JPH07219980A - テスト実行方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】実装置、装置シミュレータ双方を平行動作させ
てテストを実行することにより、制約の軽減とバグ摘出
支援を図り、テスト工程の工数を削減する。 【構成】テスト実行処理部２０４は、制御プログラム２
０１、テストの条件を規定したテストデータ２０２を入
力として、テストを実行する。システム構成２０３を基
に、テスト実行処理部２０４は、装置シミュレーション
２０５、又は、実装置動作２０８を実施する。装置シミ
ュレーション２０５は、装置のハードウェア情報を規定
した装置情報２０６に基づいて実行され、その状況はシ
ミュレート状況表示２０７にビジュアル表現される。テ
スト実行処理部２０４は、装置シミュレーション２０
５、及び、実装置動作２０８の双方とデータの授受が可
能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、組込み型マイコンシス
テム開発のうち、特にテスト工程における工数を削減す
るのに好適なテスト実行方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】マイコンシステムにおけるテスト工程に
関し、例えば情報処理Vol.33 No.3(pp.230-239)記載の
「製造システム-工程の制御と管理-」のように、システ
ムの全ての装置の動作をプログラムでシミュレートし、
実機と同じ応答を返す装置シミュレータが知られてい
る。

【０００３】上記の装置シミュレータは、通常実装置を
用いた実機テストを行なう前に、制御プログラムのテス
トに利用される。第一に、ハード、ソフトはそれぞれ独
立して開発が行われているため、実装置がない段階でテ
ストを行うことにより開発効率が向上すること、第二
に、装置シミュレータを利用してある程度制御プログラ
ムを検証した上で実装置によるテストを行うことによ
り、重度の故障テストに対する信頼度が向上し、テスト
用装置のためのコスト削減にもつながるからである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、装置シ
ミュレータを利用したテストには限界がある。温度やハ
ードウェア異常など、物理的要因が大きく影響するテス
トは、実装置でしかテスト実施ができない。この場合、
物理的要因に影響のある部分については、装置のハード
ウェアを利用し、残りの部分は装置シミュレータが利用
できるという方式が必要になる。また、高額な装置の場
合、テスト実行による故障は開発コスト増大につなが
る。そこで、故障に影響のある装置のハードウェア部分
については装置シミュレータを利用し、残りの部分を実
装置を利用してテストを行う方式が有効となる。さら
に、装置のハードウェアの一部のバグが他の部分に影響
を及ぼしてしまう場合、テストの続行が不可能となる。
その場合、バグ部分を装置シミュレータにより代用でき
れば、テスト工程の消化率低下を防ぐことが可能とな
る。

【０００５】そこで、本発明の第一の目的は、実装置と
装置シミュレータを接続し、テスト実行におけるデータ
の相互授受を行い、実装置の一部の機構の動作を装置シ
ミュレータに置き換える、同様に、装置シミュレータの
動作の一部を実装置のそれに置き換えることが可能なテ
スト実行方式を提供することにある。

【０００６】また、実装置が大規模になると、テストの
ための実装置初期化段取りに相当な手間がかかるのに比
べ、計算機プログラムにより動作する装置シミュレータ
では、その初期化段取りは瞬時に行うことができる。逆
に、装置シミュレータでは、テストのための装置の微妙
な初期設定は困難であるが、実装置を直接操作する場
合、微妙な調整が可能となる。

【０００７】そこで、本発明の第二の目的は、テストの
実行条件を、実装置、又は、装置シミュレータを直接操
作することにより設定可能なテスト実行方式を提供する
ことにある。

【０００８】さらに、装置シミュレータのみによるテス
トでは、検出できないバグも存在する。これらのバグに
は、装置シミュレータでは模擬できない物理的要因によ
るもの、装置シミュレータ仕様のバグ、制御プログラム
のバグ等が考えられる。これらの場合、その後の実装置
のみによるテストで初めて検出されるわけだが、装置シ
ミュレートによるテストを通過してきただけに、これが
どのバグに起因するものであるかの判断が極めて困難と
なる。

