JPH07168039A - 光導波路デバイス - Google Patents
光導波路デバイスInfo
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- JPH07168039A JPH07168039A JP31482893A JP31482893A JPH07168039A JP H07168039 A JPH07168039 A JP H07168039A JP 31482893 A JP31482893 A JP 31482893A JP 31482893 A JP31482893 A JP 31482893A JP H07168039 A JPH07168039 A JP H07168039A
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- Japan
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- optical
- waveguide
- electrode
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 端面露出型の導波路ミラー部を持つ光導波路
デバイスにおいて、導波路ミラー部に悪影響を与えるこ
となく光導波路デバイスの信頼性を向上させるための封
止を施こす。 【構成】 光ICチップ10の導波路ミラー部6を避け
て、光・電気変換素子7部、及び光・電気変換素子7の
電極8部、及び接続手段20部、及び外部電極31部を
含む領域Eを封止剤21によって封止する。光導波路デ
バイスの接続部を保護、強化し、信頼性を向上させる。
デバイスにおいて、導波路ミラー部に悪影響を与えるこ
となく光導波路デバイスの信頼性を向上させるための封
止を施こす。 【構成】 光ICチップ10の導波路ミラー部6を避け
て、光・電気変換素子7部、及び光・電気変換素子7の
電極8部、及び接続手段20部、及び外部電極31部を
含む領域Eを封止剤21によって封止する。光導波路デ
バイスの接続部を保護、強化し、信頼性を向上させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光導波路デバイスに関
し、より詳細には、端面露出型の光導波路ミラー、及
び、光・電気変換素子を有する光導波路デバイスにおけ
る保護の強化に関する。
し、より詳細には、端面露出型の光導波路ミラー、及
び、光・電気変換素子を有する光導波路デバイスにおけ
る保護の強化に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIチップ等の端子(パッド)と電子
機器の基板上の配線部(ランド)との間を金属配線材料
で接続する結線方法としては、ワイヤボンディングや、
リードフレームによる方法等がある。しかし、上記従来
技術のような結線方法では、周囲の温度、湿度等の環境
変化や機械的な振動、衝撃等によって、接続部で破壊や
特性変位が起こりやすく、LSIチップ等の信頼性が高
くない。
機器の基板上の配線部(ランド)との間を金属配線材料
で接続する結線方法としては、ワイヤボンディングや、
リードフレームによる方法等がある。しかし、上記従来
技術のような結線方法では、周囲の温度、湿度等の環境
変化や機械的な振動、衝撃等によって、接続部で破壊や
特性変位が起こりやすく、LSIチップ等の信頼性が高
くない。
【0003】更には、光導波路を用いた光ICチップに
おいては、周囲からの迷光を遮断することが重要な課題
であり、更に、光ICチップに限らず、種々の電子部品
において、外部の埃や汚れなどから保護することも大切
である。
おいては、周囲からの迷光を遮断することが重要な課題
であり、更に、光ICチップに限らず、種々の電子部品
において、外部の埃や汚れなどから保護することも大切
である。
【0004】図4は、従来の光導波路デバイスの一例を
説明するための断面図で、図中、1は光入出力素子(プ
リズムカプラ)、2は保護膜(パッシペーション膜)、
3は導波層(SiON)、4はバッファ層(Si
O2)、5はシリコン基板(光ICチップ10の基
板)、6は導波路ミラー部、7は光・電気変換素子(以
下、光素子)、8は光素子7の電極、9はプリズムカプ
ラ1の接着層、10は光ICチップ、20は接続手段
(例えば、ワイヤボンディング)、21は封止剤、30
は補強基板、31は基板30上の外部電極、32は基板
30上の光素子7の共通電極である。
