is inputted, and it is judged whether the element numbers in the respective groups as intermediate data are applied to the element numbers designated for inputted element form designation or not. When they are applied, the plural basic forms are used for parameters showing the characteristics of the elements so as to decide the forms of the elements.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はアナログLSIにおける
素子の形状決定方法及びその形状決定装置に係り、詳し
くはアナログLSIにおけるレイアウトの制約を満足
し、高集積化が可能な素子の自動形状決定に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of determining a shape of an element in an analog LSI and a shape determining apparatus therefor, and more particularly to automatic shape determination of an element which satisfies layout restrictions in an analog LSI and can be highly integrated. It is a thing.

【0002】近年、バイポーラ・アナログICにおいて
は、大規模化・高集積化が進められる一方で、その開発
期間の短縮が要求されている。そのため、レイアウトに
おいても素子の形状決定の自動化を図り配置処理時間を
短縮することが望まれている。
In recent years, bipolar / analog ICs have been required to be shortened in development period while being made larger in scale and highly integrated. Therefore, it is desired to reduce the layout processing time by automating the element shape determination in the layout.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来、バイポーラ・アナログIC(Inte
grated Circuit)においては、大規模化・高集積化が進
められている。そのため、アナログICの回路設計にお
いてはCAD(Computer Aided Design )装置が用いら
れ、その設計時間の短縮が図られている。また、設計さ
れたアナログICが正常に動作するかを検証するための
検証プログラム(回路シミュレータ)が用いられ、計算
機による動作の検証が行われて検証時間が短縮されてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, bipolar analog ICs (Inte
grated circuit), large scale and high integration are being promoted. Therefore, a CAD (Computer Aided Design) device is used in the circuit design of the analog IC, and the design time is shortened. Moreover, a verification program (circuit simulator) for verifying whether the designed analog IC operates normally is used, and the verification time is shortened by verifying the operation by a computer.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、アナログI
Cのレイアウトには、そのレイアウトに多くの制約があ
る。その制約は、例えばカレントミラーを構成する一対
のトランジスタは隣接して配置する必要がある。また、
例えば1つのトランジスタに対してそのトランジスタに
流れる10倍の電流を流すトランジスタを設計する場
合、単純にそのトランジスタの形状を10倍するだけで
は所望の電流が得られない。そのため、同一形状のトラ
ンジスタを10個隣接して形成して所望の電流を得る必
要がある。これらの制約によりマクロを構成する素子の
レイアウト及びマクロのレイアウト時における素子の形
状決定は熟練した設計者自身により行われている。
By the way, the analog I
The layout of C has many restrictions on its layout. The restriction is that, for example, a pair of transistors forming a current mirror must be arranged adjacent to each other. Also,
For example, when designing a transistor that allows a current to flow ten times as much as that of one transistor, the desired current cannot be obtained simply by multiplying the shape of the transistor by ten times. Therefore, it is necessary to form ten adjacent transistors having the same shape to obtain a desired current. Due to these constraints, the layout of the elements constituting the macro and the shape of the elements at the time of the macro layout are determined by a skilled designer himself.

【0005】一方、レイアウトを自動化したものもある
が、そのレイアウトのための素子の形状は使用する素子
毎に予め設定しておかなければならないので、その設定
のために多くの時間がかかり、アナログICの開発期間
を短縮できないという問題があった。
On the other hand, there are automatic layouts, but since the shape of the element for the layout must be set in advance for each element to be used, it takes a lot of time for the setting, and the analog There was a problem that the IC development period could not be shortened.

【0006】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的はアナログの制約を満足し
た素子の形状を自動的に決定することのできるアナログ
LSIにおける素子の形状決定方法及び形状決定装置を
提供することにある。
The present invention has been made to solve the above problems, and its object is a method of determining the shape of an element in an analog LSI capable of automatically determining the shape of the element satisfying analog constraints. And to provide a shape determining device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、予め設定されたネットリストに素子番号によ
り記述された複数種類の素子の形状を決定するアナログ
LSIにおける素子の形状決定方法であって、予め同一
形状とするために設定された近接配置条件を入力し、該
近接配置条件に該当する複数の素子がネットリスト上に
あるかどうかを判断し、複数の素子がある場合にはこれ
らの素子番号を1つのグループとし各グループを中間デ
ータとして記憶し、予め素子番号に対してその素子を構
成するために指定された基本形状が定義された素子形状
指定を入力し、該素子形状指定にある素子番号が前記中
間データに格納された各グループ内の素子番号にあるか
否かを判断し、素子番号がある場合にはグループ内の各
素子の特性を示すパラメータを基本形状の特性を示すパ
ラメータで割る除算を行い、その除算の結果、商が整数
の場合にはその商を各素子を構成する基本形状の個数と
してその素子の形状を決定するようにした。
In order to achieve the above object, the present invention provides a method of determining the shape of an element in an analog LSI for determining the shapes of a plurality of types of elements described by element numbers in a preset netlist. Therefore, by inputting the proximity placement condition set in advance to have the same shape, it is determined whether a plurality of elements corresponding to the proximity placement condition are on the netlist. These element numbers are set as one group, each group is stored as intermediate data, and an element shape designation in which a basic shape designated to configure the element is defined in advance for the element number is input, and the element shape is input. It is determined whether or not the designated element number is the element number within each group stored in the intermediate data, and if there is an element number, the characteristics of each element within the group are indicated. The parameter is divided by the parameter that shows the characteristics of the basic shape, and if the quotient is an integer as a result of the division, the quotient is determined as the number of basic shapes that make up each element and the shape of that element is determined. .

【0008】また、除算の結果、割り切れない場合であ
って素子が抵抗の場合には、割った結果の余りを予め設
定された所定の数で割る除算を行い、除算の結果の商と
基本形状の抵抗値とで抵抗を形成した場合の抵抗値が素
子の特性を示すパラメータである抵抗値に対して予め設
定された誤差範囲の抵抗値となるまで除算を行い、その
誤差範囲の抵抗値となる除算の結果の商を各素子を構成
する基本形状の個数としてその素子の形状を決定するよ
うにした。
If the result of the division is that it is not divisible and the element is a resistor, the remainder of the result of division is divided by a preset number, and the quotient and basic shape of the result of division are obtained. When the resistance value is formed by the resistance value and the resistance value which is a parameter showing the characteristics of the element, division is performed until the resistance value falls within a preset error range, and the resistance value within the error range The quotient of the results of the division is set as the number of basic shapes forming each element to determine the shape of the element.

【0009】更に、中間データとして記憶された各グル
ープ内の素子番号が素子形状指定に指定された素子番号
にない場合であって、素子番号の素子がトランジスタ又
は容量の場合は、同一形状とする各素子の特性を示すパ
ラメータの最大公約数を求め、その最大公約数の素子を
基準とし、各素子の特性に対応して使用する基準となる
素子の個数を求め、基準となる素子とその基準となる素
子の個数とにより該素子の形状を決定し、素子が抵抗の
場合は、そのうちの1つの抵抗値のサイズを基準サイズ
とし、その基準サイズにより各抵抗を自動生成した場合
の総面積を計算し、その総面積が最も小さくなるときの
基準サイズで各素子を形成する個数を計算し、基準サイ
ズと各素子を形成する個数とにより該素子の形状を決定
するようにした。
Further, when the element number in each group stored as the intermediate data is not the element number designated in the element shape designation, and the element having the element number is a transistor or a capacitor, the elements have the same shape. Obtain the greatest common divisor of the parameters that show the characteristics of each element, and use the element with the greatest common divisor as a reference to find the number of reference elements to be used in accordance with the characteristics of each element. The shape of the element is determined by the number of the elements to be used, and when the element is a resistor, the size of one of the resistance values is used as a reference size, and the total area when each resistor is automatically generated by the reference size is determined. The number of elements to be formed is calculated based on the reference size when the total area is the smallest, and the shape of the element is determined based on the reference size and the number of elements to be formed.

【0010】[0010]

【作用】従って、本発明によれば、予め設定されたネッ
トリストに素子番号により記述された複数種類の素子に
対して、予め同一形状とするために設定された近接配置
条件を入力し、該近接配置条件に該当する複数の素子が
ネットリスト上にあるかどうかが判断される。そして近
接配置条件に該当する複数の素子がある場合にはこれら
の素子番号を1つのグループとし各グループを中間デー
タとして記憶する。
Therefore, according to the present invention, the proximity placement condition set in advance for making the same shape is input to a plurality of types of elements described by the element numbers in the preset net list, It is determined whether or not a plurality of elements corresponding to the close placement condition are on the netlist. When there are a plurality of elements that meet the close arrangement condition, these element numbers are set as one group and each group is stored as intermediate data.