【０００９】そこで、本発明の第三の目的は、テスト実
行の際、実装置、装置シミュレータを同時に並行動作さ
せ、実装置からの出力と装置シミュレータからの出力の
相違を基にバグ修正に必要な情報をユーザに提示するこ
とにより、バグ要因の検出が支援可能なテスト実行方式
を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のテスト実行方式は、（イ）実装置、及び、
装置シミュレータをネットワーク接続し、テスト実行の
際に実装置、及び、装置シミュレータ双方から送受信さ
れるデータの管理を行うステップを有することに特徴が
ある。また、（ロ）テスト実行の際、データの管理を行
うステップが実装置、装置シミュレータの双方の機構を
動作させることが可能なステップを有することに特徴が
ある。また、（ハ）テスト実行の際、実装置、又は、装
置シミュレータのどちらの機構を使用するかを規定する
ステップを有することに特徴がある。また、（ニ）実装
置の機構を直接操作することにより、テストの実行条件
設定を行うステップを有することに特徴がある。同様
に、（ホ）装置シミュレータの機構を操作することによ
り、テストの実行条件設定を行うステップを有すること
に特徴がある。また、（ヘ）テスト実行の際、実装置、
装置シミュレータの双方の同じ機構を並行に動作させる
ことが可能なステップを有することに特徴がある。ま
た、（ト）テスト実行の際、実装置、装置シミュレータ
の双方の同じ機構を並行に動作させることが可能なステ
ップを有することに特徴がある。また、（チ）実装置か
らの出力と装置シミュレータからの出力の差分情報を解
析するステップを有することに特徴がある。また、
（リ）差分情報の解析結果を基に、制御プログラムか
ら、影響のある部分を抽出するステップを有することに
特徴がある。さらに、（ヌ）差分情報の解析結果を基
に、装置のハードウェア情報を規定したファイルから、
影響のある部分を抽出するステップを有することに特徴
がある。

【００１１】

【作用】本発明においては、まず実装置、及び、装置シ
ミュレータ双方の実行を管理するテスト実行処理部を有
している。これらはネットワ−クに接続されており、実
装置、装置シミュレ−タの入出力情報は、テスト実行処
理部において参照可能である。また。どの機構を使用す
るかの情報はシステム構成として与えられる。このシス
テム構成を基に、テスト実行処理部は使用される機構に
対して制御の振り分けを行う。これにより、第一の目的
が達成される。

【００１２】また、本発明においては、テスト実行処理
部により実装置、及び、装置シミュレータの入出力が管
理されているため、実装置、又は、装置シミュレータに
対する操作を実施した場合、テスト実行処理部におい
て、それぞれの情報を入手可能である。従って、実装
置、及び、装置シミュレータを直接操作するこによりテ
スト条件設定が可能となり、第二の目的が達成される。

【００１３】また、本発明においては、実装置、及び、
装置シミュレータ双方の実行を同時に行うことが可能で
ある。テスト実行処理部により実装置、及び、装置シミ
ュレータの入出力が管理されているため、実装置、及
び、装置シミュレータからの出力結果の差分情報の入手
は可能である。また、テストは装置を制御する制御プロ
グラムをテスト実行処理部が逐次解釈しながら実行され
る。装置シミュレータは、テスト実行処理部からの命令
により、装置のハードウェア情報を規定した装置情報か
ら特定の機構を動作させ、応答を返す。従って、実装
置、及び、装置シミュレータからの出力結果の差分情報
から、影響のある制御プログラム部分、並びに、装置情
報部分を抽出することが可能となり、第三の目的が達成
される。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面により説明す
る。なお、この実施例により本発明が限定されるもので
はない。図１は、本発明のテスト実行方式におけるハー
ドウェア構成図である。このテスト実行装置１００にお
いて、１０１は処理装置、１０２は入力装置、１０３は
表示装置、１０４はメモリ、１０５は外部記憶装置、１
０６は実装置である。これらの装置はネットワークで接
続されており、どの装置からもアクセスが可能である。

【００１５】図２は、図１のテスト実行装置１００の機
能構成図である。制御プログラム２０１には、装置を制
御するためのソフトウェア、テストデータ２０２はシス
テムのテスト工程で行われるテスト項目、及び、テスト
条件が定義されている。図３に例示するように、テスト
データ２０２は、テスト項目定義テーブル３０１により
各テスト項目を定義する。テスト項目には、複数の装置
やテストサンプルに対してテスト条件を設定する必要が
あり、これらはテスト条件定義テーブル３０２に規定さ
れる。このテスト条件定義テーブル３０２には、テスト
実行時における各装置やテストサンプルの初期設定、テ
ストを行うにあたっての制約条件、テスト中のどのタイ
ミングでテストを実施するかを規定する発効条件、及
び、テストの判定条件が規定され、テストの結果はテス
ト項目定義テーブル３０１に格納される。テストの対象
となる装置の情報、テストサンプルの情報については、
それぞれ装置情報２０６、テストサンプル定義テーブル
３０３の参照がテスト条件定義テーブル３０２から可能
である。テストサンプル定義テーブル３０３では、全て
のテストサンプルを属性定義テーブル３０４により、そ
の名称、値が規定される。

