JPH07167709A - 単一光子計測装置 - Google Patents

単一光子計測装置

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JPH07167709A
JPH07167709A JP5316989A JP31698993A JPH07167709A JP H07167709 A JPH07167709 A JP H07167709A JP 5316989 A JP5316989 A JP 5316989A JP 31698993 A JP31698993 A JP 31698993A JP H07167709 A JPH07167709 A JP H07167709A
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一光 中島
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 強い光に対しても単一光子計測を行うことが
できる単一光子計測装置の提供。 【構成】 集光装置11では集光された光は光検出素子
部12に与えられる。光検出素子部は複数の光検出素子
12a乃至12dに分割されており、各光検出素子には
それぞれ電圧印加/クゥエンチ回路13a乃至13dが
接続されている。各光検出素子からの検出出力はカウン
タ回路14でカウントされる。このように、光検出素子
部を複数の光検出素子に分割したから、一つの光検出素
子が動作中に光子が到来しても別の光検出素子がその光
子を受光するから、高速に単一光子計測を行うことがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光の強度を計測するため
の計測装置に関し、特に、1光子レベルの微弱光を計測
するための単一光子計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、微弱光の検出においては光電子
増倍管による単一光子計測(シングルフォトンカウン
ト)が用いられている。この単一光子計測においては、
光電子増倍管に微弱な光が入射した際、例えば、最小単
位である1光子であっても所定の確率で光電面から光電
子が放出されて、この光電子が10の6乗倍程度まで増
幅され、検知可能なレベルとされる。そして、種々の外
乱雑音を低減させた後、外乱雑音レベル(低減後の雑音
レベル)では動作せず、光入力が有った場合にのみ動作
する検出レベルが設定される。この結果、1光子程度の
微弱な光入力であっても光の検知が可能となる。
【0003】ところが、上記の単一光子計測において
は、2光子以上の光入力があると、これら光子を区別で
きず、その結果、複数の光子を1つと認識してしまうこ
とがある。つまり、計測回路の応答時間以下の間隔で2
つの光子が入射するような光強度となると、2つの信号
(2つの光子)として区別できない。このため、入射光
量が増加して極めて短い間隔で2つの光子が到来すると
計測数が減少してしまうことがある。
【0004】以上の説明では、1光子の入射によって1
光電子が放出されるものとして説明したが、実際には、
光電面の種類(材質)及び波長(光の波長)等の条件に
応じた確率で光電子が放出される。一般にこのような特
性は量子効率と呼ばれている。光電子増倍管においては
その量子効率は高いもので2〜30%、低いものでは
0.1%以下である。従って、量子効率が高い光電子増
倍管においても3乃至4光子が同時に入射した際、1個
の光電子が放出される程度である。このため、実際には
2つの光子が区別できなくなる光入力レベルはより高く
なるが、所定の光入力レベルになると、2つの光子が区
別できなくなるという問題点を有している。
【0005】実用上の単一光子計測装置では光電子増倍
管を用いており、規則的な間隔で信号(光入力)が与え
られた際には、数十メガカウント(Mcount/se
c)〜100メガカウント程度の能力がある。ところ
で、単一光子レベルにおいては、光は離散的に到来しし
かも光電子放出は前述のように確率的であるため、平均
光量を求めるに当たっては光電子は極めて近い間隔で放
出されることがある。従って、確実にカウント可能な光
量は、約1/10に当たる10メガカウント程度の光量
となる。
【0006】一方、固体検出素子、例えば、アバランシ
ェフォトダイオード(以下APDと呼ぶ)を用いた単一
光子計測装置では、規則的な間隔で光子が入射された際
においても10メガカウント程度が計測限界であると言
われている。APDの光電流増幅率は光電子増倍管に比
べると遥かに低く、従って、通常の線形(リニア)領域
で使用すると、単一の光子が入射した程度では後段の増
幅器における雑音レベルの方が強く、雑音に検出電流が
埋もれてしまうことになる。このため、ブレイクダウン
電圧以上の電圧をAPDに印加して、1光子が入射され
た際においてもブレイクダウンして大電流が流れるよう
にして単一光子を計測する手法が取られている。
【0007】上記の手法はガイガーモード(ガイガーカ
ウンタに類似の原理を利用する)と呼ばれており、単一
光子の検出が可能な反面、ブレイクダウンによって流れ
た大電流を一旦停止させない限り次の計測ができなくな
ってしまう。実際上、APDに電圧を印加する回路の内
部抵抗等の関係で、大電流が流れ浮遊容量等に蓄えられ
た電荷が放電してしまうと、その両端にかかる電圧はブ
レイクダウン電圧よりも十分低い電圧にまで低下する。
この結果、しばらくすると、電流は停止し(流れなくな
り)、次の計測が可能となる。そして、電流が自然に停
止するまでには、ある程度の時間がかかるので、強制的
