JPH0719808A - Apparent distortion compensation circuit for high temperature distortion gauge - Google Patents

Apparent distortion compensation circuit for high temperature distortion gauge

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JPH0719808A
JPH0719808A JP5190930A JP19093093A JPH0719808A JP H0719808 A JPH0719808 A JP H0719808A JP 5190930 A JP5190930 A JP 5190930A JP 19093093 A JP19093093 A JP 19093093A JP H0719808 A JPH0719808 A JP H0719808A
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好簣 角谷
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Abstract

PURPOSE:To reduce the amount of generated apparent distortion to such level as no actual problem occurs even if temperature distribution condition of a lead wire is subjected to high temperature changes. CONSTITUTION:A series circuit consisting of an active gauge 2 and a dummy gauge 3, another series circuit consisting of two fixed resistors 9 and 10, and, the first and second lead wires 4a and 4b which connect bath ends of series circuits constitute a bridge circuit. The output of the bridge circuit is derived from both an output terminal 16 on the other side of the third lead wire 4c and an output terminal 17 connected to the connection points of the fixed resistors 9 and 10. Between the first lead wire 4a or the second lead wire 4b and bridge power supply input terminals 18 or 19, apparent distortion compensation resistors 12 or 13, which is caused by distortion gauge's temperature, is connected. Between the output terminal 16 and the power supply input terminals 18 or 19, resistors 14 or 15 that compensates apparent distortion that follows resistance changes caused by temperature distribution changes of lead wires 4a-4c is connected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、高温ひずみゲージのみ
かけひずみ補償回路に係り、より詳細には、リード線の
抵抗値が温度分布の変化によって変わりこの抵抗値の変
化によって発生するみかけひずみ量を抑制する、高温ひ
ずみゲージのみかけひずみ補償回路に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparent strain compensation circuit for a high temperature strain gauge, and more specifically, a resistance value of a lead wire changes depending on a change in temperature distribution, and an apparent strain amount generated by the change in the resistance value. The present invention relates to an apparent strain compensation circuit for suppressing high temperature strain gauges.

【0002】[0002]

【従来の技術】図2および図3は、高温ひずみゲージの
一種である溶接型高温ひずみゲージの構成を示す縦断面
図および平面図である。この高温ひずみゲージは、ステ
ンレス鋼等よりなるチューブ1とその中央部に配設され
たアクティブゲージ2およびダミーゲージ3等により構
成されている。
2 and 3 are a longitudinal sectional view and a plan view showing the construction of a welding type high temperature strain gauge which is a kind of high temperature strain gauge. The high temperature strain gauge is composed of a tube 1 made of stainless steel or the like, an active gauge 2 and a dummy gauge 3 arranged in the center thereof.

【0003】すなわち、アクティブゲージ2は、ひずみ
に感応してその抵抗値を変化するニッケル・クロム線等
の線材を略U字状に折曲形成され、また、このアクティ
ブゲージ2の周囲には同じ材質よりなるダミーゲージ3
がひずみに不感なるように巻回されている。アクティブ
ゲージ2およびダミーゲージ3が配設されたチューブ1
内には、酸化マグネシウムMgOの粉末が絶縁物として
固く封入されている。チューブ1は、その先端は封じら
れ、基端からはアクティブゲージ2およびダミーゲージ
3に接続された入出力線であるリード線4が導き出さ
れ、その導出口は、セラミック系の耐高温接着剤5によ
って封止されている。チューブ1の受感部1aは、フラ
ンジ部6a,6bを有するベース6に固着され、受感部
1aは、このベース6のフランジ部6a,6bを介して
被測定対象物7にスポット溶接により取付けられる。
That is, the active gauge 2 is formed by bending a wire material such as a nickel-chromium wire which changes its resistance value in response to strain into a substantially U-shape, and the same around the active gauge 2. Dummy gauge 3 made of material
Is wound so that it is insensitive to strain. Tube 1 with active gauge 2 and dummy gauge 3
Magnesium oxide MgO powder is tightly enclosed therein as an insulator. The tube 1 is sealed at its tip, and a lead wire 4 which is an input / output wire connected to the active gauge 2 and the dummy gauge 3 is led out from the base end, and its lead-out port is a ceramic high temperature resistant adhesive 5 It is sealed by. The sensitive portion 1a of the tube 1 is fixed to the base 6 having the flange portions 6a and 6b, and the sensitive portion 1a is attached to the object 7 to be measured by spot welding via the flange portions 6a and 6b of the base 6. To be

【0004】図3は、高温ひずみゲージを被測定対象物
7上に固着させた状態を示すものであり、チューブ1の
両側方向に突出したフランジ部6a,6b上の8の位置
で被測定対象物7にスポット溶接で固着される。
FIG. 3 shows a state in which a high temperature strain gauge is fixed on an object to be measured 7, and the object to be measured is located at 8 positions on the flanges 6a and 6b protruding in both directions of the tube 1. It is fixed to the object 7 by spot welding.

【0005】高温ひずみゲージからの出力は、耐熱構造
のMIケーブル(Mineral Insulated Metal Sheathed C
able)によって保護されたリード線4を介して計測機器
に導かれる。
The output from the high temperature strain gauge is the MI cable (Mineral Insulated Metal Sheathed C
can be led to the measuring instrument via the lead wire 4.

