JPH0720599Y2 - 試料スポットの転写装置 - Google Patents
試料スポットの転写装置Info
- Publication number
- JPH0720599Y2 JPH0720599Y2 JP1990090928U JP9092890U JPH0720599Y2 JP H0720599 Y2 JPH0720599 Y2 JP H0720599Y2 JP 1990090928 U JP1990090928 U JP 1990090928U JP 9092890 U JP9092890 U JP 9092890U JP H0720599 Y2 JPH0720599 Y2 JP H0720599Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample spot
- transfer
- solvent
- infrared
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
- Devices For Use In Laboratory Experiments (AREA)
- Manufacture Of Porous Articles, And Recovery And Treatment Of Waste Products (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案はガラスやアルミ箔などの支持プレート上に固定
相が展着された薄層クロマトグラフィプレートに展開さ
れた試料スポットや、液体クロマトグラフィやゲルパー
メーションクロマトグラフィ（GPC）などにより分離さ
れてガラスなどの支持プレート上の固定相に形成された
試料スポットを、赤外分光分析法により分析するのに好
都合な媒体に転写する転写装置に関するものである。
相が展着された薄層クロマトグラフィプレートに展開さ
れた試料スポットや、液体クロマトグラフィやゲルパー
メーションクロマトグラフィ（GPC）などにより分離さ
れてガラスなどの支持プレート上の固定相に形成された
試料スポットを、赤外分光分析法により分析するのに好
都合な媒体に転写する転写装置に関するものである。
（従来の技術） 薄層クロマトグラフィーで用いるプレートとしては、一
般にガラス基板やアルミニウムシート等の上にシリカゲ
ル等を塗布したものが用いられている。
般にガラス基板やアルミニウムシート等の上にシリカゲ
ル等を塗布したものが用いられている。
薄層プレートに展開された成分をフーリエ変換赤外分光
分析法（FTIR）によって分析する試みもなされている。
FTIRで分析するには、展開した試料スポットにそのまま
赤外光を絞って照射し、拡散反射スペクトルを測定する
方法（Anal.Chem.1989,61,615-618参照）、分画部分を
かき取って抽出した後、KBrやKClの粉末ペレット上に滴
下し、乾燥させた後にFTIRで測定する方法（Anal.Chem.
1987,59,415-418参照）、薄層プレートの端部に赤外非
吸収物質の粉末を置いて薄層プレートからその粉末へガ
ラスファイバを経てスポット成分を転写させる方法（An
al.Chem.1986,58,2708-2714参照）などが試みられてい
る。
分析法（FTIR）によって分析する試みもなされている。
FTIRで分析するには、展開した試料スポットにそのまま
赤外光を絞って照射し、拡散反射スペクトルを測定する
方法（Anal.Chem.1989,61,615-618参照）、分画部分を
かき取って抽出した後、KBrやKClの粉末ペレット上に滴
下し、乾燥させた後にFTIRで測定する方法（Anal.Chem.
1987,59,415-418参照）、薄層プレートの端部に赤外非
吸収物質の粉末を置いて薄層プレートからその粉末へガ
ラスファイバを経てスポット成分を転写させる方法（An
al.Chem.1986,58,2708-2714参照）などが試みられてい
る。
（考案が解決しようとする課題） FTIR測定のために、薄層プレートに赤外光を直接当てる
方法は、薄層プレートの固定相のシリカゲルやペーパー
による赤外吸収が大きいため、実用性に乏しい。
方法は、薄層プレートの固定相のシリカゲルやペーパー
による赤外吸収が大きいため、実用性に乏しい。
試料スポットをかき取って抽出し、KBrやKClの粉末ペレ
ット上に滴下してFTIR測定する方法は、試料が損失した
り、分解したり、汚染されるなど不正確であるうえに、
手間がかかって面倒である。
ット上に滴下してFTIR測定する方法は、試料が損失した
り、分解したり、汚染されるなど不正確であるうえに、
手間がかかって面倒である。
薄層プレートの端部でガラスファイバを用いて分画成分
を転写する方法では、端部に設けられるガラスファイバ
のピッチによって展開方向の分解能が決まるうえ、一次
元に展開された薄層プレートにしか適用することができ
ない。
を転写する方法では、端部に設けられるガラスファイバ
のピッチによって展開方向の分解能が決まるうえ、一次
元に展開された薄層プレートにしか適用することができ
ない。
本考案は、試料スポットの赤外分光分析を行なう際に、
試料スポットのかき取りを行なわず、薄層プレートに展
開されたスポットを赤外非吸収物質に転写することによ
り、正確な赤外分光分析を行なうことができるようにす
ることを目的とするものである。
試料スポットのかき取りを行なわず、薄層プレートに展
開されたスポットを赤外非吸収物質に転写することによ
り、正確な赤外分光分析を行なうことができるようにす
ることを目的とするものである。
（課題を解決するための手段） 本考案は試料スポットを赤外非吸収物質粉末層に転写す
る装置に関し、その転写装置では溶媒におかされず、か