【００１６】図２に戻り、システム構成２０３では、テ
スト実行の際、必要となる機構の構成を定義する。図４
に例示されるように、システム構成２０３は、システム
構成定義テーブル４０１により、テスト項目毎に、使用
される機構がシミュレータ部品を利用するべきか、実装
置部品を利用すべきかを定義する。

【００１７】図２に戻り、テスト実行処理部２０４は、
テストの実行を司る部分である。制御プログラム２０
１、テストデータ２０２、及び、システム構成２０３を
入力とし、テスト項目に応じて、実装置、装置シミュレ
ータの動作の管理を行う。図５にテスト実行のフローチ
ャートを示す。ステップ５０１では、制御プログラム２
０１から、１ステップを読み込み、解釈する。ステップ
５０２では、解釈された制御プログラムの命令に関連す
るテスト条件をテストデータ２０２から検索し、テスト
実行に必要な設定等の解析を行う。ステップ５０３で
は、システム構成２０３から、テストの実行を、実装置
により行うものか、装置シミュレータにより行うものか
を判断する。ステップ５０４では、テスト実行を装置シ
ミュレータを使用するものであるならステップ２０５に
進み、そうでなければ、ステップ２０８に進む。ステッ
プ２０５では、装置シミュレータを動作させる。図６に
装置シミュレーションのフローチャートを示す。ステッ
プ６０１では、装置情報２０６から、装置シミュレート
に必要な装置の情報を入手する。図７に例示するよう
に、装置情報２０６は組込み型マイクロコンピュータシ
ステムのハードウェア構成を規定した情報である。装置
情報２０６は、個々の装置情報を定義する装置情報定義
テーブル７０１と、個々の装置情報の形状を定義する形
状定義テーブル７０２と、個々の装置情報で行われるＩ
／Ｏ命令を定義するＩ／Ｏ定義テーブル７０３とから成
る。形状定義テーブル７０２は、シミュレートの際、表
示画面上で装置を簡単なグラフィックモデルとしてアニ
メーション表示するための情報として、形状の定義、初
期設定位置、動作形態が規定され、その動作状況はシミ
ュレート状況表示２０７において表示される。また、Ｉ
／Ｏ定義テーブル７０３には、シミュレートにより実機
と同じ応答を返すためのＩ／Ｏ命令の詳細が規定されて
いる。

【００１８】図６に戻り、ステップ６０２では制御プロ
グラムも命令に従って、機構制御のシミュレートの実行
を行う。ステップ６０３では、ステップ６０２における
シミュレート実行に伴う装置情報の変更を行い、同時に
ステップ２０７においてそのシミュレート状況表示を行
う。最後にステップ６０４では、命令実行による返り値
の設定を行い、テスト実行処理部にその値を返す。図５
に戻り、ステップ２０８では、実装置を動作させる。ス
テップ５０５では、制御プログラムが終了か否かを判断
し、終了であれば処理を完了し、終了でなければステッ
プ５０１へ進む。

【００１９】図８にテスト実行状況の例示図を示す。テ
スト実行はシステム構成２０３の記述に基づいて装置シ
ミュレーションによる機構のテスト８０１と実装置の機
構を利用したテスト８０２により１つのテストが実施さ
れる。装置シミュレーション８０１と実装置８０２との
データ通信はネットワーク８０３を介して行われ、テス
ト処理実行部８０４によりそのテストの管理が行われ
る。

【００２０】以上の実施例で述べたように、装置シミュ
レーション２０５、及び、実装置動作２０８の双方の入
出力管理を行うテスト実行処理部２０４を、また、装置
シミュレータ、又は、実装置のどちらの機構を使用する
かを規定したシステム構成２０３を設けることにより、
テストの状況に応じて実装置、又は、装置シミュレータ
の機構の振り分けが可能となる。これにより、テストに
おける制約を軽減することができ、テスト工程の消化率
低下を防ぐことが可能となる。