【0006】被測定対象物7に生じたひずみは、フラン
ジ部6a,6b、チューブ1の受感部1aおよび酸化マ
グネシウムMgOを介して圧縮または引張作用を受ける
アクティブゲージ2の抵抗変化として検出される。アク
ティブゲージ2自体の温度による抵抗値の変化は、ホイ
ートストンブリッジ回路の一辺に挿入されるダミーゲー
ジ3の温度のみに感応した抵抗値の変化によって電気的
に相殺され補償される。
The strain generated in the object 7 to be measured is detected as a resistance change of the active gauge 2 which is subjected to a compression or tension action through the flange portions 6a and 6b, the sensing portion 1a of the tube 1 and magnesium oxide MgO. . The change in the resistance value due to the temperature of the active gauge 2 itself is electrically offset and compensated by the change in the resistance value sensitive to only the temperature of the dummy gauge 3 inserted on one side of the Wheatstone bridge circuit.

【0007】しかしながら、高温ひずみゲージの一般的
使用方法では、被測定対象物7とアクティブゲージ2の
線膨張係数が異なるため、被測定対象物7に応力が加わ
らなくとも、ひずみゲージには温度によるみかけひずみ
が発生する。この温度によるみかけひずみを補償するた
め、従来はホイートストンブリッジ回路の一片に補償抵
抗(以下「ゲージ補償抵抗」と称し、また数式上では
「RTC」と表わす)を挿入している。
However, in the general method of using the high temperature strain gauge, since the object 7 to be measured and the active gauge 2 have different linear expansion coefficients, even if no stress is applied to the object 7 to be measured, the strain gauge is affected by temperature. Apparent distortion occurs. In order to compensate for the apparent strain due to this temperature, conventionally, a compensation resistor (hereinafter referred to as "gauge compensation resistor" and also referred to as "RTC" in the mathematical expression) is inserted in one piece of the Wheatstone bridge circuit.

【0008】そこで、温度によるみかけひずみを補償す
る従来の回路例を図6に示す。同図のホイートストンブ
リッジ回路は、アクティブゲージ2、ダミーゲージ3、
固定抵抗9,10およびゲージ補償抵抗12,13とに
より構成される。尚、図6において、11,11,11
は、リード線4,4,4のリード線抵抗(内部抵抗)で
ある。
Therefore, an example of a conventional circuit for compensating the apparent distortion due to temperature is shown in FIG. The Wheatstone bridge circuit in the same figure has an active gauge 2, a dummy gauge 3,
It is composed of fixed resistors 9 and 10 and gauge compensation resistors 12 and 13. In FIG. 6, 11, 11, 11
Is the lead wire resistance (internal resistance) of the lead wires 4, 4, 4.

【0009】また、アクティブゲージ2とダミーゲージ
3の接続点から延長されたリード線4の他端に接続され
た端子16と、固定抵抗9,10の接続点に接続された
端子17とが出力端子を構成する。また、一端同士が接
続された固定抵抗9,10の両他端は、ブリッジ電源の
入力端子18,19に接続されている。
Further, a terminal 16 connected to the other end of the lead wire 4 extended from the connection point of the active gauge 2 and the dummy gauge 3 and a terminal 17 connected to the connection point of the fixed resistors 9 and 10 are output. Configure terminals. The other ends of the fixed resistors 9 and 10 having one ends connected to each other are connected to the input terminals 18 and 19 of the bridge power supply.

【0010】ゲージ補償抵抗RTC12,13のうち、ひ
ずみゲージの温度によるみかけひずみが正の場合は、ブ
リッジ電源Einの正電圧側に抵抗12を挿入し、負電圧
側の抵抗13を短絡する。また、温度によるみかけひず
みが負の場合は、この逆にする。通常、このゲージ補償
抵抗12,13は、2つの温度、例えば室温と1,00
0℃、におけるみかけひずみ量により、それらを相殺し
得る最適値に選択的に決められる。
If the apparent strain due to the temperature of the strain gauge is positive among the gauge compensation resistors RTC12, 13, the resistor 12 is inserted on the positive voltage side of the bridge power source Ein and the resistor 13 on the negative voltage side is short-circuited. If the apparent strain due to temperature is negative, reverse this. Normally, the gauge compensation resistors 12 and 13 are provided at two temperatures, for example, room temperature and 100
The apparent strain amount at 0 ° C. selectively determines the optimum value that can cancel them.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上述したような従来方
法のみかけひずみの温度特性を、図6の等価回路に基づ
いて検証してみる。例えば、一方のゲージ補償抵抗を1
20Ω(オーム)、また他方のゲージ補償抵抗13の抵
抗値RTCを4.582Ωに設定する。室温における出力
電圧Eout0は、ブリッジ電源電圧をEin、アクティブ
ゲージ2の抵抗値をRA 、ダミーゲージ3の抵抗値をR
D 、リード線11の内部抵抗値をRL としたとき、下記
の(1)式で表わされる。
The temperature characteristic of the apparent strain as described above will be verified based on the equivalent circuit of FIG. For example, set one gauge compensation resistor to 1
20Ω (ohm) and the resistance value RTC of the other gauge compensation resistor 13 is set to 4.582Ω. The output voltage Eout0 at room temperature is the bridge power supply voltage Ein, the resistance value of the active gauge 2 is RA, and the resistance value of the dummy gauge 3 is R.
When the internal resistance value of D and the lead wire 11 is RL, it is expressed by the following equation (1).