に電流を停止させている(この際、クゥエンチングと呼
ばれる手法が用いられる)。
【0008】上記のクゥエンチング手法には、APDに
直列に挿入された抵抗の電圧降下を利用して電流を停止
させるパッシブクゥエンチと、能動素子を利用して高速
で電流を停止させるアクティブクゥエンチとがあり、ア
クティブクゥエンチにおいては回路構成が複雑となる
が、より早く電流を停止できる関係上早い計測を行うこ
とが可能となる。このアクティブクゥエンチについて
は、例えば、「1993年6月20日、アプライド・オ
プティクス、第32巻、第21号3894頁〜3900
頁(Applied Optics,Vol132,N
o21,July20,1993)」及びその引用文献
に記載されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のアク
ティブクゥエンチにおいても将来若干の改善が可能であ
ることを考慮しても10メガカウント/秒程度が限界と
考えられており、一方、APDに比較して10倍程度の
高速カウントが可能な光電子増倍管は1μm以上の波長
では量子効率が極めて低く、このため、人工衛星に搭載
されるレーザーレーダーのように入力光レベルが極めて
低い場合には、光電子増倍管は適さない。さらに、人工
衛星に搭載されるレーザーレーダーでは受信光量が少な
い分について、大きな口径の望遠鏡を用いることによっ
て補っているが、大きな望遠鏡では同一視野角に対する
像が大きくなってしまう。このことは、小さな受光素子
の光電面に全部の光を集光できないという問題点があ
る。
【0010】上述したように、固体光検出素子は、光電
子増倍管に比較して量子効率が高い反面、カウントレー
トが低くさらに光電面が小さい関係上大きな望遠鏡によ
る集光が困難であるという問題点がある。
【0011】本発明の目的は固体光検出素子を用いてカ
ウントレートが高い単一光子計測装置を提供することに
ある。
【0012】本発明の他の目的は大きな望遠鏡による集
光が可能な単一光子計測装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、光を受
け該光を集光する集光装置と、複数の光検出素子を有し
前記集光装置からの光に応じて検出出力を送出する光検
出素子部と、該光検出素子に対して電圧を印加するとと
もにクゥエンチングを行って該光検出素子で単一光子計
測を行う第1の手段と、前記光検出素子からの検出出力
を受け該検出出力をカウントするカウンタ手段とを有す
ることを単一光子計測装置が得られる。
【0014】
【実施例】以下本発明について実施例によって説明す
る。
【0015】図1(a)を参照して、図示の単一光子計
測装置は望遠鏡等の集光装置11を備えている。目標か
らの光(例えば、レーザー光)は大気及びエアロゾル等
によって散乱され散乱光Aとして集光装置11に与えら
れ、ここで、集光される。集光装置11の焦点Bには光
検出素子部12が配置されおり、この光検出素子部12
は図1(b)に示すように複数の素子に分割されてい
る。この実施例では、光検出素子部12は円形であり、
複数の扇形素子12a乃至12dに分割されている。そ
して、各素子12a乃至12dは集光径(符号Cで示
す)よりも小さいが、光検出素子部12自体は集光径よ
りも大きくなっている。
【0016】散乱光Aは一般に極めて低いレベルである
が、多数の光子が同時に集光装置11に到来する可能性
は低いがまったくないわけではない。このため、大きな
光検出素子部で受光したとすると、1光子によって回路
がブレイクダウンするとククゥエンチ回路が動作するま
で、電流が流れ続けて次の光子が到来しても再動作でき
ないことになってしまう。ところが、図1(a)に示す
単一光子計測装置では、各素子12a乃至12dは各々
互いに独立しており、例えば、素子12aがブレイクダ
ウンしている際においても他の素子12b乃至12dは
その影響を受けることがないから、次光子によって動作
可能である。集光径C内においてどの位置に光子が到来
するかは確率的であり、ある確率でブレイクダウンして
いる素子12aに次光子が到来することもあるが、大き
な確率で次光子はブレイクダウンしていない素子12b
乃至12dの位置に到来することになる。この結果、ブ
レイクダウンしている素子12aがクゥエンチによって
次光子を待ち受ける体勢をとる以前であっても、次光子
を検出することが可能となる。つまり、素子12a乃至
12dに分割された光検出素子部12を用いることによ
って、早い間隔で到来する光子を検出することが可能と
なって、見掛け上のカウントレートを向上させることが
できる。加えて、1素子では外れてしまう位置に到来す
る光子を捕捉することができ、集光径の大きな集光装置
の使用が可能となる。
【0017】図示の単一光子計測装置では各素子12a
乃至12dはそれぞれ電圧印加/クゥエンチ回路13a
乃至13dに接続されており、各電圧印加/クゥエンチ
回路13a乃至13dはそれぞれカウンタ回路14に接
続されている。
【0018】ここで、図1(c)も参照して、各素子1
2a乃至12dで光子が検出されると、それぞれ検出出
力が電圧印加/クゥエンチ回路13a乃至13dを介し
てカウンタ回路14に与えられる。ここで、図1(c)
に示すように時間Tまででは3検出出力がカウンタ回路
14に与えられ、時間Tから2Tまででは2検出出力が
カウンタ回路14に与えられ、時間Tから3Tまででは
2検出出力がカウンタ回路14に与えられたとすると
(ここでは、時間間隔Tを単位時間とする)、カウンタ
回路14では単位時間T毎に検出出力をカウントとして
このカウント値をメモリ15に格納する。
