JPH0716173U - YIG filter inspection device - Google Patents

YIG filter inspection device

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JPH0716173U
JPH0716173U JP5076993U JP5076993U JPH0716173U JP H0716173 U JPH0716173 U JP H0716173U JP 5076993 U JP5076993 U JP 5076993U JP 5076993 U JP5076993 U JP 5076993U JP H0716173 U JPH0716173 U JP H0716173U
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JP
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duts
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dut
measurement
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樹 織笠
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は、YIGフィルタの特性検査におい
て、複数のDUTを一度に測定するように検査装置を構
成して検査時間の短縮をはかることを目的とする。これ
により、作業者の交換作業回数や立ち会い監視時間を減
らし、また長時間の無人運転を可能にし、省力化を実現
している。 【構成】 信号発生器11からの掃引信号を複数に分配
する同軸スイッチ12を設ける。そして、複数のDUT
に対応して励磁電流を印加する電流源17を設ける。そ
して、複数チャンネルの入力端子を備えたアナライザ1
5を用いる。そして、複数のDUTを収容し所定の検査
すべき環境温度にする恒温漕14を設ける。そして、こ
れら複数のDUTを自動測定し検査し、一連の実行を制
御する制御部16にて構成する検査装置。
(57) [Summary] [Object] An object of the present invention is to shorten the inspection time by configuring the inspection device so as to measure a plurality of DUTs at one time in the characteristic inspection of the YIG filter. As a result, the number of times the worker performs replacement work and the witness monitoring time are reduced, and unmanned operation for a long time is enabled, thus realizing labor saving. [Structure] A coaxial switch 12 for distributing a sweep signal from a signal generator 11 to a plurality is provided. And multiple DUTs
A current source 17 for applying an exciting current is provided corresponding to the above. And an analyzer 1 having input terminals for a plurality of channels
5 is used. Then, a constant temperature bath 14 for accommodating a plurality of DUTs and having a predetermined environmental temperature to be inspected is provided. Then, the inspection apparatus configured by the control unit 16 that automatically measures and inspects the plurality of DUTs and controls a series of executions.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この考案は、YIGフィルタ素子などの温度試験データを取得して検査すると きに、複数個の素子を同時に測定検査する装置に関する。 The present invention relates to an apparatus for simultaneously measuring and inspecting a plurality of elements when acquiring and inspecting temperature test data of YIG filter elements and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

図2の従来の検査装置の構成ブロック図の例と、図3の信号発生器で掃引して 得られた出力データの周波数特性図の例と、図4の励磁電流に対する発振周波数 のリニアリティ特性図の例を示して説明をする。 2 shows an example of a block diagram of a conventional inspection apparatus, FIG. 3 shows an example of a frequency characteristic diagram of output data obtained by sweeping with a signal generator, and FIG. 4 shows an oscillation frequency linearity characteristic diagram with respect to an exciting current. The example will be described.

【0003】 本検査装置は、被測定デバイスであるDUT13を恒温漕14にいれて、3箇 所の環境温度(低温、室温、高温)での各種周波数特性データを測定検査するも ので、当該DUTの励磁コイルに印加する励磁電流を多数点で自動測定する。こ の各励磁電流点での各種バンドパス特性データ(中心周波数、バンド幅、リップ ル、減衰量)を取得後に、良品、不良品の判定する装置である。This inspection apparatus puts the DUT 13 as the device to be measured in the constant temperature bath 14 to measure and inspect various frequency characteristic data at three environmental temperatures (low temperature, room temperature, high temperature). The exciting current applied to the exciting coil is automatically measured at multiple points. It is a device that determines good products and defective products after acquiring various bandpass characteristic data (center frequency, bandwidth, ripple, attenuation amount) at each excitation current point.

