JPH07243974A - ハニカムパネルの検査装置 - Google Patents
ハニカムパネルの検査装置Info
- Publication number
- JPH07243974A JPH07243974A JP3676494A JP3676494A JPH07243974A JP H07243974 A JPH07243974 A JP H07243974A JP 3676494 A JP3676494 A JP 3676494A JP 3676494 A JP3676494 A JP 3676494A JP H07243974 A JPH07243974 A JP H07243974A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- honeycomb panel
- face plate
- displacement
- honeycomb
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は，ハニカムパネルの片面側からのみ
でもハニカムパネルの接合状態の良否を安定的に検査す
ることの可能なハニカムパネルの検査装置の提供を目的
する。 【構成】 コンプレッサ３によりハニカムパネル２の内
部を加圧すると，ハニカムコア６と接合されていない面
板４の部分が膨らむ。従って，このように膨らんだ面板
４の変位状況を変位検出装置５により検出し，その検出
結果に基づいてハニカムパネルの接合状態の欠陥の有無
を判定することができる。
でもハニカムパネルの接合状態の良否を安定的に検査す
ることの可能なハニカムパネルの検査装置の提供を目的
する。 【構成】 コンプレッサ３によりハニカムパネル２の内
部を加圧すると，ハニカムコア６と接合されていない面
板４の部分が膨らむ。従って，このように膨らんだ面板
４の変位状況を変位検出装置５により検出し，その検出
結果に基づいてハニカムパネルの接合状態の欠陥の有無
を判定することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，ハニカムパネルの接合
部における欠陥の有無を検査するための装置に関するも
のである。
部における欠陥の有無を検査するための装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】ハニカムパネルでは，軽量で強度を有す
るという特徴があり，建築，車両および船舶等の分野で
広く使用されている。ハニカムパネルは，一対の面板の
間にハニカムコアが挟まれた構造を有し，ハニカムコア
は，１２０°の角度を成して屈曲する波状のコア部材を
面対象となるように重ね合わせて構成されている。これ
らのコア部同士及びコア部材と面板とは，接着剤または
ろう付けにより接合されて組み立てられている。しかし
ハニカムパネルにおいては，この接合部分が極めて多
く，その総てを完全な状態で接合することは極めて困難
なため，どうしても不完全な接合部分が生じる。このた
め，ハニカムパネルの組立後に検査をする必要がある。
従来この検査には，打音検査，透過超音波法などが用い
られていた。打音検査は，検査者がパネルの面板をたた
き，経験的にわかっている健全部と不良部における打音
の違いを聞き分けることによって不良を発見するもので
ある。他方，透過超音波法では，例えば特開昭６３−２
６３４６７号公報に開示されているように，基本的には
ハニカムパネルを構成する上下の面板を挟んで送信探触
子及び受信探触子を正確に対向させ，両探触子に給水設
備より水を供給してこの両探触子から水を発射する。そ
して，その水が水柱となるように給水設備の水圧が調整
され，送信探触子から超音波がこの水柱を通ってハニカ
ムパネルに向けて出射される。その後，上記超音波は，
面板，ハニカムコア，面板を通過して再び受信側の水柱
を通って受信探触子にて受信される。そして，この時の
受信波の状態からハニカムパネルの接合部分における欠
陥の有無が判断される。
るという特徴があり，建築，車両および船舶等の分野で
広く使用されている。ハニカムパネルは，一対の面板の
間にハニカムコアが挟まれた構造を有し，ハニカムコア
は，１２０°の角度を成して屈曲する波状のコア部材を
面対象となるように重ね合わせて構成されている。これ
らのコア部同士及びコア部材と面板とは，接着剤または
ろう付けにより接合されて組み立てられている。しかし
ハニカムパネルにおいては，この接合部分が極めて多
く，その総てを完全な状態で接合することは極めて困難
なため，どうしても不完全な接合部分が生じる。このた
め，ハニカムパネルの組立後に検査をする必要がある。
従来この検査には，打音検査，透過超音波法などが用い
られていた。打音検査は，検査者がパネルの面板をたた
