JPH09170096A - Sealing treatment for gold plating material - Google Patents

Sealing treatment for gold plating material

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Publication number
JPH09170096A
JPH09170096A JP33047495A JP33047495A JPH09170096A JP H09170096 A JPH09170096 A JP H09170096A JP 33047495 A JP33047495 A JP 33047495A JP 33047495 A JP33047495 A JP 33047495A JP H09170096 A JPH09170096 A JP H09170096A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gold
sealing
sealing treatment
nickel
alkyl
Prior art date
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Application number
JP33047495A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Fukamachi
一彦 深町
Hiroyuki Hatanaka
宏之 畑中
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Nikko Kinzoku KK
Original Assignee
Nikko Kinzoku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikko Kinzoku KK filed Critical Nikko Kinzoku KK
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Publication of JPH09170096A publication Critical patent/JPH09170096A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sealing treatment for forming a high corrosion-resisting gold plating material (contact point) having no environmentally polluting property and having the low contact resistance. SOLUTION: In the sealing treatment for the gold or gold alloy plating material provided with nickel or alloy plating, etc., contng. nickel as a substrate on a base metal, D.C. electrolysis is executed at an interpole voltage in a range of 0.1 to 5.0V in the execution thereof using the plating material as an anode in an emulsion type-sealing treatment liquid formed by adding a 0.01 to 5.0wt.% self-emulsifying agent to an inhibitor-aqueous solution.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は銅合金、鉄、ステンレス
鋼、高ニッケル合金等の金属材料を基材とし、これにニ
ッケルまたはニッケル含有合金めっきを付したものを下
地として具備する金または金合金めっき材の封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子に関する。特に金
及び金合金めっき厚が薄くても高耐食性、電気的接触性
能の長期安定性を示し、かつ潤滑性に優れる封孔処理
液、封孔処理方法及び封孔処理された接触子に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to gold or gold having a base material made of a metal material such as copper alloy, iron, stainless steel, high nickel alloy and the like and plated with nickel or a nickel-containing alloy as a base material. The present invention relates to a method for sealing a plated alloy material and a connector contact that has been sealed. Particularly, the present invention relates to a sealing solution, a sealing method, and a contact that has been subjected to a sealing treatment that exhibits high corrosion resistance, long-term stability of electrical contact performance even when the thickness of the gold and gold alloy plating is thin, and has excellent lubricity. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器用接続部品としてコネクタは最
も代表的なものであり、多種多様のコネクタが実用化さ
れている。電算機や通信用機器等高度の信頼性が要求さ
れる、いわゆる産業用電子機器に使用されるコネクタ
は、りん青銅、ベリリウム銅等のバネ用銅合金を母材と
し、金めっきをしたものが一般に使用されている。これ
ら高度の信頼性が要求されるコネクタにおいては、高耐
食性、電気的接触性能の長期安定性を有する他にコネク
タを挿抜する際の挿抜力が低いことが要求されている。
ところで、金は高価であるため、コネクタ製造コストを
下げる目的で様々な方法が採られている。その代表的な
方法が金めっきの厚みを薄くする方法であるが、金めっ
き厚を薄くするとともに、皮膜のピンホールが指数関数
的に増え、耐食性が著しく低下するという問題を抱えて
いる。この問題を解決する方法のひとつに封孔処理があ
る。すなわち、各種の無機性あるいは有機性の薬品で金
めっき表面を処理し、ピンホールを塞ぎ耐食性を向上さ
せようとするものである。封孔処理には有機系と水系が
ある。有機系は一般にはハロゲン系有機溶剤が溶媒に使
用されることから環境汚染の問題が生じる。水系はクロ
メート法が代表的なものであるが、クロメート法では耐
食性向上の効果はみられても接触抵抗が上昇するという
場合があり、また潤滑性が低く、コネクタの挿抜性を損
なうものであった。
2. Description of the Related Art A connector is the most typical connector for electronic equipment, and various connectors have been put to practical use. Connectors used in so-called industrial electronic devices that require a high degree of reliability, such as computers and communication devices, are made of a copper alloy for springs such as phosphor bronze and beryllium copper and are plated with gold. Commonly used. These connectors that require a high degree of reliability are required to have high corrosion resistance, long-term stability of electrical contact performance, and low insertion / removal force when inserting / removing the connector.
By the way, since gold is expensive, various methods have been adopted in order to reduce connector manufacturing cost. A typical method is to reduce the thickness of the gold plating. However, there is a problem that the thickness of the gold plating is reduced, the number of pinholes in the film increases exponentially, and the corrosion resistance is significantly reduced. One of the methods for solving this problem is a sealing treatment. That is, the surface of the gold plating is treated with various inorganic or organic chemicals to close the pinholes and improve the corrosion resistance. There are an organic type and an aqueous type in the sealing treatment. In the case of organic solvents, generally, a halogen-based organic solvent is used as a solvent, so that a problem of environmental pollution arises. The chromate method is a typical water-based method, but the chromate method may increase the contact resistance even though the effect of improving corrosion resistance may be observed, and the lubricity is low, which impairs the mating and unmating properties of the connector. It was

