JPH07201190A - 不揮発性メモリファイルシステム - Google Patents

不揮発性メモリファイルシステム

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Publication number
JPH07201190A
JPH07201190A JP33752293A JP33752293A JPH07201190A JP H07201190 A JPH07201190 A JP H07201190A JP 33752293 A JP33752293 A JP 33752293A JP 33752293 A JP33752293 A JP 33752293A JP H07201190 A JPH07201190 A JP H07201190A
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JP
Japan
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volatile memory
data
storage area
block
file system
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Pending
Application number
JP33752293A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Nishikawa
隆博 西川
Kuninao Yoshimatsu
邦尚 吉松
Masaya Fujita
昌也 藤田
Taketomo Yamane
丈知 山根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い頻度でファイルの更新を行うファイルシ
ステムに適用でき、かつ磁気ディスク装置よりも信頼性
の高い、不揮発性メモリを用いたファイルシステムを得
る。 【構成】 不揮発性メモリ4の記憶領域に対応する揮発
性メモリ3の記憶領域を記憶領域指定手段により指定し
て、前記揮発性メモリ3の該指定された記憶領域にデー
タを一時的に記憶させた後に、制御手段により所定量の
データ毎に不揮発性メモリ4に揮発性メモリ3中のデー
タを転送して記憶せしめる。 【効果】 高速で振動衝撃に強い信頼性の高いファイル
システムが得られる。また不揮発性メモリへの書き込み
回数を減少でき、高速記憶,不揮発性メモリの長寿命化
を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、不揮発性メモリをフ
ァイルシステムとして用いた不揮発性メモリファイルシ
ステムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図17は例えば特開平4−25523号
公報に示された従来の高速化された非同期型の磁気ディ
スク装置の構成を示すブロック図であり、図において、
16はホストコンピュータ、17は該ホストコンピュー
タ16に接続された磁気ディスク制御装置、18は磁気
ディスク制御装置17に接続され、該磁気ディスク制御
装置17により制御される磁気ディスク、19は磁気デ
ィスク制御装置17内に設けられた半導体不揮発性メモ
リ、20は同じく磁気ディスク制御装置17内に設けら
れ、ホストコンピュータ16からのデータを受け入れて
不揮発性メモリ19に記憶させるとともに該不揮発性メ
モリ19からデータを読み出して磁気ディスク18に記
憶させる主制御部、21は不揮発性メモリ19内のフラ
グ情報格納部である。
【0003】図18は図17に示した非同期型の磁気デ
ィスク装置の電源投入時の動作を示すシーケンスフロー
チャートである。
【0004】次に動作について説明する。データを磁気
ディスク装置18に記憶させる書き込み動作の場合、ま
ずホストコンピュータ16から磁気ディスク装置18へ
の書き込み指示コマンドと書き込むべきデータが磁気デ
ィスク制御装置17に送信される。磁気ディスク制御装
置17の主制御部20は、ホストコンピュータ16から
転送されてくるデータを受信し、不揮発性メモリ19に
格納する。また、データとともに書き込み先のアドレス
も不揮発性メモリ19に格納する。不揮発性メモリ19
への転送データの格納が終了すると、主制御部20はホ
ストコンピュータ16との接続を電気的に切り離す。こ
れによりホストコンピュータ16は磁気ディスク18へ
の書き込み処理から解放され、他の処理を行うことがで
きる。すなわち、ホストコンピュータ16は動作の速い
不揮発性メモリ19にデータを格納する時間だけ磁気デ
ィスク制御装置17に接続されていればよく、動作の遅
い磁気ディスク18へ直接データを書き込む場合に比べ
て高速化できる。
【0005】主制御部20は、不揮発性メモリ19への
データの書き込み処理の終了を検出すると、不揮発性メ
モリ19に一次格納したデータを磁気ディスク18の指
定されたアドレスへ書き込む書き込み動作を開始する。
なお、不揮発性メモリ19にデータが格納されたとき、
例えば不揮発性メモリ19の先頭番地に設けられたフラ
グ情報格納部21にデータの存在を示すフラグがセット
される。
【0006】次に、電源投入時の処理動作を図18のフ
ローチャートを参照しながら説明する。磁気ディスク制
御装置17の電源がオンされると(ステップST4
1)、主制御部20が不揮発性メモリ19上にデータが
あるか否かを不揮発性メモリ19内のフラグ情報格納部
21に格納されたフラグにより判断する(ステップST
42)。不揮発性メモリ19上に磁気ディスク18へ転
送すべきデータが存在する場合には、主制御部20は該
データと該データを格納すべき磁気ディスク18のアド
レスデータとを読み出して、これらに基づいて磁気ディ
スク18へのデータの格納動作を制御するタスクを生成
する(ステップST43)。主制御部20はこのタスク
に基づいて不揮発性メモリ19に記憶されているデータ
を磁気ディスク18に書き込む(ステップST44)。
この書き込み動作が終了すると、主制御部20は次の制
御動作に備えて待機する(ステップST45)。不揮発
性メモリ19上に磁気ディスク18へ転送すべきデータ
が存在しない場合には、主制御部20はフラグ情報格納
部21のフラグ情報でこれを判断し、次の制御動作に備