き，経験的にわかっている健全部と不良部における打音
の違いを聞き分けることによって不良を発見するもので
ある。他方，透過超音波法では，例えば特開昭６３−２
６３４６７号公報に開示されているように，基本的には
ハニカムパネルを構成する上下の面板を挟んで送信探触
子及び受信探触子を正確に対向させ，両探触子に給水設
備より水を供給してこの両探触子から水を発射する。そ
して，その水が水柱となるように給水設備の水圧が調整
され，送信探触子から超音波がこの水柱を通ってハニカ
ムパネルに向けて出射される。その後，上記超音波は，
面板，ハニカムコア，面板を通過して再び受信側の水柱
を通って受信探触子にて受信される。そして，この時の
受信波の状態からハニカムパネルの接合部分における欠
陥の有無が判断される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが，上述の打音
検査によっては，検出能力が低く，検査員の熟練度によ
って不良検出率がばらつくという問題点があった。また
上記公報に開示の透過超音波法では，ハニカムコアと上
下の面板との接合の良否を同時に評価できる利点はある
ものの，両探触子を１組としてハニカムパネルの表裏面
において同一軸線上に一致するように対向配備して操作
する必要があることから，装置全体が大型化すると共に
複雑化するという問題点があった。。かかる傾向は，特
に大型のハニカムパネルや曲面のハニカムパネルにおけ
る接合部分の良否を判断する場合に顕著に現れる。そこ
で，本発明は，上記事情に鑑みて創案されたものであ
り，ハニカムパネルの片面側からのみでもハニカムパネ
ルの接合状態の良否を安定的に検査することの可能なハ
ニカムパネルの検査装置の提供を目的とするものであ
る。
検査によっては，検出能力が低く，検査員の熟練度によ
って不良検出率がばらつくという問題点があった。また
上記公報に開示の透過超音波法では，ハニカムコアと上
下の面板との接合の良否を同時に評価できる利点はある
ものの，両探触子を１組としてハニカムパネルの表裏面
において同一軸線上に一致するように対向配備して操作
する必要があることから，装置全体が大型化すると共に
複雑化するという問題点があった。。かかる傾向は，特
に大型のハニカムパネルや曲面のハニカムパネルにおけ
る接合部分の良否を判断する場合に顕著に現れる。そこ
で，本発明は，上記事情に鑑みて創案されたものであ
り，ハニカムパネルの片面側からのみでもハニカムパネ
ルの接合状態の良否を安定的に検査することの可能なハ
ニカムパネルの検査装置の提供を目的とするものであ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に，本発明が採用する主たる手段は，その要旨とすると
ころが，ハニカムコアの両端縁が面板に接合され，内部
に形成された複数の室が通気孔により相互に連通されて
なるハニカムパネルの接合状態を検査する装置におい
て，上記ハニカムパネルに接続され，該ハニカムパネル
内部の気圧を高める加圧手段と，上記加圧手段により加
圧されて膨らんだ面板の変位状況を検出する変位検出手
段と，上記変位検出手段により検出された面板の変位状
況に基づいてハニカムパネルの接合状態の欠陥の有無を
判定する判定手段とを具備してなる点に係るハニカムパ
ネルの検査装置である。
に，本発明が採用する主たる手段は，その要旨とすると
ころが，ハニカムコアの両端縁が面板に接合され，内部
に形成された複数の室が通気孔により相互に連通されて
なるハニカムパネルの接合状態を検査する装置におい
て，上記ハニカムパネルに接続され，該ハニカムパネル
内部の気圧を高める加圧手段と，上記加圧手段により加
圧されて膨らんだ面板の変位状況を検出する変位検出手
段と，上記変位検出手段により検出された面板の変位状
況に基づいてハニカムパネルの接合状態の欠陥の有無を
判定する判定手段とを具備してなる点に係るハニカムパ
ネルの検査装置である。
【０００５】
【作用】加圧手段によりハニカムパネル内部を加圧する
と，ハニカムコアの接合されていない面板の部分が膨ら
む。従って，このように膨らんだ面板の変位状況を検出
し，その検出結果に基づいてハニカムパネルの接合状態
の欠陥の有無を判定することができる。即ち，図２に示
すように，健全な接合がなされた状態での面板の変位量
はＤ1，接合不良部を有する状態での面板の変位量はＤ
2 ，そして，これらはＤ1 ＜Ｄ 2 の関係となり，例えば
接合良／否の判定に際してのしきい値ｃはＤ1 ＜ｃ＜Ｄ
2 の範囲で決定するとよい。
と，ハニカムコアの接合されていない面板の部分が膨ら
む。従って，このように膨らんだ面板の変位状況を検出
し，その検出結果に基づいてハニカムパネルの接合状態
の欠陥の有無を判定することができる。即ち，図２に示