【0012】 Eout0 ={(RD +RL +RTC)/(RA +RD +2RL +RTC)}Ein (1) また、高温時の出力電圧EoutT は、それぞれの高温時
におけるアクティブゲージ2の抵抗値をRAT、ダミーゲ
ージ3の抵抗値をRDT、リード線11の内部抵抗値をR
LTとしたとき、下記の(2)式で表わされる。
Eout0 = {(RD + RL + RTC) / (RA + RD + 2RL + RTC)} Ein (1) Further, the output voltage EoutT at high temperature is the resistance value of the active gauge 2 at high temperature, RAT, and the dummy gauge 3 Is the resistance value of RDT, the internal resistance value of the lead wire 11 is RDT
When it is LT, it is expressed by the following equation (2).

【0013】 EoutT ={(RDT+RLT+RTC)/(RAT+RDT+2RLT+RTC)}Ein (2) ここで(1)式において、ひずみが0(με=1×10
-6ひずみ。以下「με」と記載する)の場合の出力電圧
Eout(0)と、1,000[με]つまり0.1%ひずみ
の場合の出力電圧Eout(0.1)を求める。この数値を求め
るに先んじ、条件を次のように設定する。ゲージ率を
2、ホイートストンブリッジ回路へのブリッジ電源電圧
をEinとし、アクティブゲージの初期抵抗値RA0とダミ
ーゲージの抵抗値RD は等しい(RA0=RD )とする。
アクティブゲージの初期抵抗値RA0と0.1%ひずみ時
の抵抗値RA0.1との間には次の(3)式が成立する。
EoutT = {(RDT + RLT + RTC) / (RAT + RDT + 2RLT + RTC)} Ein (2) In the equation (1), the strain is 0 (με = 1 × 10).
-6 strain. Hereinafter, the output voltage Eout (0) in the case of “με”) and the output voltage Eout (0.1) in the case of 1,000 [με], that is, 0.1% strain are obtained. Prior to obtaining this numerical value, the conditions are set as follows. The gauge factor is 2, the bridge power supply voltage to the Wheatstone bridge circuit is Ein, and the initial resistance value RA0 of the active gauge and the resistance value RD of the dummy gauge are equal (RA0 = RD).
The following expression (3) is established between the initial resistance value RA0 of the active gauge and the resistance value RA0.1 at 0.1% strain.

【0014】 RA0.1=RA0(1+0.1×0.01×2) =1.002RA0 (3) 上記の条件において、出力電圧Eout(0)およびEout(0.
1)は、次の(4)式および(5)式によって得られる。
RA0.1 = RA0 (1 + 0.1 × 0.01 × 2) = 1.002RA0 (3) Under the above conditions, the output voltages Eout (0) and Eout (0.
1) is obtained by the following equations (4) and (5).

【0015】 Eout(0)={RD /(RA +RD )}×Ein=0.5Ein (4) Eout(0.1)={RD /(1.002RA +RD )}×Ein =0.4995004Ein (5) 0.1%ひずみ発生時の出力電圧eout(0.1)は、ひずみ
量が0の時の出力電圧からひずみが加わった時の出力電
圧を引いた値であるため、下記の(6)式によって得ら
れる。
Eout (0) = {RD / (RA + RD)} × Ein = 0.5Ein (4) Eout (0.1) = {RD / (1.002RA + RD)} × Ein = 0.4995004Ein (5) 0 The output voltage eout (0.1) when 1% strain is generated is the value obtained by subtracting the output voltage when strain is applied from the output voltage when the amount of strain is 0, and is obtained by the following equation (6). .

【0016】 eout(0.1)=Eout(0)−Eout(0.1) =0.5Ein−0.49950Ein=0.0005Ein (6) 出力電圧0.0005[V]が1,000[με]のひ
ずみ量に相当するため、みかけひずみMTC[με]の大
きさは、次の(7)式で表わされる。
Eout (0.1) = Eout (0) −Eout (0.1) = 0.5Ein−0.49950Ein = 0.005Ein (6) Output voltage 0.0005 [V] is a strain amount of 1,000 [με] Therefore, the magnitude of the apparent strain MTC [με] is expressed by the following equation (7).

【0017】 MTC={Eout(0)−Eout(T)}×1,000/0.0005 (7) 上記(7)式のパラメータを数値化した具体例が、図7
のグラフであり、リード線種に銅線を用い、リード線4
の加熱部分の長さ(m)とみかけひずみMTCとの関係を
示した特性図である。各パラメータの数値は、後述する
本発明に係る実施例の欄に記載されている数値と同一で
ある。ただし、ゲージ補償抵抗値(従来例のRTC=4.
582Ω)のみが、実施例ではリード線抵抗変化補償抵
抗が追加されている関係上で実施例のものとは異なって
いる。また、図8は、リード線にニッケル線を用いた場
合であり、このパラメータ数値の記載は省略するが、リ
ード線の加熱部分の長さの変化に伴う影響が大きく現わ
れている。
MTC = {Eout (0) -Eout (T)} × 1,000 / 0.0005 (7) A concrete example in which the parameters of the above equation (7) are digitized is shown in FIG.
Is a graph of using a copper wire as a lead wire type and using a lead wire 4
FIG. 6 is a characteristic diagram showing the relationship between the length (m) of the heated portion of and the apparent strain MTC. The numerical value of each parameter is the same as the numerical value described in the section of the embodiment of the present invention described later. However, the gauge compensation resistance value (RTC of the conventional example = 4.
582Ω) is different from that of the embodiment in that the lead wire resistance change compensation resistance is added in the embodiment. Further, FIG. 8 shows a case where a nickel wire is used for the lead wire, and although the description of the parameter numerical value is omitted, the influence due to the change in the length of the heated portion of the lead wire is largely shown.