えて待機する(ステップST42,ST45)。なお、
不揮発性メモリ19上に存在するデータが磁気ディスク
18から読み出した読み出しデータである場合には、ホ
ストコンピュータ16が前回の読み出し動作の不完全な
終了を記憶しているので、磁気ディスク制御装置17の
電源最投入時にホストコンピュータ16がレディ信号を
磁気ディスク制御装置17に送信し、このレディ信号に
基づき磁気ディスク18からのデータの読み出し動作の
再処理が行われる。このような磁気ディスク装置が計算
機システムにおける不揮発生メモリファイルシステムと
して広く用いられている。しかし、一般的な磁気ディス
ク装置は10万時間程度の運転時間が保証されている
が、連続運転する場合は、2年数カ月間しか使用できな
い。また、対衝撃性能も他の計算機用記憶装置に比して
劣り、計算機システムで最初に故障するのが磁気ディス
ク装置であることが多かった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の不揮発生メモリ
ファイルシステムは以上のように構成されているので、
ファイルシステムの信頼性により計算機システムの信頼
性が大きな影響を受けた。
【0008】この欠点を補うために、半導体メモリを使
用してファイルシステムを構築し、磁気ディスクファイ
ルシステムの代替メモリとして使用することも試みられ
ている。このような半導体メモリファイルシステムにお
いては、揮発性半導体を用いて、該揮発性半導体を電池
等のバックアップ電源でバックアップすることによりデ
ータの消失を防止していた。しかし、バックアップ電源
は使用時間に制限があり、電池では漏液等による破損事
故の可能性もあり、ファイルシステムのメモリ装置とし
ては信頼性の上で問題があった。
【0009】そのため、半導体不揮発性メモリ等の不揮
発性メモリを図17の従来例の磁気ディスク18に相当
するメモリとして用いてファイルシステムを構築するこ
とも検討されているが、半導体不揮発性メモリは書き込
み(消去)回数の制限があり、また書き込み時間が遅い
ため、頻繁にファイルの内容を更新するファイルシステ
ムとしては使用できないという問題点があった。
【0010】請求項1の発明は上記のような問題点を解
消するためになされたもので、更に高速動作が可能で、
不揮発性メモリの書き込み回数が相対的に小さく、した
がって頻繁にファイルの更新を行うファイルシステムに
適用でき、かつ信頼性の高い不揮発性メモリファイルシ
ステムを得ることを目的とする。
【0011】請求項2の発明は、不揮発性メモリの記憶
領域の一部に異常が発生しても、他の正常な記憶領域を
使用して該不揮発性メモリの耐用期間を実質的に延長で
き、かつ更に高速動作が可能で、頻繁にファイルの更新
を行うファイルシステムに適用できる信頼性の高い不揮
発性メモリファイルシステムを得ることを目的とする。
【0012】請求項3の発明は、ファイル内容の書き込
みエラーを事前に防止でき、信頼性が高く、不揮発性メ
モリの耐用期間を実質的に延長でき、かつ更に高速動作
が可能で、頻繁にファイルの更新を行うファイルシステ
ムに適用できる不揮発性メモリファイルシステムを得る
ことを目的とする。
【0013】請求項4の発明は、ファイル内容の書き込
みエラーを事前に防止でき、信頼性が高く、不揮発性メ
モリの耐用期間を実質的に延長でき、かつ更に高速動作
が可能で、頻繁にファイルの更新を行うファイルシステ
ムに適用できる不揮発性メモリファイルシステムを得る
ことを目的とする。
【0014】請求項5の発明は、低コストに容易に不揮
発性メモリの交換が可能で、更に高速動作でき、頻繁に
ファイルの更新を行うファイルシステムに適用できる信
頼性の高い不揮発性メモリファイルシステムを得ること
を目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る不
揮発性メモリファイルシステムは、バックアップ電源に
よりバックアップされた揮発性メモリと不揮発性メモリ
とを組み合わせ、データを一時的に揮発性メモリに記憶
させておいて所定量のデータ毎に該揮発性メモリから不
揮発性メモリに転送する制御手段を設けたものである。
【0016】請求項2の発明に係る不揮発性メモリファ
イルシステムは、不揮発性メモリ中に代替的記憶領域を
設け、さらに、データの書き込みエラーが発生した不揮
発性メモリの記憶領域の替わりに該代替的記憶領域を割
り当てる記憶領域割り当て手段を設けたものである。
【0017】請求項3の発明に係る不揮発性メモリファ
イルシステムは、不揮発性メモリ中に代替的記憶領域を
設け、さらに、不揮発性メモリの記憶領域にデータを書
き込んだ書き込み回数を計数する計数手段と、該計数手
段の計数値が所定値を超えた記憶領域の替わりに代替的
記憶領域を割り当てる記憶領域割り当て手段とを設けた
ものである。
【0018】請求項4の発明に係る不揮発性メモリファ
イルシステムは、不揮発性メモリ中に代替的記憶領域を
設け、さらに、不揮発性メモリの記憶領域にデータを書
き込んだ書き込み回数を計数する計数手段と、該計数手
段の計数値が所定値を超えた記憶領域の替わりに書き込
み回数の小さい記憶領域を割り当てるデータ記憶領域割
り当て手段とを設けたものである。
【0019】請求項5の発明に係る不揮発性メモリファ
イルシステムは、不揮発性メモリを本体部と別個に設け
たものである。
【0020】
【作用】請求項1の発明における不揮発性メモリファイ
ルシステムは、不揮発性メモリに記憶させるべきデータ
を一時的に更に高速で書き込み回数の制限のない揮発性
メモリに記憶させて所定量のデータ毎に該揮発性メモリ
から不揮発性メモリに転送する。したがって、不揮発性
メモリに対するデータの書き込み回数を低減でき、その
分不揮発性メモリよりも動作の速い揮発性メモリを用い
ることにより、高速動作が可能となる。また、不揮発性
メモリへの書き込み回数が低減されるので、不揮発性メ
モリを高信頼度で長期間使用できる。したがって、この
発明における不揮発性メモリファイルシステムは、頻繁
にファイルの更新を行うファイルシステムに適用でき
る。
【0021】請求項2の発明における不揮発性メモリフ
ァイルシステムは、データの書き込みエラーが発生した
不揮発性メモリの記憶領域の替わりに代替的記憶領域を
割り当てるので、不揮発性メモリの記憶領域の一部に異