説明するための断面図で、図中、1は光入出力素子(プ
リズムカプラ)、2は保護膜(パッシペーション膜)、
3は導波層(SiON)、4はバッファ層(Si
O2)、5はシリコン基板(光ICチップ10の基
板)、6は導波路ミラー部、7は光・電気変換素子(以
下、光素子)、8は光素子7の電極、9はプリズムカプ
ラ1の接着層、10は光ICチップ、20は接続手段
(例えば、ワイヤボンディング)、21は封止剤、30
は補強基板、31は基板30上の外部電極、32は基板
30上の光素子7の共通電極である。
【0005】図4に示した従来技術は、上述した問題点
を解決するために、光ICチップ10の上面に、パッシ
ペーション膜2を施して、外部からの汚れ等に対して保
護しており、更に、補強基板30に光ICチップ10を
接合後、ワイヤボンディング20で、光素子電極8と外
部電極31とを接続した後、光ICチップ10全体にわ
たって(ワイヤボンディングを含む)封止剤21により
封止し、もって、周囲の温度、湿度等の環境変化や機械
的な振動、衝撃等による接続部での破壊や特性変化を起
こしにくくし、また、迷光をさえぎるようにしたもので
ある。
を解決するために、光ICチップ10の上面に、パッシ
ペーション膜2を施して、外部からの汚れ等に対して保
護しており、更に、補強基板30に光ICチップ10を
接合後、ワイヤボンディング20で、光素子電極8と外
部電極31とを接続した後、光ICチップ10全体にわ
たって(ワイヤボンディングを含む)封止剤21により
封止し、もって、周囲の温度、湿度等の環境変化や機械
的な振動、衝撃等による接続部での破壊や特性変化を起
こしにくくし、また、迷光をさえぎるようにしたもので
ある。
【0006】図4において、導波路ミラー部6は、端面
露出部分がパッシペーション膜2と同じ材質で覆われて
いるので、その上から、外部の汚れ等から導波層3を保
護するパッシペーション膜2を施こし、更に、その上か
ら封止剤21により封止をしても導波路ミラー部6にな
んら影響を与えることはなかった。
露出部分がパッシペーション膜2と同じ材質で覆われて
いるので、その上から、外部の汚れ等から導波層3を保
護するパッシペーション膜2を施こし、更に、その上か
ら封止剤21により封止をしても導波路ミラー部6にな
んら影響を与えることはなかった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記導波路ミ
ラー部6が端面露出部を空気中または真空中に露出しな
ければならない導波路端面露出型の導波路ミラーにおい
ては、前記保護膜2もエッチング等により取り去られて
おり、この導波路ミラー部6の端面露出部に封止剤21
が流れ込むと、導波路ミラー部6が要求されている特性
を得ることができなくなってしまう。そのため、この部
分に封止剤を塗布することができなかった。
ラー部6が端面露出部を空気中または真空中に露出しな
ければならない導波路端面露出型の導波路ミラーにおい
ては、前記保護膜2もエッチング等により取り去られて
おり、この導波路ミラー部6の端面露出部に封止剤21
が流れ込むと、導波路ミラー部6が要求されている特性
を得ることができなくなってしまう。そのため、この部
分に封止剤を塗布することができなかった。
【0008】そこで、本発明は、端面露出型の導波路ミ
ラーに悪影響を与えることなく、光素子の部分を遮光
し、かつ、電極接続部を保護、強化し、更には、光導波
路デバイス全体にわたる保護、強化、及び遮光を図り、
もって、導波路ミラーの耐久性を向上させた光導波路デ
バイスを提供することを目的とする。
ラーに悪影響を与えることなく、光素子の部分を遮光
し、かつ、電極接続部を保護、強化し、更には、光導波
路デバイス全体にわたる保護、強化、及び遮光を図り、
もって、導波路ミラーの耐久性を向上させた光導波路デ
バイスを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、(1)光入出力素子と、光・電気変換素
子と、前記光入出力素子からの光を前記光・電気変換素
子に導くための光導波路を有し、前記光・電気変換素子
の入力又は出力端子電極が該電極以外の外部導体の外部
電極と接続手段を介して接続され、前記光導波路の最上
層が保護膜で形成され、前記光導波路の一部に導波路端
面露出型の導波路ミラー部を有する光導波路デバイスに
おいて、前記光・電気変換素子部、及び、該光・電気変
換素子の端子電極部、及び、前記接続手段部、及び、前
記外部電極部が封止剤で封止されていること、更には、