【0018】これらの図から解るように、従来の補償方
法は、リード線の抵抗値が一定であることを条件になさ
れていると言える。しかしながら、高温環境下でひずみ
を測定する場合、リード線の温度分布は、使用する環境
により変化するので、上記の温度によるみかけひずみの
補償回路では完全に補償がされないという大きな問題点
を有している。
As can be seen from these figures, the conventional compensating method can be said to be conditioned on that the resistance value of the lead wire is constant. However, when measuring strain in a high temperature environment, the temperature distribution of the lead wire changes depending on the environment in which it is used, so there is a major problem that the above-mentioned apparent strain compensation circuit due to temperature cannot completely compensate. There is.

【0019】すなわち、通常300℃以上の環境下にお
けるひずみ測定においては、高温ひずみゲージから導出
されるリード線として、上述したように金属のチューブ
内に酸化マグネシュウムMgOをもって保持された、い
わゆるMIケーブルが使用される。このMIケーブル
は、その環境温度が1,000℃程度になると抵抗値が
4〜6倍程度変化し、特に、MIケーブルの全長のう
ち、高温に晒されている部分が測定環境(条件)によっ
て変ると、そのリード線抵抗も大きく変化するため、上
述した従来の補償回路では、補償不能となってしまうの
である。
That is, in strain measurement under an environment of generally 300 ° C. or higher, a so-called MI cable, which holds magnesium oxide MgO in a metal tube as described above, is used as a lead wire derived from a high temperature strain gauge. used. The resistance value of this MI cable changes about 4 to 6 times when the environmental temperature reaches about 1,000 ° C., and in particular, the portion of the entire length of the MI cable exposed to high temperature depends on the measurement environment (condition). If it changes, the resistance of the lead wire also changes greatly, so that the conventional compensation circuit described above cannot compensate.

【0020】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、その目的は、リード線の温度分布条件が変化して
もみかけひずみ量の変化の少ない、高温ひずみゲージの
みかけひずみ補償回路を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an apparent strain compensation circuit for a high temperature strain gauge in which the apparent strain amount is small even if the temperature distribution condition of the lead wire is changed. To provide.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、高温下の被測定対象物に添着され該被
測定対象物からひずみを受けるとそのひずみに応じた電
気信号を出力する高温ひずみゲージのみかけひずみ補償
回路において、前記被測定対象物からひずみを受けると
その抵抗値を変化するアクティブゲージと、前記ひずみ
には不感な状態で前記アクティブゲージとほぼ同じ環境
下に配設され一端が前記アクティブゲージの一端と直列
に接続されたダミーゲージと、一端同士が直列に接続さ
れ且つ一方の出力端子に接続され各他端が一方および他
方のブリッジ電源入力端子に接続された2個の固定抵抗
と、一端が前記アクティブゲージの他端に接続され他端
が前記一方のブリッジ電源入力端子に直接または温度に
よるみかけひずみ補償抵抗を介して接続された第1のリ
ード線と、一端が前記ダミーゲージの他端に接続され他
端が前記他方のブリッジ電源入力端子に直接または温度
によるみかけひずみ補償抵抗を介して接続された第2の
リード線と、一端が前記アクティブゲージと前記ダミー
ゲージとの接続点に接続され他端が他方の出力端子に接
続された第3のリード線と、前記一方のブリッジ電源入
力端子および前記他方のブリッジ電源入力端子の一方ま
たは両方と前記他方の出力端子との間に接続され前記リ
ード線の抵抗変化に伴うみかけひずみを補償するリード
線抵抗変化補償抵抗と、を有し、前記リード線が高温に
晒される部分の長さが異なることに伴うみかけひずみの
発生を前記リード線抵抗変化補償抵抗によって補償する
ように構成したことを特徴としたものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides an electric signal according to the strain when it is attached to an object to be measured under high temperature and is strained from the object to be measured. In the apparent strain compensation circuit for outputting high temperature strain gauge, an active gauge that changes its resistance value when it receives strain from the object to be measured, and an active gauge that is insensitive to the strain and is placed under substantially the same environment as the active gauge. A dummy gauge having one end connected in series with one end of the active gauge, one end connected in series and connected to one output terminal, and the other end connected to one and the other bridge power input terminal Two fixed resistors and one end connected to the other end of the active gauge and the other end to the one bridge power input terminal directly or apparent strain due to temperature And a first lead wire connected through a compensation resistor, one end of which is connected to the other end of the dummy gauge and the other end of which is connected to the other bridge power supply input terminal directly or through an apparent strain compensation resistor due to temperature. A second lead wire, a third lead wire having one end connected to a connection point between the active gauge and the dummy gauge and the other end connected to the other output terminal, and the one bridge power supply input terminal and A lead wire resistance change compensating resistor that is connected between one or both of the other bridge power supply input terminal and the other output terminal, and that compensates an apparent distortion due to a resistance change of the lead wire; It is also characterized in that the generation of the apparent strain due to the difference in the length of the portion exposed to the high temperature is compensated by the lead wire resistance change compensation resistance. It is.