すように，健全な接合がなされた状態での面板の変位量
はＤ1，接合不良部を有する状態での面板の変位量はＤ
2 ，そして，これらはＤ1 ＜Ｄ 2 の関係となり，例えば
接合良／否の判定に際してのしきい値ｃはＤ1 ＜ｃ＜Ｄ
2 の範囲で決定するとよい。
【０００６】
【実施例】以下添付図面を参照して，本発明を具体化し
た実施例につき説明し，本発明の理解に供する。尚，以
下の実施例は，本発明を具体化した一例であって，本発
明の技術的範囲を限定する性格のものではない。ここ
に，図１は本発明の一実施例に係るハニカムパネルの検
査装置を示すものであって，（ａ）は概略構成図，
（ｂ）は上記検査装置を構成する変位検出手段の側面
図，（ｃ）は同正面図，図２は上記検査装置を用いて接
合状態を検査する場合のハニカムパネルの状況を示す側
断面図，図３は上記検査装置を用いてハニカムパネルの
面板の変位量を求める場合の説明図，図４は検査対象と
なるハニカムパネルの組立例を示すものであって，
（ａ）は正断面図，（ｂ）は平断面図である。この実施
例に係る検査装置１では，図１及び図２に示す如く，ハ
ニカムパネル２に接続されて該ハニカムパネル２内部の
気圧を高めるコンプレッサ３（加圧手段）と，上記コン
プレッサ３により加圧されて膨らんだ上記ハニカムパネ
ル２を構成する面板４の変位状況を検出する変位検出装
置５と，上記変位検出装置５により検出された面板４の
変位状況に基づいてハニカムパネル２を構成する上記面
板４とハニカムコア６との接合状態の欠陥の有無を判定
する判定装置７と，上記変位検出装置５を搭載し，上記
ハニカムパネル２の面板４と平行の面内で２次元方向へ
移動させる移動機構８と，上記ハニカムパネル２を上記
変位検出装置５に対して１８０°反転させる反転機構９
とを具備して構成されている。即ち，上記ハニカムパネ
ル２は，ハニカムコア６の両端縁が面板４，４に接合さ
れて，内部に複数の室１０，１０，…が形成されてい
る。そして，この各室１０は，通気孔１１により相互に
連通されている。
た実施例につき説明し，本発明の理解に供する。尚，以
下の実施例は，本発明を具体化した一例であって，本発
明の技術的範囲を限定する性格のものではない。ここ
に，図１は本発明の一実施例に係るハニカムパネルの検
査装置を示すものであって，（ａ）は概略構成図，
（ｂ）は上記検査装置を構成する変位検出手段の側面
図，（ｃ）は同正面図，図２は上記検査装置を用いて接
合状態を検査する場合のハニカムパネルの状況を示す側
断面図，図３は上記検査装置を用いてハニカムパネルの
面板の変位量を求める場合の説明図，図４は検査対象と
なるハニカムパネルの組立例を示すものであって，
（ａ）は正断面図，（ｂ）は平断面図である。この実施
例に係る検査装置１では，図１及び図２に示す如く，ハ
ニカムパネル２に接続されて該ハニカムパネル２内部の
気圧を高めるコンプレッサ３（加圧手段）と，上記コン
プレッサ３により加圧されて膨らんだ上記ハニカムパネ
ル２を構成する面板４の変位状況を検出する変位検出装
置５と，上記変位検出装置５により検出された面板４の
変位状況に基づいてハニカムパネル２を構成する上記面
板４とハニカムコア６との接合状態の欠陥の有無を判定
する判定装置７と，上記変位検出装置５を搭載し，上記
ハニカムパネル２の面板４と平行の面内で２次元方向へ
移動させる移動機構８と，上記ハニカムパネル２を上記
変位検出装置５に対して１８０°反転させる反転機構９
とを具備して構成されている。即ち，上記ハニカムパネ
ル２は，ハニカムコア６の両端縁が面板４，４に接合さ
れて，内部に複数の室１０，１０，…が形成されてい
る。そして，この各室１０は，通気孔１１により相互に
連通されている。
【０００７】上記コンプレッサ３は，一の通気孔１１に
取り付けられたバルブを介して接続され，各室１０同士
を連通する通気孔１１を除いて外気に直接通じる他の通
気孔１１は全て封止される（尚，ハニカムパネル２を型
枠１９（図４（ａ），（ｂ）参照）内に組み込んだ状態
で接合不良の有無を検出する場合には，上記型枠１９の
側面にバルブ２０が取り付けられる）。上記変位検出装
置５は，面板４の表面に輝線１２を投射する例えばＨｅ
−Ｎｅレーザ１３（光源）と，上記輝線１２の投射方向
に対して傾斜した方向から撮像するＣＣＤカメラ１４等
を有して構成されている。即ち，円筒面レンズ１５によ
って広げられた上記Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３からのシート
状レーザ光をハニカムパネルの面板４に照射すると，こ
のシート状レーザ光を含む平面と上記面板４の表面との
交線上ではこの面板４の表面がレーザ光を散乱して上記
輝線１２が生じる。この輝線１２を，Ｈｅ−Ｎｅレーザ
の発振波長である６３２．８ｎｍを中心透過帯とする干
