JPH07249242A

JPH07249242A - 光ピックアップ

Info

Publication number: JPH07249242A
Application number: JP6039649A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Yamazaki; 健山崎
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1994-03-10
Filing date: 1994-03-10
Publication date: 1995-09-26

Abstract

(57)【要約】【目的】部品点数を削減できると共に、小型にでき、
しかも容易に組み立てできる光ピックアップを提供す
る。【構成】光源１からの出射光をプリズム20、偏光分離
膜18および対物レンズ７を経て光記録媒体８に照射し、
該光記録媒体８で反射される戻り光を、対物レンズ７お
よびプリズム20を経て偏光分離膜18に入射させ、該偏光
分離膜18を透過する戻り光を一軸性複屈折結晶21に入射
させて常光と異常光とに分離して、これらの常光および
異常光を第１の受光部24,25 で分離して受光し、偏光分
離膜18で反射される戻り光をプリズム20およびホログラ
ム20c,20d を経て第２の受光部22,23 で受光して、第１
の受光部24,25 の出力に基づいて光記録媒体８に記録さ
れている情報の再生信号を検出し、第２の受光部22,23
の出力に基づいて対物レンズ７の光記録媒体８に対する
位置ずれ信号を検出する

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光記録媒体に対して
情報の記録再生を行うための光ピックアップに関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ピックアップとして、例えば、
特開平１−３１５７２１号公報には、図１３に示すよう
なものが開示されている。この光ピックアップにおいて
は、半導体レーザ光源１からの光束２を、コリメータレ
ンズ３により平行光束４としてビームスプリッタ５に入
射させ、その反射面５ａで反射させる光束をミラー６で
反射させた後、対物レンズ７により収束して光磁気記録
媒体であるディスク８に照射している。また、ディスク
８での反射光束９は、対物レンズ７により再び平行光束
１０に変換した後、ミラー６で反射させてビームスプリ
ッタ５に入射させ、その反射面５ａを透過する平行光束
１１を、検出レンズ１２および凹レンズ１３を経て収束
光束１４にして偏光ビームスプリッタ１５に入射させ、
ここで非点収差を有するＰ偏光成分およびＳ偏光成分の
光束に分離して、これらを光検出器１６で受光するよう
にしている。

【０００３】偏光ビームスプリッタ１５は、図１４に示
すように、平行四辺形プリズム１５ｂの一方の端面に、
Ｐ偏光を透過し、Ｓ偏光を反射する偏光膜１５ａを介し
て平行四辺形プリズム１５ｂと同じ屈折率で、かつ全反
射面１５ｄを有する透明な平行平板１５ｃを設けると共
に、他方の端面に、反射防止膜１５ｅを介して、平行四
辺形プリズム１５ｂと異なる屈折率で、かつ全反射膜１
５ｇを有する透明な平行平板１５ｆを設けて構成され、
光束１４の入射面と、半導体レーザ光源１の偏光方向と
が４５度の位置関係となるように配置されている。

【０００４】この従来例においては、偏光ビームスプリ
ッタ１５に入射する光束１４を、偏光膜１５ａにおい
て、これを透過するＰ偏光成分と、反射されるＳ偏光成
分とに分離すると共に、偏光膜１５ａを透過するＰ偏光
成分を、平行平板１５ｃの全反射面１５ｄで反射させ
て、再び偏光膜１５ａを透過させ、さらに、これらＰ偏
光成分およびＳ偏光成分を、屈折率が異なる平行平板１
５ｆに入射させて、その反射面１５ｇで反射させること
により、それぞれ非点収差を有するＰ偏光成分の光束１
４ａと、Ｓ偏光成分の光束１４ｂとに分離して出射させ
ている。