【0022】[0022]

【作用】上記のように構成された高温ひずみゲージのみ
かけひずみ補償回路は、リード線の抵抗が一定であると
した場合のひずみゲージの温度によるみかけひずみを、
2本のリード線の一方または両方の延長端側にみかけひ
ずみ補償抵抗を回路挿入することで補償している。一
方、リード線の全長に対する高温に晒されるリード線部
分の長さによってリード線抵抗が大きく変化し、温度に
よるみかけひずみも大きく変化するのを、アクティブゲ
ージとダミーゲージの接続点に接続された第3のリード
線の他端側と、アクティブゲージとダミーゲージの各他
端に各一端が接続された第1および第2のリード線の一
方または両方の各他端側との間に、リード線の温度分布
変化に起因した抵抗変化に伴うみかけひずみを抑制する
リード線抵抗変化補償抵抗を回路挿入することで補償し
ている。
[Operation] The apparent strain compensation circuit of the high temperature strain gauge configured as described above calculates the apparent strain due to the temperature of the strain gauge when the resistance of the lead wire is constant,
Compensation is performed by inserting an apparent strain compensation resistance circuit in the extension end side of one or both of the two lead wires. On the other hand, the lead wire resistance changes significantly depending on the length of the lead wire exposed to high temperature relative to the total length of the lead wire, and the apparent strain due to temperature also changes significantly. Between the other end side of the lead wire of No. 3 and the other end side of one or both of the first and second lead wires whose one ends are connected to the other ends of the active gauge and the dummy gauge, respectively. Compensation is achieved by inserting a lead wire resistance change compensating resistor that suppresses the apparent strain associated with the resistance change caused by the change in temperature distribution.

【0023】[0023]

【実施例】以下、本発明の構成を図面に示す実施例に基
づいて詳細に説明する。図1は、本発明の高温ひずみゲ
ージのみかけひずみ補償回路の一実施例を示す回路図で
ある。本実施例の回路は、ホイートストンブリッジ回路
にリード線の温度分布変化に起因した抵抗変化に伴うみ
かけひずみを補償するリード線抵抗変化補償抵抗を追加
して構成したものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of the present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the apparent strain compensation circuit of the high temperature strain gauge of the present invention. The circuit of the present embodiment is configured by adding a lead wire resistance change compensating resistor for compensating the apparent strain accompanying the resistance change due to the change in temperature distribution of the lead wire to the Wheatstone bridge circuit.

【0024】高温環境側Iには、高温ひずみゲージのチ
ューブ1内のアクティブゲージ2とダミーゲージ3およ
びMIケーブルからなるリード線4a,4b,4cと
を、また、常温環境側IIには、ひずみゲージの温度によ
るみかけひずみを補償するみかけひずみ補償抵抗12,
13と固定抵抗9,10とを有してホイートストンブリ
ッジ回路が構成されている。
On the high temperature environment side I, the active gauge 2 in the tube 1 of the high temperature strain gauge, the dummy gauge 3 and the lead wires 4a, 4b, 4c consisting of the MI cable, and on the normal temperature environment side II, the strain Apparent strain compensation resistor 12, which compensates for the apparent strain due to gauge temperature,
A Wheatstone bridge circuit is configured by including 13 and fixed resistors 9 and 10.

【0025】上述したように、アクティブゲージ2とダ
ミーゲージ3とは、ほぼ同じ環境下に置かれ、互いに一
端同士が接続されて直列回路を構成している。また、2
個の固定抵抗9,10も、互いに一端同士が接続されて
直列回路を構成している。
As described above, the active gauge 2 and the dummy gauge 3 are placed under substantially the same environment, and their one ends are connected to each other to form a series circuit. Also, 2
The fixed resistors 9 and 10 also have one ends connected to each other to form a series circuit.

【0026】アクティブゲージ2の他端と一方の固定抵
抗9の他端との間は、第1のリード線4aと温度による
みかけひずみ補償抵抗12を介して接続されている。但
し、温度によるみかけひずみが正の場合は、省略される
かその両端が短絡される。
The other end of the active gauge 2 and the other end of the one fixed resistor 9 are connected to each other via a first lead wire 4a and an apparent strain compensation resistor 12 due to temperature. However, if the apparent strain due to temperature is positive, it is omitted or both ends are short-circuited.

【0027】ダミーゲージ3の他端と他方の固定抵抗1
0の他端との間は、第2のリード線4bと温度によるみ
かけひずみ補償抵抗13を介して接続されている。但
し、温度によるみかけひずみ補償抵抗13は、ひずみゲ
ージによるみかけひずみが正の場合は、省略されるか、
その両端が短絡される。
Fixed resistor 1 on the other end of dummy gauge 3 and the other
The other end of 0 is connected to the second lead wire 4b through an apparent strain compensation resistor 13 due to temperature. However, the apparent strain compensation resistance 13 due to temperature is omitted if the apparent strain due to the strain gauge is positive,
Both ends are short-circuited.

【0028】上記2個の固定抵抗9,10の各他端は、
ブリッジ電源電圧Einの供給を受けるブリッジ電源入力
端子18,19にそれぞそれ接続されている。ブリッジ
回路の一方の出力端子17は、2個の固定抵抗9と10
との接続点に接続されている。
The other ends of the two fixed resistors 9 and 10 are
The bridge power source input terminals 18 and 19 which are supplied with the bridge power source voltage Ein are respectively connected. One output terminal 17 of the bridge circuit has two fixed resistors 9 and 10.
It is connected to the connection point with.

【0029】また、ブリッジ回路の他方の出力端子16
は、アクティブゲージ2とダミーゲージ3との接続点に
一端が接続された第3のリード線4cの延長端に接続さ
れている。
The other output terminal 16 of the bridge circuit
Is connected to the extension end of the third lead wire 4c, one end of which is connected to the connection point between the active gauge 2 and the dummy gauge 3.