渉フィルタ１６を備え，この光軸が上記シート状レーザ
光を含む平面に対して角度θだけ傾斜して配置された上
記ＣＣＤカメラ１４により撮像する。尚，上記干渉フィ
ルタ１６は，測定ノイズとなるレーザ光以外の外乱光が
上記ＣＣＤカメラ１４に入らないようにするために設け
たものである。ここで，上記ＣＣＤカメラ１４により撮
像された輝線の画像を図３（ａ）に示す。そして，上記
画像から面板４の変位量を計算するために，上記判定装
置７により以下の処理が行われる。
取り付けられたバルブを介して接続され，各室１０同士
を連通する通気孔１１を除いて外気に直接通じる他の通
気孔１１は全て封止される（尚，ハニカムパネル２を型
枠１９（図４（ａ），（ｂ）参照）内に組み込んだ状態
で接合不良の有無を検出する場合には，上記型枠１９の
側面にバルブ２０が取り付けられる）。上記変位検出装
置５は，面板４の表面に輝線１２を投射する例えばＨｅ
−Ｎｅレーザ１３（光源）と，上記輝線１２の投射方向
に対して傾斜した方向から撮像するＣＣＤカメラ１４等
を有して構成されている。即ち，円筒面レンズ１５によ
って広げられた上記Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３からのシート
状レーザ光をハニカムパネルの面板４に照射すると，こ
のシート状レーザ光を含む平面と上記面板４の表面との
交線上ではこの面板４の表面がレーザ光を散乱して上記
輝線１２が生じる。この輝線１２を，Ｈｅ−Ｎｅレーザ
の発振波長である６３２．８ｎｍを中心透過帯とする干
渉フィルタ１６を備え，この光軸が上記シート状レーザ
光を含む平面に対して角度θだけ傾斜して配置された上
記ＣＣＤカメラ１４により撮像する。尚，上記干渉フィ
ルタ１６は，測定ノイズとなるレーザ光以外の外乱光が
上記ＣＣＤカメラ１４に入らないようにするために設け
たものである。ここで，上記ＣＣＤカメラ１４により撮
像された輝線の画像を図３（ａ）に示す。そして，上記
画像から面板４の変位量を計算するために，上記判定装
置７により以下の処理が行われる。
【０００８】即ち，ハニカムパネル２の面板４が加圧さ
れることによって図１（ｂ）中に破線で示されるように
上方へ変位すると，輝線１２も面板４に応じて変位す
る。上記ＣＣＤカメラ１４は，この輝線１２を角度θ傾
斜した位置で撮像していることから，上記変位は画像中
において輝線１２の横方向への変位となって現れる。従
って，ハニカムパネル２に対して加圧する前後において
上記輝線１２の画像中での変位ΔＵを測定することによ
り，ハニカムパネル２の面板４の変位ΔＸを検出するこ
とができる。ここで，例えばｉ番目の走査線上における
加圧前の輝線１２の位置をＨｉ（画素），圧力を印加し
た後の輝線１２の位置をＨｉ′（画素）とし（図３
（ａ）参照），上記ＣＣＤカメラ１４のＣＣＤ素子の１
画素の大きさをＵとすれば， ΔＵｉ＝Ｕ・（Ｈｉ′−Ｈｉ） … となる。上記ＣＣＤカメラ１４の結像倍率をｍとすれ
ば，加圧前後における上記面板４の変位は ΔＸｉ＝ｍ・ΔＵｉ・ sinθ … で与えられる。上記，式から，ｉ番目の走査線にお
ける面板４の変位を検出することができる。
れることによって図１（ｂ）中に破線で示されるように
上方へ変位すると，輝線１２も面板４に応じて変位す
る。上記ＣＣＤカメラ１４は，この輝線１２を角度θ傾
斜した位置で撮像していることから，上記変位は画像中
において輝線１２の横方向への変位となって現れる。従
って，ハニカムパネル２に対して加圧する前後において
上記輝線１２の画像中での変位ΔＵを測定することによ
り，ハニカムパネル２の面板４の変位ΔＸを検出するこ
とができる。ここで，例えばｉ番目の走査線上における
加圧前の輝線１２の位置をＨｉ（画素），圧力を印加し
た後の輝線１２の位置をＨｉ′（画素）とし（図３
（ａ）参照），上記ＣＣＤカメラ１４のＣＣＤ素子の１
画素の大きさをＵとすれば， ΔＵｉ＝Ｕ・（Ｈｉ′−Ｈｉ） … となる。上記ＣＣＤカメラ１４の結像倍率をｍとすれ
ば，加圧前後における上記面板４の変位は ΔＸｉ＝ｍ・ΔＵｉ・ sinθ … で与えられる。上記，式から，ｉ番目の走査線にお
ける面板４の変位を検出することができる。
【０００９】図３（ｂ）は，ｉ番目の走査線上の画素の
輝度値を縦軸に，走査線上の位置を横軸に取ったグラフ
を示している。この輝線を現す画像から輝線の位置Ｈｉ
を抽出するには，輝度値の重心の位置を求めればよく，
ｉ番目の走査線上のｋ番目の画素の輝度値をＩｋとすれ
ば， Ｈｉ＝Σｋ・Ｉｋ／Σｋ … によって求めることができる。上記移動機構８は，例え
ば２軸のＸＹステージによって構成され，上記変位検出
装置５を支持して平面的に走査することによりハニカム
パネル２の全面の検査を行うためのものである。そし
て，上記ハニカムパネル２は，レール１７上に載置され
