JPH07235486A - Manufacture of device - Google Patents
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- JPH07235486A JPH07235486A JP6309424A JP30942494A JPH07235486A JP H07235486 A JPH07235486 A JP H07235486A JP 6309424 A JP6309424 A JP 6309424A JP 30942494 A JP30942494 A JP 30942494A JP H07235486 A JPH07235486 A JP H07235486A
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- Japan
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- mask
- original plate
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70358—Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、被露光体に原板上のパ
ターン像、例えば半導体回路を焼付けるデバイス製造方
法に関し、特に大画面を分割焼きする分割走査(ステッ
プアンドスキャン)形として好適な投影露光装置を用い
て実施することができるデバイス製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device manufacturing method for printing a pattern image, for example, a semiconductor circuit on an original plate on an object to be exposed, and is particularly suitable as a division scan (step and scan) type for dividing and burning a large screen. The present invention relates to a device manufacturing method that can be implemented using a projection exposure apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、スキャン方式の半導体焼付装置を
用いたデバイス製造方法においては、マスクと基板(ま
たはウエハ)をキャリッジ上に乗せ、これを露光面上に
スキャン移動させることにより画面全体を露光してい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, in a device manufacturing method using a scan type semiconductor printing apparatus, a mask and a substrate (or a wafer) are placed on a carriage, and the whole screen is exposed by scanning and moving the mask and the substrate onto an exposure surface. is doing.
【0003】しかし、最近の傾向として、チップコスト
の低減を目的としたウエハの大口径化や液晶TV用等の
大型の液晶表示板の製造のため、画面が大型化してくる
と、露光範囲を大きくし、かつスキャン長を伸ばさなけ
ればならないことにより装置が大型化してくるという問
題があった。However, as a recent trend, when the screen becomes large due to the increase in the diameter of the wafer for the purpose of reducing the chip cost and the manufacture of a large liquid crystal display panel for a liquid crystal TV, the exposure range is reduced. There is a problem that the apparatus becomes large in size due to the necessity of increasing the size and lengthening the scan length.
【0004】この対策として、画面を分割してスキャン
焼きを複数回に分けて行うステップアンドスキャン焼方
式が考えられている。As a countermeasure against this, a step-and-scan burning method has been considered in which the screen is divided and the scan burning is divided into a plurality of times.
【0005】第2図は、このようなステップアンドスキ
ャン形の露光装置として本発明者等が先に提案したもの
の構成を示す。同図において、1は焼付パターンが形成
されているフォトマスク、2はマスク1を搭載してX,
Y,θ方向に移動可能なマスクステージである。3は液
晶表示板を製造するためにその表面に多数の画素とこれ
らの画素のオン・オフを制御するためのスイッチングト
ランジスタが通常のフォトリソグラフィの手順で形成さ
れるガラス基板で、対角線の長さが14インチ程度の方
形である。4は基板3を保持してX,Y,θ方向に移動
可能な基板ステージである。5は凹画鏡と凸画鏡の組み
合せからなる周知のミラー投影系で、マスクステージ2
によって所定位置にアライメントされたマスク1のパタ
ーン像を基板3上へ等倍投影する。6は不図示の光源か
らの特定の波長の光で露光位置にあるマスク1を照明す
る照明光学系で、マスク上のパターンを介して基板3上
の感光層を露光することにより、マスク上のパターンを
基板3に転写可能とするためのものである。なお、投影
系5の光軸は照明系6の光軸と一致させてある。FIG. 2 shows the structure of such a step-and-scan type exposure apparatus previously proposed by the present inventors. In the figure, 1 is a photomask on which a printing pattern is formed, 2 is the mask 1 on which X,
The mask stage is movable in the Y and θ directions. 3 is a glass substrate on the surface of which a large number of pixels and switching transistors for controlling the on / off of these pixels are formed in order to manufacture a liquid crystal display plate, and the length of the diagonal line. Is a square of about 14 inches. A substrate stage 4 holds the substrate 3 and is movable in X, Y, and θ directions. Reference numeral 5 is a well-known mirror projection system including a combination of a concave mirror and a convex mirror, which is a mask stage 2
The pattern image of the mask 1 aligned at a predetermined position is projected onto the substrate 3 at the same size. An illumination optical system 6 illuminates the mask 1 at the exposure position with light of a specific wavelength from a light source (not shown), and exposes a photosensitive layer on the substrate 3 through a pattern on the mask to expose the photosensitive layer on the mask. This is for allowing the pattern to be transferred onto the substrate 3. The optical axis of the projection system 5 is made to coincide with the optical axis of the illumination system 6.
