JPH07164175A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JPH07164175A
JPH07164175A JP5310378A JP31037893A JPH07164175A JP H07164175 A JPH07164175 A JP H07164175A JP 5310378 A JP5310378 A JP 5310378A JP 31037893 A JP31037893 A JP 31037893A JP H07164175 A JPH07164175 A JP H07164175A
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JP
Japan
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laser beam
excimer laser
nozzle
processing apparatus
mask
Prior art date
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Pending
Application number
JP5310378A
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English (en)
Inventor
Masahiko Kinoshita
昌彦 木下
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Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
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Publication of JPH07164175A publication Critical patent/JPH07164175A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 容易に、レーザービーム入射側を出射側より
大きく加工することができるレーザ加工装置を提供する
こと。 【構成】 アブレーションマスク5のレーザ透過孔10
には合成石英ガラス11が挿入されており、その合成石
英ガラス11上の周縁部13にはエキシマレーザビーム
を60%反射する多層反射膜14がコーティングされて
いる。このため、前記透過孔10の中心部12を通過し
たエキシマレーザビームのエネルギー密度に比べて、前
記透過孔10の周縁部13を通過したエキシマレーザビ
ームのエネルギー密度は40%となる。従って、ノズル
プレートには、中心部12に対応する貫通孔と、周縁部
13に対応する貫通しない孔とが同時に加工され、段付
きノズルが一工程にて作製される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マスクのレーザビーム
透過領域を透過したレーザビームによって被加工物を加
工するレーザ加工装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のレーザ加工装置は、例え
ばインク噴射装置のノズルの形成に用いられる。
【0003】インク噴射装置を構成するノズルプレート
は、複数のインク滴を噴射するノズルを有しており、イ
ンク流路に前記ノズルは連通されている。ノズルプレー
トは、ポリイミド、ポリエーテルサルフォン等の高分子
材料で形成されており、前記ノズルプレートのノズルが
加工される部位に対応して、光学的に透明なレーザ透過
領域が設けられたアブレーションマスクを介して、エキ
シマレーザビームを照射することによりノズルは形成さ
れる。その形成過程を説明すると、ノズルプレートのエ
キシマレーザビームが照射された部分においては、ノズ
ルプレートを形成している高分子材料がエキシマレーザ
ビームを吸収することにより、高分子材料の分子結合が
切られ、分子あるいは原子状態に分解される。分解され
た分子あるいは原子は、蒸発することにより飛散し、ノ
ズルが形成される(アメリカン・ケミカル・ソサエティ
発行のケミカル・レビュー、1989年、vol.8
9、No.6参照)。
【0004】そして、このノズルの形状は、エキシマレ
ーザビーム入射側の内径が、エキシマレーザビーム出射
側の内径より大きくなる。ここで、ノズルの形状は、イ
ンク噴射側の内径が、インク流路側の内径より小さくな
っていた方がインクを噴射する場合には好ましいので、
ノズルプレートのインク流路側となる側の面からエキシ
マレーザビームが照射される。
【0005】インク噴射特性を向上させるために、イン
ク流路の内径を、インク噴射側よりさらに大きくする場
合においては、特開平5−77425号に記載されてい
るように、レーザビーム透過領域の形状が異なる2種類
のアブレーションマスクを用いて、一方のアブレーショ
ンマスクで加工した後、エキシマレーザビームの光路上