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】そこで、環境汚染性に
問題がなく、金めっき材の耐食性、電気的接触性能の長
期安定性に加えて、潤滑性をも同時に向上することので
きる封孔処理液及び封孔処理方法が必要となっている。
本発明はこのような要求を満たすことのできる封孔処理
液及びそれを用いる封孔処理方法を提供することを目的
とし、あわせてそれによって処理されたコネクタを提供
することを目的としたものである。
Therefore, there is no problem in environmental pollution, and in addition to the corrosion resistance and long-term stability of electrical contact performance of the gold-plated material, a sealing treatment capable of simultaneously improving lubricity. Liquid and sealing methods are required.
It is an object of the present invention to provide a sealing treatment liquid and a sealing treatment method using the same which can satisfy such requirements, and also to provide a connector treated by the same. is there.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】かかる状況に鑑み、本発
明者等は鋭意研究を行った結果、以下に示す封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子を発明するに至っ
た。すなわち、本発明は(1)基材金属にニッケルまた
はニッケルを含有する合金めっきを施した材料を下地と
して具備する金または金合金めっき材の封孔処理方法に
おいて、インヒビター水溶液に自己乳化剤を0.01〜
5.0wt%添加することにより形成されたエマルジョ
ンタイプの封孔処理液中で、該メッキ材を陽極として直
流電解するにあたり、極間電圧Eが0.1〜5.0Vの
範囲で実施することを特徴とする金または金合金めっき
材の封孔処理方法、(2)封孔処理液がインヒビターと
してニッケルまたは基材金属とのキレート形成性を有す
る環状窒素化合物の1種もしくは2種以上を合計で10
〜1000ppm含有することを特徴とする上記(1)
記載の封孔処理方法および、(3)上記方法で封孔処理
されたコネクタ接触子である。また、本発明の封孔処理
方法は、これを換言すれば、封孔処理されたコネクタ接
触子などの金めっき材の製造方法でもある。
In view of such circumstances, the present inventors have conducted intensive studies and as a result, have come to invent a sealing method and a connector contact which has been subjected to the following sealing treatment. That is, the present invention provides (1) a method for sealing gold or a gold alloy plating material having a base metal coated with nickel or an alloy plating containing nickel as a base material, wherein a self-emulsifier is added to the inhibitor aqueous solution in an amount of 0.1%. 01 ~
Performing direct current electrolysis with the plated material as an anode in an emulsion-type sealing treatment liquid formed by adding 5.0 wt%, the inter-electrode voltage E being in the range of 0.1 to 5.0 V. A method for sealing a gold or gold alloy plating material, characterized in that (2) the sealing treatment liquid is a total of one or more cyclic nitrogen compounds having a chelate-forming property with nickel or a base metal as an inhibitor. In 10
The above (1) is characterized by containing up to 1000 ppm.
(3) The connector contactor which has been subjected to the sealing treatment by the above method. In addition, the sealing treatment method of the present invention is, in other words, a method of producing a gold-plated material such as a sealed connector contact.