【0011】更に、予め素子番号に対してその素子を構
成するために指定された基本形状が定義された素子形状
指定を入力し、前記中間データとして記憶された各グル
ープ内の素子番号に入力した素子形状指定に指定された
素子番号があるか否かが判断される。そして、素子番号
がある場合にはグループ内の各素子の特性を示すパラメ
ータを基本形状の特性を示すパラメータで割る除算を行
い、その除算の結果、商が整数の場合にはその商を各素
子を構成する基本形状の個数としてその素子の形状が決
定される。
Further, an element shape designation in which a basic shape designated for constructing the element is previously defined for the element number is input, and is input to the element number in each group stored as the intermediate data. It is determined whether or not there is a designated element number in the element shape designation. If there is an element number, the parameter indicating the characteristic of each element in the group is divided by the parameter indicating the characteristic of the basic shape, and if the quotient is an integer, the quotient is calculated for each element. The shape of the element is determined as the number of basic shapes constituting the element.

【0012】一方、除算の結果、商が整数でない場合で
あって該素子が抵抗の場合には、割った結果の余りを予
め設定された所定の数で割る除算を行う。そして、除算
の結果の商と基本形状の抵抗値とで抵抗を形成した場合
の抵抗値が素子の特性を示すパラメータである抵抗値に
対して予め設定された誤差範囲の抵抗値となるまで除算
が繰り返される。そして、その誤差範囲の抵抗値となる
除算の結果の商を各素子を構成する基本形状の個数とし
てその素子の形状が決定される。
On the other hand, when the quotient is not an integer and the element is a resistance as a result of the division, the remainder of the division result is divided by a preset number. Then, when the resistance is formed by the quotient of the result of the division and the resistance value of the basic shape, the resistance value is divided into the resistance value that is a parameter showing the characteristics of the element within a preset error range. Is repeated. Then, the shape of the element is determined by using the quotient of the result of the division that is the resistance value of the error range as the number of basic shapes forming each element.

【0013】また、中間データとして記憶された各グル
ープ内の素子番号が素子形状指定に指定された素子番号
にない場合であって、素子番号の素子がトランジスタ又
は容量の場合は、同一形状とする各素子の特性を示すパ
ラメータの最大公約数が求められる。そして、その最大
公約数の素子を基準とし、各素子の特性に対応して使用
する基準となる素子の個数を求められ、基準となる素子
とその基準となる素子の個数とにより該素子の形状が決
定される。一方、素子が抵抗の場合は、そのうちの1つ
の抵抗値のサイズを基準サイズとし、その基準サイズに
より各抵抗を自動生成した場合の総面積が計算される。
そして、その総面積が最も小さくなるときの基準サイズ
で各素子を形成する個数を計算され、その基準サイズと
各素子を形成する個数とにより該素子の形状が決定され
る。
Further, when the element number in each group stored as the intermediate data is not in the element number designated in the element shape designation and the element having the element number is a transistor or a capacitor, the elements have the same shape. The greatest common divisor of the parameters showing the characteristics of each element is obtained. Then, with the element of the greatest common divisor being the reference, the number of reference elements to be used corresponding to the characteristics of each element is obtained, and the shape of the element is determined by the reference element and the number of reference elements. Is determined. On the other hand, when the element is a resistance, the size of one of the resistance values is used as a reference size, and the total area when each resistance is automatically generated based on the reference size is calculated.
Then, the number of forming each element is calculated with the reference size when the total area becomes the smallest, and the shape of the element is determined by the reference size and the number of forming each element.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1〜
図10に従って説明する。図2は本発明を適用したレイ
アウト装置のシステム構成を示す模式図である。形状決
定装置1はCAD(Computer Aided Design )装置から
なり、中央処理装置(以下、CPUという)2、メモリ
3、磁気ディスク装置4、CRT等のディスプレイ5、
キーボード(マウス等を含む)6、磁気テープ装置7を
備えている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment embodying the present invention will now be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a schematic diagram showing a system configuration of a layout device to which the present invention is applied. The shape determining device 1 comprises a CAD (Computer Aided Design) device, and has a central processing unit (hereinafter referred to as CPU) 2, a memory 3, a magnetic disk device 4, a display 5 such as a CRT,
A keyboard (including a mouse) 6 and a magnetic tape device 7 are provided.

【0015】CPU2はメモリ3に記憶された所定のプ
ログラムデータに基づいて動作するようになっている。
メモリ3にはCPU2が実行する前記プログラムデータ
とその実行に必要は各種データが予め記憶されるととも
に、当該プログラムデータに基づくCPU2の処理結果
等が一時格納されるようになっている。
The CPU 2 operates on the basis of predetermined program data stored in the memory 3.
In the memory 3, the program data executed by the CPU 2 and various data necessary for the execution are stored in advance, and the processing results of the CPU 2 based on the program data are temporarily stored.

【0016】メモリ3には、図1に示す複数のファイル
11〜21が格納されている。ファイル11には、アナ
ログICの素子及びその素子間の接続(ネットリスト)
が格納されている。ネットリストは図示しない回路設計
のためのCAD装置等により予め設計された回路図から
生成されている。また、ネットリストはその動作に応じ
た複数の回路ブロックから構成され、各回路ブロックは
複数の素子又は複数の素子からなるマクロにより構成さ
れている。そして、ネットリストには各素子を示す素子
番号と、その素子の特性を示すパラメータ(例えばトラ
ンジスタではそのトランジスタに流す電流等)が同時に
記述されている。
The memory 3 stores a plurality of files 11 to 21 shown in FIG. File 11 contains the elements of the analog IC and the connections between them (netlist)
Is stored. The netlist is generated from a circuit diagram previously designed by a CAD device for circuit design (not shown). The netlist is composed of a plurality of circuit blocks according to its operation, and each circuit block is composed of a plurality of elements or a macro of a plurality of elements. Then, the element number indicating each element and the parameter indicating the characteristics of the element (for example, in the case of a transistor, current flowing through the transistor) are simultaneously described in the netlist.

【0017】ファイル12には、アナログICのレイア
ウトの制約である近接配置、同一形状にする素子を決定
する近接配置条件が格納されている。ファイル13に
は、形状決定するための素子が一旦格納されるための中
間データが格納されている。
The file 12 stores the close placement, which is the constraint of the layout of the analog IC, and the close placement condition for determining the elements having the same shape. The file 13 stores intermediate data for temporarily storing an element for determining the shape.

【0018】ファイル14には、予め近接配置、同一形
状にする素子を指定するために複数の素子番号が定義さ
れた近接配置指定が格納されている。ファイル15に
は、予め複数の素子に対してその素子を構成するための
基準となる基本形状が定義された素子形状指定が格納さ
れている。ファイル16には、抵抗の形状を決定する際
において、複数の抵抗からその抵抗値を形成する場合に
その抵抗を構成する個数を算出する時、元の抵抗値と複
数の抵抗により構成する抵抗値との誤差を定義した許容
誤差が格納されている。ファイル17には、ファイル1
3の中間データに格納された素子の形状と対応するセル
名を定義した素子対応指定が格納されている。また、フ
ァイル17には、抵抗、容量(コンデンサ)の自動生成
を指定する定義が格納されている。ファイル18には、
素子を自動生成する時の条件を定義した素子自動生成パ
ラメータが格納されている。ファイル19には、抵抗の
形状を自動生成する時の抵抗幅が格納されている。ファ
イル20には、ファイル11に格納されたネットリスト
に存在する全素子の形状及び配置個数が決定された素子
形状情報が格納される。ファイル21には素子の形状を
決定することができなかった素子番号がエラー素子とし
て格納されるようになっている。
The file 14 stores in advance the proximity arrangement designation in which a plurality of element numbers are defined in order to designate the elements having the same arrangement and the same arrangement. The file 15 stores an element shape designation in which a basic shape serving as a reference for forming the element is defined for a plurality of elements in advance. In the file 16, when determining the shape of the resistance, when the resistance value is formed from a plurality of resistances and the number of the resistances is calculated, the original resistance value and the resistance value composed of the plurality of resistances are calculated. The allowable error that defines the error between and is stored. File 17 contains file 1
The element correspondence designation defining the cell name corresponding to the shape of the element stored in the intermediate data 3 is stored. The file 17 also stores definitions that specify automatic generation of resistors and capacitors (capacitors). File 18 contains
Element automatic generation parameters that define conditions for automatically generating elements are stored. The file 19 stores the resistance width when the resistance shape is automatically generated. The file 20 stores element shape information in which the shapes and arrangement numbers of all the elements existing in the netlist stored in the file 11 are determined. In the file 21, the element number for which the shape of the element could not be determined is stored as an error element.

【0019】各ファイル11〜19は磁気ディスク装置
4に格納され、その磁気ディスク装置4からメモリ3に
予め読み込まれて格納されている。一方、ファイル20
はメモリ3に一旦格納され、処理終了とともに磁気ディ
スク装置4に格納されるようになっている。
The files 11 to 19 are stored in the magnetic disk device 4, and are read from the magnetic disk device 4 and stored in the memory 3 in advance. On the other hand, file 20
Are temporarily stored in the memory 3 and then stored in the magnetic disk device 4 when the processing is completed.