【0004】 まず、検査するDUT13を恒温漕に入れて、入出力信号ケーブルを接続する 。信号発生器11からの高周波入力ケーブルを当該DUTの入力コネクタ端子に 接続し、当該DUTの出力コネクタをアナライザ15(スカラ・ネットワーク・ アナライザ)への出力ケーブルに接続し、電流源17からの電源を当該DUTの 励磁コイル端子に接続する。次に、恒温漕13を始動して低温(例えば−5℃) にする。そして、所定の設定温度±0.1℃になった後一定時間待ってから測定 を開始する。First, the DUT 13 to be inspected is put in a constant temperature bath, and an input / output signal cable is connected. Connect the high-frequency input cable from the signal generator 11 to the input connector terminal of the DUT, connect the output connector of the DUT to the output cable to the analyzer 15 (scalar network analyzer), and connect the power source from the current source 17 to it. Connect to the exciting coil terminal of the DUT. Next, the constant temperature bath 13 is started to bring it to a low temperature (for example, -5 ° C). Then, after the predetermined set temperature ± 0.1 ° C is reached, the measurement is started after waiting for a certain period of time.

【0005】 ここで、DUT13の被測定対象であるYIGフィルタとは、励磁コイルを有 したバンドパスフィルタ素子で、励磁コイルに印加する励磁電流を変えることに より、フィルタの中心周波数を変えることができる素子である。そして本検査で は、励磁電流に比例したフィルタの中心周波数となる(以下これをリニアリティ と称す)ことも検査対象としている。Here, the YIG filter that is the measurement target of the DUT 13 is a bandpass filter element having an exciting coil, and the center frequency of the filter can be changed by changing the exciting current applied to the exciting coil. It is a possible element. In this inspection, the center frequency of the filter, which is proportional to the exciting current (hereinafter referred to as linearity), is also the subject of inspection.

【0006】 また測定範囲等は、使用するDUT素子によって変わる。例えばバンドパスフ ィルタとして使用する周波数が500MHz〜26GHzの素子の例では、サン プリング点数として約50ポイントの周波数位置について周波数特性を測定する 。例えば印加する励磁電流が0〜200mAフルスケールのDUTでは、200 /50=4mA電流増加位置のポイント毎についてフィルタ特性を測定する。こ の目的は、DUTに印加する励磁電流のリニアリティが許容範囲内の直線性を有 しているか、またバンド幅、リップルも所定範囲内にあるかを検査することが、 重要な検査項目の為である。The measurement range and the like vary depending on the DUT element used. For example, in the case of an element having a frequency of 500 MHz to 26 GHz used as a bandpass filter, the frequency characteristic is measured at a frequency position of about 50 points as the number of sampling points. For example, in a DUT in which the applied excitation current is 0 to 200 mA full scale, the filter characteristic is measured for each point at the current increase position of 200/50 = 4 mA. The purpose of this is because it is an important inspection item to inspect whether the linearity of the exciting current applied to the DUT has the linearity within the allowable range, and the bandwidth and the ripple are within the predetermined range. Is.

【0007】 図2、図3、図4、を使って説明すると。 DUT13に印加する励磁電流は、予め電流源17の出力電流を設定して測定 すべき励磁電流を流しておく。信号発生器11は、DUTの中心周波数前後の周 波数を掃引するように掃引制御する。そして、DUTからの出力信号をアナライ ザ15に入力して掃引測定を行い、得られた周波数特性データ31を制御部16 に転送する。This will be described with reference to FIGS. 2, 3, and 4. As the exciting current applied to the DUT 13, the output current of the current source 17 is set in advance and the exciting current to be measured is passed. The signal generator 11 performs sweep control so as to sweep frequencies around the center frequency of the DUT. Then, the output signal from the DUT is input to the analyzer 15, the sweep measurement is performed, and the obtained frequency characteristic data 31 is transferred to the control unit 16.

【0008】 これによって得られた周波数特性のデータ例が、図3のデータ31である。こ のデータをもとに制御部16にて演算抽出して、減衰量33と、リップル34と 、バンド幅35と、中心周波数36の判定データを得る。An example of the data of the frequency characteristics obtained by this is the data 31 of FIG. Based on this data, the control unit 16 performs arithmetic extraction to obtain determination data for the attenuation amount 33, the ripple 34, the bandwidth 35, and the center frequency 36.