た台車１８により支持され，この台車１８によって上記
検査装置１に対して出し入れが行われる。また，上記台
車１８には，上述の反転機構９が取り付けられている。
引き続き，上記構成に係る検査装置１を用いて，ハニカ
ムパネル２の接合状態の欠陥の有無を検査する場合の手
順について説明する。まず，検査対象となるハニカムパ
ネル２を台車１８上にセットし，上記検査装置１の直下
で固定する。上記変位検出装置５を上記移動機構８によ
り移動させ，Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３からのシート状レー
ザ光で上記ハニカムパネル２の面板４を照射しながら，
順次輝線の画像Ｇｊをメモリに記録する。同時に，上記
移動機構８に備えられたエンコーダ（不図示）からの位
置情報を記録する。この位置情報は，接合不良部の位置
を特定する際に用いられるものである。上記のようにし
て面板４の片面についての操作が行われる。
輝度値を縦軸に，走査線上の位置を横軸に取ったグラフ
を示している。この輝線を現す画像から輝線の位置Ｈｉ
を抽出するには，輝度値の重心の位置を求めればよく，
ｉ番目の走査線上のｋ番目の画素の輝度値をＩｋとすれ
ば， Ｈｉ＝Σｋ・Ｉｋ／Σｋ … によって求めることができる。上記移動機構８は，例え
ば２軸のＸＹステージによって構成され，上記変位検出
装置５を支持して平面的に走査することによりハニカム
パネル２の全面の検査を行うためのものである。そし
て，上記ハニカムパネル２は，レール１７上に載置され
た台車１８により支持され，この台車１８によって上記
検査装置１に対して出し入れが行われる。また，上記台
車１８には，上述の反転機構９が取り付けられている。
引き続き，上記構成に係る検査装置１を用いて，ハニカ
ムパネル２の接合状態の欠陥の有無を検査する場合の手
順について説明する。まず，検査対象となるハニカムパ
ネル２を台車１８上にセットし，上記検査装置１の直下
で固定する。上記変位検出装置５を上記移動機構８によ
り移動させ，Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３からのシート状レー
ザ光で上記ハニカムパネル２の面板４を照射しながら，
順次輝線の画像Ｇｊをメモリに記録する。同時に，上記
移動機構８に備えられたエンコーダ（不図示）からの位
置情報を記録する。この位置情報は，接合不良部の位置
を特定する際に用いられるものである。上記のようにし
て面板４の片面についての操作が行われる。
【００１０】引き続き，コンプレッサ３を作動してハニ
カムパネル２に高圧空気を送り込むと，この高圧空気は
通気孔１１を通してハニカムコア６によって仕切られた
各室１０へ進入して行き，面板４をその内部から押す力
が発生する。図２（ａ）に健全な接合がなされているハ
ニカムパネル２の断面を示す。即ち，面板４とハニカム
コア６との接合部は全てコア材によって固定されてお
り，その間の非接合部分が破線で示される如くＤ1 だけ
上方へ変位する。同図（ｂ）は接合状態に欠陥を有する
ハニカムパネル２の断面を示したもので，欠陥部分近傍
においては本来固定されているべき接合部分が固定され
ていないためにＤ2 の量だけ変位する。この状態で，同
様の手順にて面板４の全面に対する輝線画像Ｇｊ′を記
録する。上記輝線画像Ｇｊ，Ｇｊ′の画像から対応する
ｉ番目の輝線の位置Ｈｉ，Ｈｉ′を求めれば，上記，
式からｉ番目の走査線における面板４の変位ΔＸｉを
求めることができる。このような処理を全画像について
行うことで，面板４全体での圧力印加による変位量を求
めることができる。引き続き，反転機構９によりハニカ
ムパネル２を１８０°反転させて，他方の面板４に対し
ても上記と同様の手順にて処理を実施する。そして，こ
の変位が予め定めた非接合部における変位（Ｄ1 ）と接
合不良部における変位（Ｄ2 ）とを弁別するための閾値
ｃを超えたところを接合不良部と判定することができ
る。ここで，上記閾値ｃを求める手順を示す。
カムパネル２に高圧空気を送り込むと，この高圧空気は
通気孔１１を通してハニカムコア６によって仕切られた
各室１０へ進入して行き，面板４をその内部から押す力
が発生する。図２（ａ）に健全な接合がなされているハ
ニカムパネル２の断面を示す。即ち，面板４とハニカム
コア６との接合部は全てコア材によって固定されてお
り，その間の非接合部分が破線で示される如くＤ1 だけ
上方へ変位する。同図（ｂ）は接合状態に欠陥を有する
ハニカムパネル２の断面を示したもので，欠陥部分近傍
においては本来固定されているべき接合部分が固定され
ていないためにＤ2 の量だけ変位する。この状態で，同
様の手順にて面板４の全面に対する輝線画像Ｇｊ′を記
録する。上記輝線画像Ｇｊ，Ｇｊ′の画像から対応する