【0020】CPU2は、キーボード6の操作により形
状決定処理が起動されると、メモリ3に記憶されたプロ
グラムデータに基づいて図1に示す素子の形状決定処理
を実行する。即ち、CPU2はプログラムデータに基づ
いて同一形状素子群の見極め処理31、同一形状素子群
の見極め追加処理32、素子形状の決定処理33及び素
子形状の最終決定処理34の各構成を実行するようにな
っている。
When the shape determining process is started by operating the keyboard 6, the CPU 2 executes the element shape determining process shown in FIG. 1 based on the program data stored in the memory 3. That is, the CPU 2 executes each configuration of the identical shape element group identification processing 31, the identical shape element group identification addition processing 32, the element shape determination processing 33, and the element shape final determination processing 34 based on the program data. Has become.

【0021】同一形状素子群の見極め手段としての同一
形状素子群の見極め処理31において、CPU2はファ
イル11に格納されたネットリストを読み出す。また、
CPU2はファイル12に格納された近接配置条件を読
み出す。そして、CPU2は読み出したネットリストに
記述されたネット(素子間の接続)の素子のうち、読み
出した近接配置条件に該当する素子をネットリストから
検索する。即ち、近接に配置する必要のある素子は同一
の電気的特性が必要であり、同一形状で形成する必要が
ある。そのため、ネットリストに該当する素子が存在す
る場合、CPU2はネットリストに記述されたその素子
を示す素子番号とファイル12に格納された素子のサイ
ズを中間データとしてファイル13に格納する。
In the identical shape element group identification process 31 as the identical shape element group identification means 31, the CPU 2 reads the netlist stored in the file 11. Also,
The CPU 2 reads the close placement condition stored in the file 12. Then, the CPU 2 searches the netlist for an element corresponding to the read proximity placement condition among the elements of the net (connection between elements) described in the read netlist. That is, the elements that need to be arranged close to each other need to have the same electrical characteristics and have the same shape. Therefore, when the element corresponding to the netlist exists, the CPU 2 stores the element number indicating the element described in the netlist and the size of the element stored in the file 12 in the file 13 as intermediate data.

【0022】この近接配置条件は、例えば図3に示すよ
うに予め定義されている。例えば、エミッタ結合のよう
に2つのトランジスタのエミッタ端子が互いに接続され
ている場合がある。この両トランジスタの接続は、定義
「NPN1:E,NPN2:E 」の「 NPNトランジスタのエミッタ端
子同士が接続されている場合は近接配置を行う」に該当
する。従って、CPU2はこの近接配置条件に該当する
両トランジスタを1つのグループとし、その素子名を示
す素子番号とその素子の特性を示すパラメータとをファ
イル13の中間データに同一形状指定素子群として格納
する。
This close placement condition is defined in advance as shown in FIG. 3, for example. For example, the emitter terminals of two transistors may be connected to each other as in the case of emitter coupling. The connection of these two transistors corresponds to the definition "NPN1: E, NPN2: E", "When the emitter terminals of NPN transistors are connected to each other, close arrangement is performed". Therefore, the CPU 2 groups both transistors that meet the close arrangement condition into one group, and stores the element number indicating the element name and the parameter indicating the characteristic of the element as the same shape designating element group in the intermediate data of the file 13. .

【0023】また、カレントミラーを構成する2つのト
ランジスタは、一方のトランジスタのベース端子とコレ
クタ端子とが互いに接続されるとともに、他方のトラン
ジスタののベース端子に接続されている。この両トラン
ジスタの接続は、定義「NPN1:C・B,NPN2:B」の「 NPNト
ランジスタのコレクタ,ベース端子と他の NPNトランジ
スタのベース端子が接続されている場合は近接配置を行
う」に該当する。従って、CPU2はカレントミラーを
構成する両トランジスタを別の1つのグループとし、両
トランジスタの素子番号をファイル13の中間データに
近接配置指定及び同一形状指定素子として格納する。そ
して、同一形状素子群の見極め処理31が終了すると、
CPU2は同一形状素子群の見極め追加処理32に移
る。
In addition, the two transistors forming the current mirror have the base terminal and collector terminal of one transistor connected to each other and to the base terminal of the other transistor. This connection of both transistors corresponds to the definition of "NPN1: C ・ B, NPN2: B", "When the collector and base terminals of the NPN transistor are connected to the base terminals of other NPN transistors, the adjacent arrangement is performed". To do. Therefore, the CPU 2 sets both transistors forming the current mirror into another group, and stores the element numbers of both transistors in the intermediate data of the file 13 as the close-arrangement designation and the same shape designation element. Then, when the identification processing 31 of the same-shaped element group is completed,
The CPU 2 shifts to the identification addition processing 32 of the same shaped element group.

【0024】次に、同一形状素子群の見極め追加手段と
しての同一形状素子群の見極め追加処理32において、
CPU2はファイル14に格納された近接配置指定に該
当する素子の抽出を行う。即ち、CPU2はファイル1
4に格納された近接配置指定を読み出す。この近接配置
指定は予め回路設計段階において複数の回路ブロック又
はマクロ内にそれぞれ存在する素子を近接配置し同一形
状とするように設定しておくものであって、予め設計者
によりその素子が指定されている。従って、その指定さ
れた素子は同一形状に形成され、離れて配置されるのを
防止されるようになっている。
Next, in the identification addition processing 32 for the elements of the same shape as the means for adding the identification of the elements of the same shape,
The CPU 2 extracts the elements corresponding to the close placement designation stored in the file 14. That is, the CPU 2 uses the file 1
Read out the proximity placement designation stored in 4. This proximity placement designation is performed in advance in the circuit design stage by setting elements existing in each of a plurality of circuit blocks or macros so that they are placed close to each other and have the same shape. ing. Therefore, the designated elements are formed in the same shape and are prevented from being arranged apart.

【0025】この近接配置指定は、例えば図4に示すよ
うに予め定義されている。即ち、定義「S11,S20,S30 」
は、「ネットリスト上の素子番号S11,S20,S30 は同一形
状とし近接配置を行う」という指定を示している。尚、
素子番号「S11 」,「S20 」,「S30 」は、ネットリス
トに記載されているトランジスタ、抵抗、コンデンサ等
をその記載順に対応して付している番号であって、複数
(図4の定義の場合は3つ)の回路ブロックに分かれて
存在している素子を示している。
This proximity arrangement designation is defined in advance as shown in FIG. 4, for example. That is, the definition "S11, S20, S30"
Indicates that “element numbers S11, S20, and S30 on the netlist have the same shape and are arranged closely”. still,
The element numbers "S11", "S20", and "S30" are numbers corresponding to the order in which the transistors, resistors, capacitors, etc., described in the netlist are listed. In the case of (3), the elements existing in three circuit blocks are shown.

【0026】そして、CPU2は読み出した近接配置指
定に該当する複数の素子からなる素子群をネットリスト
ファイル11に格納されているネットリストから検索す
る。そして、ネットリストに該当する素子群が存在する
場合、CPU2はその素子群を1つのグループとしてそ
れぞれの素子の素子番号とその素子の特性を示すパラメ
ータとをファイル13の中間データに格納する。そし
て、見極め追加処理32を終了すると、CPU2は素子
形状の決定処理33に移る。
Then, the CPU 2 searches the netlist stored in the netlist file 11 for an element group consisting of a plurality of elements corresponding to the read out proximity arrangement designation. Then, when there is an element group corresponding to the netlist, the CPU 2 stores the element number of each element and the parameter indicating the characteristic of the element in the intermediate data of the file 13 as one group. Then, when the determination addition processing 32 is completed, the CPU 2 moves to element shape determination processing 33.

【0027】素子形状の決定手段としての素子形状の決
定処理33において、CPU2はファイル15に格納さ
れた素子形状指定に基づいて予め形状を同一にする素子
群を中間データから検索する。
In the element shape determining process 33 as the element shape determining means, the CPU 2 searches the intermediate data for an element group having the same shape in advance based on the element shape designation stored in the file 15.

【0028】この素子形状指定は、各回路ブロックにお
いて素子の形状・サイズを決定した場合、アナログIC
全体の特性からみると各回路ブロックに存在する素子に
対して形状・サイズが同一のもの(基準素子)を配置す
ると、その配置した後の形状に凹凸が少なくなり、配置
の効率が良くなる。
This element shape designation is based on the analog IC when the element shape / size is determined in each circuit block.
From the viewpoint of overall characteristics, when elements having the same shape and size (reference elements) are arranged with respect to the elements existing in each circuit block, unevenness is reduced in the shape after the arrangement, and the arrangement efficiency is improved.

【0029】即ち、1つの回路ブロックにおけるトラン
ジスタに対して、他の回路ブロックにおいて2倍の電流
を流すトランジスタがあるとする。このとき、2倍の電
流を流すトランジスタに対しては、1つの回路ブロック
のトランジスタを2つ並べて配置するとその配置した後
の形状に凹凸が少なくなる。一方、基準となるトランジ
スタが1つの回路ブロックにおけるトランジスタの半分
に設定されている場合、1つの回路ブロックのトランジ
スタには基準となるトランジスタを2つ、他の回路ブロ
ックには基準となるトランジスタを4つ配置するとその
配置した後の形状に凹凸が少なくなり、配置の効率がよ
くなる。
That is, it is assumed that there is a transistor that allows a double current to flow in a transistor in one circuit block in another circuit block. At this time, if two transistors in one circuit block are arranged side by side with respect to a transistor that allows a double current to flow, there will be less unevenness in the shape after the arrangement. On the other hand, when the reference transistors are set to half of the transistors in one circuit block, the transistors in one circuit block have two reference transistors and the other circuit blocks have four reference transistors. When the two are arranged, the unevenness in the shape after the arrangement is reduced, and the efficiency of the arrangement is improved.