【0009】 同様にして上記の測定を全励磁電流測定ポイントについて実施し、同様に演算 して判定データを得る。図4の測定曲線42は、この判定データを基に、励磁電 流に対する中心周波数のリニアリティ特性についてプロットした図である。この 図から検査基準の許容範囲43内にあるか否かで良品の判定を行う。他の検査項 目のバンド幅やリップルや減衰量については判定基準以内におさまっているかを 検査判定する。In the same manner, the above measurement is carried out for all excitation current measurement points, and the same calculation is performed to obtain the judgment data. The measurement curve 42 of FIG. 4 is a diagram in which the linearity characteristic of the center frequency with respect to the exciting current is plotted based on this determination data. From this figure, a non-defective product is determined depending on whether or not it is within the allowable range 43 of the inspection standard. For other inspection items, the band width, ripple, and attenuation amount are checked to see if they are within the criteria.

【0010】 上記の為、1ポイントの測定時間は1分以上必要である。これを励磁電流値を 50ポイント変えて同様に測定するので1時間近くかかる。さらに恒温漕の温度 を変えて3箇所(低温、室温、高温)で同様にして測定実施するので、トータル では3時間程かかり1個の検査に多くの時間を必要としている。Because of the above, the measurement time for one point needs to be 1 minute or more. It takes about 1 hour because the same value is measured by changing the exciting current value by 50 points. Furthermore, since the temperature of the constant temperature bath is changed and the measurement is similarly performed at three points (low temperature, room temperature, high temperature), it takes about 3 hours in total and a lot of time is required for one inspection.

【0011】[0011]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

上記のように1個のDUTを検査するに多くの時間を必要としていて検査能率 が良くなく、1日当たりの検査個数にも制限がある。この為24時間稼働させて 検査する時もあり、検査作業者が立ち会っていなければならず不便である。 か といって、検査装置を複数台設けて実施するには、高額な測定器であり容易では ない。 As described above, it takes a lot of time to inspect one DUT, the inspection efficiency is not good, and the number of inspections per day is limited. For this reason, it is inconvenient because the inspector must be present at some times when inspecting the equipment for 24 hours. However, it is an expensive measuring instrument and not easy to implement with multiple inspection devices.

【0012】 そこで、本考案が解決しようとする課題は、複数のDUTを一度に測定するよ うにして検査時間の短縮をはかることを目的とする。また、検査作業者の立ち会 い監視時間や交換作業時間を減らし、自動運転時間を長くして省力化をはかるこ とも目的とする。Therefore, the problem to be solved by the present invention is to reduce the inspection time by measuring a plurality of DUTs at one time. In addition, the aim is to reduce labor for inspecting witnesses and inspections by inspection workers and lengthening automatic operation time to save labor.

【0013】[0013]

【課題を解決する為の手段】[Means for solving the problem]

上記課題を解決するために、本考案の構成では、信号発生器11からの掃引信 号を複数に分配する同軸スイッチ12を設ける。そして、複数のDUTに対応し て励磁電流を印加する電流源17を設ける。そして、複数チャンネルの入力端子 を備えたアナライザ15を用いる。そして、複数のDUTを収容し所定の検査す べき環境温度にする恒温漕14を設ける。そして、これら複数のDUTを自動測 定し検査し、一連の実行を制御する制御部16にて構成する手段としている。 In order to solve the above problem, the configuration of the present invention is provided with the coaxial switch 12 that distributes the sweep signal from the signal generator 11 into a plurality of signals. Then, a current source 17 for applying an exciting current is provided corresponding to the plurality of DUTs. Then, the analyzer 15 having the input terminals of a plurality of channels is used. Then, a constant temperature bath 14 for accommodating a plurality of DUTs and having a predetermined environmental temperature to be inspected is provided. The plurality of DUTs are automatically measured and inspected, and the control unit 16 controls a series of executions.