に他方のアブレーションマスクと置き換えて、加工する
ことによってインク流路側の径がインク噴射側の径より
かなり大きい形状のノズル穴を形成する。
【0006】そして、上記の方法によりノズルが形成さ
れたノズルプレートは、インク流路の端面に、ノズルと
インク流路が連通するように、エポキシ系樹脂等の接着
剤により接合され、インク噴射装置が製造される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た特開平5−77425号に記載のノズルの形成方法に
おいては、一方のアブレーションマスクによる加工を行
った後、一方のアブレーションマスクと他方のアブレー
ションマスクとを光路上に置き換えて加工する二工程に
よって、ノズルを形成しているので、一方のアブレーシ
ョンマスクの中心と、他方のアブレーションマスクの中
心との位置を精度良く合わせなければならない。特に、
複数の段を持つノズルを形成する場合においては複数工
程となってしまい、各工程のアブレーションマスクの中
心合わせための装置および治具が必要であり、操作が煩
雑であり、従って、生産性が低下するという欠点を有し
ていた。
【0008】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、容易に、レーザービーム入射側
をレーザビーム出射側よりかなり大きく加工することが
できるレーザ加工装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の請求項1では、マスクのレーザビーム透過領
域を透過したレーザビームによって被加工物を加工する
レーザ加工装置において、前記レーザビーム透過領域
は、レーザビーム透過率が異なる2以上の領域からなる
ことを特徴とする。
【0010】請求項2では、前記レーザビーム透過領域
に、前記レーザビームを10〜90%反射する反射膜が
コーティングされて、レーザビーム透過率が異なる前記
2以上の領域が形成されることを特徴とする。
【0011】請求項3では、前記反射膜が、前記レーザ
ビーム透過領域の中心部から周縁部へ向かって、多段階
もしくは漸変的に透過率を減少させることを特徴とす
る。
【0012】請求項4では、前記レーザビーム透過領域
の前記透過率は、前記反射膜の厚さによって変化するこ
とを特徴とする。
【0013】請求項5では、前記被加工物は、高分子材
料であることを特徴とする。
【0014】請求項6では、前記レーザビームは、波長
が200〜400nmであり、前記高分子材料の被加工
物をアブレーション加工することを特徴とする。
【0015】
【作用】上記構成を有する本発明のレーザ加工装置で
は、レーザビーム透過領域のレーザビーム透過率が異な
る2以上の領域が、透過したレーザビームのエネルギー
密度を異ならせ、被加工物にレーザビーム入射側をレー
ザビーム出射側よりかなり大きく加工させる。
【0016】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図面を
参照して説明する。
【0017】図1は本発明のレーザ加工装置の概略図で
ある。本実施例では、248nmの波長を持つKrFエ
キシマレーザ用いたレーザ加工装置により説明する。図
1に示すように、レーザ加工装置は、エキシマレーザビ
ーム2を発するレーザ発振器1より出たエキシマレーザ
ビーム2は、ミラー3a,3b,3cによって、加工テ
ーブル8にいたる光路が形成される。ミラー3aとミラ
ー3bとの間の光路には、エキシマレーザビーム2を所
望のサイズに拡大するビームエキスパンダー4が設けら
れている。ミラー3bとミラー3cとの間の光路には、
エキシマレーザビーム2を、開けようとする孔に対応し
た形状にするためのアブレーションマスク5が設けられ
ており、またアブレーションマスク5の下流には、アブ
レーションマスク5を通過したマスク像を結像光学系7
に導くためのフィールドレンズ6が設けられている。前
記結像光学系7は、ミラー3cと加工テーブル8との間
に設けられ、加工テーブル8に置かれた被加工物にアブ
レーションマスク5を透過したエキシマレーザビーム2
を所定の大きさに絞り込むためのものである。前記加工
テーブル8上には被加工物としてのノズル加工前のノズ
ルプレート9が設置されている。このノズルプレート9
はインクを噴射するインク噴射装置(図示せず)に用い
られ、高分子材料であるポリイミドで形成されている。
尚、レーザ発振器1はパルスによってエキシマレーザビ
ーム2を発振するものである。
【0018】図2は本発明に使用する前記アブレーショ
ンマスク5における、ノズルプレート9(図4)にノズ
ル91(図4)を形成するためのレーザ透過孔10の断
面図であり、前記レーザ透過孔10には合成石英ガラス
11が挿入されている。合成石英ガラス11はエキシマ
レーザビーム2をおおよそ100%透過する。そして、
レーザ透過孔10は、エキシマレーザビーム2をおおよ
そ100%透過する領域である中央部12と、エキシマ
レーザビーム2を60%反射する領域である周縁部13