【0030】また、1つの回路ブロックにおける抵抗の
値が例えば10KΩであって、他の回路ブロックにおい
てその抵抗の値が例えば5KΩとなる場合がある。この
場合、アナログIC全体からみると両回路ブロックに含
まれる抵抗は同じ大きさの抵抗を複数並べて配置した方
がその配置効率が良い。即ち、10KΩの抵抗は5KΩ
の抵抗の大きさで2つ直列に接続すると、両抵抗を配置
した後の形状の凹凸が少なくなり、配置の効率がよくな
る。
In some cases, the resistance value of one circuit block is, for example, 10 KΩ, and the resistance value of another circuit block is, for example, 5 KΩ. In this case, when viewed from the whole analog IC, it is more efficient to arrange a plurality of resistors of the same size in parallel in the resistors included in both circuit blocks. That is, the resistance of 10KΩ is 5KΩ
If two resistors are connected in series according to the magnitude of the resistance, the unevenness of the shape after the both resistors are arranged is reduced, and the arrangement efficiency is improved.

【0031】そして、この素子形状指定は、図5に示す
ように定義されている。定義「S11:×2 」は、「S11 及
びS11 と同一形状とする素子は×2 の素子(BIP)を用い
る。」を意味している。即ち、素子番号「S11 」及び
「S11 」と同一形状とする素子はバイポーラトランジス
タであって、その特性のために2倍のサイズのバイポー
ラトランジスタを基本形状とし、その基本形状を複数個
並べて配置して「S11 」及び「S11 」と同一形状とする
素子を構成する定義を示している。
The element shape designation is defined as shown in FIG. The definition “S11: × 2” means “S11 and the element having the same shape as S11 are elements of × 2 (BIP).” That is, the elements having the same shape as the element numbers "S11" and "S11" are bipolar transistors. Due to their characteristics, a bipolar transistor of a size twice that of the basic shape is used, and a plurality of the basic shapes are arranged side by side. "S11" and "S11" are defined to form an element having the same shape.

【0032】そして、素子形状指定に記述された素子及
びその素子と同一形状とする他の素子が中間データに存
在する場合、CPU2は各素子の特性を示すパラメータ
を中間データから読み出す。そして、CPU2はその素
子がトランジスタ又はコンデンサの場合、その素子の特
性を示すパラメータを予め設定された基本形状のパラメ
ータで割り、基準となる素子が幾つ必要となるかを演算
する。
When the element described in the element shape designation and another element having the same shape as the element exist in the intermediate data, the CPU 2 reads the parameter indicating the characteristic of each element from the intermediate data. Then, when the element is a transistor or a capacitor, the CPU 2 divides the parameter indicating the characteristic of the element by the parameter of the preset basic shape, and calculates how many reference elements are required.

【0033】例えば、図5の素子形状指定の内、定義
「S11:×2 」の素子番号「S11 」は、図4に示す近接配
置指定の内、定義「S11,S20,S30 」の素子番号「S11 」
に対応する。従って、素子番号「S20 」,「S30 」は
「S11 」と同一形状とする素子に該当する。そして、素
子番号「S11 」,「S20 」,「S30 」の特性を示すパラ
メータをそれぞれ「40」,「40」,「60」とし、基本形
状の特性を示すパラメータを「20」とする。すると、各
素子を構成する基本形状の個数は「40」,「40」,「6
0」を「20」で割った値、即ち「2」,「2」,「3」
となる。
For example, in the element shape designation of FIG. 5, the element number "S11" of the definition "S11: × 2" is the element number of the definition "S11, S20, S30" of the close placement designation shown in FIG. "S11"
Corresponding to. Therefore, the element numbers "S20" and "S30" correspond to elements having the same shape as "S11". The parameters indicating the characteristics of the element numbers "S11", "S20", and "S30" are set to "40", "40", and "60", respectively, and the parameter indicating the characteristics of the basic shape is set to "20". Then, the number of basic shapes that make up each element is "40", "40", "6".
Value obtained by dividing "0" by "20", that is, "2", "2", "3"
Becomes

【0034】そして、CPU2は中間データ上のグルー
プ化された素子群(トランジスタ等)に対して配置する
基本形状の数をそれぞれ付加して中間データを更新す
る。このとき、基準となる素子サイズに対してネットリ
スト上の素子のサイズが整数で割り切れなかった場合が
ある。例えば素子の特性を示すパラメータが「50」であ
って基本形状のパラメータが「20」の場合は「2.5 」と
なり整数とならない。この場合にはその素子に対してそ
の基本形状を使用することができない。従って、CPU
2は、その割り切れなかったネットリスト上の素子の素
子番号を含むグループをエラーとしてファイル21に格
納する。
Then, the CPU 2 updates the intermediate data by adding the number of basic shapes to be arranged to the grouped element groups (transistors etc.) on the intermediate data. At this time, the size of the element on the netlist may not be divisible by an integer with respect to the reference element size. For example, if the parameter indicating the element characteristics is "50" and the basic shape parameter is "20", it becomes "2.5" and is not an integer. In this case, the basic shape cannot be used for the device. Therefore, the CPU
2 stores the group including the element number of the element on the undivided netlist as an error in the file 21.

【0035】一方、素子形状指定に記載された素子が抵
抗の場合、CPU2はその素子の抵抗値を上記したトラ
ンジスタ等と同様に基本形状の抵抗値で割る。そして、
整数で割り切れた場合、CPU2はネットリスト上の素
子群(抵抗)に対して配置する基本形状の数をそれぞれ
付加して中間データを更新する。
On the other hand, when the element described in the element shape designation is a resistor, the CPU 2 divides the resistance value of the element by the resistance value of the basic shape like the transistor and the like described above. And
If it is divisible by an integer, the CPU 2 updates the intermediate data by adding the number of basic shapes to be arranged to the element group (resistor) on the netlist.

【0036】このとき、整数で割り切れなかった場合、
CPU2はネットリスト上の素子のサイズを基準サイズ
で割った残りを1/2,1/3等で割る。即ち、抵抗の
場合、同一の抵抗値の抵抗を複数並列に接続すると、そ
の抵抗値を並列に接続した数で割った値にすることがで
きる。例えば、35KΩの抵抗を必要とし、基準となる
素子サイズが10KΩであるとする。このとき、35K
Ωを10KΩで割ると、商は3で余りは5となる。即
ち、10KΩの抵抗を3個直列に接続すれば30KΩの
抵抗値を得ることができ、必要とする抵抗値に対して5
KΩ不足する。
At this time, if it is not divisible by an integer,
The CPU 2 divides the size of the element on the netlist by the reference size and divides the remainder by 1/2, 1/3, or the like. That is, in the case of resistors, when a plurality of resistors having the same resistance value are connected in parallel, the resistance value can be divided by the number of parallel connections. For example, it is assumed that a resistance of 35 KΩ is required and the reference element size is 10 KΩ. At this time, 35K
Dividing Ω by 10 KΩ gives a quotient of 3 and a remainder of 5. That is, if 3 resistors of 10 KΩ are connected in series, a resistance value of 30 KΩ can be obtained.
There is a shortage of KΩ.

【0037】次に、CPU2は余りの5KΩを1/2で
割る。すると、その値は10KΩとなり、基準サイズの
10KΩの抵抗を2つ並列に接続すれば5KΩを得るこ
とができる。従って、35KΩの抵抗は10KΩの抵抗
を5つ使用し、そのうち3つの抵抗を直列に接続し、そ
の3つの抵抗に更に並列接続した2つの抵抗を直列に接
続すれば得られる。即ち、複数の基準サイズの抵抗を直
列及び並列に接続することにより任意の抵抗値を得るこ
とができることになる。
Next, the CPU 2 divides the remaining 5KΩ by 1/2. Then, the value becomes 10 KΩ, and 5 KΩ can be obtained by connecting two 10 KΩ resistors having a reference size in parallel. Therefore, a resistance of 35 KΩ can be obtained by using five 10 KΩ resistors, of which three resistors are connected in series and two resistors connected in parallel to the three resistors are connected in series. That is, an arbitrary resistance value can be obtained by connecting resistors of a plurality of reference sizes in series and in parallel.