常が発生しても、他の正常な記憶領域を使用して該不揮
発性メモリの耐用期間を実質的に延長できる。更に、デ
ータを一時的に揮発性メモリに記憶させて所定量のデー
タ毎に該揮発性メモリから不揮発性メモリに転送するの
で、更に高速動作が可能となり、不揮発性メモリを高信
頼度で長期間使用でき、頻繁にファイルの更新を行うフ
ァイルシステムに適用できる。
【0022】請求項3の発明における不揮発性メモリフ
ァイルシステムは、不揮発性メモリの記憶領域へのデー
タの書き込み回数が所定の回数以上となった記憶領域を
使用しないようにするので、ファイル内容の書き込みエ
ラーを事前に防止でき、信頼性が高く、不揮発性メモリ
の耐用期間を実質的に延長できる。更に、データを一時
的に揮発性メモリに記憶させて所定量のデータ毎に該揮
発性メモリから不揮発性メモリに転送するので、更に高
速動作が可能となり、不揮発性メモリを高信頼度で長期
間使用でき、頻繁にファイルの更新を行うファイルシス
テムに適用できる。
【0023】請求項4の発明における不揮発性メモリフ
ァイルシステムは、、不揮発性メモリの記憶領域へのデ
ータの書き込み回数が所定の回数以上となった記憶領域
の代わりに書き込み回数の少ない記憶領域を割り当てる
ので、ファイル内容の書き込みエラーを事前に防止で
き、信頼性が高く、不揮発性メモリの耐用期間を実質的
に延長できる。更に、データを一時的に揮発性メモリに
記憶させて所定量のデータ毎に該揮発性メモリから不揮
発性メモリに転送するので、更に高速動作が可能とな
り、不揮発性メモリを高信頼度で長期間使用でき、頻繁
にファイルの更新を行うファイルシステムに適用でき
る。
【0024】請求項5の発明における不揮発性メモリフ
ァイルシステムは、本体部と別個に設けた不揮発性メモ
リファイルシステムを用いるので、不揮発性メモリが不
良化した場合に該不揮発性メモリのみ取り替えればよ
く、低コストに容易に不揮発性メモリの交換が可能とな
る。更に、データを一時的に揮発性メモリに記憶させて
所定量のデータ毎に該揮発性メモリから不揮発性メモリ
に転送するので、更に高速動作が可能となり、不揮発性
メモリを高信頼度で長期間使用でき、頻繁にファイルの
更新を行うファイルシステムに適用できる。
【0025】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1において、1はこの実施例の動作を制御する
マイクロプロセッサユニット(以下、MPUと略記す
る)(記憶領域指定手段、制御手段、点検手段、記憶領
域割り当て手段、計数手段、比較手段、検索手段)、2
は演算動作を制御するシステムプログラムや各種定数等
のデータを記憶した主メモリ(この実施例においてはD
RAMを用いている)、3は図示しない電池(バックア
ップ電源)でバッテリバックアップされた半導体素子を
用いた揮発性メモリ、4は揮発性メモリ3と同一の回路
基板上に装着された半導体素子を用いた不揮発性メモリ
で、揮発性メモリ3と不揮発性メモリ4を搭載した回路
基板はMPU1を搭載したCPUボードのメモリ子基板
22として実装される。5はCPUボードのデータバ
ス、6はCPUボードのアドレス・制御信号バスであ
り、データバス5及びアドレス・制御信号バス6は主メ
モリ2及びメモリ子基板22と電気的に接続されてい
る。
【0026】図2は、不揮発性メモリ4(図2(A))
及び揮発性メモリ3(図2(B))内のデータ構造を示
す図である。図2(A)において、7は不揮発性メモリ
4内のブロック(記憶領域)を管理するためのブロック
管理領域、8は不揮発性メモリ4内のブロックであり、
この実施例においてはm(mは自然数)個ある。ブロッ
ク管理領域7及びブロック8は共に不揮発性メモリ4の
消去単位(書き込み単位)の倍数のサイズ(固定サイ
ズ)(本実施例では64Kバイト)であり、この固定サ
イズをy(yは正の実数)とすると、不揮発性メモリ4
の全体のサイズx(xは正の実数)は(m+1)yとな
る。図2(B)において、7aは揮発性メモリ3内に複
写されたブロック管理領域7の写像のブロック管理領
域、9は揮発性メモリ3内の記憶領域10を管理するた
めのバッファ管理領域、10は揮発性メモリ3内の各記
憶領域(以下バッファと表記する)で、本実施例での各
バッファ10の記憶容量は4Kバイトである。バッファ
はn(nは自然数)個ある。なお、図の破線の矢印は、
記憶された内容の相関性を表す。
【0027】図3は図2(A)のブロック管理領域7の
データ構造を示す図である。図3に示すように、ブロッ
ク管理領域7には、不揮発性メモリ4全体の使用の可否
を判定するデータを書き込む使用判定領域、全ブロック
数を書き込む全ブロック数領域が設けられ、全ブロック
数領域は、図の破線に示すように、図の下段のブロック
リストの数を示している。また、ブロック管理領域7に
は、既にデータが書き込まれているブロックの先頭の番
号を書き込む使用中先頭ブロック番号領域(この例で
は、図の破線に示すように、ブロックリストの先頭のブ
ロック番号領域に対応し、図の破線に示すごとく、使用
に伴い順次移行する。)、既にデータが書き込まれたブ
ロックの最後の番号を書き込む使用中最後ブロック番号
領域(図の破線に示すように、この例ではブロックリス
トの下から2段目のブロック番号領域に対応する)、既
にデータが書き込まれたブロックの数を書き込む使用中
ブロック数領域、未だデータが書き込まれていないブロ
ックの先頭の番号を書き込む未使用先頭ブロック番号領
域(図の破線に示すように、この例ではブロックリスト
の3番目のブロック数領域に対応する)、未だデータが
書き込まれていないブロックの最後の番号を書き込む未
使用最後ブロック番号領域(図の破線に示すように、こ
の例ではブロックリストの最後のブロック番号領域に対
応する)、未だデータが書き込まれていないブロックの
数を書き込む未使用ブロック数領域と、不揮発性メモリ
4の各ブロック#(番号)1〜#mのそれぞれの状態に
関する情報を書き込むブロックリスト領域11とから成
る。
【0028】図4は、図2(B)のバッファ管理領域9
のデータ構造を示す図である。図4に示すように、バッ
ファ管理領域9は、揮発性メモリ3内の全バッファ数を
書き込む全バッファ数領域、未だデータが書き込まれて
いないバッファの先頭の番号を書き込む未使用先頭バッ