【０００５】このようにして、偏光ビームスプリッタ１
５で分離される光束１４ａ，１４ｂを光検出器１６で分
離して受光することにより、非点収差法によりフォーカ
スエラーの検出し、また光束１４ａ，１４ｂの強度差を
取ることにより光磁気記録情報の再生信号を検出するよ
うにしている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】図１３に示した光ピッ
クアップによれば、偏光ビームスプリッタ１５に非点収
差を発生させる機能を持たせるようにしているので、部
品点数を削減できるという利点がある。しかしながら、
この従来例においては、光磁気記録情報を検出するため
に、偏光ビームスプリッタ１５の入射面を、半導体レー
ザ光源１の偏光方向に対して４５度傾けて配置するよう
にしているため、組み立てが繁雑になるという問題があ
る。また、往路の光学系と復路の光学系とをビームスプ
リッタ５で分離するようにしているため、入射側光学系
と検出側光学系とが直角方向に迫り出し、装置の小型化
が困難になるという問題がある。

【０００７】この発明は、上述した従来の問題点を鑑み
てなされたもので、部品点数を削減できると共に、小型
にでき、しかも容易に組み立てできるよう適切に構成し
た光ピックアップを提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の光ピックアップは、光源と、この光源か
らの出射光を光記録媒体に照射する対物レンズと、前記
光源と前記対物レンズとの間に配置され、対向する反射
面を有するプリズムと、このプリズムの一方の反射面に
接合された一軸性複屈折結晶と、この一軸性複屈折結晶
と前記プリズムとの間に設けられた偏光分離膜と、同一
半導体基板上に分離して形成された第１および第２の受
光部とを有し、前記光源からの出射光を前記プリズム、
前記偏光分離膜および前記対物レンズを経て前記光記録
媒体に照射し、該光記録媒体で反射される戻り光を、前
記対物レンズ、前記プリズムおよび前記偏光分離膜を経
て前記一軸性複屈折結晶に入射させて常光と異常光とに
分離して、これらの常光および異常光を前記第１および
第２の受光部で分離して受光し、これら第１および第２
の受光部の出力に基づいて前記記録媒体に記録されてい
る情報の再生信号および前記対物レンズの前記光記録媒
体に対する位置ずれ信号を検出するよう構成したことを
特徴とするものである。

【０００９】さらに、この発明の光ピックアップは、光
源と、この光源からの出射光を光記録媒体に照射する対
物レンズと、前記光源と前記対物レンズとの間に配置さ
れ、対向する反射面を有するプリズムと、このプリズム
の一方の反射面に接合された一軸性複屈折結晶と、この
一軸性複屈折結晶と前記プリズムとの間に設けられた偏
光分離膜と、前記光源と前記プリズムとの間に設けられ
た光路分岐機能を有するホログラムと、同一半導体基板
上に分離して形成された第１および第２の受光部とを有
し、前記光源からの出射光を前記プリズム、前記偏光分
離膜および前記対物レンズを経て前記光記録媒体に照射
し、該光記録媒体で反射される戻り光を、前記対物レン
ズおよび前記プリズムを経て前記偏光分離膜に入射さ
せ、該偏光分離膜を透過する戻り光を前記一軸性複屈折
結晶に入射させて常光と異常光とに分離して、これらの
常光および異常光を前記第１の受光部で分離して受光
し、前記偏光分離膜で反射される戻り光を前記プリズム
および前記ホログラムを経て前記第２の受光部で受光し
て、前記第１の受光部の出力に基づいて前記記録媒体に
記録されている情報の再生信号を検出し、前記第２の受
光部の出力に基づいて前記対物レンズの前記光記録媒体
に対する位置ずれ信号を検出するよう構成したことを特
徴とするものである。

【００１０】前記一軸性複屈折結晶は、平行平板形状、
くさび形状またはプリズム形状とするのが、小型化の点
でより好ましく、特に、くさび形状とする場合には、さ
らにそのくさび角を変えることにより、前記一軸性複屈
折結晶から出射され、前記第１の受光部に入射する常光
と異常光とのスポット位置を変化できるので、設計の自
由度の点で好ましい。また、前記ホログラムは、前記プ
リズムに形成することが、小型化の点でより好ましい。
さらに、前記ホログラムは、前記記録媒体のトラックと
平行な分割線で分割された二つの領域を有することが、
フォーカスエラー信号をナイフエッジ法により検出する
点で好ましい。

