JPH07258891A - Method for sealing pinhole on gold-plated material - Google Patents

Method for sealing pinhole on gold-plated material

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JPH07258891A
JPH07258891A JP5385494A JP5385494A JPH07258891A JP H07258891 A JPH07258891 A JP H07258891A JP 5385494 A JP5385494 A JP 5385494A JP 5385494 A JP5385494 A JP 5385494A JP H07258891 A JPH07258891 A JP H07258891A
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JP
Japan
Prior art keywords
gold
base
plating layer
pinhole
sealing treatment
Prior art date
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Application number
JP5385494A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Fukamachi
一彦 深町
Hiroyuki Hatanaka
宏之 畑中
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Nikko Kinzoku KK
Original Assignee
Nikko Kinzoku KK
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Publication date
Application filed by Nikko Kinzoku KK filed Critical Nikko Kinzoku KK
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Publication of JPH07258891A publication Critical patent/JPH07258891A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To completely seal the pinhole in the gold plating layer by forming a gold plating layer on the surface of a substrate metal of a connector with a Ni-base substrate plating layer in between, then electrolyzing the gold plating layer as an anode in a processing soln. of specified composition having a base oil-contg. layer on the surface and then pulling up the electrolysis product. CONSTITUTION:A substrate plating layer of Ni-base metal is formed on the surface of a connector base body of copper alloy, etc., and a thin plating layer of gold or gold alloy is formed thereon. Since the gold plating layer contains many pinholes and the corrosion resistance is poor, the layer is dipped in a processing soln. contg. 10-1000ppm cyclic nitrogen compd. as an inhibitor and having an org. solvent soln. contg. 0.1-5% base-oil component such as paraffin wax on the surface and electrolyzed as an anode at 0.1-5V to oxidize the Ni- base substrate metal at the bottom of the pinhole, and the Ni reacts with the inhibitor to form a complex compd. which fills the pinhole. When the sealed material is pulled up from the processing soln., the base-oil component is adsorbed on the entire surface, and the pinhole is sealed and the lubricity of the gold-plate surface is improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は銅合金、鉄、ステンレス
鋼、高ニッケル合金等の金属材料を基材とし、これにニ
ッケルまたはニッケル含有合金めっきを付したものを下
地として具備する金または金合金めっき材の封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子に関する。特に潤
滑性に優れ、金及び金合金めっき厚が薄くても高耐食
性、電気的接触性能の長期安定性を有する封孔処理液、
封孔処理方法及び封孔処理された接触子に関するもので
ある。
The present invention relates to gold or gold having a base material made of a metal material such as copper alloy, iron, stainless steel, high nickel alloy, etc. and having nickel or nickel-containing alloy plating applied as a base. The present invention relates to a sealing treatment method for an alloy plated material and a connector contact subjected to the sealing treatment. Sealing treatment liquid with excellent lubricity, high corrosion resistance even with thin gold and gold alloy plating, and long-term stability of electrical contact performance,
The present invention relates to a sealing method and a contact that has been sealed.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器用接続部品としてコネクタは最
も代表的なものであり、多種多様のコネクタが実用化さ
れている。電算機や通信用機器等高度の信頼性が要求さ
れる、いわゆる産業用電子機器に使用されるコネクタ
は、りん青銅、ベリリウム銅等のバネ用銅合金を母材と
し、金めっきをしたものが一般に使用されている。これ
ら高度の信頼性が要求されるコネクタにおいては、高耐
食性、電気的接触性能の長期安定性を有する他に潤滑性
が高いこと、すなわち、コネクタを挿抜する際の挿抜力
が低いことが要求されている。ところで、金は高価であ
るため、コネクタ製造コストを下げる目的で様々な方法
が採られている。その代表的な方法が金めっきの厚みを
薄くする方法であるが、金めっき厚を薄くするととも
に、皮膜のピンホールが指数関数的に増え、耐食性が著
しく低下するという問題を抱えている。この問題を解決
する方法のひとつに封孔処理がある。すなわち、各種の
無機性あるいは有機性の薬品で金めっき表面を処理し、
ピンホールを塞ぎ耐食性を向上させようとするものであ
る。封孔処理には有機系と水系がある。有機系は潤滑性
向上に有効であるが、耐食性は水系よりも劣るものであ
る。また、有機系では一般にハロゲン系有機溶剤が溶媒
に使用されることから環境汚染の問題が生じる。水系は
クロメート法が代表的なものであり、効果があるが接触
抵抗が上昇するという場合があり、また環境汚染の問題
がある。さらに水系ではパラフィン等の従来の有機系封
孔処理液に添加されていた潤滑成分の溶解度が低いた
め、水系で封孔処理した金めっき材は潤滑性が低く、コ
ネクタの挿抜性を損なうものであった。
