JPH0720183A - 液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置 - Google Patents
液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPH0720183A JPH0720183A JP16296593A JP16296593A JPH0720183A JP H0720183 A JPH0720183 A JP H0720183A JP 16296593 A JP16296593 A JP 16296593A JP 16296593 A JP16296593 A JP 16296593A JP H0720183 A JPH0720183 A JP H0720183A
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- Japan
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- liquid crystal
- crystal panel
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶駆動波形において、液晶駆動電圧とデュ
ーティとフレーム周波数を可変させることにより液晶に
印加する直流残留成分をある一定の値にする。このこと
により液晶パネル内の検出されにくい欠陥、例えば封止
口による影響、ラビングによる配向キズ、ゴミ等を発見
する。 【構成】 ＤＣ成分を含んだ波形の残留直流成分が０Ｖ
ｒｍｓ以上、５Ｖｒｍｓ以下であり、フレーム周波数が
６４Ｈｚ以上、２５６Ｈｚ以下の間または駆動電圧が０
Ｖ以上、５Ｖ以下の間、またデューティが０％以上、１
００％以下の間であることを特徴とする液晶パネル検査
方法及び装置。
ーティとフレーム周波数を可変させることにより液晶に
印加する直流残留成分をある一定の値にする。このこと
により液晶パネル内の検出されにくい欠陥、例えば封止
口による影響、ラビングによる配向キズ、ゴミ等を発見
する。 【構成】 ＤＣ成分を含んだ波形の残留直流成分が０Ｖ
ｒｍｓ以上、５Ｖｒｍｓ以下であり、フレーム周波数が
６４Ｈｚ以上、２５６Ｈｚ以下の間または駆動電圧が０
Ｖ以上、５Ｖ以下の間、またデューティが０％以上、１
００％以下の間であることを特徴とする液晶パネル検査
方法及び装置。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶パネルの検査方法と
欠陥検出装置に関するものである。
欠陥検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶パネル検査方法は、図３に示
すように初期設定１、液晶パネル印加２、外観検査３の
順で行っていた。検査工程でのパネル印加駆動波形は、
図４に示すようにコモン電極入力波形とセグメント電極
入力波形との合成波形で構成される。前記駆動波形は、
フレーム周波数、デューティ、駆動電圧によって定義さ
れ一定の規則性がある。従来の検査工程は駆動波形であ
るＤＣ成分を含まない交流波形を液晶パネル表示部に印
加し、該表示部の表示欠陥を表示外観にて発見する検査
方法である。またデューティの定義、直流残留成分の定
義を以下に示す。さらに従来の駆動波形の計算値を数１
に示す（図４参照）。
すように初期設定１、液晶パネル印加２、外観検査３の
順で行っていた。検査工程でのパネル印加駆動波形は、
図４に示すようにコモン電極入力波形とセグメント電極
入力波形との合成波形で構成される。前記駆動波形は、
フレーム周波数、デューティ、駆動電圧によって定義さ
れ一定の規則性がある。従来の検査工程は駆動波形であ
るＤＣ成分を含まない交流波形を液晶パネル表示部に印
加し、該表示部の表示欠陥を表示外観にて発見する検査
方法である。またデューティの定義、直流残留成分の定
義を以下に示す。さらに従来の駆動波形の計算値を数１
に示す（図４参照）。
【０００３】
【数１】
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】液晶パネルは、極めて
微細なゴミを含んでいる場合がある。従来の検査方法で
は、検査駆動波形２値表示用（ＯＮ、ＯＦＦの２値）駆
動波形は、残留直流成分（電圧）はほぼ０Ｖｒｍｓを用
いており、ゴミによる欠陥は現われなかった。これに対
して市販されているコントローラで発生する階調表示用
駆動波形で駆動した場合、微細なゴミ等の欠陥が現われ
るという問題があった。これは、中間調を利用した表示