ｉ番目の輝線の位置Ｈｉ，Ｈｉ′を求めれば，上記，
式からｉ番目の走査線における面板４の変位ΔＸｉを
求めることができる。このような処理を全画像について
行うことで，面板４全体での圧力印加による変位量を求
めることができる。引き続き，反転機構９によりハニカ
ムパネル２を１８０°反転させて，他方の面板４に対し
ても上記と同様の手順にて処理を実施する。そして，こ
の変位が予め定めた非接合部における変位（Ｄ1 ）と接
合不良部における変位（Ｄ2 ）とを弁別するための閾値
ｃを超えたところを接合不良部と判定することができ
る。ここで，上記閾値ｃを求める手順を示す。
【００１１】図２において，欠陥部近傍では見掛け上コ
アピッチが大きくなることから，Ｄ 1 ＜Ｄ2 となる。従
って，加圧前後の面板４の変位を測定し，Ｄ1 ＜ｃ＜Ｄ
2 なる閾値を超える変位が検出された場所が欠陥部位と
認定できる。尚ここで，接合不良部の場所は，この接合
不良が発見された画像データに対応する上記移動機構８
からの位置情報に基づいて求めることができる。このよ
うに本実施例に係る検査装置１においては，ハニカムパ
ネルの片面側からのみでもこのハニカムパネル２の接合
状態の良否を安定的に検査することができる。そして，
この接合不良部の位置を，直接的且つ確実に特定するこ
とができる。ここで，上記実施例においては，光源とし
てＨｅ−Ｎｅレーザ１３に代えて例えばキセノンランプ
のような高輝度の光源を用いることも可能である。ま
た，上記変位検出装置５の設置台数を増やしてハニカム
パネル２に対する走査回数を減少させ，検査の効率化を
図るようにしてもよい。この場合，上記変位検出装置５
をハニカムパネル２の裏面側へも対応させてこのハニカ
ムパネル２の表／裏を同時に走査してその効率化を図る
ことも可能である。上記変位検出装置５としては，上述
のＨｅ−Ｎｅレーザ１３やＣＣＤカメラ１４に代えて，
例えば上記移動機構８に差動トランスを取り付けると共
に，この差動トランスのスピンドルの先端にローラを設
け，このローラを面板４の上面に添って移動させること
により変位量を検出するようにしてもよい。更には渦電
流変位センサをその検出面が面板４から一定距離となる
ように上記移動機構８により支持して走査し，渦電流の
強度，位相の変化から変位量を検出するようにしてもよ
い。その他，非接触で変位を検出する装置として，例え
ば静電容量型変位計，空気マイクロメータ等を使用する
ことも可能である。更に，加圧手段とては，上記コンプ
レッサ３に代えて予め高圧ガスを封入したボンベを用い
るようにしてもよい。
アピッチが大きくなることから，Ｄ 1 ＜Ｄ2 となる。従
って，加圧前後の面板４の変位を測定し，Ｄ1 ＜ｃ＜Ｄ
2 なる閾値を超える変位が検出された場所が欠陥部位と
認定できる。尚ここで，接合不良部の場所は，この接合
不良が発見された画像データに対応する上記移動機構８
からの位置情報に基づいて求めることができる。このよ
うに本実施例に係る検査装置１においては，ハニカムパ
ネルの片面側からのみでもこのハニカムパネル２の接合
状態の良否を安定的に検査することができる。そして，
この接合不良部の位置を，直接的且つ確実に特定するこ
とができる。ここで，上記実施例においては，光源とし
てＨｅ−Ｎｅレーザ１３に代えて例えばキセノンランプ
のような高輝度の光源を用いることも可能である。ま
た，上記変位検出装置５の設置台数を増やしてハニカム
パネル２に対する走査回数を減少させ，検査の効率化を
図るようにしてもよい。この場合，上記変位検出装置５
をハニカムパネル２の裏面側へも対応させてこのハニカ
ムパネル２の表／裏を同時に走査してその効率化を図る
ことも可能である。上記変位検出装置５としては，上述
のＨｅ−Ｎｅレーザ１３やＣＣＤカメラ１４に代えて，
例えば上記移動機構８に差動トランスを取り付けると共
に，この差動トランスのスピンドルの先端にローラを設
け，このローラを面板４の上面に添って移動させること
により変位量を検出するようにしてもよい。更には渦電
流変位センサをその検出面が面板４から一定距離となる
ように上記移動機構８により支持して走査し，渦電流の
強度，位相の変化から変位量を検出するようにしてもよ
い。その他，非接触で変位を検出する装置として，例え
ば静電容量型変位計，空気マイクロメータ等を使用する
ことも可能である。更に，加圧手段とては，上記コンプ
レッサ３に代えて予め高圧ガスを封入したボンベを用い
るようにしてもよい。
【００１２】
【発明の効果】本発明は，上記したように，ハニカムコ
アの両端縁が面板に接合され，内部に形成された複数の
室が通気孔により相互に連通されてなるハニカムパネル
の接合状態を検査する装置において，上記ハニカムパネ
ルに接続され，該ハニカムパネル内部の気圧を高める加
圧手段と，上記加圧手段により加圧されて膨らんだ面板