2. Description of the Related Art A connector is the most typical one as a connecting part for electronic equipment, and various types of connectors have been put to practical use. The connectors used in so-called industrial electronic devices that require a high degree of reliability such as computers and communication devices are those that are plated with a spring copper alloy such as phosphor bronze or beryllium copper as a base material and are gold plated. It is commonly used. These connectors that require a high degree of reliability are required to have high corrosion resistance, long-term stability of electrical contact performance, and high lubricity, that is, low insertion / removal force when inserting / removing the connector. ing. By the way, since gold is expensive, various methods have been adopted for the purpose of reducing the connector manufacturing cost. A typical method therefor is to reduce the thickness of gold plating. However, there is a problem that as the thickness of gold plating is reduced, the number of pinholes in the coating increases exponentially and corrosion resistance is significantly reduced. One of the methods for solving this problem is sealing treatment. That is, the gold-plated surface is treated with various inorganic or organic chemicals,
The purpose is to close the pinhole and improve the corrosion resistance. There are organic and water-based sealing treatments. The organic type is effective in improving lubricity, but the corrosion resistance is inferior to that of the water type. Further, in the organic system, a halogen-based organic solvent is generally used as the solvent, which causes a problem of environmental pollution. The chromate method is a typical water-based method, which is effective but may cause an increase in contact resistance, and has a problem of environmental pollution. In addition, since the solubility of the lubricating components added to conventional organic sealing treatment liquids such as paraffin in water systems is low, the gold-plated material that has been sealed in water systems has low lubricity and impairs the mating and unmating properties of the connector. there were.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】そこで、金めっき材の
耐食性、電気的接触性能の長期安定性に加えて、潤滑性
をも同時に向上することのできる封孔処理液及び封孔処
理方法が必要となっている。本発明はこのような要求を
満たすことのできる封孔処理液及びそれを用いる封孔処
理方法を提供することを目的とし、あわせてそれによっ
て処理されたコネクタを提供することを目的としたもの
である。
Therefore, there is a need for a sealing treatment liquid and a sealing treatment method capable of simultaneously improving the lubricity as well as the corrosion resistance and long-term stability of the electrical contact performance of the gold plated material. Has become. An object of the present invention is to provide a sealing treatment liquid and a sealing treatment method using the same which can satisfy such requirements, and also to provide a connector treated by the same. is there.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】かかる状況に鑑み、本発
明者等は鋭意研究を行った結果、以下に示す封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子を発明するに至っ
た。すなわち、本発明は(1)基材金属にニッケルまた
はニッケルを含有する合金めっき等を下地として具備す
る金または金合金めっき材の封孔処理方法において、イ
ンヒビターとしてニッケルまたは基材金属とのキレート
形成性環状窒素化合物の1種又は2種以上を合計で10
〜1000ppm含有する水溶液上に、基油成分として
パラフィンワックス、ペトロラタムの1種又は2種以上
を0.1〜5.0wt%含有する有機溶剤溶液を浮かべ
た封孔処理液中で該めっき材を陽極として直流電解する
にあたり、極間電圧Eが0.1〜5.0Vの範囲で実施
する金または金合金めっき材の封孔処理方法、(2)上
記方法で封孔処理されたコネクタ接触子である。また、
本発明の封孔処理方法は、これを換言すれば、封孔処理
されたコネクター接触子などの金めっき材の製造方法で
もある。
In view of the above situation, the inventors of the present invention have made earnest studies and, as a result, have invented a sealing method and a sealing-processed connector contact shown below. That is, the present invention relates to (1) a method for sealing a gold or gold alloy plated material having nickel or an alloy plating containing nickel as a base material on a base metal, and forming a chelate with nickel or a base metal as an inhibitor. The total amount of one or more of the cyclic nitrogen compounds is 10
A plating solution is prepared by floating an organic solvent solution containing 0.1 to 5.0 wt% of paraffin wax or petrolatum as a base oil component on an aqueous solution containing 1000 ppm to 1000 ppm. A method for sealing a gold or gold alloy plated material, which is carried out in the range of 0.1 to 5.0 V between electrodes E for direct current electrolysis as an anode, and (2) a connector contact sealed by the above method. Is. Also,
In other words, the sealing treatment method of the present invention is also a method for producing a gold-plated material such as a connector contact having a sealing treatment.