ファ番号領域、未だデータが書き込まれていないバッフ
ァの最後の番号を書き込む未使用最後バッファ番号領
域、未だデータが書き込まれていないバッファの数を書
き込む未使用バッファ数領域と、ハッシュ関数の取り得
る値(1〜l)のそれぞれと各バッファとの対応関係を
示すデータを書き込むハッシュリスト12と、バッファ
のそれぞれの状態に関するデータを書き込むバッファリ
スト13とから成る。
【0029】図5は、バッファ管理領域9のハッシュリ
スト12とバッファリスト13の内容を示す図である。
ハッシュリスト12にはハッシュ関数の取り得る値1〜
lのそれぞれに対応する先頭バッファ番号(例えば、ハ
ッシュ値1の先頭バッファ番号は、図の破線のごとく、
バッファ#1次ブロックの1が対応する)と最後バッフ
ァ番号(例えば、ハッシュ値1の最後バッファ番号は、
図の破線のごとく、バッファ#2次ブロックの2が対応
する)とが書き込まれる。また、バッファリスト13
は、n個のバッファブロックに分かれ、各バッファブロ
ックはブロック番号を示す領域(バッファ#1〜n次ブ
ロック領域)と、書き込みがなされたか否かを示すフラ
グを書き込む領域(バッファ#1〜n書込完了フラグ領
域)と、データを書き込む領域(バッファ#1〜n不揮
発性メモリブロック#領域)とから構成される。
【0030】図6は、本実施例の不揮発性メモリファイ
ルシステムにおいて、記憶されたデータを読み出す場合
のアルゴリズムを示すフローチャートである。また、図
7は、ハッシュ値から対応するバッファブロックの番号
を検索するときの状態を具体的に説明するためのバッフ
ァリスト13の一部を示す図、図8は、本実施例の不揮
発性メモリファイルシステムにおいて、データを書き込
む場合のアルゴリズムを示すフローチャートである。さ
らに、図9は、本実施例の不揮発性メモリファイルシス
テムの起動時及びシャットダウン時の動作を示すアルゴ
リズムである。
【0031】次に動作について説明する。まず、本実施
例の不揮発性メモリファイルシステムにおいて、書き込
まれたデータを読み出す場合の動作について説明する。
図示しないキーボードの操作によりデータの読み出しが
指定されると、MPU1は主メモリ2から図6のリード
アルゴリズムを読み出し、続いてキーボード入力により
指定された記憶領域を求めるハッシュ計算を行う(ステ
ップST1)。例えば、不揮発性メモリ4のブロック数
mが1024でバッファブロック数nが128であると
して、ハッシュ関数を、 ハッシュ値=ハッシュ関数(不揮発性メモリブロック番
号) =(不揮発性メモリブロック番号/8の余り)+1 とすると、ハッシュ関数は1〜8(l=8)のハッシュ
値を取り得、同一のハッシュ値をもつ不揮発性メモリブ
ロックは8個あることとなる。したがって、ハッシュ値
をキーワードとして最大8個のバッファブロックを探す
ことにより、不揮発性メモリブロックに対応するバッフ
ァブロック番号を求めることができる。
【0032】次に、MPU1はこれにより得られたハッ
シュ値が図5のハッシュリスト12のどの領域に該当す
るかを判断し(ステップST2)、同一の値を有するハ
ッシュリストに接続されたバッファが存在する場合に
は、該バッファ内の対応ブロックからデータを読み出す
(ステップST3)。例えば、検索する不揮発性メモリ
のブロック番号が128でバッファ内にあるものとす
る。更に、不揮発性メモリブロック#1がバッファ内に
あるものとすと、 ハッシュ値=ハッシュ関数(128) =(128/8)の余り+1 =1 であるから、図7のハッシュ値1の先頭バッファの番号
を見ると50となっているので、バッファ#50の不揮
発性メモリ4のブロック番号を見る。これは1であり1
≠128であるので、バッファ#50の次のブロックを
見る。これは60となっているので、バッファ#60の
不揮発性メモリ番号を見る。これは128であるので、
ここで不揮発性メモリブロック128に対応したバッフ
ァ#が60であることが判明する。したがって、このバ
ッファ#60からデータを読み出すこととなる。
【0033】不揮発性メモリブロック#256について
同じ手続を行うと、バッファ#60の次ブロック番号が
0であるので、256に対応したバッファはないことが
分かる。この場合に不揮発性メモリ4のブロック(この
場合はブロック#256)から直接データを読み出す
(ステップST4)。
【0034】本実施例の不揮発性メモリファイルシステ
ムにおいて、データを書き込む場合には、図8に示すラ
イトアルゴリズムに従って動作する。操作者のキーボー
ド操作により不揮発性メモリの特定ブロックへのデータ
の書き込みが指定されると、MPU1は主メモリ2から
図8のライトアルゴリズムを読み出し、続いてキーボー
ド入力により指定されたブロックを求める前述したのと
同様のハッシュ計算を行う(ステップST5)。読みだ
しの場合と同様に、ハッシュ計算の結果、指定ブロック
がバッファ10内にあると判断された場合には(ステッ
プST6)、書き込むべきデータを主メモリ2から読み
出してこれを揮発性メモリ3内のハッシュ値により指定
されたバッファ内にコピーした後、図5に示したバッフ
ァリスト13の対応するブロックの書き込み完了フラグ
をオフして動作を終了する(ステップST10)。
【0035】ハッシュ計算の結果、指定されたブロック
がバッファ内にないと判断されたときには(ステップS
T6)、揮発性メモリ3のバッファ管理領域9の未使用
バッファ数データから、データが書き込まれていない空
バッファが揮発性メモリ3内に存在するか否かを判断す
る(ステップST7)。この判断の結果空バッファが存
在する場合にはそのままステップST9の処理に移行
し、空バッファがない場合には、現在データが書き込ま
れて使用中の揮発性メモリ3のバッファの1ブロックで
最も書き込みが古いブロックのデータをすべて不揮発性
メモリ4に書き写し、書き込み完了フラグをオンにし
て、揮発性メモリ3中に1個の未使用バッファブロック
を作り出す(ステップST8)。次に、書き込みを指定
された不揮発性メモリ4のブロックの内容を未使用の空
バッファにコピーして、図4及び図5に示したバッファ
管理領域9を更新してハッシュテーブルを書き換える
(ステップST9)。これは不揮発性メモリ4へデータ
を書き込むためにデータ長を揃える必要があるためであ
る。すなわち、上述のごとく、バッファ10の記憶容量