の変位状況を検出する変位検出手段と，上記変位検出手
段により検出された面板の変位状況に基づいてハニカム
パネルの接合状態の欠陥の有無を判定する判定手段とを
具備してなることを特徴とするハニカムパネルの検査装
置であるから，ハニカムパネルの片面側からのみでもこ
のハニカムパネルの接合状態の良否を安定的に検査する
ことができる。更に本発明では，欠陥が存在し，面板と
ハニカムコアの接合不良の結果発生する面板の変位を直
接検出しているので，欠陥の存在をより確実に判定する
ことができる。
アの両端縁が面板に接合され，内部に形成された複数の
室が通気孔により相互に連通されてなるハニカムパネル
の接合状態を検査する装置において，上記ハニカムパネ
ルに接続され，該ハニカムパネル内部の気圧を高める加
圧手段と，上記加圧手段により加圧されて膨らんだ面板
の変位状況を検出する変位検出手段と，上記変位検出手
段により検出された面板の変位状況に基づいてハニカム
パネルの接合状態の欠陥の有無を判定する判定手段とを
具備してなることを特徴とするハニカムパネルの検査装
置であるから，ハニカムパネルの片面側からのみでもこ
のハニカムパネルの接合状態の良否を安定的に検査する
ことができる。更に本発明では，欠陥が存在し，面板と
ハニカムコアの接合不良の結果発生する面板の変位を直
接検出しているので，欠陥の存在をより確実に判定する
ことができる。
【図１】 本発明の一実施例に係るハニカムパネルの検
査装置を示すものであって，（ａ）は概略構成図，
（ｂ）は上記検査装置を構成する変位検出手段の側面
図，（ｃ）は同正面図。
査装置を示すものであって，（ａ）は概略構成図，
（ｂ）は上記検査装置を構成する変位検出手段の側面
図，（ｃ）は同正面図。
【図２】 上記検査装置を用いて接合状態を検査する場
合のハニカムパネルの状況を示す側断面図。
合のハニカムパネルの状況を示す側断面図。
【図３】 上記検査装置を用いてハニカムパネルの面板
の変位量を求める場合の説明図。
の変位量を求める場合の説明図。
【図４】 検査対象となるハニカムパネルの組立例を示
すものであって，（ａ）は正断面図，（ｂ）は平断面
図。
すものであって，（ａ）は正断面図，（ｂ）は平断面
図。
１…検査装置 ２…ハニカムパネル ３…コンプレッサ（加圧手段） ４…面板 ５…変位検出装置 ６…ハニカムコア ７…判定装置 ８…移動機構 ９…反転機構 １０…室 １１…通気孔 １２…輝線 １３…Ｈｅ−Ｎｅレーザ（光源） １４…ＣＣＤカメラ
Claims (4)
- 【請求項１】 ハニカムコアの両端縁が面板に接合さ
れ，内部に形成された複数の室が通気孔により相互に連
通されてなるハニカムパネルの接合状態を検査する装置
において，上記ハニカムパネルに接続され，該ハニカム
パネル内部の気圧を高める加圧手段と，上記加圧手段に
より加圧されて膨らんだ面板の変位状況を検出する変位
検出手段と，上記変位検出手段により検出された面板の
変位状況に基づいてハニカムパネルの接合状態の欠陥の
有無を判定する判定手段とを具備してなることを特徴と
するハニカムパネルの検査装置。 - 【請求項２】 上記変位検出手段が，面板の表面に輝線
を投射する光源と上記輝線の投射方向に対して傾斜した
方向から撮像するカメラとを有してなる請求項１記載の
ハニカムパネルの検査装置。 - 【請求項３】 上記変位検出手段を上記ハニカムパネル
の面板と平行の面内で２次元方向へ移動させる移動機構
に搭載してなる請求項１又は２記載のハニカムパネルの
検査装置。 - 【請求項４】 上記ハニカムパネルを上記変位検出手段
に対して１８０°反転させる反転機構により支持してな
る請求項３記載のハニカムパネルの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3676494A JPH07243974A (ja) | 1994-03-08 | 1994-03-08 | ハニカムパネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3676494A JPH07243974A (ja) | 1994-03-08 | 1994-03-08 | ハニカムパネルの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07243974A true JPH07243974A (ja) | 1995-09-19 |
Family
