JPH07198778A - 電気素子のテスト装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気装置のリードとテスト固定具のコンタク
ト間に良好な電気的接触を確立し、特にテスト信号が１
０００Ｈｚ以上の場合、テスト固定具によって導入され
る誘導性または容量性のリアクタンスを除去する。 【構成】 本発明においてはテスト固定具のコンタクト
は連続した表面を持つ圧縮性部品４４に接続される。こ
の圧縮性部品４４は電気装置の幾何学的なまた製造上の
公差の違いを補償し、テスト結果にも無視できるレベル
の誘導性リアクタンスしか与えない。本発明の部品の容
量的リアクタンスは得られた結果に対し悪影響を及ぼさ
ない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は一般に電気素子のテスト
装置に関し、特にリードフレームによって固定されてい
るパッケージあるいは封入装置の動作特性または静特性
を測定するテスト装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】シリコン集積装置、表面弾性波デバイス
などの電気素子は通常密封金属パッケージにパッケージ
されるか、あるいは、プラスチック成形化合物中に封入
されている。封入された電気素子への電気的接続は、ば
ね式のコンタクトのアレイからなるリードフレームを介
してなされる。現在では、この封入型電気素子は毎年全
世界でパッケージされる約３００億個の装置のうちの約
９０パーセントにのぼる。一つのパッケージ内に一つ以
上の電気素子をパッケージするという考え方はパッケー
ジされた装置のコストを低減させてきた。

【０００３】パッケージされた電気素子が設計通りに作
動するよう保証するために、各素子ではテストを行な
う。例えば、表面弾性波デバイス（ＳＡＷ）において
は、出荷の前に、そのデバイスの結晶作動中心周波数、
挿入損失および反射減衰量などを測定するテストが行わ
れる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】電気素子のテストに用
いられる装置は、テストの結果に不都合な作用を及ぼす
誘導性リアクタンスや容量性リアクタンスをもつことが
ある。この誘導性リアクタンスあるいは容量性リアクタ
ンスのために、１０００Ｈｚ以上の周波数でのテストで
は誤った結果が生じ、テストを繰り返さなければならな
いことがある。さらに、従来のテスト装置はパッケージ
された装置のリードを曲げたり変形したりすることがあ
る。このような場合には、その結果としてテスト工程の
コストが電気素子のコストにはねかえってくる。

【０００５】本発明はパッケージされた電気素子のテス
トにかかるコストを減少させる装置を目的とするもので
ある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明においては、テス
ト固定具の接点は連続した表面を持つ圧縮可能な部品に
接続される。この部品は前記の電気素子の幾何学的およ
び物理的な製造上の公差の違いを補償する。本発明の部
品がテスト結果に与える誘導性リアクタンスは無視でき
るものであり、またその容量性リアクタンスは得られた
結果に対して何等不都合ではなかった。

【０００７】

【実施例】図１には典型的なプラスチックリードチップ
キャリアーの破断図が示されている。シリコンデバイス
またはチップのような電気素子１２が低応力で熱伝導性
を持つ接着剤を用いて、通常は銅合金ストリップである
パドル１４にマウントされている。デバイス１２からリ
ード１８への電気的接続は細い金線バンド２０によって
形成される。前記のパドル１４、シリコンデバイス１２
および細い金線バンド２０によって前記の電気素子１２
に接続されているリード１８の端部１７はこの組立体を
支持し、その電気的絶縁を提供する前記のプラスチック
成形化合物２２の中に埋め込まれている。

【０００８】表面取り付け型パッケージ用のリード１８
は通常「Ｊ」リードまたはガル−ウイング型リードであ
る。Ｊリードは成形体の下に延びるので、基板上のエリ
アが節約できる。しかし、Ｊリードの検査は困難であ
る。リード１８のようなガル−ウイング型リードは成形
体から離れて延びるように形成されており、プリント基
板へのはんだの取り付けが肉眼で検査できる。細ピッチ
プラスチッククワドフラットパッケージでは取り付け収
率がより重要であるため、通常ガル−ウイング型リード
が使用されている。

【０００９】通常図１に描かれているような電気素子を
テストするのに用いられるテスト固定具ではプリント基
板を使用できる。このプリント基板はテストされる電気
素子のリードにマッチするパターンを生じるようにエッ
チングされる回路導体を持つように形成される。この基
板は電気素子のリードとテスト回路の間の相互接続とし
て作用する。

【００１０】テストの際は、リードをエッチングされた
導体へ押し付けることによって、回路基板のエッチング
された導体と電気素子のリード間に電気的接続が形成さ
れる。回路基板上のテスト導体が硬質でありまた電気素
子の幾何学的および製造上の公差の違いに対する補償が
ないことから、しばしば不十分なコンタクトおよび信頼
性のないテスト結果が生じている。