画面となっているため、従来の駆動波の表示状態以上の
直流残留成分が発生するのではないかと考えた。この影
響により液晶内部のイオンが配向膜ゴミなどに吸着し液
晶パネルの電気光学的特性（透過率）などを変化させ
る。結局点状のムラや欠陥を発生させる。したがって階
調表示対応用の液晶パネルを検査する時は従来の駆動波
形を用いたのでは、欠陥を検出できないのではないかと
いう結論に達した。そこで階調表示対応用の液晶パネル
の検査を専用コントローラなしで簡易的に実現する方法
として本体の駆動波形を発明した。これを用いることで
比較的簡単に階調表示対応用液晶パネルの検査が可能と
させた。
微細なゴミを含んでいる場合がある。従来の検査方法で
は、検査駆動波形２値表示用（ＯＮ、ＯＦＦの２値）駆
動波形は、残留直流成分（電圧）はほぼ０Ｖｒｍｓを用
いており、ゴミによる欠陥は現われなかった。これに対
して市販されているコントローラで発生する階調表示用
駆動波形で駆動した場合、微細なゴミ等の欠陥が現われ
るという問題があった。これは、中間調を利用した表示
画面となっているため、従来の駆動波の表示状態以上の
直流残留成分が発生するのではないかと考えた。この影
響により液晶内部のイオンが配向膜ゴミなどに吸着し液
晶パネルの電気光学的特性（透過率）などを変化させ
る。結局点状のムラや欠陥を発生させる。したがって階
調表示対応用の液晶パネルを検査する時は従来の駆動波
形を用いたのでは、欠陥を検出できないのではないかと
いう結論に達した。そこで階調表示対応用の液晶パネル
の検査を専用コントローラなしで簡易的に実現する方法
として本体の駆動波形を発明した。これを用いることで
比較的簡単に階調表示対応用液晶パネルの検査が可能と
させた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そこで本発明では、ＤＣ
成分を含んだ駆動波形を液晶パネルの該表示部の表示欠
陥を発見させることを特徴とする液晶パネル検査方法と
その液晶パネル欠陥検出装置によりするものである。
成分を含んだ駆動波形を液晶パネルの該表示部の表示欠
陥を発見させることを特徴とする液晶パネル検査方法と
その液晶パネル欠陥検出装置によりするものである。
【０００６】
【作用】ある一定のＤＣ成分を液晶パネルへ印加させる
と、その中で微細な表示欠陥の原因となっているゴミ
や、帯電物質に電気的な力が働き液晶パネル内で移動を
おこす。これに伴って、液晶パネル内のＶｔｈ、Ｖｓａ
ｔが変化をおこし表示ムラを発生させる。この現象を利
用することにより従来では、検査工程で発見できなかっ
た、表示欠点を出現させることが可能となった。
と、その中で微細な表示欠陥の原因となっているゴミ
や、帯電物質に電気的な力が働き液晶パネル内で移動を
おこす。これに伴って、液晶パネル内のＶｔｈ、Ｖｓａ
ｔが変化をおこし表示ムラを発生させる。この現象を利
用することにより従来では、検査工程で発見できなかっ
た、表示欠点を出現させることが可能となった。
【０００７】
【実施例】本発明による検査方法を説明する。 （実施例１）図１のフローチャートに示すとおり、まず
初期設定１を行い、次の液晶パネル印加２の工程で、図
２の波形を印加することにより検査を行う。即ち、初期
設定１工程で、フレーム周波数ｆFRM ＝６４Ｈｚ〜１２
８Ｈｚへセットする。実験的にこの周波数の帯域が、一
番表示欠陥を発見しやすいことがわかっている。次に、
液晶パネル印加２工程で液晶パネルへ駆動波形を印加す
る。その後、外観検査３工程にて、表示外観を検査す
る。更に、電圧、デューティ、フレーム周波数可変４工
程にて、駆動電圧とデューティを可変させ、該表示部の
表示欠陥を出現させる。また更に、最終欠陥チェック５
工程にて、従来の検査波形に戻し、図２に示す本発明の
ＤＣ成分含む駆動波形へ切り替えその過渡状態において
欠陥を検査する。この１〜５の工程により検査を行う。
初期設定１を行い、次の液晶パネル印加２の工程で、図
２の波形を印加することにより検査を行う。即ち、初期
設定１工程で、フレーム周波数ｆFRM ＝６４Ｈｚ〜１２
８Ｈｚへセットする。実験的にこの周波数の帯域が、一
番表示欠陥を発見しやすいことがわかっている。次に、
液晶パネル印加２工程で液晶パネルへ駆動波形を印加す
る。その後、外観検査３工程にて、表示外観を検査す
る。更に、電圧、デューティ、フレーム周波数可変４工
程にて、駆動電圧とデューティを可変させ、該表示部の
表示欠陥を出現させる。また更に、最終欠陥チェック５
工程にて、従来の検査波形に戻し、図２に示す本発明の
ＤＣ成分含む駆動波形へ切り替えその過渡状態において