(2)光入出力素子と、光・電気変換素子と、前記光入
出力素子からの光を前記光・電気変換素子に導くための
光導波路を有し、前記光・電気変換素子の入力又は出力
端子電極が該電極以外の外部導体の外部電極と接続手段
を介して接続され、前記光導波路の最上層が保護膜で形
成され、前記光導波路の一部に導波路端面露出型の導波
路ミラー部を有する光導波路デバイスにおいて、前記導
波路ミラーの露出部が外気に対して密封され、前記光入
出力素子部を除くすべてが、封止剤で封止されているこ
と、更には、(3)前記導波路端面露出型の導波路ミラ
ーの露出部が不活性ガスと接していることを特徴とした
ものである。
決するために、(1)光入出力素子と、光・電気変換素
子と、前記光入出力素子からの光を前記光・電気変換素
子に導くための光導波路を有し、前記光・電気変換素子
の入力又は出力端子電極が該電極以外の外部導体の外部
電極と接続手段を介して接続され、前記光導波路の最上
層が保護膜で形成され、前記光導波路の一部に導波路端
面露出型の導波路ミラー部を有する光導波路デバイスに
おいて、前記光・電気変換素子部、及び、該光・電気変
換素子の端子電極部、及び、前記接続手段部、及び、前
記外部電極部が封止剤で封止されていること、更には、
(2)光入出力素子と、光・電気変換素子と、前記光入
出力素子からの光を前記光・電気変換素子に導くための
光導波路を有し、前記光・電気変換素子の入力又は出力
端子電極が該電極以外の外部導体の外部電極と接続手段
を介して接続され、前記光導波路の最上層が保護膜で形
成され、前記光導波路の一部に導波路端面露出型の導波
路ミラー部を有する光導波路デバイスにおいて、前記導
波路ミラーの露出部が外気に対して密封され、前記光入
出力素子部を除くすべてが、封止剤で封止されているこ
と、更には、(3)前記導波路端面露出型の導波路ミラ
ーの露出部が不活性ガスと接していることを特徴とした
ものである。
【0010】
【作用】光・電気変換素子部、及び、光・電気変換素子
の電極部、及び、接続手段部、及び、外部電極部を封止
剤により封止することで、端面露出型の導波路ミラー部
へ悪影響を与えることなく封止した光導波路デバイスを
提供する。
の電極部、及び、接続手段部、及び、外部電極部を封止
剤により封止することで、端面露出型の導波路ミラー部
へ悪影響を与えることなく封止した光導波路デバイスを
提供する。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例に基づいて説明する。
図1は、本発明の一実施例を説明するための図で、図1
(a)は平面図、図1(b)は、図1(a)のB−B断
面図を示し、図中、6aはミラー端面(反射面)、6b
はミラー裏面(非反射面)で、その他、図4に示した従
来技術と同様の作用をする部分には、図4の場合と同一
の参照番号が付してある。
図1は、本発明の一実施例を説明するための図で、図1
(a)は平面図、図1(b)は、図1(a)のB−B断
面図を示し、図中、6aはミラー端面(反射面)、6b
はミラー裏面(非反射面)で、その他、図4に示した従
来技術と同様の作用をする部分には、図4の場合と同一
の参照番号が付してある。
【0012】而して、図1に示した実施例では、導波層
3中を伝搬する光を、端面が空気中に露出した導波路ミ
ラー部6,6′によって反射、集光して、光素子7に当
て、電気信号に変換し、該光素子7からの電気信号を電
極8から外部電極31への接続手段20(ここではワイ
ヤボンディング)を通し、外部電極31へ出力されるよ
うになっている。
3中を伝搬する光を、端面が空気中に露出した導波路ミ
ラー部6,6′によって反射、集光して、光素子7に当
て、電気信号に変換し、該光素子7からの電気信号を電
極8から外部電極31への接続手段20(ここではワイ
ヤボンディング)を通し、外部電極31へ出力されるよ
うになっている。
【0013】更に、本実施例で使用している光ICチッ
プ10の光導波路は、シリコン基板5上に形成されたS
iO2のバッファ層4と、SiONの導波層3と、この
導波層3を保護する保護膜2の3層とから構成されてお
り、また、導波路ミラー部6は、前記保護膜2、導波層
3及びバッファ層4をエッチング等により取り除くこと
で(以下、導波路ミラー部6の溝)、端面露出型の導波
路ミラー部6を形成している。光素子7は、シリコン基
板5上に設けた拡散層であり、導波層3は、この光素子
7に導波光を導くように光素子7に接触形成され、更
に、光素子7から発生する信号を拾う電極8も光素子7