【００１１】

【作用】この発明において、光源からの出射光は、前記
プリズム、前記偏光分離膜および前記対物レンズを経て
前記光記録媒体に照射され、その光記録媒体で反射され
る戻り光は、前記対物レンズ、前記プリズムおよび前記
偏光分離膜を経て前記一軸性複屈折結晶に入射して常光
と異常光とに分離される。これらの常光および異常光
は、同一半導体基板に形成された前記第１および第２の
受光部で分離して受光され、これら第１および第２の受
光部の出力に基づいて前記記録媒体に記録されている情
報の再生信号および前記対物レンズの前記光記録媒体に
対する位置ずれ信号が検出される。

【００１２】また、前記光源と前記プリズムとの間にホ
ログラムを有する場合には、前記光源からの出射光は、
前記プリズム、前記偏光分離膜および前記対物レンズを
経て前記光記録媒体に照射され、その光記録媒体で反射
される戻り光は、前記対物レンズおよび前記プリズムを
経て前記偏光分離膜に入射する。この偏光分離膜に入射
した戻り光は、その透過光が前記一軸性複屈折結晶に入
射して常光と異常光とに分離されて前記第１の受光部で
受光され、その出力に基づいて前記記録媒体に記録され
ている情報の再生信号が検出される。また、偏光分離膜
で反射される戻り光は、前記プリズムおよび前記ホログ
ラムを経て前記第２の受光部で受光され、その出力に基
づいて前記対物レンズの前記光記録媒体に対する位置ず
れ信号が検出される。

【００１３】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例につ
いて説明する。図１〜図３は、この発明の第１実施例を
示すものである。図１に全体構成図を示すように、この
実施例の光ピックアップは、半導体レーザ１、平行プリ
ズム２０、平行平板状の一軸性複屈折結晶２１、対物レ
ンズ７および光検出器１６を有する。平行プリズム２０
には、その対向する反射面２０ａ，２０ｅの一方の反射
面、図１では反射面２０ｅに偏光分離膜１８を形成し、
この偏光分離膜１８上に一軸性複屈折結晶２１を接合し
て設ける。また、平行プリズム２０の半導体レーザ１と
対向する面２０ｂには、図２に示すように、光磁気記録
媒体８のトラック方向（ｘ）と平行な分割線で瞳分割し
てホログラム２０ｃ，２０ｄを、例えばエッチング等に
より形成する。

【００１４】なお、偏光分離膜１８は、例えば、Ｓ偏光
の反射率、透過率を８０％および２０％に、Ｐ偏光の反
射率、透過率を０％および１００％に設計する。また、
一軸性複屈折結晶２１は、水晶、ニオブ酸リチウム、方
解石、（ＫＨ₂ＰＯ₄）、ＡＤＰ（ＮＨ₄Ｈ₂Ｐ
Ｏ₄）、ＭｇＦ₂等を用い、その光学軸方向が、紙面に
対して４５度傾いた方向となるように設ける。

【００１５】また、光検出器１６には、図３に示すよう
に、同一半導体基板上に、第１の受光部を構成する受光
領域２４，２５と、第２の受光部を構成する受光領域２
２，２３とを形成する。なお、受光領域２２は、ｘ方向
と平行な分割線で分割した２分割受光領域２２ａ，２２
ｂをもって構成する。

【００１６】このようにして、半導体レーザ１から紙面
垂直方向（ｙ）の直線偏光を出射させ、この出射光を平
行プリズム２０の反射面２０ａで反射させて、偏光分離
膜１８にＳ偏光として入射させ、ここで光磁気記録媒体
８のほぼ法線方向（ｚ）に反射される８０％の光を、平
行プリズム２０から出射させて、対物レンズ７により光
磁気記録媒体８に収束させる。

【００１７】また、光磁気記録媒体８で反射され、カー
回転された戻り光は、再び対物レンズ７および平行プリ
ズム２０を経て偏光分離膜１８にほぼＳ偏光で入射させ
て、該偏光分離膜１８で戻り光のほぼ２０％を透過さ
せ、残りのほぼ８０％を反射させる。ここで、偏光分離
膜１８を透過する戻り光は、偏光分離膜１８がＰ偏光を
１００％透過するので、光磁気信号成分は損失なく透過
光に伝達されることになる。この偏光分離膜１８を透過
する戻り光は、一軸性複屈折結晶２１に入射させて常光
と異常光とを得、これら常光および異常光を、出射面２
１ａを屈折透過させることにより二つの光束に分離し
て、光検出器１６の受光領域２４，２５で受光する。