は4Kバイト、ブロック8の記憶容量は64Kバイトで
あって、バッファ10のデータをそのままブロック8に
書き込む訳にはいかないからである。次に、主メモリ2
から揮発性メモリ3のバッファへデータをコピーし、図
5に示した揮発性メモリ3の対応するバッファリスト1
3のバッファ書き込み完了フラグをオフして動作を終了
する(ステップST10)。
【0036】この実施例の不揮発性メモリファイルシス
テムの起動時には、図9のアルゴリズムに従って初期化
を行う。起動時に、前回の動作終了時に異状があった場
合、例えば予期しない電源供給の遮断、予期しないリセ
ット、システムのハングアップ等の場合には、揮発性メ
モリ3の内容は不揮発性メモリ4に書き込まれていな
い。この場合、揮発性メモリ3はバックアップ電源によ
りバッテリバックアップされているので、揮発性メモリ
3中のデータは消去されずに残存している。従って、起
動時に、揮発性メモリ3に残存するデータを不揮発性メ
モリ4に書き込まなければならない。そこで、初期化の
アルゴリズムにおいては、まず揮発性メモリ3中にデー
タを不揮発性メモリ4に書き込んでいない未書き込みバ
ッファが存在するか否かを揮発性メモリ3のバッファ管
理領域9のバッファリスト13のバッファ書き込み完了
フラグを点検して判断する(ステップST11)。バッ
ファ書き込み完了フラグが全てオンである場合には、起
動動作を完了する。バッファ書き込み完了フラグがオフ
であるバッファが存在する場合には、このバッファ内の
データを不揮発性メモリ4に書き込み(ステップST1
2)、このバッファのバッファ書き込み完了フラグをオ
ンして(ステップST13)、再度バッファ書き込み完
了フラグを点検して(ステップST11)、すべてのバ
ッファの残存データを不揮発性メモリ4に書き写した後
に初期化動作を終了する。
【0037】この実施例の不揮発性メモリファイルシス
テムの動作終了(シャットダウン)時には、同じく図9
のアルゴリズムに従って動作を終了する。この終了動作
では揮発性メモリ3のバッファに残留していてまだ不揮
発性メモリ4に書き込まれていないバッファブロックの
データを不揮発性メモリ4に書き込まなければならな
い。シャットダウン時に、ステップST11でバッファ
リスト13のバッファ書き込み完了フラグがオフである
バッファを発見した場合には、この未書き込みバッファ
に記憶されているデータを不揮発性メモリ4に書き込み
(ステップST12)、バッファ書き込み完了フラグを
オンして(ステップST13)、再びステップST11
に戻ってバッファ書き込み完了フラグの点検を行い、バ
ッファ書き込み完了フラグがオフであるバッファが存在
しなくなった時点でシャットダウン動作を終了する。
【0038】実施例2.次に、この発明の第二の実施例
を説明する。この実施例2は、不揮発性メモリブロック
8が故障することを予め想定し、通常使用時にデータを
記憶する正規の記憶領域の他に、この正規の記憶領域に
代替する代替的記憶領域を設けて、故障しにくい不揮発
性メモリファイルシステムを実現するものである。この
実施例2のハードウェアの構成は図1の実施例1のハー
ドウェア構成と同一であるのでその説明を省略する。
【0039】図10は、不揮発性メモリ4(図10
(A))及び揮発性メモリ3(図10(B))内のデー
タ構造を示す図である。図2に示した実施例1のデータ
構造とは、不揮発性メモリ4中に、正規の記憶領域(ブ
ロック#1〜#m)に代替する代替ブロック(代替的記
憶領域)(代替ブロック#1〜i)が設けられている点
のみ異なり、その他の構造は同一である。
【0040】図11は、不揮発性メモリ4のブロック管
理領域7aのデータ構造を示す図であり、図3の実施例
1のブロック管理領域7とは代替ブロック#1〜iの管
理情報を記憶する代替ブロックリスト14が付け加えら
れている点と代替ブロックに関する情報である代替先頭
ブロック#及び代替ブロック残数の領域が設けられてい
る点のみが異なる。
【0041】図12は、実施例2の書き込み動作を示す
ライトアルゴリズムの一部を示すフローチャートであ
る。この実施例2のライトアルゴリズムは、図8の実施
例1のライトアルゴリズムのステップST8(Aと示し
た)に相当する部分のみを抜き出して記載したものであ
って、この前後に図8のフローチャートのステップST
1〜ST7及びステップST9〜ST10が付け加わる
ことにより全体のライトアルゴリズムが完成する。
【0042】次に動作について説明する。この実施例の
不揮発性メモリファイルシステムからのデータの読み取
りの動作は実施例1の動作と全く同一であるので、その
説明を省略する。
【0043】この実施例の不揮発性メモリファイルシス
テムへデータを書き込む書き込み動作は、上述のごと
く、図8の実施例1のステップST8に相当する部分の
動作のみが実施例1と異なるので、図8のステップST
8に相当する部分の動作のみを図12のフローチャート
を用いて説明する。
【0044】揮発性メモリ3中に空バッファが存在しな
い場合には、現在データが書き込まれて使用中の揮発性
メモリ3のバッファの1ブロックで最も書き込みが古い
ブロックのデータをすべて不揮発性メモリ4に書き写
し、書き込み完了フラグをオンにして、揮発性メモリ3
中に1個の未使用バッファブロックを作り出す(ステッ
プST14)。次に、書き込み元の揮発性メモリ3のバ
ッファに記憶されているデータの内容と、書き込み先の
不揮発性メモリ4のブロックに記憶されたデータの内容
とを比較し、不揮発性メモリ4のブロックに書き込まれ
たデータのベリファイを行う(ステップST15)。こ
のベリファイの結果、不揮発性メモリ4に書き込まれた
データが正常であれば、図12での実施例2の動作を終
了し、引き続き図8のステップST9の動作に移行する
(ステップST16)。書き込み元のデータと書き込み
先のデータとの比較結果が異なり、書き込み動作が異常
であった場合には、書き込み動作のリトライ回数の上限
を超えているかいなかを判定し(ステップST17)、
まだリトライ回数以内である場合には再び書き込みのリ
トライを行い(ステップST14)、リトライ回数を全
て使いきり上限を超えても不揮発性メモリ4への書き込
みが正常に完了しない場合には、図11に示した不揮発
性メモリ4のブロック管理領域7aの代替ブロック残数