に接触して引き出されており、また、シリコン基板5は
光素子7の他の電極に相当して、複数ある光素子7の共
通電極として作用するため、光ICチップ10の底面
(シリコン基板5の底面)は、補強基板30上に設けら
れた共通電極32に接合されている。
プ10の光導波路は、シリコン基板5上に形成されたS
iO2のバッファ層4と、SiONの導波層3と、この
導波層3を保護する保護膜2の3層とから構成されてお
り、また、導波路ミラー部6は、前記保護膜2、導波層
3及びバッファ層4をエッチング等により取り除くこと
で(以下、導波路ミラー部6の溝)、端面露出型の導波
路ミラー部6を形成している。光素子7は、シリコン基
板5上に設けた拡散層であり、導波層3は、この光素子
7に導波光を導くように光素子7に接触形成され、更
に、光素子7から発生する信号を拾う電極8も光素子7
に接触して引き出されており、また、シリコン基板5は
光素子7の他の電極に相当して、複数ある光素子7の共
通電極として作用するため、光ICチップ10の底面
(シリコン基板5の底面)は、補強基板30上に設けら
れた共通電極32に接合されている。
【0014】導波層3を露出してミラーとする端面は、
ミラーの全反射の臨界角を大きくするために、導波層の
端面を真空中(又は空気中)に露出させるが、これは、
導波層3の屈折率(この屈折率は、厳密には光導波路の
構造で決定される等価屈折率)を外部の屈折率より十分
大きくするためである。従って、封止剤21で封止する
とき、パッシペーション膜2をエッチング等で除去して
形成した端面露出型導波路ミラー部6の露出部分に、封
止剤21が入り込むことは避けなければならない。その
ため、本実施例では、この端面露出型導波路ミラー部6
の部分を避けて、封止剤21で光素子7,電極8,ワイ
ヤボンディング20,外部電極31を含む領域Eを封止
するようにしている。
ミラーの全反射の臨界角を大きくするために、導波層の
端面を真空中(又は空気中)に露出させるが、これは、
導波層3の屈折率(この屈折率は、厳密には光導波路の
構造で決定される等価屈折率)を外部の屈折率より十分
大きくするためである。従って、封止剤21で封止する
とき、パッシペーション膜2をエッチング等で除去して
形成した端面露出型導波路ミラー部6の露出部分に、封
止剤21が入り込むことは避けなければならない。その
ため、本実施例では、この端面露出型導波路ミラー部6
の部分を避けて、封止剤21で光素子7,電極8,ワイ
ヤボンディング20,外部電極31を含む領域Eを封止
するようにしている。
【0015】上記実施例によると、光検出素子周辺の電
極部分の補強及び保護は十分実現でき、かつ、導波路ミ
ラーの特性を劣化させることもない。また、遮光性のあ
る封止剤を用いれば、光素子7周辺を封止するだけで、
導波路3以外から直接光が入ることがなくなるので、光
素子7周辺からの外乱光が入ることはなくなり、遮光効
果を十分に得ることができる。
極部分の補強及び保護は十分実現でき、かつ、導波路ミ
ラーの特性を劣化させることもない。また、遮光性のあ
る封止剤を用いれば、光素子7周辺を封止するだけで、
導波路3以外から直接光が入ることがなくなるので、光
素子7周辺からの外乱光が入ることはなくなり、遮光効
果を十分に得ることができる。
【0016】図2は、本発明の他の実施例を説明するた
めの図1(b)に相当する断面図で、図中、11は導波
路ミラー部6の溝部に封止剤21が入らないようにする
ための蓋で、この蓋11は、保護膜2とよく密着するよ
うに、保護膜2と密着する側の面は、なるべく平面性を
よくするのがよい。なお、この蓋11の材質としては、
金属、硝子、またはセラミックス等を用いるのがよい。
めの図1(b)に相当する断面図で、図中、11は導波
路ミラー部6の溝部に封止剤21が入らないようにする
ための蓋で、この蓋11は、保護膜2とよく密着するよ
うに、保護膜2と密着する側の面は、なるべく平面性を
よくするのがよい。なお、この蓋11の材質としては、
金属、硝子、またはセラミックス等を用いるのがよい。
【0017】この実施例は、導波路ミラー部6の溝の上
方に蓋11を接合後、プリズムカプラ1部分以外の光I
Cチップ10の上面全部及び接続部(ワイヤボンディン
グ20)を封止剤21により封止を行なったもので、導
波路ミラー部6の端面に封止剤21を接触させることな
く封止でき、図1で示した実施例の効果に加え、プリズ
ムカプラ1以外から光が入らなくなり、更に、光ICチ
ップ10全体の保護、強化、信頼性を向上させることが
できる。