【００１１】図１のような電気素子をテストするために
用いられるテスト固定具としては、そのほか電気素子の
リードをテスト回路に接続するのにピンソケットを用い
るものもある。ピンソケットテスト固定具ではピンソケ
ットのピンに対する電気素子のリードのアラインメント
が精密であることが要求される。さらに、リードをソケ
ットへドライブするのに必要とする力がピンリードを曲
げ、ガラスアイレットを損傷する恐れがある。テスト固
定具におけるピンソケットの寿命は比較的短いためしば
しば取り替えなくてはならない。

【００１２】図２に電気素子をテストするのに用いられ
る従来構造が図示されている。この例においては電気素
子のさまざまなリードをテスト回路に電気的に接続する
ために、ばね式ピストンが用いられている。操作の際
は、スリーブ３０が導電経路４２の中心導体３１を通じ
てテスト回路へと接続される。ピストン３３の面３２は
電気素子のリードに接触するような位置に置かれてい
る。ピストン３３の面３２が電気素子の幾何学的および
製造上の公差の違いを補償するような位置に置かれるよ
うに、ピストン３３がスリーブ３０から押し出され、ば
ね３４が接続される。しかし、この配置が電気素子に存
在する幾何学的および製造上の公差の違いを補償する一
方で、他の問題を導入する。例えば、約１０００Ｈｚ以
上の周波数でテストが行われる時には、ピストンの周囲
に位置づけられたばね３４によりこのテスト結果に悪影
響を及ぼす可能性のある容量性および誘導性のリアクタ
ンスが導入されることが測定されている。この組立体の
ばね３４によって導入されたキャパシタンスとインダク
タンス値によって生じたテスト結果により、電気素子が
許される許容度を越えて作動しているかのように誤って
示されている例も見受けられる。したがって、実際には
良好である装置がテストによって欠陥品とされてしまう
のである。

【００１３】図３と図４に、本発明に係る構造が示され
ている。この電気素子のテスト用構造はコンタクト用部
品として、圧縮性部品を含む導電経路を含むものである
が、この圧縮性部品は前記の経路に無視できるレベルの
誘導性リアクタンスしか加えず、また容量性リアクタン
スは与えない。この圧縮性部品は連続した表面を持つ圧
縮的圧縮性部品からなる。マウンティングブロック４０
が複数の導電経路４２を支持している。この導電経路４
２は、通常Ｎ．Ｈ．のメリマックにあるオムニスペクト
ラ社の製品のような、直角フランジ４３に接続された５
０オームの同軸導体である。このフランジ４３は、マウ
ンティングブロック４０にネジで接続されており、導電
経路４２の中心導体３１および絶縁スリーブはマウンテ
ィングブロックの通路内に置かれている。導電経路４２
のシールド導体はマウンティングブロック４０に接続さ
れており、マウンティングブロック４０は通路内に置か
れた導電経路４２の部分に対するシールドとして作用す
る。ベローズ４４のような圧縮性部品が前記の同軸導体
の中心導体３１の端に機械的にまた電気的に接続されて
いる。同軸導体の端にマウントする圧縮性部品４４は
Ｎ．Ｊ．のセダーグローブにあるサーボメーター社から
入手することができる。

【００１４】ベローズ４４は一方の端に円形の通路を持
つように作られている。従って、このベローズを同軸導
体の中心導体３１にマウントするためには、ベローズの
端の通路を導電経路４２の中心導体３１の端へと挿入
し、スポット溶接、半田づけあるいは圧着することによ
って前記の導体との電気的接続を確立する。本発明にお
いてはこのベローズが信頼性ある電気的結合を達成する
ばね式接点として作用する。よいコンタクトを保証する
ため、前記の導電経路４２の中心導体３１に接続してい
るのと反対のベローズ４４の端に半田などによりきざみ
つき末端部品４６を結合してもよい。前記のベローズ４
４の端にある開口部が導電経路４２の中心導体３１の直
径よりも大きい場合には、導電経路４２の中心導体３１
とベローズとをはめあうためにブッシング４５を用いる
こともできる。このブッシング４５は、ベローズ４４と
導電経路４２の中心導体３１の間に良好な電気的コンタ
クトを設けるために、前記の導電経路４２の前記の中心
導体３１およびベローズへ半田づけしてもよい。