つ溶媒を通さない材質の筒体内に赤外非吸収物質粉末が
充填され、前記筒体外の下端部周囲には多孔質材質のつ
ば部が設けられている。
る装置に関し、その転写装置では溶媒におかされず、か
つ溶媒を通さない材質の筒体内に赤外非吸収物質粉末が
充填され、前記筒体外の下端部周囲には多孔質材質のつ
ば部が設けられている。
（作用） 試料が展開分離された薄層クロマトグラフィプレートな
どのプレート上で試料スポット上に、筒体内の赤外非吸
収物質粉末層の下面が接するようにおく。筒体外の多孔
質物質のつば部はその試料スポットの周囲を取り囲むよ
うにプレート面と接する。つば部に転写溶媒を滴下する
と、転写溶媒はつば部からプレートの固定相を経て筒体
内の赤外非吸収物質粉末層へ移動し、赤外非吸収物質粉
末層の表面から揮散する。転写溶媒の移動にともなって
試料スポット成分が赤外非吸収物質粉末層に転写され
る。
どのプレート上で試料スポット上に、筒体内の赤外非吸
収物質粉末層の下面が接するようにおく。筒体外の多孔
質物質のつば部はその試料スポットの周囲を取り囲むよ
うにプレート面と接する。つば部に転写溶媒を滴下する
と、転写溶媒はつば部からプレートの固定相を経て筒体
内の赤外非吸収物質粉末層へ移動し、赤外非吸収物質粉
末層の表面から揮散する。転写溶媒の移動にともなって
試料スポット成分が赤外非吸収物質粉末層に転写され
る。
（実施例） 第１図は一実施例を表わし、（Ａ）は上面図、（Ｂ）は
（Ａ）のＸ−Ｘ線位置での断面図である。２は筒体の円
筒であり、溶媒におかされず、かつ溶媒を通さない材
質、例えばステンレスなどの金属で構成されている。円
筒２内にはKBrやKClなどの赤外非吸収物質４が高密度
に、かつ均一に充填されている。円筒２の内径は転写し
ようとする試料スポットのサイズ程度の大きさである。
円筒２の外部の下端部周囲には多孔質物質のつば部６が
形成されている。
（Ａ）のＸ−Ｘ線位置での断面図である。２は筒体の円
筒であり、溶媒におかされず、かつ溶媒を通さない材
質、例えばステンレスなどの金属で構成されている。円
筒２内にはKBrやKClなどの赤外非吸収物質４が高密度
に、かつ均一に充填されている。円筒２の内径は転写し
ようとする試料スポットのサイズ程度の大きさである。
円筒２の外部の下端部周囲には多孔質物質のつば部６が
形成されている。
第２図と第３図により本実施例を用いた転写方法を説明
する。
する。
８は薄層クロマトグラフィプレートであり、ガラスやア
ルミニウム箔などの支持体８にシリカゲルなどの固定相
12が展着されている。14は固定相12に分離された試料ス
ポットである。
ルミニウム箔などの支持体８にシリカゲルなどの固定相
12が展着されている。14は固定相12に分離された試料ス
ポットである。
試料スポット14上に実施例の転写装置を載せる。円筒２
内の赤外非吸収物質粉末層４の下面が試料スポット14と
接触し、かつ、つば部６は固定相12と接触する。
内の赤外非吸収物質粉末層４の下面が試料スポット14と
接触し、かつ、つば部６は固定相12と接触する。
つば部６には溶出力が強く蒸発しやすい転写溶媒、例え
ばメタノールを滴下する。転写溶媒は第３図に矢印で示
されるように、つば部６から固定相12に入り、固定相12
から赤外非吸収物質粉末層４方向へ移動し、赤外非吸収
物質粉末層４の表面から揮散する。つば部６から外側方
向へも転写溶媒が拡散する流れができるが、試料スポッ
ト14はつば部６の内側にあるので、試料スポット14がつ
ば部６から外側方向へ向って拡散する流れに乗って外側
方向へ拡散し損失することはない。転写溶媒の移動にと
もなって試料スポット14の成分が赤外非吸収物質粉末層
４の表面層に残る。14aはこのようにして転写された試
料スポット成分である。
ばメタノールを滴下する。転写溶媒は第３図に矢印で示
されるように、つば部６から固定相12に入り、固定相12
から赤外非吸収物質粉末層４方向へ移動し、赤外非吸収
物質粉末層４の表面から揮散する。つば部６から外側方
向へも転写溶媒が拡散する流れができるが、試料スポッ
ト14はつば部６の内側にあるので、試料スポット14がつ
ば部６から外側方向へ向って拡散する流れに乗って外側
方向へ拡散し損失することはない。転写溶媒の移動にと
もなって試料スポット14の成分が赤外非吸収物質粉末層
４の表面層に残る。14aはこのようにして転写された試
料スポット成分である。
転写溶媒をつば部６から固定相12を経て赤外非吸収物質
粉末層４方向へ移動させるとき、ファンヒータなどによ
り赤外非吸収物質粉末層４の表面に風を送ると、転写溶
媒の蒸発が促進されて転写速度が速くなる。
粉末層４方向へ移動させるとき、ファンヒータなどによ
り赤外非吸収物質粉末層４の表面に風を送ると、転写溶
媒の蒸発が促進されて転写速度が速くなる。
転写後、この転写装置を薄層クロマトグラフィプレート
８から取り外し、乾燥させた後、FTIRの拡散反射測定装
置で赤外分光分析を行なえば、IRスペクトルが得られ
る。
８から取り外し、乾燥させた後、FTIRの拡散反射測定装
置で赤外分光分析を行なえば、IRスペクトルが得られ
る。
第４図は転写を効率的に行なう方法を示している。
試料スポット14に対してその上に転写装置が置かれたと
きに、つば部６の少し外側ぐらいの位置を取り囲むよう
に、固定相12を一部削り取って転写溶媒が外側方向に移
動しないようにしている。これにより、転写溶媒が固定
相の外側方向に移動するのが防がれ、試料スポット成分
が拡散するのを防止することができる。
きに、つば部６の少し外側ぐらいの位置を取り囲むよう
に、固定相12を一部削り取って転写溶媒が外側方向に移
動しないようにしている。これにより、転写溶媒が固定
相の外側方向に移動するのが防がれ、試料スポット成分
が拡散するのを防止することができる。
実施例では筒体２が円筒であり、つば部６がドーナツ状