【0005】本発明は、金めっき材の防錆効果と潤滑効
果を同時にもたせる封孔処理方法である。被処理材の電
極電位を下地めっきであるニッケルの酸化領域に保持し
て直流電解することにより、金めっきのピンホール内部
の下地金属であるニッケルを酸化させ、ニッケルとイン
ヒビターとを反応させ、錯化合物をピンホールに充填さ
せることにより防錆効果をもたせ、さらに被処理材を封
孔処理液から引き上げる際に、インヒビター水溶液上に
浮かべてある基油成分を含有する有機溶剤溶液中を通過
することになり、この際に基油成分を金めっき表面に吸
着させ潤滑効果をもたせることによりなる。すなわち、
本発明は、従来の有機系封孔処理と水系封孔処理の両方
の効果をもたせることができる方法である。直流電解す
るにあたって、陽極である被処理材と対極との極間電圧
Eを0.1〜5.0Vとしたのは、0.1V未満の電圧
では防錆処理効果が著しく低くなるためである。また、
5.0Vを越えると防錆皮膜が厚くなり、接触抵抗が高
くなるためである。本発明においてインヒビターとして
使用する、銅などの基材金属又はニッケルとキレート化
合物を形成することができる環状窒素化合物としては、
例えば下記式(1)で表わされるベンゾトリアゾール系
化合物、下記式(2)で表わされるインダゾール系化合
物、下記式(3)で表わされるベンズイミダゾール系化
合物、下記式(4)で表わされるインドール系化合物、
下記式(5)で表わされる1,3,5−トリアジンチオ
ール系化合物、下記式(6)で表わされるメルカプトベ
ンゾチアゾール系化合物等が有効である。
The present invention is a sealing treatment method for simultaneously providing a rust preventive effect and a lubricating effect of a gold plated material. By holding the electrode potential of the material to be treated in the oxidized area of nickel which is the base plating and subjecting it to direct current electrolysis, the nickel that is the base metal inside the pinhole of the gold plating is oxidized and the nickel reacts with the inhibitor to form a complex. It has a rust preventive effect by filling the compound in the pinhole, and when pulling the material to be treated from the sealing treatment liquid, it must pass through the organic solvent solution containing the base oil component floating on the inhibitor aqueous solution. At this time, the base oil component is adsorbed on the surface of the gold plating to have a lubricating effect. That is,
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is a method capable of exerting the effects of both the conventional organic sealing treatment and the aqueous sealing treatment. In the DC electrolysis, the inter-electrode voltage E between the material to be treated as the anode and the counter electrode is set to 0.1 to 5.0 V because the rustproofing effect is remarkably reduced at a voltage of less than 0.1 V. . Also,
This is because if the voltage exceeds 5.0 V, the rust preventive film becomes thick and the contact resistance increases. Examples of the cyclic nitrogen compound which can be used as an inhibitor in the present invention to form a chelate compound with a base metal such as copper or nickel:
For example, a benzotriazole compound represented by the following formula (1), an indazole compound represented by the following formula (2), a benzimidazole compound represented by the following formula (3), and an indole compound represented by the following formula (4). ,
A 1,3,5-triazinethiol compound represented by the following formula (5) and a mercaptobenzothiazole compound represented by the following formula (6) are effective.