【0014】 接続としては、信号発生器11の掃引周波数出力信号を同軸スイッチ12の入 力端子に接続し、当該同軸スイッチの出力端子を各々のDUT13a〜13dの 入力端子に接続し、各々の当該DUTの出力端子をアナライザ15の入力端子に 接続し、電流源17の各定電流源供給信号を各々の当該DUTの入力端子に接続 する。 また、制御部16からの測定制御信号は、信号発生器11、同軸スイッチ12 、恒温漕14、電流源17、アナライザ15との間で接続する。As the connection, the sweep frequency output signal of the signal generator 11 is connected to the input terminal of the coaxial switch 12, the output terminal of the coaxial switch is connected to the input terminal of each DUT 13a to 13d, and The output terminal of the DUT is connected to the input terminal of the analyzer 15, and each constant current source supply signal of the current source 17 is connected to the input terminal of the corresponding DUT. The measurement control signal from the control unit 16 is connected between the signal generator 11, the coaxial switch 12, the constant temperature bath 14, the current source 17, and the analyzer 15.

【0015】[0015]

【作用】[Action]

同軸スイッチ12を設けることで、1台の信号発生器11で、この掃引周波数 出力信号を切り替えてDUTに印加できる役割をする。また、複数チャンネル入 力端子を有するアナライザ15は、DUT出力信号の切り替えスイッチを設ける ことなく複数DUTからの出力信号を接続できる。 By providing the coaxial switch 12, the single signal generator 11 can switch the sweep frequency output signal and apply it to the DUT. Further, the analyzer 15 having a plurality of channel input terminals can connect output signals from a plurality of DUTs without providing a DUT output signal changeover switch.

【0016】 また、複数のDUTを一度に恒温漕に入れて測定することで、恒温漕の温度変 更回数が1/4になり、ヒートアップ回数が減って測定待ち時間が短縮する働き がある。また、測定途中で検査不良のDUTがあっても他のDUTは継続して測 定出来る為、従来のようにダウンタイムのロス時間が無くする役割もある。In addition, by putting a plurality of DUTs in a constant temperature bath at one time for measurement, the number of temperature changes in the constant temperature bath is reduced to 1/4, and the number of heat-ups is reduced, which has the function of shortening the measurement waiting time. . Further, even if there is a DUT with a defective inspection during the measurement, other DUTs can be continuously measured, so that it also has a role of eliminating downtime loss time as in the past.

【0017】[0017]

【実施例】【Example】

本考案の実施例について、図1の本考案の検査装置の構成ブロック図の一実施 例と、図3の信号発生器で掃引して得られた出力データの周波数特性図の例と、 図4の励磁電流に対する発振周波数のリニアリティ特性データ図の例を参照して 説明する。 Regarding the embodiment of the present invention, an embodiment of a block diagram of the configuration of the inspection device of the present invention in FIG. 1, an example of a frequency characteristic diagram of output data obtained by sweeping with the signal generator in FIG. 3, and FIG. A description will be given with reference to an example of a linearity characteristic data diagram of the oscillation frequency with respect to the excitation current.

【0018】 まず構成を説明すると、信号発生器11の出力は、高周波用の同軸スイッチ1 2を設けて分配切り替えて各DUTに供給する。当該同軸スイッチの切り替えは 、制御部16からの指令で行う。そして当該同軸スイッチの出力信号は、各々の DUT13a、13b、13c、13dの入力コネクタにケーブル接続する。 また、電流源17は、4チャンネル分の定電流源回路を設けて、各々のDUT の励磁コイルに接続する。そして定電流値の設定は、制御部16からの指令で行 う。First, the configuration will be described. The output of the signal generator 11 is provided with a high-frequency coaxial switch 12 to switch distribution and supply the output to each DUT. Switching of the coaxial switch is performed by a command from the control unit 16. The output signal of the coaxial switch is cable-connected to the input connector of each DUT 13a, 13b, 13c, 13d. Further, the current source 17 is provided with a constant current source circuit for four channels and is connected to the exciting coil of each DUT. The constant current value is set by a command from the control unit 16.