をチェックすることにより不揮発性メモリ4中に代替ブ
ロックが存在するか否かを判定する(ステップST1
8)。代替ブロックが1個も残存していない場合には、
正常な書き込みをする手立てが存在しないので、書き込
みエラーとしてライトアルゴリズムを終了する。代替ブ
ロックが残存する場合には、1個の代替ブロックを書き
込みエラーの発生した正規のブロックと入れ替える(ス
テップST19)。この入れ替えた代替ブロックのブロ
ック番号等のデータは、図10の揮発性メモリ3のバッ
ファ管理領域9及び図10、図11の不揮発性メモリ4
のブロック管理領域7bに設定する。この後、入れ替え
た代替ブロックにバッファからのデータの書き込みを行
い(ステップST14)、書き込んだデータのベリファ
イを行い(ステップST15)、代替ブロックの状態の
チェックも行う。
【0045】この実施例の初期化及びシャットダウンの
手順は実施例1と同様である。
【0046】実施例3.次に、この発明の第三の実施例
について説明する。この実施例3では、実施例2の代替
機能に加えて、不揮発性メモリ4に対するデータの書き
込み回数を計数して、該不揮発性メモリ4の故障を予測
し、書き込みエラーが発生する前に代替領域を割り当て
るようにしたものである。
【0047】実施例3のハードウェアの構成は、図1に
示した実施例1の構成と同一であるのでその説明を省略
する。
【0048】図13は、実施例3の不揮発性メモリ4の
ブロック管理領域7のブロックリスト11aと代替ブロ
ックリスト14aの構造を示す図である。このブロック
リスト11a及び代替ブロックリスト14aには、対応
するブロックへのデータの書き込み回数を示すデータが
書き込めるようになっている。
【0049】図14は、実施例3のライトアルゴリズム
の一部を示すフローチャートであり、図12の実施例2
のライトアルゴリズムの一部のステップST14(Bと
示した)の直前に挿入する部分のみを示すものであり、
この実施例3のライトアルゴリズムは図12の実施例2
のライトアルゴリズム及び図8の実施例1のライトアル
ゴリズムを補完して完全なライトアルゴリズムとなる。
【0050】次に動作について説明する。この実施例3
の不揮発性メモリファイルシステムからのデータの読み
出し動作は、実施例1のデータの読み出し動作と同一で
あるのでその説明を省略する。
【0051】この実施例3の不揮発性メモリファイルシ
ステムへデータを書き込む場合は、実施例2の図12の
フローチャートのステップST14の直前に図14に示
したアルゴリズムを実行する以外の点は実施例2のライ
トアルゴリズムと同一であるので、図14のアルゴリズ
ムについてのみ説明する。
【0052】揮発性メモリ3内に空バッファが存在しな
い場合には、不揮発性メモリ4のデータを書き込むべき
特定のブロックに対するそれまでのデータの書き込み回
数が不揮発性メモリ4により定まるデータの書き込み
(消去)の上限回数を超えていないかどうかを判定し
(ステップST20)、上限回数を超えていない場合に
は、代替ブロックリスト14aの当該ブロックのデータ
書き込み回数に1を加算して図12のステップST14
へ移行する(ステップST21)。当該ブロックへのデ
ータの書き込み回数が上限回数を超えている場合には、
不揮発性メモリ4中に代替ブロックが存在するか否かを
判断し(ステップST22)、代替ブロックが存在しな
い場合には、書き込み動作は不可能であるとしてエラー
としてライトアルゴリズムを終了する。代替ブロックが
存在する場合には、この代替ブロックを正規のブロック
に代替させるべく割り当てて(ステップST23)、こ
の割り当てた代替ブロック自体の書き込み回数のチェッ
クを行う(ステップST20)。以下、動作を継続す
る。
【0053】実施例3の初期化及び動作終了の手順は実
施例1の手順と同一である。
【0054】実施例4.次に、この発明の第四の実施例
について説明する。この実施例4は、実施例3の書き込
み回数計数による障害発生予測機能に加えて、障害発生
が予測されるブロックと書き込み回数の少ないブロック
とを入れ替えることで、効率よく不揮発性メモリを使用
して、不揮発性メモリファイルシステムの寿命を延ばす
ようにしたものである。
【0055】実施例4のハードウェアの構成は、図1に
示す実施例1のハードウェアの構成と同一であり、また
不揮発性メモリ4のブロック管理領域のブロックリスト
及び代替ブロックリストの構造は図13の実施例3の構
造と同一であるので、その説明を省略する。
【0056】次に動作について説明する。実施例4の不
揮発性メモリファイルシステムからのデータの読み取り
動作は実施例1の動作と同一であるのでその説明を省略
する。
【0057】図15は、実施例3の図14に相当する部
分の動作を示すフローチャートである。実施例4のライ
トアルゴリズムは、実施例3の図14に相当する部分の
動作が図15に示すアルゴリズムに従って動作する以外
は実施例2の動作と同一であるので、実施例4の不揮発
性メモリファイルシステムへのデータの書き込み動作
は、図15のフローチャートに相当する部分のみの説明
を行う。
【0058】揮発性メモリ3内に空バッファが存在しな
い場合には、不揮発性メモリ4のデータを書き込むべき
特定のブロックに対するそれまでのデータの書き込み回
数が予め設定された上限値を超えていないかどうかを判
定し(ステップST24)、上限値を超えていない場合
には、代替ブロックリスト14aの当該ブロックのデー
タ書き込み回数に1を加算して図12のステップST1
4へ移行する(ステップST25)。当該ブロックへの
データの書き込み回数が前記上限値を超えている場合に
は、不揮発性メモリ4中に当該ブロックへのデータの書
き込み回数が設定された上限値以下であるブロックを検
索し(ステップST26)、このような書き込み回数の
少ないブロックが発見できた場合には(ステップST2
7)、発見したブロックの内容を対象のブロックに書き
込み(ステップST28)、当該ブロックへのデータの
書き込み回数を1だけ増加させる(ステップST2
9)。次に書き込んだデータのベリファイチェックを行
い(ステップST30)、ベリファイエラーが発生しな
ければ、この書き込み回数の少ないブロックを書き込み
ブロックとして指定してブロック管理領域7bにブロッ
クの入れ替えを設定して(ステップST31)、ステッ