【0006】[0006]

【化1】 [Chemical 1]

【0007】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アルキル、
置換アルキルを表わす)
(In the formula, R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents alkali metal, hydrogen, alkyl,
Represents a substituted alkyl)

【0008】[0008]

【化2】 [Chemical 2]

【0009】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(In the formula, R 1 represents hydrogen, alkyl or substituted alkyl, and R 2 represents alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl or substituted alkyl)

【0010】[0010]

【化3】 [Chemical 3]

【0011】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl or substituted alkyl, and R 2 represents alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl or substituted alkyl)

【0012】[0012]

【化4】 [Chemical 4]

【0013】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はカルボキシル基、アルカリ金属、
水素、アルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl or substituted alkyl, R 2 represents a carboxyl group, an alkali metal,
Represents hydrogen, alkyl, substituted alkyl)

【0014】[0014]

【化5】 [Chemical 5]

【0015】(式中、R1は−SH、またはアルキル基
又はアリール基で置換されたアミノ基を表わし、M1
2は水素、アルカリ金属を表わす。)
(Wherein R 1 represents —SH, or an amino group substituted with an alkyl group or an aryl group, and M 1 ,
M 2 represents hydrogen or an alkali metal. )

【0016】[0016]

【化6】 [Chemical 6]

【0017】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キル、ハロゲンを表わし、R2はアルカリ金属、水素、
アルキル、置換アルキル、置換アミノ基を表わす) 前記式(1)で表わされるベンゾトリアゾール系化合物
におけるR1またはR2で示されるアルキルとしては例え
ば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状または分
枝状のアルキルが用いられる。その置換基としては例え
ばカルボキシル基、そのアルカリ金属塩が好ましい。R
2がアルカリ金属を示す場合は、ナトリウム、カリウ
ム、リチウムが好ましい。特に好ましい具体例を挙げる
と例えば
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl, substituted alkyl or halogen, R 2 represents an alkali metal, hydrogen,
Alkyl, substituted alkyl, and substituted amino group are represented) The alkyl represented by R 1 or R 2 in the benzotriazole-based compound represented by the formula (1) is, for example, a straight chain having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. A straight or branched alkyl is used. The substituent is preferably a carboxyl group or an alkali metal salt thereof. R
When 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Particularly preferable specific examples are, for example,

【0018】[0018]

【化7】 [Chemical 7]

【0019】などがある。There are, for example,

【0020】前記式(2)で表わされるインダゾール系
化合物におけるR1またはR2で示されるアルキルとして
は、例えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状
または分枝状のアルキルが用いられる。その置換基とし
ては、例えばフェニル、カルボキシル基、そのアルカリ
金属塩などが好ましい。R2がアシル基を示す場合、好
ましくはアセチル基、ベンゾイル基である。またR2
アルカリ金属を示す場合はナトリウム、カリウム、リチ
ウムが好ましい。インダゾール系化合物の特に好ましい
具体例を挙げれば、例えば
The alkyl represented by R 1 or R 2 in the indazole compound represented by the above formula (2) is, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Used. As the substituent, for example, phenyl, carboxyl group, alkali metal salt thereof and the like are preferable. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group or a benzoyl group. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferable. Specific examples of particularly preferable indazole-based compounds include, for example,

【0021】[0021]

【化8】 [Chemical 8]

【0022】などがある。There are, for example,

【0023】前記式(3)で表わされるベンズイミダゾ
ール系化合物におけるR1,R2で示されるアルキルとし
ては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖
状または分枝状のアルキルが用いられる。その置換基と
しては、カルボキシル基、そのアルカリ金属塩などが好
ましい。R2がアシル基を示す場合、好ましくはアセチ
ル基、ベンゾイル基などである。R2がアルカリ金属を
示す場合はナトリウム、カリウム、リチウムが好まし
い。ベンズイミダゾール系化合物の特に好ましい具体例
を挙げれば、例えば
The alkyl represented by R 1 and R 2 in the benzimidazole compound represented by the above formula (3) is, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Is used. The substituent is preferably a carboxyl group or an alkali metal salt thereof. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group, a benzoyl group or the like. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferable. Specific examples of particularly preferable benzimidazole compounds include, for example,

【0024】[0024]

【化9】 [Chemical 9]