【００２１】実装置が大規模になると、テストのための
実装置初期化段取りに相当な手間がかかるのに比べ、計
算機プログラムにより動作する装置シミュレータでは、
その初期化段取りは瞬時に行うことができる。一方、装
置シミュレータでは、テストのための装置の微妙な初期
設定は困難であるが、実装置を直接操作する場合、微妙
な調整が可能となる。

【００２２】この様な場合、テストの条件設定はテスト
データ２０２によるものだけでなく、実装置、又は、装
置シミュレータを直接操作することにより行うと効率が
よい。

【００２３】次に説明する本発明の第二の実施例は、こ
の問題を考慮したものであり、テストの実行条件を、実
装置、又は、装置シミュレータを直接操作することによ
り設定可能とするものである。

【００２４】第二実施例のハードウェア構成は、図１と
同様である。機能構成は図２に替えて図９に示すものと
なる。なお、図２と同一の番号を付けたもの（２０１〜
２０８）は図２のものと同一である。新たに設けられた
テスト条件設定９０１は、テストデータ２０２によるテ
スト条件の設定だけでなく、装置シミュレーション２０
５、又は、実装置２０８を直接操作することにより、テ
スト実行のための条件を設定するものである。

【００２５】図１０にテスト条件設定のフローチャート
を示す。ステップ１００１では、テスト実行処理を中断
する。勿論、テスト実行開始以前であるなら、テスト実
行開始以前の状態からフローチャートは開始される。ス
テップ１００２では、装置シミュレータ、又は、実装置
を直接操作することにより、テスト条件を設定する。図
１１に実装置操作によるテスト条件設定の例示図を示
す。１１０１に示されるように、テスト実行処理部から
のメッセージに従い、実装置を直接操作する。１１０２
では実装置におけるあるアームの初期設定位置を設定し
ている。これにより、テストデータ２０２による設定で
は困難な実装置の微調整が可能となる。また、図１２に
装置シミュレータ操作によるテスト条件設定の例示図を
示す。１２０１に示されるように、テスト実行処理部か
らのメッセージに従い、装置シミュレータを直接操作す
る。１２０２ではシミュレート状況表示２０７により、
オブジェクトとして表示される装置の機構の初期設定位
置を設定している。これにより、複雑な実装置機構の操
作を容易に行うことが可能となる。

【００２６】図１０に戻り、ステップ１００３では、ス
テップ１００２で設定されたテストに関する情報から、
テストデータ２０２の変更を行う。ステップ１００４で
は、ステップ１００１で中断されていたテスト実行処理
を再開する。ステップ１００５では、テスト条件再設定
の必要か否かを判断し、必要であればステップ１００１
に戻り、必要でなければ処理を終了する。

【００２７】以上の実施例で述べたように、テストの実
行条件を、実装置、又は、装置シミュレータの直接操作
により設定することにより、正確なテスト実施と共に、
テスト消化率向上が期待できる。ところで、装置シミュ
レータのみによるテストでは、検出できないバグも存在
する。これらのバグには、装置シミュレータでは模擬で
きない物理的要因によるもの、装置シミュレータ仕様の
バグ、制御プログラムのバグ等が考えられる。これらの
場合、その後の実装置のみによるテストで初めて検出さ
れるわけだが、装置シミュレートによるテストを通過し
てきただけに、これがどのバグに起因するものであるか
の判断が極めて困難となる。

【００２８】次に説明する本発明の第三の実施例は、こ
の問題を考慮したものであり、テスト実行の際、実装
置、装置シミュレータを同時に並行動作させ、実装置か
らの出力と装置シミュレータからの出力の相違を基にバ
グ修正に必要な情報をユーザに提示することにより、バ
グ要因の検出支援を行うものである。

【００２９】第三実施例のハードウェア構成は、図１と
同様である。機能構成は図９に替えて図１３に示すもの
となる。なお、図９と同一の番号を付けたもの（２０１
〜２０３、２０５〜２０８、９０１）は図９のものと同
一である。新たに設けられたテスト実行処理部１３０１
は、図２におけるテスト実行処理部２０４に装置シミュ
レーション２０５、及び、実装置動作２０８を同時に実
行させる処理を加えたものである。また、テスト実行履
歴１３０２は、テスト実行時にやり取りされるデータ
と、実行中の制御プログラム２０１との対応を逐次記録
していく。また、差分情報抽出１３０３は、装置シミュ
レーション２０５、及び、実装置動作２０８の同時実行
により、相違が生じたデータ結果から、それに影響を及
ぼした部分を制御プログラム２０１、及び、装置情報２
０６から抽出する処理を行うものである。