【００１５】同軸ケーブル４２の端部、ブッシング４
５、ベローズ４４および末端部品４６の拡大分解組立図
を図４に示す。

【００１６】様々な芯間距離に対応するため、きざみつ
き末端部品４６の直径は増減させることができる。およ
び、または、導電経路４２同士の間隔および位置も変更
することができる。

【００１７】図３において、必要な様々な導電経路４２
は、テストを行う電気素子の適当なリードにきざみつき
末端部品４６が接触するように配置されている。マウン
ティングブロック４０にネジ等で取り付けられているガ
イドブロック５２は、テストされる電気素子に応じた大
きさに調整されたくぼみ領域５４を支えている。このガ
イドブロック５２はまた、きざみつき末端部品４６をテ
ストする電気素子の様々なリードのすぐ下に位置づける
ために、摺動可能に対応する大きさの調整された通路を
も支持している。

【００１８】操作中電気素子６０は、くぼみ領域５４内
に位置し、前記の電気素子６０の適当なリードは、きざ
みつき末端部品４６の上方に位置している。図には描か
れていないが、電気素子６０の上方に位置する部品が下
方に動いて、前記の電気素子６０の上表面または前記の
型のリードと係合し、前記の電気素子６０の様々なリー
ドを、きざみつき末端部品４６と接触させる。弾力性の
ある前記のベローズ４４が電気素子の様々なリードとの
間に良好な電気的コンタクトを確立する。注意すべきこ
とは、このベローズ４４がばねとして作用し、ベローズ
型のコンタクトばねの連続した表面はきわめて低いイン
ダクタンスと実質的にゼロであるキャパシタンスを持つ
ことであり、これは、ばねロード式プランジャ型のコン
タクトを利用するコンタクトのいずれとも異なる。

【００１９】

【発明の効果】以上に述べたように、本発明はパッケー
ジされた電気素子のテストにかかるコストを減少させる
ことを目的とするテスト用弾性コンタクトであり、電気
素子のリードとテスト固定具コンタクト間によい電気的
コンタクトを形成し、誘導性リアクタンスあるいは容量
性リアクタンスを導入する事なく正確なテストを行うこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】成形された回路パッケージの破断図である。

【図２】電気素子のリードに係合する同軸ケーブルの内
部導体へ接続された従来例のコンタクトである。

【図３】本発明の原理に従う構造である。

【図４】リードフレームによって保持される電気素子を
テストする同軸ケーブルの一端に接続された本発明の原
理に従う構造の分解組立て図である。

【符号の説明】

１２ 電気素子 １４ パドル １７ リード端部 １８ リード ２０ 金線バンド ２２ プラスチック成形化合物（封止材） ３０ スリーブ ３１ 中心導体 ３２ ピストンの端面 ３３ ピストン ３４ ばね ４０ マウンティングブロック ４２ 導電経路（同軸ケーブル） ４３ 直角フランジ ４４ ベローズ ４５ ブッシング ４６ きざみつき末端部品 ５２ ガイドブロック ５４ くぼみ領域 ６０ 電気素子

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 リードフレーム（１８）の内部末端に接
   続されている電気素子（１２）をテストする装置におい
   て、前記の電気素子と前記のリードの内部末端は封止材
   （２２）内に位置するよう配置され、前記のリードの外
   部末端は前記の封止材から外に延びるよう調節されてお
   り、前記のテスト装置は、 前記の電気素子のリードをテスト手段に接続する導体
   （３１）と、 第一と第二の対向端面を有し、第一の端面は、第二の端
   面に対して相対的に移動可能で、その端面間に連続表面
   を持つ圧縮性部品（４４）と、からなり、 前記第一の端面は前記導体に接続されており、前記第二
   の端面は前記の封止材から延びている前記の電気素子の
   リードの中の選択されたリードと係合するよう調節され
   ている、ことを特徴とする電気素子のテスト装置。
2. 【請求項２】 前記の電気素子のリードの中の選択され
   たリードとの係合用に、前記の第二の端面に接続された
   末端部品（４６）をさらに含むことを特徴とする請求項
   １の装置。
3. 【請求項３】 前記の連続した表面を持つ圧縮性部品が
   ベローズからなることを特徴とする請求項２の装置。
4. 【請求項４】 前記のベローズが導電性材料からなるこ
   とを特徴とする請求項３の装置。
5. 【請求項５】 前記の導体の端と前記のベローズの第一
   の端の間に介在させた導電性材料製のブッシング（４
   ５）をさらに含むことを特徴とする請求項４の装置。
6. 【請求項６】 前記の電気素子のリードをテスト手段へ
   接続する前記の導体が同軸ケーブルの中心導体からなる
   ことを特徴とする請求項５の装置。