【0030】この他方の出力端子16と、一方のブリッ
ジ電源入力端子18との間および一方のブリッジ電源入
力端子19との間には、リード線の温度分布変化(リー
ド線4a,4b,4cの高温に晒される長さの変化)に
起因した内部抵抗11(抵抗値:RL )の変化に伴うみ
かけひずみを補償するリード線抵抗変化補償抵抗14お
よび15が回路挿入されている。但し、このリード線抵
抗変化補償抵抗14および15は、通常の場合、一方の
みが使用されるが、両方用いてもよい。
Between the other output terminal 16 and one of the bridge power source input terminals 18 and between the one of the bridge power source input terminals 19, changes in the temperature distribution of the lead wires (lead wires 4a, 4b, 4c). Lead wire resistance change compensating resistors 14 and 15 are inserted in the circuit for compensating for the apparent distortion caused by the change of the internal resistance 11 (resistance value: RL) caused by the change in length exposed to high temperature. However, only one of the lead wire resistance change compensation resistors 14 and 15 is usually used, but both may be used.

【0031】次に、リード線抵抗変化補償抵抗の抵抗値
RLCの効果について、具体例において説明する。今、図
1の回路においてゲージの温度によるみかけひずみ補償
抵抗12,13のうちの一方13のみを使用し他方12
は、破線にて示すように短絡して用いないものとする。
また、リード線抵抗変化補償抵抗14,15のうち一方
14のみを使用し他方15は開放して用いないものとす
る。
Next, the effect of the resistance value RLC of the lead wire resistance change compensation resistance will be described in a concrete example. Now, in the circuit of FIG. 1, only one of the apparent strain compensation resistors 12 and 13 depending on the temperature of the gauge is used and the other 12
Is not used because it is short-circuited as shown by the broken line.
Further, it is assumed that only one of the lead wire resistance change compensation resistors 14 and 15 is used and the other 15 is opened and not used.

【0032】上記の条件においてブリッジ電源Einが印
加された場合のアクティブゲージ2(ゲージ抵抗値RA
)とダミーゲージ3(ゲージ抵抗値RD )の接続点の電
圧E1は、(8)式により得られる。
Under the above conditions, the active gauge 2 (gauge resistance value RA
) And the dummy gauge 3 (gauge resistance value RD) at the connection point voltage E1 is obtained by the equation (8).

【0033】 E1 ={R2 /(R1 +R2 )}×Ein =[(RD+RL+RTC)/{(RA+RL)(RL+RLC)/(RA+2RL +RLC)+(RD+RL+RLC)}]×Ein (8) 但し、上記(8)式のR1 およびR2 は、下記による。E1 = {R2 / (R1 + R2)} * Ein = [(RD + RL + RTC) / {(RA + RL) (RL + RLC) / (RA + 2RL + RLC) + (RD + RL + RLC)}] * Ein (8) However, the above (8) R1 and R2 in the formula are as follows.

【0034】R1 =(RA +RL )(RL +RLC)/
(RA +2RL +RLC) R2 =RD +RL +RTC 図1の実施例の回路において、アクティブゲージ2にひ
ずみが加わっていない時の出力電圧Eout(0′) は、ブ
リッジ電源電圧Einと数式(7)で得られる電圧E1 と
の電位差(Ein−E1 )とリード線抵抗変化補償抵抗R
LCとリード線の内部抵抗11の抵抗RL とを下記の関係
式に代入して求められる。
R1 = (RA + RL) (RL + RLC) /
(RA + 2RL + RLC) R2 = RD + RL + RTC In the circuit of the embodiment of FIG. 1, the output voltage Eout (0 ') when the active gauge 2 is not distorted is obtained by the bridge power supply voltage Ein and the equation (7). Potential difference (Ein-E1) from the applied voltage E1 and lead wire resistance change compensation resistance R
It is obtained by substituting LC and the resistance RL of the internal resistance 11 of the lead wire into the following relational expression.

【0035】 Eout(0′) ={RL /(RL +RLC)}×(Ein−E1 )+E1 (9) 図1の高温環境領域Iが高温下に晒されているときの出
力電圧Eout(T′ )は、(9)式に基づきリード線の高
温等の内部抵抗値をRLTとしたとき、(10)式および
(11)式で得られる。
Eout (0 ′) = {RL / (RL + RLC)} × (Ein−E1) + E1 (9) Output voltage Eout (T ′ when the high temperature environment region I in FIG. 1 is exposed to high temperature ) Is obtained by the equations (10) and (11) when the internal resistance value of the lead wire at high temperature is RLT based on the equation (9).

【0036】 Eout(T ′)={RLT/(RLT+RLC)}×(Ein−E1T)+E1T (10 ) E1T={R2T/(R1T+R2T)}×Ein (11) (10),(11)式のR1TおよびR2Tは、(9)式の
常温時の抵抗値RA ,RL に対する高温時の抵抗値RA
T,RLTによる下記関係式によって得られる。
Eout (T ′) = {RLT / (RLT + RLC)} × (Ein−E1T) + E1T (10) E1T = {R2T / (R1T + R2T)} × Ein (11) R1T in the equations (10) and (11) And R2T are the resistance values RA and RL of the equation (9) at room temperature to the resistance values RA and RL at room temperature.
It is obtained by the following relational expression based on T and RLT.