【００３０】図１４にテスト実行のフローチャートを示
す。なお、ステップ５０１〜５０５は、図５のものと同
様の処理を行う。ステップ１４０１では、実行されるテ
ストに使用される装置機構が実装置、装置シミュレータ
共に使用するか否かを判断する。共に使用するのであれ
ばステップ１４０２に進み、そうでなければ、ステップ
１４０３に進む。ステップ１４０２では、装置シミュレ
ーション２０５、及び、実装置動作２０８の双方を同時
に実行させる。ステップ１４０４では、実装置機構、及
び、装置シミュレータ機構の動作履歴をテスト実行履歴
に記録する。図１５にテスト実行履歴の例示図を示す。
テスト実行履歴データテーブル１５０１には、機構動作
時刻を基準として、その時刻に実行中の制御プログラム
文、動作中の実装置機構、および、装置シミュレータ機
構をそれぞれ対応付けて記録される。ある時刻における
実装置動作機構は実装置データテーブル１５０２により
参照できる。実装置データテーブル１５０２には、機構
ごとに入力データ、出力データが記録される。同様に、
装置シミュレータ機構に関しては、装置シミュレータデ
ータテーブル１５０３に記録される。装置シミュレータ
機構に関する情報は、装置情報２０６から参照できる。
図１６にテスト実行履歴生成のフローチャートを示す。
ステップ１６０１では、機構動作時点での時刻を記録す
る。また、ステップ１６０２では、現在実行中のプログ
ラムカウンタを時刻と対応づけて記録する。また、ステ
ップ１６０３では、実装置データテーブル１５０２に動
作機構名称、入力データ、及び、出力データを記録す
る。さらに、ステップ１６０４では、装置シミュレータ
データテーブル１５０３に、ステップ１６０３と同様に
動作機構名称、入力データ、出力データを記録する。

【００３１】図１４に戻り、ステップ１３０３では、ス
テップ１４０２におけるテスト同時実行の結果に相異が
生じた場合、テスト実行履歴１３０２を基に、テスト実
行に影響を及ぼした部分を制御プログラム２０１、及
び、装置情報２０６から抽出する。図１７に差分情報抽
出のフローチャートを示す。ステップ１７０１では、テ
スト実行履歴１３０２から、装置シミュレーション２０
５、及び、実装置動作２０８の双方同時に実行による出
力データの照合を行う。ステップ１７０２では、ステッ
プ１７０１において照合された出力データが異なるか否
かを判断する。異なればステップ１７０３に進み、そう
でなければ処理を終了する。ステップ１７０３では、現
在のプログラムカウンタから、テスト実行履歴に記録さ
れた制御プログラム文を検索し、ユ−ザに提示する。ス
テップ１７０４では、ステップ１７０３において検索さ
れた制御プログラム文中で参照されている変数を抽出す
る。ステップ１７０５では、ステップ１７０４において
抽出された変数に関し、その変数の値を操作するプログ
ラム文を制御プログラムから検索する。検索にあたって
は、その変数に値を代入している文、及び、その変数の
値の変更に影響のある文全てが対象となる。ステップ１
７０６では、ステップ１７０５において検索されたプロ
グラム文を提示する。ステップ１７０７では、ステップ
１７０５において検索されたプログラム文に対応した実
装置機構、及び、装置シミュレータ機構に対する入力デ
ータ、出力データを提示する。ステップ１７０８では、
ステップ１７０３、ステップ１７０６、及び、ステップ
１７０７において提示された情報を基に、ユ−ザが不具
合を修正する。提示された情報は、実装置、及び、装置
シミュレータからの出力データの相違の原因となるもの
に限定されるため、効率良く不具合の究明が可能とな
る。図１８に差分情報提示の例示図を示す。あるテスト
実行の結果、装置シミュレーション１８０１と実装置１
８０２からのデータが異なる場合、テスト実行処理部１
８０３に示すようにそのテスト結果とそれに関連する制
御プログラム、及び、装置情報の詳細、並びに、支援情
報を提示する。ユーザはこれらの提示された情報を基
に、制御プログラム、及び、装置情報に修正を加える。
図１４に戻り、ステップ１４０３では、システム構成２
０３の情報に従って機構を動作させ、テストの実行を行
う。