【0006】7はY方向(紙面に垂直な方向)に設けら
れた2つのガイドレール8に沿って移動可能なLAB
(リニアエアベアリング)で、一方はX方向(紙面の左
右方向)、Z方向(紙面の上下方向)拘束タイプ、他方
はZ方向拘束タイプである。9はマスクステージ2と基
板ステージ4を一定の関係で保持するホルダ(キャリッ
ジ)で、LAB7に支持されることによりマスクステー
ジ2上のマスク1と基板ステージ4上の基板3とを一体
的に移送可能としている。Reference numeral 7 denotes a LAB which is movable along two guide rails 8 provided in the Y direction (direction perpendicular to the paper surface).
(Linear air bearing), one of which is an X-direction (horizontal direction of the paper), Z-direction (the vertical direction of the paper) constraint type, and the other is a Z-direction constraint type. Reference numeral 9 denotes a holder (carriage) which holds the mask stage 2 and the substrate stage 4 in a fixed relationship, and integrally supports the mask 1 on the mask stage 2 and the substrate 3 on the substrate stage 4 by being supported by the LAB 7. It is possible.
【0007】11はマスク搬送装置で、複数のマスク1
がセットされており、所望のマスクをホルダ9の移送に
よって基板3が分割露光されるごとにマスクステージ2
に搬送する。12は投影系5のピント面と基板3の表面
との間隔を検出するためのギャップセンサで、例えばエ
アマイクロセンサや、基板3からの反射光で間隔を検出
する光電タイプのセンサである。13は投影系5、照明
系6およびガイドレール8を一定の関係で取付けるため
の基台である。Reference numeral 11 designates a mask transporting device, which comprises a plurality of masks 1.
Is set, and the mask stage 2 is moved every time the substrate 3 is divided and exposed by moving the desired mask by the holder 9.
Transport to. Reference numeral 12 is a gap sensor for detecting the distance between the focus surface of the projection system 5 and the surface of the substrate 3, and is, for example, an air microsensor or a photoelectric type sensor for detecting the distance by the reflected light from the substrate 3. Reference numeral 13 is a base for mounting the projection system 5, the illumination system 6, and the guide rail 8 in a fixed relationship.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、同図の装置
は、基板3をステップ移動させるための基板ステージ4
や、基板3上の各焼付対象部分に対応してマスク1を交
換するためのマスク搬送装置11およびマスクステージ
2等をキャリッジ9に搭載しているが、この場合、基板
ステージ4だけでも例えば40kg程度と比較的重く、
キャリッジ9をエアで浮上させているLAB7への負荷
が大きくなり、平滑な走査が困難になる。さらに、キャ
リッジは軽量化の要請から柔構造となり勝ちであり、キ
ャリッジ9が基板ステージ4等の重量によって変形し、
マスク1および基板3とミラー投影系5との距離が変化
してデフォーカスしたり、基板3をステップ送りするた
めに基板ステージ4を移動するとマスク1の位置決め基
準と基板3の位置決め基準との相対ずれが発生して分割
焼きした各パターン間に段差や重なり、あるいは逆に隙
間が生じるという不都合があった。By the way, in the apparatus shown in the figure, the substrate stage 4 for step-moving the substrate 3 is used.