方に蓋11を接合後、プリズムカプラ1部分以外の光I
Cチップ10の上面全部及び接続部(ワイヤボンディン
グ20)を封止剤21により封止を行なったもので、導
波路ミラー部6の端面に封止剤21を接触させることな
く封止でき、図1で示した実施例の効果に加え、プリズ
ムカプラ1以外から光が入らなくなり、更に、光ICチ
ップ10全体の保護、強化、信頼性を向上させることが
できる。
【0018】更に、図2で示した実施例の蓋11を接合
するとき、不活性ガスの雰囲気中で蓋11を接合する
と、導波路ミラー部の溝に不活性ガスが充填され、導波
路端面(6a,6′a,6b,6′b)は、不活性ガス
と接触することとなり、空気による腐食から端面を守る
ことができ、導波路ミラー部6の端面の耐久性を増すこ
とができる。
するとき、不活性ガスの雰囲気中で蓋11を接合する
と、導波路ミラー部の溝に不活性ガスが充填され、導波
路端面(6a,6′a,6b,6′b)は、不活性ガス
と接触することとなり、空気による腐食から端面を守る
ことができ、導波路ミラー部6の端面の耐久性を増すこ
とができる。
【0019】また、図1,図2で示した実施例は、補強
基板30を使用したものであるが、本発明は、必ずしも
補強基板を必要とするものではなく、補強基板を使わな
いと、ローコストで封止することができる。図3は、通
常の電子ICのように、セラミックス基板等の補強基板
30を使わずに封止した実施例の略断面図で、図中、4
0はリードフレーム、41はアイランド、42はバンプ
を示し、図3(a)は、電極接続にワイヤボンディング
20を用いたもの、図3(b)は、TAB(Tape Autom
ated Bonding)を利用したものである。このTABを用
いた方法は、電子ICの実装で実績が有り信頼性は高
い。
基板30を使用したものであるが、本発明は、必ずしも
補強基板を必要とするものではなく、補強基板を使わな
いと、ローコストで封止することができる。図3は、通
常の電子ICのように、セラミックス基板等の補強基板
30を使わずに封止した実施例の略断面図で、図中、4
0はリードフレーム、41はアイランド、42はバンプ
を示し、図3(a)は、電極接続にワイヤボンディング
20を用いたもの、図3(b)は、TAB(Tape Autom
ated Bonding)を利用したものである。このTABを用
いた方法は、電子ICの実装で実績が有り信頼性は高
い。
【0020】
(1)請求項1に対応する効果:光素子部、及び、光素
子の電極部、及び、接続手段部、及び、外部電極部を封
止剤で封止することにより、電極接続部の保護、及び、
強化が実現でき、また、遮光型の封止剤で封止すること
で、光素子部に直接外乱光が入らなくなり、光導波路デ
バイスの信頼性が向上する。 (2)請求項2に対応する効果:導波路ミラー部の端面
が接する空間を外気に対して密封して光入出力部の部分
を除く全てを封止することにより、(1)の効果に加
え、導波路ミラー部の性能に影響を与えることなく全体
を封止でき、更には、光素子に入る光は、光入出力素子
部以外から入らなくなり、光導波路デバイスの信頼性が
向上する。 (3)請求項3に対応する効果:(2)の効果に加え、
導波路ミラー部の露出部に不活性ガスを接触させておく
ことにより、導波路ミラー部の端面を空気による腐食か
ら守ることができ、導波路ミラー部の耐久性、信頼性を
向上できる。
子の電極部、及び、接続手段部、及び、外部電極部を封
止剤で封止することにより、電極接続部の保護、及び、
強化が実現でき、また、遮光型の封止剤で封止すること
で、光素子部に直接外乱光が入らなくなり、光導波路デ
バイスの信頼性が向上する。 (2)請求項2に対応する効果:導波路ミラー部の端面
が接する空間を外気に対して密封して光入出力部の部分
を除く全てを封止することにより、(1)の効果に加
え、導波路ミラー部の性能に影響を与えることなく全体
を封止でき、更には、光素子に入る光は、光入出力素子
部以外から入らなくなり、光導波路デバイスの信頼性が
向上する。 (3)請求項3に対応する効果:(2)の効果に加え、
導波路ミラー部の露出部に不活性ガスを接触させておく
ことにより、導波路ミラー部の端面を空気による腐食か
ら守ることができ、導波路ミラー部の耐久性、信頼性を
向上できる。
【図1】 本発明の一実施例を説明するための図であ
る。
る。
【図2】 本発明の他の実施例を説明するための図であ
る。
る。
【図3】 本発明の更に他の実施例を説明するための図
である。
である。
【図4】 従来の光導波路デバイスの一例を説明するた
めの図である。