欠陥を検査する。この１〜５の工程により検査を行う。
【０００８】本発明による検査方法により、表１に示す
表示欠陥検出数の従来との比較でも分るとおり、従来方
法では、検出できなかった欠陥を多く検出できた。
表示欠陥検出数の従来との比較でも分るとおり、従来方
法では、検出できなかった欠陥を多く検出できた。
【０００９】
【表１】
【００１０】本発明での、液晶パネル表示部の該表示部
表示欠陥を図６に示す。又従来の検査方法においての該
表示部表示欠陥を図７に示す。従来よりもより多く検出
できることが明確である。 （実施例２）図８を用いて液晶パネルの欠陥検出装置の
説明をする。
表示欠陥を図６に示す。又従来の検査方法においての該
表示部表示欠陥を図７に示す。従来よりもより多く検出
できることが明確である。 （実施例２）図８を用いて液晶パネルの欠陥検出装置の
説明をする。
【００１１】装置の発振回路６は、コンデンサーと抵抗
によるＣＲ発振回路である。フレーム周波数設定回路７
は、発振回路で発生したクロックを受け、それを分周し
液晶駆動用フレーム周波数を作り出すものである。デュ
ーティ可変モード８は、デューティ調整用可変ボリュー
ムを用いてｔON／ｔf を任意に可変することによりデュ
ーティを任意に設定する事が可能であり、スタティック
モード９は、ｔON／ｔ f を５０％に固定した駆動波形を
出力することができる。セグメント波形発生回路、コモ
ン波形発生回路１０は、ＸＯＲゲートを使用してスタテ
ィックモード又はデューティ可変モードからの信号を受
けセグメント波形及びコモン波形を発生させる回路でで
ある。
によるＣＲ発振回路である。フレーム周波数設定回路７
は、発振回路で発生したクロックを受け、それを分周し
液晶駆動用フレーム周波数を作り出すものである。デュ
ーティ可変モード８は、デューティ調整用可変ボリュー
ムを用いてｔON／ｔf を任意に可変することによりデュ
ーティを任意に設定する事が可能であり、スタティック
モード９は、ｔON／ｔ f を５０％に固定した駆動波形を
出力することができる。セグメント波形発生回路、コモ
ン波形発生回路１０は、ＸＯＲゲートを使用してスタテ
ィックモード又はデューティ可変モードからの信号を受
けセグメント波形及びコモン波形を発生させる回路でで
ある。
【００１２】電圧可変回路１１は、電圧調整用可変ボリ
ュームを可変させる事によって液晶駆動電圧を任意の電
圧に設定する事が可能である。電流増幅回路１２は、液
晶パネルを実際に動かすために必要な電流を発生させ
る。以上の回路によって検査に必要な液晶駆動波形が発
生できる。回路ブロック図中のデューティ可変モード機
能７を選択し、さらに電圧可変回路１１にて駆動電圧を
３Ｖへセットする。その後デューティを０％〜１００％
へ可変させ欠陥が一番良く見える駆動波形を決定する。
その駆動波形を図４に示す。このときの直流残留成分は
１．９２２Ｖｒｍｓである（下記数２参照）。設定終了
後通常の駆動波形（図５）へ戻し数秒後再び前述の駆動
波形（図２）へ切り替える。過渡状態の表示画面を観察
することにより該表示部の表示欠陥が検出可能である。
ュームを可変させる事によって液晶駆動電圧を任意の電
圧に設定する事が可能である。電流増幅回路１２は、液
晶パネルを実際に動かすために必要な電流を発生させ
る。以上の回路によって検査に必要な液晶駆動波形が発
生できる。回路ブロック図中のデューティ可変モード機
能７を選択し、さらに電圧可変回路１１にて駆動電圧を
３Ｖへセットする。その後デューティを０％〜１００％
へ可変させ欠陥が一番良く見える駆動波形を決定する。
その駆動波形を図４に示す。このときの直流残留成分は
１．９２２Ｖｒｍｓである（下記数２参照）。設定終了
後通常の駆動波形（図５）へ戻し数秒後再び前述の駆動
波形（図２）へ切り替える。過渡状態の表示画面を観察
することにより該表示部の表示欠陥が検出可能である。
【００１３】
【数２】
【００１４】
【発明の効果】本発明は以上説明したように、ＤＣ成分
を含んだ駆動波形を液晶パネル表示表示部に印加し、従
来の検査工程では検出できなかった微細な表示欠陥を発
見でき、しかも簡便な方法で行える。
を含んだ駆動波形を液晶パネル表示表示部に印加し、従
来の検査工程では検出できなかった微細な表示欠陥を発
見でき、しかも簡便な方法で行える。
【図１】本発明による検査工程である。
【図２】本発明による検査用駆動波形である。
【図３】従来の検査工程である。
【図４】従来の検査用駆動波形である。
【図５】通常の駆動波形である。
【図６】本発明の検査工程にて現れた液晶パネルの欠陥
の様子である。