Also, the carriage 9 is equipped with the mask transfer device 11 and the mask stage 2 for exchanging the mask 1 corresponding to each printing target portion on the substrate 3, but in this case, the substrate stage 4 alone is, for example, 40 kg. Relatively heavy,
The load on the LAB 7 that floats the carriage 9 with air increases, and smooth scanning becomes difficult. Further, the carriage tends to have a flexible structure due to the demand for weight reduction, and the carriage 9 is deformed by the weight of the substrate stage 4 and the like,
When the distance between the mask 1 and the substrate 3 and the mirror projection system 5 changes and defocus occurs, or when the substrate stage 4 is moved to stepwise feed the substrate 3, the positioning reference of the mask 1 and the positioning reference of the substrate 3 are relative to each other. There has been a problem that a step occurs or overlaps between the divided and baked patterns due to the shift, or conversely, a gap is generated.
【0009】本発明の目的は、このような従来技術の問
題点に鑑み、ステップアンドスキャン露光により高精度
なデバイスの製造を可能にするデバイス製造方法を提供
することにある。An object of the present invention is to provide a device manufacturing method capable of manufacturing a highly accurate device by step-and-scan exposure in view of the above problems of the prior art.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明では、ステップアンドスキャン露光を用いたデバ
イス製造方法において、スキャン露光時に原板を保持す
る原板ステージと基板を保持する基板ステージを同期を
取りながら別個の駆動源でそれぞれ移動すると共に、前
記スキャン露光の後に前記基板ステージにより前記原板
に対する前記基板のステップ移動を行うことにより、前
記基板上の複数領域のそれぞれを順に露光することを特
徴とする。To achieve this object, in the present invention, in a device manufacturing method using step-and-scan exposure, an original stage for holding an original plate and a substrate stage for holding a substrate are synchronized with each other during scan exposure. While each of them is moved by a separate driving source, and after the scan exposure, a step movement of the substrate with respect to the original plate is performed by the substrate stage to sequentially expose each of a plurality of regions on the substrate. To do.
【0011】前記原板ステージと前記基板ステージの移
動の際の同期は、例えば、前記原板ステージと前記基板
ステージの駆動を、それぞれの位置情報をレーザ干渉計
を介して計測し、制御することにより取ることができ
る。The synchronization of the movements of the original plate stage and the substrate stage is achieved by, for example, driving the original plate stage and the substrate stage by measuring their position information through a laser interferometer and controlling them. be able to.
【0012】[0012]
【作用】これによれば、原板ステージと基板ステージを
同期を取りながら別個の駆動源でそれぞれ移動するよう
にしたため、原板および基板ステージを保持するための
ホルダ(キャリッジ)を走行させる必要がなくなり、キ
ャリッジを浮上させるためのLABが不要になる。した
がって、LABのエアパッドの剛性の不足による走行の
不安定性の問題が解消されるとともに、上記ホルダは基
台に固定され、より堅固な装置によりスキャン動作等が
行われることになる。これにより、ホルダの変形に伴う
原板と基板の相対位置精度およびデフォーカスが軽減な
いし防止される。したがってスキャン動作等が高精度で
行われ、高精度なデバイスの製造が行われる。According to this, the original plate stage and the substrate stage are moved in synchronization with each other by separate drive sources, so that it is not necessary to move a holder (carriage) for holding the original plate and the substrate stage. LAB for floating the carriage becomes unnecessary. Therefore, the problem of running instability due to insufficient rigidity of the air pads of the LAB is solved, and the holder is fixed to the base so that the scanning operation and the like can be performed by a more robust device. This reduces or prevents relative positional accuracy and defocus between the original plate and the substrate due to the deformation of the holder. Therefore, the scanning operation or the like is performed with high accuracy, and the device with high accuracy is manufactured.