プST24に戻り入れ替えたブロックの書き込み回数を
チェックする。
【0059】ステップST27で入れ替えるべき書き込
み回数の少ないブロックが発見できなかった場合及びス
テップST30のベリファイチェックでエラーが発生し
た場合には、代替ブロックの存在を検索し(ステップS
T32)、代替ブロックが存在すれば当該代替ブロック
を割り当て(ステップST33)、ステップST24に
戻り割り当た代替ブロックの検討を行う。ステップST
32の検索で代替ブロックが存在しない場合には、書き
込み動作をエラーとして終了する。この場合には、不揮
発性メモリ4を交換するなどの処置を行う必要がある。
【0060】この実施例4の初期化及び終了の手順は実
施例1と同一であるので、その説明を省略する。
【0061】実施例5.次に、この発明の不揮発性メモ
リファイルシステムの第五の実施例について説明する。
この実施例5は、実施例1〜4と異なるハードウェア構
成をとる。図16に実施例5のハードウェアの構成を示
す。図において、15は不揮発性メモリ4aをCPUボ
ードから切り離してMPU1に接続することができるよ
うにするためのインターフェイス装置である。該インタ
ーフェイス装置15は、ソケットで接合できる不揮発性
メモリ4aとケーブルで接続されている。その他の構成
は、図1の実施例1と同一であるので、その説明を省略
する。
【0062】次に動作について説明する。この実施例5
の動作は上述した実施例1〜4のすべての動作が可能で
ある。更に、実施例5のハードウェア構成の場合、不揮
発性メモリ4aの交換の場合に、不揮発性メモリ4aの
みの交換が可能である。実施例1〜4のハードウェア構
成の場合には、メモリ子基板上22上に共に実装された
揮発性メモリ3も共に交換しなければならず、これに比
して低コストで不揮発性メモリ4aの交換が可能とな
る。
【0063】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、不揮発性メモリに記憶させるべきデータを一時的に
更に高速で書き込み回数の制限のない揮発性メモリに記
憶させて所定量のデータ毎に該揮発性メモリから不揮発
性メモリに転送するように構成したので、不揮発性メモ
リに対するデータの書き込み回数を低減でき、その分不
揮発性メモリよりも動作の速い揮発性メモリを用いるこ
とにより、高速動作が可能となる。また、不揮発性メモ
リへの書き込み回数が低減されるので、不揮発性メモリ
を高信頼度で長期間使用できる。したがって、請求項1
の発明は、頻繁にファイルの更新を行うファイルシステ
ムに適用できる。更に、磁気ディスク装置を用いずに安
定にデータの保存ができるので、高速で振動衝撃に強い
ファイルシステムを得ることができるなどの効果があ
る。
【0064】請求項2の発明によれば、データの書き込
みエラーが発生した不揮発性メモリの記憶領域の替わり
に代替的記憶領域を割り当てるように構成したので、不
揮発性メモリの記憶領域の一部に異常が発生しても、他
の正常な記憶領域を使用して該不揮発性メモリの耐用期
間を実質的に延長できる。更に、データを一時的に揮発
性メモリに記憶させて所定量のデータ毎に該揮発性メモ
リから不揮発性メモリに転送するので、更に高速動作が
可能となり、不揮発性メモリを高信頼度で長期間使用で
き、頻繁にファイルの更新を行うファイルシステムに適
用できる。また、磁気ディスク装置を用いずに安定にデ
ータの保存ができるので、高速で振動衝撃に強いファイ
ルシステムを得ることができるなどの効果がある。
【0065】請求項3の発明によれば、不揮発性メモリ
の記憶領域へのデータの書き込み回数が所定の回数以上
となった記憶領域を使用しないように構成したので、フ
ァイル内容の書き込みエラーを事前に防止でき、信頼性
が高く、不揮発性メモリの耐用期間を実質的に延長でき
る。更に、データを一時的に揮発性メモリに記憶させて
所定量のデータ毎に該揮発性メモリから不揮発性メモリ
に転送するので、更に高速動作が可能となり、不揮発性
メモリを高信頼度で長期間使用でき、頻繁にファイルの
更新を行うファイルシステムに適用できる。また、磁気
ディスク装置を用いずに安定にデータの保存ができるの
で、高速で振動衝撃に強いファイルシステムを得ること
ができるなどの効果がある。
【0066】請求項4の発明によれば、、不揮発性メモ
リの記憶領域へのデータの書き込み回数が所定の回数以
上となった記憶領域の代わりに書き込み回数の少ない記
憶領域を割り当てるように構成したので、ファイル内容
の書き込みエラーを事前に防止でき、信頼性が高く、不
揮発性メモリの耐用期間を実質的に延長できる。更に、
データを一時的に揮発性メモリに記憶させて所定量のデ
ータ毎に該揮発性メモリから不揮発性メモリに転送する
ので、更に高速動作が可能となり、不揮発性メモリを高
信頼度で長期間使用でき、頻繁にファイルの更新を行う
ファイルシステムに適用できる。また、磁気ディスク装
置を用いずに安定にデータの保存ができるので、高速で
振動衝撃に強いファイルシステムを得ることができるな
どの効果がある。
【0067】請求項5の発明によれば、本体部と別個に
設けた不揮発性メモリファイルシステムを用いるように
構成したので、不揮発性メモリが不良化した場合に該不
揮発性メモリのみ取り替えればよく、低コストに容易に
不揮発性メモリの交換が可能となる。更に、データを一
時的に揮発性メモリに記憶させて所定量のデータ毎に該
揮発性メモリから不揮発性メモリに転送するので、更に
高速動作が可能となり、不揮発性メモリを高信頼度で長
期間使用でき、頻繁にファイルの更新を行うファイルシ
ステムに適用できる。また、磁気ディスク装置を用いず
に安定にデータの保存ができるので、高速で振動衝撃に
強いファイルシステムを得ることができるなどの効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例による不揮発性メモリファ
イルシステムのハードウェアの構成を示すブロック図で
ある。
【図2】図1の実施例の不揮発性メモリ及び揮発性メモ
リ内のデータ構造を示す図である。
【図3】図2(A)のブロック管理領域のデータ構造を
示す図である。
【図4】図2(B)のバッファ管理領域のデータ構造を
示す図である。
【図5】図2(B)のバッファ管理領域のハッシュリス
トとバッファリストの内容を示す図である。