【００１８】なお、一軸性複屈折結晶２１を透過するこ
とにより得られる常光および異常光は、一軸性複屈折結
晶２１が、例えば正の一軸性複屈折結晶の場合には、常
光の屈折率のほうが異常光の屈折率よりも低くなるの
で、出射面２１ａにおける常光の屈折角が異常光のそれ
よりも小さくなる。したがって、常光が受光領域２５に
入射し、異常光が受光領域２４に入射することになる。
逆に、負の一軸性複屈折結晶の場合には、出射面２１ａ
における異常光のほうが常光よりも屈折角が小さくなる
ので、常光が受光領域２４に入射し、異常光が受光領域
２５に入射することになる。

【００１９】ここで、上述したように、一軸性複屈折結
晶２１は、その光学軸が紙面に対して４５度傾いている
ので、受光領域２４および２５には、光学軸と垂直な偏
光成分である常光および光学軸と平行な成分の異常光が
入射することになる。したがって、これら受光領域２
４，２５の出力の差を検出することにより、いわゆる差
動検出による光磁気再生信号を得ることができる。

【００２０】一方、偏光分離膜１８でほぼ８０％反射さ
れる戻り光は、平行プリズム２０の反射面２０ａで反射
されて、ホログラム２０ｃ，２０ｄに入射させ、ホログ
ラム２０ｃで回折される戻り光を受光領域２２で受光
し、ホログラム２０ｄで回折される戻り光を受光領域２
３で受光する。ここで、ホログラム２０ｃの回折光は、
瞳の半分を通過した光であるので、受光領域２２を構成
する２分割受光領域２２ａ，２２ｂの出力の差を検出す
ることにより、いわゆるナイフエッジ法によってフォー
カスエラー信号を得ることができる。また、受光領域２
２，２３に入射する戻り光は、トラック方向（ｘ）と垂
直な方向（ｙ）の分量分布を反映したものとなるので、
受光領域２２，２３の出力の差、すなわち２分割受光領
域２２ａ，２２ｂの和出力と受光領域２３の出力との差
を検出することにより、プッシュプル法によってトラッ
キングエラー信号を得ることができる。

【００２１】この実施例によれば、全ての光学部品をほ
ぼ平面上に配置することができるので、組み立てを容易
にできると共に、往路および復路をほぼ同一方向にでき
るので、装置を小型化することができる。

【００２２】なお、この実施例では、ホログラム２０
ｃ，２０ｄを平行プリズム２０の半導体レーザ１と対向
する面２０ｄに形成したが、これらのホログラムは平行
プリズム２０の任意の面に形成することができる。ま
た、ホログラム２０ｃ，２０ｄにより光路を分離してフ
ォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を検
出するようにしたが、ホログラム２０ｃ，２０ｄを用い
ず、受光領域２４または２５を４分割して、一軸性複屈
折結晶２１の出射面２１ａを出射するときに発生する非
点収差を利用してフォーカスエラー信号を検出し、また
受光部２５または２５を２分割して、プッシュプル法に
よりトラッキングエラー信号を検出するよう構成するこ
ともできる。

【００２３】さらに、一軸性複屈折結晶２１として、く
さび形状のものや、プリズム形状のものを用いることも
できる。特に、くさび形状のものを用いる場合には、そ
のくさび角を変えることにより光検出器１６に入射する
常光と異常光とのスポットの位置を変化させることがで
きるので、設計の自由度を増すことができる。