【0025】などがある。There are, for example,

【0026】前記式(4)で表わされるインドール系化
合物におけるR1,R2で示されるアルキルとしては、例
えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状または
分枝状のアルキルが用いられる。その置換基としては、
カルボキシル基、そのアルカリ金属塩などが好ましい。
2がアルカリ金属を示す場合は、好ましくはナトリウ
ム、カリウム、リチウムである。インドール系化合物の
特に好ましい具体例を挙げれば、
Examples of the alkyl represented by R 1 and R 2 in the indole compound represented by the formula (4) include linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Used. As the substituent,
Carboxyl groups and their alkali metal salts are preferred.
When R 2 represents an alkali metal, it is preferably sodium, potassium or lithium. If a particularly preferred specific example of the indole compound is given,

【0027】[0027]

【化10】 [Chemical 10]

【0028】などがある。Etc.

【0029】前記式(5)で表わされる1,3,5−ト
リアジンチオール系化合物におけるR1で示される置換
アミノ基のアルキル置換基は、例えば炭素数1〜30、
好ましくは4〜18の直鎖状または分枝状のアルキルが
用いられる。またアリール置換基としては、例えばフェ
ニル、トリルなどが好ましい。M1,M2がアルカリ金属
を示す場合、好ましいのはナトリウム、カリウム、リチ
ウムである。1,3,5−トリアジンチオール系化合物
の特に好ましい具体例を挙げると、
The alkyl substituent of the substituted amino group represented by R 1 in the 1,3,5-triazinethiol compound represented by the above formula (5) has, for example, 1 to 30 carbon atoms,
Preferably 4 to 18 linear or branched alkyl are used. As the aryl substituent, for example, phenyl, tolyl and the like are preferable. When M 1 and M 2 represent an alkali metal, preferred are sodium, potassium and lithium. If the particularly preferred specific examples of the 1,3,5-triazinethiol compound are given,

【0030】[0030]

【化11】 [Chemical 11]

【0031】などがある。Etc.

【0032】前記式(6)で表わされるメルカプトベン
ゾチアゾール系化合物において、R1,R2で示されるア
ルキルとしては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1
〜3の直鎖状または分枝状アルキルで、アルキルの置換
基としては、カルボキシル基、そのアルカリ金属塩、フ
ッ化炭素などがある。また置換アミノ基としては(C4
92N−などが好ましい。アルカリ金属としては、ナ
トリウム、カリウム、リチウムが好ましい。
In the mercaptobenzothiazole compound represented by the formula (6), the alkyl represented by R 1 and R 2 has, for example, 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 carbon atom.
~ 3 straight-chain or branched alkyl, and the alkyl substituent includes a carboxyl group, an alkali metal salt thereof, fluorocarbon, and the like. Further, as the substituted amino group, (C 4
H 9) 2 N-and the like are preferable. As the alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferable.

【0033】メルカプトベンゾチアゾール系化合物とし
てとくに好ましいものを挙げると、
Particularly preferred mercaptobenzothiazole compounds are:

【0034】[0034]

【化12】 [Chemical 12]

【0035】これらインヒビターの総量を10〜100
0ppmとしたのは、10ppm未満の濃度では封孔処
理機能が低く、1000ppmをこえる濃度では接触抵
抗が上昇するためである。本発明のもう一つの必須成分
であり、基油成分として使用するパラフィンワックス
は、平均炭素数20〜35程度の直鎖状炭化水素を主成
分とする分子量300〜500程度の飽和炭化水素混合
物である。ペトロラタムは、石油から得られるゼリー状
半固体のろうであり、真空蒸留残渣から溶剤脱ろう、遠
心分離等により得られる軟膏状の石油ワックスである。
これら基油成分の総量を0.1〜5.0wt%としたの
は、0.1wt%未満の濃度では、潤滑性改善効果が低
く、また5.0wt%を越える濃度では接触抵抗が上昇
するためである。
The total amount of these inhibitors is 10 to 100
The reason for setting 0 ppm is that the sealing treatment function is low at a concentration of less than 10 ppm, and the contact resistance increases at a concentration of more than 1000 ppm. The paraffin wax used as a base oil component, which is another essential component of the present invention, is a saturated hydrocarbon mixture having a molecular weight of about 300 to 500, which is mainly composed of a linear hydrocarbon having an average carbon number of about 20 to 35. is there. Petrolatum is a jelly-like semi-solid wax obtained from petroleum, and is an ointment-like petroleum wax obtained by solvent dewaxing, centrifugation, etc. from a vacuum distillation residue.
The total amount of these base oil components is set to 0.1 to 5.0 wt% because the lubricity improving effect is low at a concentration of less than 0.1 wt% and the contact resistance increases at a concentration of more than 5.0 wt%. This is because.