ID=12478830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3676494A Pending JPH07243974A (ja) | 1994-03-08 | 1994-03-08 | ハニカムパネルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07243974A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9996766B2 (en) | 2015-05-01 | 2018-06-12 | Corning Incorporated | Imaging-based methods for detecting and measuring defects in extruded cellular ceramic articles |
| US10769772B2 (en) | 2015-05-21 | 2020-09-08 | Corning Incorporated | Methods for inspecting cellular articles |
-
1994
- 1994-03-08 JP JP3676494A patent/JPH07243974A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9996766B2 (en) | 2015-05-01 | 2018-06-12 | Corning Incorporated | Imaging-based methods for detecting and measuring defects in extruded cellular ceramic articles |
| US10769772B2 (en) | 2015-05-21 | 2020-09-08 | Corning Incorporated | Methods for inspecting cellular articles |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100922478B1 (ko) | 작업편들 사이의 접합부를 검출하는 장치 및 방법과 그 방법의 이용 | |
| CA2214177C (en) | Method and arrangement for optical inspection of a weld seam | |
| JP4630992B2 (ja) | 超音波検査方法及びこれに用いる超音波検査装置 | |
| US20130088724A1 (en) | Method and apparatus for the inspection of sandwich structures using laser-induced resonant frequencies | |
| CN114200019A (zh) | 一种聚乙烯管道电熔接头相控阵测试方法及测试系统 | |
| JP2006106011A (ja) | ハニカム構造体の検査方法及び検査装置 | |
| JP2006170684A (ja) | プレス不良の検査方法、及び検査装置 | |
| JPH07243974A (ja) | ハニカムパネルの検査装置 | |
| KR20130089353A (ko) | 스폿용접부의 신뢰성 검사가 가능한 스폿용접기 | |
| KR102157337B1 (ko) | 비접촉식 초음파/화상 자동 검사 장치 | |
| JP3151994B2 (ja) | 溶接の継ぎ目の検査装置 | |
| JP4527216B2 (ja) | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 | |
| JP4699242B2 (ja) | 超音波探触子のカップリングチェック方法、及びコンピュータプログラム | |
| JPH09325133A (ja) | ハニカムパネルの接合部検査方法 | |
| JP6173636B1 (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| JP3557553B2 (ja) | 溶接継手の超音波探傷試験方法 | |
| JP2003121372A (ja) | 鋼板疵検査装置 | |
| JP2002005907A (ja) | 接合部の検査方法および検査装置 | |
| JPH05172790A (ja) | 管台内面疵検査方法および装置 | |
| JPH1082766A (ja) | 超音波探傷装置及び欠陥識別支援装置 | |
| CN109839438A (zh) | 有机发光二极管面板的气泡检测装置 | |
| JPH11211701A (ja) | 超音波検査装置 | |
| JP2000097919A (ja) | 超音波探傷法 | |
| JP2005037195A (ja) | 超音波検査方法およびその装置 | |
| JPH07244026A (ja) | ハニカムパネルの超音波探傷方法 |