【0038】しかし、あまりに多くの抵抗を直列及び並
列に接続すると、その抵抗の占める面積が増大してアナ
ログICの面積が増大する。従って、ある程度の誤差範
囲に入った段階でその抵抗値とするようにして面積の増
大を防いでいる。この誤差範囲をファイル16に格納さ
れた許容誤差によって定義している。そして、定義「R
=99%」は「抵抗の構成個数算出時の精度は99%と
する」を意味している。即ち、CPU2は直列及び並列
に接続する抵抗の抵抗値を合計した値がネットリスト上
の設計された抵抗値の99%以上になったところで演算
を終了し、そのときの基本形状となる抵抗の数をネット
リスト上の素子群(抵抗)に対してそれぞれ付加して中
間データを更新する。
However, if too many resistors are connected in series and in parallel, the area occupied by the resistors increases and the area of the analog IC increases. Therefore, the area is prevented from increasing by setting the resistance value at a stage within a certain error range. This error range is defined by the allowable error stored in the file 16. And the definition "R
"= 99%" means "the accuracy when calculating the number of resistors is 99%". That is, the CPU 2 terminates the calculation when the sum of the resistance values of the resistors connected in series and in parallel reaches 99% or more of the designed resistance value on the netlist, and the resistance of the basic shape at that time is calculated. The number is added to each element group (resistor) on the netlist to update the intermediate data.

【0039】図6に、以上の処理によりファイル13に
格納される中間データの定義を示す。定義「S11(×4),
S20(×4), S30(×6): NPN:×2 」は、「S11 」,「S20
」,「S30 」はNPNトランジスタであって、「×2
」に定義された基本形状のトランジスタをそれぞれ2
個、2個、3個用いて配置する。
FIG. 6 shows the definition of the intermediate data stored in the file 13 by the above processing. Definition `` S11 (× 4),
S20 (× 4), S30 (× 6): NPN: × 2 ”means“ S11 ”and“ S20
, "S30" are NPN transistors, and
2 transistors each of the basic shape defined in
Arrange using two pieces, three pieces.

【0040】また、「S22(W=40),S21(W=60):PMOS: 」
は、「S22 」,「S21 」はPチャネルMOSトランジス
タであって、その形状は未定である。この素子番号「S2
2 」,「S21 」は、ファイル15の素子形状指定により
指定されていない素子であるので、その形状は素子形状
の決定処理33で決定されない。
Further, "S22 (W = 40), S21 (W = 60): PMOS:"
"S22" and "S21" are P-channel MOS transistors, and their shapes are undetermined. This element number "S2
"2" and "S21" are elements that are not specified by the element shape specification of the file 15, so their shapes are not determined in the element shape determination processing 33.

【0041】更に、「S41(3K),S42(1K),S43(100):R:1K
」は、「S41 」,「S42 」,「S43」は抵抗であって、
そのサイズは1KΩの抵抗のサイズを複数使用すること
により配置する。そして、素子形状の決定処理33が終
了すると、CPU2は素子形状の最終決定処理34に移
る。
Furthermore, "S41 (3K), S42 (1K), S43 (100): R: 1K
, "S41", "S42", "S43" are resistors,
The size is arranged by using a plurality of resistance sizes of 1 KΩ. When the element shape determination process 33 is completed, the CPU 2 proceeds to the element shape final determination process 34.

【0042】次に、素子形状の最終決定手段としての素
子形状の最終決定処理34において、ネットリスト、中
間データと、ファイル17に格納された素子対応指定、
ファイル18に格納された素子自動生成パラメータ及び
ファイル19に格納された抵抗幅とに基づいてCPU2
は素子の形状を最終的に決定する。即ち、CPU2はフ
ァイル11のネットリストに記述された素子の素子番号
をファイル13の中間データに格納された素子、即ち近
接配置条件、近接配置指定、素子形状指定により指定さ
れた素子番号と比較する。そして、ネットリスト上の素
子番号が指定された素子番号、即ち中間データにない場
合、CPU2はその存在しない素子の特性を示すパラメ
ータをネットリストより読み出し、その素子番号と読み
出したパラメータとを素子形状情報としてファイル20
に格納する。
Next, in the element shape final determination processing 34 as the element shape final determination means, the netlist, the intermediate data, and the element correspondence designation stored in the file 17,
Based on the element automatic generation parameter stored in the file 18 and the resistance width stored in the file 19, the CPU 2
Finally determines the shape of the device. That is, the CPU 2 compares the element number of the element described in the net list of the file 11 with the element stored in the intermediate data of the file 13, that is, the element number designated by the close placement condition, the close placement designation, and the element shape designation. . Then, when the element number on the netlist is not in the designated element number, that is, in the intermediate data, the CPU 2 reads the parameter indicating the characteristic of the nonexistent element from the netlist, and the element number and the read parameter are used for the element shape. File 20 as information
To store.

【0043】ネットリスト上の素子番号が指定された素
子番号、即ち中間データにあってその形状が記載されて
いる場合、ファイル17に格納された素子対応指定に基
づいてCPU2はその素子番号と形状とにより素子番号
と使用個数及び使用するセル名を素子形状情報としてフ
ァイル20に格納する。例えば、図6に示す定義「S11
(×4), S20(×4), S30(×6): NPN:×2 」が該当する。
そして、CPU2は定義「NPN:×2 」に対応して図8に
示す2倍のサイズの基本形状を示すセル名の定義「NPN
(×2):NPN2 」を読み出す。そして、CPU2は定義「S
11(2),S20(2),S30(3):NPN:NPN2 」を素子形状情報とし
てファイル20に格納する。尚、定義のカッコ内の数字
は基本形状を使用する個数を示している。
When the element number on the net list is designated, that is, when the shape is described in the intermediate data, the CPU 2 determines the element number and the shape based on the element correspondence designation stored in the file 17. The element number, the number of cells used, and the cell name to be used are stored in the file 20 as element shape information. For example, the definition "S11
(× 4), S20 (× 4), S30 (× 6): NPN: × 2 ”.
Then, the CPU 2 corresponds to the definition “NPN: × 2” and defines the cell name definition “NPN:
(× 2): Read NPN2 ”. Then, the CPU 2 defines "S
11 (2), S20 (2), S30 (3): NPN: NPN2 "is stored in the file 20 as element shape information. The numbers in parentheses in the definition indicate the number of basic shapes used.

【0044】更に、ネットリスト上の素子番号が指定さ
れた素子番号、即ち中間データにあってその形状が記載
されていない場合、CPU2はその素子の特性を示すパ
ラメータに基づいて形状を決定する。このとき、当該す
る素子がMOSトランジスタ、BIPトランジスタ及び
容量の場合、CPU2はその定義に記載された素子全て
に対してその特性を示すパラメータの最大公約数を計算
し、その最大公約数となるサイズを演算する。
Further, when the element number on the net list is designated, that is, when the shape is not described in the intermediate data, the CPU 2 determines the shape based on the parameter indicating the characteristic of the element. At this time, when the corresponding element is a MOS transistor, a BIP transistor, and a capacitor, the CPU 2 calculates the greatest common divisor of the parameters showing the characteristics for all the elements described in the definition, and the size that becomes the greatest common divisor. Is calculated.

【0045】即ち、素子に対してそのサイズが例えば
「20」,「20」,「30」である場合、そのサイズの最大
公約数は「10」となる。そして、各素子をサイズ「10」
を基準とし、その基準を「2個」,「2個」,「3個」
使用して配置を行なえばよい。従って、CPU2はその
素子に対する個数をファイル20に素子形状情報として
その素子番号とともに格納する。このとき、最大公約数
が整数とならない場合、CPU2は定義された全ての素
子番号をエラー素子としてファイル21に格納する。
That is, when the size of the element is, for example, "20", "20", "30", the greatest common divisor of the size is "10". And each element is size "10"
The standard is "2 pieces", "2 pieces", "3 pieces"
It may be arranged by using them. Therefore, the CPU 2 stores the number of the element in the file 20 as the element shape information together with the element number. At this time, when the greatest common divisor is not an integer, the CPU 2 stores all defined element numbers in the file 21 as error elements.

【0046】例えばPチャネルMOSトランジスタの場
合、中間データの定義「S22(W=40),S21(W=60):PMOS: 」
はそのサイズが未定である。従って、CPU2はその素
子に対応する最大公約数を計算する。この定義の場合、
最大公約数は「W=20」となり、素子「S22 」はこの「W=
20」の基準となる素子を2個、素子「S21 」はこの「W=
20」の基準素子を3個使用してその形状が決定されるこ
とになる。そして、CPU2はこの基準となる「W=20」
に対応してファイル17に格納されたセル名を指定する
素子対応指定の定義「PMOS(W=20):PMOS 」を読み出す。
そして、セル名を追加した定義「S22(W=40),S21(W=60):
PMOS:PMOS20 」を素子形状情報としてファイル20に格
納する。従って、「S22 」、「S21 」に対してはセル名
「PMOS20」のサイズを基準としてその形状を決定する。
For example, in the case of a P-channel MOS transistor, the definition of the intermediate data is "S22 (W = 40), S21 (W = 60): PMOS:".
Has not been determined in size. Therefore, the CPU 2 calculates the greatest common divisor corresponding to the element. With this definition,
The greatest common divisor is "W = 20", and the element "S22" is
There are two reference elements for "20", and the element "S21" is this "W =
The shape will be determined using three 20 "reference elements. Then, the CPU 2 uses this standard “W = 20”
The element correspondence designation definition "PMOS (W = 20): PMOS" for designating the cell name stored in the file 17 is read out.
Then, the definition `` S22 (W = 40), S21 (W = 60) with the cell name added:
"PMOS: PMOS20" is stored in the file 20 as element shape information. Therefore, the shapes of "S22" and "S21" are determined based on the size of the cell name "PMOS20".