【0019】 恒温漕14は、複数のDUTを収容する容量の恒温漕とし、また複数DUT個 数に対応した中継端子・コネクタを設け、温度の設定は、制御部16からの指令 で行う。そして、必要により、当該恒温漕の温度をPID制御して最短時間でD UTが所定温度に到達するように実行制御する。また所定温度に到達したかは、 当該恒温漕からの温度信号を入力する。The constant temperature bath 14 is a constant temperature bath having a capacity for accommodating a plurality of DUTs, relay terminals and connectors corresponding to the plurality of DUTs are provided, and the temperature is set by a command from the control unit 16. Then, if necessary, the temperature of the constant temperature bath is PID-controlled to control the execution so that the DUT reaches a predetermined temperature in the shortest time. In addition, a temperature signal from the constant temperature bath is input to determine whether the temperature has reached the predetermined temperature.

【0020】 アナライザ15であるスカラ・ネットワーク・アナライザには、4CHの入力 端子がある。この入力にディテクタを付けて、各々のDUT13a、13b、1 3c、13d出力からのケーブルを当該ディテクタの入力コネクタに接続する。 そして、当該アナライザの測定チャンネルの切り替えは、制御部16からの指令 で行い、1チャンネル毎に従来と同様の手順で測定を行い、得られた周波数特性 データを制御部16に転送して解析に供する。The scalar network analyzer, which is the analyzer 15, has an input terminal of 4CH. A detector is attached to this input, and a cable from each DUT 13a, 13b, 13c, 13d output is connected to the input connector of the detector. Then, switching of the measurement channel of the analyzer is performed by a command from the control unit 16, measurement is performed for each channel in the same procedure as in the past, and the obtained frequency characteristic data is transferred to the control unit 16 for analysis. To serve.

【0021】 制御部16では、得られたデータを随時解析し検査判定していて、図4の44 のデータ例のように許容範囲43を外れた場合や、また図3の各規格(バンド幅 35、リップル34、減衰量33)の許容範囲を外れたDUTは、規格外品と判 定する。この時点で不良DUTに対する測定の継続はやめる。これによって無駄 な検査時間をなくする。従来においては、この時通知警報が鳴って作業者が次の DUTに入れ替えたり、恒温漕のヒートアップ等の待ち時間がある為、多くの無 駄時間を要していた。The control unit 16 analyzes the obtained data at any time to inspect and judge, and when it is out of the allowable range 43 as in the data example of 44 of FIG. 4, or when each standard (bandwidth) of FIG. 35, ripple 34, attenuation 33) outside the allowable range, DUT is judged as non-standard product. At this point, the continuation of the measurement for the defective DUT is stopped. This eliminates wasted inspection time. In the past, a notification alarm sounded at this time, and there was a waiting time for the operator to switch to the next DUT or to heat up the constant temperature bath, which required a lot of dead time.

【0022】 上記説明のように、複数DUTを一度に測定することで、例えば、その中で1 個が途中で不良と判定された段階でも、残りの3個はそのまま継続して測定する ことができる。その為、途中で検査が中断することもなくなり、ダウンタイムの ない検査が実施できる。As described above, by measuring a plurality of DUTs at one time, for example, even when one of them is determined to be defective in the middle, the remaining three can be continuously measured as they are. it can. Therefore, the inspection will not be interrupted during the process, and the inspection can be performed without downtime.

【0023】 また、DUT毎に測定のパラメータを変えて測定することもできる。例えば、 使用周波数範囲の異なる種類や、励磁電流値のスパン電流値異なるDUT等を混 在させて測定検査する場合などである。これにより、空きDUTをなくして本検 査装置の効率利用をはかることもできる。 上記説明のように、各機器間のコントロールや測定データの転送等を制御部1 6で行い、スループットの向上と長時間の自動運転の可能な検査システムを実現 している。Further, the measurement parameter can be changed for each DUT. For example, this is the case when measuring and inspecting mixed types of different operating frequency ranges or DUTs with different exciting current value span current values. As a result, it is possible to eliminate the empty DUT and use the inspection device efficiently. As described above, the control unit 16 controls the respective devices and transfers the measurement data to realize the inspection system capable of improving the throughput and operating for a long time.