【0036】また、有機溶剤溶液に使用する溶媒は、公
知の有機溶媒より適宜選択することができ、特に制限さ
れない。例えばトルエン、キシレン等の石油系溶媒、イ
ソプロピルアルコール等のアルコール系溶媒、ノルマル
デカン等のパラフィン系溶媒等である。本発明において
基油成分の有機溶媒溶液は、インヒビター水溶液上にお
よそ1〜10mmの厚みで浮かべれば十分である。封孔
処理は線材、板材、条材など素材の段階でめっき後行う
場合は、めっき品をプレス加工後に本発明の封孔処理液
及び封孔処理方法で封孔処理することも有効である。め
っき後封孔処理した金属材料であっても、その後のプレ
ス加工で付着したプレス油等を洗浄する工程において、
封孔処理の効果が低下することがある。そこで再度の封
孔処理が有効となる。プレス加工後にめっきと封孔処理
を施すこともできる。
The solvent used in the organic solvent solution can be appropriately selected from known organic solvents and is not particularly limited. Examples thereof include petroleum-based solvents such as toluene and xylene, alcohol-based solvents such as isopropyl alcohol, and paraffin-based solvents such as normal decane. In the present invention, it is sufficient that the solution of the base oil component in the organic solvent floats on the aqueous solution of the inhibitor in a thickness of about 1 to 10 mm. When the sealing treatment is performed after plating at the stage of a raw material such as a wire material, a plate material, a strip material, it is also effective to perform the sealing treatment with the sealing treatment liquid and the sealing treatment method of the present invention after pressing the plated product. Even in the case of metallic materials that have been subjected to sealing treatment after plating, in the process of washing the press oil and other substances that have adhered in the subsequent pressing process,
The effect of the sealing treatment may decrease. Therefore, the sealing treatment again becomes effective. It is also possible to perform plating and sealing treatment after pressing.

【0037】その後のコネクタの加工工程においても、
最終の電子機器組立まで、めっき品の洗浄工程があれば
同様に封孔処理効果は低下するため、適宜本発明により
封孔処理することが有効である。従って、本発明は本発
明封孔処理方法によって処理されたコネクタも包含する
ものである。なお、本発明におけるめっき母材となる金
属材料は、銅、黄銅、りん青銅、チタン銅、ベリリウム
銅等の各種銅合金、鉄、ステンレス鋼、高ニッケル合金
等のコネクタの要求特性に従い適宜選択でき、何等制限
されない。めっき材のめっき方法については、電気メッ
キ、無電解めっき、あるいはCVD、PVD等の乾式め
っき等の公知のものを適用でき、制限されない。さらに
めっき条件は公知の方法が適用できる。金合金めっきと
しては金をベースとする合金めっきであって、用途によ
り適宜選ばれる。コネクタ用途では耐摩耗性を向上する
ために、コバルトを微量含む硬質めっきが広く使用され
ている。下地めっきはニッケル、ニッケルにパラジウム
を80〜90%合金化したもの、あるいはニッケルにコ
バルトを60〜80%合金化したもの等が一般的である
が、ニッケルを含有する合金であれば本発明は有効であ
る。
Also in the subsequent connector processing steps,
If there is a step of washing the plated product until the final electronic device is assembled, the effect of the sealing treatment is similarly reduced. Therefore, it is effective to appropriately perform the sealing treatment according to the present invention. Therefore, the present invention also includes a connector processed by the sealing method of the present invention. The metal material serving as the plating base material in the present invention can be appropriately selected according to the required characteristics of the copper, brass, phosphor bronze, titanium copper, various copper alloys such as beryllium copper, iron, stainless steel, high nickel alloy, etc. , There is no limit. A known plating method such as electroplating, electroless plating, or dry plating such as CVD or PVD can be applied to the plating method of the plating material, and is not limited. Further, known methods can be applied to the plating conditions. The gold alloy plating is gold-based alloy plating and is appropriately selected depending on the application. Hard plating containing a small amount of cobalt is widely used for connector applications in order to improve wear resistance. The undercoat is generally nickel, nickel alloyed with 80 to 90% of palladium, nickel alloyed with 60 to 80% of cobalt, or the like. It is valid.