【0005】本発明は被処理材の電極電位を下地めっき
であるニッケルの酸化領域に保持して直流電解すること
により、金めっきのピンホール内部の下地金属であるニ
ッケルを酸化させ、ニッケルとインヒビターとを反応さ
せ、錯化合物をピンホールに充填させることにより防錆
効果をもたせ、さらに封孔処理液中の自己乳化剤が金め
っき表面に吸着して潤滑効果をもたせることにより封孔
処理効果を持たせる方法である。直流電解するにあたっ
て極間電圧Eを0.1〜5.0Vとしたのは、0.1V
未満の陽極電圧では防錆処理効果が著しく低くなるため
である。また、5.0Vを越えると接触抵抗が高くなる
ためである。
According to the present invention, nickel, which is a base metal in a pinhole of gold plating, is oxidized by holding the electrode potential of a material to be processed in an oxidized region of nickel, which is a base plating, to oxidize nickel and an inhibitor. Has a rust-preventive effect by filling the complex compound into the pinhole, and has a lubricating effect by adsorbing the self-emulsifier in the sealing solution to the gold plating surface and having a lubricating effect. It is a way to make it. The voltage E between the electrodes was set to 0.1 to 5.0 V for direct current electrolysis, which was 0.1 V.
This is because if the anode voltage is less than 1, the rustproofing effect will be significantly reduced. Also, if it exceeds 5.0 V, the contact resistance becomes high.

【0006】本発明の必須成分であり、潤滑剤として使
用する自己乳化剤は、水中に添加した際に、被乳化剤の
存在がなくてもそれ自身が乳化してエマルジョンを形成
するものであり、金めっき表面に吸着して油性向上剤、
あるいは極圧添加剤として働くものである。本発明に使
用する自己乳化剤は公知の自己乳化剤から1種もしくは
2種以上を適宜選択することができ、何等制限されな
い。例えば、
[0006] The self-emulsifying agent, which is an essential component of the present invention and is used as a lubricant, is capable of emulsifying itself when added to water even in the absence of an emulsifying agent to form an emulsion. Oiliness improver adsorbed on plating surface,
Alternatively, it acts as an extreme pressure additive. The self-emulsifier used in the present invention can be appropriately selected from one or more known self-emulsifiers, and is not limited at all. For example,

【0007】[0007]

【化1】 Embedded image

【0008】(式中、Rはアルキル、置換アルキルを表
わし、Mは水素、アルカリ金属をnは酸化エチレンの平
均付加モル数を表わす)で表わされるアルキルエーテル
りん酸エステル、
Wherein R is an alkyl or substituted alkyl, M is hydrogen, an alkali metal and n is an average addition mole number of ethylene oxide.

【0009】[0009]

【化2】 Embedded image

【0010】(式中、Rはアルキル、置換アルキルを表
し、Mは水素、アルカリ金属を表わす)で表わされるア
ルキルりん酸エステルなどが有効である。前記式で表わ
されるアルキルエーテル燐酸エステルにおけるRで示さ
れるアルキルとしては、例えば炭素数6〜30、好まし
くは8〜18の直鎖状又は分枝状のアルキルが用いられ
る。その置換基としては、例えばアルキルフェノール基
が好ましい。Mがアルカリ金属を示す場合、ナトリウ
ム、カリウム、リチウムが好ましい。アルキルエーテル
燐酸エステルの特に好ましい具体例としては、例えばR
がC817で、MがH,nが1のもの、RがC1225
nが4のものなどがある。
(Wherein, R represents an alkyl or substituted alkyl, M represents hydrogen or an alkali metal), and the like are effective. As the alkyl represented by R in the alkyl ether phosphate represented by the above formula, for example, a linear or branched alkyl having 6 to 30 carbon atoms, preferably 8 to 18 carbon atoms is used. As the substituent, for example, an alkylphenol group is preferable. When M represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Particularly preferred specific examples of the alkyl ether phosphate include, for example, R
Is C 8 H 17 , M is H, n is 1, R is C 12 H 25 ,
For example, n is 4.