【0047】また、容量(コンデンサ)に対しては、そ
の値により形状を自動に生成することができる。そし
て、CPU2はトランジスタの場合と同様に容量の最大
公約数を計算し、その最大公約数となる形状を自動に生
成し、各容量の形状をその自動に生成した形状に基づい
て決定する。そして、その容量に使用する個数をその素
子番号とともに素子形状情報としてファイル20に格納
する。
Further, for the capacitance (capacitor), the shape can be automatically generated by the value thereof. Then, the CPU 2 calculates the greatest common denominator of the capacitance similarly to the case of the transistor, automatically generates the shape having the greatest common denominator, and determines the shape of each capacitor based on the automatically generated shape. Then, the number used for the capacitance is stored in the file 20 as the element shape information together with the element number.

【0048】一方、当該する素子が抵抗の場合、形成す
る抵抗の幅を指定することにより形状を自動に生成する
ことができる。この抵抗の幅は予め設定され、ファイル
19に格納されている。CPU2は基準となる抵抗の値
に対して他の抵抗がいくつ必要となるかを計算する。そ
して、CPU2は必要となる個数とその形状に基づいて
計算した全ての抵抗が占める面積を求め、その面積が最
も小さくなるように基準となる抵抗の形状と使用個数を
計算する。
On the other hand, when the corresponding element is a resistor, the shape can be automatically generated by designating the width of the resistor to be formed. The width of this resistance is preset and stored in the file 19. The CPU 2 calculates how many other resistors are needed with respect to the reference resistance value. Then, the CPU 2 obtains the area occupied by all the resistors calculated based on the required number and its shape, and calculates the reference resistor shape and the number of used resistors so that the area becomes the smallest.

【0049】即ち、10KΩと30KΩの抵抗がある場
合、10KΩの抵抗を基準とした場合、30KΩの抵抗
は10KΩの抵抗を3個直列に接続して得られるので、
その基準となる抵抗が4個必要となる。一方、30KΩ
の抵抗を基準とした場合、10KΩの抵抗は30KΩの
抵抗を3個並列に接続するとその値が得られるので、こ
の場合も必要となる抵抗の数は4個となる。この場合、
必要となる個数が同じなので、30KΩの抵抗による面
積と10KΩの抵抗による面積とを比較し、その面積が
小さくなる方の抵抗値を基準とする。
That is, when there are resistances of 10 KΩ and 30 KΩ, when the resistance of 10 KΩ is used as a reference, the resistance of 30 KΩ is obtained by connecting three 10 KΩ resistors in series.
Four resistors as the reference are required. On the other hand, 30KΩ
When the resistance of 10 KΩ is used as a reference, the value can be obtained by connecting three resistances of 30 KΩ in parallel. Therefore, in this case as well, the number of resistances required is four. in this case,
Since the required number is the same, the area due to the resistance of 30 KΩ and the area due to the resistance of 10 KΩ are compared, and the resistance value with the smaller area is used as the reference.

【0050】そして、CPU2は中間データに格納され
た抵抗の定義をファイル19の抵抗幅で自動生成するよ
うに定義し、その基準となる抵抗値とともに素子形状情
報としてファイル20に格納する。
Then, the CPU 2 defines the resistance definition stored in the intermediate data so as to be automatically generated by the resistance width of the file 19, and stores it in the file 20 as element shape information together with the reference resistance value.

【0051】この場合、中間データの定義「S41(3K),S4
2(1K),S43(100):R:1K 」は、ファイル19に格納された
抵抗幅「W=5 」とファイル17に格納された抵抗の自動
生成の定義「R:? 」とにより、定義「S41(3K),S42(1K),
S43(100):R:W=5:1K:? 」となる。CPU2は、この定義
を抵抗の素子形状情報としてファイル20に格納する。
In this case, the intermediate data definition "S41 (3K), S4
2 (1K), S43 (100): R: 1K "is defined by the resistance width" W = 5 "stored in the file 19 and the automatic generation definition" R :? "stored in the file 17. Definition `` S41 (3K), S42 (1K),
S43 (100): R: W = 5: 1K :? " The CPU 2 stores this definition in the file 20 as resistance element shape information.

【0052】そして、素子形状の最終決定処理34にお
いて、ファイル20のネットリストに記述された全ての
素子に対して素子形状の決定を終了すると、CPU2は
素子形状決定処理を終了する。
Then, in the element shape final determination processing 34, when the element shape determination is completed for all the elements described in the net list of the file 20, the CPU 2 terminates the element shape determination processing.

【0053】このように、本実施例では、予め設定され
たネットリストの素子番号により記述された複数種類の
素子に対して、同一形状素子群の見極め処理31におい
て、予め設定された近接配置条件に基づいて同一形状と
する素子がネットリスト上の素子番号に含まれるか否か
を判断する。当該する複数の素子が含まれる場合、これ
らの素子番号を1つのグループとし、各グループを中間
データとして記憶する。また、同一形状素子群の見極め
追加処理32において、予め設定された近接配置指定に
基づいて同一形状とする複数の素子の抽出を行なう。そ
して、抽出した複数の素子を1つのグループとしてそれ
ぞれの素子番号とその素子の特性を示すパラメータとを
中間データに格納するようにした。
As described above, in the present embodiment, in the identification processing 31 of the same-shaped element group, a plurality of elements of a plurality of types described by the element numbers of the preset netlist are set in advance in the close placement condition. Based on the above, it is determined whether or not the elements having the same shape are included in the element numbers on the netlist. When the plurality of elements are included, these element numbers are set as one group and each group is stored as intermediate data. Further, in the same-shape element group addition processing 32, a plurality of elements having the same shape are extracted on the basis of the preset proximity arrangement designation. Then, the plurality of extracted elements are set as one group, and each element number and the parameter indicating the characteristic of the element are stored in the intermediate data.

【0054】そして、素子形状の決定処理33により、
CPU2は予め素子番号に対してそし素子を構成するた
めに指定された基本形状が定義された素子形状指定を入
力する。CPU2は、その素子形状指定にある素子番号
が中間データに格納された素子番号にあるか否かを判断
する。そして、素子番号を含んだグループがある場合、
CPU2はそのグループ内の各素子の特性を示すパラメ
ータを素子形状指定に定義された基本形状の特性を示す
パラメータで割る除算を行なう。その除算の結果、割り
切れた場合にはその除算の商を各素子を構成する基本形
状の個数とし、その素子の形状を決定するようにした。
Then, by the element shape determination processing 33,
The CPU 2 inputs the element shape designation in which the basic shape designated in advance for configuring the element is defined for the element number. The CPU 2 determines whether the element number specified in the element shape designation is the element number stored in the intermediate data. And if there is a group containing the element number,
The CPU 2 divides the parameter indicating the characteristic of each element in the group by the parameter indicating the characteristic of the basic shape defined in the element shape designation. When the result of the division is that it is divisible, the quotient of the division is taken as the number of basic shapes forming each element, and the shape of the element is determined.

【0055】また、素子形状の決定処理33において、
除算の結果が割り切れない場合であってその素子が抵抗
の場合には割った余りを予め設定された所定の数で割る
除算を行なう。その除算は、除算の結果の商と基本形状
のパラメータとでその素子の抵抗を形成した場合の抵抗
値が素子の特性を示すパラメータである抵抗値に対して
予め設定された誤差範囲の抵抗値となるまで除算され
る。そして、誤差範囲となるまでの商をそれぞれの素子
を構成する基本形状の個数とし、その素子の形状を決定
するようにした。
In the element shape determination process 33,
If the result of the division is not divisible and the element is a resistor, the remainder of division is divided by a predetermined number set in advance. The division is a resistance value within a preset error range with respect to the resistance value, which is a parameter indicating the characteristic of the element when the resistance value of the element is formed by the quotient of the result of the division and the basic shape parameter. Is divided until. Then, the quotient until reaching the error range is set as the number of basic shapes forming each element, and the shape of the element is determined.

【0056】更に、素子形状の最終決定処理34におい
て、中間データに記憶された各グループないの素子番号
が素子形状指定に指定された素子番号にない場合であっ
てその素子がトランジスタ又はコンデンサの場合には同
一形状とする各素子の特性を示すパラメータの最大公約
数を求め、その最大公約数の素子を基準とする。そし
て、各素子の特性に対して基準となる素子の個数を求
め、その基準となる素子とその個数とにより各素子の形
状を決定する。一方、素子が抵抗の場合には、各抵抗を
それぞれ基準サイズとし、その基準サイズにより各抵抗
の形状を自動生成した場合の総面積を求める。そして、
その総面積が最も小さくなるときの基準サイズで各素子
を形成する個数を計算し、基準サイズと各素子を構成す
る個数とにより素子の形状を決定するようにした。
Further, in the element shape final decision processing 34, when the element number of each group stored in the intermediate data is not in the element number specified in the element shape designation and the element is a transistor or a capacitor. , The greatest common divisor of the parameters showing the characteristics of each element having the same shape is obtained, and the element having the greatest common divisor is used as a reference. Then, the number of reference elements is obtained for the characteristics of each element, and the shape of each element is determined based on the reference elements and the number thereof. On the other hand, when the element is a resistor, each resistor is used as a reference size, and the total area when the shape of each resistor is automatically generated based on the reference size is obtained. And
The number of elements to be formed is calculated based on the reference size when the total area is the smallest, and the shape of the element is determined by the reference size and the number of elements forming each element.