めの図である。
1…光入出力素子、2…保護膜、3…導波層、4…バッ
ファ層、5…シリコン基板、6…導波路ミラー部、7…
光・電気変換素子、8…電極、9…接着層、10…光I
Cチップ、11…蓋、20…接続手段、21…封止剤、
30…補強基板、31…外部電極、32…共通電極、4
0…リードフレーム、41…アイランド、42…バン
プ。
ファ層、5…シリコン基板、6…導波路ミラー部、7…
光・電気変換素子、8…電極、9…接着層、10…光I
Cチップ、11…蓋、20…接続手段、21…封止剤、
30…補強基板、31…外部電極、32…共通電極、4
0…リードフレーム、41…アイランド、42…バン
プ。
Claims (3)
- 【請求項1】 光入出力素子と、光・電気変換素子と、
前記光入出力素子からの光を前記光・電気変換素子に導
くための光導波路を有し、前記光・電気変換素子の入力
又は出力端子電極が該電極以外の外部導体の外部電極と
接続手段を介して接続され、前記光導波路の最上層が保
護膜で形成され、前記光導波路の一部に導波路端面露出
型の導波路ミラー部を有する光導波路デバイスにおい
て、前記光・電気変換素子部、及び、該光・電気変換素
子の端子電極部、及び、前記接続手段部、及び、前記外
部電極部が封止剤で封止されていることを特徴とする光
導波路デバイス。 - 【請求項2】 光入出力素子と、光・電気変換素子と、
前記光入出力素子からの光を前記光・電気変換素子に導
くための光導波路を有し、前記光・電気変換素子の入力
又は出力端子電極が該電極以外の外部導体の外部電極と
接続手段を介して接続され、前記光導波路の最上層が保
護膜で形成され、前記光導波路の一部に導波路端面露出
型の導波路ミラー部を有する光導波路デバイスにおい
て、前記導波路ミラーの露出部が外気に対して密封さ
れ、前記光入出力素子部を除くすべてが、封止剤で封止
されていることを特徴とする光導波路デバイス。 - 【請求項3】 前記導波路端面露出型の導波路ミラーの
露出部が不活性ガスと接していることを特徴とする請求
項2に記載の光導波路デバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31482893A JPH07168039A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 光導波路デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
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JP31482893A JPH07168039A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 光導波路デバイス |
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JPH07168039A true JPH07168039A (ja) | 1995-07-04 |
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JP (1) | JPH07168039A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000008505A1 (en) * | 1998-08-05 | 2000-02-17 | Seiko Epson Corporation | Optical module |
JP2009145867A (ja) * | 2007-11-22 | 2009-07-02 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 光導波路、光導波路モジュールおよび光素子実装基板 |
WO2010023976A1 (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-04 | 住友ベークライト株式会社 | 光導波路、光導波路モジュールおよび光素子実装基板 |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP31482893A patent/JPH07168039A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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