【0011】前記式で表わされるアルキル燐酸エステル
におけるRで示されるアルキルとしては、例えば炭素数
1〜18、好ましくは4〜12の直鎖状又は分枝状のア
ルキルが用いられる。その置換基としては例えばアルキ
ルフェノール基などが好ましい。またMで示されるアル
カリ金属はナトリウム、カリウム、リチウムが好まし
い。アルキル燐酸エステルの特に好ましい具体例として
は、例えばRがC49、MがHのもの、RがC1025
MがNaのものなどがある。これら自己乳化剤の総量を
0.01〜5.0wt%としたのは、0.01wt%未
満の濃度では、潤滑性改善効果が低く、また5.0wt
%を越える濃度では接触抵抗が上昇するためである。本
発明においてインヒビターとして使用する、銅などの基
材金属又はニッケルとキレート化合物を形成することが
できる環状窒素化合物としては、例えば下記式(3)で
表わされるベンゾトリアゾール系化合物、下記式(4)
で表わされるインダゾール系化合物、下記式(5)で表
わされるベンズイミダゾール系化合物、下記式(6)で
表わされるインドール系化合物、下記式(7)で表わさ
れる1,3,5−トリアジンチオール系化合物、下記式
(8)で表わされるメルカプトベンゾチアゾール系化合
物等が有効である。
As the alkyl represented by R in the alkyl phosphate ester represented by the above formula, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 18, preferably 4 to 12 carbon atoms is used. The substituent is preferably, for example, an alkylphenol group. The alkali metal represented by M is preferably sodium, potassium or lithium. Particularly preferred specific examples of the alkyl phosphate include, for example, those wherein R is C 4 H 9 , M is H, R is C 10 H 25 ,
M may be Na. The total amount of these self-emulsifying agents is set to 0.01 to 5.0 wt% because the effect of improving lubricity is low at a concentration of less than 0.01 wt% and 5.0 wt%.
This is because the contact resistance increases when the concentration exceeds%. Examples of the cyclic nitrogen compound that can form a chelate compound with a base metal such as copper or nickel used as an inhibitor in the present invention include a benzotriazole compound represented by the following formula (3) and a following formula (4).
Indazole compound represented by the following formula, benzimidazole compound represented by the following formula (5), indole compound represented by the following formula (6), 1,3,5-triazinethiol compound represented by the following formula (7) A mercaptobenzothiazole compound represented by the following formula (8) is effective.

【0012】[0012]

【化3】 Embedded image

【0013】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アルキル、
置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, alkyl,
Represents a substituted alkyl)

【0014】[0014]

【化4】 Embedded image

【0015】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl, or substituted alkyl)

【0016】[0016]

【化5】 Embedded image

【0017】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl, or substituted alkyl)

【0018】[0018]

【化6】 [Chemical 6]

【0019】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はカルボキシル基、アルカリ金属、
水素、アルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl or substituted alkyl, R 2 represents a carboxyl group, an alkali metal,
Represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl)

【0020】[0020]

【化7】 Embedded image

【0021】(式中、R1は−SH、またはアルキル基
又はアリール基で置換されたアミノ基を表わし、M1
2は水素、アルカリ金属を表わす。)
(Wherein R 1 represents —SH, or an amino group substituted with an alkyl group or an aryl group, and M 1 ,
M 2 represents hydrogen or an alkali metal. )

【0022】[0022]

【化8】 Embedded image

【0023】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キル、ハロゲンを表わし、R2はアルカリ金属、水素、
アルキル、置換アルキル、置換アミノ基を表わす) 前記式(3)で表わされるベンゾトリアゾール系化合物
におけるR1またはR2で示されるアルキルとしては例え
ば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状または分
枝状のアルキルが用いられる。その置換基としては例え
ばカルボニル基、そのアルカリ金属塩が好ましい。R2
がアルカリ金属を示す場合は、ナトリウム、カリウム、
リチウムが好ましい。特に好ましい具体例を挙げると例
えば
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, substituted alkyl, or halogen; R 2 represents an alkali metal, hydrogen,
The alkyl represented by R 1 or R 2 in the benzotriazole compound represented by the formula (3) is, for example, a straight chain having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Alkyl or branched alkyl is used. As the substituent, for example, a carbonyl group or an alkali metal salt thereof is preferable. R 2
Is an alkali metal, sodium, potassium,
Lithium is preferred. Particularly preferred specific examples include, for example,

【0024】[0024]