【0057】その結果、ファイル11のネットリストに
記載されたマクロ内の素子の形状を自動に決定すること
ができ、この決定した素子の形状を用いて素子のレイア
ウトを自動に行うことができる。また、素子の近接配置
条件と素子配置条件とに基づいて素子の配置を行うの
で、アナログの制約を満足した素子配置を行うことがで
きる。
As a result, the shape of the element in the macro described in the netlist of the file 11 can be automatically determined, and the element layout can be automatically performed using this determined element shape. Further, since the elements are arranged based on the close arrangement condition and the element arrangement condition of the elements, it is possible to perform the element arrangement satisfying the analog constraint.

【0058】尚、本発明は前記実施例の他、以下の態様
で実施するようにしてもよい。 (1)上記実施例では、ファイル15に格納された近接
配置指定に基づいて同一形状素子群の見極め追加処理3
2において第2のグループ合成処理を行うようにした
が、近接配置指定をせずに同一形状素子群の見極め追加
処理32の処理をなくして実施するようにしてもよい。
The present invention may be carried out in the following modes other than the above embodiment. (1) In the above-described embodiment, the identification addition processing 3 of the same-shaped element group is performed based on the close placement designation stored in the file 15.
Although the second group synthesizing process is performed in step 2, it is also possible to perform the second group synthesizing process without identifying the adjacent placement specification and omitting the process 32 of identifying and adding the same-shaped element group.

【0059】(2)上記実施例の回路設計を行うCAD
装置に組み込んで実施してもよい。図2のレイアウト装
置の構成にグラフィック・ディスプレイを追加すること
により、CAD装置の構成と同様になりCAD装置への
組み込みは容易となる。
(2) CAD for designing the circuit of the above embodiment
It may be implemented by being incorporated in the device. By adding a graphic display to the configuration of the layout device shown in FIG. 2, the configuration becomes similar to that of the CAD device and the incorporation into the CAD device becomes easy.

【0060】また、素子配置を行なう装置に組み込んで
実施してもよい。ファイル20の素子形状情報のフォー
マットをその素子配置を行なう装置に入力するフォーマ
ットと同一にすれば、効率よく素子配置を行なうことが
できる。
Further, it may be carried out by incorporating it in a device for arranging elements. If the format of the element shape information of the file 20 is the same as the format input to the device for arranging the element, the element can be efficiently arranged.

【0061】更に、形状決定装置1に磁気ディスク装置
4、磁気テープ装置7の他、種々の記憶装置、例えば光
磁気ディスク装置、CD−ROM装置等を接続して、プ
ログラムデータや各ファイル11〜21を記憶するよう
にしてもよい。
Further, in addition to the magnetic disk device 4 and the magnetic tape device 7, various storage devices such as a magneto-optical disk device and a CD-ROM device are connected to the shape determining device 1 so as to connect the program data and the files 11 to 11. 21 may be stored.

【0062】(3)上記実施例において、各ファイル1
1〜19をメモリ3に読み込むことなく実施する。ま
た、ファイル20,21をメモリ3に設定することなく
直接磁気ディスク装置4等に書き込むようにしてもよ
い。この構成により、メモリ3を小さくすることができ
る。
(3) In the above embodiment, each file 1
1 to 19 are carried out without being read into the memory 3. Further, the files 20 and 21 may be directly written in the magnetic disk device 4 or the like without being set in the memory 3. With this configuration, the memory 3 can be downsized.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
アナログの制約を満足した素子の形状を自動的に決定す
ることができる優れた効果がある。
As described in detail above, according to the present invention,
There is an excellent effect that the shape of the element that satisfies the analog constraint can be automatically determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の形状決定装置の処理フロー
図である。
FIG. 1 is a process flow diagram of a shape determination device according to an embodiment of the present invention.

【図2】一実施例の形状決定装置の構成を示す模式図で
ある。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a shape determining device according to an embodiment.

【図3】近接配置の回路条件の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a circuit condition of a close arrangement.

【図4】近接配置指定の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of proximity arrangement designation.

【図5】素子形状指定の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of element shape designation.

【図6】中間データの一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of intermediate data.

【図7】許容誤差の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of an allowable error.

【図8】素子対応指定の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of element correspondence designation.

【図9】素子自動生成パラメータの一例を示す図であ
る。
FIG. 9 is a diagram showing an example of element automatic generation parameters.

【図10】素子形状情報の一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an example of element shape information.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 CPU 11 ファイル(ネットリスト) 20 ファイル(素子形状情報) 31 同一形状素子群の見極め手段 33 素子形状の決定手段 34 素子形状の最終決定手段 2 CPU 11 file (netlist) 20 file (element shape information) 31 identification means for elements of the same shape 33 element shape determining means 34 element shape final determining means