【0013】また、原板および基板を走行させるための
ステージやモータならびに制御回路、さらに原板および
基板の位置を検出するための測長器等は、本来原板およ
び基板の位置合せ等のために必要なものをそのまま、ま
たは多少変形して用いることにより、簡略化された装置
構成によりデバイス製造が行われる。そして特に、スキ
ャン動作時に基板を移動させるのと同じ基板ステージに
より基板のステップ移動を行うようにしたため、さらに
簡便・軽量な装置構成により高精度なデバイス製造が行
われる。Further, a stage for moving the original plate and the substrate, a motor and a control circuit, and a length measuring device for detecting the positions of the original plate and the substrate are originally necessary for aligning the original plate and the substrate. By using the product as it is or by modifying it to some extent, the device is manufactured by a simplified apparatus configuration. Further, in particular, since the step movement of the substrate is performed by the same substrate stage that moves the substrate during the scanning operation, highly accurate device manufacturing can be performed with a simpler and lighter device configuration.
【0014】さらに、原板と基板との走行速度比を任意
に設定することにより、従来のステップアンドスキャン
形露光装置にはなかった拡大・縮小機能が実現される。Further, by arbitrarily setting the traveling speed ratio between the original plate and the substrate, an enlarging / reducing function which is not available in the conventional step-and-scan type exposure apparatus can be realized.
【0015】[0015]
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。なお、従来例と共通または対応する部分については
同一の符号で表わす。図1は、本発明の一実施例に係る
デバイス製造方法を実施するためのミラープロジエクシ
ョン露光装置の構成を示す。同図は、図2が装置のXZ
平面による断面を示すのに対し、YZ平面による断面を
示したものである。但し、Y方向を焼付け時の走査方
向、Z方向を鉛直方向とする。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The parts common or corresponding to those of the conventional example are denoted by the same reference numerals. FIG. 1 shows the configuration of a mirror projection exposure apparatus for carrying out a device manufacturing method according to an embodiment of the present invention. In this figure, FIG. 2 shows the XZ of the device.
Whereas the cross section along the plane is shown, the cross section along the YZ plane is shown. However, the Y direction is the scanning direction during printing, and the Z direction is the vertical direction.
【0016】図1の装置は、図2のものに対し、ホルダ
9を基台13に固定し、かつマスクステージ2および基
板ステージ4のY方向のストロークを、マスク1および
基板3を投影光学系5に対して走査し得る程度に延長す
るとともに、走査時、これらのマスクステージ2および
基板ステージ4のY方向への移動量を同期制御する制御
回路15を付加したものである。第1図において、16
および17はそれぞれマスクステージ2および基板ステ
ージ4をY方向に移動させるためのパルスモータ、18
および19はそれぞれ各ステージ2、4すなわちマスク
1および基板3の位置をモニタするための測長器例えば
レーザ干渉計である。また、51、52、53は、それ
ぞれ、投影光学系5を構成する台形ミラー、凸面ミラー
および凹面ミラーである。The apparatus shown in FIG. 1 is different from the apparatus shown in FIG. 2 in that the holder 9 is fixed to the base 13 and the stroke of the mask stage 2 and the substrate stage 4 in the Y direction is projected onto the mask 1 and the substrate 3 by an optical system. 5 is extended to such a degree that it can be scanned, and a control circuit 15 for synchronously controlling the movement amounts of the mask stage 2 and the substrate stage 4 in the Y direction during scanning is added. In FIG. 1, 16
And 17 are pulse motors for moving the mask stage 2 and the substrate stage 4 in the Y direction, and 18
Reference numerals 19 and 19 are length measuring devices such as laser interferometers for monitoring the positions of the stages 2 and 4, that is, the mask 1 and the substrate 3, respectively. Reference numerals 51, 52, and 53 are a trapezoidal mirror, a convex mirror, and a concave mirror, which form the projection optical system 5, respectively.