【化9】 Embedded image

【0025】などがある。There are, for example,

【0026】前記式(4)で表わされるインダゾール系
化合物におけるR1またはR2で示されるアルキルとして
は、例えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状
または分枝状のアルキルが用いられる。その置換基とし
ては、例えばフェニル、カルボキシル基などが好まし
い。R2がアシル基を示す場合、好ましくはアセチル
基、ベンゾイル基である。またR2がアルカリ金属を示
す場合はナトリウム、カリウム、リチウムが好ましい。
インダゾール系化合物の特に好ましい具体例を挙げれ
ば、例えば
The alkyl represented by R 1 or R 2 in the indazole compound represented by the above formula (4) is, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Used. As the substituent, for example, phenyl, carboxyl group and the like are preferable. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group or a benzoyl group. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferable.
Specific examples of particularly preferred indazole compounds include, for example,

【0027】[0027]

【化10】 Embedded image

【0028】などがある。前記式(5)で表わされるベ
ンズイミダゾール系化合物におけるR1,R2で示される
アルキルとしては、例えば炭素数1〜10、好ましくは
1〜3の直鎖状または分枝状のアルキルが用いられる。
その置換基としては、カルボキシル基、そのアルカリ金
属塩などが好ましい。R2がアシル基を示す場合、好ま
しくはアセチル基、ベンゾイル基などである。R2がア
ルカリ金属を示す場合はナトリウム、カリウム、リチウ
ムが好ましい。
Etc. As the alkyl represented by R 1 and R 2 in the benzimidazole compound represented by the formula (5), for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms is used. .
As the substituent, a carboxyl group and an alkali metal salt thereof are preferable. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group, a benzoyl group or the like. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred.

【0029】ベンズイミダゾール系化合物の特に好まし
い具体例を挙げれば、例えば
Specific examples of particularly preferable benzimidazole compounds include, for example,

【0030】[0030]

【化11】 Embedded image

【0031】などがある。前記式(6)で表わされるイ
ンドール系化合物におけるR1,R2で示されるアルキル
としては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の
直鎖状または分枝状のアルキルが用いられる。その置換
基としては、カルボキシル基、そのアルカリ金属塩など
が好ましい。R2がアルカリ金属を示す場合は、好まし
くはナトリウム、カリウム、リチウムである。インドー
ル系化合物の特に好ましい具体例を挙げれば、
Etc. As the alkyl represented by R 1 and R 2 in the indole compound represented by the formula (6), for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms is used. As the substituent, a carboxyl group and an alkali metal salt thereof are preferable. When R 2 represents an alkali metal, it is preferably sodium, potassium or lithium. Particularly preferred specific examples of the indole compound,

【0032】[0032]

【化12】 Embedded image

【0033】などがある。Etc.

【0034】前記式(7)で表わされる1,3,5−ト
リアジンチオール系化合物におけるR1で示される置換
アミノ基のアルキル置換基は、例えば炭素数1〜30、
好ましくは4〜18の直鎖状または分枝状のアルキルが
用いられる。またアリール置換基としては、例えばフェ
ニル、トリルなどが好ましい。M1,M2がアルカリ金属
を示す場合、好ましいのはナトリウム、カリウム、リチ
ウムである。1,3,5−トリアジンチオール系化合物
の特に好ましい具体例を挙げると、
The alkyl substituent of the substituted amino group represented by R 1 in the 1,3,5-triazinethiol compound represented by the formula (7) has, for example, 1 to 30 carbon atoms,
Preferably 4 to 18 linear or branched alkyl are used. As the aryl substituent, for example, phenyl, tolyl and the like are preferable. When M 1 and M 2 represent an alkali metal, preferred are sodium, potassium and lithium. Particularly preferred specific examples of the 1,3,5-triazinethiol-based compound include:

【0035】[0035]

【化13】 Embedded image

【0036】などがある。There are, for example,

【0037】前記式(8)で表わされるメルカプトベン
ゾチアゾール系化合物において、R1,R2で示されるア
ルキルとしては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1
〜3の直鎖状または分枝状アルキルで、アルキルの置換
基としては、カルボキシル基、そのアルカリ金属塩、フ
ッ化炭素などがある。また、置換アミノ基としては(C
492N−などが好ましい。アルカリ金属としては、
ナトリウム、カリウム、リチウムが好ましい。式(1)
で表わされるメルカプトベンゾチアゾール誘導体として
とくに好ましいものを挙げると、
In the mercaptobenzothiazole compound represented by the above formula (8), the alkyl represented by R 1 and R 2 has, for example, 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 carbon atom.
~ 3 straight-chain or branched alkyl, and the alkyl substituent includes a carboxyl group, an alkali metal salt thereof, fluorocarbon, and the like. Further, as the substituted amino group, (C
4 H 9 ) 2 N- and the like are preferable. As an alkali metal,
Sodium, potassium and lithium are preferred. Equation (1)
Particularly preferable examples of the mercaptobenzothiazole derivative represented by