【0038】[0038]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を詳細に説明す
る。バネ用りん青銅(C5210−H)の厚み0.2m
mの冷間圧延材を用い、雄及び雌の連続端子をそれぞれ
プレス成形した。これらをリール・ツウ・リールの連続
電気めっきラインを通して電気めっきを施した。めっき
ラインにおいては脱脂、酸洗後、ワット浴による1μm
のニッケルめっき、あるいはアンモニア系のめっき液に
よる0.5μmのPd80%−Ni20%合金めっきを
行い、その上に金あるいは金−コバルト合金を0.1μ
mの厚みで接点部に部分めっきした。また、連続めっき
ラインでは、金めっき後に封孔処理工程を設け、連続端
子を通入することにより封孔処理を施した。こうして表
面処理をした雄と雌の端子をキャリアー部から切断しリ
ード線を圧着した後、それぞれを嵌合し評価試験に供し
た。
The present invention will be described in detail below with reference to examples. Thickness 0.2m of phosphor bronze for spring (C5210-H)
Using the cold rolled material of m, the male and female continuous terminals were press-molded. These were electroplated through a reel-to-reel continuous electroplating line. In the plating line, after degreasing and pickling, 1 μm with Watt bath
Nickel plating, or 0.5 μm Pd80% -Ni20% alloy plating with an ammonia-based plating solution, and gold or gold-cobalt alloy 0.1 μm on it.
The contact portion was partially plated with a thickness of m. Further, in the continuous plating line, a sealing treatment step was provided after gold plating, and the sealing treatment was performed by inserting a continuous terminal. After the surface-treated male and female terminals were cut from the carrier part and the lead wires were pressure-bonded, they were fitted and subjected to an evaluation test.

【0039】接触抵抗は直流10mA、開放電圧200
mVで測定した。潤滑性は処理後のコネクタ端子の挿抜
力の測定で評価した。腐食条件は次の条件で行った。 ガス組成:H2S 3ppm SO2 10ppm 温度:40±2℃ 湿度:80±5%RH 時間:240時間 結果を表1に示す。
Contact resistance is DC 10 mA, open-circuit voltage 200.
It was measured at mV. The lubricity was evaluated by measuring the insertion / extraction force of the connector terminal after the treatment. The corrosion conditions were as follows. Gas composition: H 2 S 3 ppm SO 2 10 ppm Temperature: 40 ± 2 ° C. Humidity: 80 ± 5% RH time: 240 hours The results are shown in Table 1.

【0040】[0040]

【表1】 [Table 1]

【0041】注1)ただし、表中めっき種類および封孔
処理液の略号は以下の通りである。 N1:Ni N2:Pd−Ni K1:Au K2:Au−Co A−1:前記式(1)で表わされるベンゾトリアゾール
系化合物(R1=R2=H) A−2:前記式(2)で表わされるインダゾール系化合
物(R1=R2=H) A−3:前記式(3)で表わされるベンズイミダゾール
系化合物(R1=R2=H) A−4:前記式(4)で表わされるインドール系化合物
(R1=R2=H) A−5:前記式(5)で表わされる1,3,5−トリア
ジンチオール系化合物(R1=N(C49),M1=H,
2=Na) A−6:前記式(6)で表わされるメルカプトベンゾチ
アゾール系化合物(R1=R2=H) B−1:パラフィンワックス B−2:ペトロラタム 注2)試験の判定基準は次のとおりである。
Note 1) However, the abbreviations of plating types and sealing treatment liquids in the table are as follows. N1: Ni N2: Pd-Ni K1: Au K2: Au-Co A-1: Benzotriazole compound represented by the above formula (1) (R 1 = R 2 = H) A-2: The above formula (2) Indazole-based compound (R 1 = R 2 = H) A-3: Benzimidazole-based compound (R 1 = R 2 = H) represented by the formula (3) A-4: In the formula (4) indole compound represented (R 1 = R 2 = H ) A-5: formula (5) represented by 1,3,5-triazine-thiol compound (R 1 = N (C 4 H 9), M 1 = H,
M 2 = Na) A-6: mercaptobenzothiazole compound represented by the formula (6) (R 1 = R 2 = H) B-1: paraffin wax B-2: petrolatum Note 2) The criteria for the test are: It is as follows.