【0037】 R1T=(RAT+RLT)(RLT+RLC)/(RAT+2RLT+RLC) (12) R2T=RDT+RLT+RTC (13) また、みかけひずみMTCは、(5)式および(6)式と
同様手順による(14)式によって得られる。
R1T = (RAT + RLT) (RLT + RLC) / (RAT + 2RLT + RLC) (12) R2T = RDT + RLT + RTC (13) Further, the apparent strain MTC is obtained by the equation (14) by the same procedure as the equations (5) and (6). To be

【0038】 MTC={Eout(0′)−Eout(T′)}×1,000/0.0005 (14) 数式(14)のパラメータを下記に示す数値とした場合
のリード線の加熱部分の長さの変化に対するみかけひず
みの大きさの変化を表わした具体例が図4のグラフであ
り、リード線種に銅線を用いた場合の特性図である。ま
た、図5は同じくニッケル線の場合の特性図であり、こ
の場合のパラメータ数値の記載は省略する。
MTC = {Eout (0 ′) − Eout (T ′)} × 1,000 / 0.0005 (14) When the parameter of the equation (14) is set to the following numerical values, A specific example showing the change in the magnitude of the apparent strain with respect to the change in the length is the graph of FIG. 4, and is a characteristic diagram when a copper wire is used as the lead wire type. Further, FIG. 5 is also a characteristic diagram in the case of a nickel wire, and the description of parameter numerical values in this case is omitted.

【0039】(1).常温(室温)時のパラメータ RA =120Ω,RD =120Ω,RL =2Ω, RTC=8.75Ω, RLC=6,190Ω (2).高温時(例えば1,000℃)におけるパラメ
ータ RAT=129.532Ω,RDT=130Ω, リード線の抵抗温度係数=0.8/1,000℃ (3).高温加熱部のリード線長とリード線抵抗値とみ
かけひずみ出力値との関係は、下表の通りである。
(1). Parameters at normal temperature (room temperature) RA = 120Ω, RD = 120Ω, RL = 2Ω, RTC = 8.75Ω, RLC = 6,190Ω (2). Parameters at high temperature (for example, 1,000 ° C.) RAT = 129.5532Ω, RDT = 130Ω, temperature coefficient of resistance of lead wire = 0.8 / 1,000 ° C. (3). The relationship between the lead wire length, the lead wire resistance value and the apparent strain output value in the high temperature heating section is as shown in the table below.

【0040】[0040]

【表1】 図4および図5は、上述した図7および図8の従来例の
特性図と夫々対比される特性図である。これら相対する
図を比較してみると、本発明に係る実施例のものは、高
温加熱部のリード線長の影響が大幅に緩和されているこ
とが解る。また、図5に示すようにニッケル線を用いた
場合の特性曲線は、銅線に比べ補償効果は劣るが、耐熱
性、機械的強度等の優位性において利用される場合があ
る。
[Table 1] 4 and 5 are characteristic diagrams to be compared with the characteristic diagrams of the conventional example of FIGS. 7 and 8 described above, respectively. Comparing these opposing figures, it can be seen that in the example according to the present invention, the influence of the lead wire length of the high temperature heating section is greatly alleviated. In addition, as shown in FIG. 5, the characteristic curve when a nickel wire is used is inferior in compensation effect to a copper wire, but it may be used in advantages such as heat resistance and mechanical strength.

【0041】なお、本発明は、上記の実施例のみに限定
されるべきものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範
囲内において、種々に変形実施が可能である。例えば、
リード線抵抗変化補償抵抗14,15を2個用いてもよ
いし、ゲージの温度によるみかけひずみ12,13の一
方または両方を省略してもよい場合がある。
The present invention should not be limited to the above embodiments, but various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example,
Two lead wire resistance change compensation resistors 14 and 15 may be used, or one or both of the apparent strains 12 and 13 due to the temperature of the gauge may be omitted.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、ホイー
トストンブリッジ回路のブリッジ電源入力端子とひずみ
ゲージ側出力端子との間に所定の抵抗値のリード線抵抗
変化補償抵抗を挿入することにより、リード線の温度分
布状態の変化に起因するリード線の抵抗値の変化によっ
て生じるみかけひずみの変化が抑制補償され、ひいては
この補償効果によってリード線の温度分布条件の変化、
リード線長の変更等の度毎にみかけひずみを補償をし直
すといった煩わしさがなく、所望の測定温度で高温下に
おける被測定対象物のひずみを高精度で測定し得る高温
ひずみゲージのみかけひずみ補償回路を提供することが
できる。
As is apparent from the above description, by inserting a lead wire resistance change compensation resistor having a predetermined resistance value between the bridge power source input terminal and the strain gauge side output terminal of the Wheatstone bridge circuit, The change in the apparent strain caused by the change in the resistance value of the lead wire due to the change in the temperature distribution state of the wire is suppressed and compensated, and by this compensation effect, the change in the temperature distribution condition of the lead wire,
Apparent strain of high temperature strain gauge that can measure strain of the measured object at high temperature at desired measurement temperature with high accuracy without the trouble of compensating the apparent strain each time the lead wire length is changed. A compensation circuit can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の回路構成を示す回路図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a circuit configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】高温ひずみゲージの構成を示す縦断面図であ
る。
FIG. 2 is a vertical sectional view showing the structure of a high temperature strain gauge.

【図3】図2に示す高温ひずみゲージの平面図である。FIG. 3 is a plan view of the high temperature strain gauge shown in FIG.

【図4】図1に示した実施例の回路のリード線に、銅線
を用いた場合のリード線の加熱部分の長さとみかけひず
みの変化特性を示すグラフである。
FIG. 4 is a graph showing a change characteristic of a length of a heating portion of a lead wire and an apparent strain when a copper wire is used as the lead wire of the circuit of the embodiment shown in FIG.