【0038】[0038]

【化14】 Embedded image

【0039】これらインヒビターの総量は、10〜10
00ppmが好ましい。10ppm未満の濃度では封孔
処理機能が低く、1000ppmをこえる濃度では接触
抵抗が上昇するためである。
The total amount of these inhibitors is 10 to 10
00 ppm is preferred. This is because if the concentration is less than 10 ppm, the sealing function is low, and if the concentration exceeds 1000 ppm, the contact resistance increases.

【0040】封孔処理は線材、板材、条材など素材の段
階でめっき後行う場合は、めっき品をプレス加工後に本
発明の封孔処理液及び封孔処理方法で封孔処理すること
も有効である。めっき後封孔処理した金属材料であって
も、その後のプレス加工で付着したプレス油等を洗浄す
る工程において、封孔処理の効果が低下することがあ
る。そこで再度の封孔処理が有効となる。プレス加工後
にめっきと封孔処理を施すこともできる。その後のコネ
クタの加工工程においても、最終の電子機器組立まで、
めっき品の洗浄工程があれば同様に封孔処理効果は低下
するため、適宜本発明により封孔処理することが有効で
ある。従って、本発明は本発明封孔処理方法によって処
理されたコネクタも包含するものである。
When the pore-sealing treatment is performed after plating at the stage of a raw material such as a wire material, a plate material or a strip material, it is also effective to perform the pore-sealing treatment with the pore-sealing liquid and the pore-sealing treatment method of the present invention after pressing the plated product. Is. Even with a metal material that has been sealed after plating, the effect of the sealing may be reduced in the step of cleaning press oil or the like adhering in the subsequent press working. Therefore, the re-sealing process is effective. After the press working, plating and sealing can be performed. Even in the subsequent connector processing steps, until the final electronic device assembly,
Similarly, if there is a step of washing the plated product, the effect of sealing treatment is reduced, so that it is effective to appropriately perform sealing treatment according to the present invention. Therefore, the present invention also includes a connector processed by the sealing method of the present invention.

【0041】なお、本発明におけるめっき母材となる金
属材料は、銅、黄銅、りん青銅、チタン銅、ベリリウム
銅等の各種銅合金、鉄、ステンレス鋼、高ニッケル合金
等のコネクタの要求特性に従い適宜選択でき、何等制限
されない。めっき材のめっき方法については、電気メッ
キ、無電解めっき、あるいはCVD、PVD等の乾式め
っき等の公知のものを適用でき、制限されない。さらに
めっき条件は公知の方法が適用できる。金合金めっきと
しては金をベースとする合金めっきであって、用途によ
り適宜選ばれる。コネクタ用途では耐摩耗性を向上する
ために、コバルトを微量含む硬質めっきが広く使用され
ている。下地めっきはニッケル、ニッケルにパラジウム
を80〜90%合金化したもの、あるいはニッケルにコ
バルトを60〜80%合金化したもの等が一般的である
が、ニッケルを含有する合金であれば本発明は有効であ
る。
The metal material used as the plating base material in the present invention is a copper alloy such as copper, brass, phosphor bronze, titanium copper, beryllium copper, etc., according to the required characteristics of connectors such as iron, stainless steel and high nickel alloy. It can be appropriately selected and is not limited. A known plating method such as electroplating, electroless plating, or dry plating such as CVD or PVD can be applied to the plating method, and is not limited. Further, a known method can be applied as plating conditions. The gold alloy plating is an alloy plating based on gold, and is appropriately selected depending on the application. Hard plating containing a small amount of cobalt is widely used in connectors for improving wear resistance. The base plating is generally nickel, nickel-palladium alloyed with 80-90%, nickel-cobalt alloyed with 60-80%, etc., but the present invention is applicable to any alloy containing nickel. It is valid.