【0019】このようにして、光子を計測することによ
って、時間分解能を有する計測を行うことができる。ま
た、図1(c)に示すように時間Tまでにおいて、素子
12aの検出出力と素子12cの検出出力とが極めて接
近していても個々の素子においては十分に間隔が開いて
いるため計測上の支障はない。特に、レーザーレーダー
等では一定時間(単位時間)毎に計測パルス数を分割す
ることによって距離分解又は高度分解することになる。
従って、一発のレーザーパルスで同時に高度毎の散乱光
の計測を行うことが可能となる。
【0020】複数の素子を備える光検出素子部が市販さ
れていることもあるが、通常の線形領域での利用を意図
している関係上、ブレイクダウン電圧以上の電圧が印加
されることを考慮すると、素子間の絶縁が問題となる。
絶縁上の問題を避けるため、各素子間の間隙を大きくす
ると、受光不可領域が増大するので、図2に示す構成と
する。つまり、光検出素子部12は多角錐型の反射鏡1
6及び複数の単一光検出素子17乃至20を備えてい
る。図示の例では、反射鏡16は4反射面を有しおり、
各反射面に対応してそれぞれ単一光検出素子17乃至2
0が配置されることになる(なお、ここでは、反射鏡1
6が4反射面を有する場合について図示したが、数は4
個に限定されるものでなく、必要に応じて適宜増やされ
る)。
【0021】ところで、集光装置2が大きい場合には、
集光径が単一光検出素子の光電面の2倍よりも大きくな
ることもある。この場合には、図3に示すように、ダイ
ヤモンドカット等によって傾きが異なる多数の面を有す
る反射鏡(多面体反射鏡)21を準備して、これら面の
数に対応する数の単一光検出素子(図3においては光検
出素子22及び23のみを示す)を配置する。これによ
って、当然のことながら、カウントレートの向上を図る
ことができる。
【0022】なお、図1においては、説明を簡単にする
ため、本来の機能に関係のない要素を省略したが、実際
には、図4に示すように、集光装置11の後に受信視野
を制限する視野絞り24、集光した光を一旦平行光とす
るためのコリメートレンズ25、不要な波長をカットす
る干渉フィルタ26、及び平行光を再度集光する集光レ
ンズ27等が備えられているが、絶対的な構成要素では
ない。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明では複数の光
検出素子によって素子の光電面を上回る径の光を分担し
て受けるようにしたから、1素子では早すぎるカウント
レートとなる強い光の単一光子計測を行うことができる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明による単一光子計測装置の一実
施例を示すブロック図、(b)は(a)に示す単一光子
計測装置において光検出素子部の構成の一例を示す図、
(c)は(a)に示す単一光子計測装置の動作を説明す
るための図である。
【図2】光検出素子部の他の例を示す図であり、(a)
は多角錐型反射鏡を示す図、(b)は多角錐型反射鏡と
光検出素子との位置関係を示す図である。
【図3】光検出素子部の他の例を示す図であり、(a)
は多面体反射鏡及び光検出素子を示す図、(b)は多面
体反射鏡を上方から示す図である。
【図4】レーザーレーダーによって単一光子計測を行う
際に用いられる装置の一例を示す図である。
【符号の説明】
11 集光装置 12 光検出素子部 12a〜12d 光検出素子 13a〜13d 電圧印加/クゥエンチ回路 14 カウンタ回路 15 メモリ 16 多角錐型反射鏡 17〜20,22,23 単一光検出素子 21 多面体反射鏡 24 視野絞り 25 コリメートレンズ 26 干渉フィルタ 27 集光レンズ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光を受け該光を集光する集光装置と、複
    数の光検出素子を有し前記集光装置からの光に応じて検
    出出力を送出する光検出素子部と、該光検出素子に対し
    て電圧を印加するとともにクゥエンチングを行って該光
    検出素子で単一光子計測を行う第1の手段と、前記光検
    出素子からの検出出力を受け該検出出力をカウントする
    カウンタ手段とを有することを単一光子計測装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された単一光子計測装置
    において、前記光検出素子部は複数の素子に分割されて
    各素子が前記光検出素子を形成するようにしたことを特
    徴とする単一光子計測装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載された単一光子計測装置
    において、前記光検出素子部はさらに多角錐型反射鏡を
    備えており、該多角錐型反射鏡は前記集光装置からの光
    を受け、前記光検出素子は前記多角錐型反射鏡からの反
    射光を受光する位置に配置された単一光電面の光検出素
    子であることを特徴とする単一光子計測装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載された単一光子計測装置
    において、前記光検出素子部はさらに多面体反射鏡を備
    えており、該多面体反射鏡は前記集光装置からの光を受
    け、前記光検出素子は前記多面体反射鏡からの反射光を
    受光する位置に配置された単一光電面の光検出素子であ
    ることを特徴とする単一光子計測装置。
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