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 予め設定されたネットリストに素子番号
により記述された複数種類の素子の形状を決定するアナ
ログLSIにおける素子の形状決定方法であって、 予め同一形状とするために設定された近接配置条件を入
力し、該近接配置条件に該当する複数の素子がネットリ
スト上にあるかどうかを判断し、複数の素子がある場合
にはこれらの素子番号を1つのグループとし各グループ
を中間データとして記憶し、 予め素子番号に対してその素子を構成するために指定さ
れた基本形状が定義された素子形状指定を入力し、 該素子形状指定にある素子番号が前記中間データに格納
された各グループ内の素子番号にあるか否かを判断し、 素子番号がある場合にはグループ内の各素子の特性を示
すパラメータを基本形状の特性を示すパラメータでそれ
ぞれを割る除算を行い、 その除算の結果、商が整数の場合にはその商を各素子を
構成する基本形状の個数としてその素子の形状を決定す
るようにしたアナログLSIにおける素子の形状決定方
法。
1. A method for determining the shape of an element in an analog LSI for determining the shapes of a plurality of types of elements described by element numbers in a preset netlist, the proximity being set in advance so as to have the same shape. By inputting the placement condition, it is judged whether or not there are a plurality of elements corresponding to the close placement condition on the netlist. If there are a plurality of elements, these element numbers are set as one group and each group is set as intermediate data. The element shape designation in which the basic shape designated to configure the element is defined in advance for the element number is input, and the element number in the element shape designation is stored in each of the intermediate data. If there is an element number in the group, it is judged whether or not there is an element number, and if there is an element number, the parameter showing the characteristic of each element in the group is The shape of an element in an analog LSI that divides each and determines the shape of the element by taking the quotient as the number of basic shapes that make up each element when the quotient is an integer as a result of the division. How to decide.
【請求項2】 請求項1に記載のアナログLSIにおけ
る素子の形状決定方法において、 前記除算の結果、割り切れない場合であって該素子が抵
抗の場合には、割った結果の余りを予め設定された所定
の数で割る除算を行い、 除算の結果の商と基本形状の抵抗値とで抵抗を形成した
場合の抵抗値が素子の特性を示すパラメータである抵抗
値に対して予め設定された誤差範囲の抵抗値となるまで
除算を行い、 その誤差範囲の抵抗値となる除算の結果の商を各素子を
構成する基本形状の個数としてその素子の形状を決定す
るようにしたアナログLSIにおける素子の形状決定方
法。
2. The method for determining the shape of an element in an analog LSI according to claim 1, wherein when the result of the division is not divisible and the element is a resistor, the remainder of the result of division is set in advance. When the resistance is formed by dividing the quotient of the division result and the resistance value of the basic shape, the resistance value, which is a parameter indicating the characteristics of the element, is a preset error Divide until the resistance value of the range is reached, and use the quotient of the result of the division that becomes the resistance value of the error range as the number of basic shapes forming each element to determine the shape of that element. Shape determination method.
【請求項3】 請求項1又は2に記載のアナログLSI
における素子の形状決定方法において、 前記中間データとして記憶された各グループ内の素子番
号が素子形状指定に指定された素子番号にない場合であ
って、 該素子番号の素子がトランジスタ又は容量の場合は、同
一形状とする各素子の特性を示すパラメータの最大公約
数を求め、その最大公約数の素子を基準とし、 各素子の特性に対応して使用する基準となる素子の個数
を求め、基準となる素子とその基準となる素子の個数と
により該素子の形状を決定し、 該素子が抵抗の場合は、そのうちの1つの抵抗値のサイ
ズを基準サイズとし、その基準サイズにより各抵抗を自
動生成した場合の総面積を計算し、 その総面積が最も小さくなるときの基準サイズで各素子
を形成する個数を計算し、 基準サイズと各素子を形成する個数とにより該素子の形
状を決定するようにしたアナログLSIにおける素子の
形状決定方法。
3. The analog LSI according to claim 1 or 2.
In the method of determining the element shape according to the above, when the element number in each group stored as the intermediate data is not in the element number specified in the element shape designation, and the element with the element number is a transistor or a capacitor, , Find the greatest common divisor of the parameters that show the characteristics of each element with the same shape, find the number of the elements to be used corresponding to the characteristics of each element as the reference, and The shape of the element is determined by the element and the number of elements serving as the reference. When the element is a resistor, the size of one of the resistance values is used as the reference size, and each resistance is automatically generated based on the reference size. In this case, the total area is calculated, and the number of elements to be formed with the reference size when the total area is the smallest is calculated. Shape determination method for the device in an analog LSI which is adapted to determine the shape.
【請求項4】 予め設定されたネットリストに素子番号
により記述された複数種類の素子の形状を決定するアナ
ログLSIにおける構成する素子の形状決定装置であっ
て、 予め同一形状とするために設定された近接配置条件を入
力し、該近接配置条件に該当する複数の素子がネットリ
スト上にあるかどうかを判断し、複数の素子がある場合
にはこれらの素子番号を1つのグループとし各グループ
を中間データとして記憶する同一形状素子群の見極め手
段(31)と、 予め素子番号に対してその素子を構成するために指定さ
れた基本形状が定義された素子形状指定を入力し、該素
子形状指定にある素子番号が前記中間データに格納され
た各グループ内の素子番号にあるか否かを判断し、素子
番号がある場合にはグループ内の各素子の特性を示すパ
ラメータを基本形状の特性を示すパラメータで割る除算
を行い、その除算の結果、商が整数の場合にはその商を
各素子を構成する基本形状の個数としてその素子の形状
を決定する素子形状の決定手段(33)とを備えたアナ
ログLSIにおける素子の形状決定装置。
4. An apparatus for determining the shape of a constituent element in an analog LSI for determining the shape of a plurality of types of elements described by element numbers in a preset netlist, which is set in advance to have the same shape. The close placement condition is input, and it is determined whether a plurality of elements corresponding to the close placement condition are on the netlist. If there are a plurality of elements, these element numbers are set as one group and each group is The identification means (31) of the same shape element group to be stored as intermediate data and the element shape designation in which the basic shape designated to configure the element is defined in advance for the element number are input, and the element shape designation is performed. It is determined whether the element number in is in the element number in each group stored in the intermediate data, and if there is an element number, the characteristics of each element in the group are indicated. The parameter is divided by the parameter that shows the characteristics of the basic shape, and if the quotient is an integer as a result of the division, the quotient is defined as the number of basic shapes that make up each element An element shape determining device in an analog LSI, comprising: determining means (33).
【請求項5】 請求項4に記載のアナログLSIにおけ
る素子の形状決定装置において、 前記素子形状の決定手段(33)は、 前記除算の結果が割り切れない場合であって該素子が抵
抗の場合には、割った結果の余りを予め設定された所定
の数で割る除算を行い、除算の結果の商と基本形状の抵
抗値とで抵抗を形成した場合の抵抗値が素子の特性を示
すパラメータである抵抗値に対して予め設定された誤差
範囲の抵抗値となるまで除算を行い、その誤差範囲の抵
抗値となる除算の結果の商を各素子を構成する基本形状
の個数としてその素子の形状を決定するようにしたアナ
ログLSIにおける素子の形状決定装置。
5. The device for determining the element shape in an analog LSI according to claim 4, wherein the element shape determining means (33) is used when the result of the division is indivisible and the element is a resistor. Is a parameter obtained by dividing the remainder of the result of division by a predetermined number set in advance, and the resistance value when the resistance is formed by the quotient of the result of the division and the resistance value of the basic shape is a parameter indicating the characteristics of the element. The division is performed until the resistance value reaches a resistance value within a preset error range for a certain resistance value, and the quotient of the results of the division that results in the resistance value within the error range is taken as the number of basic shapes forming each element A device for determining the shape of an element in an analog LSI for determining
【請求項6】 請求項4又は5に記載のアナログLSI
における素子の形状決定装置において、 前記中間データとして記憶された各グループ内の素子番
号が素子形状指定に指定された素子番号に該当しない場
合であって、 該素子番号の素子がトランジスタ又は容量の場合は、同
一形状とする各素子の特性を示すパラメータの最大公約
数を求め、その最大公約数の素子を基準とし、各素子の
特性に対応して使用する基準となる素子の個数を求め、
基準となる素子とその基準となる素子の個数とにより該
素子の形状を決定し、 該素子が抵抗の場合は、そのうちの1つの抵抗値のサイ
ズを基準サイズとし、その基準サイズにより各抵抗を自
動生成した場合の総面積を計算し、その総面積が最も小
さくなるときの基準サイズで各素子を形成する個数を計
算し、基準サイズと各素子を形成する個数とにより該素
子の形状を決定する素子形状の最終決定手段(34)を
備えたアナログLSIにおける素子の形状決定装置。
6. The analog LSI according to claim 4 or 5.
In the device shape determining device in, when the element number in each group stored as the intermediate data does not correspond to the element number specified in the element shape designation, and the element with the element number is a transistor or a capacitor. Is the greatest common divisor of the parameters showing the characteristics of each element having the same shape, with the element having the greatest common divisor being the reference, the number of reference elements to be used corresponding to the characteristics of each element,
The shape of the element is determined by the reference element and the number of the reference elements. When the element is a resistor, the size of one of the resistance values is set as the reference size, and each resistance is determined by the reference size. Calculate the total area when automatically generated, calculate the number of each element to be formed with the reference size when the total area is the smallest, and determine the shape of the element by the reference size and the number of forming each element A device for determining the shape of an element in an analog LSI provided with a final determining means (34) for determining the element shape.
JP6047480A 1994-03-17 1994-03-17 Method and device for deciding form of element in analog lsi Withdrawn JPH07262233A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6047480A JPH07262233A (en) 1994-03-17 1994-03-17 Method and device for deciding form of element in analog lsi

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6047480A JPH07262233A (en) 1994-03-17 1994-03-17 Method and device for deciding form of element in analog lsi

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07262233A true JPH07262233A (en) 1995-10-13

Family

ID=12776304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6047480A Withdrawn JPH07262233A (en) 1994-03-17 1994-03-17 Method and device for deciding form of element in analog lsi

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07262233A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003085224A (en) * 2001-09-14 2003-03-20 Mitsubishi Electric Corp Device and method for designing analog cell layout
US6727747B2 (en) 2001-01-29 2004-04-27 Sanyo Electric Co., Ltd. Method for reusing resource for designing operational amplifier, layout generating apparatus, and layout generating program
US8769466B2 (en) 2011-03-30 2014-07-01 Fujitsu Limited Implementation design support method and apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6727747B2 (en) 2001-01-29 2004-04-27 Sanyo Electric Co., Ltd. Method for reusing resource for designing operational amplifier, layout generating apparatus, and layout generating program
JP2003085224A (en) * 2001-09-14 2003-03-20 Mitsubishi Electric Corp Device and method for designing analog cell layout
US8769466B2 (en) 2011-03-30 2014-07-01 Fujitsu Limited Implementation design support method and apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8117576B2 (en) Method for using an equivalence checker to reduce verification effort in a system having analog blocks
JP5491333B2 (en) Modeling and simulating device mismatch for integrated circuit design
JP2564344B2 (en) Design method of semiconductor integrated circuit
US7016794B2 (en) Floor plan development electromigration and voltage drop analysis tool
US8799849B2 (en) System and method for design, procurement and manufacturing collaboration
JP2954894B2 (en) Integrated circuit design method, database device for integrated circuit design, and integrated circuit design support device
US6381563B1 (en) System and method for simulating circuits using inline subcircuits
Hutton et al. Characterization and parameterized generation of synthetic combinational benchmark circuits
JPH10162040A (en) Manufacture of large-scale integrated circuit device, and large-scale integrated circuit device
JP2001175702A (en) Method for designing circuit
JPH07262233A (en) Method and device for deciding form of element in analog lsi
JP2002366597A (en) System and program of fpga design
JP2004013821A (en) Semiconductor integrated circuit designing method and device
JPH07287051A (en) Input data creation device for logic simulation
JP2967174B2 (en) Design equipment
CN117347839B (en) Chip test circuit and chip
JP2004062346A (en) Apparatus and method for automatically determining device size
JPH05225285A (en) Analog element design device
JPH11175580A (en) Integrated circuit designing device
JP2830563B2 (en) Circuit diagram creation device
JPH07244682A (en) Method and device for layout of analog lsi
JP2003006267A (en) Apparatus of net list generation for simulation, simulator and simulating method
JPH09259170A (en) Waveform information library preparing device for integrated circuit cell
JPH03188568A (en) Verification system for circuit on cad/cam
JPH0676014A (en) Circuit simulation device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010605