【0042】[0042]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を詳細に説明す
る。バネ用りん青銅(C5210−H)の厚み0.2m
mの冷間圧延材を用い、雄及び雌の連続端子をそれぞれ
プレス成形した。これらをリール・ツウ・リールの連続
電気めっきラインを通して電気めっきを施した。めっき
ラインにおいては脱脂、酸洗後、ワット浴による1μm
のニッケルめっき、あるいはアンモニア系のめっき液に
よる0.5μmのPd80%−Ni20%合金めっきを
行い、その上に金あるいは金−コバルト合金を0.1μ
mの厚みで接点部に部分めっきした。また、連続めっき
ラインでは、金めっき後に封孔処理工程を設け、連続端
子を通入することにより封孔処理を施した。こうして表
面処理をした雄と雌の端子をキャリアー部から切断しリ
ード線を圧着した後、それぞれを嵌合し評価試験に供し
た。
The present invention will be described in detail below with reference to examples. Phosphor bronze for spring (C5210-H) thickness 0.2m
The male and female continuous terminals were each press-formed using a cold-rolled material of m. These were electroplated through a continuous reel-to-reel electroplating line. In the plating line, after degreasing and pickling, 1 μm by Watt bath
Nickel plating or 0.5 μm Pd80% -Ni20% alloy plating with an ammonia-based plating solution, and then gold or gold-cobalt alloy with 0.1 μm
The contact portion was partially plated with a thickness of m. In the continuous plating line, a sealing process was provided after gold plating, and the sealing process was performed by passing a continuous terminal. The surface-treated male and female terminals were cut from the carrier portion and lead wires were crimped, and then fitted together and subjected to an evaluation test.

【0043】接触抵抗は直流10mA、開放電圧200
mVで測定した。潤滑性は処理後のコネクタ端子の挿抜
力の測定で評価した。腐食条件は次の条件で行った。 結果を表1に示す。
Contact resistance is DC 10 mA, open-circuit voltage 200.
It was measured in mV. The lubricity was evaluated by measuring the insertion / extraction force of the connector terminal after the treatment. The corrosion conditions were as follows. Table 1 shows the results.

【0044】[0044]

【表1】 [Table 1]

【0045】注1)ただし、表中めっき種類および封孔
処理液の略号は以下の通りである。 N1:Ni N2:Pd−Ni K1:Au K2:Au−Co A−1:前記式(3)で表わされるベンゾトリアゾール
系化合物(R1=R2=H) A−2:前記式(4)で表わされるインダゾール系化合
物(R1=R2=H) A−3:前記式(5)で表わされるベンズイミダゾール
系化合物(R1=R2=H) A−4:前記式(6)で表わされるインドール系化合物
(R1=R2=H) A−5:前記式(7)で表わされる1,3,5−トリア
ジンチオール系化合物(R1=N(C49),M1=H,
2=Na) A−6:前記式(8)で表わされるメルカプトベンゾチ
アゾール系化合物(R1=R2=H) B−1:前記式(1−1)〜(1−3)で表わされるア
ルキルエーテルりん酸エステル(R=C817,M=
H,n=2) B−2:前記式(2−1)〜(2−3)で表わされるア
ルキルりん酸エステル(R=C1021,M=H) 注2)試験の判定基準は次のとおりである。
Note 1) However, the abbreviations of plating types and sealing treatment liquids in the table are as follows. N1: Ni N2: Pd-Ni K1: Au K2: Au-Co A-1: Benzotriazole compound represented by the formula (3) (R 1 = R 2 = H) A-2: Formula (4) Indazole-based compound represented by (R 1 = R 2 = H) A-3: Benzimidazole-based compound represented by Formula (5) (R 1 = R 2 = H) A-4: represented by Formula (6) indole compound represented (R 1 = R 2 = H ) A-5: formula (7) represented by 1,3,5-triazine-thiol compound (R 1 = N (C 4 H 9), M 1 = H,
M 2 = Na) A-6 : the mercaptobenzothiazole compound represented by formula (8) (R 1 = R 2 = H) B-1: represented by the formula (1-1) to (1-3) Alkyl ether phosphate (R = C 8 H 17 , M =
H, n = 2) B-2: Alkyl phosphates represented by the formulas (2-1) to (2-3) (R = C 10 H 21 , M = H) Note 2) The criteria for the test are as follows: It is as follows.