【0017】上記構成において、制御回路15は、走査
露光時、レーザ干渉計18および19からのステージ位
置情報を基にパルスモータ16および17への駆動パル
スのパルス数および周期を制御することにより、ステー
ジ2および4を互いに同期して移動させる。この制御の
方法としては、例えばモータ16を一定周期のパルスで
駆動してマスクステージ2を定速走行させ、レーザ干渉
計18および19で計測されるステージ2および4の位
置に応じた駆動パルスをモータ17に供給して基板ステ
ージ4を移動すればよい。In the above structure, the control circuit 15 controls the number and cycle of the drive pulses to the pulse motors 16 and 17 based on the stage position information from the laser interferometers 18 and 19 during scanning exposure. The stages 2 and 4 are moved in synchronization with each other. As a method of this control, for example, the motor 16 is driven by a pulse of a constant cycle to move the mask stage 2 at a constant speed, and a drive pulse corresponding to the positions of the stages 2 and 4 measured by the laser interferometers 18 and 19 is used. The substrate stage 4 may be moved by supplying it to the motor 17.
【0018】この場合、各ステージ2および4の移動速
度は、必ずしも同一である必要はなく、適当な速度比を
持たせてもよい。例えばレーザ干渉計18および19の
出力波長を異ならせるだけでも上記ステージ2、4を異
なる速度(速度比≠1)で走査することができる。ま
た、より積極的に上記制御回路15に上記速度比の可変
手段を設け、上記ステージ2、4を図示しないコンソー
ルキーボード等からの指令に基づく速度比で駆動するよ
うにしてもよい。In this case, the moving speeds of the stages 2 and 4 do not necessarily have to be the same, and may have an appropriate speed ratio. For example, the stages 2 and 4 can be scanned at different speeds (speed ratio ≠ 1) simply by making the output wavelengths of the laser interferometers 18 and 19 different. Further, the control circuit 15 may be more positively provided with the speed ratio varying means so that the stages 2 and 4 are driven at a speed ratio based on a command from a console keyboard or the like (not shown).
【0019】このようにマスク1と基板3の走査速度を
異ならせた場合、基板3の速度をマスク1の速度より遅
くすると基板3上にはマスク像が走行方向(Y方向)に
縮小されて転写される。また、基板3の速度の方を速く
すると基板3上にはマスク像がY方向に拡大されて転写
される。すなわち、走査形の露光装置に1軸(Y)方向
のみではあるが、拡大・縮小機能を持たせることができ
る。そしてこの機能、特に拡大機能を活用すれば、例え
ば、現在、マスクサイズの点から縦(Y)・横(X)に
4分割してステップアンドスキャンしていたものが、縦
方向を2倍に拡大(基板速度/マスク速度=2)するこ
とにより同一サイズのマスクで縦方向の2分割のみで足
りることとなり、基板のステップ移動およびマスク交換
の回数を減少して装置のスループットを向上させること
ができる他、マスク制作の手間も4枚を2枚分に減らす
ことができる。When the scanning speeds of the mask 1 and the substrate 3 are made different in this way, if the speed of the substrate 3 is made slower than the speed of the mask 1, the mask image is reduced on the substrate 3 in the traveling direction (Y direction). Transcribed. Further, when the speed of the substrate 3 is increased, the mask image is transferred onto the substrate 3 while being magnified in the Y direction. That is, the scanning type exposure apparatus can be provided with the enlargement / reduction function although it is only in the one-axis (Y) direction. If this function, especially the enlargement function, is used, for example, what is currently step-and-scan divided into four parts vertically (Y) and horizontally (X) from the point of the mask size is doubled in the vertical direction. By enlarging (substrate speed / mask speed = 2), it is sufficient to divide the mask in the same size into two in the vertical direction, and it is possible to improve the throughput of the apparatus by reducing the number of steps of substrate movement and mask replacement. Besides, you can reduce the time and effort required to make a mask from four to two.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、原
板ステージと基板ステージを同期を取りながら別個の駆
動源でそれぞれ移動するようにしたため、製造に使用す
る装置を簡便で軽量かつ堅固のものとすることができ、
したがってスキャン動作等を高精度で行い、高精度なデ
バイスの製造を行うことができる。また、駆動源やレー
ザ測長器として、本来原板および基板の位置合せ等のた
めに必要なものをそのまま、または多少変形して用いる
ことにより、簡略化された装置構成によりデバイス製造
を行うことができる。特に、スキャン動作時に基板を移
動させるのと同じ基板ステージにより基板のステップ移
動を行うようにしたため、さらに簡便・軽量な装置構成
により高精度なデバイス製造を行うことができる。さら
に、原板と基板との走行速度比を任意に設定することに
より、従来のステップアンドスキャン形露光装置にはな
かった拡大・縮小機能を実現することができる。As described above, according to the present invention, the original stage and the substrate stage are moved by separate driving sources in synchronization with each other, so that the apparatus used for manufacturing is simple, lightweight and solid. Can be
Therefore, it is possible to perform the scanning operation and the like with high accuracy and manufacture the device with high accuracy. Further, as the drive source and the laser length measuring device, those originally required for aligning the original plate and the substrate, etc. can be used as they are or with some modification, so that the device can be manufactured with a simplified apparatus configuration. it can. In particular, since the step movement of the substrate is performed by the same substrate stage that moves the substrate during the scanning operation, highly accurate device manufacturing can be performed with a simpler and lighter device configuration. Further, by arbitrarily setting the traveling speed ratio between the original plate and the substrate, it is possible to realize the enlargement / reduction function which is not provided in the conventional step-and-scan type exposure apparatus.