【図6】図1の実施例の記憶されたデータを読み出す場
合のアルゴリズムを示すフローチャートである。
【図7】図1の実施例のハッシュ値から対応するバッフ
ァブロックの番号を検索するときの状態を説明するバッ
ファリスト13の一部を示す図である。
【図8】図1の実施例のデータを書き込む場合のアルゴ
リズムを示すフローチャートである。
【図9】図1の実施例の起動時及びシャットダウン時の
動作のアルゴリズムを示すフローチャートである。
【図10】本発明の実施例2の不揮発性メモリ及び揮発
性メモリ内のデータ構造を示す図である。
【図11】図10の実施例の不揮発性メモリのブロック
管理領域7aのデータ構造を示す図である。
【図12】図10の実施例の書き込み動作を示すライト
アルゴリズムの一部を示すフローチャートである。
【図13】本発明の実施例3の不揮発性メモリのブロッ
ク管理領域のブロックリストと代替ブロックリストの構
造を示す図である。
【図14】図13の実施例のライトアルゴリズムの一部
を示すフローチャートである。
【図15】本発明の実施例4のライトアルゴリズムの一
部を示すフローチャートである。
【図16】本発明の実施例5のハードウェアの構成を示
すブロック図である。
【図17】従来の非同期型の磁気ディスク装置の構成の
一例を示すブロック図である。
【図18】図17に示した非同期型の磁気ディスク装置
の電源投入時の動作を示すシーケンスフローチャートで
ある。
【符号の説明】
1 MPU(記憶領域指定手段、制御手段、点検手段、
記憶領域割り当て手段、計数手段、比較手段、検索手
段) 2 主メモリ 3 揮発性メモリ 4 不揮発性メモリ 15 インターフェース装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山根 丈知 神戸市兵庫区和田崎町1丁目1番2号 三 菱電機株式会社制御製作所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 演算動作を制御するプログラムや各種定
    数等のデータを記憶した主メモリと、該データを一時的
    に記憶する揮発性メモリと、該揮発性メモリをバックア
    ップするバックアップ電源と、前記データを長期的に記
    憶する不揮発性メモリと、該不揮発性メモリの記憶領域
    に対応する前記揮発性メモリの記憶領域を指定する記憶
    領域指定手段と、該記憶領域指定手段の指定に従って前
    記揮発性メモリ中の未記憶の記憶領域に前記データを一
    時的に記憶させた後に所定量のデータ毎に前記不揮発性
    メモリに該揮発性メモリ中のデータを転送して記憶せし
    める制御手段とを備えたことを特徴とする不揮発性メモ
    リファイルシステム。
  2. 【請求項2】 前記不揮発性メモリ中に、通常使用時に
    前記データを記憶する正規の記憶領域と、該正規の記憶
    領域に代替する代替的記憶領域とを設けるとともに、前
    記正規の記憶領域に記憶されたデータを点検する点検手
    段と、該点検手段の点検の結果前記データの書き込みエ
    ラーが発生していることが判定された正規の記憶領域の
    替わりに、前記データを記憶する記憶領域として前記代
    替的記憶領域を割り当てる記憶領域割り当て手段とを設
    けたことを特徴とする請求項1記載の不揮発性メモリフ
    ァイルシステム。
  3. 【請求項3】 前記不揮発性メモリ中に、通常使用時に
    前記データを記憶する正規の記憶領域と、該正規の記憶
    領域に代替する代替的記憶領域とを設けるとともに、前
    記不揮発性メモリの記憶領域に前記データを書き込んだ
    回数を計数する計数手段と、該計数手段の計数値を所定
    の値と比較する比較手段と、該比較手段の比較の結果前
    記計数値が前記所定の値を超えていることが判定された
    正規の記憶領域の替わりに、前記データを記憶する記憶
    領域として前記代替的記憶領域を割り当てる記憶領域割
    り当て手段とを設けたことを特徴とする請求項1記載の
    不揮発性メモリファイルシステム。
  4. 【請求項4】 前記不揮発性メモリへの前記データの書
    き込み回数を計数する計数手段と、該計数手段の計数し
    た計数値と所定の値とを比較する比較手段と、該比較手
    段の比較結果により前記書き込み回数が前記所定の値を
    超えた記憶領域が書き込み領域として指定されたときに
    前記書き込み回数の小さい記憶領域を検索する検索手段
    と、該検索手段による検索の結果書き込み回数の小さい
    記憶領域が検索されたときに、前記データ等を記憶する
    記憶領域として該書き込み回数の小さい記憶領域を割り
    当てる記憶領域割り当て手段とを設けたことを特徴とす
    る請求項1記載の不揮発性メモリファイルシステム。
  5. 【請求項5】 前記不揮発性メモリを本体部と別個に設
    け、該不揮発性メモリを前記本体部に接続するインタフ
    ェース装置を設けたことを特徴とする請求項1記載の不
    揮発性メモリファイルシステム。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11191297A (ja) * 1997-12-26 1999-07-13 Hitachi Ltd 不揮発性メモリを用いた高速書換可能な記憶装置および該記憶装置のデータ書換方法
US7295479B2 (en) 2003-04-04 2007-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for managing bad blocks in a flash memory
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JP2011159238A (ja) * 2010-02-03 2011-08-18 Canon Inc 記録装置及び方法
JP2016501403A (ja) * 2012-11-20 2016-01-18 アイ. ペドル,チャールズ ソリッドステートドライブアーキテクチャ

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