の様子である。
【図７】従来の検査工程にて現れた液晶パネルの欠陥の
様子である。
様子である。
【図８】本発明に検査回路ブロック図である。
Claims (3)
- 【請求項１】 ＤＣ成分を含んだ駆動波形を液晶パネル
の表示部に印加し該表示部の表示欠陥を発現させること
を特徴とする液晶パネルの検査方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の検査方法において、前記
ＤＣ成分を含んだ波形の残留直流成分が０Ｖｒｍｓ以
上、５Ｖｒｍｓ以下で有り、前記駆動波形はフレーム周
波数が６４Ｈｚ以上、２５６Ｈｚ以下の間又は、駆動電
圧が０Ｖ以上５Ｖ以下の間、又、駆動波形のデューティ
が０％以上、１００％以下の間で有ることを特徴とす
る、液晶パネルの検査方法。 - 【請求項３】 ＤＣ成分を含んだ駆動波形を液晶パネル
に印加して、液晶パネルの欠陥を検出する装置におい
て、フレーム周波数が６４Ｈｚ以上、２５６Ｈｚ以下の
間または残留直流成分０Ｖｒｍｓ以上、５Ｖｒｍｓ以下
の間または駆動電圧が０Ｖ以上、５Ｖ以下の間または駆
動波形のデューティが０％以上、１００％以下の間で有
ることを特徴とする液晶パネルの欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16296593A JPH0720183A (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16296593A JPH0720183A (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0720183A true JPH0720183A (ja) | 1995-01-24 |
Family
ID=15764648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16296593A Pending JPH0720183A (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0720183A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100963033B1 (ko) * | 2003-12-26 | 2010-06-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치용 검사 장치 및 검사방법 |
| KR100985570B1 (ko) * | 2004-05-27 | 2010-10-05 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 셀의 잔여디씨 전압 측정법 및 측정장치 |
| CN107577088A (zh) * | 2017-09-15 | 2018-01-12 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 智能光配向驱动系统及其驱动方法 |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP16296593A patent/JPH0720183A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100963033B1 (ko) * | 2003-12-26 | 2010-06-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치용 검사 장치 및 검사방법 |
| KR100985570B1 (ko) * | 2004-05-27 | 2010-10-05 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 셀의 잔여디씨 전압 측정법 및 측정장치 |
| CN107577088A (zh) * | 2017-09-15 | 2018-01-12 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 智能光配向驱动系统及其驱动方法 |
| CN107577088B (zh) * | 2017-09-15 | 2021-01-26 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 智能光配向驱动系统及其驱动方法 |
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