【図1】 本発明の一実施例に係る半導体焼付装置の概
略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a semiconductor printing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】 本発明者等の先願に係る半導体焼付装置の概
略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a semiconductor printing apparatus according to a prior application of the present inventors.
1:フォトマスク、2:マスクステージ、3:基板、
4:基板ステージ、5:ミラー投影系、9:ホルダ(キ
ャリッジ)、13:基台、15:制御回路、16,1
7:パルスモータ、18,19:レーザ干渉計。1: photomask, 2: mask stage, 3: substrate,
4: substrate stage, 5: mirror projection system, 9: holder (carriage), 13: base, 15: control circuit, 16, 1
7: pulse motor, 18, 19: laser interferometer.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 真 神奈川県川崎市中原区今井上町53番地キヤ ノン株式会社小杉事業所内 (72)発明者 小沢 邦貴 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 吉成 秀樹 神奈川県川崎市中原区今井上町53番地キヤ ノン株式会社小杉事業所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Makoto Miyazaki 53 Imaiue-cho, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Canon Inc., Kosugi Plant (72) Inventor Kunitaka Ozawa 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Kyano (72) Inventor Hideki Yoshinari 53 Imaiue-cho, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Canon Inc. Kosugi Plant
Claims (2)
バイス製造方法において、スキャン露光時に原板を保持
する原板ステージと基板を保持する基板ステージを同期
を取りながら別個の駆動源でそれぞれ移動すると共に、
前記スキャン露光の後に前記基板ステージにより前記原
板に対する前記基板のステップ移動を行うことにより、
前記基板上の複数領域のそれぞれを順に露光することを
特徴とするデバイス製造方法。1. In a device manufacturing method using step-and-scan exposure, an original plate stage that holds an original plate and a substrate stage that holds a substrate during scan exposure are moved in synchronization with each other by separate drive sources.
By performing the step movement of the substrate with respect to the original plate by the substrate stage after the scan exposure,
A device manufacturing method comprising exposing each of a plurality of regions on the substrate in order.
それぞれの位置情報をレーザ干渉計を介して計測し、ス
キャン露光時の前記別個の駆動源による前記原板ステー
ジと前記基板ステージの移動の同期を制御することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のデバイス製造方
法。2. The position information of each of the original stage and the substrate stage is measured via a laser interferometer, and the synchronization of the movement of the original stage and the substrate stage by the separate drive source during scan exposure is controlled. The device manufacturing method according to claim 1, wherein
Priority Applications (1)
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JP30942494A JP2670984B2 (en) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | Device manufacturing method |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP30942494A JP2670984B2 (en) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | Device manufacturing method |
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JP60090892A Division JPS61251025A (en) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | Projection exposing apparatus |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP30942494A Expired - Lifetime JP2670984B2 (en) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | Device manufacturing method |
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