【００２４】図４および図５は、この発明の第２実施例
を示すものである。この実施例は、第１実施例におい
て、対物レンズ７を除く光学素子を複合光学ユニット２
６として一体化したものである。複合光学ユニット２６
には、図５に示すように、基板３１を設け、この基板３
１上にサブマウント３０を設けて、このサブマウント３
０の側面に半導体レーザチップ２８をマウントし、上面
に図３に示した受光領域２２，２３，２４，２５を形成
した半導体基板２９をマウントする。また、基板３１に
は、サブマウント３０を囲むように、スペーサ３２を介
して透明な平行平板２７を設け、この平行平板２７の上
面２７ａに、図１に示したように、偏光分離膜１８およ
び一軸性複屈折結晶２１を設けた平行プリズム２０を接
合する。なお、この実施例では、図２に示したホログラ
ム２０ｃ，２０ｄを、平行プリズム２０に形成するので
はなく、平行平板２７の下面２７ｂに形成する。このよ
うにして、第１実施例におけると同様に、光磁気再生信
号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信
号を検出する。

【００２５】この実施例によれば、対物レンズ７を除く
光学素子を複合光学ユニット２６として一体化したの
で、装置全体をより一層小型化することができる。

【００２６】図６および図７は、この発明の第３実施例
を示すものである。この実施例は、第２実施例における
と同様に、第１実施例において、対物レンズ７を除く光
学素子を複合光学ユニット３３として一体化したもので
あるが、この実施例では、偏光分離膜１８および一軸性
複屈折結晶２１を設けた平行プリズム２０を、平行平板
２７の下面２７ｂに接合すると共に、図２に示すホログ
ラム２０ｃ，２０ｄを、第１実施例におけると同様に、
平行プリズム２０の面２０ｂに形成する。このようにし
て、上述した実施例におけると同様に、光磁気再生信
号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信
号を検出する。

【００２７】この実施例によれば、平行プリズム２０が
平行平板２７の下面２７ｂに接合されているので、複合
光学ユニット３３を立方体形状または円筒形状にするこ
とができる。したがって、余分な突起部がなくなるの
で、組み立てを更に容易にできると共に、平行プリズム
２０が複合光学ユニット３３中に封入されることから、
ほこり、湿度等の影響を受けにくくなる。

【００２８】図８および図９は、この発明の第４実施例
の要部を示すものである。この実施例は、第２または第
３実施例において、半導体レーザチップ２８と、受光領
域２２〜２５とを、半導体基板３４に一体化して設けた
ものある。すなわち、図８に平面図を示すように、半導
体基板３４に受光領域２２〜２５を形成すると共に、異
方性エッチング等により凹部３５を形成し、この凹部３
５に、図９に断面図をも示すように半導体レーザチップ
２８をマウントして、半導体レーザチップ２８からの出
射光を、凹部３５の斜面３５ａで反射させるようにす
る。

【００２９】このように、半導体レーザチップ２８と、
受光領域２２〜２５とを、半導体基板３４に一体化して
設ければ、部品点数を一層削減でき、低コスト化が実現
できる。なお、図１に示す第１実施例においても、同様
に、半導体レーザ１と光検出器１６とを、同一の半導体
基板に一体化することができる。

【００３０】図１０および図１１は、この発明の第５実
施例の要部を示すものである。この実施例では、上述し
た第１〜第４実施例のいずれかの構成において、平行プ
リズム２０あるいは平行平板２７に形成するホログラム
を、図１０に示すように、±１次回折光にそれぞれ負、
正のフォーカルパワーを与えるパターンからなるホログ
ラム３６ａと、ｙ軸に対して傾いた等ピッチのパターン
からなるホログラム３６ｂとをもって構成する。また、
光源および第１，第２の受光部は、図１１に示すよう
に、同一半導体基板３７に一体化して設ける。

【００３１】すなわち、図１１において、半導体基板３
７には、第１の受光部を構成する受光領域２４，２５を
形成すると共に、第２の受光部を構成する４つの受光領
域３８，３９，４０，４１を形成する。また、半導体基
板３７には、第４実施例において説明したと同様に、異
方性エッチング等により凹部３５を形成し、この凹部３
５に半導体レーザチップ２８をマウントして、半導体レ
ーザチップ２８からの出射光を、凹部３５の斜面３５ａ
で反射させるようにする。ここで、受光領域３８と３
９、および受光領域４０と４１は、半導体レーザチップ
２８からの出射光の中心光線が、斜面３５ａで反射され
る点に関して、点対称に形成すると共に、受光領域３８
および３９は、それぞれｙ軸方向に平行な２本の分割線
で分割された３分割受光領域３８ａ，３８ｂ，３８ｃお
よび３９ａ，３９ｂ，３９ｃをもって構成する。