【0046】初期接触抵抗、腐食試験後の接触抵抗
(n=5の平均値) ○:10mΩ以下 △:10〜20mΩ ×:20mΩ以上 腐食試験後の外観 ○:腐食生成物なし △:腐食生成物点在 ×:腐食点が全面に認められる 潤滑性(挿抜力) ○:コンタクト1ピンあたりの挿入力290g以下 抜
去力220g以下 △:コンタクト1ピンあたりの挿入力290〜300g
抜去力220〜230g ×:コンタクト1ピンあたりの挿入力300g以上 抜
去力230g以上
Initial contact resistance, contact resistance after corrosion test (average value of n = 5) ○: 10 mΩ or less △: 10 to 20 mΩ ×: 20 mΩ or more Appearance after corrosion test ○: No corrosion product △: Corrosion product Dotted x: Corrosion points are observed on the entire surface Lubricity (insertion / removal force) ○: Insertion force per contact pin 290g or less Extraction force 220g or less △: Insertion force per contact pin 290-300g
Removal force 220 to 230 g ×: Insertion force per contact pin 300 g or more Removal force 230 g or more

【0047】[0047]

【発明の効果】以上述べたように、本発明により封孔処
理された金めっき材は、封孔処理直後の接触抵抗が低
く、過酷な腐食環境においても接触性能の長期安定性
(高耐食性、低接触抵抗値)を示すという利点を有す
る。
As described above, the gold-plated material sealed according to the present invention has a low contact resistance immediately after the sealing treatment, and has a long-term stability of the contact performance even in a severe corrosive environment (high corrosion resistance, (Low contact resistance).

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材金属にニッケルまたはニッケルを含
有する合金めっき等を下地として具備する金または金合
金めっき材の封孔処理方法において、インヒビター水溶
液に自己乳化剤を0.01〜5.0wt%添加すること
により形成されたエマルジョンタイプの封孔処理液中で
該めっき材を陽極として直流電解するにあたり、極間電
圧Eが0.1〜5.0Vの範囲で実施することを特徴と
する金または金合金めっき材の封孔処理方法。
1. A method for sealing a gold or gold alloy plated material having a base metal such as nickel or an alloy plating containing nickel as a base, in a method for sealing a hole, wherein an inhibitor aqueous solution contains 0.01 to 5.0 wt% of a self-emulsifier. Gold which is characterized in that the inter-electrode voltage E is in the range of 0.1 to 5.0 V in direct current electrolysis using the plated material as an anode in an emulsion-type sealing treatment liquid formed by adding gold. Alternatively, a method for sealing a gold alloy plated material.
【請求項2】 封孔処理液がインヒビターとしてニッケ
ルまたは基材金属とのキレート形成性環状窒素化合物の
1種もしくは2種以上を合計で10〜1000ppm含
有することを特徴とする請求項1記載の封孔処理方法。
2. The sealing treatment solution according to claim 1, which contains, as an inhibitor, one or more chelate-forming cyclic nitrogen compounds with nickel or a base metal in a total amount of 10 to 1000 ppm. Sealing method.
【請求項3】 請求項1又は2記載の方法で封孔処理さ
れたコネクタ接触子。
3. A connector contact which has been subjected to a sealing treatment by the method according to claim 1.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007066998A (en) * 2005-08-29 2007-03-15 Kyocera Corp Wiring board
JP2014084480A (en) * 2012-10-19 2014-05-12 Jx Nippon Mining & Metals Corp Metallic material for electronic component and production method of the same
EP3112393A1 (en) 2015-06-30 2017-01-04 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Surface treatment solutions for gold and gold alloys

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007066998A (en) * 2005-08-29 2007-03-15 Kyocera Corp Wiring board
JP4721827B2 (en) * 2005-08-29 2011-07-13 京セラ株式会社 Wiring board manufacturing method
JP2014084480A (en) * 2012-10-19 2014-05-12 Jx Nippon Mining & Metals Corp Metallic material for electronic component and production method of the same
EP3112393A1 (en) 2015-06-30 2017-01-04 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Surface treatment solutions for gold and gold alloys
US9914838B2 (en) 2015-06-30 2018-03-13 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Surface treatment solutions for gold and gold alloys

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