とからなる。その周縁部13では、前記合成石英ガラス
11上に多層反射膜14がコーティングされている。前
記多層反射膜14は二酸化シリコン、二酸化ハフニウ
ム、酸化スカンジウム、酸化アルミニウム、五酸化タン
タル等の薄膜を10〜30層程度、使用するエキシマレ
ーザビーム2の波長より短い厚みで積層したものであ
り、一般的によく知られているものである。前記多層反
射膜14は、積層する層の数を増やすことにより、反射
率を増加させることが可能であるために、所望する反射
率は容易に得ることができる。尚、周縁部13の反射率
は10〜90%であればよい。
【0019】また、図3に示すように、前記アブレーシ
ョンマスク5は角度θで傾けられており、前記レーザ透
過孔10の多層反射膜14により反射されたエキシマレ
ーザビーム21が、レーザ吸収体(図示しない)に吸収
されるような配置となっている。従って、前記反射され
たエキシマレーザビーム21は、レーザ発振器1に逆戻
りすることがないため、レーザ発振器1が損傷すること
がなく、レーザ加工装置に問題を生じない。アブレーシ
ョンマスク5を傾ける角度θは1〜5度、好ましくは1
〜3度である。
【0020】レーザ発振器1から発振されたエキシマレ
ーザビーム2は、アブレーションマスク5により、各々
の加工されるノズル91に対応するように調整されたエ
キシマレーザビーム20となり結像光学系7に導かれ、
ノズルプレート9に到達する。その時に、本実施例のア
ブレーションマスク5のレーザ透過孔10を透過したエ
キシマレーザビーム20は、レーザ透過光10の中心部
12を透過したエキシマレーザビーム22と、周縁部1
3を透過したエキシマレーザービーム23とからなる。
エキシマレーザビーム23は、エキシマレーザビーム2
を60%反射する前記多層反射膜14により、40%の
エネルギー密度となる。
【0021】従って、前記透過孔10の中心部12を通
過したエキシマレーザビーム22のエネルギー密度に比
べて、前記透過孔10の周縁部13を通過したエキシマ
レーザビーム23のエネルギー密度は40%である。エ
キシマレーザビーム23は、エキシマレーザビーム22
よりノズルプレート9に対するアブレーション加工能力
が低下する。
【0022】そこで、ノズルプレート9の貫通孔15が
加工されたときにレーザ発振器1からのエキシマレーザ
ビーム2の発振を停止すると、図4に示すように、中心
部12を通過したエキシマレーザビーム22がノズルプ
レート9の貫通孔15を加工し、透過孔10の周縁部1
3を通過したエキシマレーザビーム23が貫通しない周
縁部16を加工して、エキシマレーザビーム入射側が出
射側より大きな形状の段付きノズル91が一工程にて加
工される。
【0023】上述した実施例では、一つの段が付いた段
付きノズル91の形成方法について説明したが、複数の
段が付いた段付きノズルも、一工程で容易に形成するこ
とができる。図5に示すように、アブレーションマスク
5のレーザ透過孔10において、透過孔10の周縁部1
3a、13bに設けたエキシマレーザビーム2の多層反
射膜14の反射率を、中心部から周縁部に向かって、例
えば30%の反射層14a、60%の反射層14bとい
うように2段階にする。図5に示されるようなレーザ透
過孔10を用いて形成されたノズル92は、上述したよ
うに、透過孔10を通過するエキシマレーザビーム20
のエネルギー密度が、透過孔の中心部12、反射率30
%の周縁部13a、反射率60%の周縁部13bの3段
階となる。
【0024】従って、図6に示すように、中心部12を
透過したエキシマレーザビーム22がノズルプレート9
に貫通孔15を加工し、周縁部13a、13bを透過し
たエキシマレーザビームが貫通しない2段の周縁部16
a、16bを加工して、2段のノズル92が加工され
る。
【0025】また、透過孔10の周縁部13に設けたエ
キシマレーザビーム2の多層反射膜14の反射率を、中
心部12から周縁部13に向かって、さらに多くの段階
にすることにより、多段付きノズルが作製されることと
なる。そして、非常に細かな段階、すなわち漸変的に前
記反射率を変化させることにより、図7に示すような、
エキシマレーザ入射側の内径17が、エキシマレーザ出
射側の内径18より非常に大きく、且つ前記入射側から
前記出射側になめらかなテーパがついたノズル93を加
工することができる。
【0026】上述したように、本実施例のレーザ加工装
置では、アブレーションマスク5のレーザ透過孔10
は、多層反射膜14によって透過率が異なる領域が形成
されているので、エキシマレーザビームの入射側を出射
側よりかなり大きく加工することが一工程で行える。こ
のため、従来のようなマスクの置き換えをする必要がな
いため、そのための位置合わせが必要でない。従って、
ノズル加工工程が簡単で、加工速度が速く、生産性が向
上する。
【0027】また、このような形状のインク流路側がイ
ンク噴射側よりかなり大きいノズルを用いたインク噴射
装置では、インク滴が良好に噴射され、印字品質が良好
である。
【0028】尚、本発明は上述した実施例にのみ限定さ
れるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において
種々の変更を加えることができる。例えば、エキシマレ
ーザビーム2の透過孔10に合成石英ガラス11を用い
て説明したが、青板ガラス、天然石英ガラス、サファイ
ア、蛍石等のエキシマレーザビーム2をよく透過するも
のであればよい。また、用いるエキシマレーザも波長が
248nmであるKrFエキシマレーザにかぎらず、波
長が222nmであるKrCl、波長が308nmであ
るXeCl、波長が351nmであるXeF、波長が2
82nmであるXeBr等のエキシマレーザを用いても
問題を生せず、用いたエキシマレーザビームの波長に合
わせた多層反射膜14をコーティングを行えばよい。更
に、ノズルプレート9をポリイミドで形成していたが、
他の高分子材料例えば、ポリエーテルサルフォン等でも
よい。
【0029】また、本実施例では、合成石英ガラス11
上に多層反射膜14を形成してエキシマレーザビーム2
の透過率を変化させていたが、多層反射膜を用いずに、
透過率の異なるレンズを組み合わせてもよい。
【0030】
【発明の効果】以上説明したことから明かなように本発
明のレーザ加工装置によれば、前記レーザビーム透過領
域がレーザビーム透過率が異なる2以上の領域からなる
ので、前記レーザビーム透過領域を透過したレーザビー
ムのエネルギー密度が異なり、一工程で被加工物にレー
ザビーム入射側をレーザビーム出射側より大きく加工す
ることができる。このため、従来のようなマスクの置き
換えをする必要がなく、そのための位置合わせが必要で
ない。従って、加工工程が簡単で、加工速度が速く、生
産性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のレーザ加工装置を示す概略
構成図である。
【図2】前記レーザ加工装置のアブレーションマスクを
示す断面図である。
【図3】前記アブレーションマスクを示す説明図であ
る。
【図4】前記レーザ加工装置により加工されたノズルを
示す断面図である。
【図5】他のアブレーションマスクを示す断面図であ
る。
【図6】前記他のアブレーションマスクにより作製され
るノズルを示す断面図である。
【図7】更に他のアブレーションマスクにより作製され
るノズルを示す断面図である。
【符号の説明】
2 エキシマレーザビーム 5 アブレーションマスク 9 ノズルプレート 10 レーザ透過孔 11 合成石英ガラス 12 中心部 13 周縁部 14 多層反射膜 91 ノズル

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マスクのレーザビーム透過領域を透過し
    たレーザビームによって被加工物を加工するレーザ加工
    装置において、 前記レーザビーム透過領域は、レーザビーム透過率が異
    なる2以上の領域からなることを特徴とするレーザ加工
    装置。
  2. 【請求項2】 前記レーザビーム透過領域に、前記レー
    ザビームを10〜90%反射する反射膜がコーティング
    されて、レーザビーム透過率が異なる前記2以上の領域
    が形成されることを特徴とする請求項1記載のレーザ加
    工装置。
  3. 【請求項3】 前記反射膜が、前記レーザビーム透過領
    域の中心部から周縁部へ向かって、多段階もしくは漸変
    的に透過率を減少させることを特徴とする請求項2記載
    のレーザ加工装置。
  4. 【請求項4】 前記レーザビーム透過領域の前記透過率
    は、前記反射膜の厚さによって変化することを特徴とす
    る請求項2記載のレーザ加工装置。
  5. 【請求項5】 前記被加工物は、高分子材料であること
    を特徴とする請求項1記載のレーザ加工装置。
  6. 【請求項6】 前記レーザビームは、波長が200〜4
    00nmであり、前記高分子材料の被加工物をアブレー
    ション加工することを特徴とする請求項5記載のレーザ
    加工装置。
JP5310378A 1993-12-10 1993-12-10 レーザ加工装置 Pending JPH07164175A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5948289A (en) * 1995-11-29 1999-09-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Laser beam machining method
JP2010188418A (ja) * 2009-01-23 2010-09-02 Dainippon Printing Co Ltd テーパ穴形成装置、およびテーパ穴形成装置で用いられる振幅変調マスクまたは位相変調マスク

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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