【００３２】この実施例においては、光磁気記録媒体８
で反射される戻り光のうち、偏光分離膜１８を透過し、
一軸性複屈折結晶２１を経て分離される常光および異常
光を受光領域２４，２５で受光する。したがって、受光
領域２４，２５の出力に基づいて、上述した実施例にお
けると同様にして検出することができる。

【００３３】また、偏光分離膜１８で反射される戻り光
は、平行プリズム２０の反射面２０ａで反射してホログ
ラム３６ａ，３６ｂに入射させ、ホログラム３６ａで回
折される±１次回折光を受光領域３８，３９で受光し、
ホログラム３６ｂで回折される±１次回折光を受光領域
４０，４１で受光する。

【００３４】ここで、ホログラム３６ａで回折される±
１次回折光は、上述したようにそれぞれ逆のフォーカル
パワーを有するので、負のフォーカルパワーを有する＋
１次回折光は、受光領域３８の後方に焦点を結び、正の
フォーカルパワーを有する−１次回折光は、受光領域３
９の前方で焦点を結ぶことになる。したがって、３分割
受光領域３８ａ，３８ｂ，３８ｃ，３９ａ，３９ｂ，３
９ｃの出力を、それぞれＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆとする
と、フォーカスエラー信号ＦＥは、ビームサイズ法によ
り、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ＋Ｅ）−（Ｂ＋Ｄ＋Ｆ）から得ることができる。また、トラッキングエラー信号
は、プッシュプル法により受光領域３８，３９の和信号
と、受光領域４０，４１の和信号との差から得ることが
できる。

【００３５】この実施例によれば、フォーカスエラー信
号をファーフィールドで検出するようにしたので、受光
領域３８，３９上のスポット径を大きくできる。したが
って、ホログラム３６ａ，３６ｂの位置合わせを容易に
行うことができる。

【００３６】図１２は、この発明の第６実施例を示すも
のである。この実施例は、図１１に示した受光領域２
４，２５，３８，３９，４０，４１および半導体レーザ
チップ２８を有する半導体基板３７と、偏光分離膜１
８、一軸性複屈折結晶２１および図１０に示したホログ
ラム３６ａ，３６ｂを有する平行プリズム２０とを複合
光学ユニット４２として一体化したものである。すなわ
ち、基板３１上に半導体基板３７をマウントすると共
に、スペーサ３２を設け、このスペーサ３２に図５およ
び図７に示した平行平板２７を用いることなく、平行プ
リズム２０を直接マウントしたものである。

【００３７】この実施例によれば、図５および図７に示
した平行平板２７が不要となるので、部品点数をより削
減することができ、より低コスト化を図ることができ
る。

【００３８】なお、この発明は、上述した実施例にのみ
限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可能
である。例えば、上述した各実施例において、平行プリ
ズム２０の反射面２０ａ上に光検出器を貼り付けること
により、反射面２０ａを透過する光を用いて半導体レー
ザ１や半導体レーザチップ２８からの出射光量のモニタ
ーを行うこともできる。また、第２〜６実施例において
も、第１実施例におけると同様に、一軸性複屈折結晶２
１として、くさび形状のものや、プリズム形状のものを
用いることもできる。

【００３９】さらに、上述した各実施例では、光磁気記
録媒体に一本のビームを照射する１ビーム法を適用した
が、記録・再生用の１本のメインビームとトラッキング
用の２本のサブビームとを用いる、いわゆる３ビーム法
を適用することもできる。この場合には、例えば、図５
において、平行平板２７の下面２７ｂに３ビーム用の回
折格子を設け、上面２７ａまたはこれと対向する平行プ
リズム２０の面２０ｂにフォーカスエラー信号をも検出
し得るように、ホログラムを設ければよい。

【００４０】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、部品
点数が少なく、小型で組み立てが容易な光ピックアップ
を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１実施例を示す図である。