【００３２】

【発明の効果】本発明のテスト実行方式によれば、テス
トの性質、又は、開発の進行状況により、実装置の機
構、装置シミュレータの機構が振り分けられるため、制
約の少ないテスト実行が可能となる。

【００３３】また、本発明のテスト実行方式によれば、
実装置を直接操作することによりテスト条件の設定を行
うため、精度の高いテストが実施できる。また、装置シ
ミュレータを直接操作することによりテスト条件の設定
を行うため、複雑な機構の設定が容易になる。

【００３４】また、本発明のテスト実行方式によれば、
実装置、及び装置シミュレータの同時実行による出力の
差分情報からバグ要因をユーザに提供するので、デバッ
グの高効率化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のテスト実行方式を実施するテスト実行
装置のハードウェア構成図である。

【図２】図１のテスト実行装置１００の機能構成図であ
る。

【図３】テストデータの例示図である。

【図４】システム構成の例示図である。

【図５】テスト実行のフローチャートである。

【図６】装置シミュレーションのフローチャートであ
る。

【図７】装置情報の例示図である。

【図８】テスト実行状況の例示図である。

【図９】本発明の第二実施例における図２相当図であ
る。

【図１０】テスト条件設定のフローチャートである。

【図１１】テスト条件設定（実装置）の例示図である。

【図１２】テスト条件設定（装置シミュレータ）の例示
図である。

【図１３】本発明の第三実施例における図２相当図であ
る。

【図１４】テスト実行のフローチャートである。

【図１５】テスト実行履歴の例示図である。

【図１６】テスト実行履歴のフローチャートである。

【図１７】差分情報抽出のフローチャートである。

【図１８】差分情報提示の例示図である。

【符号の説明】

２０１：制御プログラム、２０２：テストデータ、２０
３：システム構成、２０４：テスト実行処理部、２０
５：装置シミュレーション、２０６：装置情報、２０
７：シミュレート状況表示、２０８：実装置動作、９０
１：テスト条件設定、１３０１：テスト実行処理部、１
３０２：テスト実行履歴、１３０３：差分情報抽出。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】コンピュータによって制御する装置をテス
   トするシステムにおいて、装置開発におけるテストを効
   率的に行うためのテスト実行方式であって、 実際の装置と該装置の動作をシミュレートするシステム
   との双方の動作管理を行い、テスト内容に応じて、装置
   の機構を実装置、又は、装置シミュレーションに切り替
   えてテスト実行を行うステップからなることを特徴とす
   るテスト実行方式。
2. 【請求項２】請求項１に記載のテスト実行方式であっ
   て、テスト実行の条件設定を、実装置を直接操作するこ
   とにより行うステップからなることを特徴とするテスト
   実行方式。
3. 【請求項３】請求項１に記載のテスト実行方式であっ
   て、テスト実行の条件設定を、装置シミュレータを操作
   することにより行うステップからなることを特徴とする
   テスト実行方式。
4. 【請求項４】請求項１から３のいずれか一つに記載のテ
   スト実行方式であって、実装置、及び、装置シミュレー
   ションを同時に実行させるステップと、実装置、及び、
   装置シミュレーションの出力結果から差分情報を解析す
   るステップと、解析された差分情報から、装置を制御す
   る制御プログラムに影響する部分を抽出するステップ
   と、抽出された制御プログラム部分をユーザに提示する
   ステップからなることを特徴とするテスト実行方式。
5. 【請求項５】請求項４に記載のテスト実行方式であっ
   て、実装置、及び、装置シミュレーションの出力結果か
   ら差分情報を解析するステップが、解析された差分情報
   から、装置シミュレーションの際に参照される、装置の
   ハードウェアの動作を規定した装置情報に影響する部分
   を抽出するステップと、抽出された装置情報部分をユー
   ザに提示するステップを有することを特徴とするテスト
   実行方式。
6. 【請求項６】請求項４又は５のいずれか一つに記載のテ
   スト実行方式であって、提示された情報から、制御プロ
   グラム、及び、装置情報を改造させるステップからなる
   ことを特徴とするテスト実行方式。