のものを示しているが、筒体やつば部の形状は実施例の
ものに限定されない。
のものを示しているが、筒体やつば部の形状は実施例の
ものに限定されない。
（考案の効果） 本考案の転写装置は、金属などの筒体内にKBrなどの赤
外非吸収物質粉末が充填され、その筒体外の下端部周囲
に多孔質材質のつば部を備えているので、溶媒を通さな
い支持体上に固定相が展着されたプレートであっても、
試料スポットを赤外非吸収物質粉末層に転写することが
でき、固定相の影響を受けることなくIR測定を行なうこ
とができる。また、分画をかきとり抽出する方法に比べ
手間が非常に少なく行なえる。
外非吸収物質粉末が充填され、その筒体外の下端部周囲
に多孔質材質のつば部を備えているので、溶媒を通さな
い支持体上に固定相が展着されたプレートであっても、
試料スポットを赤外非吸収物質粉末層に転写することが
でき、固定相の影響を受けることなくIR測定を行なうこ
とができる。また、分画をかきとり抽出する方法に比べ
手間が非常に少なく行なえる。
薄層クロマトグラフィプレート上では大きく薄く拡がっ
てしまった試料スポットも、この転写装置で転写する段
階で赤外非吸収物質粉末層の表面に濃縮されるので、検
出感度が高くなる。また、筒体の内径をIR装置の光の大
きさ程度にしておくと、定量分析もできるようになる。
てしまった試料スポットも、この転写装置で転写する段
階で赤外非吸収物質粉末層の表面に濃縮されるので、検
出感度が高くなる。また、筒体の内径をIR装置の光の大
きさ程度にしておくと、定量分析もできるようになる。
筒体は下端部よりも上端部の内径を小さくしておくこと
により、濃縮効果を一層高めることができる。
により、濃縮効果を一層高めることができる。
第１図は一実施例を示す図であり、（Ａ）は上面図、
（Ｂ）は（Ａ）のＸ−Ｘ線位置での断面図である。第２
図及び第３図は同実施例を用いた転写方法を示す断面
図、第４図は他の転写方法を示す断面図である。 ２……筒体、４……赤外非吸収物質粉末層、６……つば
部、８……薄層クロマトグラフィプレート、10……支持
体、12……固定相、14……試料スポット、14a……転写
された試料スポット成分。
（Ｂ）は（Ａ）のＸ−Ｘ線位置での断面図である。第２
図及び第３図は同実施例を用いた転写方法を示す断面
図、第４図は他の転写方法を示す断面図である。 ２……筒体、４……赤外非吸収物質粉末層、６……つば
部、８……薄層クロマトグラフィプレート、10……支持
体、12……固定相、14……試料スポット、14a……転写
された試料スポット成分。
Claims (1)
- 【請求項１】溶媒におかされず、かつ溶媒を通さない材
質の筒体内に赤外非吸収物質粉末が充填され、前記筒体
外の下端部周囲には多孔質材質のつば部が設けられてい
る転写装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990090928U JPH0720599Y2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | 試料スポットの転写装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990090928U JPH0720599Y2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | 試料スポットの転写装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0447658U JPH0447658U (ja) | 1992-04-22 |
| JPH0720599Y2 true JPH0720599Y2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=31826108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990090928U Expired - Lifetime JPH0720599Y2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | 試料スポットの転写装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0720599Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020091173A (ja) * | 2018-12-05 | 2020-06-11 | 山善株式会社 | 薄層クロマトグラフ分取方法及び薄層クロマトグラフ用分取装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02161351A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-21 | Horiba Ltd | 薄層クロマトグラフィープレートの試料の赤外スペクトル測定方法 |
-
1990
- 1990-08-29 JP JP1990090928U patent/JPH0720599Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020091173A (ja) * | 2018-12-05 | 2020-06-11 | 山善株式会社 | 薄層クロマトグラフ分取方法及び薄層クロマトグラフ用分取装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0447658U (ja) | 1992-04-22 |
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