【図２】図１に示すホログラムを示す図である。

【図３】図１に示す光検出器の構成を示す図である。

【図４】この発明の第２実施例を示す図である。

【図５】図４に示す複合光学ユニットの構成を示す図で
ある。

【図６】この発明の第３実施例を示す図である。

【図７】図６に示す複合光学ユニットの構成を示す図で
ある。

【図８】この発明の第４実施例の要部を示す図である。

【図９】図８の部分断面図である。

【図１０】この発明の第５実施例の要部の構成を説明す
るための図である。

【図１１】同じく、第５実施例の要部の構成を説明する
ための図である。

【図１２】この発明の第６実施例の要部の構成を示す図
である。

【図１３】従来の技術を説明するための図である。

【図１４】図１３に示す偏光ビームスプリッタの構成を
示す図である。

【符号の説明】

１半導体レーザ７対物レンズ８光磁気記録媒体１６光検出器１８偏光分離膜２０平行プリズム２０ａ，２０ｅ反射面２０ｃ，２０ｄホログラム２１一軸性複屈折結晶２２，２３，２４，２５，３８，３９，４０，４１受
光領域２６，３３，４２複合光学ユニット２７平行平板２８半導体レーザチップ２９，３４，３７半導体基板３０サブマウント３１基板３２スペーサ３５凹部３５ａ斜面３６ａ，３６ｂホログラム

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源と、この光源からの出射光を光記録媒
体に照射する対物レンズと、前記光源と前記対物レンズ
との間に配置され、対向する反射面を有するプリズム
と、このプリズムの一方の反射面に接合された一軸性複
屈折結晶と、この一軸性複屈折結晶と前記プリズムとの
間に設けられた偏光分離膜と、同一半導体基板上に分離
して形成された第１および第２の受光部とを有し、前記光源からの出射光を前記プリズム、前記偏光分離膜
および前記対物レンズを経て前記光記録媒体に照射し、
該光記録媒体で反射される戻り光を、前記対物レンズ、
前記プリズムおよび前記偏光分離膜を経て前記一軸性複
屈折結晶に入射させて常光と異常光とに分離して、これ
らの常光および異常光を前記第１および第２の受光部で
分離して受光し、これら第１および第２の受光部の出力
に基づいて前記記録媒体に記録されている情報の再生信
号および前記対物レンズの前記光記録媒体に対する位置
ずれ信号を検出するよう構成したことを特徴とする光ピ
ックアップ。
【請求項２】光源と、この光源からの出射光を光記録媒
体に照射する対物レンズと、前記光源と前記対物レンズ
との間に配置され、対向する反射面を有するプリズム
と、このプリズムの一方の反射面に接合された一軸性複
屈折結晶と、この一軸性複屈折結晶と前記プリズムとの
間に設けられた偏光分離膜と、前記光源と前記プリズム
との間に設けられた光路分岐機能を有するホログラム
と、同一半導体基板上に分離して形成された第１および
第２の受光部とを有し、前記光源からの出射光を前記プリズム、前記偏光分離膜
および前記対物レンズを経て前記光記録媒体に照射し、
該光記録媒体で反射される戻り光を、前記対物レンズお
よび前記プリズムを経て前記偏光分離膜に入射させ、該
偏光分離膜を透過する戻り光を前記一軸性複屈折結晶に
入射させて常光と異常光とに分離して、これらの常光お
よび異常光を前記第１の受光部で分離して受光し、前記
偏光分離膜で反射される戻り光を前記プリズムおよび前
記ホログラムを経て前記第２の受光部で受光して、前記
第１の受光部の出力に基づいて前記記録媒体に記録され
ている情報の再生信号を検出し、前記第２の受光部の出
力に基づいて前記対物レンズの前記光記録媒体に対する
位置ずれ信号を検出するよう構成したことを特徴とする
光ピックアップ。
【請求項３】前記一軸性複屈折結晶を、平行平板形状、
くさび形状またはプリズム形状としたことを特徴とする
請求項１または記載の光ピックアップ。
【請求項４】前記ホログラムを、前記プリズムに形成し
たことを特徴とする請求項２または３記載の光ピックア
ップ。
【請求項５】前記ホログラムは、前記記録媒体のトラッ
クと平行な分割線で分割された二つの領域を有すること
を特徴とする請求項２，３または４記載の光ピックアッ
プ。