【0042】初期接触抵抗、腐食試験後の接触抵抗
(n=5の平均値) ○:10mΩ以下 △:10〜20mΩ ×:20mΩ以上 腐食試験後の外観 ○:腐食生成物なし △:腐食生成物点在 ×:腐食点が全面に認められる 潤滑性(挿抜力) ○:コンタクト1ピンあたりの挿入力290g以下 抜
去力220g以下 △:コンタクト1ピンあたりの挿入力290〜300g
抜去力220〜230g ×:コンタクト1ピンあたりの挿入力300g以上 抜
去力230g以上
Initial contact resistance, contact resistance after corrosion test (average value of n = 5) ○: 10 mΩ or less △: 10 to 20 mΩ ×: 20 mΩ or more Appearance after corrosion test ○: No corrosion product Δ: Corrosion product Dotted x: Corrosion points are observed on the entire surface Lubricity (insertion / removal force) ○: Insertion force per contact pin 290g or less Extraction force 220g or less △: Insertion force per contact pin 290-300g
Removal force 220-230g ×: Insertion force per contact pin is 300g or more Removal force is 230g or more

【0043】[0043]

【発明の効果】以上述べたように、本発明により封孔処
理された金めっき材は、封孔処理直後の接触抵抗が低
く、過酷な腐食環境においても接触性能の長期安定性
(高耐食性、低接触抵抗値)を示し、潤滑性が高いとい
う利点を有する。
As described above, the gold-plated product which has been subjected to the sealing treatment according to the present invention has a low contact resistance immediately after the sealing treatment and has a long-term stability of the contact performance (high corrosion resistance, even in a severe corrosive environment). It has a low contact resistance value) and has an advantage of high lubricity.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材金属にニッケルまたはニッケルを含
有する合金めっき等を下地として具備する金または金合
金めっき材の封孔処理方法において、インヒビターとし
てニッケルまたは基材金属とのキレート形成性環状窒素
化合物の1種又は2種以上を合計で10〜1000pp
m含有する水溶液上に、基油成分としてパラフィンワッ
クス、ペトロラタムの1種又は2種以上を0.1〜5.
0wt%含有する有機溶剤溶液を浮かべた封孔処理液中
で該めっき材を陽極として直流電解するにあたり、極間
電圧Eが0.1〜5.0Vの範囲で実施することを特徴
とする金または金合金めっき材の封孔処理方法。
1. A method for sealing a gold or gold alloy plated material, which comprises a base metal such as nickel or an alloy plating containing nickel as a base material, and a chelate-forming cyclic nitrogen with nickel or a base metal as an inhibitor. 10 to 1000 pp in total of one or more compounds
paraffin wax and petrolatum as a base oil component on the aqueous solution containing 0.1 to 5.
Gold for which direct-current electrolysis is carried out in a range of 0.1 to 5.0 V between electrodes during direct current electrolysis using the plated material as an anode in a sealing treatment solution containing a 0 wt% organic solvent solution. Alternatively, a method for sealing a gold alloy plated material.
【請求項2】 請求項1記載の方法で封孔処理されたコ
ネクタ接触子。
2. A connector contact, which has been subjected to a sealing treatment by the method according to claim 1.
JP5385494A 1994-03-24 1994-03-24 Method for sealing pinhole on gold-plated material Pending JPH07258891A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6143700A (en) * 1998-02-04 2000-11-07 Kanto Kaguka Kabushiki Kaisha Treating agent for electrical contacts

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