【0024】[0024]

【考案の効果】[Effect of device]

本考案は、以上説明したように構成されているので、下記に記載されるような 効果を奏する。 複数のDUTを一度に測定検査できることにより、恒温漕の温度変更回数が1 /4になり、その分の時間短縮が実現できる。つまり、ヒートアップ回数が減っ て測定待ち時間が短縮できる。 また途中で検査不良のDUTがあっても他のDUTは継続して測定出来る為、 ダウンタイムのロス時間が無くなる。また、作業者の随時監視立ち会いもなくな り検査作業の省力化が実現できる。 Since the present invention is configured as described above, it has the following effects. By being able to measure and inspect a plurality of DUTs at one time, the number of temperature changes of the constant temperature bath becomes 1/4, and the time can be reduced accordingly. In other words, the number of heat ups is reduced and the measurement waiting time can be shortened. Further, even if there is a DUT with a defective inspection on the way, other DUTs can be continuously measured, so that downtime loss time is eliminated. In addition, workers are not required to be overseen at all times, which saves labor in inspection work.

【0025】 また、一度に4個の測定検査が出来るため長時間の無人運転が実現出来る。例 えば、夜間にセットして深夜運転して測定検査させた後、翌朝検査結果を得るこ とが出来る。この結果、検査装置の有効利用が容易になる。Further, since four measurement inspections can be performed at one time, unmanned operation for a long time can be realized. For example, it is possible to obtain the inspection result the next morning after setting the device at night and driving at midnight for measurement inspection. As a result, effective use of the inspection device is facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の検査装置の構成ブロック図の一実施例
である。
FIG. 1 is an embodiment of a block diagram of a configuration of an inspection apparatus of the present invention.

【図2】従来の検査装置の構成ブロック図の例である。FIG. 2 is an example of a configuration block diagram of a conventional inspection apparatus.

【図3】信号発生器で掃引して得られた出力データの周
波数特性図の例である。
FIG. 3 is an example of a frequency characteristic diagram of output data obtained by sweeping with a signal generator.

【図4】励磁電流に対する発振周波数のリニアリティ特
性データ図の例である。
FIG. 4 is an example of a linearity characteristic data diagram of an oscillation frequency with respect to an exciting current.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 信号発生器 12 同軸スイッチ 13a、13b、13c、13d DUT 14 恒温漕 15 アナライザ 16 制御部 17 電流源 11 signal generator 12 coaxial switch 13a, 13b, 13c, 13d DUT 14 thermostat 15 analyzer 16 controller 17 current source

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 周波数フィルタの特性データの検査にお
いて、 信号発生器(11)からの掃引信号を複数に分配する同
軸スイッチ(12)と、 複数のDUTに対応して励磁電流を印加する電流源(1
7)と、 複数チャンネルの入力端子を備えたアナライザ(15)
と、 複数のDUTを収容できて検査すべき環境温度にする恒
温漕(14)と、 複数のDUTを自動測定し検査する一連の制御をおこな
う制御部(16)と、 以上を具備していることを特徴としたYIGフィルタ検
査装置。
1. In a test of characteristic data of a frequency filter, a coaxial switch (12) for distributing a sweep signal from a signal generator (11) to a plurality of current switches, and a current source for applying an exciting current corresponding to a plurality of DUTs. (1
7) and an analyzer with input terminals for multiple channels (15)
A constant temperature bath (14) capable of accommodating a plurality of DUTs and having an environmental temperature to be inspected, a control unit (16) performing a series of control for automatically measuring and inspecting a plurality of DUTs, and the above. A YIG filter inspection device characterized by the above.
JP5076993U 1993-08-25 1993-08-25 YIG filter inspection device Pending JPH0716173U (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007251587A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Agilent Technol Inc Switch matrix
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