【図5】図1に示した実施例の回路のリード線に、ニッ
ケル線を用いた場合のリード線の加熱部分の長さとみか
けひずみの変化特性を示すグラフである。
5 is a graph showing the change characteristics of the length and the apparent strain of the heated portion of the lead wire when a nickel wire is used as the lead wire of the circuit of the embodiment shown in FIG.

【図6】従来の線膨張係数を考慮したみかけひずみ補償
回路の一例を示した回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing an example of a conventional apparent distortion compensation circuit considering a linear expansion coefficient.

【図7】図6に示した従来の線膨張係数を考慮したみか
けひずみ補償回路のリード線に、銅線を用いた場合のリ
ード線の加熱部分の長さとみかけひずみの変化特性を示
すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing the change characteristics of the length of the heated portion of the lead wire and the apparent strain when a copper wire is used as the lead wire of the apparent strain compensation circuit considering the conventional linear expansion coefficient shown in FIG. is there.

【図8】図6に示した従来の線膨張係数を考慮したみか
けひずみ補償回路のリード線に、ニッケル線を用いた場
合のリード線の加熱部分の長さとみかけひずみの変化特
性を示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing the change characteristics of the length of the heated portion of the lead wire and the apparent strain when a nickel wire is used as the lead wire of the apparent strain compensation circuit considering the conventional linear expansion coefficient shown in FIG. is there.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チューブ 1a 受感部 2 アクティブゲージ 3 ダミーゲージ 4,4a,4b,4c リード線 5 耐高温接着剤 6 ベース 6a,6b フランジ部 7 被測定対象物 8 スポット溶接箇所 9,10 固定抵抗 11 リード線抵抗 12,13 ひずみゲージの温度によるみかけひずみ補
償抵抗 14,15 リード線抵抗変化補償抵抗 16,17 出力端子 18,19 ブリッジ電源入力端子
1 Tube 1a Sensing part 2 Active gauge 3 Dummy gauge 4, 4a, 4b, 4c Lead wire 5 High temperature resistant adhesive 6 Base 6a, 6b Flange part 7 Object to be measured 8 Spot welding point 9, 10 Fixing resistance 11 Lead wire Resistance 12,13 Apparent strain compensation resistance by strain gauge temperature 14,15 Lead wire resistance change compensation resistance 16,17 Output terminal 18,19 Bridge power supply input terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高温下の被測定対象物に添着され該被測
定対象物からひずみを受けるとそのひずみに応じた電気
信号を出力する高温ひずみゲージのみかけひずみ補償回
路において、前記被測定対象物からひずみを受けるとそ
の抵抗値を変化するアクティブゲージと、前記ひずみに
は不感な状態で前記アクティブゲージとほぼ同じ環境下
に配設され一端が前記アクティブゲージの一端と直列に
接続されたダミーゲージと、一端同士が直列に接続され
且つ一方の出力端子に接続され各他端が一方および他方
のブリッジ電源入力端子に接続された2個の固定抵抗
と、一端が前記アクティブゲージの他端に接続され他端
が前記一方のブリッジ電源入力端子に直接または温度に
よるみかけひずみ補償抵抗を介して接続された第1のリ
ード線と、 一端が前記ダミーゲージの他端に接続され他端が前記他
方のブリッジ電源入力端子に直接または温度によるみか
けひずみ補償抵抗を介して接続された第2のリード線
と、一端が前記アクティブゲージと前記ダミーゲージと
の接続点に接続され他端が他方の出力端子に接続された
第3のリード線と、 前記一方のブリッジ電源入力端子および前記他方のブリ
ッジ電源入力端子の一方または両方と前記他方の出力端
子との間に接続され前記リード線の抵抗変化に伴うみか
けひずみを補償するリード線抵抗変化補償抵抗と、 を有し、前記リード線が高温に晒される部分の長さが異
なることに伴うみかけひずみの発生を前記リード線抵抗
変化補償抵抗によって補償するように構成したことを特
徴とする高温ひずみゲージのみかけひずみ補償回路。
1. An apparent strain compensating circuit for a high temperature strain gauge, which is attached to an object to be measured under high temperature and outputs an electric signal according to the strain when the object to be measured is strained, An active gauge that changes its resistance when subjected to strain, and a dummy gauge in which one end of the active gauge is connected in series with one end of the active gauge in a state insensitive to the strain and is disposed under substantially the same environment as the active gauge. And two fixed resistors, one end of which is connected in series and which is connected to one output terminal and the other end of which is connected to one and the other bridge power supply input terminal, and one end of which is connected to the other end of the active gauge And the other end is connected to the one bridge power supply input terminal directly or via an apparent strain compensation resistor due to temperature, and one end is connected to the front. A second lead wire connected to the other end of the dummy gauge and the other end of which is connected to the other bridge power supply input terminal directly or via an apparent strain compensation resistor due to temperature; and one end of the active gauge and the dummy gauge. A third lead wire connected to the connection point of and the other end connected to the other output terminal, and one or both of the one bridge power input terminal and the other bridge power input terminal and the other output terminal A lead wire resistance change compensating resistor that is connected between the lead wire and compensates for the apparent strain due to the resistance change of the lead wire, and the apparent strain due to the difference in the length of the portion where the lead wire is exposed to high temperature. An apparent strain compensating circuit for high temperature strain gauge, characterized in that the generation is compensated by the lead wire resistance change compensating resistor.
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